SESIN 9:

POLARIZACIN POR
REFLEXIN. INTERFERMETRO
DE MICHELSON
TRABAJO PREVIO:
POR REFLEXIN

POLARIZACIN

{ CONCEPTOS FUNDAMENTALES
Luz natural
Luz con el vector elctrico vibrando en todas las direcciones del plano
perpendicular a la direccin de propagacin.
Estados de polarizacin de la luz
Son los estados obtenidos por superposicin de ondas electromagnticas
luminosas de la misma frecuencia cuyos vectores elctricos vibran en
direcciones perpendiculares. Clasificacin de los estados puros de polarizacin:
Luz linealmente polarizada
El vector elctrico vibrando segn una nica direccin. Es equivalente a superposicin de dos ondas luminosas de la misma frecuencia con vectores perpendiculares, desfasadas 0 o radianes. Se adopta el convenio de cargar la fase sobre la componente
y (=y-x). En la figura 9.1 se muestran una vista frontal de
una luz linealmente polarizada cuya direccin de vibracin forma
un ngulo con el eje x (izquierda) y una vista completa de una
luz linealmente polarizada vibrando segn el eje y (derecha).

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Sesin 9. Polarizacin por reflexin. Interfermetro de Michelson

Desfase 0 (vibracin en 1 y 3 cuadrantes)

Ey

Ex

Figura 9.1. Luz linealmente polarizada.

Luz elpticamente polarizada

Luz cuyo extremo del vector elctrico describe una trayectoria
elptica. Es equivalente a la superposicin de dos ondas luminosas de la misma frecuencia con vectores elctricos perpendiculares desfasados un ngulo entre 0 y (sentido horario o dextrgiro
de giro sobre la elipse) o entre y 2 (sentido antihorario o levgiro de giro sobre la elipse). En la figura 9.2 vemos tres fases
consecutivas de movimiento en vista frontal para un desfase de
/2 (izquierda) y una vista completa de una luz polarizada elptica
con desfase de 3/2 (derecha).
Fase 0 (x)

Fase /2 (x)
Ey

Ey
Ex
Fase (x)
Ey

Ex
Fase 3/2 (x)
Ey

Ex

Ex
Figura 9.2. Luz elpticamente polarizada.

Luz circularmente polarizada

Luz cuyo extremo del vector elctrico describe una trayectoria circular. Es equivalente a la superposicin de dos ondas luminosas
de la misma frecuencia con vectores elctricos perpendiculares
de igual amplitud desfasados un ngulo /2 (sentido horario o
dextrgiro de giro) o 3 /2 (sentido antihorario o levgiro de giro).
Aunque el desfase sea /2 3/2, la luz ser polarizada elptica
si las dos componentes no tienen igual amplitud, y circular si tienen igual amplitud.
La luz puede encontrarse en estados puros de polarizacin o con mezcla

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de estados de polarizacin.
Obtencin de luz polarizada: polarizadores lineales
Los polarizadores (figura 9.3) son dispositivos que seleccionan una direccin
particular de vibracin de la luz sobre su eje de transmisin. Tras atravesarlos
luz natural emerge luz linealmente polarizada en la direccin seleccionada
mediante la orientacin del eje de transmisin del polarizador. El eje perpendicular al de transmisin se denomina eje de extincin. Hay una variedad de
mtodos para conseguir esta seleccin, entre los que destacan la absorcin
selectiva por dicroismo (ms comn), reflexin con ngulo de Brewster, o
polarizacin por dispersin.

Figura 9.3. Polarizadores lineales.

Si sobre un polarizador lineal incide luz linealmente polarizada, la

intensidad transmitida resulta:
I t = I o cos 2

(9.1)

donde es el ngulo formado entre la direccin de vibracin de la luz incidente

y el eje de transmisin del polarizador. De la ecuacin (9.1) se deduce que si
colocamos dos polarizadores con sus ejes de transmisin formando 90 no
habr luz transmitida por el segundo polarizador.
Si sobre un polarizador incide luz circularmente polarizada, al girar el eje
del polarizador la intensidad transmitida no vara.
Obtencin de luz polarizada: lminas retardadoras
Las lminas retardadoras (figura 9.4 izquierda) estn formadas por materiales
birrefringentes, generalmente medios cristalinos anistropos. Se tallan de forma
que al incidir normalmente un haz de luz a su paso por la lmina las componentes que vibran segn las lneas neutras de la lmina emergen con un cierto
desfase entre ellas, que se calcula como:

2
2
=
(ne no )d

(9.2)

donde es la diferencia de camino ptico en el interior de la lmina entre la

componente que presenta ndice de refraccin ne (onda extraordinaria) y la
componente que presenta ndice no (onda ordinaria). Estos dos ejes o lneas
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neutras de la lmina tambin se denominan eje rpido y lento. El factor ne-no se

denomina birrefringencia de la lmina (diferencia de ndices de refraccin entre
las lneas neutras) y d es el espesor de la lmina.
Como se deduce de la ecuacin (9.2), el desfase depende de la longitud
de onda de la luz incidente. Los retardadores ms habituales son las lminas
de /4, que introducen un desfase de /2 para una determinada longitud de
onda. Si la luz incide vibrando segn el eje ptico de la lmina (una de las
lneas neutras) sta se comporta como si fuera un medio homogneo e
istropo con ndice de refraccin no.
Si sobre una lmina /4 incide luz natural, a la salida se obtiene luz
natural, puesto que el desfase introducido entre las componentes ordinaria y
extraordinaria no afecta al resto de direcciones de vibracin de la luz incidente.
Si sobre una lmina /4 incide luz linealmente polarizada, a la salida se
obtiene luz circularmente polarizada si la direccin de vibracin de la luz
incidente forma 45 con las lneas neutras de la lmina. En ese caso a la salida
de la lmina se tendr una luz con dos componentes iguales desfasadas 90,
que corresponde a luz circular.
Si sobre una lmina /4 incide luz linealmente polarizada segn una de
sus lneas neutras, la lmina no tendr ningn efecto sobre la luz incidente.
Si sobre una lmina /4 incide luz linealmente polarizada formando
cualquier ngulo diferente de 0 y 45 con las lneas neutras, a la salida se
tendr luz elpticamente polarizada.
Si sobre una lmina /4 incide luz elpticamente polarizada, a la salida se
tendr luz linealmente polarizada slo cuando los ejes de la elipse coincidan
con las lneas neutras de la lmina. En cualquier otro caso a la salida se tendr
luz elpticamente polarizada.
Reflexin y refraccin en medios dielctricos homogneos e istropos
Para un haz de luz que incide sobre la interfase, o superficie de separacin, de
dos medios homogneos e istropos, generalmente se considera por separado
el comportamiento de la componente del vector elctrico paralelo y perpendicular al plano de incidencia. El plano de incidencia es el plano que contiene a la
normal a la interfase, al rayo incidente y al refractado o reflejado. En la figura
9.4 se observa una onda incidente y la descomposicin correspondiente en
componentes paralelas (en verde) y perpendiculares (en azul) al plano de
incidencia.

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Figura 9.4. Interfase y componentes paralela y perpendicular del vector elctrico.

Tras reflejarse en una interfase de este tipo, la luz puede sufrir cambios
de fase y modificar su amplitud de acuerdo a los coeficientes que obtuvo
Fresnel para cada componente (frmulas de Fresnel):

r& =

r =

A& r
A&

tg ( ' )
tg ( '+ )

A r sen( ' )
=
A sen( '+ )

(9.3)
(9.4)

donde A& r es la amplitud de la componente paralela al plano de incidencia de la

luz reflejada, A& es la componente paralela al plano de incidencia de la luz
incidente y anlogamente para las componentes perpendiculares al plano de
incidencia.
Para una interfase que separa medios de ndices n y n, con n<n, se
produce un salto de fase de en la luz reflejada para ambas componentes.
Tambin se producen cambios en la amplitud de las componentes segn las
ecuaciones (9.3) y (9.4). Por lo tanto, podemos deducir que si la luz incidente
es linealmente polarizada, la reflejada ser tambin linealmente polarizada pero
con distinta direccin de vibracin.
En el caso de la componente paralela, se da adems una circunstancia
de especial inters. Cuando el ngulo de incidencia y el de refraccin son
complementarios (+=/2). Como puede deducirse de aplicar (9.3) en este
caso la componente paralela de la luz reflejada se anula. El ngulo de
incidencia correspondiente se denomina ngulo de Brewster, y aplicando la ley
de Snell podemos expresarlo en funcin de los ndices de los medios que

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separa la interfase:
n'
B = arctg
n

(9.5)

Si incidimos con luz natural y ngulo de Brewster, obtenemos luz

reflejada linealmente polarizada, dado que se anula la componente paralela al
plano de incidencia. Tenemos entonces un nuevo mtodo de obtencin de luz
linealmente polarizada.

Reflexin y refraccin en medios metlicos

Para incidencia sobre un metal (denominado
medio conductor), puede obtenerse una
generalizacin de las frmulas de Fresnel
teniendo en cuenta que debido a la absorcin en
el interior del metal, el ndice de refraccin
asociado es complejo, y por tanto tambin lo es
el ngulo de refraccin. Esto implica que en
general las amplitudes reflejadas A& r y A r sern
complejas. Cuando incidimos con luz linealmente
polarizada sobre un metal obtenemos en general luz reflejada elpticamente
polarizada, salvo cuando la incidencia es normal o rasante. La razn de las dos
componentes reflejadas puede expresarse en funcin del nmero complejo (aib), que es el producto del ndice de refraccin complejo (=n-ik) por el coseno
del ngulo de refraccin:
A r A ( a cos + sen 2 ib cos )
=
A& r
A& ( a cos sen 2 ib cos )

(9.6)

Del estudio de la luz reflejada en un metal pueden obtenerse los valores

de las constantes pticas de los metales, n y k (parte real e imaginaria del
ndice de refraccin complejo), lo que se conoce como elipsometra.

{ CUESTIONES
1.- Especifique el estado de polarizacin y direccin de vibracin de una luz
cuyo campo elctrico tiene las siguientes componentes:
Ex = 3sen(t kx)

E y = 4 sen t kx +
3

2.- Calcule la intensidad transmitida por los siguientes dispositivos, iluminados por una fuente de Na de intensidad Io, linealmente polarizada a 45
con el eje x.
a) Polarizador lineal a 30 con el eje x.

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b) Lmina de cuarto de onda para el Na con las lneas neutras en los

ejes x e y.
3.- Calcule las amplitudes de las componentes paralela y perpendicular para
una luz de Na linealmente polarizada a 30 con el plano de incidencia,
para una interfase aire-vidrio Crown (n=1.523) que incide con =45.
Habr salto de fase por reflexin?
4.- Determine el ngulo de Brewster para luz lser de He-Ne en una
interfase aire-agua (considere nagua=1.3296).
5.- Calcule el ngulo de refraccin para luz de Na que incide con =40 en
una interfase aire-plata (n=0.18, k=3.67). Cul es el estado de polarizacin resultante en la luz reflejada para esta incidencia?

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GUIN DE LA SESIN:
POLARIZACIN POR REFLEXIN
{ OBJETIVO
Caracterizacin del estado de polarizacin de la luz reflejada por superficies de
vidrio y metlicas cuando incide sobre ellas luz linealmente polarizada. Medida
del ngulo de Brewster para una interfase aire-vidrio.

{ ESPECTROGONIMETRO: PUESTA A PUNTO

Tras encender la fuente de Na y esperar unos minutos para que se estabilice,
hemos de asegurarnos de ver ntido el retculo situado en el ocular del
telescopio. Una vez conseguido, debemos enfocar el telescopio al infinito, o a
un objeto muy lejano. Despus, sin tocar el telescopio, se ha de poner a punto
el colimador, con la rendija adosada tras la lmpara de descarga, modificando
la distancia colimador-rendija mediante el correspondiente tornillo hasta que la
rendija se vea ntida a travs del telescopio. Finalizada la puesta a punto, no
debe desplazar los tornillos ya sean del telescopio o del colimador.
Tras la puesta a punto del instrumento, se montan los polarizadores
lineales acoplados al tubo del colimador y del telescopio. Compruebe que el
que acople al telescopio sea el que ofrece mayor facilidad de desplazamiento
del eje de transmisin. Los polarizadores se fijan a las monturas del colimador
y telescopio por medio de los correspondientes tornillos.

{ COMPROBACIN DEL FUNCIONAMIENTO DE

POLARIZADORES
Tras haber montado los dos polarizadores, observamos la rendija a travs del
telescopio. Rotando el eje de transmisin del polarizador acoplado al
telescopio, medimos el ngulo correspondiente a intensidad mnima transmitida
por ambos polarizadores. Este mnimo, que en teora debera ser nulo,
corresponde a una posicin tal que los ejes de transmisin de los dos
polarizadores estn cruzados (formando 90 entre si). En la prctica
observamos que no es totalmente nulo, debido en parte a que la luz de la
fuente no es completamente monocromtica. Debe tomar este mnimo como
cero y considerarlo un error de cero en las siguientes observaciones. Mida el
ngulo de orientacin del eje del polarizador que corresponde a este mnimo.
Realice las oportunas deducciones sobre la orientacin del eje de transmisin
del polarizador acoplado al colimador.

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{ CARACTERIZACIN DE LA LUZ REFLEJADA EN

UNA SUPERFICIE METLICA
Se trata de determinar el estado de polarizacin de la luz reflejada en una
superficie metlica, que ser un espejo de primera superficie, cuando sobre ella
incide luz linealmente polarizada. Coloque el espejo sobre la plataforma del
espectrogonimetro de forma que pueda incidir sobre su superficie con la luz
linealmente polarizada proveniente del colimador. Moviendo el telescopio,
busque el reflejo de la rendija en el espejo, y una vez localizado, gire el eje de
transmisin del polarizador acoplado al telescopio. Debe determinar si su
observacin coincide con lo esperado segn la teora sobre el estado de
polarizacin previsto para el haz reflejado.
Tenga en cuenta que si el haz reflejado fuera linealmente
polarizado, obtendra un mnimo casi nulo girando el segundo polarizador; si el haz reflejado fuera circularmente polarizado, no habra variaciones de intensidad; si el haz reflejado fuera elpticamente polarizado, encontrara un mximo y
un mnimo no nulo de intensidad en direcciones que forman
90 (ejes propios de la elipse de polarizacin).
Tras realizar las pruebas pertinentes, anote las observaciones y
deducciones sobre el estado de polarizacin del haz reflejado.

{ CARACTERIZACIN DE LA LUZ REFLEJADA EN

UNA SUPERFICIE DE VIDRIO
Sustituyendo el espejo de primera superficie por la lmina plano-paralela de
vidrio, opere como en el apartado anterior para localizar el haz reflejado en la
primera cara de la lmina y caracterizar su estado de polarizacin. Discuta si
concuerda con lo esperado segn la teora y especifique los ejes significativos
del estado de polarizacin encontrado. Tambin debe reflexionar sobre los
cambios introducidos en dichos ejes y sus causas.

{ MEDIDA DEL NGULO DE BREWSTER PARA

UNA INTERFASE AIRE-VIDRIO Y DEL NDICE
DE REFRACCIN DEL VIDRIO
Utilizamos para esta medida el hecho de que si incide luz natural con ngulo de
Brewster sobre la lmina de vidrio, la luz reflejada ser linealmente polarizada.
Para que incida luz natural, desmonte el polarizador acoplado al colimador. A
continuacin vare progresivamente el ngulo de incidencia comprobando el
estado de polarizacin del haz reflejado, hasta conseguir una luz reflejada
linealmente polarizada (mnimo nulo o casi nulo para una posicin del eje de
transmisin del polarizador acoplado al telescopio).

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Sesin 9. Polarizacin por reflexin. Interfermetro de Michelson

Es interesante realizar una estimacin previa del valor previsto para el ngulo de Brewster en una interfase aire-vidrio
(con ndice de refraccin prximo a 1.5).
Tome la lectura angular de la escala para la posicin del haz reflejado.
Retire la lmina de vidrio del soporte y sin mover la plataforma de apoyo de la
lmina mida la posicin angular opuesta al haz incidente, o directamente la del
haz incidente, como se muestra en la figura 9.5.

Medida de la posicin del haz

reflejado

Medida de la posicin del haz incidente

(escala izquierda) u opuesto al
incidente (escala derecha)

Figura 9.5. Esquema para la medida del ngulo de Brewster.

A partir de estos datos, es muy sencillo calcular, con su incertidumbre

asociada, el ngulo de incidencia, que ser el ngulo de Brewster. Utilizando la
ecuacin (9.5) puede calcular el ndice de refraccin del vidrio.
Nos planteamos ahora otro mtodo alternativo para la medida del ngulo
de Brewster sin desmontar el polarizador del colimador. Una vez pensado el
procedimiento llvelo a cabo y compare el resultado con la medida obtenida
con el mtodo anterior.

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TRABAJO PREVIO: INTERFERMETRO

DE MICHELSON
{ CONCEPTOS FUNDAMENTALES
Cuando dos haces de luz coinciden espacial y temporalmente pueden interferir,
lo que afecta a la distribucin de intensidades resultante. La coherencia de dos
haces expresa hasta qu punto estn en fase sus ondas. Si la relacin de fase
cambia de forma rpida y aleatoria, los haces son incoherentes, y la intensidad
de la onda resultante ser la suma de las intensidades. Si dos trenes de ondas
son coherentes y el mximo de una onda coincide con el mximo de otra,
ambas ondas se combinan produciendo en ese punto una intensidad mayor
que si los dos haces no fueran coherentes. Si son coherentes y el mximo de
una onda coincide con el mnimo de la otra, ambas ondas se anularn entre s
parcial o totalmente, con lo que la intensidad disminuir (figura 9.6).

Figura 9.6. Interferencia de dos ondas.

Condiciones de interferencia
Cuando las ondas son coherentes, puede formarse un diagrama de interferencia formado por franjas oscuras y claras. Para producir un diagrama de
interferencia constante, ambos trenes de ondas deben estar polarizados en el
mismo plano.
Los tomos de una fuente de luz ordinaria irradian luz de forma
independiente, por lo que una fuente extensa de luz suele emitir radiacin
incoherente. Entonces, para obtener luz coherente de una fuente se selecciona
una parte reducida de la misma mediante un pequeo orificio o rendija, la luz

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Sesin 9. Polarizacin por reflexin. Interfermetro de Michelson

procedente de esta parte se separa (mediante una doble rendija, un doble

espejo o un doble prisma) y se hace que ambas ondas recorran trayectorias de
longitud ligeramente diferente antes de combinarlas de nuevo. El resultado es
una interferencia con luz coherente, por lo que se produce un diagrama de
interferencias.

Experimento clsico de Young

El primero en mostrar un diagrama de interferencias fue el fsico britnico
Thomas Young, en el experimento que lleva su nombre en 1801. Young dividi
un haz muy estrecho de luz solar, conseguido mediante un orificio pequeo
practicado en un panel colocado sobre una ventana, en dos partes. En la pared
de frente a la ventana, colocada lejos de los haces, observ un patrn de
bandas alternadas claras y oscuras llamadas franjas de interferencia. Las
franjas claras indican interferencia constructiva y las oscuras indican interferencia destructiva de las dos ondas que pasan por las rendijas. La interferencia
constructiva se produce en los puntos de la pantalla donde la diferencia de
camino ptico es un nmero entero de veces la longitud de onda de la luz y la
interferencia destructiva ocurre si la diferencia es un nmero impar de veces
media longitud de onda, como se deduce de la ecuacin para la intensidad
resultante de la superposicin de las dos ondas que interfieren:

I 4 A2 cos 2 = 4 A2 cos 2

(9.7)

donde A es la amplitud de las ondas, es el desfase y es la diferencia de

camino ptico entre las dos ondas.
El experimento de Young es un buen ejemplo de interferencias por
divisin del frente de onda.

Interfermetro de
Es un dispositivo que produce interferencias por divisin de amplitud, cuyo
esquema se muestra en la figura 9.7. Consiste en dos espejos, de primera
superficie, colocados en ngulo recto (M1 y M2) y una lmina divisora de haz
(M) formando 45 con ambos espejos. El dispositivo se ilumina con una fuente
de luz casi-monocromtica. Si los dos brazos del interfermetro (distancia
desde la lmina M hasta el espejo correspondiente) tienen distinta longitud se
genera una diferencia de camino ptico entre los haces que recorren cada uno
de los brazos. La distancia de la lmina a uno de los espejos (uno de los
brazos del interfermetro) se regula mediante unos tornillos que varan la
posicin del espejo. La lmina de vidrio, L2, que se observa en la figura 9.7 en
el brazo del espejo M2 se introduce para compensar el recorrido adicional del
haz que va a M1, pues recorre el interior de la lmina divisora de haz (M) tres
veces.

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Sesin 9. Polarizacin por reflexin. Interfermetro de Michelson

Figura 9.7. Esquema de un interfermetro de Michelson.

Albert Abraham Michelson (Strzelno, Polonia,

19 de diciembre de 1852 - Pasadena, Estados
Unidos, 9 de mayo de 1931). Fsico, conocido
por sus trabajos acerca de la velocidad de la luz.
Recibi el Premio Nobel de Fsica en 1907. A los
17 aos entr en la Academia Naval de los
Estados Unidos en Annapolis, Maryland, en
donde aprendi ms sobre la ciencia que del arte martimo. Obtuvo el grado de oficial en 1873 y prest servicios como instructor cientfico y literal en la Academia entre 1875 y 1878. Se interes ya desde esa poca al problema de tratar de determinar
la velocidad de la luz. Tras dos aos de estudios en Europa,
dej la Armada en 1881. En 1883 acept una plaza de profesor
de Fsica en la Case School of Applied Science de Cleveland y
proyect all un interfermetro mejorado. En 1889 acept una
plaza de profesor de Fsica por la Clark University de Worcester, Massachusetts donde permaneci hasta 1892. Posteriormente fue Jefe del Departamento de Fsica de la nueva Universidad de Chicago, cargo en el que permaneci hasta que se jubil en 1929. En 1907 se convirti en el primer estadounidense
que obtuvo el premio Nobel de Fsica. Entre 1923 y 1927 fue
presidente de la Academia Nacional de Ciencias.

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A la salida del interfermetro, los dos haces surgen paralelos y se

recogen en una pantalla o bien se observan mediante un telescopio adicional.
Para los dos haces, representados en la figura 9.7, la diferencia de camino
ptico, con el interfermetro operando en aire, es:

= 2( L1 L2 )

(9.8)

El resultado de la superposicin de ambos haces ser un mximo

interferencial si =m, de acuerdo con la ecuacin (9.7) y ser un mnimo
interferencial (oscuridad) si =(2m+1)/2. Por tanto, si alejamos progresivamente el espejo M1 pasaremos por diferentes mximos y mnimos interferenciales, al ir variando progresivamente .
Si consideramos incidencia no normal sobre los espejos, pues la fuente
tambin emite haces de luz no paralelos al eje, entonces la diferencia de
camino ptico se expresa en funcin del ngulo que forman los rayos
incidentes con la horizontal, mediante la ecuacin:

= 2( L1 L2 ) cos

(9.9)

Si varia de forma continua, lo que significa que la fuente emita en

todas las direcciones, al recoger el conjunto de haces resultantes se obtendr,
dada la simetra circular del conjunto, una configuracin de anillos alternativamente claros y oscuros correspondiendo a las posiciones angulares de
mximos y mnimos interferenciales en funcin de , como se observa en la
figura 9.8.

Figura 9.8. Configuracin interferencial de un interfermetro de Michelson.

El crculo central, que corresponde a =0, corresponder a un mximo,

a un mnimo o a una intensidad intermedia segn la diferencia entre la longitud
de los brazos del interfermetro. El orden interferencial del crculo central ser
el mximo de toda la configuracin, ya que cuando aumenta decrece la
diferencia de camino ptico, segn la ecuacin (9.9), y por tanto decrecer
tambin el orden interferencial.
El orden interferencial es el nmero de veces que la diferencia de camino ptico es mltiplo de la longitud de onda,
designado por m anteriormente.

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Si una vez lograda la configuracin interferencial, se disminuye la

diferencia de camino ptico entre los brazos el orden interferencial del crculo
central tambin disminuir. Se consigue moviendo uno de los espejos de forma
que disminuya la diferencia L1-L2. Esta situacin implica que los anillos que en
la configuracin inicial ocupaban posiciones de menor orden (localizados en la
periferia), pasen progresivamente a ocupar posiciones ms centrales. El efecto
sobre la configuracin es de una progresiva desaparicin de anillos por el
centro de la misma, que visualmente acta como un sumidero para los anillos.
Si, por el contrario, aumenta la diferencia de camino ptico entre los
brazos, entonces aumenta el orden interferencial del crculo central. En la
configuracin inicial el orden interferencial del mximo central era el mximo,
por lo que necesariamente su localizacin se desplazar hacia la periferia y
debern surgir progresivamente nuevos anillos por el centro. Visualmente el
efecto es de brotar anillos desde el centro.
Por tanto, observando qu sucede en la configuracin se puede deducir
inmediatamente si est aumentando o decreciendo la diferencia de camino
ptico en un interfermetro de Michelson. Adems, cada vez que surja o
desaparezca un anillo por el centro estar variando la el camino ptico en .
Entonces, cuando el anillo central pasa de mximo a mnimo la diferencia
inducida en el camino ptico ser de /2. Por tanto se pueden medir desplazamientos del espejo mvil de hasta /4, lo que hace de este interfermetro un
instrumento de gran sensibilidad para medida de diferencias de longitud de
gran precisin.
Recuerde que el haz de luz recorre dos veces cada brazo,
por lo que una diferencia de camino ptico de /2 corresponden a una diferencia de /4 en la longitud de los brazos.
En muchas ocasiones, se incorpora al interfermetro en uno de sus
brazos una cmara susceptible de ser llenada o vaciada de un gas. Dado que
el ndice de refraccin vara con la presin del gas, durante el proceso de
llenado o vaciado se estar variando la diferencia de camino ptico, que
podremos medir contando el nmero de anillos que aparecen o desaparecen.

Coherencia espacial
En la vida real no existen las fuentes puntuales de luz, pues por pequeas que
sean tienen dimensiones. Por tanto, se define un parmetro llamado contraste
de franjas o visibilidad de la forma siguiente:

V =

IM Im
IM + Im

(9.10)

donde IM e Im son las intensidades mximas y mnimas en la distribucin de

interferencias. En el experimento ideal de doble rendija de Young el contraste
de las franjas ser siempre ptimo, y por tanto V=1. Sin embargo, si las
amplitudes de las dos ondas que interfieren son diferentes, como es el caso
real, Im0 y en este caso V<1. En el caso en el que Im=IM, entonces V=0 y no se
apreciaran interferencias.

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Si la fuente de luz que ilumina el sistema no es puntual, el factor de

visibilidad tambin puede ser inferior a 1, incluso verificndose estrictamente
las cuatro condiciones para obtener imgenes de interferencias estables. El
fenmeno de la prdida de contraste en las franjas a consecuencia de las
dimensiones de la fuente est relacionado con el concepto de coherencia
espacial. El estudio de este fenmeno se hace considerando que cada punto
de la fuente es un emisor puntual que genera su sistema de franjas de
interferencia. Se puede demostrar que cada uno de estos emisores elementales genera un sistema de franjas con un origen diferente (posicin del mximo
m=0). La superposicin de los diferentes trminos cos2 de la ecuacin (9.7),
con un pequeo desplazamiento entre ellas, provoca la prdida de contraste o
visibilidad.

{ CUESTIONES
6.- Calcule la intensidad, salvo constantes de proporcionalidad, para dos
ondas de amplitud A y longitud de onda que interfieren con una diferencia de camino ptico de 5/4. Para qu diferencia de camino ptico se
tendr el mximo ms prximo en la configuracin interferencial? y el
mnimo ms prximo?
7.- En un interfermetro de Michelson con la cmara de aire situada en el
brazo ms corto, discuta qu ocurre en la configuracin interferencial
cuando se extrae progresivamente el aire de la cmara. Y si la cmara
est en el brazo ms largo?
8.- Calcule el orden del mximo central para un interfermetro de Michelson
que opera con un lser de He-Ne (=632.8 nm) y una diferencia en la
longitud de sus brazos de 0.22 m.
9.- Qu cree que le ocurrira a la configuracin interferencial de un
Michelson si aumenta mucho la diferencia de camino ptico entre los
brazos? Considere efectos de coherencia espacial de la fuente.
10.- Puede conseguirse un patrn interferencial de un Michelson con luz
blanca? Discuta y razone la respuesta.

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Rafael Huertas, Eva Valero, Antonio Garca Beltrn.

Sesin 9. Polarizacin por reflexin. Interfermetro de Michelson

GUIN DE LA SESIN:
INTERFERMETRO DE MICHELSON
{ OBJETIVO
Observacin de la configuracin interferencial producida por un interfermetro
de Michelson y estudio de la variacin del ndice de refraccin del aire con la
presin atmosfrica.

Puesta a punto del interfermetro de Michelson

El interfermetro de Michelson del montaje experimental, figura 9.9, funciona
con una fuente lser de He-Ne acoplada a un objetivo de microscopio para
abrir el haz lser con la idea de obtener diferentes ngulos con la horizontal
para el haz incidente sobre la lmina divisora de haz (ver figura 9.7).
El lser de He-Ne tiene un mximo de emisin en 632.8 nm.

Figura 9.9. Interfermetro de Michelson.

En primer lugar, debe asegurarse de que el lser est perfectamente

alineado con el objetivo de microscopio y la lmina divisora de haz, de forma
que la luz llega a sta a su misma altura y centrada. De no ser as, ha de actuar
con gran delicadeza sobre el soporte del lser colocado en el banco ptico
junto al objetivo de microscopio hasta conseguir una buena alineacin de los
tres elementos.
Una vez alineado el lser debera observar la configuracin interferencial
sobre la pantalla. Si no ocurre as, podra ser que los espejos no forman un
ngulo recto entre ellos o bien no forman 45 con la lmina divisora de haz.

Departamento de ptica. Universidad de Granada

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Sesin 9. Polarizacin por reflexin. Interfermetro de Michelson

Tambin puede ocurrir que la diferencia de camino ptico entre ambos espejos
sea demasiado grande, lo que ocasiona problemas de coherencia y disminuye
la visibilidad de las franjas. Todos estos posibles problemas se solucionan
accionando con extremo cuidado y delicadeza los tornillos del espejo mvil del
interfermetro. Hay que tener en cuenta que un desplazamiento muy pequeo
de los tornillos puede hacer que desaparezca completamente la configuracin
interferencial, por lo que su manipulacin requiere una buena dosis de calma y
lentitud. Para tener una referencia de hacia dnde debemos mover los tornillos,
una buena forma de proceder es quitar el objetivo de microscopio, observar
sobre la pantalla los puntos luminosos correspondientes a las reflexiones en los
espejos y la lmina divisora de haz, e intentar aproximarlos y centrarlos con
respecto a la lmina lo ms posible. Despus, se coloca el objetivo de
microscopio, cuidando la alineacin con el lser y la lmina divisora, y con
toques muy ligeros a los tornillos deber obtener inicialmente una configuracin
de franjas y posteriormente de anillos.
Todas las operaciones de puesta a punto del interfermetro
son muy delicadas, por lo que es aconsejable que el profesor est presente para supervisarlas y asegurar que el proceso sea lo ms corto posible. Por ello, se aconseja consultar al profesor antes de manipular cualquier control del interfermetro y verificar en primer lugar si podemos observar la
configuracin sin necesidad de realizar ajuste alguno.

Observacin de la configuracin al extraer e introducir aire

Una vez obtenida la configuracin interferencial, se observa qu ocurre en la
misma cuando se extrae aire de la cmara por medio de la bomba de vaco
conectada a la misma. Es decir, si surgen o desaparecen anillos por el centro
de la configuracin. Puede observar tambin cmo disminuye la presin en el
interior de la cmara controlando la pantalla del manmetro digital acoplado a
la misma. Realice las oportunas deducciones sobre si la cmara est
emplazada en el brazo ms largo o ms corto del interfermetro segn el
comportamiento observado en la configuracin al extraer aire de la cmara.

Variacin del ndice de refraccin del aire con la presin atmosfrica

Comience con la cmara de aire totalmente llena. Para llenarla se acciona la
palanca de entrada de aire de la bomba de vaco, y se espera hasta que la
lectura del manmetro se estabilice en valores de presin atmosfrica normal.
En ese momento accione poco a poco la palanca de vaco de la bomba para ir
produciendo gradualmente el vaco en la cmara. Debe realizar esta operacin
lentamente de forma que pueda controlar la lectura de presin atmosfrica en el
momento en que van surgiendo o desapareciendo un nmero determinado de
anillos brillantes por el centro de la configuracin interferencial. Por ejemplo,
puede tomar lecturas de presin cuando surjan o desaparezcan 1,2,3,4,5 y 6
anillos. La variacin del camino ptico en funcin de la variacin en el nmero de
anillos puede expresarse de la siguiente forma:
2l n = m

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(9.11)

Rafael Huertas, Eva Valero, Antonio Garca Beltrn.

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donde l es la longitud de la cmara (10 mm en nuestro caso) y m es el orden

interferencial.
Mediante la ecuacin (9.11) podr calcular n para cada una de las
medidas de presin atmosfrica tomadas, y posteriormente representar n en
funcin de la presin atmosfrica. Realizando el correspondiente ajuste por
mnimos cuadrados, obtendr la pendiente de la relacin entre presin y
variacin del ndice de refraccin para el aire. Adems, determine si es posible
a partir del ajuste el valor del ndice de refraccin del aire cuando la cmara
est llena (a presin atmosfrica).

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