Automação e garantia da confiabilidade metrológica em ensaio de curto-circuito em baixa tensão

UNIVERSIDADE FEDERAL DE SANTA CATARINA
Centro Tecnolgico
Ps-graduao em Metrologia Cientfica e Industrial
RONNY COSTA
Automao e Garantia da Confiabilidade Metrolgica

em Ensaio de Curto-Circuito em Baixa Tenso
Dissertao submetida Universidade Federal de Santa Catarina para

obteno do Grau de Mestre em Metrologia
Orientador: Prof. Carlos Alberto Flesch, Dr. Eng.
Florianpolis, Outubro de 2005.
Automao e Garantia da Confiabilidade Metrolgica

em Ensaio de Curto-Circuito em Baixa Tenso
RONNY COSTA
Esta dissertao foi julgada adequada para obteno do ttulo de

Mestre em Metrologia
e aprovada na sua forma final pelo
Programa de Ps-graduao em Metrologia Cientfica e Industrial.
__________________________________________
Prof. Carlos Alberto Flesch, Dr. Eng. - Orientador
________________________________________________________
Prof. Marco Antnio Martins Cavaco, Ph. D. - Coordenador do Curso
BANCA EXAMINADORA
__________________________________
Prof. Carlos Alberto Martin, Dr. -Ing.
___________________________________
Prof. Armando Albertazzi G. Jr, Dr. Eng.
___________________________________
Prof. Hari Bruno Mohr, Dr. Eng.
Sbio aquele que conhece os

limites da prpria ignorncia.
Scrates
Agradecimentos
Em primeiro lugar a Deus.

Vrias so as pessoas e entidades a quem agradeo pelo muito que me
ajudaram no desenvolvimento de minha dissertao. Ao professor e amigo Carlos
Alberto Flesch, por todo seu empenho, pela inestimvel orientao, apoio e
confiana demonstrados durante a realizao do trabalho.
Aos professores que por vrias vezes no pouparam esforos em atender s
demandas do grupo de alunos procedente da WEG Acionamentos, adequando seus
horrios e at ementas das matrias s necessidades desse grupo. Em especial, ao
Professor Carlos Alberto Martin que incentivou esse grupo para que iniciasse as
disciplinas para obteno do curso de mestrado.
Aos meus colegas alunos da PsMEC e da PsMCI, que direta ou
indiretamente participaram na elaborao da minha dissertao de mestrado.
A WEG Acionamentos pela concesso da oportunidade de enriquecimento
profissional e pessoal.
Aos meus colegas de trabalho da WEG, em especial aos das Sees de
Engenharia do Produto e do Laboratrio de P&D da WEG Acionamentos e aos
colegas da Seo de Metrologia da WEG.
Estendo meus agradecimentos a minha me, meus irmos e demais
familiares, que mesmo distantes, sempre me apoiaram e acreditaram em mim. Em
especial agradeo as pessoas que estiveram ao meu lado, que se preocuparam e
torceram por mim, e a Hrica, minha esposa, pelo amor e pela pacincia.
Sumrio
ndice de figuras .............................................................................................. 8
ndice de tabelas............................................................................................ 10
Lista de abreviaturas .................................................................................... 12
Resumo .......................................................................................................... 14
Abstract .......................................................................................................... 15
1
Introduo .............................................................................................. 16
1.1
Os tipos de curtos-circuitos e seus efeitos ..................................................16
1.1.1
Efeitos mecnicos................................................................................18
1.1.2
Efeitos eletromagnticos......................................................................19
1.1.3
Efeitos trmicos ...................................................................................19
1.2
Necessidade e importncia do ensaio de curto-circuito ..............................22
1.3
Proposta de trabalho...................................................................................24
1.4
Estrutura do trabalho...................................................................................25
Caracterizao do ensaio de curto-circuito em baixas tenses....... 28

2.1
Normas de ensaio de curto-circuito para disjuntores ..................................28
2.2
Circuitos de ensaio conforme as normas de disjuntores.............................30
2.3
Ensaio de curto-circuito...............................................................................32
2.3.1
Configurao do ensaio - Setup...........................................................33
2.3.2
Execuo do ensaio O open e CO close-open ..............................34
2.4
Tolerncias das grandezas eltricas na execuo do ensaio .....................35
2.5
Rastreabilidade em ensaio de curto-circuito ...............................................36
Anlise das formas usuais de medio de tenso, corrente e fator
de potncia e de controle do sincronismo e disparo do ensaio de curtocircuito............................................................................................................ 42

3.1
Medio de tenso......................................................................................43
3.1.1
Divisor de tenso .................................................................................46
3.1.2
Divisor de tenso resistivo e resistivo compensado.............................47
3.2
Medio de corrente ...................................................................................52
3.2.1
Transformador de medio de corrente...............................................52
3.2.1.1 Anlise terica do transformador de corrente...................................56

3.2.1.2 Ensaios experimentais IEE-USP ......................................................63
3.2.2
Derivadores resistivos - shunts ............................................................64
3.2.3
Bobina de Rogowski ............................................................................72
3.2.4
Transdutores de corrente por efeito Hall..............................................77
3.2.4.1 Sensor efeito Hall sem realimentao ...........................................79

3.2.4.2 Sensor efeito Hall com realimentao ...........................................80
3.2.5
3.3
Comparativo entre os sistemas de medio de corrente .....................83
Medio do fator de potncia ......................................................................86
3.3.1
Fator de potncia conforme a norma NBR 5361/98 [9]........................87
3.3.2
Fator de potncia conforme as normas IEC 60947-1/01 [6] e IEC
60898-1/03 [11] ..................................................................................................90

3.3.3
3.4
Fator de potncia conforme a norma UL 48902 [14]..........................90
Sistema sincronismo-disparo (seqenciador) .............................................92
Desenvolvimento de um sistema de ensaio de curto-circuito.......... 96

4.1
Sistema de ensaio de curto-circuito WEG................................................96
4.2
Sistema de medio de corrente e tenso no ensaio de curto-circuito .....100
4.2.1
Transdutores de corrente e tenso ....................................................101
4.2.1.1 Transdutor de corrente...................................................................102

4.2.1.2 Transdutor de tenso .....................................................................103
4.2.2
Sistema de aquisio de dados .........................................................104
4.2.3
Software.............................................................................................107
4.2.3.1 Software para obteno da configurao do ensaio (setup) ..........109

4.2.3.2 Software para obteno dos valores medidos no ensaio de curtocircuito para avaliao do desempenho do disjuntor ....................................110
4.3
Sistema de controle do ensaio de curto-circuito e o seqenciador ...........111
4.3.1
Sistema de aquisio de dados .........................................................116
4.3.2
Medio da referncia da tenso da rede eltrica .............................116
4.3.3
Software.............................................................................................117
Avaliao do comportamento metrolgico do sistema de ensaio de
curto-circuito desenvolvido ....................................................................... 120

5.1
Incerteza de medio do sistema..............................................................120
5.2
Avaliao metrolgica dos sistemas de medio de corrente e tenso....122
5.2.1
Avaliao da incerteza de medio a priori da placa DAQ ................126
5.2.2
Avaliao da incerteza de medio a priori da medio de tenso ...127
5.2.3
5.3
Avaliao da incerteza de medio a priori da medio de corrente .129
Avaliao metrolgica do sistema sincronismo-disparo ............................132
5.3.1
Avaliao da incerteza de medio na deteco do zero. .................135
5.3.2
Avaliao da incerteza de medio na contagem - disparo a 90......139
5.3.3
Aplicao da incerteza da medio na avaliao do resultado do ensaio
de curto-circuito................................................................................................143
Concluses e sugestes para trabalhos futuros ............................. 144

6.1
Concluses ...............................................................................................144
6.1.1
Estado-da-arte em ensaios de curto-circuito......................................144
6.1.2
Seleo de instrumentos para medio de tenso e corrente ...........145
6.1.3
Sistema sincronismo-disparo .............................................................146
6.1.4
Automao do ensaio ........................................................................147
6.1.5
Comportamento metrolgico do sistema proposto.............................148
6.1.6
Alcance dos objetivos propostos........................................................148
6.2
Sugestes para trabalhos futuros .............................................................149
Referncias .................................................................................................. 151
ndice de figuras
Figura 1.1 Tipos de curto-circuito ...........................................................................17
Figura 1.2 Fora entre dois condutores..................................................................18
Figura 1.3 Fora entre dois condutores..................................................................19
Figura 1.4 Comportamento da corrente de curto-circuito [5] ..................................20
Figura 1.5 Ciclo de melhoria contnua ....................................................................23
Figura 2.1 Circuito para ensaio de curto-circuito em disjuntores tetra-polar...........31
Figura 2.2 Ensaio de curto-circuito - configurao .................................................33
Figura 2.3 Ensaio de curto-circuito O - open.....................................................34
Figura 2.4 Ensaio de curto-circuito CO close open .....................................35
Figura 2.5 Hierarquia de rastreabilidade [19] .........................................................38
Figura 3.1 Tenso e corrente em um disjuntor durante um curto-circuito. .............44
Figura 3.2 Visualizao do disjuntor MBW - componentes internos.......................44
Figura 3.3 Divisor de tenso incluindo as impedncias do cabo de ligao [26]....46
Figura 3.4 Divisor resistivo [26] ..............................................................................47
Figura 3.5 Divisor de tenso resistivo compensado [26] ........................................49
Figura 3.6 Comportamento da resposta do divisor resistivo compensado .............51
Figura 3.7 Transformador de corrente....................................................................53
Figura 3.8 Modelo do transformador de corrente [34] ............................................56
Figura 3.9 Ensaio real de curto-circuito ..................................................................58
Figura 3.10 Circuito equivalente (situao curto-circuito) para ensaio de curtocircuito................................................................................................................59
Figura 3.11 Influncia do modo de passagem dos cabos ......................................63
Figura 3.12 Tipos de derivadores resistivos (shunt) [45] ........................................65
Figura 3.13 Fluxo no derivador resistivo [50]..........................................................67
Figura 3.14 Derivador resistivo coaxial [50]............................................................69
Figura 3.15 Corte transversal do derivador resistivo coaxial ..................................70
Figura 3.16 Forma de onda tpica de resposta ao degrau do derivador coaxial.....71
Figura 3.17 Princpio de funcionamento da bobina de Rogowski ...........................72
Figura 3.18 Bobina de Rogowski rgida e flexvel...................................................75
Figura 3.19 Exemplo de linearidade de uma bobina de Rogowski.........................76
Figura 3.20 Efeito Hall [26] .....................................................................................77
Figura 3.21 Dispositivo de corrente por efeito Hall [26] ..........................................78
Figura 3.22 Sada do transdutor de efeito Hall .......................................................80
Figura 3.23 Construo de um sensor de corrente por efeito Hall com

realimentao [58]..............................................................................................81
Figura 3.24 Diagrama de blocos mostrando a realimentao [58] .........................82
Figura 3.25 Clculo do fator de potncia pela componente assimtrica ................89
Figura 3.26 Grficos para o clculo do fator de potncia pela extrapolao da
tenso ................................................................................................................91
Figura 3.27 Seqenciadores analgico e digital .....................................................95
Figura 4.1 Esquema eltrico de sistema de curto-circuito ......................................99
Figura 4.2 Diagrama esquemtico do sistema de medio..................................100
Figura 4.3 Caracterizao da operao dinmica ................................................102
Figura 4.4 Divisor resistivo compensado..............................................................104
Figura 4.5 PXI e seu diagrama esquemtico [72].................................................105
Figura 4.6 Grficos do ensaio de curto-circuito configurao em 0 .................110
Figura 4.7 Grficos do ensaio de curto-circuito ensaio Open no disjuntor em
teste .................................................................................................................111
Figura 4.8 Diagrama esquemtico de um seqenciador ......................................112
Figura 4.9 Componentes de placa de aquisio de dados...................................114
Figura 4.10 Diagrama de blocos do sistema sincronismo-disparo .......................115
Figura 4.11 Circuito limitador................................................................................117
Figura 4.12 Tela de interface do usurio com o sistema de disparo ....................118
Figura 4.13 Disparo em 90..................................................................................119
Figura 5.1 Diagrama em blocos geral para as duas cadeias de medio e
mapeamento das possveis incertezas associadas [34]...................................122
Figura 5.2 Diagrama de blocos da avaliao da incerteza de medio de corrente e
tenso ..............................................................................................................124
Figura 5.3 Diagrama em blocos da avaliao da incerteza de medio do
sincronismo-disparo .........................................................................................133
Figura 5.4 Diagrama de blocos da calibrao do sistema sincronismo-disparo ...134
Figura 5.5 Calibrao da base de tempo do osciloscpio (VVC = 5,00 s)..........136
Figura 5.6 Calibrao para avaliao da incerteza de medio da deteco do zero
.........................................................................................................................138
Figura 5.7 Calibrao para avaliao da incerteza de medio da deteco em 90
.........................................................................................................................141
10
ndice de tabelas
Tabela 1.1 Ocorrncia dos curtos-circuitos [2] .......................................................17
Tabela 2.1 Valores do fator de potncia e da constante de tempo correspondente
ao ensaio de corrente e a proporo n entre o valor de pico e rms do valor da
corrente de ensaio..............................................................................................31
Tabela 2.2 Tolerncias das grandezas eltricas no ensaio de curto-circuito .........36
Tabela 2.3 Laboratrios participantes da intercomparao....................................39
Tabela 3.1 Caractersticas das tecnologias dos transdutores de tenso LEM [25] 45
Tabela 3.2 Aplicao dos TC quanto exatido ....................................................54
Tabela 3.3 Caracterstica de um sensor de efeito Hall tpico .................................80
Tabela 3.4 Comparao efeito Hall com e sem realimentao ...........................83
Tabela 3.5 Comparao entre os transdutores de correntes mais comumente
utilizados no ensaio de curto-circuito .................................................................84
Tabela 3.6 Seqenciadores utilizados nos laboratrios de ensaio de curto-circuito
...........................................................................................................................94
Tabela 4.1 Caractersticas tcnicas desejveis x NI PCI-6133 [72] .....................106
Tabela 5.1 Especificao das caractersticas metrolgicas da placa NI PXI 6133
[72] ...................................................................................................................127
Tabela 5.2 Erros mximos (E mx) do transdutor de tenso (percentual e absoluta)
.........................................................................................................................128
Tabela 5.3 Balano de incertezas a priori do sistema de medio de tenso ......128
Tabela 5.4 Resultados da IM a priori para as faixas de medio de tenso ........128
Tabela 5.5 Erros mximos (E mx) do transdutor de corrente (percentual e absoluta)
.........................................................................................................................130
Tabela 5.6 Balano de incertezas a priori do sistema de medio de corrente....130
Tabela 5.7 Resultados da IM a priori para as faixas de medio de corrente......130
Tabela 5.8 Resultado da medio........................................................................137
Tabela 5.9 Balano de incertezas calibrao osciloscpio 10 s/div (0,22/div)..137
Tabela 5.10 Resultado da medio ......................................................................139
Tabela 5.11 Balano de incertezas da deteco do zero ....................................139
Tabela 5.13 Balano de incertezas calibrao osciloscpio 1 ms/div (21,6/div) .140
Tabela 5.15 Balano de incertezas calibrao do disparo a 90 ..........................142
11
Tabela 5.16 Resultados da determinao da IM da contagem ............................142

Tabela 5.17 Resultados da determinao da IM do sistema sincronismo-disparo
.........................................................................................................................143
12
Lista de abreviaturas
A/D Analgico para digital
ABNT Associao Brasileira de Normas Tcnicas
BIPM Bureal International ds Poids et Mesures
BNC Bayone-Neill-Concelman
BSTS British Short-Circuit Testing Station
CA Corrente alternada
CC Corrente contnua
CEPEL Centro de Pesquisas de Energia Eltrica
CESI Centro Elettrotecnico Sperimentale Italiano Giacinto Motto
CMRR common mode rejection ratio (razo de rejeio em modo comum)
CO Close-open (estabelecimento seguido de interrupo)
COBEI Comit Brasileiro de Eletricidade
cos Fator de potncia
D/A Digital para analgico
DAQ Data Aquisition (aquisio de dados)
DP Desvio padro
E/S Entrada e sada
EdF Electricit de France, Direction des Etudes et Recherches
EUA Estados Unidos da Amrica
FEM Fora eletromotriz
FGH Forschungsgemeinschaft fr Hoch-spannungs und Hochstromtechnik e.V.
FP Fator de potncia
I Corrente
IEC - International Electrotechnical Commission
IEEE - Institute of Electrical and Electronics Engineers
IM Incerteza de medio
INMETRO Instituto Nacional de Metrologia, Normalizao e Qualidade Industrial
IPH Institut Prffeld fr Elektrische Hochleitungstechnik GMBH
ISO International Organization for Standardization
KEMA KEMA Nederland BV
LABEIN Laboratrios de Investigacin y Ensayos Elctricos
LEME Laboratorios de Ensayos y Mediciones Elctricas
13
MM Mdia das medidas

MUX Multiplexador
O Open (estabelecimento)
OIML International Organization of Legal Metrology
PC Microcomputador
PCI Peripheral component interconnect
PXI PCI eXtensions for Instrumentation
RBC Rede Brasileira de Calibrao
rms Root mean square
RTSI Real-Time System Integration
SI Sistema Internacional de Unidades
SM Sistema de medio
SMC Sistema de medio a calibrar
SMP Sistema de medio padro
STL Short-Circuit Test Liaison
TC Transformador de corrente
Td Tendncia
TP Transformador de potencial
UL Underwriters Laboratories Inc.
USP IEE Universidade de So Paulo Instituto de Eletrotcnica e Energia
V Tenso
VIM Vocabulrio internacional de termos fundamentais e gerais de metrologia
VVC Valor verdadeiro convencional
14
Resumo
O sistema de fornecimento de energia eltrica inclui as etapas de gerao,
transmisso, distribuio e consumo. Em cada uma dessas etapas so previstos
equipamentos de proteo para garantir a integridade do sistema em caso de falha.
Uma falha tpica o curto-circuito. Em baixa tenso, os equipamentos que executam
a funo de proteo, objetivando minimizar os efeitos da falha de curto-circuito, so
os disjuntores e os fusveis.
Portanto, de grande importncia o desempenho desses equipamentos em
uma situao de curto-circuito. A garantia da confiabilidade operacional de tais
sistemas baseada em ensaios.
Nos ensaios de curto-circuito, a exemplo do que acontece com a maioria dos
ensaios eltricos, observa-se, historicamente, pequena preocupao com as
questes metrolgicas. Mesmo quando existe a preocupao com a confiabilidade
metrolgica, raro que os procedimentos aplicados para avaliao de incertezas e
anlise de confiabilidade sejam feitos de acordo com estado-da-arte em metrologia.
A proposta do trabalho fazer uma anlise detalhada do ensaio de curtocircuito em baixas tenses. So analisados, do ponto de vista metrolgico, os
equipamentos usuais de medio e controle. feita uma proposta de estruturao
de um sistema automatizado de
ensaio. feito o desenvolvimento parcial do
sistema e uma avaliao das incertezas de medio das grandezas mais crticas,
para avaliao do comportamento metrolgico dos sistemas de medio e de
controle do ensaio.
15
Abstract
The Electrical Energy System goes through the stages of generation,
transmission, distribution and consumption. In each one of these stages, protection
equipment are foreseen to guarantee the integrity of the system in case of fault. A
typical fault is the short circuit. In low voltage, the equipments that execute the
protection function, minimizing the failure effects of short circuit, are the circuit
breaker and fuse.
Therefore, it is of great importance the performance of these equipment before
a short circuit event. The guarantee of the operational reliability of such systems is
based on verification tests.
In the short circuit tests, historically, similar to examples that happens with the
majority of the electrical tests, small concern with the metrological questions is
observed. Even when the concern with the metrological reliability exists, seldom the
applied procedures for evaluation of uncertainties and analysis of reliability are made
in accordance with state of art in metrology.
The proposal of this work is to make a detailed analysis of the short circuit test
at low voltage. From metrological point of view the usual equipment of measurement
and control is analyzed. It is made a proposal for a structured automatic test system
arrangement. The partial development of the system and an evaluation of the
measurement uncertainties of the most critical readings are made, for the evaluation
of the metrological behavior of the systems of measurement and control of the short
circuit tests.
16
1 Introduo
1.1 Os tipos de curtos-circuitos e seus efeitos
Um curto-circuito pode ser definido como uma ligao intencional ou acidental
entre dois ou mais pontos de um circuito atravs de uma impedncia desprezvel.
[1].
Assim, o curto-circuito uma ligao de baixa impedncia entre dois pontos
com potenciais eltricos diferentes [2] [3]. Essa ligao pode ser metlica, quando se
diz que h um curto-circuito franco, ou pode ser por arco eltrico, que a situao
mais comum. Uma outra situao pode ser exemplificada por curto-circuito causado
por baixa impedncia, porm no desprezvel. Galhos de rvores ou outros objetos
que caem sobre as linhas de distribuio de energia eltrica ou presena de animais
em painis ou cubculos eltricos so alguns dos exemplos [1] [2].
Conforme exposto na figura 1.1, existem, basicamente, quatro tipos de curtocircuito possveis de ocorrer em uma rede eltrica trifsica:
trifsico;
dupla fase ou bifsico;
dupla fase terra;
uma fase terra, ou monofsico [2].
Conforme exposto na referncia Curto-Circuito [2], pela prpria natureza fsica

dos tipos de curtos-circuitos, o trifsico o mais raro. Em contra-partida, o curtocircuito monofsico terra o mais corriqueiro. As porcentagens mdias de cada
ocorrncia encontram-se na tabela 1.1 [2].
17
Figura 1.1 Tipos de curto-circuito
Tabela 1.1 Ocorrncia dos curtos-circuitos [2]
Tipos de Curtos-Circuitos
Ocorrncias em %
3 (trifsico)
06
2 (bifsico)
15
2 - terra (bifsico terra)
16
1 - terra (monofsico terra)
63
A elevao da corrente pode atingir valores, em geral, superiores a 10 vezes

a corrente nominal do circuito. Com essas correntes elevadas surgem trs efeitos, os
quais so denominados: efeitos mecnicos, efeitos eletromagnticos e efeitos
trmicos.
18
1.1.1 Efeitos mecnicos

Esses efeitos aparecem quando surgem esforos
mecnicos entre os
condutores ou entre componentes dos equipamentos;

Dois condutores paralelos percorridos por correntes ficam submetidos a
foras que so diretamente proporcionais ao produto das correntes e inversamente
proporcionais distncia entre eles. Se for a mesma corrente a circular pelos
condutores na ida e no retorno, a fora ser diretamente proporcional ao quadrado
da corrente (Figura 1.2) [3] [4].
F =k
i2
d
(1.1)
Onde:
F fora entre os condutores
k constante
i corrente circulando nos cabos
d distncia
+i
d
Legenda:
d distncia entre os condutores
F fora
i corrente
corrente saindo
+ corrente entrando
Figura 1.2 Fora entre dois condutores
Exemplo: Para um par de condutores percorridos por uma corrente de 80 kA,

com afastamento de 30 cm entre si, pode-se obter uma fora de 2150 N em um
comprimento de 50 cm. [3]
Existe um outro princpio que rege os efeitos mecnicos, presente nos
equipamentos de controle e proteo. No ponto de contato entre dois condutores
em que haja mudana de direo do percurso da corrente, surge uma fora de
repulso que tende a afastar os dois condutores. Essa fora proporcional
19
intensidade da corrente e inversamente proporcional distncia entre eles, conforme

mostrados na figura 1.3.
Legenda:
F fora
i - corrente
Figura 1.3 Fora entre dois condutores
1.1.2 Efeitos eletromagnticos

Esses efeitos aparecem na forma de perturbaes em equipamentos,
especialmente eletrnicos, que estiverem prximos da instalao pela qual circula a
corrente de curto-circuito.
1.1.3 Efeitos trmicos
Esses efeitos aparecem na forma de aquecimento dos elementos percorridos
pela corrente [3] [4]. As correntes de curto-circuito provocam um intenso
aquecimento dos condutores.
Quando essas correntes so de curta durao (1 a 5) s, admite-se que o
aquecimento adiabtico, isto , que todo calor utilizado no aumento de
temperatura dos condutores [4].
Exemplo: O aquecimento de um condutor de cobre de seo 100 mm2 (com
capacidade de conduo para uma corrente em torno de 200 A) quando percorrido
por uma corrente de 10 kA com durao de 1 s, sofrer aquecimento em torno de 57
C e para 3 s em torno de 254 C. J o condutor de alumnio percorrido por esta
corrente por 3 s, teria um aquecimento em torno de 890 C [4].
20
Esses efeitos mecnicos e trmicos podem gerar fadiga, como reduo da

resistncia mecnica e destruio dos materiais isolantes dos condutores. Podem
danificar os equipamentos devido aos elevados esforos mecnicos e, como
conseqncia, podem gerar paradas em todo o sistema eltrico.
Portanto, ao se projetar um sistema eltrico deseja-se que o mesmo seja
confivel e robusto o suficiente para que esteja protegido em caso de ocorrncia de
qualquer falha.
No instante do curto-circuito distante do gerador(a), a corrente sobe
rapidamente
atingindo
valor
de
crista
vai
em
seguida
diminuindo
exponencialmente, passando pelos valores transitrios para atingir depois de alguns

ciclos, o valor permanente de curto-circuito (Figura 1.4) [4].
Figura 1.4 Comportamento da corrente de curto-circuito [5]
As amplitudes de correntes dependero da fora eletromotriz dos geradores e

das impedncias no caminho entre o(s) gerador (es) e o ponto de curto, tais como
cabos, barramentos, impedncia interna dos transformadores, dos equipamentos de
manobras, dentre outros. No instante do curto, motores podem funcionar como
(a)
- Na ocorrncia de um curto-circuito perto do gerador temos a influncia das impedncias

subtransitrias e transitrias do gerador e o comportamento da corrente eltrica difere da apresentada
na figura 1.2.
21
geradores, contribuindo para aumentar a corrente; os transformadores, reatores e

condutores, para reduzi-la [4].
As conseqncias do curto-circuito so variveis dependendo do tipo, da
durao da falha, do ponto da instalao onde a falha ocorre e da potncia de curtocircuito no ponto da falha [4].
As possveis correntes geradas devido falha por curto-circuito devem ser
conhecidas em todo sistema eltrico, visando dimensionar protees que minimizem
os efeitos dessa falha. Os dispositivos utilizados para reduzir os efeitos dos curtos
circuitos sobre os equipamentos e as instalaes de baixa tenso so:
Fusvel: dispositivos, inserido em srie no circuito, que, por fuso de um ou
mais elementos so designados para interromper a corrente em um circuito eltrico.
Essa interrupo ocorre com atraso, aps um tempo determinado, se a corrente
ultrapassar um valor especificado [6].
Disjuntor: dispositivo de manobra (mecnico) e de proteo capaz de
estabelecer, conduzir, e interromper correntes em condies normais do circuito,
assim como estabelecer, conduzir por tempo especificado e interromper correntes
em condies anormais especificadas do circuito, tais como as de curto-circuito [1].
A
confiabilidade
do
sistema
eltrico
depende,
principalmente,
do
comportamento eficiente desses elementos que compem a instalao diante das

mais diversas exigncias normais e anormais que devero esses equipamentos
enfrentar ao longo de sua vida til. Portanto, as empresas fabricantes antes de
comercializarem tais equipamentos de proteo, devem prover os diversos testes
normatizados para assegurar que o dispositivo tenha seu desempenho garantido
ante uma situao adversa que necessite sua atuao, como por exemplo curtocircuito.
22
A WEG Indstrias S.A. Diviso Acionamentos fabricante de dispositivos

de proteo de sistemas eltricos, entre eles, disjuntores e fusveis. Com a
assessoria da Universidad Nacional de La Plata (Argentina), a WEG est projetando
e construindo um laboratrio de medies em curtos-circuitos. Numa primeira etapa,
prev-se a gerao e o controle de situaes de curto-circuito, com possibilidade de
ensaio de correntes at 10 kA em tenses de at 690 V.
1.2 Necessidade e importncia do ensaio de curto-circuito

As instalaes eltricas de baixa tenso quase sempre necessitam de
proteo contra curto-circuito. Para este tipo de proteo so usados fusveis e
disjuntores. Estes dispositivos de proteo devem ser testados conforme normas
internacionalmente reconhecidas para verificao da sua eficincia perante a uma
situao de curto-circuito. Para os disjuntores, por exemplo, devem ser avaliadas as
capacidades nominais de interrupo e estabelecimento em curto-circuito. Esse
ensaio verifica o maior valor eficaz (presumido) da corrente simtrica que o disjuntor
capaz de manobrar sem ser danificado. Essa manobra pode ocorrer de duas
formas: uma interrupo direta do circuito ou atravs de um estabelecimento
seguindo de uma imediata interrupo. Aps os ensaios de interrupo, os
disjuntores so submetidos a outros ensaios, como por exemplo: rigidez dieltrica e
disparo trmico, para assegurar que suas funes no foram prejudicadas. Contudo
outros ensaios, tais como: ensaios em cubculos de baixa tenso, painis eltricos,
barramentos, dentre outros, devem ser executados para garantir a proteo em uma
situao extrema de curto-circuito [3] [7].
Vrios ensaios, dentre eles elevao de temperatura, avaliao do disparo
trmico e magntico em disjuntores e avaliao da rigidez dieltrica so necessrios
23
para verificao do desempenho dos equipamentos de proteo fabricados.

Contudo,
os ensaios de curtos-circuitos para avaliao da capacidade de
interrupo dos elementos de proteo so obrigatrios, visando assegurar o

perfeito funcionamento dos dispositivos de proteo perante a pior situao nas
instalaes eltricas: o curto-circuito.
O ensaio de curto-circuito nas instalaes dos fabricantes, alm de assegurar
o perfeito funcionamentos dos dispositivos de proteo, permite que sejam
realizados ensaios relativos pesquisa e desenvolvimento. Os prottipos com novos
materiais, novos projetos e modificaes permitiro uma melhoria contnua na
qualidade dos produtos desenvolvidos, seguindo a seqncia interativa: projeto,
prottipo, ensaio de validao, melhoria. (Figura 1.5)
Soluo p/
problemas
Melhoria
Projeto
Pesquisa
ENSAIO
Prottipo
Problema
Identificado
Figura 1.5 Ciclo de melhoria contnua
A situao atual da metrologia nos ensaios em alta corrente motiva a

pesquisa e a sistematizao de aes concernentes anlise metrolgica. Pelos
procedimentos e normas atualmente empregados em tais ensaios percebe-se que a
confiabilidade metrolgica dos mesmos est muito aqum do que seria desejvel em
se considerado o estado-da-arte em metrologia. Portanto, existe a necessidade de
um estudo e avaliao das atividades relativas ao laboratrio de ensaios em altas
correntes, em busca da confiabilidade necessria.
24
A aplicao dos conhecimentos metrolgicos pode implicar:
conhecimento das incertezas inerentes aos ensaios;
confiana nos ensaios realizados;
conhecimento do comportamento dos produtos ensaiados;
confiana na avaliao da conformidade.
1.3 Proposta de trabalho

O objetivo principal do trabalho desenvolver uma avaliao, do ponto de
vista metrolgico, do sistema de ensaio de curto-circuito em baixas tenses.
Dentro dos objetivos secundrios, inseridos no objetivo principal, listam-se:
dominar a tecnologia envolvida no ensaio de curto-circuito;
ligar as tecnologias de medio disponveis com o ensaio especfico de

curto-circuito (altas correntes);
alertar sobre as limitaes, do ponto de vista metrolgico, concernentes s

medies de altas correntes nos ensaios de curto-circuito;
desenvolvimento de um sistema de ensaio de curto-circuito.
Frente a esse cenrio fica clara a importncia do aprofundamento do estudo

da aplicao da metrologia nos ensaios de dispositivos de proteo de sistemas
eltricos.
Dentro desse contexto so analisados, do ponto de vista metrolgico, todos
os equipamentos de medio utilizados no ensaio de curto-circuito. Esse estudo
contempla a anlise terica de cada equipamento de medio priorizando os
sistemas em que a medio e o controle so crticos. No ensaio de curto-circuito os
sistemas ditos crticos so a medio de altas correntes eltricas e o controle do
momento de estabelecimento do curto-circuito.
25
Aps esse estudo, so propostos o projeto e a construo de um sistema de

ensaio de curto-circuito, onde so analisados e descritos em detalhes os principais
componentes do sistema proposto para o referido ensaio. Nessa abordagem, dado
enfoque aos componentes de medio e controle crticos do ensaio de curto-circuito.
Para avaliao da confiabilidade do sistema de medio e controle proposto
feita uma avaliao do comportamento metrolgico do sistema desenvolvido.
1.4 Estrutura do trabalho

A diviso do trabalho foi feita atravs de captulos, conforme segue:
Captulo 1 Introduo
Descrio, baseado na reviso bibliogrfica, do conceito e dos tipos de
curtos-circuitos e dos respectivos efeitos decorrentes da ocorrncia do curto-circuito
nas instalaes eltricas. Nessa etapa, so abordadas a necessidade e a
importncia do ensaio de curto-circuito.
Captulo 2 Caracterizao do ensaio de curto-circuito em baixas tenses.

So descritos os sistemas de ensaios de curto-circuito conforme abordado
nas normas nacionais e internacionais. realizada uma anlise dos tipos de ensaios
de curto-circuito em disjuntores, a fim de estudar, com profundidade, o procedimento
de realizao do ensaio de curto-circuito nesses dispositivos de proteo. Nessa
etapa so ainda avaliados os erros mximos admissveis previstos nessas normas e,
finalizando, dada ateno especial rastreabilidade do sistema de medio nos
ensaios de curto-circuito.
26
Captulo 3 Anlise de formas usuais de medio de tenso, corrente e fator

de potncia e controle de sincronismo e disparo do ensaio de curto-circuito.
Baseadas em uma ampla reviso bibliogrfica, so avaliadas as melhores
prticas de medio (tenso, corrente, fator de potncia) e controle do sistema de
estabelecimento do ensaio de curto-circuito, analisando os equipamentos de
medio mais adequados do ponto de vista tcnico-econmico. So priorizados os
sistemas em que a medio e o controle so crticos. No sistema de medio de
corrente so analisadas e comparadas as quatro principais prticas de medio de
altas correntes (transformador de corrente, derivadores resistivos, bobinas de
Rogowski e sensor de corrente por efeito Hall).
Captulo 4 Desenvolvimento de um sistema de ensaio de curto-circuito

(hardware e software).
Nesta etapa so descritos, em linhas gerais, o projeto e a construo de um
sistema de ensaio de curto-circuito, incluindo diagrama, equipamentos principais de
manobra e sistemas de medio. So detalhados os componentes dos sistemas de
medio de corrente e de tenso incluindo os respectivos transdutores e o sistema
de aquisio de dados. apresentado o desenvolvimento da primeira verso do
software de medio e controle do ensaio, implementado em ambiente Labview.
Captulo
Avaliao
do
comportamento
metrolgico
do
sistema
desenvolvido.
Baseado nos equipamentos utilizados para o ensaio, obtida a incerteza de
medio para as grandezas mais crticas do ensaio de curto-circuito (medio de
alta corrente eltrica e controle do estabelecimento do ensaio de curto-circuito). So
27
avaliadas todas as contribuies dos equipamentos do sistema, tais como,

transdutores, amplificadores, sistemas de aquisio. feita uma comparao com
os requisitos de especificao (erros mximos admissveis) obtidos e descritos no
captulo 2.
Captulo 6 Concluses e sugestes de trabalhos futuros

Nessa etapa, so apresentadas as concluses do trabalho. Adicionalmente,
so sugeridas possveis oportunidades de desenvolvimentos futuros.
28
2 Caracterizao do ensaio de curto-circuito em baixas

tenses
2.1 Normas de ensaio de curto-circuito para disjuntores
No so raras as ocasies em que os curtos-circuitos se apresentam nas
instalaes eltricas. Porm, graas aos avanos tecnolgicos ocorridos nos ltimos
anos, equipamentos tais como disjuntores e fusveis tm garantido com eficincia a
proteo das pessoas e das instalaes eltricas.
No Brasil, o COBEI Comit Brasileiro de Eletricidade adotou, para
disjuntores de baixa tenso para uso industrial, a norma IEC 60947-2 Low-voltage
switchgear and controlgear Part 2: Circuit-breakers [8] complementada pela norma
IEC 60947-1 Low-voltage switchgear and controlgear Part 1: General Rules [6].
Essas normas ditam as regras gerais para dispositivos de comando e manobra de
baixa tenso. Porm, para disjuntores de baixa tenso para uso residencial (ou
melhor, para uso por pessoas no habilitadas) no houve um consenso na reviso
da norma NBR 5361 Disjuntor de baixa tenso [9]. Somente foi adotada, para o
Mercosul, a NBR NM 60898 Disjuntores para proteo de sobrecorrentes para
instalaes domsticas e similares [10], verso em portugus e espanhol, que
substitui a NBR IEC 60898 (correspondente internacional IEC 60898-1 Electrical
accessories Circuit breakers for overcurrent protection for household and similar
installations Part-1: Circuit breakers for a.c. operation [11]).
Os disjuntores para uso por pessoas no habilitadas so de certificao
compulsria, ou seja, para serem comercializados e instalados, devem ter um
certificado emitido por um rgo credenciado pelo INMETRO.
29
A certificao de um produto consiste, entre outras coisas, na realizao de

uma bateria de ensaios de tipo, ensaios para demonstrar que um certo projeto
satisfaz certas condies especificadas [12]. Dentre estes, existem os ensaios de
suportabilidade, ensaios para verificar se o equipamento capaz de suportar a
solicitao que lhe imposta, incluindo condies especialmente severas como
curto-circuito. Esses ensaios devem ser executados para verificar o desempenho do
disjuntor em relao ao que foi projetado. H vrias normas, no mbito internacional,
que regulamentam os ensaios de disjuntores em baixa tenso:
IEC 60947-1 Low-voltage switchgear and controlgear Part 1: General

Rules [6];
IEC 60947-2 Low-voltage switchgear and controlgear Part 2: Circuitbreakers [8];
NBR 5361 Disjuntor de baixa tenso. Rio de janeiro, RJ, set. 1998 [9];
IEC 60898-1 Electrical accessories Circuit breakers for overcurrent

protection for household and similar installations Part-1: Circuit
breakers for a.c. operation [11];
IEC 60947-4-1 Low-voltage switchgear and controlgear Part 4-1:

Contactors and motor-staters- electromechanical contactors and motorstaters [13];
UL 489 Molded Case Circuit Breaker, Molded Case Switches and

Circuit Breakers Enclosures [14];
UL 508 Industrial Control Equipment [15];
O processo de globalizao impe o uso das normas IEC, porm a grande

polmica est na definio de que norma utilizar. Diferentes mercados consumidores
exigem diferentes normas.
30
2.2 Circuitos de ensaio conforme as normas de disjuntores

So previstos dois tipos de ensaios: direto e sinttico. O ensaio definido
como direto quando a tenso e a corrente provm da mesma fonte. O ensaio dito
sinttico quando a tenso e a corrente provm de fontes separadas [7]. As duas
concepes de ensaios, direto e sinttico tm seus prs e seus contras [7] que no
sero abordados neste trabalho. abordado neste trabalho somente o ensaio direto.
Conforme descrito na norma IEC 60947-1 - Low-voltage switchgear and
controlgear Part 1: General Rules, [6], esto previstos circuitos para ensaios em
equipamentos mono, bi, tri e treta-polar. A figura 2.1 mostra um exemplo de um
ensaio de verificao da capacidade de estabelecimento e interrupo de disjuntores
tetra-polares na condio de curto-circuito [6].
Avaliando as outras normas que prescrevem o ensaio de curto-circuito
percebe-se que h pequenas variaes no circuito de ensaios. A localizao dos
elementos dos circuitos um exemplo dessas variaes. Cita-se algumas dessas
variaes: a localizao da chave sncrona na mdia ou na baixa tenso, o
posicionamento das cargas de ajuste a jusante ou a montante do objeto em teste e
os posicionamentos dos elementos de medio.
Analisando as caractersticas inseridas nas normas de ensaio percebe-se
que, dependendo do nvel de corrente a ser utilizado para avaliao de
equipamento, h uma interdependncia das caractersticas a serem controladas
durante o ensaio. Essa interdependncia entre as grandezas tenso, corrente, fator
de potncia e constante de tempo visa avaliar adequadamente o desempenho dos
equipamentos sob o ensaio de curto-circuito.
Exemplificando a observao acima apresentado na tabela 2.1 relao
entre a corrente de teste, fator de potncia e a constante de tempo [6].
31
Tabela 2.1 Valores do fator de potncia e da constante de tempo correspondente ao ensaio

de corrente e a proporo n entre o valor de pico e rms do valor da corrente de ensaio
Corrente de Ensaio
(A)
I 1500
1500 < I 3000
3000 < I 4500
4500 < I 6000
6000 < I 10000
10000 < I 20000
20000 < I 50000
50000 < I
Fator de
Potncia
0,95
0,90
0,80
0,70
0,50
0,30
0,25
0,20
Constante de Tempo (ms)
5
5
5
5
5
10
15
15
1,41
1,42
1,47
1,53
1,7
2,0
2,1
2,2
S
N
V
R1
r
R1
r
R1
r
Ur1
Ur2
Ur3
F
RL
Ur4
Ur5
Ur6
D
B
I1
B
I3
I2
T
Legenda:
A chave sncrona
B ligao temporria para calibrao
D equipamento sob teste
F fusvel
I1, I2, I3 sensores de corrente
N neutro da fonte
r resistor
R1 resistor de ajuste
RL resistor de limitao da corrente de falha
S fonte
T terra do sistema
Ur1...Ur6 sensores de tenso
V medio de tenso
X reator ajustvel
Figura 2.1 Circuito para ensaio de curto-circuito em disjuntores tetra-polar
32
2.3 Ensaio de curto-circuito

Neste item feita uma descrio breve sobre o ensaio de curto-circuito em
disjuntores. Deixa-se claro que ensaios no so sempre executados da mesma
maneira. O que se pretende explicar genericamente como so executados estes
ensaios e dar uma idia geral da interao entre os componentes que compem o
sistema de ensaio.
O ensaio de curto-circuito em elementos de proteo, de uma maneira geral,
composto dos componentes descritos abaixo:
fonte de potncia;
impedncia de regulao (mdia e baixa tenso);
chave sncrona e disjuntor de mdia tenso (elementos de manobra);
objeto sob teste (disjuntor ou fusvel).
O procedimento de ensaio consiste em, primeiramente, executar um ensaio

de configurao do sistema, conhecido popularmente nos laboratrios de ensaios de
altas corrente como ensaio de calibrao. Esse ensaio consiste em executar um
curto-circuito, controlado, para se ter certeza que a corrente presumida, o fator de
potncia e a tenso de teste esto presentes no ensaio. Essa configurao do
ensaio no pode ser feita com objeto em teste inserido no circuito. Isso porque o
objeto em teste atuaria, limitando em amplitude e no tempo a corrente presumida.
Mesmo que se forasse uma no atuao do objeto em teste, a corrente presumida
poderia ser afetada pela impedncia do objeto em teste. O detalhamento desse
ensaio de verificao da configurao do ensaio est descrito no item 2.3.1.
Aps o ensaio de configurao, so feitos os ensaios no objeto sob teste
descritos nos itens 2.3.2 e 2.3.3.
33
2.3.1 Configurao do ensaio - Setup

Os subsistemas que do suporte aos ensaios de configurao so os
sistemas de controle e o sistema de medio do ensaio. A interao dos
componentes com os subsistemas so mostrados nas seqncias de operaes da
figura 2.2.
Definio do ensaio
Definio do ensaio: (V, I e cos )

Regulao das impedncias de mdia e baixa tenso
(baseada na definio da corrente de ensaio e no cos )
Parametrizao do ensaio
Garantir que o disjuntor de mdia est fechado

Garantir que a chave sncrona est aberta
No local objeto sob teste colocar um curto-circuito (jump)
Definio do instante do incio do ensaio (sincronismo com
Parametrizao
sistema de controle
a rede e disparo)
Definio da seqncia de operao das chaves
Definio dos respectivos tempos entre acionamentos
Execuo do ensaio
Disparo da medio
Execuo do ensaio
Disparo do Curto-Circuito
Incio da medio das grandezas do ensaio (V, I, cos )
Fechamento da chave sncrona (estabelecimento do curtocircuito)
Abertura do disjuntor de mdia (abertura sob a situao de
Execuo do ensaio
Abertura do disjuntor e
trmino da medio
No
curto-circuito). Geralmente cerca de 100 ms aps o

estabelecimento do curto-circuito.
Finalizao das medidas (V, I, cos )
Os valores foram obtidos conforme definio do ensaio:

(V, I e cos ) respeitando s devidas tolerncias
Medidas
conforme
definido?
estabelecidas para o ensaio?
Sim
Resultados das medies da configurao
Gerao dos resultados
da calibrao
Grficos de tenso e corrente
Figura 2.2 Ensaio de curto-circuito - configurao
34
2.3.2 Execuo do ensaio O open e CO close-open

Para o ensaio de curto-circuito em disjuntores, tem-se ainda subdiviso do
ensaio no equipamento de proteo sob teste em dois tipos de ensaios que se
diferenciam entre si de acordo com a atuao do disparo do disjuntor. No primeiro
caso, o curto-circuito disparado pela chave sncrona e o disjuntor sob teste
somente interrompe o circuito. Esse ensaio conhecido como ensaio de interrupo
O open (Figura 2.3). No segundo caso, disjuntor sob teste estabelece o curto e
o interrompe. Esse ensaio conhecido como ensaio de estabelecimento seguido
imediatamente de uma interrupo CO close-open (Figura 2.4).
Garantir que o disjuntor de mdia est fechado
Garantir que a chave sncrona est aberta

O objeto sob teste est inserido no circuito e est fechado
Definio do instante de do incio do ensaio (sincronismo
Parametrizao
sistema de controle
com a rede e disparo)

Execuo do ensaio
Disparo da medio
Execuo do ensaio
Disparo do curto-circuito
Fechamento da chave sncrona (estabelecimento do curtocircuito) Ensaio O Open.
Execuo do ensaio
trmino da medio

da calibrao
Abertura do disjuntor sob teste (abertura sob a situao de

Resultados das medies do ensaio
Figura 2.3 Ensaio de curto-circuito O - open
35
O disjuntor de mdia est fechado

A chave sncrona est fechada

O objeto sob teste est inserido no circuito e est aberto
Definio do instante de do incio do ensaio (sincronismo
Parametrizao
sistema de controle
com a rede e disparo)

Execuo do ensaio
Disparo da medio
Execuo do ensaio
Disparo do curto-circuito
Fechamento do objeto sob teste (estabelecimento do curtocircuito) Ensaio CO Close - Open.
Execuo do ensaio
trmino da medio

da calibrao
Abertura do disjuntor sob teste (abertura sob a situao de

Resultados das medies do ensaio
Figura 2.4 Ensaio de curto-circuito CO close open
2.4 Tolerncias das grandezas eltricas na execuo do ensaio

Como descrito no item 2.1, h diversas normas, algumas internacionais e
outras especficas para determinados pases que descrevem em detalhes os
procedimentos de ensaio de curto-circuito. Essas normas, tais como IEC 60947-1
[6], IEC 60947-2 [8], NBR 5361 [9], IEC 60898-1 [11], UL 489 [14] e UL508 [15],
especficas para disjuntores, descrevem o procedimento de verificao do
desempenho dos disjuntores antes e aps o ensaio de curto-circuito, assim como o
detalhamento dos circuitos eltricos, das operaes de O open e CO closeopen, das conexes das cargas indutivas e resistivas e outros parmetros
necessrios para execuo do ensaio.
36
Concomitantemente com os parmetros dos ensaios, a caracterstica

metrolgica, mais especificamente as tolerncias dos sistemas de medio, so
descritas nessas normas. Algumas dessas normas do nfase a essas tolerncias
descrevendo-as em tabelas ou em itens especficos os valores mximos e mnimos
das grandezas utilizadas nos ensaios. Porm, em algumas normas, essas
tolerncias no esto muito explcitas e em alguns casos so at omitidas.
Baseado nas normas mais utilizadas no mercado brasileiro, seguindo o
critrio de utilizao das tolerncias mais crticas, ou seja, os menores valores
porcentuais e absolutos, foram admitidos para os ensaios de interrupo e de
estabelecimento em curto-circuito as seguintes tolerncias (Tabela 2.2):
Tabela 2.2 Tolerncias das grandezas eltricas no ensaio de curto-circuito
Grandeza
Corrente
Tenso
Freqncia
Fator de Potncia
Constante de Tempo
ngulo de Disparo
Tolerncia(b)
(0 e + 5)%
(0 e + 5)%
5%
- 0,05 e 0
(0 e +25)%
5
2.5 Rastreabilidade em ensaio de curto-circuito

O resultado de uma medio ou o valor de um padro deve estar relacionado
a valores de referncia, geralmente padres nacionais ou internacionais, atravs de
uma cadeia hierrquica de calibraes, com incertezas estabelecidas e repassadas
[16].
Conforme a referncia [17], a rastreabilidade uma caracterstica da
calibrao, anloga dinastia ou linhagem (pedigree). A rastreabilidade da
calibrao obtida quando cada equipamento e o seu respectivo padro esto em
uma hierarquia referida aos padres internacionais.
(b)
- Esta porcentagem em relao aos valores aplicados nos ensaios.
37
Para caracterizar a rastreabilidade de uma medio, no suficiente que o

laboratrio calibre seus equipamentos e disponha dos certificados de calibrao
correspondentes. preciso ir alm disso, pois um certificado de calibrao no
fornece, necessariamente, informaes sobre a competncia dos laboratrios que
realizam as calibraes da cadeia de rastreabilidade. preciso que se considere
tambm alguns outros elementos que so essenciais para que se possa afirmar que
o resultado de uma medio rastrevel a um padro nacional ou internacional:
a) cadeia contnua de comparaes, conduzindo at um padro nacional ou
internacional;
b) referncia unidade SI: a cadeia de comparaes deve alcanar os
padres primrios para a realizao da unidade do SI;
c) recalibraes: as calibraes devem ser repetidas a intervalos apropriados,
definidos em funo de uma srie de variveis, tais como incerteza requerida,
freqncia e modo de uso dos instrumentos de medio, estabilidade dos
equipamentos;
d) a cada passo da cadeia de rastreabilidade, deve ser determinada a
incerteza de medio, de acordo com mtodos definidos, de modo que se
obtenha uma incerteza total para a cadeia;
e) documentao: cada passo da cadeia de rastreabilidade deve ser realizado
de acordo com procedimentos documentados, reconhecidos como adequados
e os resultados obtidos devem ser registrados em um certificado de
calibrao;
f) competncia: os laboratrios que realizam um ou mais passos de cadeia de
rastreabilidade devem fornecer evidncias da sua competncia tcnica. [18]
38
A figura 2.5 ilustra a estrutura hierrquica de rastreabilidade [19].
Figura 2.5 Hierarquia de rastreabilidade [19]
Dentre as grandezas mensuradas no ensaio de curto-circuito, somente a

corrente eltrica e, conseqentemente, o fator de potncia apresentam problemas
de rastreabilidade. Diferentemente da medio de altas correntes, no existem
problemas com a rastreabilidade nas medies de tenso em baixa tenso.
Incertezas de (10 a 100) V/V(c) na calibrao de tenses contnuas e alternadas de
at 1 kV podem ser alcanadas facilmente [20].
Atualmente, conforme diagrama de rastreabilidade de altas corrente do
laboratrio de transformadores LATRA do INMETRO a medio de corrente est
rastrevel somente at 5 kA [19].
A referncia: Medio de Altas Correntes em Freqncia Industrial:
Instrumentao, Dispositivos de Medio e Calibraes [21] informa que em relao
calibrao dos equipamentos de medio de altas correntes, os laboratrios
existentes no Brasil, credenciados ou no, possuem condies de calibrao de
corrente para valores de at 10 kA. Pelos mtodos tradicionais, muito difcil realizar
(c)
- usual a apresentao de tais valores em ppm. Por respeito ao SI Sistema Internacional de

Unidades [22], preferiu-se, neste trabalho, o uso de V/V.
39
as calibraes para essas altas correntes, dezenas e at mesmo centenas de

quiloampres. Mesmo quando possvel, a calibrao pelos mtodos tradicionais
atende apenas s correntes simtricas. No existe um mtodo normatizado para
calibrao das correntes assimtricas, comum no ensaio de curto-circuito.
Conforme pesquisado nos laboratrios de ensaios de curto-circuito na
Amrica Latina, percebe-se que apesar de serem executados ensaios da ordem de
dezenas de quiloampres, os medidores de corrente tm sido calibrados apenas em
algumas unidades de quiloampres (2,5 a 5) kA.
J, na Europa, conforme exposto na referncia: Traceability of High-current
Measuring Systems in High-power Laboratories to Standards of Measurements [23],
havia uma lacuna na rastreabilidade dos sistemas de medio de altas correntes.
No havia nem procedimento nem o estabelecimento da rastreabilidade para os
sistemas de medio de altas correntes, utilizados nos laboratrios europeus de alta
potncia. Visando solucionar essa pendncia, sete importantes laboratrios de alta
potncia europeus fizeram uma intercomparao laboratorial com o objetivo de
estabelecer os procedimentos e incertezas para os laboratrios, assim como
estabelecer uma referncia para os sistemas de medio de altas correntes. Os
laboratrios participantes so apresentados na tabela 2.3 [23]:
Tabela 2.3 Laboratrios participantes da intercomparao
Laboratrios
Pas
BSTS British Short-circuit Testing Station
Reino Unido
CESI Centro Elettrotecnico Sperimentale Italiano Giacinto Motto
Itlia
EdF Electricit de France, Direction des Etudes et Recherches
Frana
FGH
Forschungsgemeinschaft
fr
Hochspannungs
Hochstromtechnik e.V.
IPH Institut Prffeld fr Elektrische Hochleistungstechnik GmbH
und
Alemanha
Alemanha
KEMA KEMA Nederland BV
Holanda
LABEIN Laboratorios de Ensayos e Investigaciones Industrialls
Espanha
40
Na intercomparao entre os laboratrios foi utilizado um sistema de

aquisio de dados com transmisso ptica visando minimizar as interferncias
decorrentes dos elevados campos magnticos gerados devido s altas correntes
[23].
Os
equipamentos
utilizados
na
intercomparao,
assim
como
caractersticas tcnicas so mostrados a seguir [23]:

Sistema de Aquisio de dados
Tipo:
BAKKER BE 632-IB
Tenso de entrada:
100 mV a 100 V
Conversor A/D:
12 bits
Velocidade de aquisio: 10 MS/s (mximo)
Transmisso:
150 metros de fibra ptica
Comunicao PC:
IEEE 488.1
Software:
BAKKER Team 256
Dois padres de transferncia foram utilizados na intercomparao:

Derivador resistivo coaxial
Tipo:
Coaxial shunt ME 026 067
Fabricante:
EdF, 1995
Material:
Manganina
Corrente nominal:
140 kA; 0,1 s
Corrente de pico:
350 kA
Freqncia:
50 Hz
Resistncia nominal:
(200, 100, 50)
Tempo de resposta:
4,4 s
suas
41
Bobina de Rogowski com integrador ativo
Fabricante:
KEMA, 1995
Corrente nominal:
340 kA; 2 s
Corrente de pico:
(25, 50, 100, 250, 500) kA
Conforme observado na referncia [23], os sete laboratrios utilizaram trs

sensores de corrente nos ensaios da intercomparao:
derivador resistivo coaxial;
transformador de corrente;
bobina de Rogowski.
A intercomparao foi utilizando-se correntes com valores de at 350 kA de

pico com freqncia at alguns quilohertz [23].
Os resultados da intercomparao foram:
a calibrao das altas correntes e a determinao do seu

desempenho com a variao da freqncia necessria;
as incertezas apresentadas pelos laboratrios na medio de

correntes ficaram entre 3% e 5%;
as incertezas dos padres de transferncia (referncia utilizada)

foram da ordem de 1%;
a rastreabilidade pde ser estabelecida;
para altas freqncias, um estudo extra deve ser feito.
Neste captulo foi tratado dos requisitos dos ensaios de curto-circuito e a

situao mundial no tocante rastreabilidade e a disponibilidade de padres. O
passo seguinte analisar as formas mais adequadas de se proceder a medio das
grandezas envolvidas em tais ensaios.
42
3 Anlise das formas usuais de medio de

corrente e
tenso,
fator de potncia e de controle do
sincronismo e disparo do ensaio de curto-circuito

Neste captulo so abordados, baseados na reviso bibliogrfica, os sensores
de medio mais utilizados nos ensaios de curto-circuito.
Medir nem sempre uma tarefa fcil, principalmente em se tratando de
ambientes com campos eltricos fortes, como o laboratrio de alta tenso, ou em um
ambiente com campos magnticos fortes, como no laboratrio de ensaios de altas
correntes. Para executar medidas com elevado nvel de
confiabilidade, os
transdutores devem ter comportamento metrolgico e operacional adequados a tais

situaes. [5]
No ensaio de curto-circuito, apresentam-se problemas gerais e especficos de
medio. Os especficos esto associados especialmente com as elevadas
correntes.
Uma ateno especial dada medio de corrente, em razo de ser a
grandeza mais representativa no ensaio de curto-circuito. Cuidados especiais nas
medies das correntes de curto-circuito devem ser levados em considerao devido
elevada amplitude da corrente a ser medida centenas de quiloampres.
Outro fator bastante importante no ensaio o instante do estabelecimento do
curto-circuito. O instante definido para o estabelecimento do curto-circuito influencia
diretamente no valor da amplitude mxima da corrente de curto-circuito [3] [4].
Portanto, no ensaio do curto-circuito o instante de fechamento do circuito deve ser
controlado visando a execuo do ensaio nas diversas condies estabelecidas
pelas normas de ensaio.
43
3.1 Medio de tenso

Para medida de tenso em alto potencial eltrico, necessria a insero de
elemento redutor visando a obteno de um pequeno sinal de considervel
amplitude e referenciado terra, pois de outra forma o dispositivo de medio(d)
ser danificado [5].
As tenses, geralmente mensuradas no ensaio de curto-circuito, so tenses
entre fases do sistema eltrico e a tenso nos bornes do objeto a ser ensaiado [6].
A medio da grandeza tenso eltrica no ensaio de curto-circuito tem a sua
importncia para a avaliao da amplitude real de tenso aplicada no ensaio em
comparao ao valor requerido pelas normas pertinentes. Porm, para a equipe de
desenvolvimento
para
os
pesquisadores
dos
dispositivos
de
proteo,
interruptores de corrente, a avaliao do comportamento da tenso transitria

medida nas extremidades do contato, no momento da interrupo torna-se bastante
importante. Essa tenso transitria denomina-se tenso de arco. Um exemplo de
estudo da tenso de arco encontra-se na figura 3.1.
Na figura 3.1, as etapas definidas so mostradas em termos de correntes e
tenses atravs do disjuntor. As etapas em que o arco eltrico est presente contm
a letra A e podem ser assim melhor descritas [24]:
(d)
abertura dos contatos e ignio do arco (etapa IA);
prolongamento do arco (etapa PA);
movimentao do arco para dentro da cmara de extino (etapa AC);
extino do arco (etapa EA).
- O dispositivo de medio de tenso ou corrente usualmente pode ser qualquer medidor

(ampermetro, voltmetro, multmetro, registrador ou osciloscpio). As grandezas medidas pelo
dispositivo de medio podem ser apresentadas no formato de um valor (rms, pico, ou pico a pico)
ou no formato de um registro grfico (por exemplo uma forma de onda de tenso ou corrente). No
caso desse trabalho foi utilizado, como dispositivo de medio, um registro grfico digital baseado em
placa de aquisio de dados.
44
Legenda:
IA ignio do arco
PA prolongamento do arco
AC movimentao do arco
EA extino do arco
I corrente de curto-circuito
U tenso de arco eltrico
Urede tenso da rede
Figura 3.1 Tenso e corrente em um disjuntor durante um curto-circuito.
A figura 3.2 apresenta o disjuntor MBW de 2 A aberto, onde se observam

seus componentes e uma breve descrio.
Legenda:
1 terminais
2 bobina de disparo magntico
3 elemento bimetlico
4 gatilho de disparo
5 manopla
6 cordoalha
7 contato mvel
8 contato fixo
9 cmara de extino
Figura 3.2 Visualizao do disjuntor MBW - componentes internos
A medio da tenso eltrica em baixa tenso (< 1 kV) pode ser obtida por
diversos transdutores/redutores de tenso. Esses equipamentos, tais como
transformadores de potencial, transdutores de efeito Hall, transdutores com a
45
tecnologia Fluxgate, com eletrnica isolada ou opticamente isolada e os divisores de

tenso com elementos passivos, surgem como diversas opes na transduo da
tenso [25].
A referncia Isolated current and voltage transducers characteristics
applications calculations [25], detalha a teoria e aborda os aspectos prticos das
principais categorias envolvendo a tecnologia da transduo de tenso.
A tabela 3.1 resume as principais caractersticas tcnicas de algumas das
tecnologias
mencionadas.
Esses
transdutores
poderiam
ser
facilmente
implementados no sistema de medio do ensaio de curto-circuito. As caractersticas

tcnicas das tecnologias dos transdutores, fabricadas pela empresa LEM
Components so apresentadas na tabela 3.1 [25].
Tabela 3.1 Caractersticas das tecnologias dos transdutores de tenso LEM [25]
Medio de tenso
(caractersticas
tcnicas)
Faixa de medio
Efeito Hall
Fluxgate
(0 a 9,5) kV
Largura de Banda
vrios kHz
(0 a 7) kV
(0 a 2/10/800)
kHz
Tempo de resposta
(tpico para 90%)
Erro mximo
(tpico, 25C - % fundo
de escala)
Linearidade
(10 a 100) s
Principais pontos
Tecnologia
Eletrnica
isolada
50 V a 2 kV
ptico
isolada
100 V a 6 kV
(0 a 13) kHz
(0 a 13) kHz
0,4 s
< 30 s
< 30 s
1%
0,2%
0,7%
0,9%
< 0,5%
0,05%
Desempenho
padro
Alta exatido
tima
velocidade
0,1%
Pequeno
tamanho
Teso limitada
Velocidade
baixa
0,1%
Excelente imunidade
de interferncia
Alta rejeio de modo
comum
Baixa velocidade
Por no serem to elevadas as tenses a serem medidas e, principalmente,

devido ao fato da medio de baixas tenses estarem bastante difundidas, no
sero abordados as vrias possibilidades de medio. Ser abordado somente o
sistema de medio de tenso utilizando o transdutor divisor resistivo devido ao fato
desse transdutor ser o escolhido para o desenvolvimento do sistema de ensaio de
curto-circuito proposto no capitulo 4.
46
Um dos transdutores de tenso mais comumente utilizado nos ensaios de

curto-circuito o divisor resistivo compensado. Entretanto, ressalta-se, que nas
visitas aos laboratrios de ensaios na Amrica Latina e Europa observou-se a
utilizao de transformadores de potencial.
3.1.1 Divisor de tenso

O divisor de tenso consiste em duas impedncias Z1 e Z 2 em srie, onde
comumente Z1 bem maior que Z2. (Figura 3.3)
Legenda:
L indutncia do cabo de ligao
Rd resistncia do cabo de ligao
v1(t) tenso de entrada
v1(t) tenso nos borne do divisor de tenso
v2(t) tenso de sada
Z1 e Z 2 impedncias do divisor de tenso
Figura 3.3 Divisor de tenso incluindo as impedncias do cabo de ligao [26]
Nota-se que em alguns laboratrios utilizam-se do transformador de potencial

para medidas de tenses nos ensaios. Porm, conforme indicado na referncia
Transient in Power Systems [5], o transformador de potencial no indicado para
medio de transientes devido m qualidade de resposta em altas freqncias.
O divisor de tenso tem que ser desenvolvido de acordo com sua aplicao,
obtida pelas seguintes caractersticas [5]:
nvel de tenso;
tipo e forma de onda da tenso;
impedncia de entrada do sistema de medio;
tempo de resposta necessrio.
47
Um divisor de tenso deve possuir uma boa fidelidade do sinal de entrada,

porm isto somente no garante que o sinal mostrado no sistema de medio
corresponde em uma escala proporcionalmente menor sinal de entrada do divisor.
Em adio com o prprio divisor de tenso, as conexes, as impedncias do sistema
de medio e do cabo de transmisso podem causar erros [26]. Os erros causados
pela transmisso so tanto maiores quanto mais longos forem os cabos [26].
Geralmente, nos laboratrios de ensaio de curto-circuito, grandes distncias entre o
objeto a ser mensurado e o sistema de medio so necessrias devido
segurana dos equipamentos.
H alguns mtodos descritos na referncia High-Voltage Measurement
Techniques [26] [27], que descrevem como avaliar os erros da medio da amplitude
e da freqncia. Formas de onda ideais, tais como uma funo degrau ou uma onda
triangular so geradas na entrada do divisor e a partir da so avaliadas as
respostas na sada.
3.1.2 Divisor de tenso resistivo e resistivo compensado
O divisor resistivo consiste em dois resistores R1 e R2 em srie, onde
comumente R1 bem maior do que R2 (Figura 3.4).
Legenda:
Cm capacitncia de entrada do dispositivo de
medio
R1 e R 2 resistncias dos ramos do divisor
resistivo
Rm resistncia de entrada do dispositivo de
medio
v2(t) tenso de sada
Figura 3.4 Divisor resistivo [26]
48
O fator de atenuao dado pela razo entre o sinal de entrada v1(t) e o sinal
de sada v2(t) (sinal da medio) [26].
a=
v1 (t ) R1 + R2
=
v2 (t )
R2
(3.1)
Onde:
v1(t) tenso de entrada do divisor resistivo
v2(t) tenso de sada do divisor resistivo
R1 e R2 resistncias do divisor resistivo
Durante as medidas prticas, o resistor R 2 est em paralelo com a impedncia
de entrada do dispositivo de medio. Isto pode afetar o fator de atenuao
significantemente. Para medidas transientes, tais como impulsos rpidos de tenso,
o sinal transmitido por cabo coaxial [26].
A impedncia de entrada dos osciloscpios, voltmetros eletrnicos e placas
de aquisio de dados so usualmente representados pelo resistor R m com o valor
na ordem de 1 M em paralelo com a capacitncia Cm, cujos valores so da ordem
de (10 a 50) pF. Adicionalmente, a capacitncia do cabo pode assumir valores entre
(20 e 100) pF/m [26]. A carga resistiva pode ser omitida na maioria das aplicaes.
Entretanto, em altas freqncias ou com a tenso no senoidal que contm
componentes de altas freqncias, a carga capacitiva causa dependncia com a
freqncia. [26]
A razo ento, na forma complexa, no domnio da freqncia :
a=
V1
=
V2
R2
1 + jR2 .Cm
R2
1 + jR2 .Cm
R1 +
Onde:
V1 tenso de entrada do divisor resistivo
(3.2)
49
V2 tenso de sada do divisor resistivo

R1 e R 2 resistncias do divisor resistivo
Cm capacitncia de entrada do dispositivo de medio
Para evitar clculos extensivos, so utilizados os divisores de tenso
compensados. O circuito divisor aumentado adicionando uma capacitncia em
paralelo ao resistor R1 (Figura 3.5). Este capacitor C1 gera uma impedncia no ramo
de tenso mais alta, R1 . C1 que decresce em altas freqncias da mesma maneira
que a impedncia do ramo de tenso mais baixa R 2 . Cm [26].
Legenda:
C1 capacitncia de compensao
Cm capacitncia de entrada do dispositivo de
medio
v2(t) tenso de sada
Figura 3.5 Divisor de tenso resistivo compensado [26]
Calculando-se a tenso de sada v2(t) do divisor resistivo para uma entrada de

tenso cuja forma de onda quadrada V0, a resposta ser:
R2
v2 (t ) = V0
R1 + R2
R1 .C1 R2 .C m t
1 +
.e
R
.
(
C
C
)
2
1
m
Onde:
V0 tenso de entrada (forma de onda quadrada)
v2(t) tenso de sada do divisor resistivo
t tempo
- constante de tempo
(3.3)
50
Os capacitores esto inicialmente descarregados, portanto eles representam

um curto-circuito imediatamente depois do chaveamento. A sada de tenso
instantaneamente salta para um valor v2 (+0) determinada pela razo capacitiva e a
amplitude da entrada de sinal degrau [26]:
v2 (+0) =
C1
.V0
C1 + C m
(3.4)
Onde:
v2(+0) tenso de sada no instante aps o zero (transitrio)
Logo aps, o valor de tenso aproxima-se exponencialmente a um valor final
determinado pela razo resistiva:
v 2 ( ) =
R2
.V0
R1 + R2
(3.5)
Onde:
v2() tenso de sada no regime permanente
A constante de tempo do decaimento exponencial :
Tm =
R1 .R2
.(C1 + C m )
R1 + R2
Onde:
= T m - constante de tempo
(3.6)
51
A figura 3.6 ilustra o comportamento do divisor resistivo compensado excitado

por uma onda quadrada. No caso a), a capacitncia Cm escolhida muito alta e a
compensao do divisor resistivo muito alta. No caso c), a capacitncia escolhida
muito baixa e a compensao tambm. As caractersticas de freqncia e tempo
ideal e obtida quando:
R1 C m
=
R2 C1
(3.7)
Onde:
Legenda:
a sobre compensado ( C1 muito grande)
b compensao correta ( R1 .C1 = R2 .C m )
c sub compensado (C1 muito pequeno)
Figura 3.6 Comportamento da resposta do divisor resistivo compensado
A equao (3.7) tambm pode ser interpretada como:

R1 .C1 = R2 .C m
(3.8)
A equao (3.8) significa que os ramos de alta e baixa tenso devem ter suas
constantes de tempo iguais.
52
Considerando a equao (3.3) da resposta ao degrau revela que o segundo

termo em parntesis ir desaparecer quando as constantes de tempo so iguais.
Este princpio de operao explica a operao bsica da ponteira de medio
de tenso dos osciloscpios.
3.2 Medio de corrente

Certamente, no ensaio de curto-circuito, a corrente eltrica uma das
grandezas mais importantes a ser mensurada devido a sua importncia na anlise
final do desempenho do equipamento de proteo.
Atualmente, dispe-se de vrios dispositivos para a medio de corrente, tais
como ampermetros, transformadores de corrente, transformadores de efeito Hall,
derivadores resistivos (shunts), transdutor de corrente optomagntico, bobina de
Rogowski, dentre outros. Entretanto, nem todos os dispositivos de medio de
corrente so adequados para medio de altas correntes, em razo dos elevados
esforos mecnicos e trmicos que esto presentes nessa situao.
Restringiu-se, neste trabalho, o estudo apenas aos transformadores de
corrente, aos derivadores resistivos, bobina de Rogowski e aos sensores de
corrente atravs do efeito Hall, por serem esses os atualmente usados nos ensaios
de curto-circuito em baixa tenso. As informaes, concernentes a utilizao de tais
transdutores, foram recebidas durante as visitas aos laboratrios de ensaio de curtocircuito na Amrica Latina e na Europa.
3.2.1 Transformador de medio de corrente

Conforme as referncias [28], [29], [30], [31], [32], [33] e [34], o transformador
de corrente um tipo particular de transformador destinado medio de correntes
53
composto de pelo menos 2 circuitos eltricos (primrio e secundrio), acoplados

atravs de um circuito magntico (ncleo).
O circuito primrio do TC constitudo de poucas espiras (duas ou trs) feitas
de condutor de cobre de grande seo. No caso do ensaio de curto-circuito, o
condutor de alta corrente serve como primrio (Figura 3.7) [21] [29] [30] [34].
Legenda:
A dispositivo de medio (ampermetro)
P1 e P2 bornes do primrio do TC
S1 e S2 bornes do secundrio do TC
TC em ensaio de curto-circuito
TC transformador de corrente
Figura 3.7 Transformador de corrente
O circuito secundrio recebe uma corrente reduzida proporcional corrente

que circula no primrio, porm, suficientemente reduzida, de forma que, possa ser
medida com ampermetros comuns, portteis ou de bancada. Esses ampermetros
so instrumentos eltricos de baixa impedncia. Eles fazem parte dos sistemas de
proteo, medio e controle das redes e sistemas eltricos.
Por serem largamente utilizados nos sistemas eltricos como parte integrante
dos sistemas de medio e proteo, os transformadores de corrente possuem um
timo nvel de padronizao de suas caractersticas. As especificaes para projeto,
54
operao e realizao de ensaios seguem os procedimentos definidos nas normas

tcnicas nacionais e internacionais, tais como:
NBR 6546/91: Transformadores para Instrumentos Terminologia [31];
NBR 6856/92: Transformadores de Corrente Especificao [32];
IEEE
C57.13/1993
IEEE
Standard
Requirements
for
Instrument
Transformers. (reviso da antiga ANSI/IEEE C57.13/1978) [33];
NBR 6821/92: Transformadores de Corrente Mtodo de Ensaio [35];
IEC 60044-1 Instruments Transformers Part 1: Current Transformers

[36];
IEC - 60044-6 Instruments Transformers Part 6 Requirements for

protective current transformers for transient performance [37].
Segundo a NBR 6856/92 [32] e conforme referncia [38], os transformadores
de corrente destinados a servios de medio so enquadrados nas classes de

exatido (0,3 ou 0,6 ou 1,2)%. Para classific-los so considerados os erros de
relao e de fase levantados nos ensaios.
Essas especificaes so vlidas para TC industriais. No caso de TC de alta
exatido (TC padro) em geral feito um acordo entre fabricante e consumidor, pois
no existe especificao em norma. A tabela 3.2 apresenta a aplicao dos TC
quanto classe de exatido [39].
Tabela 3.2 Aplicao dos TC quanto exatido
Classe de Exatido
Menor do que 0,3
0,3
0,6
ou
1,2
Aplicao
- TC padro
- Calibrao de TC
- Medies em laboratrio
- Medies especiais
- Medies de energia eltrica para faturamento a consumidor
- Medio de energia eltrica sem finalidade de faturamento
- Alimentao de rels
- Alimentao de instrumentos de controle (voltmetro,
wattmetro, freqencmetro etc.)
55
Entretanto, ressalta-se que, do ponto de vista metrolgico, os mtodos

tradicionais de calibrao dos transformadores de corrente somente prevm a
calibrao da corrente no estado permanente e com a forma de onda puramente
senoidal. Esse tipo de calibrao no completamente suficiente do ponto de vista
de confiabilidade metrolgica quando a utilizao do transformador de corrente for
para a medio de curto-circuito. No ensaio de curto-circuito o transformador de
corrente utilizado para medies de corrente no perodo transitrio e a corrente de
ensaio geralmente tem uma assimetria. Essa assimetria ocorre devido presena de
uma componente unidirecional com decremento exponencial causada tanto pela
impedncia reativa como pelo momento do estabelecimento do curto [21].
Diversos laboratrios de ensaios de curto-circuito utilizam o transformador de
corrente. Entretanto, as normas relativas a ensaios de curto-circuito alertam sobre
os problemas que podem acontecer nessas medies. Precaues devem ser
tomadas para eliminar os erros na medio da corrente e no clculo do fator de
potncia devidos a:
influncia da constante de tempo do transformador e sua carga em relao

do circuito primrio;
saturao do ncleo, que pode ocorrer devido a condies transitrias do

fluxo, combinada com possvel remanncia [9].
O princpio de funcionamento do transformador de corrente j est muito bem

difundido [29] [30] [34]. Na referncia [39], Anlise de Transformadores de Corrente
para Medio, a autora faz uma anlise bastante abrangente, detalhando a teoria e
a normatizao dos TC do tipo medio. Essa referncia aborda os aspectos
construtivos, os tipos de TC existentes, os erros de medio e a compensao
desses erros. O trabalho apresenta um programa computacional de simulao, que
56
foi desenvolvido com base nas equaes para o clculo do erro. O objetivo do
programa analisar o comportamento dos TC existentes ou a serem projetados, a
partir do tipo de material, da dimenso do ncleo e do tipo de enrolamento, definindo
parmetros fundamentais de construo, experimentando vrias alternativas e
minimizando erros.
3.2.1.1 Anlise terica do transformador de corrente

O modelo completo do transformador pode ser representado conforme a
figura 3.8. No presente trabalho so abordados somente os aspectos relevantes que
influenciam na confiabilidade no ensaio de curto-circuito.
Legenda:
e1 tenso no primrio do TC (TC ideal)
n relao do TC
e2 tenso no secundrio do TC (TC ideal)
n1 nmero de voltas do enrolamento
i1 corrente no primrio do TC
secundrio
ia corrente de perdas do circuito de
R1 resistncia do enrolamento primrio
magntico
R2 resistncia do enrolamento secundrio
ie corrente de excitao
V1 tenso no primrio do TC (TC real)
im corrente de magnetizao
V2 tenso no secundrio do TC (TC real) n2
l1 indutncia do enrolamento primrio
nmero de voltas do enrolamento primrio
l2 indutncia do enrolamento secundrio
Z impedncia da carga ligada no TC
Figura 3.8 Modelo do transformador de corrente [34]
57
No transformador, a transferncia de energia de um enrolamento a outro se

d por estabelecimento da fem (fora eletromotriz) que induz o fluxo . [34]
Para manter o fluxo magntico no ncleo, precisa-se de uma corrente Ia,
que ir provocar perdas no ncleo. Ia representa as correntes de perda no circuito
magntico (perdas no ferro provenientes da histerese e das correntes de Foucault).
A presena da corrente Ia faz aparecer uma corrente Im (em quadratura com o
fluxo). I m a corrente de magnetizao que assegura o processo de transferncia.
Essas duas correntes, em conjunto com a corrente de excitao Ie, formam o
tringulo de correntes, [34]
Sendo assim, a presena de Ie vai resultar numa diferena entre I1/n e I 2, tanto
na amplitude (I), como no defasamento (). O valor da diferena das correntes I
relacionado ao valor da corrente primria, chama-se erro de relao (), enquanto o
defasamento () chama-se erro de fase de um TC. [34]
O erro de relao, (), para uma corrente primria I1 e uma carga secundria
Z2 a diferena entre o valor real, I 2, e o valor esperado para a corrente secundria,
I1/Kn, referida em percentagem em relao corrente esperada (Kn a razo de
transformao nominal). Este erro depender da carga e da corrente no circuito
principal.
O erro de relao para TC definido por [32]:
R =
K N I 2 I1
I1
Onde:
R erro de relao do TC
Kn razo de transformao nominal
I1 e I2 correntes respectivamente do primrio e secundrio do TC
(3.9)
58
O erro de fase ou erro de ngulo, (), o ngulo da diferena de fase entre as

correntes primria e secundria, medindo-se, normalmente, em minutos.
Com base nesses erros, definem-se classes de exatido que indicam o erro
mximo admissvel que o transformador poder apresentar, com carga nominal.
O principal problema na confiabilidade da medio com o TC no ensaio de
curto-circuito est relacionado com a componente unidirecional das correntes de
curto-circuito e sua reproduo nos secundrios dos TC [21].
Nos ensaios que envolvem a presena da componente unidirecional
superposta corrente simtrica (corrente assimtrica) pode saturar o TC com uma
corrente bem menor que uma corrente puramente simtrica (Figura 3.9) [40].
Corrente sem assimetria
Corrente com muita assimetria
Figura 3.9 Ensaio real de curto-circuito
A corrente simtrica com a presena da componente unidirecional flui atravs

do enrolamento primrio do TC. Um grande acrscimo do fluxo no ncleo criado por
essa componente unidirecional pode levar o TC saturao se as propriedades
fsicas do ncleo no puderem acomodar os altos valores desse fluxo. Essa
saturao causa distoro no sinal de corrente obtido [41] [42].
Durante o ensaio de curto-circuito tem-se, resumidamente, o circuito
equivalente mostrado na figura 3.10:
59
Legenda:
L indutncia equivalente do ensaio
R resistncia equivalente do ensaio
v(t) tenso de ensaio
Figura 3.10 Circuito equivalente (situao curto-circuito) para ensaio de curto-circuito
A equao que descreve este circuito da figura 3.10 :

Vm sen (t + ) = Ri (t ) + L
di (t )
dt
(3.10)
Onde:
Vm valor da amplitude da tenso
= 2f e f freqncia eltrica da rede (Hz)
ngulo de estabelecimento do ensaio
R resistncia equivalente do circuito
i(t) = valor instantneo da corrente de curto-circuito
L indutncia equivalente do circuito
Na forma transitria, a soluo da equao (3.10) [5] [21] [43] [44]:
i (t ) = I m sen (t + ) I m e sen ( )
(3.11)
Onde:
i(t) valor instantneo da corrente de curto-circuito
Im valor da amplitude da corrente de curto-circuito
= 2f e f freqncia eltrica da rede (Hz)
ngulo de estabelecimento do ensaio
L
= tan 1
ngulo de defassagem entre a tenso e a corrente
R
t tempo
constante de tempo =
L
R
60
Da equao (3.11), conclui-se que a primeira parte reflete a

componente alternada e a segunda parte, a componente contnua da corrente de
ensaio.
A amplitude da componente DC (unidirecional) depende do instante da
aplicao da tenso definida pelo ngulo , assim como pelo ngulo de defasagem
entre a tenso e a corrente. Quando (=), a componente DC igual a zero e
quando (=0) tem-se a mxima assimetria [5] [21] [43] [44].
Nota-se que quando L>>R, que uma situao real e comum de ocorrncia
de curto-circuito, tem-se 90 e:
se =90, ou seja o estabelecimento executado no pico de tenso, tem-se
I m e sen ( ) = 0, ou seja, a corrente de curto-circuito seria puramente

alternada.
No outro extremo, se =0, ou seja o estabelecimento no zero de tenso,
tem-se I m e sen( ) = I m e . Neste caso a corrente de curto-circuito

teria a mxima assimetria [5] [21] [43] [44].
Portanto para (), o TC ir medir uma corrente alternada e uma
componente unidirecional que ir criar um fluxo CC no ncleo adicionado ao fluxo
CA. O Fluxo CC ir subir e decair segundo uma funo exponencial. A subida
principalmente determinada pela constante de tempo do circuito de ensaio, e o
decaimento pela constante de tempo do transformador de corrente [21].
- constante de tempo do circuito =
L
R
TC - constante de tempo do TC = =
L0
R
61
L0 - indutncia do enrolamento secundrio

R resistncia do circuito secundrio (carga + enrolamento)
A relao entre o mximo fluxo CC e o fluxo CA o fator transitrio kT [21].

kT =
V ( cos 2 sen 2 )
V
(3.12)
Onde:
kT fator transitrio
2 ngulo de defasamento
Assim, para uma carga puramente resistiva, com cos2 = 1,0, tem-se kT =
e considerando = 100 ms tem-se kT = 31,4.
Isto significa que o fluxo CC 31,4 vezes o fluxo CA. Pode-se concluir que
para ser capaz de reproduzir a corrente de curto-circuito completa sem saturao, a
seo do ncleo dever ser 31,4 vezes maior que um transformador utilizado
somente para corrente simtrica [21]. (e)
No TC utilizado para ensaio de curto-circuito deve-se levado em conta esse
fator, pois erros podem ocorrer, principalmente em relao medio da corrente de
crista no caso do curto-circuito assimtrico [21].
Os erros do TC so influenciados pela variao da carga e a variao da
corrente aplicada no TC. O detalhamento desses erros pode ser encontrado
facilmente na literatura. Adicionalmente, trs outros fatores determinam o
desempenho do transformador de corrente [21]:
N2 nmero das espiras do enrolamento secundrio
(e)
- No foi encontrada em nenhuma bibliografia adicional a frmula (3.12) e seu embasamento

terico. Porm, por se tratar de uma referncia confivel, utilizou-se a importante concluso, para o
ensaio de curto-circuito, que o ncleo dever ser no mnimo 31,4 vezes maior que um transformador
utilizado somente para corrente simtrica.
62
Bm induo magntica mxima do ncleo (densidade do fluxo)

A rea da seo transversal
E se inter-relacionam atravs da frmula da tenso induzida:
E = 4,44 f N 2 Bm A , em V (eficaz)
(3.13)
Onde:
f freqncia da rede eltrica
Este relacionamento pode ser encontrado em detalhes nas referncias [29]
[39]. Na referncia [39] a autora conclui que um TC de alta exatido deve:
ter um ncleo de forma toroidal;
ter relativamente alta excitao;
o ncleo construdo de ferro de alta permeabilidade.
As principais vantagens na utilizao do TC so: o baixo custo, a isolao

galvnica, a elevada confiabilidade e a facilidade na aplicao. Como desvantagens,
tem-se: o problema de saturao e o fluxo residual [40]:
Baseado nas referncias [7] [21] [28] [29] [30] [34] [39], a escolha de um
transformador de corrente deve-se ater aos seguintes detalhes:
determinao do nvel de isolamento normatizado e do tipo de

construo, conforme a instalao a que se destina o transformador;
escolha da relao de transformao nominal. Optar pelo transformador

de corrente com a menor relao de transformao possvel;
escolha da classe de exatido;
determinao da potncia nominal necessria (dependente dos

instrumentos a conectar no secundrio, por exemplo);
verificar a resistncia aos esforos dinmicos.
63
3.2.1.2 Ensaios experimentais IEE-USP

Conforme exposto no captulo 4 da referncia [21], Medio de Altas
Correntes em Freqncia Industrial: Instrumentao, Dispositivos de Medio e
Calibraes, foram executados ensaios experimentais, comparativos de correntes
de curto-circuito na freqncia industrial na faixa de (4.000 a 20.000) A. Os ensaios
foram realizados no laboratrio da USP-IEE. O objetivo destes ensaios foi verificar
os fatores que influenciam na exatido dos transformadores de corrente para
medio do tipo janela(f). Foram avaliadas as seguintes situaes:
a influncia do modo de passagem dos cabos pela janela dos TC em

diversas configuraes conforme mostrado na figura 3.11.
Modos de passagem de corrente
o Condutores
centro
passando
o Condutores
centro
passando
fora
o Condutores
forma de U
passando
em
o Condutores
forma de S
passando
em
Vista Lateral
no
o Condutores passando pela

janela de forma no perpendicular
ao plano da janela
Figura 3.11 Influncia do modo de passagem dos cabos
(f)
- Classificao de acordo o tipo de construo do TC [32].
Vista Frontal
64
a influncia da proximidade dos transformadores de corrente em relao
aos condutores do ensaio de altas correntes;
a influncia do material da base dos transformadores;

o Material ferromagntico;
o Material no ferromagntico.
as influncias dos altos campos magnticos envolvidos nas correntes de

curto-circuito sobre os sistemas de medies, ou seja, as influncias
devido s indues nos cabos secundrios dos transformadores.
Como resumo da concluso do captulo 4 da referncia [21], os resultados

prticos mostraram a diferena entre os valores obtidos de corrente foram pouco
significativos para os diferentes modos de passagem de corrente e para diferentes
tipos de ncleo. Porm, quando se aproximam entre os cabos das fases e
conseqentemente
aproxima-se
um
transformador
do
outro,
encontram-se
diferenas na medio de corrente na ordem de (3 a 6) % para ensaios de curtocircuito de at 20.000 A. Est diferena deve-se influncia dos elevados campos
magnticos presentes nesses ensaios [21].
3.2.2 Derivadores resistivos - shunts

O derivador resistivo (shunt) um transdutor de corrente cujo princpio de
funcionamento consiste na obteno de uma queda de tenso em um elemento
resistivo em srie, de forma proporcional corrente que circula no circuito principal
[5] [45] (Figura 3.12)
O derivador resistivo tem o melhor custo-benefcio diante dos demais
transdutores. Esse transdutor pode ser utilizado para medir correntes alternadas e
65
contnuas, porm no normalmente adequado para medies na faixa de MHz

[46].
Legenda:
(a) um elemento
(b) vrios elementos
(c) em forma de grampo de cabelo (Hairpin)
Figura 3.12 Tipos de derivadores resistivos (shunt) [45]
Na prtica, o derivador resistivo composto de uma resistncia e uma

indutncia intrnseca, os quais limitam a exatido e a largura de banda [46]. Em altas
freqncias, o valor da resistncia pode ser diferente se comparado com medies
utilizando corrente contnua devido aos efeitos skin e de proximidade. Um cuidado
especial deve ser tomado para minimizar tais efeitos [46]. Para uma aplicao,
descrita na referncia Coaxial shunt intended for transient current measurement in a
pseudospark switch [47], foi desenvolvido um sensor derivador resistivo coaxial
especial com largura de banda de 200 MHz e faixa de medio de (0 a 924) A. A
66
taxa de variao de corrente (slew rate) desse derivador da ordem de 1011 A/s
[47].
O derivador resistivo tem sido largamente usado nos sistemas de potncia
para medir altas correntes CA e CC. Dependendo da aplicao pode-se utilizar para
medio desde poucos ampres at milhares de ampres [48] [49].
Haja vista o derivador resistivo ser desprovido de isolao galvnica,
algumas tcnicas adicionais podem ser necessrias para proteger o sistema de
medio [46].
Geralmente, os derivadores resistivos possuem uma baixa resistncia, um
baixo coeficiente de variao com a temperatura e o material utilizado na sua
construo deve ser no-magntico. Os materiais tipicamente utilizados so ligas de
nquel, prata, manganina, zeranina e constantan [46] [49] [50] [51].
O derivador resistivo deve ter uma capacidade trmica necessria para
conduzir as correntes eltricas sem que o aquecimento afete o valor da resistncia e
conseqentemente a mudana no valor da queda de tenso [45]. Geralmente a
dissipao trmica limita a mxima corrente do derivador resistivo [49]. Esse
transdutor deve ter uma suportabilidade mecnica para os esforos produzidos pelas
altas correntes [21] [45].
A utilizao de terminais Kelvin nas medies utilizando os derivadores
resistivos so comum, visando melhorar a exatido das medies [46].
O projeto do derivador resistivo requer cuidados especiais [48]:
o derivador resistivo deve ter uma baixa resistncia, para manter a

dissipao de potncia em um valor mnimo e uma baixa indutncia para
alcanar uma grande largura de banda e manter uma baixa insero de
impedncia (retroao) em altas freqncias;
67
o efeito pelicular (skin) influencia na resposta dos derivadores resistivos,

especialmente quando condutores de grandes seces so usados para
reduzir a impedncia. A concentrao das correntes em altas freqncias
na superfcie do elemento resistivo altera sua impedncia. Para correntes
transitrias, o efeito similar. A difuso do fluxo da corrente ir iniciar na
superfcie tendendo, na situao de regime, a fluir por toda a seco do
condutor;
a amplitude da sada de tenso obtida para uma baixa resistncia

tipicamente muito pequena. As grandes correntes circulando no circuito
principal podem gerar rudos na medio. A medio dessa tenso requer
a utilizao de cabos de conexo com o elemento resistivo formando um
lao (loop) magntico entre o circuito de medio e o elemento resistivo.
O elemento resistivo derivador da ordem de miliohm e o valor da tenso

induzida devido ao acoplamento do fluxo entre o circuito de medio e o circuito de
potncia introduz uma interferncia na medio conforme mostrado na figura 3.13
[50].
Legenda:
1
Legenda:
fluxo compreendido pelo lao de
medida
2 fluxo no compreendido pelo lao de
medida
L(1) indutncia intrnseca do derivador resistivo

L(2) indutncia intrnseca do cabo de potncia
R resistncia do derivador resistivo
Vm tenso na sada do derivador resistivo
Figura 3.13 Fluxo no derivador resistivo [50]
68
Conforme mostrado na figura 3.13, o fluxo total (), compreendido pela

conexo com sistema de medio com sistema de potncia dado por:
= 1 + 2
(3.14)
Onde:
Fluxo total
1 Fluxo compreendido pelo lao (loop) de medida
2 Fluxo no compreendido pelo lao (loop) de medida
Contudo, na estrutura fsica do derivador resistivo h uma indutncia

intrnseca. Portanto, baseado nas na figura 3.13, tem-se a seguinte equao:
Vm (t ) = I (t ) R +
d1
dt
(3.15)
Onde:
Vm(t) tenso na sada do derivador resistivo
I(t) corrente que circula no derivador
1 fluxo compreendido pelo lao (loop) de medida
Em termos da indutncia, L(1) tem-se:
Vm (t ) = I (t ) R + L (1 )
dI (t )
dt
Onde:
Vm(t) tenso na sada do derivador resistivo
I(t) corrente que circula no derivador
L(1) indutncia intrnseca do derivador resistivo
(3.16)
69
O desempenho de um derivador resistivo est intimamente ligado a sua

estrutura fsica. O projeto do derivador resistivo deve criar uma regio de baixo
campo magntico para minimizar o rudo da medio [50]. A construo de
derivadores na forma coaxial, figura 3.14, mostra-se vantajoso em relao aos
derivadores resistivos apresentado na figura 3.12 [7] [48].
Figura 3.14 Derivador resistivo coaxial [50]
O derivador de corrente coaxial realizado ajustando dois tubos resistivos de

forma coaxial que transportam corrente em direes opostas, conforme mostrado
nas figuras 3.14 e 3.15 [48]. O tubo interno feito de material resistivo e quando o
conector de medio ligado ao sensor no h acoplamento de fluxo; 1 = 0. Os
terminais de sada para a medio esto em um ambiente livre de campo magntico,
pois:
H .dl = 0
(3.17)
Onde:
H intensidade do campo magntico
Conseqentemente, no h nenhuma influncia do campo magntico [5].
Medidas exatas de correntes transientes durante os ensaios em altas
correntes podem ser obtidas com os derivadores de corrente coaxiais. Com os
derivadores podem-se medir correntes desde ampres at quiloampres, com uma
largura de banda desde corrente contnua at megahertz. [5]
70
Figura 3.15 Corte transversal do derivador resistivo coaxial
O derivador coaxial oferece diversas vantagens:
tem uma tenso relativamente alta na sada;
tem uma impedncia baixa na entrada;
no afetado por campos magnticos externos ou oriundos do

sistema de potncia;
capaz de medir correntes desde contnua at aquelas com

freqncia de megahertz.
So desvantagens do derivador coaxial os fatos de ele ter que ser conectado

diretamente no circuito primrio e dever ser montado com um dos seus terminais no
potencial de terra [5].
Uma tenso de sada alta e boa resposta em alta freqncia so requisitos,
conflitantes no projeto do derivador de corrente coaxial. Para uma tenso de sada
alta, precisa-se de um tubo resistivo (elemento resistivo) com alta resistividade. Isto
significa menos cobre e a indutncia do tubo resistivo ter um papel mais dominante.
Mais cobre,
aumenta a largura de banda (e tambm a dissipao trmica e a
resistncia mecnica). Porm, para reduzir a influncia dos efeitos da alta

freqncia, como o efeito de pelicular (skin), um tubo resistivo com parede fina
requerido.[5]
71
Geralmente os derivadores de corrente, com uma maior largura de banda so

desenvolvidos em forma coaxial [46].
Os derivadores resistivos coaxiais esto disponveis comercialmente em
forma cilndrica com grandes dimenses e so bastante imunes a interferncias e
rudos e tm uma resposta rpida (medidas de corrente 5000 A com 20 ns de tempo
de subida - rise time) [46].
Uma das caractersticas importantes no derivador resistivo coaxial o atraso
no tempo de resposta ao degrau. Este tempo de atraso geralmente pequeno
(alguns nanosegundos) e pode ser tolerado na maioria das aplicaes [5] [50] [52]. A
largura de banda do derivador resistivo coaxial determinada atravs da medida do
tempo de subida aps a aplicao da forma de onda do degrau de corrente. A partir
da forma de onda transitria da resposta do sinal, pode-se medir o tempo de subida.
O tempo de subida medido entre (10 e 90)% da amplitude do sinal de resposta
(Figura 3.16)(g) [5].
Figura 3.16 Forma de onda tpica de resposta ao degrau do derivador coaxial
(g)
- A referncia [53] informa que valor 90% pode ser medido levando-se em considerao a primeira
amplitude (overshoot) ou a amplitude em regime. Pode ser utilizado tambm como referncia da
amplitude os valores (5 e 95)% para obteno do tempo de subida (rise time).
72
A largura de banda pode ser facilmente calculada com a seguinte frmula [5]:
LB =
0,35
MHz
tempo de subida
(3.18)
Onde:
LB largura de banda (Bandwidth)
3.2.3 Bobina de Rogowski
O princpio de medio de corrente atravs da bobina de Rogowski
conhecido desde 1912. H uma vasta literatura sobre o assunto, incluindo diversas
aplicaes do referido transdutor na indstria e em pesquisas.
Legenda:
C capacitncia do integrador
R resistncia do integrador
e(t) tenso eltrica gerada pela induo na bobina
Vout tenso de sada do integrador
i(t) corrente eltrica no interior da bobina (mensurando)

Figura 3.17 Princpio de funcionamento da bobina de Rogowski
A bobina de Rogowski um enrolamento que est uniformemente distribudo

sobre um ncleo toroidal no magntico. O seu funcionamento consiste no fato de
que,
ao se passar uma corrente, em um condutor, no interior dessa bobina,
73
induzida uma tenso proporcional indutncia mtua M e variao no tempo da

corrente
di
[54], [55] e [56], que dada por:
dt
e( t ) = M
di (t )
dt
(3.19)
Onde:
e(t) tenso eltrica induzida na bobina
M indutncia mtua
I(t) corrente eltrica no interior da bobina
A corrente obtida:
i (t ) =
di (t ) 1
= e(t ) dt
dt
M
(3.20)
Portanto, para obteno da corrente necessrio um integrador que pode ser

eltrico ou eletrnico, ou ainda ser obtido atravs de integrao numrica em um
programa de computador aps digitalizao da tenso de sada e(t) (Figura 3.17).
Para se obter uma melhor exatido nas medidas, os seguintes requisitos de
projeto devem ser aplicados na fabricao das bobinas de Rogowski:
densidade de bobinagem constante;
seo transversal da bobina constante;
seo transversal do enrolamento da bobina perpendicular linha

central.
O trabalho Machinable Rogowski Coil, Design, and Calibration [54] de John D.

Ramboz serve de uma tima base terica para quem deseja construir uma bobina de
Rogowski.
74
As medies utilizando as bobinas de Rogowski, nos ensaios de curtoscircuitos tm certas vantagens, conforme informado nas referncias [21], [54], [55],
[56] e [57]. Na seqncia so apresentadas as principais vantagens relatadas por
tais referncias.
As bobinas de Rogowski em geral tm erro mximo entre (1 e 3)%, porm
podem ser projetadas para terem erro mximo melhor que 0,1%. Testes
comparando bobinas comerciais e bobinas feitas com construo e materiais
especiais mostraram que valores de incertezas podem ser atenuados em mais de
dez vezes. Possui uma ampla faixa de medio podendo medir correntes desde
ampres at centenas de quiloampres. A bobina de Rogowski no permite medir
correntes contnuas mas, ao contrrio dos transformadores de correntes, ela permite
medir correntes com boa exatido quando uma alta componente contnua est
presente, pois no h ncleo de ferromagntico para saturar. Nas medies de altas
correntes, este aspecto muito importante tornando o uso da bobina de Rogowski
muito mais atraente que o uso de transformadores de corrente.
Devido ao fato de que o ncleo da bobina ser de material no ferromagntico,
no h saturao. Isto resulta em um dispositivo extremamente linear em amplitude.
A importncia dessa linearidade que a bobina pode ser calibrada em correntes
mdias (alguns quiloampres ou menos) e ser utilizada com certo grau de
confiabilidade em altas correntes (centenas de quiloampres). Esse procedimento
bastante relevante em funo do elevado custo das calibraes e por serem
enormes as dificuldades atuais de se obter rastreabilidade metrolgica a partir de
dezenas de quiloampres como visto no item 2.5.
75
Outras caractersticas incluem sua capacidade de utilizao em uma ampla

faixa de freqncia de (50 a 1M) Hz, elevada faixa de medio para corrente
simtrica maior que 100 kA sem problemas de esforos mecnicos ou trmicos.
Dependendo dos requisitos de aplicao, podem ser utilizadas bobinas de
Rogowski flexveis ou rgidas (Figura 3.18).
Rgida
Flexvel
Figura 3.18 Bobina de Rogowski rgida e flexvel
As bobinas podem ser fabricadas em pequenas dimenses o que permite

medidas de correntes em reas restritas onde outros dispositivos no podem ser
usados.
As bobinas de Rogowski so geralmente consideradas lineares em funo da
corrente, independente da sua amplitude. O principal argumento para esta afirmao
est no fato de que a bobina constituda por elementos que so conhecidos (ou
considerados) como sendo de amplitude linear em termos da intensidade do campo
magntico. Em geral esta considerao tem credibilidade cientfica e uma grande
aceitao nas comunidades de engenharia e instrumentao. Entretanto, efeitos de
no linearidades desconhecidos e no usuais podem existir nos materiais com os
quais a bobina geralmente construda [57]. A figura 3.19 mostra um exemplo de
76
linearidade de um circuito integrado ADE7759(h) utilizado com uma bobina de

Rogowski de atenuao 1000:1. Essa figura demonstra um erro de linearidade
inferior a 0,1% na faixa de medio de corrente com baixos valores (0 a 100) A [56].
Legenda:
FP fator
potncia
de
Ta temperatura
ambiente
Figura 3.19 Exemplo de linearidade de uma bobina de Rogowski
A referncia The verification of Rogowski coil linearity from 200 A to greater

than 100 kA using ratio methods [57], descreve um mtodo conhecido como boot
strapping para verificar a linearidade da bobina de Rogowski. A faixa de medio
verificada foi de (12,5 a 100) kA. No processo de medio foram utilizadas trs
bobinas de Rogowski. Os resultados obtidos foram a determinao da linearidade
em trs faixas de medio (12,5 a 25) kA, (25 a 50) kA e (50 a 100) kA. O erro de
linearidade ficou menor que 1%. Diferentemente do abordado na figura 3.19, o erro
de linearidade foi obtido para elevadas amplitudes de corrente.
Semelhante aos transformadores de corrente, as bobinas Rogowski tambm
so isoladas galvanicamente do circuito de potncia. Quanto ao acoplamento com o
circuito de medio, as bobinas de Rogowski podem ser usadas sem afetar esses
circuitos, devido a sua impedncia ser baixa. A bobina pode ser acoplada
(h)
- Esse componente eletrnico da Analog Devices tem, dentre suas funes, um integrador digital.
O sinal gerado pela bobina de Rogowski precisa de um circuito integrador para obteno da corrente.
[56].
77
diretamente a dispositivos como voltmetros, osciloscpios, registradores de

transitrios (oscilgrafos) e sistema de aquisio de dados.
Geralmente, o custo de produo das bobinas de Rogowski inferior ao dos
outros transdutores.
3.2.4 Transdutores de corrente por efeito Hall

O princpio bsico do efeito Hall consiste em uma corrente fluindo atravs de
uma placa onde se tem a presena de um campo magntico B transverso, produzir
uma fora de Lorentz que ir deslocar os eltrons em uma direo perpendicular a
ambos, corrente Ia e campo magntico B. O deslocamento destes eltrons gera uma
fora eletromotriz entre os dois terminais a e b, denominada tenso Hall, VH (Figura
3.20).
Legenda:
B densidade de fluxo magntico
d espessura da placa
Ia corrente fluindo na placa
VH tenso Hall
Figura 3.20 Efeito Hall [26]
A tenso Hall proporcional ao produto da corrente I a pela densidade de fluxo

magntico B e inversamente proporcional espessura da placa d [26].
VH = K
B.I a
d
Onde:
Ia corrente fluindo na placa
B densidade de fluxo magntico
d espessura da placa
VH tenso Hall
(3.21)
78
constante do material geralmente referido como constante ou
coeficiente Hall [26].

Uma completa anlise terica sobre o efeito Hall pode ser encontrada na
referncia Hall Effect Sensing and Application [58].
O efeito Hall est presente em todos os materiais. Mas ele s tem aplicao
em alguns, em que a mobilidade dos eltrons excepcionalmente alta. O arseneto
de glio (GaAs) um bom exemplo desses materiais [59].
A figura 3.21 mostra um sensor de efeito Hall genrico envolto por circuito
concentrador do campo magntico. Os concentradores de campos magnticos so
de ferrite, ao-silcio ou outro material ferromagntico com forma de ncleo com uma
abertura pequena (entreferro) para inserir o sensor Hall [26] [58] [60].
Legenda:
distncia do entreferro
E fonte de tenso CC
H intensidade do campo magntico
i0(t) corrente a ser medida
Ia corrente CC
Rv resistncia de limitao de corrente
Figura 3.21 Dispositivo de corrente por efeito Hall [26]
Na figura 3.21, tem-se somente um condutor, onde circula a corrente io(t).

Com o mesmo condutor, porm com vrias voltas em torno do concentrador
magntico, pode-se obter uma maior sensibilidade do sensor Hall [60].
A tenso Hall um sinal de pequena amplitude, da ordem de (20 a 30) V,
em um campo magntico de 1 gauss. Um sinal dessa magnitude requer um
79
amplificador com caractersticas de alta impedncia de entrada, baixo rudo e ganho

considervel [58].
Esses transdutores tm uma boa exatido. As aplicaes desses transdutores
incluem controle de freqncia rotacional de motor, fontes de potncia e protees
de sobre correntes [61].
Os transdutores de corrente por efeito Hall so capazes de medir
correntes contnuas, alternadas e formas de ondas complexas. So isolados
galvanicamente do circuito principal. As principais vantagens so: baixo consumo,
pequeno tamanho e peso. Os efeitos de insero (retroao) so, em geral,
desprezveis e as sobrecorrentes e os transientes de alta tenso no chegam a
causar danos no circuito de medio [26] [58] [62] [63].
Existem basicamente dois tipos de sensores, sem realimentao (open loop)
e com realimentao (close loop) [26] [61].
3.2.4.1 Sensor efeito Hall sem realimentao

Um condutor conduzindo corrente passa atravs da abertura do toride e
produz um campo magntico proporcional a essa. O toride concentra o campo
magntico sobre o elemento Hall, cuja tenso de sada amplificada. A linearidade
dessa configurao depende essencialmente das caractersticas do material
magntico do toride e da qualidade do sensor Hall [58].
A caracterstica de resposta passa a se afastar fortemente da linearidade
medida em que o ncleo vai saturando [61]. A figura 3.22 mostra uma curva que
caracteriza o comportamento do sensor de efeito Hall. Para valores de campo
magntico alm de uma faixa de medio, o erro de linearidade compromete a
exatido da medio, porm sem causar danos ao transdutor [58].
80
Figura 3.22 Sada do transdutor de efeito Hall
Na prtica, conforme mostrado na figura 3.22, quando a corrente a ser

medida zero, a tenso de sada vale a metade da tenso de alimentao. A faixa
de sada da tenso contnua varia de (25 a 75)% da tenso contnua de alimentao
(0.25 V < Vsaida < 0.75 V), onde o zero de corrente 0.5 V [58].
Estes transdutores de corrente devem ser usados prximos ao mximo da
faixa de medio. Isso minimiza erros devidos a rudos e a no linearidade [58] [62].
O sensor de efeito Hall est sujeito deriva (drift) com a mudana de
temperatura. Sensores com (0,02 a 0,05)%/C so comuns. Uma tpica
caracterstica do sensor mostrada na tabela 3.3 [58].
Tabela 3.3 Caracterstica de um sensor de efeito Hall tpico
Tenso de
alimentao
Ventrada
(V)
6 a 12
Corrente
fornecida
Mxima
(A)
20
Tenso de
Offset
(V 2%)
Deriva trmica
Offset Shift
(% / C)
Tempo de
Resposta
(s)
Ventrada/2
0,02
3.2.4.2 Sensor efeito Hall com realimentao

A diferena em relao ao sem realimentao que a sada do elemento Hall
(devidamente amplificada) passa por uma bobina enrolada sobre o prprio toride,
81
de forma a produzir um campo magntico igual em mdulo, porm oposto ao original

(Figura 3.23) [58] [61] [62].
Isso garante que o fluxo atravs do toride ser sempre prximo de zero. A
sada do transdutor um sinal de corrente I s, que pode ser convertido para tenso
Vm conectando-se um resistor de carga Rm. Essa tcnica traz significativas melhorias
no desempenho do transdutor, eliminando quase totalmente os efeitos da nolinearidade do ncleo magntico [58].
Legenda:
Ip corrente a ser mensurada (primrio)
Is corrente secundria (sada)
Np nmero de voltas no primrio (normalmente igual a 1)
Ns nmero de voltas no secundrio
VHall erro do sinal produzido pelo

sensor Hall
Vm tenso de sada
Rm carga ou resistor de shunt
usualmente (1000 a 5000) voltas

Figura 3.23 Construo de um sensor de corrente por efeito Hall com realimentao [58]
Na utilizao do sensor de efeito Hall em malha fechada, obtm-se muitas

caractersticas desejveis. O sistema de realimentao (Figura 3.24) muito rpido;
tipicamente menor que 1 s. A largura de banda de freqncia tipicamente da
ordem de 100 kHz. Obtm-se elevadas exatides com linearidade melhor que 0,1%.
82
Alm de possibilitar medies com alta exatido, essa independe do ncleo e do

sensor Hall [58] [59] [62] [63].
Uma proposta de linearizao terica, com resultados prticos comprovando
a proposta pode ser encontrado na referncia A linearization Method for Commercial
Hall-Effect Current Transducers [62]. Esse artigo prope um mtodo simples para
reduo do erro de linearidade e a calibrao automtica do ganho nos transdutores
de corrente por efeito Hall com realimentao.
Legenda:
Ip corrente a ser mensurada (primrio)
Is corrente secundria (sada)
Np nmero de voltas no primrio
(normalmente igual a 1)
Ns nmero de voltas no secundrio

VHall erro do sinal produzido pelo
sensor Hall
Figura 3.24 Diagrama de blocos mostrando a realimentao [58]
Todas essas especificaes excedem o que possvel usando o sem

realimentao. O alto custo, grandes dimenses e o maior consumo de energia
fazem com que o sensor de efeito Hall com realimentao, seja utilizado em
aplicaes que requerem exatido e resposta em alta freqncia [58].
Na prtica, a sada de corrente no exatamente zero quando a corrente
primria I p zero (Figura 3.23). H um pequeno fluxo de corrente proveniente do
83
amplificador operacional e do sensor de efeito Hall. Essa corrente tipicamente

menor 0,2 mA. Uma distoro indesejvel pode ocorrer se o circuito magntico
ficar magnetizado por um alto valor de corrente contnua. H, ainda, uma deriva de
temperatura causada pelo amplificador operacional e pelo sensor de efeito Hall. O
erro total de offset tpico pode chegar a 0,35 mA [58]. Esse erro pode ser
significativo para pequenos valores de corrente a medir (i).
Em resumo, apresentado na tabela 3.4 a comparao entre os sensores de
corrente por efeito Hall com e sem realimentao [25] [26] [58] [59] [60] [61] [62] [63]:
Tabela 3.4 Comparao efeito Hall com e sem realimentao
Caractersticas
Realimentao com resposta rpida
Possvel compensar ou remover as
fontes de erro
Exatido
Linearidade
Erro de zero, histerese magntica,
drift de temperatura
Efeito Hall
sem realimentao
No
Efeito Hall
com realimentao
Sim
No
Sim
Pior
Pior
Melhor
Melhor
No pode ser melhorado
Consumo
Menor
Tamanho
Custo
Menor
Mais barato
Pode ser melhorado

Maior consumo de corrente
da fonte secundria (ao qual
deve prover a compensao,
assim como de medida)
Maior
Mais caro
Para altas freqncias ou rpidos pulsos, o rudo de tenso induzido afeta a

tenso Hall. Isto acontece devido ao efeito pelicular (skin) e o lao de indutncia
residual dos cabos [26].
3.2.5
Comparativo entre os sistemas de medio de corrente

A comparao dos medidores de corrente foram baseadas nas bibliografias
citadas em cada item de 3.2.1 a 3.2.4. Em especial destaca-se o texto An Overview
(i)
- Um exemplo retirado da referncia [26], onde o fabricante fornece os seguintes dados: o sensor
CSNK591 cuja a faixa de edio de 1200 A, tem o erro mximo de corrente devido ao offset de
0,2 mA e erro mximo devido a deriva de temperatura de 0,3 mA. A sua corrente de sada nominal
de 100 mA. O erro mximo admissvel para o transdutor de 0,5%.
84
of Integratable Current Sensor Technologies [46], que descreve sobre todos os

transdutores de correntes abordados no item 3.2. Essa referncia aborda
separadamente cada tecnologia demonstrando suas respectivas vantagens e
limitaes. Levou-se em considerao os dispositivos de medio de corrente para
elevadas correntes, nas faixas de quiloampres e freqncia de (50 ou 60) Hz.
apresentada na tabela 3.5 a comparao entre os transdutores utilizados
nos ensaios de curto-circuito.
Tabela 3.5 Comparao entre os transdutores de correntes mais comumente utilizados no
ensaio de curto-circuito
Caracterstica
Erro mximo tpico (especial)
Ampla faixa de medio
Faixa de freqncia (largura de
banda)
Medio de corrente contnua
Sinal de sada
Erro de fase (tpico)
Operao com sada em aberto
Capacidade de medio de altas
correntes
Flexibilidade quanto ao tamanho e
peso (facilidade de instalao)
Problemas de saturao e
histerese
Isolao perante o circuito de
potncia
Retroao
Linearidade sob
a faixa de
medio
Deriva trmica
Erro devido ao offset (erro de zero)
Comportamento dinmico
Custo
Efeito
Hall
Bobina
Rogowski
1% a 3%
(0,1%)
Bom
1% a 3%
(0,1%)
Bom
Bom
TC
Transf. de
Corrente
Derivador
Resistivo
Coaxial
Muito bom
1% a 5%
(< 0,5%)
Bom
Muito Bom
Muito Bom
Muito Bom
DC a
300 kHz
(50 e 60) Hz a
100 MHz
(50 e 60) Hz a
1 MHz
DC a
10 MHz
Sim
No
No
Sim
0,3% a 1,2 %
(< 0,3%)
Tenso ou
corrente
desprezvel
Sem
problemas
Tenso
Corrente
Tenso
minutos
Sem
problemas
minutos
desprezvel
Sem
problemas
Bom
Muito Bom
Bom
Muito Bom
Bom
Muito Bom
Bom
Bom
Sim
No
Sim
No
Galvnica
Galvnica
Galvnica
No tem
Baixa
Baixa
Baixa
Mdia
Bom
Muito Bom
Bom
Muito Bom
Baixo
Mdio
No
Bom
Mdio
No
Muito Bom
Mdio
Alto
Sim
Regular
Alto
Muito
Baixo
No
Muito Bom
Baixo
Perigosa
85
Dependendo das necessidades especficas da aplicao pode-se optar por

cada um dos tipos de transdutores. Em se tratando das caractersticas de exatido e
faixa de medio, no h uma diferena significativa entre os transdutores
analisados.
Ressalta-se algumas particularidades de cada transdutor:
o sensor de efeito Hall no tem sido comumente utilizado nos laboratrio

de curto-circuito;
cuidados especiais devem ser levados em conta na utilizao dos

transformadores de corrente na medio de altas corrente devido aos
problemas de saturao e histerese. Quanto proteo, cuidados devem
ser tomados para no utilizar o TC com o secundrio em aberto.
uma opo que tem sido muito utilizada nos laboratrios de alta corrente
a bobina de Rogowski, devido sua capacidade de medio em altas
correntes, sem problemas de saturao associado a custo relativamente
baixo.
o derivador resistivo tem uma tima largura de banda, inclusive com a

possibilidade de medio em ensaios de curto-circuito em correntes
contnuas.
Possui tambm um comportamento dinmico muito bom.
Porm, no tem isolao galvnica.
Para o desenvolvimento do sistema de ensaio de curto-circuito, detalhado no

captulo 4, escolheu-se o transdutor de corrente: derivador resistivo coaxial. As
principais motivaes para escolha do derivador resistivo coaxial foram:
possibilidade de medio de correntes contnuas;
possibilidade de fabricao do transdutor com pequeno erro ( 0,5%);
86
sem problemas de saturao devido a elevadas correntes;
ampla faixa de freqncia (largura de banda), possui um comportamento

dinmico muito bom.
3.3 Medio do fator de potncia

O fator de potncia pode ser definido como a relao entre a potncia ativa e
a potncia aparente consumidas por um dispositivo ou equipamento (Equao 3.22),
dependentes das formas que as ondas de tenso e corrente apresentem. Os sinais
variantes no tempo devem ser peridicos e de mesma freqncia.
1
vi (t ).ii (t ).dt
P
FP = = T
S
Vrms .I rms
(3.22)
Onde:
FP fator de potncia
ii(t) corrente eltrica
irms corrente eficaz
P potncia ativa
S potncia aparente
T perodo
t tempo
vi(t) tenso eltrica
Vrms tenso eficaz
Em um sistema com formas de onda senoidais (sistema ideal), a equao

(3.22) torna-se igual ao cosseno da defasagem entre as ondas de tenso e de
corrente (cos).
87
Porm, no ensaio de configurao do curto-circuito, no momento da medio,

a tenso vai para zero impossibilitando a medio tradicional do fator de potncia
pela defasagem entre a tenso e a corrente.
As normas de disjuntores que descrevem os ensaios de curto-circuito
prevem mtodos para determinao do fator de potncia que sero resumidamente
descritos nos itens 3.3.1 a 3.3.2.
3.3.1 Fator de potncia conforme a norma NBR 5361/98 [9]

a) Procedimento de obteno do fator de potncia
A partir do grfico de corrente obtem-se a componente contnua da corrente
assimtrica. O decaimento dessa componente contnua est relacionado com a
constante de tempo do circuito (L/R). Uma vez determinada essa constante de
tempo possvel obter o valor do ngulo e assim o fator de potncia (cos).
Conforme sugerido no anexo A da norma NBR 5361/98 [9], tem-se que a equao
para componente contnua :
id = ido .e
R .t
L
(3.23)
Onde:
e base do logaritmo neperiano
id o valor da componente contnua no instante tomado como tempo
final (tf)
ido o valor da componente contnua no instante tomado como tempo
zero (t0)
L/R a constante de tempo do circuito, em segundos
t o tempo, em segundos, entre o instante inicial (t0) correspondente
ao valor i do e o instante final (tf) correspondente ao valor i d.
88
Portanto, o tempo t dados por:

t = t f t0
(3.24)
Onde:
t0 tempo tomado como tempo inicial
tf tempo tomado como tempo final
E o ngulo do fator de potncia dado por:
.L
= arctan
(3.25)
Onde:
- ngulo do fator de potncia
L/R a constante de tempo do circuito, em segundos
= 2..f, f a freqncia real
A figura 3.25 ilustra como so obtidos os valores da componente contnua i do
e i d. Os valores das componentes contnuas ido e i d podem ser obtidos:
ido = valor de pico ( a )
envoltria
2
(3.26)
id = valor de pico (b )
envoltria
2
(3.27)
Onde a envoltria pode ser obtida atravs:
valor pico a pico da corrente no estado permanente divido por 2;
quando o ensaio no permitir a obteno do grfico de corrente no

estado permanente usual fazer uma a uma aproximao
considerando linear os picos adjacentes(j):
a +b
c
2
envoltria =
2
(j)
- Essa informao foi obtida nas visitas aos laboratrios de ensaios de curto-circuito.
(3.28)
89
Legenda:
ido componente unidirecional da corrente no instante t0
id componente unidirecional da corrente no instante tf
t0 tempo tomado como inicial
tf tempo tomado como final
a, b, c valores de pico da corrente
Figura 3.25 Clculo do fator de potncia pela componente assimtrica
b) Observaes referente norma NBR 5361/98 [9]

O texto da norma faz um comentrio concernente confiabilidade na
obteno do fator de potncia: No h mtodo pelo qual o fator de potncia ou a
constante de tempo, durante um curto-circuito, possam ser determinados com
preciso...
A
norma
faz
meno
ao
seguinte
alerta
quanto
utilizao de
transformadores de corrente nas medies: devem ser tomadas precaues para

eliminar erros devidos a constante de tempo do transformador e sua carga em
relao a do circuito primrio e erros devidos a saturao do ncleo, que podem
ocorrer nas condies transitrias do fluxo, combinada com possvel remanncia.
90
3.3.2 Fator de potncia conforme as normas IEC 60947-1/01 [6] e IEC 608981/03 [11]
Possuem anexos especficos para a determinao do fator de potncia.
Nesses anexos, h dois mtodos: o primeiro exatamente o mesmo que explicado
na alnea a) do item 3.3.1, inserido na norma brasileira NBR 5361/98 [9]. O segundo
mtodo descreve a determinao do fator de potncia atravs da utilizao de um
gerador piloto. Esse mtodo pode ser utilizado quando a fonte de potncia um
gerador. Neste caso, utiliza-se um gerador piloto no mesmo eixo do gerador de
ensaio e, atravs de defasagens entre tenses dos geradores e da corrente,
possvel obter o fator de potncia.
b) Observao referente norma IEC 60898-1/03 [11]
A IEC 60898-1 prev que no pode ser utilizado o transformador de corrente
na utilizao do primeiro mtodo, descrito na alnea a) do item 3.3.2.
3.3.3 Fator de potncia conforme a norma UL 48902 [14]

Procedimento 1 correntes inferiores a 10 kA: so registrados o sinal de

corrente, o sinal de tenso e uma base de tempo. Sobre o eixo do sinal de
base de tempo so marcados alguns pontos especficos e baseado nesses
pontos, calcula-se o valor da corrente e do fator de potncia.
Procedimento 2 correntes inferiores a 10 kA: O valor da corrente e do

fator de potncia so obtidos apenas com os sinais de corrente e com uso da
tabela com os valores de fator de potncia de curto-circuito. Dos sinais de
corrente, obtm-se os valores eficazes da corrente simtrica e da corrente
91
assimtrica. Da relao dessas obtm-se o fator de potncia, entrando-se na

tabela fornecida pela norma.
b) Observao referente norma UL 48902 [14]
mais completa que as anteriores. Especifica o tipo de instrumentao a ser
utilizada, a condio dos circuitos e divide as calibraes de correntes em dois nveis
de corrente: inferiores e superiores a 10 kA.
Conforme informaes obtidas nas visitas a laboratrios de ensaios de curtocircuito, existem outros mtodos usuais para obteno do fator de potncia, como
por exemplo atravs da medio e clculos das impedncias presentes no circuito
de ensaio. Outro mtodo utilizado para a medio do fator de potncia consiste em
extrapolar a curva do grfico de tenso a partir do momento antes do incio do
ensaio (t1) e medir em relao curva do grfico de corrente (t2) (Figura 3.26).
Legenda:
t1 e t 2 tempos tomados como referncia para obteno do fator de potncia
Figura 3.26 Grficos para o clculo do fator de potncia pela extrapolao da tenso
Com os tempos (t1) e (t 2) e, sabendo-se o nmero de ondas completas

(mltiplos de 16,6667 ms 60 Hz), obtm-se o fator de potncia do ensaio.
92
Salienta-se, porm, que, para que esse mtodo seja confivel, os medidores de
tenso e corrente devem estar o mais prximo possvel um do outro.
Esses mtodos so utilizados, principalmente, em ensaio cuja componente
contnua muito pequena, ou seja, quando fator de potncia alto.
Observa-se, conforme exposto pelas normas IEC e UL, que no h um
mtodo pelo qual o fator de potncia ou a constante de tempo, durante um curtocircuito, possam ser determinados com elevada confiabilidade. Nos laboratrios
visitados, na Amrica Latina, no foram encontrados registros de calibrao ou
avaliao de incertezas na obteno do fator de potncia.
Porm, conforme a referncia Medio de Altas Correntes em Freqncia
Industrial: Instrumentao, Dispositivos de Medio e Calibraes [21], as medidas
de fator de potncia eram executados em registro de papel com auxilio de escalas.
Porm, com o avano da tecnologia, com a fabricao de registradores digitais e
placas de aquisio de dados, ambos com interface para computador, passou a ser
vivel a obteno do valor do fator de potncia com um melhor nvel de
confiabilidade. Essa a forma adotada no sistema desenvolvido no mbito deste
trabalho.
3.4 Sistema sincronismo-disparo (seqenciador)

Observa-se
necessidade
de
se
controlar
momento
exato
do
estabelecimento do curto-circuito nos mais diversos ensaios descritos nas normas

pertinentes, em razo do relacionamento do mesmo com os efeitos produzidos no
ensaio [5] [21].
93
Conforme exposto no item 3.2.1.1, durante o ensaio de curto-circuito, na

forma transitria, obtm-se a equao (3.28), que descreve o comportamento da
corrente de curto-circuito [5] [21] [43] [44]:
i (t ) = I m sen (t + ) I m e sen ( )
(3.29)
Onde:
i(t) = valor instantneo da corrente de curto-circuito
Im = valor da amplitude da corrente de curto-circuito
= ngulo de estabelecimento do ensaio
= 2f e f = freqncia da rede eltrica (Hz)
= constante de tempo =
L
R
L
= tan 1
= ngulo de defasagem entre a tenso e a corrente
R
Da equao (3.29), conclui-se que a primeira parte reflete a componente
alternada e a segunda parte, a componente contnua da corrente de ensaio.
A amplitude da componente DC (unidirecional) depende do instante da
aplicao da tenso definida pelo ngulo , assim como pelo ngulo de defasagem
entre a tenso e a corrente. Quando (=), a componente DC igual a zero e
quando (=0) tem-se a mxima assimetria [5] [21] [43] [44].
O controle no ngulo de estabelecimento de tenso pode ser feito de forma
analgica ou atravs processamentos digitais. Nos laboratrios visitados percebe-se
que a maioria tm feito isso, utilizando-se circuitos analgicos. So equipamentos
antigos, robustos, que tm funcionado conforme requerido nas normas de ensaios,
porm com baixssimo grau de automao.
94
A tabela 3.6 mostra qual a tecnologia utilizada a e incerteza de medio

informada pelos laboratrios somente para a parte eletrnica.
Tabela 3.6 Seqenciadores utilizados nos laboratrios de ensaio de curto-circuito
Laboratrio
Pas
Laboratrio A1
Amrica
Latina
Laboratrio A2
Amrica
Latina
Laboratrio A3
Amrica
Latina
Laboratrio B1
Europa
Laboratrio B2
Europa
Laboratrio B3
Europa
WEG
Brasil
Tecnologia
Incerteza de
medio
Analgica desenvolvimento
executado por um laboratrio 1(k)
externo.
5
(Eletrnica
+
prprio
chave sncrona)
4
prprio
Digital equipamento e
Software
fornecido
pela
1
Nicolet BE3200 Test
Sequencer
1
prprio
2
(Eletrnica
+
No informado
chave sncrona)
Digital
sistema
desenvolvido pela WEG 1(l)
ambiente Labview
Concernentes ao sistema sincronismo-disparo, o que se percebe nas visitas

aos laboratrios da Amrica Latina, que no h uma grande preocupao em se ir
a fundo nas questes metrolgicas. No foram observados procedimentos aplicados
para avaliao de incertezas e anlise de confiabilidade de acordo com o estado-daarte em metrologia nesses laboratrios. Quanto aos laboratrios da Europa, pode-se
evidenciar uma maior preocupao quanto s questes metrolgicas. Um dos
laboratrios, por exemplo, declara no seu catlogo a incerteza de medio para o
sistema sincronismo-disparo.
(k)
- Somente foi informado este valor, no foram encontrados evidncias de ensaios de calibrao e
incertezas de medio que comprovassem o valor informado.
(l)
- Este valor que se pretende chegar, aps toda a montagem do sistema de ensaio de curtocircuito.
95
A figura 3.27 mostra dois exemplos de seqenciadores. O seqenciador que

utiliza a tecnologia analgica desenvolvida internamente com tecnologia prprio e o
de tecnologia digital (estado-da-arte em seqenciamento para ensaios de curtocircuito) fabricado por uma empresa especializada cuja marca NICOLET utilizado
em um dos laboratrios europeus.
Tecnologia analgica
Tecnologia digital, com um exemplo de tela
Figura 3.27 Seqenciadores analgico e digital
96
4 Desenvolvimento de um sistema de ensaio de curtocircuito

4.1 Sistema de ensaio de curto-circuito WEG
No so vastas as referncias abordando os sistemas de ensaios de curtocircuito. Entretanto, dentre as referncias encontradas, destacam-se algumas que
servem de base terica no desenvolvimento de sistemas de medio para ensaios
de curto-circuito.
A referncia mais abrangente foi Ensayos de Potncia: Tcnicas de ensayo y
medicin com altas corrientes [7] que descreve em detalhes as tcnicas de ensaio e
medio em potncia, especialmente em altas correntes. Essa referncia aborda as
generalidades dos ensaios em equipamentos eltricos, a organizao de um
laboratrio de potncia e os respectivos ensaios tpicos. Concernente organizao
de um laboratrio de potncia, so descritos o sistema de controle, o esquema
eltrico elementar da instalao, condies de segurana, as tcnicas de medio e
os dois tipos de ensaios: direto e sinttico [7].
Uma referncia encontrada bastante abrangente foi, Transients in Power
Systems [5], no captulo 10, Testing of Circuit Breakers . Esta referncia descreve
sobre o histrico do sistema de ensaios de curto-circuito em disjuntores. Com
relao aos laboratrios de alta potncia, a referncia descreve sobre as duas
concepes de ensaio, de acordo com a fonte de potncia (gerador ou diretamente
da rede eltrica). A referncia apresenta os sistemas mais usuais de medio de
corrente e tenso e apresenta diversas figuras dos componentes do sistema de
ensaio de curto-circuito.
97
A referncia Construction of a Computer-Aided Measuring System for ShortCircuit
Testing
[64],
descreve
um
sistema
de
medio
computadorizado
desenvolvido para um laboratrio de curto-circuito utilizando um osciloscpio ligado

ao computador com um sistema de transmisso ptica. Essa referncia descreve as
principais grandezas a serem mensuradas (tenso, corrente e tempo) no ensaio de
curto-circuito. apresentado um fluxograma com a seqncia de funcionamento do
software. So mostradas as funes para obteno dos valores dos ensaios com
por exemplo valores mnimo e mximo, envelope e o valor rms dos grficos de
corrente e tenso. So apresentados alguns componentes do sistema de medio.
No final da referncia abordado, de forma sucinta, a temtica interferncia e rudo
na medio de altas correntes. A transmisso dos dados via fibra ptica, nesta
situao, torna-se uma boa opo.
A referncia Data-Processing Methods for the Determination of Test
Quantities in High-Power Laboratories [65], descreve o resultado do grupo de
trabalho STL (Short-Circuit Test Liaison) na harmonizao dos mtodos utilizados
nos laboratrios de alta potncia para computar os resultados dos testes com a
utilizao de sistemas de aquisio de dados.
A referncia An Experimental Study of Short-Circuit Currents on a LowVoltage System [66], aborda um estudo experimental de ensaios de curto-circuito.
Na abordagem so apresentados alguns detalhes do sistema tais como o circuito de
ensaio, o transdutor de corrente e o sistema de aquisio de dados.
A referncia Short-Circuit Ratings and Application Guidelines for Molded-Case Circuit
Breakers [67], apresenta um guia de seleo e aplicao de disjuntores em caixa
moldada sobre condies de curto-circuito. Essa referncia aborda a normatizao
98
do ensaio, os detalhes dos ensaios de curto-circuito e algumas consideraes

prticas dos ensaios.
Os ensaios de curto-circuito so executados no Laboratrio de Pesquisa e
Desenvolvimento
da
Weg
Indstrias
S.A.
Diviso
Acionamentos.
Os
procedimentos desse laboratrio de ensaios seguem os requisitos contidos na NBR

ISO/IEC 17025
Requisitos gerais para competncia de laboratrios de ensaio e
calibrao [68].
Os ensaios de curto-circuito nem sempre so executados da mesma maneira.
Podem-se ter variaes no circuito de ensaio, assim como no procedimento de
execuo do ensaio de acordo com a norma utilizada. O circuito de ensaio proposto
(Figura 4.1) est composto dos seguintes componentes fundamentais:
fonte de potncia encarregada de prover a energia do circuito de

potncia, que deve ser na freqncia industrial;
impedncia de regulao (mdia e baixa tenso) cuja
misso
ajustar o valor em mdulo e ngulo da impedncia de curto-circuito do

ensaio;
chave sncrona (elemento de manobra estabelecimento do curtocircuito);
disjuntor de mdia tenso (elementos de manobra interrupo do

curto-circuito);
objeto sob teste (disjuntor, fusvel etc.);
sistema de controle (seqenciador) encarregado de gerenciar todos

os eventos que ocorrem durante o desenvolvimento do ensaio;
sistema de medio de corrente e tenso que tem como objetivo

obter todos os parmetros e resultados dos ensaios.
99
Legenda:
LBT indutor de baixa tenso
RBT resistor de baixa tenso
LMT indutor de mdia tenso
RMT resistor de mdia tenso
Figura 4.1 Esquema eltrico de sistema de curto-circuito
100
4.2 Sistema de medio de corrente e tenso no ensaio de curto-circuito

O sistema de medio de corrente e tenso proposto est mostrado na figura
4.2. O diagrama de blocos da figura 4.2 mostra o fluxo do sistema de medio. A
transduo comea com a obteno do sinal de corrente ou tenso eltrica
passando pelo transdutor e finaliza, nos bornes de entrada do sistema de aquisio
de dados. A sada dos transdutores, em mdulo deve ser menor ou igual a 10 V, pois
o limite de entrada do sistema de aquisio.
Um cuidado especial deve ser tomado na interligao entre os transdutores e
o sistema de aquisio de dados. A utilizao de cabos coaxiais necessria e o
conhecimento do valor da impedncia destes cabos necessria para reduo da
incerteza.
Sistema de Medio de Corrente e Tenso

NI PXI-1042
DAQ
Transdutor de Corrente
Derivador Resistivo Coaxial
NI PXI-6133
Conversor
A/D
Transdutor de Tenso
Divisor Resistivo Compensado
Processador
PC Industrial
TELA
Figura 4.2 Diagrama esquemtico do sistema de medio
101
4.2.1 Transdutores de corrente e tenso

Na seleo dos transdutores deve-se levar em conta os seguintes aspectos,
dependendo de cada aplicao:
requisitos eltricos: fonte de alimentao, faixa de medio, mxima

tenso e corrente suportvel, comportamento dinmico, largura de
banda, dentre outros;
requisitos mecnicos: todas as dimenses do transdutor, peso,

materiais, montagem, resistncia, robustez e suportabilidade a
esforos mecnicos, dentre outros;
requisitos trmicos: curva tempo x corrente, mxima medio do ponto

de vista trmico, resfriamento normal e forado, dentre outros;
requisitos ambientais: vibrao, temperatura, proximidade de outros

condutores de energia, campos eltricos e magnticos, dentre outros
[25].
Um aspecto caracterstico na seleo de transdutores de medio do ensaio

de curto-circuito a anlise dos parmetros de operao dinmica. Basicamente,
dois diferentes critrios so usados para caracterizar o comportamento dinmico de
um transdutor: freqncia de corte e tempo de resposta. O tempo de resposta ,
usualmente, expresso de trs formas: constante de tempo [53], tempo de subida (rise
time) [53] [69] [70] ou tempo para obter a estabilizao em um percentual
preestabelecido [16].
Os parmetros encontrados nas especificaes dos equipamentos variam de
fabricante para fabricante. A empresa LEM [25], define o tempo de resposta (tr) como
o atraso entre a corrente primria (para atingir 90% do valor final da amplitude) e a
corrente secundria (para atingir 90% do valor final da amplitude). A corrente
102
primria deve comportar-se aproximadamente a um degrau de corrente, com uma

amplitude prxima ao valor da corrente nominal (Figura 4.3).
Legenda:
In corrente nominal
Is corrente secundria
Ip corrente primria (referncia)
Tr tempo de resposta
Figura 4.3 Caracterizao da operao dinmica
A concepo dos transdutores do sistema de medio foi estabelecida a partir

dos requisitos definidos no convnio entre WEG e LEME. A partir de anlise tcnica,
envolvendo o corpo tcnico do LEME, foram definidos os requisitos tcnicos
necessrios para cada transdutor, para aplicao em ensaio de curto-circuito. Tais
requisitos esto relatados nos itens seguintes.
4.2.1.1 Transdutor de corrente
O transdutor de corrente utilizado no sistema de medio deve ter as
seguintes caractersticas tcnicas:
mximo ciclo de trabalho: 10 kA, durante 1 s,
mximo valor de pico admissvel: 25 kA;
queda de tenso mxima 10 V (valor de pico);
103
material: manganina para derivadores; bainha externa de bronze

cromado;
erro mximo de 0,5% da leitura;
conexes com o circuito externo: mediante barras de cobre prateadas,

com furos para conexo com parafusos;
sada de sinal: mediante conectores tipo "BNC";
variao de resistncia entre o estado frio e quente: < 2 %;
tempo de resposta: < 100 ns.
Para atender a esses requisitos foi especificado o derivador resistivo coaxial

que foi fabricado especialmente para a aplicao em ensaios de curto-circuito.
4.2.1.2 Transdutor de tenso
O transdutor de tenso a utilizar deve ter as seguintes caractersticas
tcnicas:
tenso nominal de trabalho 690 V, (50 ou 60) Hz, 1000 V (contnua);
tenso de crista de impulso (30 s de tempo de frente) = 3500 V;
impedncia mostrada no circuito principal: superior a 100 /V

(resistiva) em paralelo com 100 pF;
atenuao de 100 e de 1000 vezes;
erro mximo de 0,5% da leitura (0 a 1) kHz e 1% da leitura (1 a 10)

kHz;
largura de banda 10 MHz;
transmisso via cabo coaxial RG58U;
tempo de subida (rise time) < 300 ns;
tempo de retardo < 300 ns;
104
imunidade a interferncias causadas pelas altas correntes (100 kA);
limitao de sobretenso para proteger o sistema de aquisio de

dados.
Para atender as esses requisitos foi especificado o divisor resistivo

compensado que foi fabricado especialmente para a aplicao em ensaios de curtocircuito conforme mostrado na figura 4.4.
Divisor resistivo compensado
Detalhe da conexo BNC
Figura 4.4 Divisor resistivo compensado
Para as medies de tenses entre fases e entre os plos do disjuntor em

teste, por segurana do sistema de aquisio de dados, optou-se por medies
diferenciais sempre referenciada terra. Esse o caso dos sinais provinientes do
divisor resistivo compensado, cuja disposio no circuito de ensaio exigiu a
utilizao de cabos de 10 m para a medio da tenso.
4.2.2 Sistema de aquisio de dados

O sistema de aquisio de dados foi desenvolvido utilizando a
plataforma PXI. (Figura 4.5) PXI (PCI eXtensions for
Instrumentation) uma
plataforma robusta para sistemas da medio e automao [71].
105
A plataforma PXI combina caractersticas de barramentos PCI(m) com a

robustez necessria em um ambiente industrial. Tem estrutura modular e incorpora
uma especial caracterstica de sincronizao. Isso permite obter uma plataforma de
alto desempenho com um baixo custo. Esses equipamentos so utilizados em
sistemas fabris, assim como em aplicaes especiais, tais como monitorao militar
e aeroespacial. Foi lanada em 1998, como um padro aberto na indstria para
atender as demandas crescentes de sistemas de automao com computadores
[71].
Figura 4.5 PXI e seu diagrama esquemtico [72]
Um dos mdulos utilizado no barramento PXI a placa de aquisio de dados

NI PXI-6133 [72]. Essa uma placa de aquisio de dados com barramento PXI
cujas caractersticas tcnicas so apresentadas na tabela 4.1.
(m)
- PCI - Peripheral Component Interconnect - barramento utilizado nos computadores para troca de
dados entre o processador, a memria e os perifricos. O PCI substituiu barramentos como ISA e
EISA, tornando-se padro da indstria pela sua alta velocidade de transferncia de dados,
teoricamente 132 MB por segundo [71].
106
Percebe-se que algumas das caractersticas desejveis (mxima tenso de

entrada, faixa de medio, acoplamento) no so atendidas pela placa NI PCI-6133
[72]. Porm, estas caractersticas no influenciaro na confiabilidade das medies.
Entretanto, h algumas caractersticas importantes que so melhores que as
desejveis, tais como: exatido, resoluo e taxa de amostragem.
Tabela 4.1 Caractersticas tcnicas desejveis x NI PCI-6133 [72]
Numero de canais
10 de tenso
National Instruments
NI PXI 6133 [72]
16 canais
Tipo de conector
Coaxial isolado, BNC
Coaxial isolado, BNC
Caractersticas
Requisitos
Mxima tenso
Em cada canal, entre canais e 250 V (CC + CA pico)
contra terra
5 mV/div. A 20 V/div.
Faixa de medio
8 div.
Resoluo vertical
10 bits
0,5 % da faixa de medio
Erro mximo (amplitude)
Coeficiente de Temp. <
0,002%/C
Acoplamento
AC e CC
Erro mximo (base de tempo)
R 1 M
C 30 pF tolerncia 1%
CC 1 MHz
< 10 Hz a 1 MHz em CA
100 ksample/s canal
200 ms de amostragem
250.000 pontos canal
50 s/div. a 1 min/div.
Fundo de escala 10 div.
< 0,1%
Trigger
Manual e automtico
Rampa
Subida e descida
CC 1 MHz
< 10 Hz a 1 MHz em CA
0% a 100%
Passo de 1%
Impedncia
Largura de banda (-3dB)
Taxa de Amostragem
Tamanho de registro
Base de tempo
Largura de banda do disparo

Pr trigger (disparo)
Sincronizao de disparo
entre canais
CMRR (dB)
14 bits
< 0,1 % da leitura/ano
< 0,0005%/C
CC
100 M / 10 pF
0,2 V / 1,25 MHz
42 V / 1,3 MHz
Max.: 2,5 Msample/s
800 ms de amostragem
2 Msample
Configurvel por software
0,01%
Digital, analgico e barramento
PXI
Subida e descida
5 MHz interno/externo
0% a 100%
Selecionvel por software
2 ns
> 60 dB, em CC a 60 Hz
70 dB
FD 1,44 MB
Interface
GPIB (IEEE 488)

2, mnimo, que possam se
mover sobre os dados
(100 a 240) V (50 ou 60) Hz
Alimentao
1,25 V, 2,5 V, 5 V e 10 V
< 50 ns
Armazenamento de dados
Cursores
200 mV a 10 V 11 V p/ terra
(20 a 50) V 42 V p/ terra
Buffer da placa (10 MS) e rack

PXI
Ethernet + GPIB
Configurvel por software
(100 a 240) V (50 ou 60) Hz
107
4.2.3 Software
O desenvolvimento do software est sendo feito em ambiente de
programao Labview 7.1 [73]. A escolha da plataforma de programao Labview
deu-se devido ao fato de essa ser uma ferramenta bastante poderosa do ponto de
vista de sistemas de medio. Utilizando Labview para as aplicaes de medio e
automao, pode-se adquirir dados de vrios dispositivos de hardware (placas DAQ,
equipamentos de medio com comunicao digital ou redes digitais). Com isso,
pode-se definir uma aplicao para analisar ou tomar decises com base nesses
dados e depois apresentar as medies por meio de interfaces grficas, pginas
Web ou atravs de arquivos de banco de dados [73].
Labview um produto que permite ao programador criar aplicaes de
medio e controle de maneira rpida e confivel. O Labview 7.1, utilizado no mbito
desta dissertao para automao dos ensaios de curto-circuito, dotado de um
mdulo para aplicaes em tempo real (real-time).
O desempenho dos sistemas Labview real-time pode ser medido em termos
de execuo determinstica, temporizao das entradas e sadas, triggering,
sincronismo e velocidade do processador. Determinismo o componente
fundamental de todos os sistemas real-time. Este parmetro definido atravs da
capacidade do sistema de realizar uma operao especfica, de forma consistente,
em um tempo definido. Determinismo afetado pelo sistema operacional, arquitetura
de programao do software e integrao da aplicao com funcionalidades de
temporizao e sincronismo com entradas e sadas. A velocidade do processador
determina o tempo mnimo de ciclo de cada lao [73].
As plataformas real-time oferecem ambientes de execuo de aplicaes para
rodar [73]:
108
deterministicamente (em perodos determinados);
com maior confiabilidade;
embarcado em outros dispositivos;
possuindo um mecanismo de agendamento do sistema operacional que

garante que as tarefas de alta prioridade executem primeiro;
garantindo que o desenvolvedor do software tenha controle explcito sobre

todas as tarefas do sistema.
A aplicao desenvolvida no ambiente Windows e depois descarregada

para rodar em um hardware independente, no caso do sistema de curto-circuito.
Sistemas PXI real-time consistem em um chassis robusto, uma controladora
embarcada e mdulos de entrada/sada [73].
Adicionalmente ao desempenho determinstico, sistemas operacionais realtime oferecem um alto nvel de confiabilidade porque eles so especializados,
dimensionados para utilizao de menos recursos e eliminam a fragilidade dos
sistemas operacionais convencionais. Juntamente com um ambiente de software
mais confivel, a plataforma Labview real-time inclue modificaes no hardware que
oferecem um alto nvel de confiabilidade para ambientes industriais. Em alguns
casos, esses ambientes podem ser agressivos, tendo o hardware que suportar
temperaturas extremas, choques, vibraes e quedas de energia intermitentes [73].
Todos essas potencialidades so utilizadas para o desenvolvimento do
software de controle e medio de ensaios de curto-circuito. A utilizao dessa
plataforma permite automatizar as tarefas de controle e medio. Por ser um
aplicativo a ser desenvolvido internamente (software aberto), pode-se configurar,
acrescentar e diminuir funes de medio de alta confiabilidade a partir da
necessidade do usurio.
109
At o momento da elaborao desta dissertao, foi desenvolvido um sistema

de medio para obteno dos grficos de tenso e corrente em ensaios
monofsicos. O software permite a execuo do ensaio de configurao, assim como
a verificao do desempenho do disjuntor nas situaes de O open e CO
Close Open.
4.2.3.1 Software para obteno da configurao do ensaio (setup)
Antes do ensaio para verificao do desempenho do disjuntor, deve-se
garantir que os parmetros do ensaio esto de acordo com a respectiva norma de
referncia. Algumas normas, alm de descrever a corrente, a tenso e o fator de
potncia do ensaio, descrevem o instante do estabelecimento curto-circuito. Por
exemplo, o ensaio de corrente Ics (capacidade de curto-circuito em servio) descrito
pela norma IEC 60898-1 [11], apresenta o instante do estabelecimento do curtocircuito em 0, 15, 30, 45, 60 e 75 para as amostras a serem ensaiadas. O
equipamento responsvel pelo estabelecimento do curto-circuito no instante
desejado a chave sncrona.
A chave sncrona pode ser definida como elemento de manobra responsvel
pelo estabelecimento do curto-circuito com a particularidade de possibilitar fechar o
circuito em momento definido. A referncia (instante do cruzamento por zero zero
crossing) dada pelo cruzamento da senide de tenso no ponto zero (cross-over).
O tempo entre a referncia e o fechamento usualmente medido em ngulos
equivalente (graus).
Antes do fechamento da chave sncrona, prepara-se o circuito de forma a
executar um curto-circuito controlado. Nesse ensaio, visando a obteno dos
parmetros de configurao, troca-se o objeto em teste por um condutor eltrico de
impedncia desprezvel (by-pass). Geralmente a durao desse ensaio da ordem
110
de 100 ms. O software de medio neste ensaio, gera dois grficos onde se obtm
s grandezas: corrente de pico, tenso do ensaio e o instante de fechamento.
(Figura 4.7). A partir das grandezas obtidas em cada curva de tenso e corrente,
obtm-se o valor do fator de potncia do ensaio.
Corrente de Pico I = 5,9 kA
Instante do fechamento
0 na tenso
Figura 4.6 Grficos do ensaio de curto-circuito configurao em 0
4.2.3.2 Software para obteno dos valores medidos no ensaio de curtocircuito para avaliao do desempenho do disjuntor
Conforme descrito no captulo 2, as normas de ensaio descrevem seqncias
de operaes de O e CO de acordo com tipos de ensaios. Por exemplo no ensaio
com correntes de curto-circuito reduzidas conforme estabelecido na norma IEC
60898-1 [11], o disjuntor deve abrir nove vezes, sendo que o circuito deve ser
fechado seis vezes pela chave sncrona, O e trs vezes pelo prprio disjuntor,
CO.
Normalmente, observa-se que o disjuntor em ensaio limita o valor da corrente
e a durao do ensaio. Geralmente, a durao do ensaio inferior a um ciclo da
corrente senoidal (menor que 16 ms, em 60 Hz) conforme mostrado na figura 4.7.
111
Corrente de pico limitada

pelo disjuntor I = 4,2 kA
Durao do ensaio
t = ciclo (8,33 ms)
Tenso de arco no
disjuntor em teste
Figura 4.7 Grficos do ensaio de curto-circuito ensaio Open no disjuntor em teste
4.3 Sistema de controle do ensaio de curto-circuito e o seqenciador

O sistema de controle gerencia todos os eventos que acontecem durante o
ensaio. Sua misso comandar o acionamento e o desligamento de cada unidade
de ensaio (componentes de manobra, o sistema de medio e, dependendo do
ensaio, o elemento sob teste).
Os comandos devem ter um comportamento determinstico, com o mximo
de confiabilidade e com a operao autnoma com definio de prioridades. Para
obteno dessas caractersticas, o software aplicativo de controle, desenvolvido em
Labview, roda em um ambiente de tempo real (real time). Informaes mais
detalhadas sobre softwares rodando em ambiente de tempo real podem ser vistas
na NI Developer Zone, na referncia [74].
Dentre as funes de comandos, ressalta-se a mais crtica que o instante de
estabelecimento do ensaio de curto-circuito, que executado pelo elemento
denominado, neste documento, de seqenciador(n).
(n)
- No foi encontrado nas normas de ensaios de curto-circuito um nome definido para essa funo
[6] [8] [9] [11] [13] [14] [15].
112
Para o projeto de tal seqenciador necessria a diviso em duas fases

distintas, que interagem entre si. A primeira o sincronismo que, para o caso em
questo, ser obtido a partir da rede eltrica, mais precisamente atravs da
deteco do zero de tenso. A segunda a contagem do tempo (temporizao) com
o controle do momento exato do disparo. A figura 4.8 apresenta um esquema de
diagrama de blocos de um dispositivo de controle tpico, no qual pode-se observar
as unidades principais: sincronizao, temporizao e disparo eletrnico. Essas
unidades tm as seguintes funes:
sincronizao tem a funo de dar a ordem de funcionamento para o

segundo estgio, a temporizao, a partir do sincronismo (referncia) com a
rede eltrica utilizada no circuito de potncia do ensaio;
temporizao basicamente um contador que conta os tempos a partir da

ordem de incio da sincronizao;
disparo tem a misso de permitir que o sinal de sada da temporizao, que

de baixa amplitude e alta impedncia de sada, seja capaz de manobrar o
circuito.
SEQENCIADOR
1,2,3,....
Deteco Zero
(Sincronizao)
Contagem
(Temporizao)
Disparo Eletrnico
Figura 4.8 Diagrama esquemtico de um seqenciador
Percebe-se inicialmente que haver incertezas de medio na deteco do

zero, na contagem e no disparo aps a contagem. Todas essas incertezas sero
detalhadas no captulo 5.
113
Partiu-se do pressuposto que a incerteza mxima a ser obtida seria de 1

em funo da menor tolerncia estabelecida pelas normas de ensaio ser de 5.
Como para o caso em questo est-se utilizando a rede eltrica composta por uma
onda senoidal de 60 Hz, tem-se:
360 =
1
= 16,666667 ms, portanto 1 = 46,3 s.
60
O seqenciador proposto foi definido de forma genrica utilizando hardware

da National Instruments, porm pode ser utilizado qualquer hardware que tenha as
mesmas caractersticas.
A idia bsica, utilizando uma placa de aquisio de dados, foi aproveitar o
recurso disponvel no hardware de deteco de zero e acopl-lo ao contador,
tambm em nvel de hardware, fazendo o controle do disparo. Apesar de a
configurao ser feita via software, toda a execuo feita em nvel de hardware
evitando possveis atrasos ou at mesmo falta de determinismo do sistema.
Resumidamente, os componentes de um dispositivo de aquisio de dados
esto descritos na figura 4.9 [75].
Utilizando ferramentas simples de programao (Labview 7.1) conseguiu-se
acessar o hardware da placa de aquisio de dados. Num canal (no multiplexado),
adquirido o sinal da rede no qual detectado o zero.
Toda a aquisio feita em nvel de hardware utilizando um conversor interno
da placa, de 12 bits. A deteco de zero e o sincronismo podem ser executados em
qualquer um dos oitos canais disponveis na placa. O sistema de disparosincronismo independe de uma possvel interrupo do sistema operacional, como,
por exemplo, a utilizao de um mouse ou um protetor de tela no momento da
execuo do ensaio.
114
CONECTOR E/S
A/D
MUX
D/A
RTSI
DIGITAL
CONTADOR
E/S - entrada e sada para o computador
Legenda:
A/D Conversor analgico para digital
conector E/S Conecta o sinal externo (via bloco terminal ou cabo) no dispositivo de
aquisio de dados
contador utilizado para contagem pode enviar ou receber sinal digital
D/A Conversor digital para analgico
digital Entrada e sada digital
E/S Conecta a placa de aquisio de dados ao computador
MUX Chave que tem vrias entradas, mas somente uma sada
RTSI Real-Time System Integration Usada para sincronizar varias placas de aquisio
de dados e permite dividir o tempo e os sinais disparo entre as placas
Figura 4.9 Componentes de placa de aquisio de dados
Para contagem, utilizou-se o relgio interno da placa de 20 MHz cuja

resoluo de um tick(o), onde:
1 tick =
1
= 0,05 s
20 MHz
(4.1)
A concepo do hardware para o sistema de sincronismo-disparo foi dividida

em quatro blocos funcionais que se interligam na realizao do disparo, conforme
apresenta o diagrama de blocos da figura 4.10. Esses blocos representam as
seguintes funes:
(o)
- A traduo literal de tick tique-taque. O termo tick utilizado para se definir a menor resoluo
de contagem de uma base de tempo.
115
pr-configurao da placa de aquisio de dados atravs do aplicativo;
reduo da amplitude do sinal da rede a uma faixa compatvel com a placa de

aquisio;
circuito de disparo eletrnico;
circuito de disparo de potncia.
Sistema sincronismo-disparo
Configurao
Software
PXI
Rede
Eltrica
Transdutor
Tenso
DAQ
Disparo
Disparo
Eletrnico
Potncia
Legenda:
PXI - PCI eXtensions for Instrumentation
DAQ placa de aquisio de dados
Figura 4.10 Diagrama de blocos do sistema sincronismo-disparo
Devido ao fato de at o momento da concluso deste trabalho no ter sido

recebido o equipamento de disparo de potncia, a calibrao, e conseqentemente
a obteno da incerteza de medio, mostrada no captulo 5, foi executada somente
at o disparo eletrnico.
116
4.3.1 Sistema de aquisio de dados

O sistema de aquisio de dados empregado no desenvolvimento desta
dissertao um dispositivo da National Instruments modelo NI PXI-1042
(computador industrial com slots especiais para placa de aquisio de dados) em
conjunto com a placa de aquisio de dados NI PXI-6133 [72]. Essa uma placa
PXI de 14 bits com 8 canais de entradas analgicas com taxa de aquisio
simultneas de 2,5 MS/s por canal. Possui ainda, 1 byte de entrada e ou sada
digital e canais para funes de timer e trigger [72].
Todos os atributos disponveis nesse dispositivo so configurados pelo driverhardware NI-DAQ ou NI-DAQmx, que promove a integrao entre o hardware e o
software de desenvolvimento, nesse caso o Labview [72].
Para a aplicao do sistema de sincronismo-disparo foi utilizado um canal de
entrada para a obteno do sinal da rede eltrica e uma sada digital para o disparo
eletrnico. As funes adicionais das placas de aquisio de dados so utilizadas no
sistema de medio do ensaio de curto-circuito.
A taxa de aquisio da entrada analgica de 2 MS/s. A faixa de medio
mxima, para cada canal, de (-10 a +10) V. Ganhos programveis, via software,
permitem a variao dessa faixa para obter uma melhor resoluo na medio de
sinais de baixa intensidade [72].
4.3.2 Medio da referncia da tenso da rede eltrica
Para a medio da tenso visando obter o instante da passagem por zero da
senide proveniente da rede eltrica foi necessrio especificar transdutores
compatveis com as faixas de medio do ensaio e da entrada da placa DAQ.
117
A tenso alternada eficaz (CA) aplicada ao ensaio pode variar de (220 a

690) V. A entrada analgica da placa de aquisio possui um conversor A/D de 14
bits e uma faixa de medio de (-10 a +10) V de pico.
Dentre os transdutores disponveis, optou-se pela utilizao do transformador
de potencial redutor de tenso. Usou-se um transformador de medio de relao
100:1, classe de exatido 0,3% para obteno da referncia desejada. Esse
transformador ligado diretamente na placa DAQ, atravs do circuito de proteo
descrito na figura 4.11. O circuito limitador monofsico objetiva limitar o sinal de
entrada da placa DAQ a valores abaixo de 10 V de pico.
Esquema eltrico
R
V1
V2
Formas de onda
V2
V1 = 10V
V2
V 1 10V
Legenda:
DZ1, DZ2 diodo Zener 10 V
F1 fusvel
R resistor de limitao
T1 transformador de potencial monofsico 100:1 V
V1 tenso do secundrio do transformador
V2 tenso de sada do circuito
Figura 4.11 Circuito limitador
4.3.3 Software
Todo o aplicativo foi desenvolvido utilizando-se o software Labview 7.1. O
Labview 7.1 um ambiente de desenvolvimento que pode gerar aplicativos como
118
uma linguagem de programao normalmente conhecida (C++, Visual Basic, Pascal

etc.). Porm, na criao de aplicativos utiliza-se de uma linguagem de programao
grfica, com depurao atravs de fluxo de dados. Para obteno das
caractersticas especficas do software recomenda-se a referncia: Tutorial Labview
[73] [76].
O programa foi desenvolvido em parceria com o corpo tcnico da National
Instrument, o que possibilitou acesso ao hardware da placa de aquisio de dados.
Com isso, o sistema pode trabalhar de forma determinstica.
A utilizao do aplicativo bastante simples. Configura-se o instante de
disparo em graus e efetua-se o disparo. Existe um tempo de recarga que impede
que sejam feitos disparos seguidos. A figura 4.12 e a figura 4.13 mostram,
respectivamente, o aplicativo desenvolvido em funcionamento e um exemplo de
disparo em 90.
Figura 4.12 Tela de interface do usurio com o sistema de disparo
119
Sinal de tenso c/
freqncia de 60 Hz
Disparo
Figura 4.13 Disparo em 90
120
5 Avaliao do comportamento metrolgico do sistema de

ensaio de curto-circuito desenvolvido
5.1 Incerteza de medio do sistema
O conhecimento da incerteza de medio em resultados de ensaios de
fundamental importncia para os laboratrios, seus clientes e todas as outras
instituies que utilizam estes resultados [77].
Foi utilizada como base, para o estabelecimento da expresso de incerteza
de medio, a referncia: Guia para expresso da incerteza de medio [78]. O
Guia reflete um consenso mundial na prtica da expresso da incerteza de
medio.
Concomitantemente com o Guia, foram utilizados, para avaliao da
incerteza de medio, os documentos orientativos:
Expresso da incerteza de medio na calibrao - exemplos. Verso

brasileira do documento de referncia EA-4/02-S1. Suplemento 1 ao EA4/02 [79];
NIT-DICLA-004 Critrios especficos para calibrao de instrumentos

analgicos e digitais de medio na rea de eletricidade [80];
NIT-DICLA-021 Expresso da incerteza de medio [81];
Apostila de Metrologia [82].
Para as grandezas corrente e tenso, foram feitas avaliaes metrolgicas a

priori visando analisar os elementos que compem as cadeias de medio,
identificando as fontes de incerteza e a suas influncias no processo.
121
Para a calibrao do sistema sincronismo-disparo foi necessrio adequar as

especificaes mnimas necessrias para a determinao da incerteza, com os
recursos disponveis nos laboratrios da WEG, onde foi realizada a calibrao.
Pode-se verificar que a calibrao e a determinao das incertezas de
medio das grandezas: tenso; potncia e fator de potncia, podem ser obtidas
facilmente nos laboratrios de metrologia nacionais. A referncia Simple Power
Measurement System [83] exemplifica essa afirmao. Essa referncia aborda um
simples sistema de calibrao e avaliao de incertezas para as grandezas corrente,
tenso e potncia para baixas freqncias e sinal senoidal usando instrumentao
comercial.
Porm, para altas correntes a referncia [83] no se aplica. A referncia
Metrological Analysis of a High Current Measurement System [84] aborda algumas
limitaes na medio de altas correntes provenientes de geradores de pulso. Nessa
referncia apresentada uma anlise metrolgica da medio de corrente.
As precaues durante a realizao do ensaio, como a preparao do circuito
de ensaio, os cuidados com as interligaes e condies ambientais so elementos
que foram controlados de modo a garantir a repetitividade e reprodutibilidade dos
resultados.
O diagrama em blocos da figura 5.1 apresenta uma cadeia de medio geral.
A cadeia foi dividida em trs blocos: transdutor, placa de aquisio e mostrador
(esses blocos executam as funes de transduo, aquisio e processamento, e,
apresentao, respectivamente) [34].
A cada bloco funcional esto associadas as principais fontes de incerteza.
Uma anlise mais detalhada permite identificar as fontes de incerteza que so
realmente significativas no processo em questo.
122
Transdutor
- Erro de linearidade
- Erro de zero
- Repetitividade
- Deriva com temperatura
- Erro de ganho
- Retroao
Placa de
Mostrador
aquisio
(Interface grfica)
- Tempo de estabilizao
- Interligao
- Repetitividade
- Ganho
- Offset
- Rudo
- Deriva com temperatura;
- Resoluo
- Linearidade
- Resoluo
- Processamento
Legenda:
E grandeza de entrada (tenso , corrente etc.)
V sada do transdutor / entrada da placa DAQ geralmente sinal de baixa tenso, (0 a 5) V,
(0 a 10) V, (-10 a +10) V e (-5 a +5) V
Figura 5.1 Diagrama em blocos geral para as duas cadeias de medio e mapeamento das
possveis incertezas associadas [34]
A anlise crtica das incertezas obtidas foi feita conforme estabelecido na

referncia [85] que descreve que o erro imputvel ao processo de calibrao deve
ser to pequeno quanto possvel. Na maioria das reas de medio no deveria ser
maior do que um tero ou, de preferncia, um dcimo do erro mximo admissvel do
equipamento calibrado. Analogamente, a incerteza da medio de um parmetro em
um ensaio deve tambm ser muito menor do que os limites de conformidade do
produto. Uma maneira segura de trabalhar com essa questo diminuir os limites de
conformidade para extrair desses a regio de dvida devida incerteza de medio.
5.2 Avaliao metrolgica dos sistemas de medio de corrente e tenso

H vrias situaes nas quais no prtico, ou mesmo possvel, usar
procedimentos estatsticos para estimar o desvio padro experimental associado a
uma fonte de incerteza. Outras informaes devem ser usadas para estimar o desvio
123
padro associado aos efeitos da fonte de incertezas sobre o processo de medio

[77] [82].
A nomenclatura adotada na referncia Guia para expresso da incerteza de
medio [78] denomina os procedimentos no baseados na avaliao estatstica de
uma srie de observaes como procedimentos de avaliao tipo B.
Informaes obtidas de medies anteriores, certificados de calibrao,
especificaes do instrumento, manuais tcnicos e estimativas baseadas em
conhecimentos e experincias anteriores do experimentalista, so exemplos de
conhecimento a priori que podem ser levados em conta [78] [82].
Utilizando as informaes provenientes dos equipamentos de medio e sua
interao com as grandezas de influncia, pode-se estimar antecipadamente a
incerteza do processo de medio [77].
A calibrao e a avaliao final das incertezas do sistema de medio de
tenso e corrente sero executadas aps a chegada e a montagem de todos os
componentes do sistema.
Em muitos casos a especificao composta por uma srie de dados
relacionados com os diversos fatores que podem gerar diversas fontes de incerteza
de medio.
A figura 5.2 mostra um diagrama de blocos com o planejamento para
avaliao das incertezas considerando as principais fontes de incertezas. A primeira
parte da figura apresenta a avaliao a priori desenvolvida no mbito deste trabalho.
A segunda parte da figura, onde os blocos de texto esto tracejadas, apresenta a
avaliao das incertezas que sero realizadas aps a montagem final do sistema de
ensaio de curto-circuito.
124
Avaliao da incerteza de medio a priori

Sistema de Medio (SM)
Corrente e Tenso
Avaliao a priori
Placa DAQ
Avaliao a priori
Transdutor de tenso
Avaliao a priori
Transdutor de corrente
IM a priori (tenso)
IM a priori (corrente)
Avaliao das incertezas (calibrao)

SM de Corrente e Tenso
Calibrao
SM de tenso
Calibrao
SM de corrente
IM (tenso)
IM (corrente)
Fontes de incertezas ( avaliao tipo B):

- deriva com a temperatura;
- erro de linearidade;
- erro de zero;
- erro de ganho;
- impedncia.
Avaliao a ser realizada

aps montagem completa do
sistema de ensaio de curtocircuito:
- caracterstica de resposta real;
- interferncia;
- rudo.
Figura 5.2 Diagrama de blocos da avaliao da incerteza de medio de corrente e tenso
Para avaliao das incertezas de medio a priori, as estimativas foram

baseadas em limites mximos de variao.
As informaes foram extradas de folhas de especificaes tcnicas dos
equipamentos.
Para a anlise a priori da placa DAQ, foram levadas em considerao, atravs
de avaliao do tipo B, as seguintes fontes de incertezas, todas disponveis no
catlogo do fabricante [72]:
erro de zero;
erro mximo admissvel;
deriva com a temperatura.
Os dois transdutores de tenso e de corrente foram fabricados especialmente

para o ensaio de curto-circuito. Esses transdutores so fabricados de acordo com a
necessidade do cliente. Estes transdutores no so fabricados em srie, com isso
125
surge uma grande dificuldade no fornecimento das caractersticas tcnicas

detalhadas de tais equipamentos por parte dos fornecedores.
A especificao repassada ao fabricante foi o erro mximo admissvel, j
includas as parcelas sistemticas e aleatrias e a deriva com a temperatura na faixa
de (10 a 30) C.
Assumiu-se,
por
segurana,
existncia
de
uma
distribuio
de
probabilidades uniforme (ou retangular).

Aps a chegada de todos equipamentos ser feita calibrao do sistema
completo de medio de tenso e corrente, quando pretende-se obter a incerteza de
medio real. A obteno dessas incertezas visa contemplar as seguintes fontes de
incertezas consideradas no planejamento:
erro de zero;
erro de linearidade;
erro de ganho;
deriva com a temperatura;
impedncia.
No foram quantificadas as influncias geradas pelas fontes de incertezas:

rudo e interferncia. Essas influncias sero verificadas na calibrao, aparecendo
na forma de repetitividade, aps a montagem do sistema. Porm, para minimiz-las
foram tomadas as seguintes precaues na montagem eltrica do sistema:
foi feito um aterramento especial para instrumentao no laboratrio

visando colocar em um mesmo potencial de terra todo os componentes
do sistema;
foram utilizados cabos coaxiais para transmisso de sinal. Esses cabos

foram aterrados em somente em uma das extremidades;
126
os cabos esto passando em dutos galvanizados, ligados ao sistema

de aterramento, enterrados a 40 cm do nvel do solo;
os dutos por onde passam os cabos de medio esto distanciados

dos dutos onde passam cabos de controle a uma distncia em torno de
dois metros;
todo o sistema de medio est distanciado dos componentes do

sistema de controle de potncia em pelo menos dois metros.
5.2.1 Avaliao da incerteza de medio a priori da placa DAQ

Segundo a National Instrument [86], fabricante da placa de aquisio NI PXI
6133 [72], a equao para calcular o erro mximo imputvel a uma entrada
analgica deve ser uma composio dos seguintes parcelas:
Absolute accuracy = ((input voltage x % of reading) + offset + noise & quantization + drift)
(5.1)
Onde, o drift calculado para medies realizadas fora da faixa de

temperatura de operao que varia de (15 a 35) C, pela seguinte equao:
Drift = Temperature diference x % Drift per degree C x input voltage
(5.2)
Para os casos em que as medies so realizadas dentro da faixa de

temperatura de operao da placa DAQ, a frmula para o clculo da incerteza pode
ser reduzida para:
Absolute accuracy = ((input voltage x % of reading) + offset + noise & quantization)
(5.3)
Aps efetuar o clculo conforme o ganho utilizado e o valor medido, tem-se a

incerteza da placa de aquisio (avaliao do tipo B), caracterizado como o erro
mximo da placa. Essa fonte de incerteza, juntamente com a resoluo
considerada como uma distribuio retangular no balano da incerteza da medio.
127
O manual da placa de aquisio fornece os dados para cada ganho, conforme

a referncia [72] (Tabela 5.1):
Tabela 5.1 Especificao das caractersticas metrolgicas da placa NI PXI 6133 [72]
Absolute Accuracy
Nominal Range(V)
Noise +
Quantization
(V)
% of Reading
Gain
Positive Negative
Offset
Single
(V)
Pt.
FS
FS
1 Year
0,5
10
-10
0,0140
-5
0,0141
633,7
2,5
-2,5
0,0143
1,25
-1,25
0,0153
1.254,4 3.117,5
Temp
Drift
Averaged (%/C)
Absolute
Accuracy
at Full
Scale
(mV)
272,1
0,0005
2,5069
1.568,7
137,0
0,0005
1,2671
323,4
791,3
69,1
0,0005
0,6439
168,2
417,8
36,6
0,0005
0,3430
5.2.2 Avaliao da incerteza de medio a priori da medio de tenso

Nesta etapa foram consideradas as incertezas provenientes de uma anlise a
priori dos componentes do sistema de medio de tenso.
A resoluo proposta para o sistema foi baseado na resoluo da placa DAQ

(14 bits):
resoluo mxima =
1000
= 0,06 V
214
(5.4)
A resoluo a ser adotada para o sistema de medio ser de 0,1 V.

A especificao do erro mximo admissvel do transdutor de tenso, conforme o
fabricante, de 0,5% da leitura para faixa (0 a 1) kHz e 1% para a faixa de (1 a 10)
kHz. Para as faixas de medio que sero usadas no ensaio, os valores dos erros
mximos admissveis esto apresentados na tabela 5.2:
128
Tabela 5.2 Erros mximos (Emx) do transdutor de tenso (percentual e absoluta)

Faixa de medio
(V)
220,0
440,0
480,0
600,0
Emx Emx
(%)
0,5
0,5
0,5
0,5
(V)
1,1
2,2
2,4
3,0
Para a faixa de 220 V tem-se o seguinte balano de incertezas (Tabela 5.3):

Tabela 5.3 Balano de incertezas a priori do sistema de medio de tenso
Componentes de incerteza
N
1
2
3
Distribuio de
probabilidades
Fontes
Tipo
Valor
Resoluo do sistema de
medio de tenso proposto
Emx do transdutor de tenso
B
B
B
Graus de
Sensib.
ci
Incerteza
ui
liberdade
Tipo
Divisor
veff
0,1 V
Retangular
1,73
0,058 V
infinito
1,1 V
Retangular
1,73
0,635 V
0,0025 V
Retangular
1,73
1
(p)
100
0,144 V
infinito
infinito
Incerteza Combinada
Normal
0,654 V
infinito
Incerteza Expandida (k=2)
Normal
1,308 V
Emx da placa DAQ
IM (95%) = 1,31 V
Fazendo-se o mesmo balano de incertezas para as demais faixas de

tenses, obtm-se os resultados contidos na tabela 5.4:
Tabela 5.4 Resultados da IM a priori para as faixas de medio de tenso
Faixa de medio
(V)
220,0
440,0
480,0
600,0
IM
( V)
1,3
2,6
2,8
3,5
IM
(%)
0,6
0,6
0,6
0,6
Pode-se notar que a incerteza quase que integralmente devida ao erro

mximo do transdutor de tenso. Foi considerado que tal parcela segue uma
distribuio retangular. Ao se aplicar o procedimento estabelecido pelo Guia [78] e
se relatar a incerteza expandida com probabilidade de abrangncia de 95%, est-se
indo a favor da segurana. Observa-se que a incerteza expandida encontrada foi
20% maior do que a incerteza devido ao erro mximo admissvel do transdutor.
(p)
- Relao entre a tenso placa DAQ ( 10 V) e o valor real da tenso de ensaio (1000 V).
129
O valor mais crtico de tolerncia encontrado nas normas de ensaio (0 e

+5)% do valor de tenso a ser aplicada no ensaio (Vensaio). Para ensaios em que o
limite inferior zero, o procedimento a ser seguido no ensaio de curto-circuito prev
o ajuste da tenso (Vajustada) em +2,5%. Isso possibilitar garantir que a tenso
mnima est sendo aplicada, mesmo na presena da incerteza do sistema de
medio. Com isso tem-se que o erro mximo admissvel passa a ser 2,5% da
Vajustada.
Percebe-se que a incerteza prevista a priori (0,6%) pequena. Essa
incerteza menor que um quarto da tolerncia admissvel para a Vajustada. Isso

permite concluir que sistema de medio de tenso a ser utilizado atende aos
requisitos de tolerncia das normas de ensaios de curto-circuito em disjuntores.
Essa especificao real obtida da avaliao da incerteza a priori no
necessariamente o comportamento do equipamento no processo de medio. Na
grande maioria das vezes o comportamento dos equipamentos bem melhor que o
estabelecido pelo valor limite de sua especificao para as condies para que
projetado [77].
5.2.3 Avaliao da incerteza de medio a priori da medio de corrente
Nessa etapa foram consideradas as incertezas provenientes de uma anlise a
priori dos componentes do sistema de medio de corrente.
A resoluo proposta para o sistema foi baseado na placa DAQ (14 bits):
resoluo mxima =
25
= 0,00152 kA
214
(5.5)
O valor de 25 kA foi escolhido devido ao fato de ser o valor mximo de pico a

ser obtido no ensaio de 10kA rms. A resoluo a ser adotada para o sistema de
medio ser de 0,005 kA.
130
A especificao do erro mximo admissvel do transdutor de corrente,

conforme o fabricante, de 0,8% da leitura. Para as faixas de medio, os valores
dos erros mximos admissveis so apresentados na tabela 5.5:
Tabela 5.5 Erros mximos (Emx) do transdutor de corrente (percentual e absoluta)
Faixa de medio
(kA)
10,000
5,000
3,000
1,500
Emx Emx
(%)
0,5
0,5
0,5
0,5
(kA)
0,050
0,025
0,015
0,008
Para a faixa de 10 kA tem-se o seguinte balano de incertezas (Tabela 5.6):

Tabela 5.6 Balano de incertezas a priori do sistema de medio de corrente
Componentes de incerteza
N
1
2
3
Distribuio de
probabilidades
Fontes
Tipo
Valor
Resoluo do sistema de
medio de corrente proposto
Emx do transdutor de
corrente
Emx da placa DAQ
B
B
B
Graus de
Sensib. ci
Tipo
Divisor
0,0050 kA
Retangular
1,73
0,050 kA
Retangular
1,73
0,0025 V
Retangular
1,73
Incerteza
ui
liberdade
veff
2,5 kA/V
(q)
0,0029 kA
infinito
0,0289 kA
infinito
0,0036 kA
infinito
infinito
Incerteza Combinada
Normal
0,0292 kA
Incerteza Expandida (k=2)
Normal
0,0584 kA
IM (95%) = 0,058 kA
Fazendo o mesmo balano de incertezas para as demais faixas de correntes,

obtm-se a tabela 5.7:
Tabela 5.7 Resultados da IM a priori para as faixas de medio de corrente
Faixa de medio
(kA)
10,000
5,000
3,000
1,500
IM
( kA)
0,058
0,030
0,020
0,013
IM
(%)
0,6
0,6
0,7
0,9
Semelhante ao ocorrido no transdutor de tenso, pode-se notar que a

incerteza quase que integralmente devida ao erro mximo do transdutor de
(q)
- Relao entre a tenso de entrada da placa DAQ ( 10 V) e o valor real da corrente de ensaio
( 25 kA). O valor de 25 kA foi escolhido em funo de ser a corrente de pico mxima a ser medida.
131
corrente na faixa de medio de (5 a 10) kA. Porm abaixo de 5 kA, a influncia da

resoluo e do erro da placa DAQ tornam-se considerveis.
O valor mais crtico de tolerncia encontrado nas normas de ensaio (0 e
+5)% do valor de corrente a ser aplicada no ensaio (Iensaio). Para ensaios em que o
limite inferior zero, o procedimento a ser seguido no ensaio de curto-circuito prev
o ajuste da corrente (Iajustada) em +2,5%. Isso possibilitar garantir que a corrente
mnima est sendo aplicada, mesmo na presena da incerteza do sistema de
medio. Com isso tem-se que o erro mximo admissvel passa a ser 2,5% da
Iajustada.
Percebe-se que a incerteza prevista a priori varia de (0,6 a 0,9)%.
Somente a incerteza, 0,9% (1500 A) um pouco maior que um tero da tolerncia

admissvel para o Iajustada. Isso permite concluir que sistema de medio de corrente
a ser utilizado no atende completamente aos requisitos de tolerncia das normas
de ensaios de curto-circuito em disjuntores para a faixa de medio de 1500 A.
Porm, ressalta-se, que foi utilizado o ganho 0,5 da placa DAQ (Tabela 5.1).
Como a placa DAQ utilizada permite a configurao automtica do ganho, pode-se
utilizar para as medies de (3000 e 1500) A, os respectivos ganhos 1 e 2 da tabela
5.1. Com isso tem-se as resolues e os erros mximos admissveis (E mx) da placa
passam a ser:
para 3000 A, tem-se a resoluo de 0,001 kA e Emx = 1,27 mV;
para 1500 A, tem-se a resoluo de 0,0005 kA e Emx = 0,64 mV.
Com isso, utilizando-se esses dados e aplicando-se a avaliao da incerteza

conforme exposto na tabela 5.5 e 5.6 tem-se respectivamente:
para 3000 A, a IMa priori = 0,018 kA (0,6%);
para 1500 A, a IMa priori = 0,018 kA (0,6%).
132
Isso permite concluir que, utilizando o recurso de configurao do ganho da

placa DAQ, o sistema de medio de corrente a ser utilizado atende completamente
aos requisitos de tolerncia das normas de ensaios de curto-circuito em disjuntores
para toda faixa de medio de corrente.
5.3 Avaliao metrolgica do sistema sincronismo-disparo

Foi feito um planejamento da avaliao metrolgica do sistema sincronismodisparo.
A figura 5.3 mostra um diagrama de blocos com o planejamento para
avaliao das incertezas considerando as principais fontes de incertezas.
Defini-se o sistema sincronismo seguido de disparo (sincronismo-disparo)
como o tempo total cujo incio se estabelece na deteco do zero da senide para a
freqncia de 60 Hz at o valor pr-configurado para o disparo eletrnico.
Conforme mostrado no diagrama de blocos da figura 5.3, a obteno da
incerteza total do sistema sincronismo-disparo foi divido em duas calibraes: uma
para obteno da incerteza de medio da deteco da passagem do zero e outra
para incerteza do disparo. Aps a obteno das duas incertezas, foi calculada a
incerteza total do sistema. Foi utilizada a mesma cadeia de medio apresentada na
figura 5.4, nos dois casos.
Verifica-se na figura 5.3 que se utilizou uma resoluo do SMP cem vezes
maior na obteno da incerteza de medio da contagem (1 ms/div) em relao
incerteza de medio na deteco do zero (10 s/div). Isso ocorre devido limitao
do registro de pontos do osciloscpio (2500 amostras). No foi possvel utilizar uma
resoluo no SMP melhor na obteno da incerteza de medio da contagem em
133
funo de que necessrio medir a diferena entre o instante da passagem por zero
e o disparo a 90, cujo tempo igual a 8,33 ms para freqncia de 60 Hz.
Avaliao da incerteza de medio

Sistema de Medio (SM)
sincronismo-disparo
IM contagem
(0, 30, 45, 60 e 90)
IM Deteco do zero
0
Calibrao
SMP: Calibrador Multifuno
Calibrao
SMP: Calibrador Multifuno
SMC: Osciloscpio
base de tempo: 10 s/div
SMC: Osciloscpio
base de tempo: 1 ms/div
Calibrao
SMP: Osciloscpio
base de tempo: 10 s/div
Calibrao
SMP: Osciloscpio
base de tempo: 1 ms/div
SMC: Sistema WEG

(sincronismo-disparo)
deteco do zero
SMC: Sistema WEG

(sincronismo-disparo)
Contagem
Fontes de incertezas (avaliao

do tipo B):
- IM do SMP;
- resoluo SMC;
- resoluo SMP;
Fonte de incerteza (avaliao do
tipo A):
- repetitividade
IM Total
Sistema de sincronismo-disparo
(0, 30, 45, 60 e 90)
Legenda:
SMC Sistema de medio a calibrar

SMP Sistema de medio padro
Figura 5.3 Diagrama em blocos da avaliao da incerteza de medio do sincronismo-disparo
A calibrao foi executada num ambiente com temperatura de (23 3) C e

umidade relativa de (55 10) %, utilizando-se os recursos disponveis do Laboratrio
de Metrologia
da WEG, rastrevel aos laboratrios acreditados, pertencentes
Rede Brasileira de Calibrao.

Cada ponto foi medido 5 vezes, na avaliao do sistema de disparosincronismo, de forma a verificar a repetitividade do instrumento [80].
Para determinao da incerteza de medio no sincronismo foi feita uma
anlise dos componentes que compem o circuito de ensaio.
134
Gerador
de
Funes
Placa
NI PXI 6133
(SMC)
Osciloscpio (SMP)
Tektronix TPS2014
Legenda:
SMC sistema de medio a calibrar
SMP sistema de medio padro
Figura 5.4 Diagrama de blocos da calibrao do sistema sincronismo-disparo
Foram escolhidos os componentes de modo que o hardware utilizado fosse

capaz de fornecer um sistema de disparo com uma incerteza de medio menor que
46,3 s (1) e uma resoluo de no mximo um quinto de tal valor. Isso inclui a
incerteza na determinao do zero e na contagem.
Foi desenvolvido um programa em Labview, em conjunto com o hardware da
National Instrument, que realiza as funes de disparo com confiabilidade conforme
prescrito em algumas normas de ensaios como por exemplo a IEC 60898-1 [11].
Para que um processo de medio seja adequado necessrio avaliar a
incerteza da medio e comprovar que essa seja menor do que a incerteza
admissvel para o processo [87]. Pode-se expandir esse conceito para um sistema
de controle onde a confiabilidade metrolgica est associada ao determinismo no
disparo. Nesse caso, no h um sistema de medio de uma grandeza. O que se
deseja que o disparo do sistema seja feito em um determinado instante definido
pelo ensaio de curto-circuito (exemplo: 90) com uma incerteza menor que 1.
135
5.3.1 Avaliao da incerteza de medio na deteco do zero.

Nesta etapa foram consideradas as incertezas provenientes da deteco do
instante em que a senide da rede eltrica passa por zero.
O SMP (sistema de medio padro) utilizado foi:
Osciloscpio TPS 2014, cujas caractersticas tcnicas so resumidas:
taxa de amostragem 5 S/s a 1 GS/s;
comprimento do registro 2500 amostras para cada canal;
largura de banda 100 MHz;
erro mximo admissvel 50 s/s (intervalo de tempo 1 ms).
Esse equipamento foi calibrado na faixa de medio conforme mostrado na

tabela 5.8, utilizando-se como SMP o calibrador Fluke 5500 do Laboratrio de
Metrologia da WEG. O calibrador Fluke foi calibrado pelo Laboratrio LABELO/PUC
acreditado pelo INMETRO para servios de calibrao, dentro da RBC.
Foi utilizado o registro do osciloscpio (2500 pontos) para anlise das curvas.
Os valores obtidos foram transferidos para o programa Excel, onde pode-se analisar
os resultados ponto a ponto conforme mostrados na figura 5.5. Isso, melhora a
confiabilidade da calibrao, pois no se utiliza o visor do osciloscpio, que possui
limitao de resoluo e do foco do trao gerado na leitura.
A figura 5.5 mostra um exemplo de um resultado de uma medio para a
calibrao da base de tempo do osciloscpio (10 s/div) executado conforme
procedimento interno WEG baseado na referncia [17]. O valor verdadeiro
convencional (VVC) gerado pelo calibrador multifuno Fluke 5500 foi de 5,00 s,
atravs da forma de onda peridica apresentada na figura 5.5. Normalmente,
comparado o VVC gerado pelo calibrador com a forma de onda apresentada na tela
136
do osciloscpio. Porm, para aumentar a resoluo, foram exportados os valores

que geraram a forma de onda para uma planilha de dados do programa Excel.
Conforme informado pelo Laboratrio de Metrologia da WEG, usual a
calibrao da base de tempo do osciloscpio ser feita somente em um ponto por
base de tempo.
Figura 5.5 Calibrao da base de tempo do osciloscpio (VVC = 5,00 s)
Todos os valores de tempo foram referenciados em graus que a unidade

utilizada para a aplicao do sincronismo-disparo.
O balano das incertezas da calibrao do osciloscpio na escala tempo de
10 s/div foi executado conforme segue:
SMP: Fluke 5500
SMC: Osciloscpio Tektronix TPS 2014 - escala tempo: 10 s/div
O resultado da medio apresentado na tabela 5.8:
137
Tabela 5.8 Resultado da medio

SMP
(s)
5,00
5,00
5,00
5,00
5,00
Nmero
leituras
1
2
3
4
5
SMP
()
0,108
0,108
0,108
0,108
0,108
SMC
(s)
5,00
5,00
5,00
5,00
5,00
Mdia
Desvio Padro D.P.
SMC
()
0,108
0,108
0,108
0,108
0,108
0,108
0,000
Td = 0,000 (tendncia)
A tabela 5.9 apresenta o balano das parcelas adicionais de incerteza que em
conjunto com a tendncia compe o erro mximo avaliado do osciloscpio na faixa
de medio de 10 s/div.
Em favor da segurana, devido ao fato do desvio padro calculado ser igual a
zero, considerou-se a repetitividade igual a uma resoluo do SMC.
Tabela 5.9 Balano de incertezas calibrao osciloscpio 10 s/div (0,22/div)
Componentes de Incerteza
N
1
Fontes
Repetitividade
Tipo
Valor
0,02 s
Incerteza do SMP
0,01 s
3
4
Resoluo do SMC
Resoluo do SMP
B
B
0,02 s
0,005 s
Incerteza Combinada
Incerteza Expandida
(k = 2,15)
Distribuio de
Probabilidades
Tipo
Divisor
Retangular
Normal
(k=2,7)(r)
Retangular
Retangular
1,73
Graus de
Sensib. ci
Incerteza
ui
Liberdade
veff
0,0216/s
(s)
0,0002
2,7
0,0216/s
0,0001
Infinito
1,73
1,73
0,0216 /s
0,0216 /s
0,0002
0,0001
Infinito
Infinito
Normal
0,0004
18,86
Normal
0,0008
IM(95%) = 0,001
Percebe-se que a incerteza encontrada muito pequena, o que permite
concluir que o osciloscpio adequado como padro para avaliao da incerteza de
medio do instante de cruzamento por zero.
A tabela 5.10 mostra o resultado da calibrao e a tabela 5.11 mostra o
clculo da incerteza de medio na deteco do zero do sistema sincronismo(r)
(s)
- Certificado de calibrao n E0340a/2002 Labelo/PUCRS.

- Relao entre a o perodo da senide na freqncia de 60 Hz (360 = 16,667 ms).
138
disparo. A figura 5.6 mostra um dos resultados dessa calibrao. Foram executadas
5 medies para avaliar a incerteza de medio. Cada medida foi obtida entre o
valor detectado como passagem pelo zero (sinal do seqenciador-disparo) e a
primeira deteco real de passagem pelo zero ou ltima passagem por zero (o que
for maior sinal de tenso passando por zero).
Figura 5.6 Calibrao para avaliao da incerteza de medio da deteco do zero
O balano das incertezas da calibrao do sistema sincronismo-disparo

(deteco do zero) foi executada conforme segue:
SMP: Osciloscpio Tektronix TPS 2014
SMC: Sistema sincronismo-disparo (deteco do zero)
139

Nmero
leituras
1
2
3
4
5
SMC
()
0,0
0,0
0,0
0,0
0,0
Mdia
Desvio Padro D.P.
SMP
()
-0,04
-0,06
0,05
-0,04
-0,05
-0,028
0,044
Td = - 0,03
A tabela 5.11 apresenta o balano das parcelas adicionais de incerteza que
em conjunto com a tendncia compe o erro mximo avaliado na deteco do zero.
Tabela 5.11 Balano de incertezas da deteco do zero
N
Fontes
Tipo
Valor
Repetitividade
0,044
2
3
4
Incerteza do SMP
Resoluo do SMC
Resoluo do SMP
B
B
B
0,001
0,05
0,02 s
Incerteza Combinada
Incerteza Expandida
(k = 2,37)
IM(95%) = 0,12
Distribuio de
Probabilidades
Tipo
Divisor
Normal
Normal
(k = 2,15)
Retangular
Retangular
Graus de
Sensib. ci
Incerteza
ui
Liberdade
veff
0,044
2,15
1,73
1,73
1
1
0,0216/s
0,0004
0,029
0,0002
Infinito
Infinito
Infinito
Normal
0,053
8,19
Normal
0,125
e a IMdeteco zero(95%) = 0,15 (considerando que no
ser feita a correo da tendncia na deteco do zero)

5.3.2 Avaliao da incerteza de medio na contagem - disparo a 90
Novamente, utilizou-se como SMP, o osciloscpio Tektronix TPS 2014 como
padro. Porm como a regio de medio da curva maior, houve a necessidade
de mudana da escala de tempo do osciloscpio para 1 ms/div. Por isso o
osciloscpio foi calibrado novamente nessa faixa de medio.
O balano das incertezas da calibrao do osciloscpio na escala tempo de
1 ms/div foi executada conforme segue:
140
SMP: Fluke 5500

SMC: Osciloscpio Tektronix TPS 2014 escala tempo: 1 ms/div
SMP
(s)
1000
1000
1000
1000
1000
Nmero
leituras
1
2
3
4
5
SMP
()
21,60
21,60
21,60
21,60
21,60
SMC
(s)
1000
1000
1000
1000
1000
Mdia
Desvio Padro D.P.
SMC
()
21,6
21,6
21,6
21,6
21,6
21,6
0,00
Td = 0,00
em conjunto com a tendncia compe o erro mximo avaliado do osciloscpio na
faixa de medio de 1 ms/div.
Em favor da segurana, considerou-se a repetitividade igual a uma resoluo
do SMC.
Tabela 5.13 Balano de incertezas calibrao osciloscpio 1 ms/div (21,6/div)
N
Fontes
Tipo
Valor
Repetitividade
2 s
Incerteza do SMP
1 s
3
4
Resoluo do SMC
Resoluo do SMP
B
B
2 s
0,5 s
Incerteza Combinada
Incerteza Expandida
(k = 2,15)
Distribuio de
Probabilidades
Graus de
Sensib. ci
Incerteza
ui
Liberdade
Tipo
Divisor
veff
Retangular
Normal
(k=2,7)(t)
Retangular
Retangular
1,73
0,0216 /s
0,025
2,7
0,0216 /s
0,008
Infinito
1,73
1,73
0,0216 /s
0,0216 /s
0,025
0,006
Infinito
Infinito
Normal
0,037
18,86
Normal
0,079
IM 90 contagem(95%) = 0,08
Percebe-se que a incerteza encontrada pequena, o que permite concluir
que o osciloscpio adequado como padro para avaliao da incerteza de
medio na contagem com o disparo.
(t)
- certificado de calibrao n E0340a/2002 Labelo/PUCRS.
141
A utilizao da onda quadrada possibilita a calibrao da contagem com uma

maior confiabilidade, pois a incerteza na passagem por zero torna-se desprezvel,
em funo do tempo de subida da onda quadrada ser da ordem de nanosegundos.
Em razo de que a incerteza na deteco da passagem por zero ter sido obtida no
item 5.3.1, optou-se por utilizar na gerao do sinal, uma onda quadrada ao invs da
forma de onda senoidal (Figura 5.7). Essa utilizao facilitou o processo de medio
do disparo em 90 e nos outros ngulos calibrados 0, 30, 45 e 60.
Calibrao da contagem 90
12
9
8,400E-04
89,86
5,004E-03
tenso (V)
3
0
7,0E-04
-3
2,7E-03
4,7E-03
6,7E-03
8,7E-03
Onda quadrada (60 Hz)

-6
Sistema sinc ronismo-disparo
-9
-12
tempo (s)
Figura 5.7 Calibrao para avaliao da incerteza de medio da deteco em 90
A incerteza da medio no disparo a 90 foi obtida a partir dos clculos

mostrado na tabela 5.15. O balano das incertezas da calibrao da contagem em
90 foi executada conforme segue:
SMP: Osciloscpio Tektronix TPS 2014
SMC: Sistema Sincronismo-disparo (pr-configurado para o disparo em 90)
142

Nmero
leituras
1
2
3
4
5
SMC
()
90,0
90,0
90,0
90,0
90,0
Mdia
Desvio Padro D.P.
SMP
()
89,86
89,86
89,86
89,94
89,94
89,892
0,044
Td = - 0,11
em conjunto com a tendncia compe o erro mximo avaliado disparo a 90.
Tabela 5.15 Balano de incertezas calibrao do disparo a 90
N
Fontes
Graus de
Distribuio de
Probabilidades
Tipo
Valor
Sensi
b. ci
Incerteza
ui
Liberdade
Tipo
Divisor
1
0,044
2,15
0,037
Infinito
0,05
Normal
Normal
(k = 2,15)
Retangular
1,73
0,029
Infinito
2 s
Retangular
1,73
1
0,0216
(/s)
0,025
Infinito
Normal
0,069
24,47
Normal
0,147
Repetitividade
0,044
Incerteza do SMP
0,08
Resoluo do SMC
Resoluo do SMP
Incerteza Combinada
Incerteza Expandida
(k = 2,13)
veff
IM(95%) = 0,15 e a IM total(95%) = 0,26 (considerando que no ser feita

a correo da tendncia)
O mesmo processo de medio e clculo da incerteza de medio foi feito
para os ngulos 0, 30, 45 e 60.
Um resumo da incerteza de medio na contagem mostrado na tabela 5.16.
Tabela 5.16 Resultados da determinao da IM da contagem
ngulo
()
0
30
45
60
90
Td - contagem
()
0,00
- 0,02
- 0,04
- 0,04
-0,11
IM contagem
()
0,12
0,12
0,15
0,12
0,15
IM Total - contagem
()
0,12
0,14
0,19
0,16
0,26
143
5.3.3 Aplicao da incerteza da medio na avaliao do resultado do ensaio

de curto-circuito
Um resumo da IM do sistema sincronismo-disparo mostrado na tabela 5.17.
Tabela 5.17 Resultados da determinao da IM do sistema sincronismo-disparo
ngulo
()
0
30
45
60
90
IM zero
()
0,12
0,12
0,12
0,12
0,12
Td - zero
()
- 0,03
- 0,03
- 0,03
- 0,03
- 0,03
Td - contagem
()
0,00
- 0,02
- 0,04
- 0,04
-0,11
IM contagem
()
0,12
0,12
0,15
0,12
0,15
IM Total
()
0,27
0,29
0,34
0,31
0,41
importante estabelecer critrios de conformidade baseados nas tolerncias

e, com base nas medies, criar um mtodo de trabalho que garanta um resultado
confivel avaliao da conformidade. Conforme exposto na tabela 2.2, a tolerncia
mxima aceitvel para o disparo de 5. Portanto, o sistema de controle
desenvolvido possui as caractersticas metrolgicas requeridas para uso pretendido.
Ressalta-se que no foi considerado o sistema completo, pois no foi
adquirida a parte de potncia do disparador. Est sendo projetado e construdo em
paralelo a este trabalho, um circuito de potncia para complementar o disparador,
baseado em tecnologia de estado slido, com incerteza bem inferior ao do circuito
de controle. Dessa forma espera-se desempenho totalmente satisfatrio do circuito
de sincronismo e disparo.
As avaliaes a priori realizadas sobre os sistemas de medio de tenso e
de corrente e a avaliao experimental realizada sobre o circuito de controle do
sistema de sincronismo e disparo levaram a valores plenamente adequados para a
aplicao. Dessa forma o projeto do sistema automatizado de ensaio de curtocircuito
desenvolvido no mbito desta dissertao atende aos requisitos
metrolgicos impostos pelas normas internacionais usualmente aplicadas.
144
6 Concluses e sugestes para trabalhos futuros

6.1 Concluses
Procurou-se, nesta dissertao, manter-se o aprofundamento necessrio em
cada um dos temas estudados, sem comprometer a abrangncia e a aplicao
imediata dos resultados. Com o aprofundamento, buscou-se garantir que cada uma
das solues adotadas para problemas particulares representassem o estado-daarte ou at o avano neste. Com o enfoque da abrangncia e da aplicao imediata
visou-se garantir que as solues particulares pudessem, de imediato, integrar um
sistema real, automatizado, de ensaio de curto-circuito, metrologicamente confivel.
Para facilitar a apresentao, as concluses foram divididas em tpicos, que
no necessariamente se relacionam com as fases individuais do desenvolvimento
deste trabalho.
6.1.1 Estado-da-arte em ensaios de curto-circuito
Concernente s normas de ensaios de curto-circuito em disjuntores, concluise que h uma diferenciao importante entre os equipamentos que so utilizados
por tcnicos e por pessoas no habilitadas. Essa diferenciao gera dois tipos de
normas e conseqentemente dois tipos particulares de seqncia de ensaios de
curtos-circuitos. Percebe-se que no Brasil ainda falta um consenso de que normas
podero ser utilizadas no caso de disjuntores utilizados por pessoas no habilitadas
(minidisjuntores).
As principais normas, nacionais e internacionais, em alguns casos, so
desatualizadas e at mesmo omissas em alguns detalhes de medio. Essas
normas podem ser melhoradas para orientar os usurios e homogeneizar os
mtodos de medio. Por exemplo, algumas normas no mencionam qual
145
equipamento a ser utilizado para obteno do fator de potncia. Pode-se usar o

registrador de papel em conjunto com uma escala (escala de uso geral), mtodo
limitado operacionalmente, cuja incerteza de medio relativamente grande em
comparao com a medio utilizando um registrador digital.
Quanto s tolerncias abordadas nas normas de ensaio de curto-circuito em
disjuntores, verifica-se que a maioria das grandezas mensuradas no ensaio possui
um critrio de aceitao definido.
Na avaliao da rastreabilidade do ensaio, enfatiza-se a grandeza corrente
eltrica por ser a mais crtica. Devido ao fato de serem bastante elevados os nveis
de correntes a serem mensurados, da ordem de quiloampres, h a necessidade de
laboratrios especficos para este tipo de calibrao e intercomparao. Na Amrica
Latina, nos laboratrios visitados, apesar de serem executados ensaios de centenas
de quiloampres, no foram encontradas evidncias de que o sistema de medio
seja calibrado, com rastreabilidade, em valores superiores a 5 kA.
6.1.2 Seleo de instrumentos para medio de tenso e corrente
Com a reviso bibliogrfica das formas usuais de medio de tenso,
corrente, fator de potncia e controle do sincronismo, pode-se analisar as vantagens
e desvantagens da utilizao de cada tipo de transdutor. Uma ateno especial foi
dada medio de corrente de curto-circuito e controle do sincronismo por no
serem to triviais como a medio tenso.
Para a obteno do fator de potncia, ressalta-se a importncia da utilizao
de um registro digital dos dados, obtendo uma maior confiabilidade na medio dos
valores que resultaro na obteno do fator de potncia.
146
Quanto medio de corrente, conclui-se que os quatro transdutores

estudados, transformador de corrente, derivador resistivo, bobina de Rogowski e
sensor de corrente por efeito Hall, podem ser utilizados no ensaio de curto-circuito.
Ressaltam-se alguns pontos importantes obtidos no estudo:
cuidado especial que deve ser tomado na medio utilizando o

transformador de corrente e o sensor de corrente por efeito Hall devido
ao problema de saturao devida s elevadas correntes a serem
mensuradas;
o perigo da operao do transformador de corrente com o secundrio

em
aberto.
Possibilidade
de
elevada
tenso
na
sada
do
transformador;
Em funo do ensaio ser dinmico e freqentemente a sua durao

ser da ordem de milisegundos, deve ser avaliado o tempo de resposta
do sistema de medio;
h ensaios de curto-circuito em corrente contnua. Para estes ensaios,

somente o derivador resistivo e o sensor de efeito Hall so adequados
a fazerem medies;
o derivador resistivo o nico transdutor que no tem isolao

galvnica, portanto um cuidado especial deve ser tomado para a
proteo do sistema de medio.
6.1.3 Sistema sincronismo-disparo

Quanto ao sistema sincronismo-disparo, verifica-se que alguns laboratrios
no atendem ao requisito de tolerncia de algumas normas, ( 5).
Estabeleceu-se neste documento uma comparao entre as incertezas de
medio obtidas nos sistemas sincronismo-disparo entre os laboratrios da Europa e
147
da Amrica Latina. Conclui-se que os laboratrios da Europa possuem uma

incerteza menor que a apresentada pelos laboratrios da Amrica Latina.
Quanto definio do sistema sincronismo-disparo, optou-se por um
desenvolvimento prprio que trouxe como principais vantagens, alm do
baixo
custo, uma flexibilidade do sistema associado a uma elevada confiabilidade

metrolgica. A utilizao do disparo em nvel de hardware, permite que o sistema
seja confivel independente do sistema operacional em que o mesmo esteja
rodando. Porm, para utilizao do sistema de controle decidiu-se rodar o programa
em um ambiente de tempo real.
6.1.4 Automao do ensaio
Foi proposto o desenvolvimento de um sistema automatizado de ensaio de
curto-circuito que est na primeira verso. Foi feito primeiramente um sistema
monofsico de ensaio. Este sistema tem possibilitado fazer diversos ensaios
permitindo avaliar os problemas e melhorias para possibilitar a construo do
sistema definitivo. Um sistema trifsico bem mais confivel e automatizado est
sendo feito para atender s necessidades dos ensaios de curto-circuito.
Dois detalhes importantes motivaram a escolha dos transdutores de corrente
(derivador resistivo coaxial) e de tenso (divisor resistivo compensado) para a
montagem do sistema de ensaio. So eles: a impossibilidade de saturao na
medio de corrente e a possibilidade da execuo do ensaio de curto-circuito em
correntes contnuas.
Quanto definio do software, pode-se concluir que a utilizao do Labview
trouxe flexibilidade, facilidade de uso e, principalmente, mostrou ser uma ferramenta
bastante poderosa e confivel na medio, na anlise de dados e no gerenciamento
do processo de ensaio.
148
6.1.5 Comportamento metrolgico do sistema proposto

Com a avaliao do comportamento metrolgico do sistema, conclu-se que, a
priori, os sistemas de medio de tenso e corrente atendem s especificaes das
normas de ensaios de disjuntores. Com as medidas de reduo de interferncia e
rudos que esto previstos, espera-se praticar incertezas de medio abaixo de um
quinto da tolerncia, sem necessidade de compensao de fatores sistemticos. No
entanto, caso venha a ser necessria a compensao, essa ser facilitada
sobremaneira pela automao integral do ensaio.
A calibrao e a determinao da incerteza do sistema de medio devero
ser executadas to logo o sistema definitivo esteja montado.
Quanto aos resultados da medio do sistema sincronismo-disparo, concluise que o sistema proposto atende aos requisitos de tolerncias das normas de
ensaio. A incerteza de medio obtida foi menor que um dcimo da tolerncia
estabelecida nas normas de ensaio de disjuntores. Ressalta-se que o complemento
do sistema de disparo (chaveamento de potncia) est em fase de projeto e esperase que o sistema completo no ultrapasse a incerteza de 1.
6.1.6 Alcance dos objetivos propostos
Com o desenvolvimento da dissertao, permitiu-se dominar a tecnologia
envolvida no ensaio de curto-circuito. Pode-se verificar e analisar as limitaes , do
ponto de vista metrolgico, concernentes s medies de altas correntes.
Com o aprofundamento terico, pde-se obter uma ligao entre as
tecnologias de medies disponveis e o ensaio especfico de curto-circuito.
Com a montagem parcial do sistema de ensaio, permitiu-se a verificao, na
prtica, dos conhecimentos adquiridos, assim como a avaliao do comportamento
metrolgico do sistema.
149
6.2 Sugestes para trabalhos futuros

Com a concluso deste trabalho, novas oportunidades de desenvolvimentos
surgem como complementao e at mesmo preenchimento de algumas lacunas
deixadas.
Um dos grandes entraves garantia da confiabilidade dos ensaios a
dificuldade de se obter rastreabilidade em altas correntes. Cabe estudar a
viabilidade de se garantir a confiabilidade do sistema de medio por um conjunto de
outras evidncias, que no a calibrao freqente em altas correntes. Cabe tambm
um estudo que resulte em recomendaes para definio de intervalos de calibrao
e de verificaes intermedirias.
Uma sugesto de trabalho o estabelecimento da rastreabilidade, na Amrica
Latina, atravs da implementao da calibrao ou intercomparao laboratorial.
Essa implementao deve prever as caractersticas particulares do ensaio de curtocircuito (avaliao do comportamento dinmico e o ensaio com a presena da
componente unidirecional) .
Um tema ainda pouco dominado a interferncia eletromagntica devido aos
elevados campos magnticos gerados pelas altas correntes presentes em ensaios
de curto-circuito. Cabe analisar o uso de blindagens, a importncia do
posicionamento dos equipamentos de medio e dos cabos de conexo, assim
como outros fatores que podem influenciar na confiabilidade metrolgica do sistema.
O estudo detalhado da tenso de arco eltrico gerado no ensaio de curtocircuito em disjuntores eltricos um assunto a ser aprofundado. Muitos
desenvolvimentos tm sido feitos nessa rea de atuao, porm no comum uma
abordagem metrolgica.
150
Cabe tambm uma reviso das normas e dos procedimentos de ensaio de

curto-circuito, brasileiros e internacionais, considerando o estado-da-arte em
metrologia e automao de medio.
151
Referncias
[1] ABNT ASSOCIAO BRASILEIRA DE NORMAS TCNICAS. NBR 5459
Manobra e Proteo de Circuitos. Rio de Janeiro, RJ, jun. 1997.
[2] KINDERMANN, G. Curto-Circuito. 3. ed., Florianpolis, SC: UFSC EEL
LabPlan, 2003.
[3] SIEMENS, Manual de baixa tenso. 2 ed., So Paulo, Editora Nobel, 1990, 1 v.,
p. 60-80.
[4] SCHNEIDER ELECTRIC, Programa de Formao Tcnica Continuada - Os
Efeitos do Curto-circuito. Disponvel em: <www.schneider.com.br>. Schneider
Electric Brasil. Acesso em: 19 maio 2004.
[5] SLUIS, L. van der, Transients in Power Systems. England, ed. John Wiley &
Sons Ltd, 2001. 207p.
[6] IEC INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION. IEC 60947-1
Low-voltage switchgear and controlgear Part 1: General Rules. Geneva,
Switzerland, Dec. 2001.
[7] DAMP, J. L., Ensayos de Potncia: Tcnicas de ensayo y medicin com
altas corrientes. LEME Laboratorio de Ensayos y Mediciones Elctricas,
Departamento de Electrotecnia, Facultad de Ingeniera de la UNLP, La Plata, Bs.
As., Argentina, 2003.
Low-voltage switchgear and controlgear Part 2: Circuit-breakers. Geneva,
Switzerland, Apr. 2003.
Disjuntor de baixa tenso. Rio de Janeiro, RJ, set. 1998.
[10] ABNT ASSOCIAO BRASILEIRA DE NORMAS TCNICAS. NBR NM
60898 Disjuntores para proteo de sobrecorrentes para instalaes
domsticas e similares. Rio de Janeiro, RJ, out. 2004.
Electrical accessories Circuit breakers for overcurrent protection for
152
household and similar installations Part-1: Circuit breakers for a.c. operation.
Geneva, Switzerland, Jul. 2003.
[12] INMETRO INSTITUTO NACIONAL DE METROLOGIA, NORMALIZAO E
QUALIDADE INDUSTRIAL, Avaliao da Conformidade. 3 ed., jun. 2004.
Disponvel em: <http://www.inmetro.gov.br/qualidade/cartilha_aval_conf_jun04.pdf>.
Acesso em: 07 jul. 2005.
[13] IEC INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION. IEC 60947-4-1
Low-voltage switchgear and controlgear Part 4-1: Contactors and motorstaters- Electromechanical contactors and motor-staters. Geneva, Switzerland,
Sep. 2002.
[14] UL UNDERWRITERS Laboratories Inc. UL 489 Molded Case Circuit
Breaker, Molded Case Switches and Circuit Breakers Enclosures. Northbrook,
IL, Apr. 2002.
[15] UL UNDERWRITERS Laboratories Inc. UL 508 Industrial Control
Equipment. Northbrook, IL, Jan. 1999.
[16] INSTITUTO NACIONAL DE METROLOGIA, NORMALIZAO E QUALIDADE
INDUSTRIAL (INMETRO). VIM Vocabulrio internacional de termos
fundamentais e gerais de metrologia. INMETRO. mar. 1995
[17] FLUKE CORPORATION, Calibration: Philosophy in Practice. 2nd ed., USA,
Everett, WA, 1994, p. 3-1 a 3-7.
INDUSTRIAL (INMETRO). DOQ-DIMCI-003 Orientaes sobre calibrao e
rastreabilidade das medies em laboratrios. INMETRO. jun. 1999.
QUALIDADE INDUSTRIAL, Estrutura Hierrquica de Rastreabilidade.
Disponvel em: <www.inmetro.gov.br>. Acesso em: 15 mar. 2005.
[20] USP IEE UNIVERSIDADE DE SO PAULO INSTITUTO DE
ELETROTCNICA E ENERGIA, Seo tcnica de padres eltricos. Disponvel
em: <www.iee.usp.br>. Acesso em: 10 mar. 2005.
[21] EIJI SUETA, H. Medio de Altas Correntes em Freqncia Industrial:
Instrumentao, Dispositivos de Medio e Calibraes. So Paulo, SP:
153
Dissertao de Mestrado, Escola Politcnica da Universidade de So Paulo para

obteno do ttulo de Mestre em Engenharia., fev. 1998.
QUALIDADE INDUSTRIAL, Sistema Internacional de Unidade - SI. 6 ed.,
Braslia, SENAI/DN, 2000, 114 p.
[23] EUROPEAN COMISSION PROJECT No. MAT1-CT94-0066, Traceability of
High-current Measuring Systems in High-power Laboratories to Standard of
Measurement. Final report, Mannheim, Germany, Sep. 1998.
[24] GNTHER, I. D., Modelamento de um minidisjuntor sob curto-circuito.
Florianpolis, SC: Dissertao de Mestrado, UFSC: Programa de Ps- Graduao
em Engenharia Mecnica para obteno do ttulo de Mestre em Engenharia
Mecnica, fev. 2005. 125p.
[25] LEM COMPONENTS. Isolated current and voltage transducers
characteristics applications calculations. 3 ed. Disponvel em:
<http://www.lem.com> LEM COMPONENTS. Acesso em: 02 mar. 2005.
[26] SCHWAB, A. J., High-voltage Measurement Techniques. USA, The
Massachusetts Intitute of Technologyed, 1972, 287p.
[27] SLOMOVITZ, D., BERGALLI P., DAHER, J. F., Evaluation of Low-frequency
Voltage Dividers, Using The Step Response IEEE Precision electromagnetic
Measurement Digest 1998 Conference on, July 1998, p. 319-320.
[28] IKEDA, M., A relevncia da calibrao de transformadores para
instrumentos em sistemas eltricos de medio. Disponvel em:
<http://www.lactec.org.br/publicacoes/1999/013_1999.pdf>. Instituto Tecnolgico do
Laboratrio Central de Pesquisa e Desenvolvimento - LACTEC. Acesso em: 01 jan.
2004.
[29] MEDEIROS, S. F., Medio de Energia Eltrica, 4 ed., Rio de Janeiro, RJ:
LTC, 1997, cap. 2, p. 29-148.
[30] DAMP, J. L., Medidas Elctricas Guia de Estdios. LEME Laboratorio de
Ensayos y Mediciones Elctricas, Departamento de Electrotecnia, Facultad de
Ingeniera de la UNLP, La Plata, Bs. As., Argentina, 2003.
Transformadores para Instrumentos: Terminologia. Rio de janeiro, RJ, abr. 1991.
154

Transformadores de corrente: Especificao. Rio de janeiro, RJ, abr. 1992.
[33] IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS ENGINEERS
Standard Requirements for Instrument Transformers. Mar. 1994. (Revision of
IEEE Std C57.13-1978)
[34]
BANDEIRA, M. I. da C., Automao do ensaio de saturao em
transformadores de corrente utilizados em sistemas de transmisso de energia
eltrica. Florianpolis, SC: Dissertao de Mestrado, UFSC: Programa de PsGraduao em Metrologia Cientfica e Industrial para obteno do ttulo de Mestre
em Metrologia., dez. 2004. 129p.
Transformadores de corrente: Mtodo de Ensaio. Rio de Janeiro, RJ, abr.1992.
Instrument Transformers Part-1: Current Transformers. Geneva, Switzerland,
Feb. 2003, ed. 1.2.
Instrument Transformers Part-6: Requirements for protective current
transformers for transient performance. Geneva, Switzerland, Mar. 1992.
[38] IEEE, Supplement to IEEE Standard for Metal-Clad and Station-Type
Cubicle Switchgear: Current Transformer Accuracies. IEEE Std C37.20.2b-1994
(Supplement to IEEE Std C37.20.2-1993), June 1994.
[39] CALS, P. de O., Anlise de Transformadores de Corrente Para Medio. Rio
de Janeiro, RJ: Dissertao de Mestrado, PUC-Rio: Pontifcia Universidade Catlica
do Rio de Janeiro para obteno do ttulo de Mestre em Metrologia., fev. 2001. 142p.
[40] YU, D. C., WANG, Z. W., CUMMINS, J. C., YOON, H. J., KOJOVIC, L. A.,
STONE, D., Neural Network for Current Transformer Saturation Correction.
IEEE Transmission and Distribuition Conference , 1999, 1 v., P. 441-446.
[41] GUSMN, A., ZOCHOLL, S., BENMOUYAL, G., ALTUVE, H. J., A CurrentBased Solution for Transformer Differential Protection Part I: Problem
Statement. IEEE Transactions on Power Delivery, Oct. 2001, n.4, 16 v., P.485-491.
155
[42] BUNYAGUL, T., CROSSLEY P., GALE P., Overcurrent Protection Using
Signals Derived from Saturated Measurement CTs. IEEE Power Engineering
Society Summer Meeting, July 2001, 1 v., P.103-108
[43] SAADAT, H., Power System Analysis. New York, ed. McGraw-Hill Companies,
1999. p. 315-317.
[44] SCHNEIDER ELECTRIC, Cashier Technique no. 158 Calculation of shortcircuit currents. Disponvel em: <http://www.schneider-electric.com>. Schneider
Electric Brasil. Acesso em: 19 maio 2004.
[45] GREENWOOD, A. Electrical Transients in Power Systems. Wiley
Interscience a division of Jonh Wiley & Sons, Inc. USA, 1971. cap. 16, p. 445-485.
[46] XIAO, C., ZHAO, L., ASADA, T., ODENDAAL, W. G., WYK, van J. D., An
Overview of Integratable Current Sensor Technologies. IEEE Industry
Applications Conference, Oct. 2003, 2 v., p.1251-1258.
[47] MORAN, P., GILBERT, A., FRANCOIS, G.I., PIGNOLET, P., Coaxial shunt
intended for transient current measurement in a pseudospark switch. IEEE
Proceedings of Science, Measurement and Technology, Mar. 1996, 143 v., n. 2, p.
119-124.
[48] JOHNSON, C. M., PALMER, P. R., Current measurement using
compensated coaxial shunts. IEEE Proceedings of Science, Measurement and
Technology, Nov. 1994, 141 v., n. 6, p. 471-480.
[49] DESTEFAN, D. E., STANT, R. S., RAMBOZ, J. D., AC and DC Shunts Can
You Believe Their Specs? IEEE Instrumentation and Measurement Conference,
May 2003, p. 1577-1582.
[50] FERREIRA, J. A., CRONJE W. A., RELIHAN, W.A., Integration of high
frequency current shunts in power electronic circuits. IEEE Transactions on
Power Electronics, 1995, 10 v., n. 1, p. 32-37.
[51] BRAUDAWAY, D. W., Behavior of Resistors and Shunts: With Todays HighPrecision Measurement Capability and a Century of Materials Experience, What
Can Go Wrong? IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, Oct.
1999, 48 v., n.5, p. 884-893.
156
[52] WITCHER, J. B., Methodology for Switching Characterization of Power

devices and Modules. Virginia, USA: Thesi submitted to the Faculty of Virginia
Polytechnic Institute for degree of mster os Science, Jan. 2002. p. 23-26.
[53] IEEE. INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS ENGINEERS. The
IEEE Standard dictionary of electrical and electronics terms. IEEE Std 100 1996. 6 ed. New York, Dec. 1996.
[54] RAMBOZ, J.D., Machinable Rogowski Coil, Design, and Calibration. IEEE
Transactions on Instrumentation and Measurement, Apr. 1996, n.2, 45 v., p. 511-515.
[55] KOJOVIC, L. A., Rogowski Coils Suit Relay Protection and Measurement.
IEEE Computer Applications in Power, July 1997, 10 v., n.3, p. 47-52.
[56]
KONN, W., Current sensing for energy metering. Disponvel em:
<http://www.analog.com/UploadedFiles/Technical_Articles/16174506155607IIC_Pap
er.pdf>, Analog Devices, Inc. Acesso em: 25 dez. 2004.
[57] RAMBOZ, J.D.; DESTEFAN, D.E.; STANT, R.S, The verification of Rogowski
coil linearity from 200 A to greater than 100 kA using ratio methods.
Instrumentation and Measurement Technology Conference, 2002. IMTC/2002.
Proceedings of the 19th IEEE, May 2002, 1 v., p. 687-692.
[58] HONEYWELL MICRO SWITCH SENSING AND CONTROL, Chapter 5: HallBased Sensing Device . Disponvel em: <http://www.honeywell.com>. Acesso em:
18 mar. 2005. p. 33-44.
[59] UFPR UNIVERSIDADE FEDERAL DO PARAN, Sensor Hall KSY14 de
Arseneto
de
Glio.
Disponvel
em:
<http://www.eletrica.ufpr.br/edu/ie00/transd/fernando/>. Acesso em: 25 mar. 2005.
[60] GRADOS, H. R. J., Contribuio no estudo do transistor MOS Split Drain
como sensor de campo magntico. Campinas, SP: Dissertao de Mestrado,
UNICAMP: Faculdade de Engenharia Eltrica da Universidade Estadual de
Campinas para obteno do ttulo de Mestre em Engenharia Eltrica, jun. 1999. p.
103-104.
[61] MAJOR, R. V., Current Measurement with Magnetic Sensors. IEE: The
Institution of Electrical Engineers, London, UK, 1994.
[62] CRISTALDI, L., FERRERO, A., LAZZARONI, M., OTTOBONI, R., A
Linearization Method for Commercial Hall-Effect Current Tranducers. IEEE
157
Transactions on Instrumentation and Measurement, Oct. 2001, 50 v., n.5, p. 11491153.

[63] PEJOVIC P., STANKOVIC, D., Transient Analysis of Compensated HallEffect Current Transducers. IEEE International Conference on Microelectronics
(MIEL97), Sep. 1997, 2 v., p. 569-572.
[64] YAMASHITA S., KATO, H., IKEDA, H., OZAWA, Y., OHSHIMA I. Construction
of a Computer-Aided Measuring System for Short-Circuit Testing. IEEE
Transactions on Power Delivery, July 1992, n. 3, 7 v., p. 1299-1305.
[65] SLUIS, L. van der, GUILLOUX, C., COSTENARO M. Data-Processing
Methods for the Determination of Test Quantities in High-Power Laboratories.
IEEE Transactions on Power Delivery, Jan. 1990, n. 1, 5 v., p. 151-162.
[66] HART, P. M. An Experimental Study of Short-Circuit Currents on a LowVolatge System. IEEE Transactions on Industry Applications, Oct. 1988, n. 5, 24 v.,
p. 940-946.
[67] HALL, W. M. Short-Circuit Ratings and Application Guidelines for MoldedCase Circuit Breakers. IEEE Transactions on Industry Applications, Feb. 1999, n. 1,
35 v., p. 135-143.
[68] ABNT ASSOCIAO BRASILEIRA DE NORMAS TCNICAS. NBR ISO/IEC
17025 Requisitos gerais para competncia de laboratrios de ensaio e
calibrao. Rio de Janeiro, RJ, jan. 2001.
[69] TEKTRONIX. Rise Time. Disponvel em: http://tektronix.com/oscilloscopes
Tektronix. Acesso em: 02 junho 2005.
[70] AGILENT TECHNOLOGIES. Application note 1420: Understanding
oscilloscope frequency response and its effect on rise-time accuracy.
Disponvel em: http://agilent.com Agilent Technologies. Acesso em: 02 junho 2005
[71] NATIONAL INSTRUMENTS. What is PXI?
Disponvel
<http://www.ni.com>. National Instruments. Acesso em: 10 abr. 2005.
em:
[72] NATIONAL INSTRUMENTS. NI 6132/6133 Specifications: I/O terminal

summary and specifications for the NI PXI 6132/6133 Multifuncion I/O
Devices for PCI, PXI, CompactPCI, and PCMCIA Bus Computers. Disponvel em:
<http://www.ni.com>. National Instruments. Acesso em: 05 jan. 2005.
158
[73] NATIONAL INSTRUMENTS. Introduction to Labview 7 and Data Acquisition

(NI DAQmx), Disponvel em: <http://www.ni.com>. National Instruments. Acesso em:
05 jan. 2005.
[74] NATIONAL INSTRUMENTS. NI Developer Zone
Disponvel em:
<http://zone.ni.com/zone/jsp/zone.jsp>. National Instruments. Acesso em: 02 maio
2005.
[75] NATIONAL INSTRUMENT, Corp. The Measurement and Automation Catalog.
Disponvel em: <www.ni.com.br>. National Instrument, Corp., 2004. Acesso em: 22
jun. 2004.
[76] NATIONAL INSTRUMENTS. Tutorial Labview Disponvel
<http://www.ni.com>. National Instruments. Acesso em: 12 nov. 2003.
em:
[77] PENZ, C. A., Uma Contribuio confiabilidade metrolgica de ensaios em

alta tenso de equipamentos de sistemas de transmisso de energia eltrica.
Florianpolis, SC: Dissertao de Mestrado, UFSC: Programa de Ps- Graduao
em Metrologia Cientfica e Industrial para obteno do ttulo de Mestre em
Metrologia., out. 2004. 115p.
INDUSTRIAL (INMETRO) et al. Guia para Expresso da Incerteza de Medio.
Edio Brasileira do "Guide of Uncertaincy in Measurements" . 3. ed. Rio de
Janeiro, R.J., 2003.
INDUSTRIAL (INMETRO). Expresso da Incerteza de Medio na Calibrao Exemplos. Verso Brasileira do Documento de Referncia EA-4/02-S1.
Suplemento 1 ao EA-4/02. Rio de Janeiro, R.J. , 1999.
INDUSTRIAL (INMETRO). NIT-DICLA-004 Critrios especficos para calibrao
de instrumentos analgicos e digitais de medio na rea de eletricidade.
INMETRO. mar. 2002.
INDUSTRIAL (INMETRO). NIT-DICLA-021 Expresso da incerteza de medio.
INMETRO. maio, 2003.
159
[82] ALBERTAZZI, A. G. Jr. Metrologia Parte I 2002.1. Apostila LABMETRO

Laboratrio de Metrologia e Automatizao - Departamento de Engenharia Mecnica
Universidade Federal de Santa Catarina, Florianpolis, SC, 2002.
[83] LAPUH, R., Simple Power Measurement System. IEEE Instrumentation and
Measurement Technology Conference, 2001. Budapest, Hungary, May 2001, p.
1032-1035.
[84] PRAT, M., DESANLIS, T., Metrological Analysis of a High Current
Measurement System. WEPA4-2. Commissariat lEnergie Atomique, 1998. p.
361-362.
[85] ABNT ASSOCIAO BRASILEIRA DE NORMAS TCNICAS. Requisitos de
garantia da qualidade para equipamentos de medio NBR ISO 10012-1, Nov.
1993.
[86] NATIONAL INSTRUMENTS. Calibration: Accuracy and Uncertainty.
Disponvel em: <http://www.ni.com>. National Instruments. Acesso em: 10 nov. 2003.
[87] FLESCH, C. A. Estruturao de um sistema de simulao de instrumentos
de medio. 2001. Tese (Ps-Graduao em Engenharia Mecnica) - Universidade
Federal de Santa Catarina, Florianpolis, SC, 2001.

Automação e garantia da confiabilidade metrológica em ensaio de curto-circuito em baixa tensão

Încărcat de

Informații document

Descriere originală:

Titlu original

Drepturi de autor

Formate disponibile

Partajați acest document

Partajați sau inserați document

Opțiuni de partajare

Vi se pare util acest document?

Este necorespunzător acest conținut?

Drepturi de autor:

Formate disponibile

Automação e garantia da confiabilidade metrológica em ensaio de curto-circuito em baixa tensão

Încărcat de

Drepturi de autor:

Formate disponibile

UNIVERSIDADE FEDERAL DE SANTA CATARINA

Automao e Garantia da Confiabilidade Metrolgica

Dissertao submetida Universidade Federal de Santa Catarina para

Orientador: Prof. Carlos Alberto Flesch, Dr. Eng.

Florianpolis, Outubro de 2005.

Automao e Garantia da Confiabilidade Metrolgica

Esta dissertao foi julgada adequada para obteno do ttulo de

Sbio aquele que conhece os

Em primeiro lugar a Deus.

Os tipos de curtos-circuitos e seus efeitos ..................................................16

Efeitos trmicos ...................................................................................19

Necessidade e importncia do ensaio de curto-circuito ..............................22

Caracterizao do ensaio de curto-circuito em baixas tenses....... 28

Normas de ensaio de curto-circuito para disjuntores ..................................28

Circuitos de ensaio conforme as normas de disjuntores.............................30

Configurao do ensaio - Setup...........................................................33

Execuo do ensaio O open e CO close-open ..............................34

Tolerncias das grandezas eltricas na execuo do ensaio .....................35

Rastreabilidade em ensaio de curto-circuito ...............................................36

Anlise das formas usuais de medio de tenso, corrente e fator

de potncia e de controle do sincronismo e disparo do ensaio de curtocircuito............................................................................................................ 42

Divisor de tenso .................................................................................46

Divisor de tenso resistivo e resistivo compensado.............................47

Medio de corrente ...................................................................................52

Transformador de medio de corrente...............................................52

3.2.1.1 Anlise terica do transformador de corrente...................................56

Derivadores resistivos - shunts ............................................................64

Bobina de Rogowski ............................................................................72

Transdutores de corrente por efeito Hall..............................................77

3.2.4.1 Sensor efeito Hall sem realimentao ...........................................79

Comparativo entre os sistemas de medio de corrente .....................83

Medio do fator de potncia ......................................................................86

Fator de potncia conforme a norma NBR 5361/98 [9]........................87

Fator de potncia conforme as normas IEC 60947-1/01 [6] e IEC

60898-1/03 [11] ..................................................................................................90

Fator de potncia conforme a norma UL 48902 [14]..........................90

Sistema sincronismo-disparo (seqenciador) .............................................92

Desenvolvimento de um sistema de ensaio de curto-circuito.......... 96

Sistema de ensaio de curto-circuito WEG................................................96

Sistema de medio de corrente e tenso no ensaio de curto-circuito .....100

Transdutores de corrente e tenso ....................................................101

4.2.1.1 Transdutor de corrente...................................................................102

Sistema de aquisio de dados .........................................................104

4.2.3.1 Software para obteno da configurao do ensaio (setup) ..........109

Sistema de controle do ensaio de curto-circuito e o seqenciador ...........111

Sistema de aquisio de dados .........................................................116

Medio da referncia da tenso da rede eltrica .............................116

Avaliao do comportamento metrolgico do sistema de ensaio de

curto-circuito desenvolvido ....................................................................... 120

Incerteza de medio do sistema..............................................................120

Avaliao metrolgica dos sistemas de medio de corrente e tenso....122

Avaliao da incerteza de medio a priori da placa DAQ ................126

Avaliao da incerteza de medio a priori da medio de tenso ...127

Avaliao da incerteza de medio a priori da medio de corrente .129

Avaliao metrolgica do sistema sincronismo-disparo ............................132

Avaliao da incerteza de medio na deteco do zero. .................135

Avaliao da incerteza de medio na contagem - disparo a 90......139

Aplicao da incerteza da medio na avaliao do resultado do ensaio

Concluses e sugestes para trabalhos futuros ............................. 144

Estado-da-arte em ensaios de curto-circuito......................................144

Seleo de instrumentos para medio de tenso e corrente ...........145

Sistema sincronismo-disparo .............................................................146