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TCNICAS DE MICROSCOPA

Microscopia de Fuerza Atmica.


Esta tcnica de caracterizacin permite estudiar la
topografa de una muestra mediante el registro de la
deflexin entre una punta aguda y la muestra, generada
por fuerzas a nivel atmico. Permite obtener resoluciones
de la muestra que van desde 25 micras hasta 1 nanmetro.
El esquema del funcionamiento bsico, de un microscopio
de fuerza atmica, se muestra en la Figura 1.
El microscopio de fuerza atmica (AFM) es un
instrumento mecano-ptico que consta de una punta en
forma piramidal localizada al final del brazo de un
cantilver de 100 a 200 micras de largo. Un haz de lser
es incidido al cantilver provocando su movimiento

Figura 1. Esquema de
un Microscopio de
Fuerza Atmica.

hacia la muestra; los tomos de la punta y la muestra


interactan por medio de fuerzas atmicas (del orden de 10 -12 N) las cuales generan el
doblamiento o flexin del cantilver. El haz reflejado por el movimiento del cantilver
es desviado por un espejo hacia un detector que mide la flexin conforme la punta barre
la superficie y con ello se obtiene un mapa topogrfico de la muestra.
El microscopio de fuerza atmica consta de diferentes modos de operacin para obtener
la topografa de una muestra: modo contacto, modo no contacto y contacto intermitente.
En este ltimo, las fuerzas de interaccin responsables del movimiento del cantilver son
las de atraccin y repulsin de Van der Waals por lo que la punta nunca toca la muestra.
La punta est en contacto intermitente con la superficie a la vez que la barre, de esta
manera permite obtener un relieve fiel de la superficie de la muestra.

Microscopia de Transmisin Electrnica.


El microscopio de transmisin electrnica consta de una fuente de electrones
hecha de wolframio incandescente; por efecto termoinico los electrones son
arrancados y acelerados por una diferencia de potencial.

El haz de electrones pasa por una


primer lente electromagntica
que abre el haz. Este haz de
electrones

incide

sobre

la

la

cual

debe

ser

ultradelgada

para

que

los

muestra,

electrones la puedan atravesar, y


los electrones interaccionan con
los tomos de esta.
Dependiendo
composicin
algunos
absorbidos,

del
de

grosor
la

muestra,

electrones
formando

son
el

contraste de amplitud de la
imagen; otros electrones son

Figura 2. Esquema de un Microscopio de


Transmisin Electrnica.

dispersados a bajos ngulos, formando el contraste de fase de la imagen. Si se


tiene una muestra cristalina, los electrones son dispersados en direcciones que
dependen de la estructura del cristal, formando el contraste de difraccin de la
imagen, el cual es el ms importante para la formacin de imgenes de muestras
cristalinas.
Una vez que los electrones han atravesado la muestra, estos son proyectados
mediante lentes electromagnticas sobre una pantalla fluorescente que captura la
imagen formada por los electrones dispersados.
Al microscopio de transmisin electrnica se le realiza un alto vaco para evitar
que los electrones colisionen con las molculas del aire y se desven.

Microscopia Electrnica de Barrido.


La configuracin del microscopio de barrido con el de transmisin es idntica
hasta que los electrones interactan con la muestra.
La fuente de electrones barre una muestra muy pequea en una serie de lneas y
redes, construyndose una imagen de la superficie en un monitor. La imagen se
forma a partir de los electrones secundarios.

Las muestras analizadas con esta


tcnica deben ser conductoras para
que los electrones puedan interactuar
con ella; cuando la muestra no es
conductora,

se

recubre

con

una

pelcula delgada de carbono o de algn


metal.
Se

obtienen

dimensiones

imgenes
que

en

tres

proporcionan

informacin morfolgica, topogrfica

Figura 3. Esquema de un
Microscopio de Barrido Electrnico.

y composicional de la superficie del


material.

La informacin se obtiene de tres tipos de electrones resultantes de interactuar


con la muestra: los electrones retrodispersados son proporcionales al nmero
atmico por lo que se obtienen contrastes debido a la composicin de la muestra;
los electrones secundarios aprecian detalles que forman una imagen de
apariencia tridimensional, obtenindose su topografa; y la emisin de rayos X
proporciona un microanlisis cuali y cuantitativo.

Al igual que el microscopio de transmisin, se le hace un alto vaco para evitar


que los electrones colisionen con otras molculas.

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