UNIVERSIDAD NACIONAL DE COLOMBIA

CONFERENCIA MICROSCOPIA ELECTRNICA

Cristhian Camilo Pinzn Crdenas 262073
Gracias al diseo que cre el fsico Ernest August Ruska, en el ao de 1986 del
primer microscopio electrnico la investigacin en varios campos de la fsica
(principalmente de la cuntica), gracias a las grandes resoluciones que maneja
llegando a medidas atmicas esto se debe a su transmisin de ondas de muy
corta longitud (hasta 1 Angstrom) a comparacin de los ms potentes
microscopios comunes (hasta 0,5 micrmetros).
Los electrones del microscopio electrnico se generan por efecto Termo-inico
en un filamento de generalmente tungsteno (ctodo),y se monocromatizan
acelerndolos a travs de un potencial en un sistema sometido al vacio.
Estos tipos de instrumentos manejan diferentes tipos de fenmenos fsicos que
caracterizan sus adicionales usos, dentro de estos se encuentra el microscopios
electrnico de transmisin (TEM), el cual usa un haz de electrones que
atraviesa una muestra del material a estudiar la cual debe tener un tamao <1
m, en este tipo de microscopios los electrones difractados al pasar a travs de
la muestra generan un difracto grama el cual es muy relevante para
caracterizacin de materiales.

Tambin hay una versin muy usada conocida como STEM (scanning
transmission electrnic microscopy) a causa del poco dao que causa sobre la
muestra por barrerla y no estarse estacionaria sobre ella.
En el SEM (scanning electronic microscopy) los electrones secundarios de baja
energa son emitidos a la superficie y pueden ser usados para generar la
imagen, en este mtodo se debe hacer un recubrimiento metlico para facilitar
la emisin de los electrones y se pueda concentrar en una zona diminuta, la
muestra maneja tamaos <50 m, este tipo es muy usado para el estudio de la
morfologa de estructuras cristalinas a causa de que su imagen crea una
proyeccin en tercera dimensin.

Microanlisis: Un microscopio electrnico analtico es generalmente un

instrumento de transmisin equipado con unas bobinas para escanear la
muestra y que permite los modos SEM y STEM. Adems necesita equipamiento
auxiliar por ejemplo para estudiar la emisin de rayos-X (la ms comn)
aunque tambin se puede estudiar la luminiscencia o la distribucin espectral
de los electrones transmitidos EELS del ingls Electron Energy Loss
Spectroscopy.
La medida de los espectro de emisin de RX es la ms potente para dar
anlisis qumicos elementales, de alta resolucin, de una muestra slida. Es
una tcnica muy similar a la fluorescencia de R-X en la que el estmulo son R-X
de gran energa que excitan la muestra y se analiza la intensidad de los R-X
caractersticos emitidos por la muestra pero que da la composicin elemental
de toda la muestra (global). Con el microanlisis se puede obtener la
composicin elemental de los diferentes microcristalitos por lo que es muy fcil
detectar las mezclas de fases.
El bombardeo del espcimen con electrones produce la emisin de R-X
caractersticos cuya
energa depende del elemento presente (como en el tubo de rayos-X que se
estudi en el tema
anterior). Estos R-X se pueden detectar y ordenar en funcin de sus energas
mediante el uso de
cristales monocromadores o de un detector de estado slido de dispersin en
energa.

Referencias:

http://webdeptos.uma.es/qicm/Doc_docencia/Tema14_me.pdf
http://en.wikipedia.org/wiki/Scanning_electron_microscope
http://en.wikipedia.org/wiki/Transmission_electron_microscopy