Documente Academic
Documente Profesional
Documente Cultură
a)
b)
Figura 3: Espectros de resonancia magntica nuclear de protn a) PCL, polister biodegradable
usado en el campo de liberacin controlada de frmacos e ingeniera de tejidos. b) comparacin
de espectros de los polisacridos quitina y quitosano.
Determinacin de pesos moleculares
La Cromatografa de Permeacin de Geles, GPC (Gel permeation chromatography),
tambin llamada cromatografa por exclusin de tamaos (Size exclusion chromatography,
SEC), permite la determinacin pesos moleculares y distribucin de pesos moleculares de
polmeros. El equipo de GPC consta de una zona de bombeo, zona de inyeccin, conjunto de
columnas empacadas con un relleno de partculas porosas, un detector y un registrador. Por todo
el sistema circula permanentemente un solvente a velocidad constante. La muestra disuelta en el
solvente es inyectada al sistema y fluye a travs de varias columnas en serie que se mantienen a
temperatura constante.
Las molculas ms pequeas tienen mayor facilidad de acceso a los poros del relleno y
difunden dentro y fuera de los mismos siguiendo un camino tortuoso a medida que avanzan en la
columna. Las molculas ms grandes no pueden penetrar en los poros y atraviesan las columnas
en forma ms rpida. De esta manera se logra la separacin de las molculas en funcin del
volmen hidrodinmico de las mismas, saliendo las molculas ms grandes a tiempos de elusin
menores. Los detectores ms usados son el ndice de refraccin, que mide la diferencia en el
ndice de refraccin entre el disolvente puro y la solucin que sale de las columnas, y el detector
ultravioleta, que mide la absorbancia de grupos cromforos. Los pesos moleculares obtenidos
son relativos a los patrones empleados en la calibracin, normalmente poliestireno, poli(xido de
etileno) o poli(metacrilato de metilo). La Figura 4 muestra una curva tpica obtenida por esta
tcnica con la distribucin de pesos moleculares de una muestra polimrica. Para Mw, peso
molecular promedio en peso, se utiliz el smbolo del cuadrado vaco y para la polidispersidad
(Mw/Mn) el cuadrado relleno, Mn es el peso molecular promedio en nmero.
Tcnica
Termogravimetra
Deteccin de gases
Anlisis de gases
Anlisis trmico diferencial
Calorimetra diferencial de
barrido
Termodilatometra
Anlisis termomecnico
Anlisis dinmico- mecnico
Termomicroscopa
Otras
Acrnimo
TGA
EGD
EGA
DTA
DSC
TD
TMA
DMA, DMTA
La primera clase de mtodos termoanalticos est asociada con la prdida de masa y puede
determinarse de dos maneras. La primera forma involucra el uso de una balanza o un sensor
similar para seguir los cambios de masa (TGA). La segunda se basa en la deteccin y anlisis de
los gases de descomposicin producidos (EGD y EGA). Ambas tcnicas estn muy relacionadas
y son complementarias, como todos los mtodos termoanalticos.
El Anlisis Trmico Diferencial (ATD) es una tcnica en la cual la temperatura de la
muestra es comparada con la de un material inerte de referencia a medida que avanza el
programa de calentamiento o enfriamiento establecido. La temperatura de la muestra y la de la
referencia deben ser iguales hasta la ocurrencia en la muestra de algn evento trmico, como
fusin, cambio de estructura cristalina, descomposicin, o transicin vtrea; en cuyo caso la
temperatura de la misma se hace menor (si el cambio es endotrmico) o mayor (si es exotrmico)
que la de la referencia. Cuando la muestra y la referencia estn a la misma temperatura, la seal
neta de los termopares es cero, pero cuando un evento trmico ocurre en la muestra, existir una
diferencia de temperatura que es detectada por el voltaje neto de los termopares.
La Calorimetra Diferenc ial de Barrido, DSC (Differential scanning calorimetry) es una
tcnica muy similar al ATD, dado que tambin se utiliza una muestra y un material de referencia
pero la celda tiene un diseo diferente (ver Figura 5). La muestra (de aproximadamente 10 mg)
se coloca en recipientes (cpsulas hermticas o no) de aluminio u oro. Como referencia puede
utilizarse simplemente una de las cpsulas vacas. La muestra y la referencia deben mantenerse a
la misma temperatura durante el programa de calentamiento, determinndose el flujo de calor
que se desarrolla entre ambas en funcin de la temperatura.
termorrgido hace que esta transicin no sea detectable por no ser suficiente la sensibilidad del
mtodo. Algunos materiales altamente entrecruzados o con fuerzas intermoleculares muy fuertes
pueden alcanzar la degradacin antes de la Tg.
Durante la transicin vtrea se observa un cambio de pendiente de la curva Cp vs T debido
justamente a la diferencia en la Cp entre los estados vtreo y gomoso. La fusin es una transicin
de primer orden, pues vara la funcin de estado entalpa (H). En la Tg vara la derivada de la
entalpa con respecto al tiempo (dH/dt), es entonces una transicin de segundo orden. Para
determinar el valor de Tg se puede tomar el punto medio de la transicin (punto de infleccin de
la curva) o bien prolongar los tramos rectos y tomar la interseccin de stos como la lnea de
base y definir Tg en base al valor de temperatura al inicio o al final de la transicin.
pueden tambin transferirse a la muestra. Por este motivo el material de envase debe reunir
ciertos requisitos de pureza y calidad de fbrica.
Espectroscopa
electrnica para
anlisis qumicos
(ESCA o XPS)
Espectroscopa
electrnica Auger [2]
Espectrometra de
masas de iones
secundarios (SIMS)
Esp. infrarroja por
reflexin total
atenuada
(ATR-FTIR)
Microscopa de
efecto tnel (STM)
[4]
Principio
Profundidad
analizada
Resolucin
espacial
Sensibilidad
analtica
La energa superficial se
3 20
estima a partir del mojado de
lquidos sobre superficies
Los rayos X producen la
10 250
emisin de electrones de
energa caracterstica
1 mm [1]
8 150 m
Baja o alta
dependiendo de la
comp.qumica
0.1 % (atmica)
Un haz de electrones
50 100
enfocados sobre la superficie
produce la emisin de
electrones Auger
Un bombardeo de iones lleva 10 a 1 m [3]
a la emisin de iones
secundarios desde la
superficie
La radiacin infrarroja es
1 5 m
absorbida por vibraciones
moleculares excitadas
100
0.1 % (atmica)
500
Muy alta
10 m
1 mol %
tomos individuales
40
(usualmente)
Alta, no cuantitativa
[1] El tamao de una gota pequea es 1 mm. Sin embargo la resolucin espacial de la lnea interfacial en el borde de
la gota es aproximadamente 0.1 m. [2] La espectroscopa electrnica Auger daa la superficie de materiales
orgnicos y se emplea usualmente para materiales inorgnicos. [3] SIMS esttico aproxi madamente 10 ; SIMS
dinmico hasta 1 m. [4] Para materiales aislantes se emplea microscopa de fuerza atmica (AFM), que tiene una
resolucin espacial cercana a la del STM.
SME
Biomer
Biospanb
Biospan-Db
Biospan-Sb
Biospan-Fb
a
Hidrocarbono
Silicona
Fluorocarbono
C
80,7
79,3
77,6
54,0
76,9
F
3,1
c)
Espectroscopa electrnica Auger, AES (Auger electron spectroscopy), ha sido usada
para investigar morfologa superficial, realizar anlisis elemental y establecer perfiles de
composicin en profundidad. Un haz focalizado de electrones se usa para exitar los electrones
Auger de la superficie, los cuales son luego detectados y analizados. No se requiere preparacin
especial de la muestra y la adquisicin de datos es rpida (unos pocos minutos) y reproducible.
Este mtodo no puede aplicarse a muestras orgnicas dado que las mismas son alteradas qumica
y morfolgicamente por el haz de electrones. Por lo tanto AES es de uso limitado para la
caracterizacin de sustratos polimricos o biolgicos.
d)
Espectrometra de Masas de Iones Secundarios, SIMS (Secondary ion mass
spectroscopy). Puede utilizarse para el anlisis de superficies orgnicas e inorgnicas
identificando todos los elementos as como iones atmicos y moleculares y fragmentos de masa
alta presente a concentraciones muy bajas. Las superficies son bombardeadas con un haz de
iones o tomos focalizados y la energa del haz incidente (aproximadamente 5-25 keV) es
transferida a la superficie del material produciendo una emisin de partculas secundarias
algunas de las cuales estn ionizadas. Estas ltimas son separadas en funcin de la relacin
masa/carga elctrica donde las especies positivas y negativas son detectadas por separado. De
esta forma se obtiene un espectro de masas de una capa superficial de 10. Al igual que ESCA
requiere de una instrumentacin compleja y cmara de alto vaco. Sin embargo, SIMS
proporciona una informacin nica y complementaria a la obtenida por ESCA.
La distincin entre SIMS esttico y dinmico se basa en la dosis de iones acelerados
bombardeados hacia la superficie. SIMS esttico o de bajo flujo produce un dao mnimo en la
muestra y los fragmentos emitidos son caractersticos de la estructura molecular de la superficie.
Dado que una superficie tpica presenta 1013 -1015 tomos por cm2 el haz utiliza una dosis del
orden de 1013 iones/cm2 . La tcnica de alto flujo, SIMS dinmico, produce ablacin rpida de la
superficie durante el anlisis y puede utilizarse para conocer cambios en la composicin
elemental a medida que se avanza en profundidad. El mtodo SIMS de temperatura programada
ofrece informacin de energas de adsorcin y ayuda a distinguir fenmenos de adsorcin fsica
o qumica.
Mtodos Termodinmicos
e)
Mtodos de ngulo de Contacto (Contact angle): la medida del ngulo que forma la
tangente del perfil de una gota de lquido sobre una superficie slida, considerando que la gota se
encuentra en reposo y equilibrio con dicho slido, brinda informacin de la energa superficial
del sustrato. El ngulo de contacto a menudo se toma como parmetro indicativo de la
humectabilidad o mojabilidad (wettability) de la superficie de un materia l, y correlaciona
frecuentemente con los fenmenos de interaccin que ocurren con el medio biolgico. El balance
de fuerzas entre la tensin superficial lquido-vapor (lv )de una gota de lquido y la tensin
interfacial entre el sustrato slido y la gota (sl) puesta de manifiesto a travs del ngulo de
contacto () de la gota con la superficie puede usarse para caracterizar la energa de la superficie
sv. Estas tensiones se relacionan mediante la siguiente ecuacin: sv = sl + lv. cos
El ngulo de contacto para superficies inmviles es sensible a 3-10 de la superficie.
Experimentalmente se han desarrollado diferentes mtodos para evaluar el ngulo (Figura 9).
El mtodo de burbuja de aire en agua es til para estudiar interfases hidratadas y el mtodo de
Wilhelmy incrementa la reproducibilidad y exactitud de las determinaciones. En modo dinmico
se puede evaluar la histresis comparando ngulos obtenidos en avance y retroceso, la cual se
observa en presencia de superficies rugosas, de qumica heterognea o en sustratos reorientables
con molculas mviles en superficie. En resmen, a los efectos de obtener valores reproducibles
de se deben tener en cuenta los siguientes aspectos: la medida es sensible al operador; la
rugosidad y heterogeneidad de la superficie influencia los resultados; los lquidos usados se
contaminan fcilmente reduciendo lv , dado que los polmeros en muchos casos poseen gran
Figura 9: Mtodos para medir ngulo de contacto: a) gota en avance y retoroceso (aumento y
disminucin de tamao de gota); b) estabilidad de gota; c) mtodo de Zisman para medir tensin
superficial crtica; d) ascenso capilar; e) mtodo Wilhelmy; f) burbuja de aire.
Mtodos Microscpicos
e)
Visualizacin de superficies: La Microscopa Electrnica de Barrido, SEM (scanning
electron microscopy) ofrece imgenes de gran resolucin y profundidad de campo con una
calidad tridimensional. El tipo de haz de electrones usado determina la resolucin que ser
mayor cuanto mayor es el voltaje de aceleracin utilizado. En la Figura 10 se aprecian las
diferentes zonas que podemos diferenciar en el volumen de interaccin del haz con el material
bajo anlisis y desde las cuales surgen los electrones o rayos X que se utilizan para generar la
imagen.
Los electrones secundarios son sensibles a cambios en la morfologa superficial. Los
electrones de fondo en cambio dan cuenta de la composicin del material. Como proveen
contraste de nmero atmico las reas del material con mayor nmero atmico sern brillantes.
El equipo SEM convencional opera bajo vaco y usa filamentos de tungsteno o hexaboruro de
lantanio, LaB6 . Los principales requerimientos de la muestra son: ser compatible con operacin
bajo vaco y conductor elctrico. Si la muestra no soporta el vaco se puede hacer un secado de la
misma por el mtodo de CO2 en estado de punto crtico o se puede observar a baja temperatura.
Las muestras no conductoras se recubren con una capa de carbn u oro.
Figura 11: Imagen obtenida por ESEM de una gota de agua fijada entre fibras hidroflicas
El microscopio de bajo voltaje, LVSEM, usa filamentos de tugnsteno y toma la seal de
electrones de fondo para generar la imgen pudiendo caracterizar muestras hmedas a 2-3 Torr.
Los rayos X son seales importantes que proveen informacin sobre la composicin qumica de
la muestra midiendo la energa generada por la accin del haz. Esta tcnica se denomina
Espectroscopa de Energa Dispersiva, EDS (Energy dispersive X-ray spectroscopy). Dado
que la altura de cada pico est relacionada con el porcentaje de ese componente en el material es
posible llevar a cabo un anlisis cuantitativo. Las aplicaciones de SEM/EDS en el campo de la
medicina incluyen: anlisis de fallas, comparacin de materiales, evaluacin de procesos de
tratamiento superficial, caracterizacin de defectos, control de calidad de recubrimientos, etc.
En 1982 se avanz mucho con la invencin del Microscopio de Efecto Tnel, STM
(Scanning tunneling microscopy) que ofreca la imagen tridimensional directa de una superficie
conductora con resolucin atmica bajo una variedad amplia de medios. La importancia del
desarrollo del STM es comparable a la invencin del microscopio electrnico en 1930 dado que
este usa un principio completamente diferente al del microscopio electrnico y al del ptico para
obtener las imgenes de la superficie. El microscopio ptico no puede resolver estructuras
atmicas porque la longitud de onda promedio de la luz visible es unas 200 veces mayor que el
dimetro de un tomo (3 ).Usando luz de color verde (longitud de onda aproximada de 0,5 )
el microscopio ptico solo puede resolver datos prximos si entre ellos media al menos una
distancia de 0,25 . Si bien el SEM tiene alto poder de resolucin, los electrones de alta energa
del haz penetran profundamente en la materia y solo pueden resolver algo de la estructura
superficial. La aparicin del STM despert el inters generalizado de los cientficos y constituy
el primer paso para el desarrollo posterior de numerosas tcnicas que se conocen como
Microscopa de Sonda de Barrido, SPM (Scanning probe microscopy). Estos instrumentos
permiten estudiar las caractersticas de los cuerpos en detalle inasequible (escala atmica o
molecular) para los microscopios ordinarios examinndolos a muy corta distancia con una sonda
cuyo espesor puede ser de un solo tomo.
Figura 12: Imagen de resolucin atmica de una capa de cristal de -RuCl3 (3.7 nm de barrido)
En el STM los controles piezoelctricos aproximan la punta a una distancia de 1 a 2 nm
de la superficie de una muestra conductora, cercana en que las nubes electrnicas del tomo del
extremo de la sonda y del tomo m s prximo de la muestra se solapan. Cuando se aplica un
pequeo voltaje a la sonda los electrones atraviesan ese intervalo (efecto tnel) y dan lugar a la
aparicin de una minscula corriente. La intensidad de esta corriente es extraordinariamente
sensible al valor de la distancia de separacin. Un mecanismo detecta estas variaciones de
corriente y ajusta el voltaje al piezoelctrico que es el encargado de reubicar la sonda en sentido
vertical, siguiendo la topografa de la muestra, a los efectos de estabilizar la corriente. Un voltaje
de 0,1 V produce un movimiento de 1 (10-10 m). Las variaciones en el voltaje aplicado al
control piezoelctrico se traducen en una imagen de relieve de la superficie del material al
obligar a la punta a barrer un conjunto de lneas paralelas entre s.
Adems de mostrar la topografa atmica de la superficie el STM revela la composicin
atmica porque la corriente tnel depende de la distancia y de la estructura electrnica de la
superficie. La resolucin lateral del microscopio est limitada por lo afilado que sea la punta
logrndose valores de 6 a 12 . Para llegar a resolucin lateral de 2 la aguja de tugnsteno
debera contar con un solo tomo en la punta. El afilado de las puntas se efecta mediante el
bombardeo con un haz de iones de alta energa. Este microscopio es muy til por su capacidad
de suministrar un mtodo directo y no destructivo de visualizacin de muestras biolgicas. Por
ejemplo; por este mtodo se confirm que la cabeza del virus conocido como 29 mide
muestra incluye repulsin estrica, electrosttica, magntica, Van der Waals, puentes hidrgeno
y fuerzas de adhesin moleculares localizadas.
a)
b)
Figura 15: a) Silicio epitaxial (100), imagen AFM en modo contacto, primer barrido, 1 m
(izquierda); segundo barrido, 2 m (derecha). b) Dos molculas de ADN lineales superpuestas
(imagen SPM sobre mica con 155 nm de barrido).
Las molculas polimricas o biolgicas pueden sufrir distorsin o dao por la interaccin
con la sonda cuando se trabaja en modo contacto. Esto inconveniente ha sido superado al
desarrollarse el modo alternativo oscilante o tapping donde se aplican fuerzas de menor
magnitud. El brazo oscila cercano a la frecuencia de resonancia (10-100 KHz) con una maplitud
de la sonda de decenas de nm, la cual se mantiene constante mediante el reposicionamiento de la
muestra mediante la accin del piezoelctrico. Dado que tapping es un modo dinmico se puede
extraer informacin de la relacin de fase entre la fuerza que mueve el brazo y la respuesta del
mismo cuando contacta la muestra. El corrimiento de fase permite diferenciar entre regiones de
diferentes propiedades qumicas o mecnicas.
Figura 17: Curvas fuerza-distancia en los modos (A) contacto mecnico y (B) molcula nica.
Muchos estudios se han focalizado en la determinacin de interacciones entre clulas o
clulas y componentes de la matriz extracelular. El conocimiento de estas interacciones es
esencial en el rea de inmunologa e ingeniera de tejidos.
f)
Resonancia de plasmn (Surface plasmon resonance, SPR): La SPR es una tcnica
ptica que est ganando un amplio reconocimiento como una herramienta de valor para
investigar las interacciones biolgicas en superficies de biomateria les. Esta tcnica ofrece un
anlisis en tiempo real de eventos superficiales dinmicos y puede de esta manera definir las
velocidades de absorcin y desorcin de elementos en superficie y analizar diversos fenmenos
de interaccin. En conjunto, los mtodos de microscopa de sonda de barrido, ATR-FTIR,
elipsometra, y SPR permiten un estudio dinmico de eventos superficiales: mientras SPM
permite visualizar cambios superficiales (absorcin de protenas, erosin, etc.). La ATR-FTIR
con muchas limitaciones es capaz de estudiar cambios conformacionales, y la elipsometra
espectral permite determinar espesores e ndices de refraccin de capas absorbidas. La
resonancia de plasmn, puede dar rpidamente informacin de la velocidad y extensin de una
adsorcin, determinar propiedades dielctricas, cinticas de asociacin/disociacin, constantes de
afinidad para una interaccin ligando/ligado, etc.
Lecturas sugeridas
- Ratner B.D., Hoffman A.S., Schoen F.J. y Lemons J.E. Biomaterials Science: An Introduction to Materials in
Medicine. Academic Press, San Diego, CA, 1996.
- Turi, EA. Thermal Characterization of Polymeric Materials. Academic Press, San Diego, CA, 1997.
- Merrett, K., Cornelius, R.M., McClung, W.G., Unsworth, L.D., Sheardown, H. Surface analysis methods for
characterizing polymeric biomaterials. J. Biomater. Sci. Polym. Edn. 13 (6) 593-621 (2002).
- Hirschmugl, C.J. Frontiers in infrared spectroscopy at surfaces and interfaces. Surf. Sci. 500, 577-604 (2002).
- Barbosa, M.A., Campilho, A. Imaging Techniques in Biomaterials. Elsevier Science, B.V. Amsterdam (1994).