Revista Colombiana de Fsica

Determinacin de la longitud de onda de un lser de He-Ne con un

interfermetro de Michelson
Determining the wavelength of the light of an He-Ne laser using a Michelson interferometer
Carolina Jimnez Moreno, Cristhian David Quintero Gutirrez, Karen Velsquez Villa
Universidad Tecnolgica de Pereira
Programa de Ingeniera Fsica

Resumen
Para determinar la longitud de onda de un lser He-Ne hemos recurrido a un mtodo prctico que consiste en utilizar un interfermetro que funciona con el principio de Michelson. Para el desarrollo experimental hemos supuesto que el haz de luz
suministrado por una fuente monocromtica:
sobre el divisor de haces M (fijo) el
cual tiene una inclinacin de 45 grados respecto al haz incidente.
Incida sobre los espejos M1 (mvil) y M2 (fijo) de forma paralela a la superficie de estos.
Un rayo se refleja hacia el espejo M1, mientras que un segundo rayo se transmite a travs de M hacia el espejo M2. Por lo
tanto, los rayos recorren por separado distancias diferentes L1 y L2. Despus de reflejarse en M1 y M2, los dos rayos se
combinan para producir un patrn de interferencia, el cual utilizamos una lente plano-convexa para ampliar la imagen y observar en una pantalla. La condicin para que interfieran se determina por la diferencia de los caminos pticos, el cual es
posible al movimiento del espejo M1 que le est permitido desplazarse hacia delante y hacia atrs mediante un tornillo milimetrado. Se logro medir la longitud de onda para un laser He-Ne con un valor promedio de 635,58 nm con una incertidumbre mxima de 0,39 nm.
Palabras claves: Interfermetro, Micrmetro, patrn de interferencia, haz de luz.
Abstract
A practical method is to use an interferometer that works on the principle of Michelson to determine the wavelength of a He-Ne
laser. Experimental development, we have assumed that the beam of light provided by a monochromatic source.
Falling on the beam splitter M (fixed) which has an inclination of 45 degrees to the incident beam.
Falling on the mirrors M1 (mobile) and M2 (fixed) parallel to the surface of these.
One of the beams is reflected towards the mirror M1, while a second beam is transmitted through M to the mirror M2. Therefore,
the rays travel different distances separate L1 and L2. After reflection on M1 and M2, the two beams combine to produce an interference pattern, which used a Plano-convex lens to magnify the image to watch on a screen. The condition to interfere is determined by the optical path difference, which is possible to move the mirror M1 is allowed to move forward and backward by a
screw graph. Achievement is measured, the wavelength for a He-Ne laser, with an average value of 635.58 nm with a maximum
uncertainty of 0.39 nm.
.Keywords: Interferometer, micrometer, interference pattern, beam

la completa independencia de la velocidad de la luz respecto

de la direccin de su propagacin.

1. Introduccin
Los resultados del experimento de Michelson y Morley de
1887 se asociaron con el caso de la teora del ter y con el
surgimiento de la teora especial de la relatividad. Se revel
1

RevColFis

Se plante el ter, para poder explicar el cmo la luz se

propagaba por el espacio interestelar, aparentemente vaco.
El ter se consideraba un medio continuo, homogneo e
istropo. ste pareca poseer tanto caractersticas del vaco
como de la materia. Del vaco, la carencia de masa, la falta
de resistencia al movimiento y una densidad nula; de la
materia, la elsticidad y la capacidad de oscilar o vibrar.

as, la longitud ptica del camino del haz parcial de la luz

del lser. Durante este corrimiento, las franjas de interferencia cambian de lugar sobre la pantalla de observacin. Para
el anlisis, se cuentan los mximos o los mnimos de intensidad que pasan por un punto de la pantalla de observacin
previamente determinado, mientras el espejo plano es desplazado.

Aunque inicialmente Michelson dise su interfermetro

para detectar el ter, una vez que fue imposible demostrar
su existencia, se utiliza su dispositivo para medir longitudes
de onda o para, conocida la longitud de onda de una fuente
emisora, medir distancias muy pequeas o ndices de refraccin de distintos medios.
En este experimento, en la fuente emisora, se dan diversos
rayos de luz, los cuales son ondas electromagnticas, de
campos elctricos (E) y magnticos (B) variables. Cuando
dos rayos de luz se encuentran, los campos se superponen, y
en cada punto del espacio, el vector E o B ser la suma
vectorial de los campos de los rayos individuales.
Si los dos haces de luz provienen de fuentes distintas, en
general no hay relacin constante entre los campos de cada
haz, de manera que cuando estos se superponen el campo
resultante oscila con el tiempo, y el ojo humano percibe una
intensidad promedio uniforme.
Si los dos haces proceden de la misma fuente, estarn correlacionados en frecuencia y fase. De esta forma, cuando los
rayos se superponen (interfieren) se producir una interferencia constructiva si el estado de fase es el mismo, y se
tendr un mximo en intensidad. Si, por el contrario, los
campos se encuentran en oposicin de fase, la superposicin
supondr la anulacin del campo total, y se produce un
mnimo (cero) en la intensidad.

Figura 2: Franjas de interferencia producidas por el

interfermetro de Michelson.
Por tanto, haciendo mover el espejo plano a una distancia S
y contando Z, el nmero de veces que el patrn de
interferencia vuelve a ser como inicialmente, se puede
calcular la longitud de onda de la luz, con la siguiente
relacin:

(1)
Se presencia el factor 2, ya que, el camino geomtrico vara
en S tanto para el haz que llega como para el haz reflejado.
2. Procedimiento

Figura 1: Modelo del interfermetro de Michelson

El montaje/modelo del interfermetro de Michelson cuenta
con un espejo mvil, el cual se corre a una distancia bien
precisa con ayuda de un brazo de ajuste fino, modificando
2

Michelson interferometer

Figura 3. Esquema del interfermetro de Michelson.

3. Obtencin de resultados

La Figura 3. Muestra el interfermetro de Michelson donde

se observa una serie de implementos que lo conforman:
Divisor de haz, lmina plano paralelas semiespejadas ndice de reflexin.
M1 es un espejo que puede mover de manera que
su normal es siempre paralela al haz de luz que incide sobre l.
M2 es un espejo que podemos variar su posicin de
manera que variemos su normal.
El haz luminoso emitido por el laser incide sobre el divisor
de haces, el cual refleja el 50% de la onda incidente y trasmite el otro 50%. Uno de los haces se transmite hacia el
espejo mvil M1 y el otro se refleja hacia el espejo fijo M2.
Ambos espejos reflejan la luz hacia el divisor de haces, de
forma que los haces transmitidos y reflejados por este ultimo se recombinan sobre la pantalla de observacin.
Como los dos haces que interfieren sobre la pantalla provienen de la misma fuente luminosa, la diferencia de fase se
mantiene constante y depende solo de la diferencia de camino ptico recorrido por cada uno. Por lo tanto, las franjas
generadas por el interfermetro se pueden visualizar sobre
la pantalla mediante la colocacin de una lente convergente
de corta distancia focal entre el laser y el divisor de hace.
Una vez montado y ajustado el sistema, se proceder de la
siguiente manera:
Se alinea el interfermetro con el laser, colocndolo de tal manera que el laser incida con un ngulo
de 45 grados sobre el divisor de haces M e incida
en el centro de espeso M2.
Ajustar los tornillos del espejo M1, para que el haz
laser transmitido incida en el centro del mismo espejo.
Ajustar los soportes con la lente y la pantalla donde
se ven las franjas de interferencias.
La cual en la pantalla se observa dos conjuntos de puntos
brillantes provenientes de ambos espejos. Cada conjunto de
puntos estar formado por uno mas brillante y otro de menor intensidad generados por las reflexiones mltiples.
Usando los tornillos que estn en la parte de atrs del espejo
fijo M2, este se gira hasta que los dos conjuntos de puntos
coincidan sobre la pantalla. Luego se coloca la lente convergente de corta distancia sobre el soporte y se posiciona el
has divergente de forma que incida en el centro del divisor
de haces. En la pantalla se observan un sistema de franjas de
interferencias.

Tabla No. 1 Longitud de Onda en funcin del desplazamiento S y del nmero de Franjas Z.

(S 0,58) m
1
2
3
4
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50

Z (Franjas)
3
6
10
13
16
32
48
63
78
94
110
125
140
156

(nm)
666,67
666,67
600
615,38
625
625
625
634,92
641,02
638,29
636,36
640
642,85
641,02

(nm)
0,39
0,19
0,12
0,09
0,07
0,04
0,02
0,02
0,01
0,01
0,01
0,01
0,01
0,01

Calculo de las incertidumbres:

A partir de la ecuacin (1) puede calcularse el valor de la
incertidumbre para la longitud de onda del Lser He-Ne.
Por ser Z un valor discreto no existe una incertidumbre
asociada a su medicin por lo que la incertidumbre en la
longitud de onda queda completamente definida como:

= 2S/Z

Para cada medido se calcul su correspondiente incertidumbre, estos valores fueron consignados en la Tabla
No.1

RevColFis

Michelson permita generar desplazamientos muy pequeos

incluso de rdenes menores a los micrmetros.
Clculo de errores.

El experimento de Michelson nos permite calcular con una

gran precisin y de una forma relativamente simple la longitud de onda que es emitida por un lser determinado.

Comparando el valor terico aceptado para la longitud de

onda del Lser He-Ne con el obtenido en la prctica:

Es muy importante la correcta calibracin inicial del equipo,

puesto que si la imagen que es proyectada en la pantalla no
es lo suficiente grande y clara se hace necesario incluir una
incertidumbre asociada al nmero de franjas que pasan por
un punto especfico.

Terico =632.80 nm
Experimental =635.58 nm
Ea=| Terico Experimental |
Ea=2.78 nm

6. Bibliografa

Er=Ea/ Terico
Er=0.0044

Eisberg-Resnick. Fsica Cuntica: tomos molculas,

slidos, ncleos y partculas. Mxico, D.F. Editorial Limusa, S.A. de C.V. Grupo Noriega Editores. 2004 Pag 753.
ISBN 968-18-0419-8

E%=Er x 100
E%=0.44%

Alejandro Cassini-Leonardo Levinas La reinterpretacin

radical del experimento de Michelson-Morley por la relatividad especial. scienti zudia, So Paulo, v. 3, n. 4, p. 54781, 2005.

4. Interpretacin de resultados
En la Tabla No.1 se evidencia que entre mayor nmero de
mediciones se tome para el nmero de Franjas de interferencia que pasan por un punto ms prximo est el valor
medido de con respecto al valor esperado.

Esto es debido a que la incertidumbre en la longitud de onda

es inversamente proporcional al nmero de franjas Z.
= 2S/Z

El error en la medicin es considerablemente pequeo, esto

gracias a que el tornillo nos permite generar desplazamientos bastantes precisos en uno de los espejos.
Un factor importante en el error, para tener en cuenta en la
medicin, es la temperatura puesto que sta afecta el factor
de difracin del medio, adems de que a temperaturas considerables los rayos del lser son desviados de su trayectoria
haciendo que estos recorran distancias diferentes y por tanto
afectando el patrn de interferencia.

5. Conclusiones
En la prctica se observo que al variar la distancia de uno de
los espejos, tambin se generaba un desplazamiento en las
franjas de interferencia, por lo que el interfermetro de