UNIVERSIDAD DE LAS FUERZAS ARMADAS ESPE

DEPARTAMENTO DE ENERGA Y MECNICA

CARRERA: INGENIERA AUTOMOTRIZ
CIENCIA DE LOS MATERIALES
Nombre: Cristopher Ramos
Fecha: 2015-05-13
Tema: Tcnicas de Microscopa en el anlisis de estructuras
Microscopa
La microscopa constituye una de las herramientas ms importantes al
momento de analizar materiales y lminas delgadas. El avance de la
tecnologa ha permitido el desarrollo de nuevas tcnicas de Microscopa
de Sonda De Campo Cercano, las cuales han alcanzado la observacin
de la superficie de los materiales con resolucin atmica.
Los mtodos de anlisis ms importantes son los siguientes:
Ilustracin 1.- Proceso de microscopa

1.- Microscopio ptico

Los microscopios pticos se basan en la ampliacin de la imagen de un objeto mediante el uso de
lentes convergentes. Este constituye en tipo de microscopio ms antiguo y ms utilizado. La sonda
en estos microscopios es la radiacin visible que ilumina la muestra que se desea analizar.
Presenta una ptica doble (objetivo y ocular), a diferencia de las lupas,
que solamente poseen una lente.
La resolucin mxima de este tipo de microscopios viene dada por
fenmenos de difraccin en el borde del objetivo. Es decir, si
suponemos que las lentes son perfectas, siempre tendramos difraccin
en el borde de la lente. En este caso se puede demostrar que el aumento
mximo de un microscopio viene dado por la expresin:
Ilustracin 2.- Fotografa de
Microscopa ptica donde se aprecia la
estructura de una cermica

Donde:
r: Es la distancia mnima a la que pueden estar dos puntos para que se distingan en la imagen
: Es la longitud de la onda
n: Es el ndice de refraccin
: Es el ngulo entre el objeto y el borde de la lente.
As pues, la resolucin lmite del microscopio ptico implica que podamos distinguir objetos del
tamao de una micra como lo son las clulas biolgicas.

Anlisis del Mtodo

Desventajas

Ventajas
Manejo muy fcil y rpido

Objetos gruesos aparecen desenfocados

Puede verse material de cualquier tipo

Resolucin Lateral mide 0,1 mm

2. Microscopios Electrnicos
Los microscopios pticos presentan una gran sencillez, sin embargo presentan problemas cuando
se trata de medidas inferiores a la micra, por tanto para su caracterizacin morfolgica es
necesario utilizar microscopios con mayor poder resolutivo que los pticos. Existen varios tipos
de microscopios electrnicos entre los cuales tenemos:
2.1 Microscopio electrnico de barrido (SEM)
Su nombre proviene de Scanning electron microscope, en el cual la sonda del microscopio es
generado por un filamento incandescente. Los electrones emitidos son acelerados por una rejilla
cercana polarizada positivamente. Este haz de electrones, en su viaje a travs del vaco, tiende a
separarse debido a las fuerzas de repulsin electrostticas que actan entre ellos.
Un campo elctrico, generado por unas placas se encarga de focalizar el haz y condensarlo. Por
ltimo, en su camino hacia la muestra, el haz es reflectado hacia un punto mediante bobinas
electromagnticas, de manera que estas permiten realizar un barrido en la zona que queremos
analizar.

Ilustracin 3.- Esquema de funcionamiento del microscopio electrnico de barrido

Anlisis del Mtodo

Desventajas

Ventajas
Facilidad de manejo

Posible dao en el material

Elevada Resolucin

Necesita Vaco

Amplia profundidad de campo

Alto costo

2.2 Anlisis cuantitativo de Rayos X

Como ya se explic en procesos anteriores, al incidir el haz de electrones de alta energa sobre la
superficie en estudio, adems de generar electrones secundarios y elsticos, produce tambin
transiciones electrnicas, es decir, un electrn incidente con alta energa puede arrancar un
electrn profundo ligado a un tomo del material. Este electrn saliente deja un hueco en si nivel
de procedencia, que es cubierto por otro electrn ligado mediante la emisin de un fotn. La
energa de este fotn corresponde a la diferencia de energa entre niveles electrnicos, y por tanto
es caracterstica del tomo que la emite.
Un anlisis de la energa de estos fotones, que se encuentra en el rango de los Rayos X, nos
permite conocer el nmero atmico del tomo de procedencia y por tanto determinar la
composicin elemental de una muestra.

2.3 Microscopio de transmisin electrnico (TEM)

Conocido como TEM (Del ingls Transmition electron microscope) funciona esencialmente
como un SEM, pero la seal que utilizamos para formar la imagen es la que proviene de los
electrones transmitidos a travs de la muestra.
Puesto que el proceso de absorcin electrnica por un medio es muy eficiente, los electrones
transmitidos a travs de la muestra son muy pocos. Por tanto, para tener intensidad suficiente
como para formar una imagen, es necesario que la energa del haz electrnico incidente sea muy
alta (80-400 KeV) y reducir al mximo el espesor de la muestra (100-200). En esta
configuracin tenemos acceso a dos tipos de imgenes: una directa de la estructura de la muestra
que estudiamos y otra del diagrama de difraccin producido por los electrones al atravesar un
medio ordenado. Las imgenes de difraccin que se obtienen son un conjunto de puntos con la
simetra cristalina. La inversin de estas imgenes mediante mtodos de transformada de Fourier
nos da directamente una visin de la muestra en la que se pueden llegar a observar planos atmicos
internos de un material o capa delgada.

Ilustracin 4.- Imgenes obtenidas mediante el microscopio electrnico (TEM)

2.4 Microscopas con resolucin qumica: Microscopa Auger y de Rayos X

Una modalidad de la microscopa electrnica es la microscopa con resolucin qumica, sin
incidimos con un haz de electrones sobre la muestra que queremos estudiar, se producen muchos
procesos, entre ellos la emisin de electrones Auger.
La energa con que son emitidos estos electrones es caracterstica de cada elemento y por tanto
un anlisis de su energa cintica nos permite conocer el elemento qumico del que provienen. Si
recogemos todos los electrones emitidos para formar una imagen, esta ser similar a la que se
obtendra mediante un microscopio electrnico de barrido. Sin embargo, si separamos entre todos
los electrones emitidos en un punto (mediante un analizador electrosttico de energa de
electrones) los que tienen una energa Auger particular, y formamos una imagen exclusivamente
con estos electrones tendremos una imagen de concentracin de un determinado elemento
atmico en una superficie.
Este mtodo nos permite conocer los elementos qumicos presentes en el rea irradiada por el haz
incidente as como su distribucin en la superficie.

3. Microscopios de campo cercano: STM Y AFM

Imaginemos una tcnica que presente una resolucin lateral y vertical inferior a la distancia tpica
entre tomos, es decir una resolucin mejor que 0,2 , con la que podamos hacer imgenes que
cubran un rango desde la micra hasta unos pocos angstroms; que pueda funcionar en cualquier
ambiente (vaco, lquido, aire, etc) y que, adems, el aparato experimental fuese pequeo y de
muy bajo costo. Estas son las caractersticas de los llamados microscopios de campo cercano. Una
tcnica as parece el sueo de todo microscopista, y lo sera de no ser porque estas tcnicas utilizan
como sonda una sola punta cuya forma es incontrolada.
El primero de los microscopios de campo cercano fue el llamado microscopio de efecto tnel o
STM (Scanning tunneling microscope). El efecto tnel es un proceso por el cual una partcula
es capaz de atravesar una barrera de potencial cuya altura es mayor a su propia energa, y por
tanta se trata de un proceso imposible dentro de las leyes de la dinmica clsica. Por este fenmeno
un electrn que se encuentra en la superficie de un material, atrapado en un pozo de potencial,
presenta una probabilidad no nula de escapar de la superficie.

Ilustracin 5.- Esquema de funcionamiento de un microscopio de efecto tnel

Anlisis del Mtodo

Ventajas
Funcionan en cualquier ambiente

Limitaciones
Baja profundidad de campo

Imgenes realmente 3D
Bajo Costo

(Gago)

Bibliografa
Gago, M. (s.f.). http://www.researchgate.net/. Obtenido de
http://www.researchgate.net/profile/Jose_Martin_Gago/publication/267306323_LA_MI
CROSCOPA_PARA_EL_ESTUDIO_DE_MATERIALES_Y_LMINAS_DELGADAS/
links/5461f0470cf27487b453d664.pdf