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Esta ecuacin es vlida incluso para el ojo. El smbolo es la longitud de onda de la luz
usada para iluminar el objeto (0,5 m para luz blanca), K es una constante que
depende del ndice de refraccin del medio que hay entre el objeto y la lente objetiva
(0,61 para microscopio ptico), y AN es la apertura numrica.
Apertura Numrica (AN): Los objetos dispersan la luz. De esta manera, los rayos de luz
que chocan con un punto son dispersados, formando un cono de luz.
El ngulo de apertura, se forma entre el rayo que pasa exactamente por el centro de la
lente y el ltimo rayo que entra por la periferia de la lente objetiva. Este ngulo
permite medir la cantidad de luz que puede ingresar en el objetivo.
Si se observan los valores de AN de las diferentes lentes objetivas de un microscopio
dado, podr apreciarse que la AN aumenta con el aumento de cada lente, es as que en
la tabla siguiente se muestran los aumentos de las diferentes lentes objetivas y sus
respectivas AN.
La frmula de Abbe muestra que para aumentar la resolucin, es decir disminuir el
lmite de resolucin, se pueden manipular slo un pequeo nmero de variables: la
longitud de onda de la luz que se usa y la apertura numrica (AN) del objetivo con que
se est realizando la observacin Y es principalmente respecto a la manipulacin de la
longitud de onda donde se han hecho la mayora de las mejoras, crendose diferentes
tipos de microscopa que sern analizados ms adelante en los laboratorios.
Microscopa electrnica.
La construccin del microscopio electrnico representa un verdadero logro en cuanto a
incrementos del aumento y poder de resolucin. En principio se debe a que reemplaza
la luz visible por un haz de electrones. Lo que en teora permite obtener un poder de
resolucin muy elevado. Dado que los electrones tienen una longitud de onda mucho
menor que la de la luz pueden mostrar estructuras mucho ms pequeas. La longitud
de onda ms corta de la luz visible es de alrededor de 4.000 angstroms (1 angstrom es
1 x 10-10 metros). La longitud de onda de los electrones que se utilizan en los
microscopios electrnicos es de alrededor de 0,5 angstroms.
Una limitacin de este tipo de microscopia es el requerimiento de utilizar alto vaco, lo
cual descarta investigaciones en clulas vivas. Existen diferentes tipos de microscopia
electrnica desarrolladas hasta este momento.
- Microscopa electrnica de Transmisin (MET). Los MET utilizan electrones acelerados
con voltajes de 30 a 100 kV y su longitud de onda es aproximadamente 100.000 veces
menor que la longitud de la luz visible. Este tipo de microscopios permiten obtener
aumentos mnimos de 1000X y aumentos mximos que pueden oscilar entre 200.000X
y 2.000.000X con una resolucin de 10 A y 1 A respectivamente. Las muestras a ser
estudiadas deben ser fijadas (ej glutaraldehido seguido de tetrxido de osmio),
deshidratadas y luego incluidas en una resina monomrica (ej epon) para poder ser
cortadas y obtener secciones ultrafinas (50-100 nm de espesor). Los cortes deben ser
ultrafinos debido a que los electrones tienen un poder de penetracin muy limitado. As
mismo, las muestras deben ser teidas con sales de metales pesados (osmio, uranio o
plomo), ya que el contraste depende del nmero de electrones dispersados y este a su
vez depende del nmero atmico de los tomos de la muestra. De esta forma se logra
que los diferentes componentes celulares aparezcan con distintos grados de contraste.
Su gran poder de aumento asociado a su excelente resolucin hacen que este
microscopio sea particularmente til para el examen de organelos celulares. Tambin
se puede visualizar el interior de las membranas celulares realizando tcnicas de
criofractura y grabado por congelacin.
- Microscopa electrnica de Alto Voltaje (MAV). El MET est limitado por escaso poder
de penetracin del haz de electrones. Esto implica la necesidad de utilizar cortes de
tejidos muy delgados. Esta limitacin se puede superar mediante el MAV cuyo haz de
electrones de 10 veces ms rico en energa que el MET.
- Microscopa estereoelectrnica. Este tipo de microscopa permite observar cortes de
tejido ms gruesos ya que el mismo preparado es fotografiado desde dos ngulos
diferentes. Si despus se analizan las fotografas mediante un estereoscopio se obtiene
un notable efecto tridimensional, en el cual la profundidad es mayor cuanto mas
grueso es el corte de tejido.
- Microscopa electrnica de barrido (MEB). Este microscopio es muy semejante al MET
pero presenta dos diferencias fundamentales: posee un haz de electrones mvil que
recorre la muestra en reas determinadas y utiliza la emisin secundaria de electrones
para la formacin de la imagen. Aqu la muestra es fijada, se seca y se cubre con una
fina pelcula de un metal pesado. A continuacin la muestra es recorrida por un haz
focalizado de electrones. Al chocar los electrones contra cada punto de la superficie
metlica los electrones se dispersan y se emplean para controlar la intensidad de un
segundo haz que se mueve sincrnicamente con el haz primario y forma una imagen
sobre una pantalla de televisin. De esta forma se produce una imagen completa y
muy aumentada de la muestra. Este microscopio proporciona una gran profundidad de
ACTIVIDAD PRCTICA
A. Cada alumno, observar una muestra de papel milimetrado con una letra impresa.
Enfocar la letra con la lupa (4,5x u otro segn el caso). Realice las siguientes
actividades.
Describa como se ve la letra (derecha, invertida, difusa, etc.)
Desplace la platina a la derecha y a la izquierda en qu direccin se mueve la letra?
Usando las lneas del papel milimetrado determine el dimetro del campo observado,
luego el radio y a partir de ste calcule el rea del campo. Repita el procedimiento a
40x
B. Se entregar a cada alumno una preparacin de hilos de colores para evaluar la
correcta colocacin en la platina y el correcto enfoque 10x.
Describa como varia la profundidad en la observacin de hilos de colores cuando se
cambia de objetivo 10x al de 40x.
Determinar con cul de los dos aumentos se obtiene:
Mayor amplitud de campo
Menor distancia de trabajo
Mayor poder de resolucin