Temas 4 y 5. Interferencias.

4.1. Introduccin.
4.2. Interferencia de ondas planas monocromticas.
4.3. Tipos de interfermetros.
El interfermetro de Young.
Interferencias de ondas no monocromticas
Otros interfermetros tipo Young.

4.4 Interfermetros de doble haz.

Interfermetro de Michelson.
5.1 Algunas aplicaciones de las interferencias.

Medidas de espesores y ngulos.

Medida de radios de curvatura de lentes oftlmicas.
Recubrimientos antireflectantes.

5.2 Interferencias de mltiples haces.

Medidas de espectros de emisin de fuentes reradiacin.
Filtros espectrales.

Miguel Antn
Departamento de ptica
Escuela Universitaria de ptica
a

4.1. Introduccin.

En el tema 1 establecimos la ecuacin de onda y como una consecuencia de su carcter lineal, se comprob que si en
una regin del espacio y en un instante dado se superponen dos soluciones de dicha ecuacin, el resultado tambin es
una solucin y por lo tanto, representa una onda. Este enunciado constituye lo que se conoce como el principio de
superposicin. En este captulo analizaremos las consecuencias
fsicas que tienen lugar cuando dos o ms ondas se superponen.
En general, si se dan ciertas condiciones, que analizaremos
enseguida, la superposicin de dos ondas se manifiesta en una
redistribucin espacial de la energa, esto es, en bandas brillantes
y oscuras denominadas franjas de interferencia. En la figura se
puede apreciar lo que decimos: dos fuentes coherentes emiten
ondas esfricas hacia delante. En azul se muestran las crestas de
las ondas esfricas en un instante dado. Existen puntos del
espacio donde la cresta de una onda proveniente de una de las
fuentes se superpone con otra cresta de una de las ondas que
proviene de la fuente inferior. En el punto donde ocurre esto, la
perturbacin total aumenta, producindose una interferencia
constructiva. Como es obvio, entre dos crestas consecutivas ha de haber un valle (estado de mnima perturbacin). Se
puede colegir que en los puntos donde se produzca la interseccin de una cresta de una de las ondas con un valle de
la otra onda, la perturbacin se cancela o ser mnima. El resultado es una redistribucin espacial de la energa en la
pantalla caracterizada por la aparicin de regiones brillantes seguidas de otras oscuras.
En la figura adjunta se han representado los mximos de las
ondas emitidas desde los dos puntos mediante una serie de
crculos concntricos
con cada una de las fuentes y
equiespaciados. Puede verse como la zona de superposicin
constructiva ocurre a lo largo lneas rectas, aproximadamente,
desde la fuentes. Si se coloca una pantalla, sobre ella se vern
una serie de franjas claras y oscuras que constituyen el
diagrama interferencial.
La primera observacin de las
interferencias fue constatada por R. Boyle (1627-1691) en 1663.
Pero los primeros experimentos detallados sobre interferencias
de luz fueron realizados por Thomas Young (1773-1829) en
1802 y en ellos, Young fue capaz de estimar la longitud de onda
de la radiacin luminosa

Los fenmenos interferenciales se observan a menudo en la naturaleza. Por ejemplo, los colores que se observan en
las pompas de jabn estn causados por interferencias. Se trata, en este caso, de una pelcula muy fina rodeada por
ambas partes de aire. Los haces reflejados en las caras de la lmina de jabn pueden interferir, y dependiendo del
espesor local de la lmina, la condicin de interferencia constructiva, dado un espesor y un ngulo de observacin
tendr lugar para una determinada longitud de onda. Por ejemplo, si el espesor cambia de un punto a otro, sern otras
longitudes de onda las que interferirn constructivamente, produciendo una superficie coloreada que nos dar el mapa
de espesores de la fina capa.

Un fenmeno similar ocurre en los das con lluvia. En el asfalto se forman pelculas muy delgadas de aceite sobre
agua. La luz del sol que incide sobre estas pelculas se refleja en ambas caras y los haces reflejados interfieren entre
s. Fijado un ngulo de observacin, cada color interfiere constructivamente segn el espesor de la capa de aceite, por
lo que estas pelculas aparecen coloreadas

n
N
Los fenmenos interferenciales tienen esencialmente un inters metrolgico.
Permiten caracterizar parmetros de inters de sistemas fsicos tales como
espesores, ndices de refraccin, perfiles espaciales de superficies, espectros de
fuentes de emisin, etc. Al mismo tiempo, constituyen la base de interesantes
aplicaciones tales como el diseo de filtros interferenciales de radiacin. Se
pueden disear tratamientos multicapa para obtener una reflectancia o
transmitancia deseada. En la foto de la derecha aparecen varias muestras de
vidrio recubiertas de materiales transparentes de espesor e ndice adecuados para
que reflejen selectivamente determinados colores y transmitan otros. Como se

puede apreciar, basta cambiar el espesor de la monocapa depositada para que cambie el espectro de la luz reflejada.
La idea consiste en depositar sobre el substrato de vidrio, una capa muy delgada de material transparente con un
ndice y espesor adecuados para que una o varias radiaciones interfieran constructiva o destructivamente.
Por ejemplo, en el caso de la figura se trata de
una monocapa antirreflectante para una
determinada radiacin. Si el espesor de la
capa es /4, la segunda onda reflejada estar
retrasada respecto de la primera /2, es decir,
en oposicin de fase, por lo que tendremos
una interferencia destructiva, y esta radiacin
no se reflejar.

Hemos dicho que las interferencias permiten obtener parmetros de sistemas fsicos. Un ejemplo elemental se
muestra en la figura. A partir de las interferencias entre los rayos reflejados en la segunda cara de la lente y en la
superficie plana, debido a la pequea diferencia de camino experimentada en la capa de aire entre ellos, se puede
demostrar que el radio de los anillos de interferencia observados (x) est relacionado con el radio de curvatura de la
lente (R) mediante la expresin x= (m R)1/2, siendo m el orden del anillo interferencial.

x = mR

x4

Analizaremos todas estas cuestiones con detalle en lo que sigue.

4.2. Interferencia de ondas planas monocromticas.

Como se recordar las ondas armnicas planas monocromticas constituyen el caso ms simple de perturbaciones
electromagnticas. Se caracterizan por ser una superposicin del campo elctrico y magntico en fase y obedecen a la
conocida condicin de transversalidad:

r r
r
k x E = B

Las soluciones ms sencillas son las ondas

armnicas planas las cuales vienen descritas
mediante funciones armnicas

EX ( z, t) = E0 X cos(t kz)
EX = cBY

En el caso de que la radiacin pertenezca al visible, el periodo de oscilacin de dichas ondas es muy pequeo, del
orden de 10-15 segundos, mientras que el intervalo espectral se extiende desde los 400 nm hasta los 700 nm
aproximadamente.
15

T 10

visible
300 nm 700 nm

La irradiancia de una onda plana monocromtica viene dada por el promedio temporal del mdulo del vector de
Poynting y resulta ser proporcional al promedio temporal del cuadrado del campo elctrico:

r2
I = c 0 E (r , t )

En el caso de una onda plana monocromtica armnica tal como la descrita ms arriba, la irradiancia vale:

rr
1
2
I = c 0 E0 cos2 (k .r t ) = c 0 E0
2

Supongamos ahora que en una cierta regin del espacio se superponen dos ondas planas de la misma frecuencia pero
desfasadas una respecto de otra una cierta cantidad, . Como veremos, esto se puede conseguir de muchas maneras.
Una de ellas est representada en la figura. En ella, un haz de luz se divide en dos mediante un espejo
semitransparente y luego se redirigen ambos haces mediante sendos espejos que constituyen un paralelogramo.
Finalmente, los haces se superponen a la salida del segundo espejo semitransparente.

En el camino superior se ha introducido una lmina de vidrio plano-paralela que hace que el haz superior se retrase
respecto del haz inferior, con lo que a la salida se habr desfasado una cantidad , que depender del ndice, n, y del
espesor, e, de la lmina. En el caso de la figura, vendr dado por

( n 1) e
c

El campo total a la salida ser la suma de

los campos:

r r
r
rr
E1 ( r , t ) = E 01 cos( k r t )
rr
r r
r
E 2 ( r , t ) = E 02 cos( k r t + )

r r r
r r
E = E1 (r , t ) + E 2 (r , t )

A la salida del ltimo espejo semitransparente se superponen las dos ondas que han recorrido caminos diferentes. Por
lo tanto, la irradiancia ser

r
r
r
I = c 0 E 2 (r , t ) = c 0 E1 (r , t ) + E 2 (r , t )

o bien

r r
r r
r r
E012
E022
r
I (r ) = c 0
+ c 0
+ 2c 0 ( E01 E02 ) cos(t k r ) cos(t k r + )
2
2
Teniendo en cuenta que
la irradiancia queda

2 cos A cos B = cos ( A + B ) + cos( A B )

r r
I ( r ) = I 1 + I 2 + 2c 0 cos( 2t 2 k r ) + cos

Como <cos(2)>=0, se llega a que

r r
I (r ) = I 1 + I 2 + 2c 0 ( E01 E02 ) cos

siendo

I j = c 0

E02 j
2

j = 1,2

Los dos primeros trminos corresponden a las intensidades de cada uno de los haces, mientras el tercer trmino
representa la interferencia y revela dos hechos importantes:
Depende de la diferencia de fase entre los dos haces, .
Si los haces estn polarizados perpendicularmente, el tercer trmino es nulo y no hay interferencia.
Por ello, de ahora en adelante asumiremos, salvo que se indique lo contrario, que los campos tienen la misma
polarizacin y prescindiremos del carcter vectorial de los mismos. En este caso la irradiancia se puede poner como

I = I1 + I 2 + 2 I1 I 2 cos
Dependiendo de la diferencia de fase tendremos diferentes situaciones que se esquematizan a continuacin:
En este caso las dos ondas estn en fase y la superposicin
es constructiva:

= 2m

E = E1 + E2 I = I1 + I 2 + 2 I1 I 2
La intensidad es mayor que la suma de las intensidades
parciales.

= ( 2m + 1)
I1 I 2

Ahora las dos ondas estn en oposicin de fase, cresta frente a

vientre, por lo que la superposicin es destructiva:
La intensidad es menor que la suma de la intensidades
parciales.

E = E1 E2 I = I1 + I 2 2 I1 I 2

Si adems de que =(2m+1) , las intensidades de las ondas

son iguales, la irradiancia es nula:

= (2m + 1)
I1 = I2

I = I1 + I 1 2 I1 I1 = 0

Si representamos la irradiancia de la superposicin en funcin de la diferencia de fase, se obtendr

I1 I 2

I1 = I 2

na magnitud interesante para analizar los diagramas interferenciales es el contraste interferencial C, definido como
sigue:

C=

I max I min 2 I 1 I 2
=
I max + I min
I1 + I 2

Representa una medida del cambio en irradiancia entre el mximo y el valor mnimo. Si este cambio es muy pequeo
pude suceder que el diagrama interferencial se poco visible. Como se aprecia en las grficas anteriores, el contaste es
mximo si las intensidades de las dos fuentes son iguales. En este caso C=1.

Con todo ello, estamos ya en disposicin de abordar diferentes maneras de producir interferencias y obtener
consecuencias de los diferentes dispositiv os interferenciales.

4.3. Tipos de interfermetros.

Ya hemos comentado que existen muchas formas de hacer interferir una par de haces coherentes de luz. Los
dispositivos pticos que permiten realizar tal superposicin de denominan de forma genrica, interfermetros. En
todos ellos, la idea general consiste en dividir un haz incidente en dos mediante orificios, rendijas, espejos y otros
elementos pticos. Se pueden clasificar en dos tipos:

(a) Interfermetros por divisin del frente de onda.

En estos, es el frente de onda el que se divide en dos mediante rendijas,

tal como se indica en la figura. Usualmente las dos nuevas ondas tienen la
misma intensidad. El interfermetro de Young, que se muestra en la figura,
y que discutiremos ms adelante, es un tpico ejemplo.

(b) Interfermetros por divisin de amplitud de la

onda.

En este caso, la amplitud de la onda se divide por reflexin y

transmisin mediante elementos pticos como espejos
semitransparentes, de tal forma que la onda queda dividida en dos
amplitudes iguales o diferentes. En el esquema de la figura, se
muestra un interfermetro de tipo Mach-Zhender en el cual, parte de la
onda incidente se refleja en el espejo semitransparente de tal forma
que se generan dos ondas, una reflejada y otra transmitida cuyas
amplitudes dependern de los coeficientes de Fresnel de la interfase.
Otro ejemplo de este tipo lo constituye una simple lmina de vidrio.

e
a

4.3.1 El interfermetro de Young.

El interfermetro de Young est constituido por una pantalla donde se han practicado dos orificios o rendijas muy
estrechas separadas una cierta cantidad. El frente de onda
que incide sobre las rendijas se divide en dos nuevos
frentes de onda que iluminan el espacio posterior. En esta
regin, los dos frentes de onda se superponen pudiendo
interferir. Si a una cierta distancia se sita otra pantalla para
recoger la irradiancia resultante, bajo determinadas
circunstancias, se podr observar el diagrama interferencial
producido y que en primera aproximacin, consiste de una
serie de lneas brillantes equiespaciadas o mximos de
interferencia, separadas por lneas oscuras o mnimos de
interferencia. Desde el punto de vista de la ptica
geomtrica es inexplicable que en el centro de la pantalla
aparezca un mximo de luz, as como que la energa
luminosa se redistribuya espacialmente en forma de franjas
brillantes y oscuras. A continuacin vamos a describir el
fundamento de este interfermetro.

La descripcin matemtica es simple. Las ondas que emergen de S1 y S 2 , llegan a la pantalla donde se superponen
espacialmente. Si queremos saber la irradiancia en un punto P cualquiera que se encuentra a una altura y del centro
de la pantalla, deberemos calcular el desfase de las dos ondas en ese punto. Para ello vamos a realizar unas
suposiciones que nos permitirn simplificar los clculos.

r1

i
a
=a sen

Mximos

En efecto, si las dos rendijas u orificios estn a una distancia a, y la pantalla est muy alejada de ellos, es decir si D>>
a, y si observamos en una zona prxima al centro (D>>y), podremos considerar que las ondas se propagan
prcticamente en la misma direccin, por lo que podremos aplicar los resultados de la seccin anterior. Por otra parte,
la diferencia de camino entre ambas ondas en P, que dista y del centro, viene dada por la cantidad

10

ay
D

= a sen a tan =

=k =

2 ay
D

Por lo tanto, el campo total en P ser la suma de los campos que proceden de S1 y S 2, que consideraremos polarizados
en la misma direccin y as prescindir de su carcter vectorial:

rr
r r
rr

+
+

+
+

+
i
t
k
r
i
t
k
(
r
)
i
k
i
t
k
r1

1
1
1
+ E0 e
= E0 1 + e
E = E1 + E2 = E0 e
e

Vemos que la onda resultante presenta una amplitud dada por E0 (1+eik), por lo que la irradiancia ser proporcional al
mdulo al cuadrado de esta amplitud:

1
kay
i k

I = c 0 E02 1 + e
= 2 I0 (1 + cos ) = 2 I0 1 + cos

2
D

El resultado indica que en la pantalla aparecer una redistribucin espacial de la irradiancia. En efecto, la irradiancia
ser mxima en aquellos puntos en los que se cumple que

cos = 1 es decir = 2 m

y=m

Sin embargo, la irradiancia ser mnima en aquellos puntos en los que

cos = 1 es decir = (2m + 1)

y=

D
a

m = 0, 1, 2 ...

2m + 1 D
2
a

m = 0, 1, 2...

m=2

La separacin entre franjas brillantes u oscuras consecutivas se denomina interfranja:

i = ym +1 y m =
a

D
a

11

De la expresin se ve que el espaciado entre las franjas es inversamente proporcional a la separacin de las fuentes y
vara linealmente con la longitud de onda de la fuente y la distancia a la pantalla. Esta frmula sugiere algunas
posibles aplicaciones de la interferometra. Por ejemplo, si pudiramos medir la interfranja, y conocisemos los datos
geomtricos del experimento, tales como a y D, se podra obtener la longitud de onda de la radiacin.
Ejemplo: (a) Se ilumina un dispositivo de Young como el descrito mediante una lmpara de sodio que emite
una radiacin monocromtica de desconocida. La separacin entre las rendijas es de 0.5 mm y se recoge la
irradiancia resultante en una pantalla situada a 2 m. Se mide la interfranja y resulta ser 2.4 mm. Calcular la
longitud de onda de la radiacin incidente.

i = y m +1 y m =

D
= 2.4mm
a

2.4 x0.5
= 589 .3 nm
2000

(b) Si ahora se ilumina con luz roja de una lser de He-Ne que emite en = 632 nm. Calcular la interfranja:

D 632 x10 -6 2 x10 3

i = y m +1 y m =
=
= 2.53 mm
a
0 .5

En el ejemplo anterior se ve que la interfranja depende de la longitud de onda. Si sobre el interfermetro se dirigieran
simultneamente dos ondas de diferentes frecuencias, sobre la pantalla tendramos dos interferogramas superpuestos
con los mximos de uno de ellos desplazados respecto de los mximos del otro color. Esto nos lleva a plantearnos qu
se observar en la pantalla si la fuente primaria fuera policromtica.

m=2

En este caso, cada longitud de onda forma un interferograma ligeramente desplazado de los dems y los mximos
tienen adems diferente anchura, dado que la separacin entre mximos en cada interferograma monocromtico es
proporcional a la longitud de onda. Se puede comprender entonces que si la fuente primaria es muy ancha,
espectralmente hablando, es decir, emite un conjunto amplio de frecuencias, podr suceder que en la pantalla se dejen
de apreciar las franjas de interferencia dado que el espacio entre mximos de un color dado se llena de luz procedente
de los otros colores.

12

13

4.3.2 Interferencias de ondas no monocromticas

Todo ello nos lleva a plantear el problema de la interferencia de ondas de diferente frecuencia. En general las fuentes
de radiacin emiten pulsos de una cierta duracin temporal T (no confundir con el periodo temporal de una onda).
Ello quiere decir que un pulso no es monocromtico sino que, de acuerdo con el teorema de Fourier, est compuesto
de diferentes ondas monocromticas:

La figura de la izquierda muestra la duracin temporal de un pulso mientras que la figura de la derecha muestra el
espectro de potencia del pulso, esto es, el contenido espectral del cuadrado del campo elctrico. Como se ve, aunque
el pulso se compone de infinitas ondas monocromticas, slo las frecuencias que estn cercanas al mximo tienen
amplitudes significativas. El contenido espectral del pulso lo podremos reducir a . Este valor esta relacionado con la
duracin temporal del pulso a travs de la expresin:

2
T '

Si el pulso se propaga en el vaco, tendr una longitud finita Lc, que se denomina longitud de coherencia por las
razones que veremos ms tarde. La longitud de coherencia del pulso vendr dada entonces por

Lc = cT ' =

2 c 2
=

Veamos el efecto que tiene sobre la interferencia el hecho de que el pulso sea finito temporal o espacialmente.
Sabemos que cualquier dispositivo interferomtrico introduce una diferencia de camino ptico entre los haces que
interfieren. Parece obvio que si esta diferencia de camino es mayor que la longitud de coherencia L c, la interferencia
desaparece, ya que no se produce la superposicin de dos haces gemelos procedentes de la misma em isin de la
fuente primaria. Se puede comprender mejor esto con ayuda de la figura adjunta, donde se representan dos ondas de
longitud y duracin finitas que presentan una diferencia de camino ptico dado por producido por el interfermetro.
La regin de superposicin es la zona comn ( lc-). Parece obvio que si >>lc, las ondas no se superpondrn a la
c
salida del interfermetro y por lo tanto no interferirn.

14

lc-

Para verlo con ms detalle vamos a calcular el contraste interferencial de la superposicin de estas dos ondas. Si
suponemos que la irradiancia de cada onda es proporcional a su longitud, la irradiancia que medir un detector se
deber, por un lado a la suma incoherente de cada porcin de onda que llega al detector sin superponerse, esto es

Iincoherente = b + b
A la que habr que aadir la irradiancia de la porcin de las ondas que superponen

I c = b(l c ) + b(l c ) + 2 b 2 (l c ) 2 cos k

El contraste se obtiene inmediatamente a partir de estas expresiones

I = I incoheree + I c
C=

I M I m lc
=
IM + Im
lc

Puede verse que el contraste es mximo si =0, y se hace nulo si =lc. En definitiva, la condicin para que dos pulsos
policromticos interfieran e una manera estable, es necesario que la longitud de coherencia de los pulsos sea mayor
que la diferencia de camino que existe entre ellos en el punto donde se superponen.

Luz
visib

Por ejemplo, supongamos que un haz de luz blanca tiene

una anchura espectral del orden de 400 nm. Su longitud de
coherencia ser del orden de
300 nm 700 nm

lc ct p =

2c 2 500 2
=
=
= 0.6 m

400

Esto quiere decir que si sobre una lmina paralela de espesor 5 mm incide luz blanca, las ondas reflejadas en la
primera y segunda caras no interferirn ya que la diferencia de camino entre ellas, ser, como mnimo 2ne=15 mm, que
es mucho mayor que la longitud de coherencia del haz de luz. De ah que estas interferencias aparezcan cuando la luz
blanca incide sobre lminas muy delgadas, como en una pompa de jabn, o en una capa delgada de aceite sobre
agua, etc.
A continuacin se dan algunas fuentes de radiacin y su anchura espectral.

15

4.3.3 Otros interfermetros tipo Young.

La separacin entre las fuentes virtuales que actan como fuentes de Young es

a 2SS1 = 2d tan( ) = 2 d tan[(n 1) ]

Por lo tanto, la interfranja viene dada por

In =

(d + D )
2d tan[(n 1) ]

16

4.4 Interferencias por divisin de amplitud: Interfermetros de

doble haz.

Otra manera muy simple de hacer interferir dos haces consiste en dividir la amplitud del haz incidente mediante una
lmina de vidrio de ndice n y espesor e, rodeada de aire (n=1). Es evidente que el haz que se refleja en la segunda
cara de la lmina recorre ms camino ptico que el primero por lo que al salir presentar una diferencia de fase
respecto del primero. Otro tanto ocurrir con los haces transmitidos.
En este caso vamos a analizar con detalle la
luz reflejada. Vamos a obtenerla para la
situacin de la figura.
La diferencia de camino ptico entre los dos
rayos reflejados ser

= n( AB + BC ) AD
De la figura se tiene que

AD = AC sen i

AB = BC =
tan t =

e
cos t

AC
2e

Por lo tanto, la diferencia de fase debido al camino geomtrico recorrido por ambos rayos vendr dada por

G = k = 2 kn

e
2 ke tan t sen i = 2k n e cos t
cos t

Adems de este desfase debido a la diferencia de camino ptico-geomtrico, puede haber un desfase adicional debido
a los cambios de fase que tienen lugar en la reflexin de una onda en una interfase. Recurdese que las frmulas de
Fresnel dan los coeficientes de reflexin y que stos pueden ser positivos o negativos. Si escribimos las expresiones
de los campos asociados a los dos haces reflejados, se tendr.

E = E1 + E2 = r1 E0 e

i t

+ r2 (t1 t1' ) E0 e

i ( t + G )

Si (r1 . r2)>0, el nico desfase entre los haces se debe al camino ptico-geomtrico. Pero si (r1 . r2 )<0, la expresin
anterior se podr escribir

E = E1 + E2 = r1 E0 e

i t

r2 (t1 t1' ) E0 e

i ( t + G )

= r1 E0 e

i t

+ r2 (t1 t1' ) E0 e

i ( t + G + )

donde ahora, los coeficientes de reflexin se toman en valor absoluto. En el caso que nos ocupa, el primer haz se
refleja de menor a mayor ndice mientras que el segundo haz se refleja en la cara inferior, de mayor a menor ndice.
Ello indica que el coeficiente de reflexin tiene signo opuesto al de la primera cara. Por lo tanto el desfase global debido
a

17

a los cambios de fase en la reflexin vale . Por ello, la diferencia de fase total entre los dos haces, uno reflejado
externamente y otro internamente, es en este caso:

= G + R = 2k n e cos t
Los mximos de interferencia en la luz reflejada ocurrirn si =2m, es decir

2 n e cos t =

2m + 1

Esta expresin relaciona todas las magnitudes de inters: el ndice de refraccin del material, el espesor, la longitud de
onda. Por ello, se puede obtener informacin de estas magnitudes fsicas a partir de la forma y localizacin del
diagrama interferencial.
En cuanto a la forma de las franjas, en el caso que estamos considerando, si el espesor y el ndice se mantienen
constantes, los mximos ocurrirn para unos ngulos de observacin fijos dados por

cos tm =

(2m + 1)
4ne

Estas franjas se denominan franjas de igual inclinacin.

Si incidiese luz policromtica, dentro del mismo orden interferencial, los ngulos que producen un mximo para el color
rojo sern diferentes de los que producen el mximo para el color azul, producindose un diagrama interferencial como
el de la figura.

18

Es importante no olvidar los cambios de fase debidos a la reflexin ya que pueden cambiar por completo la condicin
de interferencia. Por ejemplo, si analizamos la luz reflejada por una pelcula de aceite (n=1.28) sobre el agua (N=1.33),
sucede que en las dos superficies ocurre el mismo cambio de fase por lo que, globalmente, la diferencia de fase entre
los dos haces reflejados slo se debe a la diferencia de camino:
En este caso, los campos reflejados se podrn expresar como

E = E1 + E2 = r1 E0 e

i t

r2 (t1 t1' ) E 0 e

i ( t + G )

i ( t + G +
i ( t + )
= r1 E0 e
+ r2 (t1 t1' ) E 0 e

Por lo que la diferencia de fase solo se debe a que recorren diferente camino ptico:

= G + R = 2k n e cos t + 0

Ahora, la condicin de mximo de interferencia es

2 n e cos t = m
que como se ve es diferente al caso anterior en el que la lmina estaba rodeada de aire

19

4.4.1 Interfermetro de Michelson

El interfermetro de Michelson, introducido por A. Michelson en 1881 ha jugado un papel relevante en el desarrollo de
la fsica. Con l, se han podido establecer evidencias sobre la validez de la teora de la relatividad al medir la
estructura hiperfina de las lneas espectrales emitidas por ciertos tomos. Un esquema se muestra en la figura.
Consiste de una fuente extensa de luz que ilumina un espejo semitransparente M. Los haces resultantes se dirigen a
sendos espejos colocados perpendicularmente uno de otro. Uno de ellos, M1, es movible y se puede desplazar,
permitiendo as variar el camino recorrido por el haz. El otro espejo est fijo. Los haces reflejados por estos espejos se
recombinan de nuevo al volver hacia el espejo M e interfieren. Si los espejos estn bien alineados, las franjas
observadas resulten ser anillos concntricos tal como se muestra en la figura.

O2

S2

S1

O1
S

M2

M1

El interfermetro es equivalente a una lmina plano-paralela, de espesor 2(L1 -L2), tal y como se desprende del
esquema lateral derecho. En efecto, si calculamos el sistema equivalente respecto de la lmina semitransparente, todo
ocurre como si la fuente S estuviera simtricamente situada respecto de la diagonal. Lo mismo ocurre con el espejo M 2,
cuya imagen virtual respecto del espejo estar por encima o por debajo de M1 dependiendo de las distancias relativas
de ambos al espejo central. Las imgenes de la fuente, respecto de estos dos espejos, estarn simtricamente
situadas respecto de cada uno de ellos en S 1 y S 2, respectivamente. Por lo tanto, si un rayo parte de la fuente con una
inclinacin , se reflejar en los espejos como si proviniera de los puntos O1 y O 2. La diferencia de camino entre estos
dos rayos ser:

2 ( L1 L2 ) cos = m

Como se puede inferir del esquema de rayos y de la condicin de interferencia, todos los rayos emitidos con el mismo
ngulo estarn en la misma condicin de interferencia, por lo que las franjas sern circulares. Como ejemplo de
aplicacin, supongamos, que se quiere medir la longitud de onda de una radiacin. Supongamos que moviendo el
espejo observamos un anillo. Se desplaza ahora el espejo una cantidad L hasta observar que han desfilado N anillos.

N
a

2 L
= L =
2
N
20

Si consideramos incidencia normal, cada vez que el espejo se desplaza /2, la diferencia de camino entre los dos
rayos ha aum entado en una . Por lo tanto, contado el nmero de franjas podemos determinar la longitud de onda.
En la actualidad la posibilidad de captar imgenes del interferograma y procesarlas en un ordenador ha extendido
notablemente la aplicacin de las tcnicas interferomtricas a la obtencin de perfiles de superficies o de imgenes
tridimensionales de objetos. La tcnica recibe el nombre de muestreo espacial de la fase. La idea es simple. En lugar
de contar franjas, consiste en procesar toda la informacin contenida en el interferograma. Esta informacin se
encuentra en la fase relativa (x,y), de las ondas que interfieren. Imaginemos el montaje de la figura. En el lugar de uno
de los espejos del interfermetro de Michelson se ha situado la muestra superficial cuyo perfil se quiere analizar.

La intensidad resultante en el detector, que puede ser una cmara CCD conectada a un ordenador, ser
I1 ( x , y ) = I 0 [1 + C cos ( x, y ) ]

donde (x,y) es la fase relativa entre el haz de referencia y el haz reflejado pr cada punto de la superficie. Obviamente
la textura de la superficie produce cambios en la fase, por lo que sta es una funcin que depende del punto.
Imaginemos ahora que se desplaza el espejo de referencia mediante un desplazador piezolctrico varias cantidades,
por ejemplo, /8, 2/8, y 3/8, respecto de su posicin original, al tiempo que se graban en el ordenador las imgenes
de los interferogramas resultantes. Estas imgenes vendrn expresadas por

I2 ( x, y ) = I0 1 + C cos ( ( x, y ) + ) = I 0 [1 Csen ( x, y )]
2

I3 ( x, y ) = I0 [1 + C cos( ( x, y ) + )] = I 0 [1 C cos ( x, y)]

3

I4 ( x, y ) = I0 1 + C cos ( ( x, y ) + ) = I0 [1 + Csen ( x, y)]

2

Ahora en el ordenador se puede calcular la siguiente imagen:

F ( x, y ) =

I 4 ( x, y ) I 2 ( x, y)
= tan ( x, y )
I1 ( x, y ) I 3 ( x, y )

21

A partir de esta ecuacin podemos obtener la fase (x,y) ya que conocemos F(x,y). En la figura se muestra el perfil de
las irregularidades de una capa de metal.

El interfermetro se puede incorporar a un microscopio que aumenta el tamao del interferograma tal como se indica
en la figura. Las imgenes para cuatro posiciones del espejo de referencia se envan a una cmara y de aqu al
ordenador para su procesamiento. Se obtienen as imgenes tridimensionales de la superficie como la que se muestra
a la derecha.

22

5.1 Algunas aplicaciones de las interferencias.

Hemos visto anteriormente que los mximos o mnimos de interferencia ocurren cuando el desfase relativo entre las
ondas que interfieren , toma valores especiales. En cualquier caso, es una funcin que depende de las
caractersticas de los medios en los que se propagan las ondas, esto es, = (e, n, ,...). Por ello, a partir del
interferograma, se puede obtener informacin de estos parmetros. A continuacin comentaremos algunas
aplicaciones de las interferencias.

5.1.1 Medidas de espesores y ngulos.

Si el espesor de la capa delgada es variable, y la incidencia se mantiene constante, los mximos ocurrirn para
determinados espesores fijos. Las franjas obtenidas representarn el lugar geomtrico de espesor constante, es decir,
nos proporcionarn un mapa de curvas de nivel del substrato. Las franjas obtenidas se denominan franjas de igual
espesor. En el caso de la figura se tienen una cua de vidrio de ngulo muy pequeo. En este caso, en el borde
inferior se produce una franja oscura dado que al ser all el espesor nulo, los rayos presentan una diferencia de fase de
debido a la reflexin de aire a vidrio y de vidrio a aire. Por lo tanto en todos los puntos de espesor nulo se satisface
la misma condicin de interferencia destructiva y hay un mnimo. Para otros espesores donde el desfase total sea
mltiplo de (2m+1), ocurrir lo mismo. As que sobre la superficie de la cua aparecern franjas paralelas a la arista.

= G + R = 2k n e cos t = (2m + 1)

em

em+1

em =

( 2m + 1)
4n

A partir de una medida experimental de la interfranja podemos obtener el ngulo de la cua. En efecto, de la figura se
tiene

e
e

sen = m +1 m =
x
2nx

23

Por ejemplo, basados en este mtodo podemos estimar el espesor de la lgrima en el ojo y su uniformidad. En efecto,
considrese el sistema de la figura. Sobre el ojo, y en incidencia prxima a la normal, mandamos un haz de luz blanca.
La luz reflejada por las superficies de la lgrima es recogida por las lentes y llevada hasta un espectrofotmetro (EPF)
que permite medir la reflectancia para cada longitud de onda. Como se puede apreciar en el montaje, el haz ilumina
una zona muy pequea de la pelcula lacrimal, por lo que podremos considerar el espesor constante en la zona
iluminada. Dado un espesor, habr longitudes de onda para las cuales se cumpla la condicin de interferencia
constructiva o destructiva, dando lugar a la aparicin de mximos o mnimos respectivamente para esas longitudes de
onda.
Luz blanca

nc

EPF
nl

Si representamos la reflectancia frente al nmero de onda (=1/), se obtiene un diagrama de franjas que depende del
color o longitud de onda. Si asumimos que el ndice de la
lgrima nl=1.34 es menor que el ndice de la crnea
R
nc=1.4, no hay desfase entre los rayos debido a la
reflexin , por lo que la condicin de mnimo ser:

4
nl e cos t = (2 m + 1)

Eligiendo dos mnimos cualesquiera, tales como

1 =1.4 y 4 =1.8, que se diferencian en tres rdenes,
se tendr
=

1.2 1.3 1.4

1.5

1.6

1.7

1.8

1/ (m -1)

4 1 nl e = ( 2m + 1)

4 4 n e = [2( m + 3) + 1)]
Restando ambas ecuaciones, se llega a que el espesor de la lgrima es

e=

3
2nl ( 4 1)

= 2 .8 m

24

5.1.2 Medida de radios de curvatura de lentes.

Existen diferentes mtodos interferenciales que permiten medir parmetros de una lente tales como su focal, sus radios
de curvatura o las aberraciones que presenta. En este caso vamos a estudiar franjas de igual espesor que se producen
en el espacio de aire comprendido entre una lente oftlmica y un calibre plano para obtener informacin sobre el
estado de la superficie de la lente y en particular medir su radio de curvatura. Se trata de una tcnica sencilla, precisa y
conceptualmente muy elemental en cuanto a su descripcin
terica.
La tcnica de los anillos de Newton constituye un mtodo muy
simple para establecer la calidad de una superficie ptica.
Normalmente, los diseadores de lentes indican la calidad de la
misma en trminos del nmero de anillos que aparecen cuando
se compara con la superficie de un calibre que sirve de
referencia. En las lentes de baja calidad suelen aparecer unas
cuantas franjas que nos indican lo que se aleja la superficie bajo
test de la superficie calibrada. En una lente de mucha calidad se
puede llegar a que haya un anillo. La precisin que se puede
obtener con esta tcnica sencilla es del orden de /2 por lo que
es suficiente para lentes oftlmicas dada la tolerancia del sistema
visual.
La disposicin habitual para observar los anillos de Newton se
representa en la figura. La luz de un lser se colima y mediante
un divisor de haz se enva la luz reflejada sobre la superficie de la
lente cuyo radio se quiere medir. La luz que incide sobre la lente
pasa a travs el espacio de aire que queda entre sta y el calibre
plano. El haz reflejado por la segunda cara de la lente interfiere
con el haz reflejado por el calibre dando lugar a franjas del mismo
espesor que se forman aproximadamente sobre la superficie de la
lente en forma de anillos.
x4
La diferencia de fase entre los dos rayos reflejados en la segunda
cara de la lente y en el calibre plano ser

= G + R = 2k n e cos t

Por otra parte, el espesor de la capa de aire entre la lente y el

calibre depende de la distancia al centro de la lente, x:

x2
e = R CA = R R x = R R 1 2
R
2

Si observamos a distancias prximas al centro de la lente y consideramos lentes de radios grandes tales que x<<R,
podremos llevar a cabo un desarrollo en serie de la raz cuadrada hasta primer orden en x2/R2:

x2
x2 x2
e = R R 1 2 R R 1
=
2
R
2
R

2R

Por lo tanto, el desfase relativo entre los dos haces es

x2
= G + R = 2 k n e cos t = 2 k n

2R
a

25

Los anillos oscuros se obtendrn cuando =(2m+1), es decir

2k n

x2
= (2m 1)
2R

x2 =

mR
n

As, si medimos el radio de los anillos oscuros, y representamos x2 frente al orden del anillo, m, se obtendr una
recta cuya pendiente es R.

x2
x4

Tambin se puede usar este montaje para analizar la calidad de las superficies de lentes. En efecto, la aparicin de
franjas deformadas, en lugar de circulares, indicara un pulido deficiente de la superficie. En las fotos se muestran
interferogramas obtenidos para diferentes gafas de sol.

26

5.1.3 Recubrimientos antireflectantes.

Una de las aplicaciones ms interesantes de las interferencias mltiples producidas en lminas delgadas consiste en
realizar recubrimientos mono o multicapa sobre un substrato dielctrico para obtener una reflectancia o transmitancia
deseada. As por ejemplo, se puede anular la reflectancia para una o ms longitudes de onda, atenuar la reflectancia
para una determinada banda espectral, o por el contrario conseguir una muy alta reflectancia prxima al 99 por ciento.
La aplicacin de tratamientos antireflejantes en el campo de la ptica convencional permiti, por ejemplo, el desarrollo
de objetivos fotogrficos de un gran nmero de lentes que corregan las aberraciones al tiempo que no perdan luz por
reflexin en cada una de las interfases. El desarrollo de espejos fros, que no reflejan el infrarrojo o materiales
antitrmicos como los que se colocan en la fuentes de proyeccin que no transmiten el infrarrojo, evitando as el
quemado de la pelcula o diapositiva, etc. En la ptica oftlmica, los tratamientos antireflejantes han proliferado mucho
desde los aos 80 hasta aqu. La necesidad de evitar reflejos se debe al hecho de que al utilizar una gafa sin
tratamiento, llegan a la retina reflejos espreos que producen imgenes parsitas.

Otras veces surge la necesidad de filtrar determinadas radiaciones que

pueden alterar los medios oculares en determinadas patologas o bien es
necesario evitar el esparcimiento en caso de cataratas, etc. En un primer
momento ello llev al desarrollo de lentes masivas, es decir, materiales de
vidrio ptico u orgnico dopados con xidos o molculas pigmento que
absorben determinada parte del espectro. Sin embargo, no siempre estos
procesos obtienen un buen funcionamiento, dado que la transmitancia no es
uniforme y, si se quiere eliminar alguna parte del espectro se disminuye
mucho la transparencia general.
En las siguientes secciones describiremos la manera para conseguir que la
reflectancia producida por un material dielctrico sea mnima o nula
recubrindolo con una o ms capas muy delgadas de otros materiales
dielctricos. Comenzaremos analizando cualitativamente un ejemplo.
Sabemos que cuando un haz de luz que se propaga en un medio material de ndice n incide en otro medio dielctrico y
no absorbente, de ndice n la amplitud de la onda
reflejada viene determinada por los coeficientes de
reflexin de Fresnel:

E sr
rs = i
Es
E pr
rp = i
Ep

ni cos i nt cos t
=
ni cos i + nt cos t
nt cos i ni cos t
=
n i cos t + nt cos i

27

As por ejemplo para incidencia en aire-vidrio de ndice n=1.8, el coeficiente de reflexin en la primera cara vale
r1=0.203, mientras que en la segunda superficie vidrio-aire vale r2=-0.203. Asumiremos que la longitud de coherencia
de la radiacin incidente es mucho menor que el espesor de la lmina. Normalmente una lmina de vidrio de ventana o
una lente tienen espesores de varios milmetros y la longitud
de coherencia de la luz del sol es de unas micras. Por ello no
R
se producirn efectos de interferencia y la intensidad total ser
debida a la superposicin incoherente de los haces reflejados,
esto es, la suma de las irradiancias.
0.076
1
I = c 0 E 02 r12 + (t1 t1' r2 ) 2

2
0.04

Como se ve en la figura, la reflectancia en la primera cara es

del orden de un 4% y en la segunda un poco menos, por lo
que la reflectancia total representa en torno a un 8% de la
irradiancia incidente.
Se
puede comprender entonces lo importantes que sern

estas prdidas por reflexin en sistemas pticos formados por

muchas lentes, tales como objetivos fotogrficos, telescopios, etc. Por ejemplo, en las lentes oftlmicas, mejora mucho
la transparencia de la lente si se recubre sta con un tratamiento antireflejante que evite los reflejos parsitos o dobles
imgenes que se pueden producir en sucesivas reflexiones en ambas caras de la lente o entre esta y la crnea, tal
como se puede apreciar en la figura.

28

Si queremos hacer uso de las interferencias para eliminar la luz reflejada deberemos permitir que interfieran. Esto se
consigue si se deposita sobre el substrato de vidrio una capa de material dielctrico de ndice y espesor apropiados, en
primer lugar para que las ondas puedan interferir (espesores de unas micras, menores que la longitud de coherencia de
la fuente de luz) y despus para lograr que interfieran en fase o en oposicin de fase. Por ejemplo, supongamos que
estamos interesados en reducir la reflectancia del vidrio anterior para una longitud de onda 0 = 550 nm, recubrindolo
con una fina capa de fluoruro de magnesio (F 2 Mg) cuyo ndice, en el visible, es aproximadamente nc =1.38.

Como los haces pueden ahora interferir, la irradiancia reflejada vendr dada por

I=

1
c 0 E02 r12 + (t1 t1' r2 ) 2 + 2r1 (t1 t1' r2 ) cos

Los dos primeros trminos son positivos, pero el signo del trmino de interferencia depender del valor del desfase,
, y de los signos de r1 y r2. El cambio de fase debido a la reflexin es el mismo en ambas superficies ya que 1< n c <
N. Por lo tanto, la diferencia de fase entre los dos haces, en incidencia normal, se debe exclusivamente a la diferencia
de recorrido dentro de la capa de Fluoruro.

= G + R = 2k n e
Por lo tanto, bastar que cos = -1 para que la interferencia sea destructiva:

2k n e = ( 2m + 1)

e = (2m + 1)

4n

El mnimo espesor que puede tener esta ocurre para m=0, es decir, capa es de /4n. En efecto, en este caso la
segunda onda recorrer dos veces este espesor por lo que se habr retrasado una distancia total de /2, respecto de
la primera. Por lo tanto, las ondas reflejadas estarn en oposicin de fase, tal como se ve en la figura. En el caso
considerado, el espesor mnimo de la capa para que ocurra interferencia destructiva es

e=

550
=
= 99.6nm
4 n 4 x1 .38
29

Por otro lado, los coeficientes de reflexin y transmisin en la primera y segunda cara valen

r1 =

1 1.38
1.38 1.80
= 0.159 r2 =
= 0.132
1 + 1.38
1.38 + 1.80

t1 =

2
2 x1.38
= 0.84 t '1 =
= 1.16
1 + 1.38
1 + 1.38

Sustituyendo los valores en la expresin de la irradiancia se obtiene

I = I0 (0.159) 2 + (0.84x1.16x0.132) 2 + 2( 0.159x0.84x1.16x0.132) cosp = 9.6x104 I 0

Esta reflectancia mnima se produce para una determinada longitud de onda. Para longitudes de onda ms cortas o
ms largas, la reflectancia crece, ya que la diferencia de fase ya no es , por lo que dejar de cumplirse la condicin de
interferencia destructiva. De hecho puede suceder que, para el espesor dado, exista una longitud de onda para la cual
el desfase sea de 2 y las ondas reflejadas se superpongan en fase. En este caso la reflectancia presentar un
mximo y tendremos, para esa nueva longitud de onda, una estructura dielctrica de alta reflectancia.
Por ejemplo, si el sistema anterior lo iluminamos ahora con otra longitud de onda de =700 nm, dejando fijas las
condiciones obtenidas de espesor e incidencia normal, el desfase ya no ser , sino que vendr dado por

4
4 0
550
ne =
n
= 0 =
= 2.47

4n

700

rad

Por lo tanto, cos = cos (141.420)=-0.78. En este caso, repitiendo los clculos para este nuevo valor del desfase se
obtiene una reflectancia R= 0.01, es decir, unas 6 veces mayor que la obtenida para 550 nm.
Como se comprende pues, la longitud de onda para la cual la reflectancia se hace mnima depende del espesor de la
capa dielctrica de fluoruro. Por ejemplo, si el espesor ptico es 0/4 para la regin verde del espectro visible, la
reflectancia ser mnima en esa regin. El vidrio con este tratamiento aparecer prpura ya que reflejar en mayor
proporcin las radiaciones de las regiones azul y roja del espectro. Este tratamiento se utiliza en las lentes para
fotografa en blanco y negro. Para fotografa en color la capa de fluoruro es ms delgada de tal manera que la
reflectancia es mnima para el azul. Estos recubrimientos presentan un aspecto ambarino al ser observados por
reflexin.
Nos podramos preguntar si es posible obtener reflectancia nula para alguna longitud de onda. Desde luego no sera
posible sumando slo dos ondas ya que, aunque interfieran destructivamente, sus amplitudes son diferentes. Sin
embargo, la realidad es que en la monocapa se producen muchas ms reflexiones. Si sumramos todas las ondas
reflejadas internamente, stas estaran en fase entre s y en oposicin de fase con la primera, que es la de mayor
amplitud. En ese caso se puede obtener una condicin para que la reflectancia sea nula. Vamos a realizar un anlisis
cuantitativo en la siguiente seccin. Antes comentaremos que podemos obtener reflectancia mnima para dos
longitudes de onda especficas aadiendo dos capas al substrato. En este caso disponemos de dos espesores e
ndices para controlar la condicin de interferencia destructiva. En general, aadiendo sucesivas capas podemos
realizar tratamientos para obtener reflectancias mnimas o mximas en un amplio rango espectral. En la figura se
muestran algunos casos con las curvas de reflectancia.

30

Se pueden realizar tambin filtros de corte como el que se muestra en la figura, en el que se puede apreciar que se
transmite muy bien el espectro visible pero no as el infrarrojo. Este tipo de filtros se denominan antitrmicos y se
utilizan en sistemas de iluminacin donde se concentra mucha energa infrarroja procedente de la lmpara

31

En muchas aplicaciones se trata de obtener reflectancia mxima en lugar de mnima. Por ejemplo en espejos para
lseres de potencia donde los espejos metlicos presentan problemas de utilizacin debido a que estos espejos
siempre absorben. Vamos a analizar cualitativamente un caso de multicapa de alta reflectancia. En efecto considrese
la estructura dielctrica de la figura. Est formada por un substrato de ndice ns, y una serie de capas alternadas de
ndices nH y nL. Los ndices satisfacen nH > nS> nL . Los espesores de las capas son 0/4n L y 0/4nH, respectivamente.
Los desfases de los rayos reflejados en las interfases,
respecto al rayo incidente son
1 =
2

=
nH

4nH
2

+2
= 3
3 = + 2
nL
nH

4nL

4nH
2 = 2

nL
nH

4 = 2

+4
= 3
nL
nH

4nL

4nH

+4
= 5
nL
nH

4nL

4 nH

2
2
+6
= 5
6 = 4
nL
nH

4nL
4 nH
5 = + 4

Se puede observar que todos los haces reflejados estn en fase, por lo que interferirn constructivamente, es decir, se
trata de una multicapa de alta reflectancia.

32

5.2 Interferencias de mltiples haces.

Al estudiar las interferencias generadas en una lmina slo hemos considerado las dos primeras reflexiones. Esta
aproximacin sirve para entender la fenomenologa y es bastante aproximada para muchos casos de inters. Sin
embargo, existen mltiples reflexiones, de amplitud cada vez ms pequea que permiten eliminar completamente la
luz reflejada para una cierta longitud de onda. Adems, si las reflectancias de las caras de la lmina es muy alta, (por
ejemplo, si estn parcialmente metalizadas), no podemos olvidar la contribucin de estas ondas mltiples. Por ello,
vamos a considerar la situacin mostrada en la figura donde n < N. Denominaremos r1, r1 y r2 a los coeficiente de
reflexin aire-capa, capa-aire, y capa-substrato respectivamente y t1, t1 y t2 a los coeficientes de transmisin
respectivos. As, por ejemplo, para incidencia normal se tendr:

r1 =

1 n
,
1+ n

r2 =

nN
n 1
'
y r1 =
n+N
n +1

n
N (substrato)

Por otra parte, en cada superficie, se tienen las siguientes relaciones de conservacin de la energa:

1 = r12 +

n cos 1t 2
t1
cos 1i

1 = r22 +

N cos 2t 2
t2
n cos 1t

1 = r '12 +

cos 1i 2
t '1
n cos1t

De la figura se obtiene que el campo total reflejado ser la suma de las infinitas ondas que emergen despus de
sucesivas reflexiones en la capa:

i ( t + G )
i ( t + 2 G )
i t
+ t1 t '1 r2 E0 e
+ t1 t '1 r1' r22 E0 e
+K
E = r1 E0 e
donde G es el desfase entre dos rayos consecutivos producido por la diferencia de camino ptico exclusivamente:

G = 2 k n e cos1t
La suma anterior se puede reescribir como

E = r1 E 0e

i t

+ t1t ' r2 E e
1 0

i G
i G
ei t
'
'
2 i 2 G
1
+
r
r
e
+
(
r
r
)
e
+
K
1
2
1
2

que representa la suma de una progresin geomtrica de razn r'1r2 ei . Por lo tanto

t1 t '1 r2e G

E = r1 +
i

1 r1' r2 e G

it
E0 e

33

Teniendo en cuenta las relaciones de conservacin de la energa deducidas anteriormente, se tiene

(1 r12 )(1 r '12 ) = (t1 t '1 ) 2

Y que r1=-r1, se llega a la siguiente expresin para la reflectancia:

r + r e i
E = 1 2
i
1 + r1 r2 e

E ei t
0

Como puede verse, para que la reflectancia se anule, se tendr que verificar que

r1 + r2 ei = 0 r1 + r2 cos + ir2 sen = 0

O lo que es lo mismo,

r1 = r2
= ( 2m + 1)

De aqu obtenemos las condiciones para obtener reflectancia nula:

r1 = r2

1 n n N
=
1+ n n + N

n= N

2 k n e cos1t = (2m + 1)
Para el vidrio que consideramos al principio, N=1.8, lo que obligara a recubrir con una monocapa de un material
dielctrico no absorbente de ndice de refraccin n= 1.22. Desafortunadamente no es posible depositar una pelcula de
ndice tan bajo que sea durable. El F2 Mg, con un ndice de refraccin n= 1.38 representa el material de ndice ms
prximo a la vez que es resistente.

34

5.2.1 Medida de espectros de emisin: interfermetro de Fabry-Perot.

Una de las aplicaciones ms importantes de las interferencias de haces mltiple se refiere a la posibilidad de realizar
medidas muy precisas de los espectros de emisin de fuentes de luz. El interfermetro que se utiliza para ello se basa
en las propiedades derivadas de las interferencias de ondas mltiples y se denomina interfermetro de Fabry-Perot.
Est formado por dos espejos de alta reflectancia, paralelos entre si y separados una cierta distancia e.
Se puede analizar como una lmina plano-paralela rodeada de aire. En este caso, asumiendo que (r1)2=(r2)2=R, la
transmitancia se puede obtener de la expresin anterior teniendo en cuenta que T=1-R. El resultado es el siguiente:

Al igual que hicimos anteriormente con las ondas reflejadas, se puede llevar acabo el mismo tratamiento para las ondas
transmitidas por el dispositivo. El campo total a la salida es

ET = t1t 2 E0 e

it

+ t1t 2r12 E0 e

i ( t + G )

+ t1t 2 r14 E0 e

i ( t + 2 G )

+K

donde

G = 2k n e cos1t
La suma se puede llevar a cabo fcilmente

i t
i t
t1t 2 E0 e
2 iG
4 i 2 G
ET = t1t 2 E0 e
+ r1 e
+ K =
1 + r1 e
1 r 2 ei G
1

Y de aqu se puede obtener la transmitancia

T=

ET
E0

2
2

t1t 2
1 2r cos G + r14
2
1

Y teniendo en cuenta que t 1t2= 1-r21,

a

35

T=

ET
E0

2
2

1
1 + Fsen2

G
2

donde el coeficiente F se denomina coeficiente de fineza del interfermetro y viene dado por

F=

4R
(1 R) 2

Obsrvese que si se ilumina con una fuente extensa, todos los rayos que emerjan paralelos entre s, convergern en el
mismo punto, por lo que el interferograma ser muy contrastado.
1

La transmitancia frente al desfase, se

representa en la figura. Aparecen
mximos cada vez que

0.9
0.8
0.7
0.6

=2

0.5
0.4
0.3
0.2
0.1
0
0

10

/2

ne = 2m
c

= m

c
ne

Por otra parte, y esto es lo importante

en este interfermetro, si la
reflectancia es alta (y por lo tanto, el
coeficiente de fineza es tambin muy
alto),
los mximos son muy
estrechos, espectralmente hablando.

De hecho, a partir de la expresin que da la transmitancia del interfermetro, podemos obtener la anchura de un
mximo a mitad de altura. Para ello calculamos el valor de la diferencia de fase para que T=1/2 :

T=

1
1
=
2 1 + Fsen 2 1/ 2
2

Fsen 2

1
1 / 2

= 1 1/ 2
2
2
F

Por lo tanto, la anchura de cada mximo es en fase es 1 / 2

T

Si sobre el interfermetro incide dos radiaciones de longitud de onda muy

prximas, los mximos respectivos estarn ligeramente separados. Para
cada radiacin se cumplir en el mximo que

4
n e = 2m

4
ne = 2 m +

siendo una cierta cantidad que nos indica lo que se desplaza la fase al
variar la longitud de onda. Como es obvio, si las longitudes de onda estn
muy prximas puede que no se resuelvan. Un criterio cmodo consiste en
asumir que el mnimo intervalo espectral resoluble ocurre cuando la

36

separacin entre ellos coincide con la anchura media 1/2 , es decir, = 1/2/2. En este caso, a partir de las
expresiones de arriba se tiene que

4
2
n e = 2m +

F

4
4
2
ne
n e(1 + / ) = 2m +
(1 / )

Como el orden mximo ocurre para incidencia normal,

2ne = m
se sigue inmediatamente que

2
=
=
m F 2 ne F

min

Obsrvese que el mnimo intervalo espectral resoluble disminuye mucho al aumentar F, esto es cuanto ms se
aproxime la reflectancia de los espejos de interfermetro a 1, ya que as, los mximos son ms estrechos. En la figura
se muestran curvas de transmitancia para diferentes valores de la reflectancia de las caras del Fabry-Perot.
1
0.9
0.8
0.7
R=0.2

0.6
0.5
0.4

R=0.5
0.3
0.2
R=0.98

0.1
0
0

0.5

1.5

2.5

3.5

Todo ello, permite entender las posibilidades de este interfermetro para medir el espectro de emisin de una fuente
de luz. En efecto, supongamos que sobre el interfermetro dirigimos la radiacin policromtica de una cierta fuente tal
como se indica en la figura. La luz emergente de concentra sobre el detector. Para una cierta separacin entre las
superficies habr una cierta longitud de onda que presentar un mximo de transmitancia. Si variamos lentamente la
separacin d, cambiaremos la condicin de resonancia, esto es, sern otras las frecuencias o longitudes de onda que
presentarn alta transmitancia. De esta forma, obtendremos el espectro del la fuente de radiacin con mucha
resolucin dado que los mximos son muy estrechos.

37

Ejemplo. Calcular el intervalo espectral mnimo que puede resolver un interfermetro de Fabry-Perot que
tienen una reflectancia de R=0.9, con las superficies reflectoras separadas una distancia d=1 cm, habiendo aire
entre ellas (n=1) e iluminado con una longitud de onda media de 0 = 500 nm.
El coeficiente de fineza vale
Por lo tanto,

min

F=

4R
4x0.9
=
= 360
(1 R ) 2 (1 - 0.9) 2

2
2
=
=
= 0.04 nm
m F nd F

Por ejemplo, con este interfermetro se resuelve sin mucha dificultad el doblete amarillo de una fuente de Sodio:

38

5.2.3 Filtros interferenciales

La aplicacin de espejos de alta reflectancia encuentra aplicaciones en el diseo de cavidades resonantes para lseres
o filtros interferenciales especiales. Por ejemplo, si se est interesado en construir un filtro que transmita un estrecho
intervalo espectral del haz incidente, basta con situar una pelcula muy delgada, del orden de la longitud de onda que
se quiere transmitir, entre dos superficies de alta reflectancia, preferiblemente hechas a base de multicapas
dielctricas. En la figura se indica la configuracin.
Por ejemplo, supongamos que queremos
disear un filtro interferencial para que deje
pasar la longitud de onda de emisin del
hidrgeno ( 0= 656.3), en incidencia normal.
La condicin de interferencia constructiva
para cualquier longitud de onda ser

2 n e = m
Si elegimos el espesor de manera que
2ne= 0, la longitud que queremos que sea
transmitida, habr un mximo muy
pronunciado para esta longitud de onda
(m=1). Otras longitudes para las que ocurre
un mximo sern entonces

0 = m

m = 2,3,...

Es decir, no se transmite ninguna de las longitudes de onda mayores a 0 , aunque s se transmiten longitudes de
onda menores, = 0/m. Pero estas longitudes estn muy alejadas de 0 y pueden ser bloqueadas fcilmente haciendo
que el substrato contenga algn colorante que las absorba. Por otra parte, las caractersticas del filtro sern las mismas
que las del interfermetro de Fabry-Perot. En particular, la anchura de banda del filtro, esto es, el intervalo espectral
que deja pasar vendr dada por la frmula obtenida ms arriba. Para un coeficiente de fineza F=4000,
min =

20
m F

2 x 656 .3
4000

= 7 nm

Como ejemplo ilustrativo se observa en la figura de abajo el uso de un filtro interferencial incorporado al objetivo de un
telescopio solar que permite analizar la emisin de una de las lneas espectrales emitidas por el sol.

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4.5.3 Medida del ndice del cristalino. Interfermetro de Mach-Zhender.

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