Microscopa electrnica

El desarrollo de la microscopa ptica o de luz fue evolucionando de manera

importante desde su aparicin a principios del siglo XVII, y mantenindose como
pilar fundamental del conocimiento de aquello invisible a la vista del ser humano;
sin embargo, su lmite de resolucin de aproximadamente un micrmetro 10-6 m,
ya no fue posible mejorarlo debido al factor limitante de la longitud de onda de la
luz (450-640 nm).
Fue hasta el ao de 1931 cuando se alcanz a obtener, con la ayuda de otra
generacin de microscopios, una resolucin 1000 veces mayor que la de un
microscopio ptico; a sta generacin se le conoce como Microscopa electrnica
y fueron los fsicos Max Knoll y Ernst Ruska en Alemania, quienes dieron a
conocer el Microscopio electrnico de transmisin (TEM, por sus siglas en ingls).
Posteriormente, en el ao 1938, Manfred von Ardenne construy el primer
Microscopio electrnico de barrido (SEM, por sus siglas en ingls) y
comercialmente distribuido hasta 1965 por la compaa britnica, Cambrige
Instruments.

Fig. 4.- Ruska y Knoll construyendo el primer TEM; TEM de emisin de campo;
SEM de bajo vaco moderno. Se muestran tres fotografas, en la primera, Ruska y
Knoll construyendo el primer microscopio electrnico de transmisin; en la
segunda, un moderno microscopio electrnico de transmisin de emisin de
campo; y finalmente un microscopio electrnico de barrido de bajo vaco
(Freundlich, 1994).
El desarrollo de la microscopa electrnica permiti, entre otras cosas, alcanzar el
nivel de resolucin espacial que muchos investigadores de diversas disciplinas
demandaba, y fundar una rama de investigacin que a pesar de ser relativamente
joven, ha avanzado de una manera vertiginosa en la ciencia contempornea. Esta
tcnica se ha convertido en una fuente inagotable de informacin y desarrollo, no
solo por la resolucin alcanzada, sino tambin por las capacidades de anlisis de
las tcnicas asociadas a un microscopio electrnico moderno, como son la
espectroscopa por dispersin de energa de rayos X (EDS de sus siglas en ingls
Energy Dispersive Spectroscopy), la espectroscopia por dispersin de longitud
de onda (WDS, del ingls Wavelenght Dispersive Spectroscopy) y la
espectroscopia Auger, entre otras. Por su capacidad de proporcionar informacin

morfolgica, topogrfica, qumica, cristalina, elctrica y magntica de los

materiales, la han convertido en herramientas indispensables en el dominio de la
fsica del estado slido, ciencia de materiales, electrnica, polmeros, metales,
textiles, biologa, medicina, etc. El futuro de esta tcnica es muy prometedor
debido a su desarrollo tecnolgico en la ltima dcada del siglo XX, alcanzando un
poder de resolucin de hasta 0.1 nm en un TEM y 1.5 nm en un SEM, ste ltimo
con la posibilidad de trabajar a presin controlada, til en la observacin de
muestras hmedas (Daz G y Arenas J., 2003).
La diferencia principal entre microscopia electrnica y ptica es el uso de un haz
de electrones en lugar de luz para enfocar la muestra, consiguiendo aumentos de
hasta dos millones de veces (106 X). Su diseo se basa en dos principios fsicos,
uno es el de dualidad onda-partcula predicha por Louis de Broglie en 1924, quien
dedujo una ecuacin (? = h/p; h es la constante de Planck) que permite calcular la
longitud de onda (?) esperada para una partcula de masa m con momentum p
(p=mv). En microscopa electrnica m representa la masa de un electrn y ?
adquiere valores en el intervalo 0.388 0.00193 nm, dependiendo del voltaje de
aceleracin de los electrones.
El otro principio fsico en el que se basa el diseo de un microscopio electrnico es
el de la ley de Lorentz (F= e (vxB), lo cual indica para este caso, que un electrn
viajando con velocidad v dentro de un campo magntico B, experimenta una
fuerza que hace que el electrn describa una trayectoria helicoidal alrededor de
las lneas del B. De esta manera un microscopio electrnico est constituido por
lentes electrostticas y electromagnticas que desempean el mismo papel que
una lente de vidrio para el caso de un microscopio de luz (Yacamn y Reyes,
1995).
En la figura 5 se muestra el diseo ptico de un TEM; una imagen de alta
resolucin de una interfase bimetlica Ni-Pt y un patrn de difraccin de un
material cristalino.

Fig. 5. Diseo ptico de un TEM; imagen con resolucin atmica de una aleacin
Ni-Pt y un patrn de difraccin

Fig. 6. ptica de un SEM, imagen del ojo de una mosca obtenida a 450X y de
microorganismos en papel antiguo a 2000X. Se presenta la ptica de un SEM y
dos imgenes tpicas obtenidas por esta tcnica del ojo de una mosca y de
microorganismos en papel antiguo.
En el rea biolgica, grandes descubrimientos se han dado a conocer con el uso
estos microscopios, destacando los trabajos de Claude y Palade, quienes en 1974
recibieron el Premio Nobel de Biologa por sus estudios celulares. Con este tipo de
microscopio fueron observados por primera vez, el ADN y diferentes tipos de virus.