Captulo 7

Control de Recepcin
7.1 Introduccin
Llamaremos lote a un conjunto elevado de artculos del que tenemos que
decidir si adquirimos o rechazamos en funcin de la proporcin de artculos
defectuosos que tenga. Llamaremos muestra al conjunto de artculos que
extraemos del lote y que sern los nicos que examinemos para ver si son defectuosos o aceptables. Esta es con frecuencia la situacin en el suministro
de artculos manufacturados. Los artculos son suministrados en lotes, los cuales pueden ser examinados bien por el fabricante antes de su envo, o bien
por el comprador antes de aceptarlos. Esta inspeccin consiste en examinar
una muestra o conjunto de muestras de los lotes y tomar una decisin en funcin de la evidencia observada en la muestra. En este tema estudiaremos
la seleccin de este tamao muestral de manera que las conclusiones que
se obtengan del anlisis de la muestra puedan ser extendidas al lote entero
con cierta fiabilidad. Por tanto, tomaremos una decisin sobre el lote completo en funcin de lo que observemos en la muestra. En la mayora de los
procedimientos supondremos que el lote es muy grande comparado con el
tamao de la muestra y, por tanto, a efectos prcticos podra considerarse
que el lote es una poblacin de tamao infinito. Existe una gran variedad de
139

procedimientos para la realizacin de este muestreo de aceptacin. Aqu se

describirn slo los ms importantes. Por ejemplo, un procedimiento sencillo
para realizar el muestreo consistira en la extraccin de una nica muestra de
cada lote y aceptar el lote entero si en la muestra hay menos de cierto nmero de artculos defectuosos. Ejemplos ms sofisticados podran ser tomar
muestras sucesivas dependiendo de si las muestras anteriores no ofrecieron
resultados concluyentes.
Existen tres posibilidades para evaluar un lote:
Aceptar el lote sin inspeccionar
Extraer una muestra y sacar una conclusin sobre el lote completo (control por muestreo o muestreo de aceptacin)
Inspeccionar la totalidad de individuos del lote (inspeccin al 100%)
La primera opcin es til en situaciones de alta confianza entre el productor y el consumidor, donde la calidad es tan alta que no existe apenas
probabilidad de encontrar unidades defectuosas (p.ej. productos o procesos
con ndices de capacidad 6-sigma o mayores). El muestreo de aceptacin
se realiza cuando no es factible, o es antieconmico, la inspeccin del 100%
de los artculos. Por ejemplo, los ensayos requeridos pueden ser muy caros
o incluso pueden requerir la destruccin del artculo. En otras ocasiones, la
inspeccin puede necesitar mucho tiempo. En productos de alta precisin
suele ser habitual la inspeccin de todos los artculos.
El muestreo de aceptacin tambin puede tener algunas desventajas respecto a la inspeccin del 100%:
Existe un riesgo de rechazar buenos lotes y aceptar malos lotes.
la informacin que se dispone sobre el lote es menor
hay que planificar (y normalizar) por anticipado el mtodo de muestreo
a seguir
140

Existen dos conceptos importantes que no debemos olvidar para garantizar decisiones correctas mediante el muestreo de aceptacin: el individuo y
la aleatoriedad en el muestreo. El lote ideal debe estar formado por unidades
o individuos homogneos, fabricados en ausencia de causas especficas de
variacin que produzca heterogeneidad. Esto no implica que todos los individuos sea iguales sino que estn sujetos slo a variaciones debidas a causas
comunes.Por otro lado, cuando se realiza la extraccin o muestreo del lote
hay que poner especial atencin a la hora de no favorecer las posibilidades
de ciertos individuos frente a otros. En especial hay que huir de tomar los individuos ms accesibles o los que presentan alguna caracterstica aparente
distintiva.
El muestreo de aceptacin puede dividirse en dos tipos fundamentales
segn la caracterstica observada:
Muestreo por atributos: cuando en la inspeccin los artculos se dividen
en defectuosos y en no defectuosos, segn cumplan con un conjunto
de requerimientos.
Muestreo por variables: en la inspeccin se mide una variable cuantitativa: longitudes, pesos... y se evala la distancia entre dicha cantidad y
la requerida en las especificaciones.
Existen tambin otras clasificaciones de un plan de recepcin segn el
nmero de muestras a extraer:
Un plan de muestreo simple, se basa en la toma de una muestra aleatoria de n individuos y toma la decisin en base a estos.
Un plan de muestreo doble se basa en la toma de una primera muestra de tamao n1 a partir de la que se decide (1) aceptar el lote o (2)
rechazar el lote o (3) extraer una segunda muestra. Si se toma la segunda muestra se combina toda la informacin de ambas para decidir
aceptar o rechazar el lote.
141

 Un plan de muestreo mltiple es una extensin del muestreo doble donde se pueden tomar de 1 a m muestras antes de la decisin.
Un plan de muestreo secuencial o progresivo es un caso extremo del
muestreo mltiple donde se van extrayendo una a una las unidades y
en cada momento se puede decidir aceptar, rechazar el lote o tomar
un nuevo individuo.
En resumen, un plan de muestreo se define por:
el tipo de control efectuado (por atributo o por variable)
el esquema de muestreo (una o varias muestras aleatorias)
el tamao de la muestra (o muestras) a tomar y controlar
la regla de decisin en funcin de los resultados posibles de la muestra
(o de las muestras)
En este tema centraremos nuestra atencin en el muestreo por atributos
por ser el ms frecuente, aunque muchos de los principios de este tipo de
muestreo tambin son aplicables al muestreo por variables.

7.2 Curva Caracterstica, riesgo del productor y

del consumidor
Un muestreo de aceptacin ser eficaz si las conclusiones que se extraen de
la muestra son muy similares a las que se extraeran si se examinase todo el
lote. La eficacia de un procedimiento de muestreo de aceptacin se resume en la llamada curva caracterstica, curva OC o curva caracterstica de
operaciones (en ingls operating characteristic curve o ms conocida por
OC curve). La curva caracterstica es un grfico que expresa, para un plan
de muestreo concreto, la probabilidad de aceptar un lote en funcin del
142

a esta probabilidad. Si p = 0 aceptaremos siempre ese lote, pues cualquier

muestra que extraigamos estar libre de artculos defectuosos. Por tanto,
OC(0) = 1. Asimismo, si todos los artculos son defectuosos (p = 1) rechazaremos siempre ese lote, pues cualquier muestra que se extraiga tendr todos

CAPTULO 6. CONTROL DE RECEPCIN

los artculos defectuosos. Por tanto, la probabilidad de aceptar el lote ser

cero: OC(1) = 0.
Curva caracterstica de operacin
1.2

0.8

OC(p)

porcentaje p de artculos defectuosos existentes en el lote. Llamemos OC(p)

0.6

0.4

0.2

0.2

0.4
0.6
Proporcin de defectuosos

0.8

Prop. de defectuosos admisible

Figura 6.1: Curva OC de un plan de muestreo ideal

Figura 7.1: Curva Caracterstica de un plan de muestreo ideal

riesgo de tomar una decisin equivocada. Vemos, adems, que las equivocaciones
son en dos
sentidos:
buenos del
(riesgo
para el de
vendedor)
y aceptar de
lotes
malos
Si un
lote serechazar
acepta lotes
en funcin
resultado
la observacin
una
(riesgo
para el comprador). La efectividad de un plan de muestreo se determinar por
muestra y 0 < p < 1, est claro que se ha de estar siempre dispuesto a acepla capacidad de minimizar estos dos riesgos. Grficamente, equivale a disear un plan de
tar artculos defectuosos, pues incluso si en la muestra no hay artculos demuestreo cuya curva OC no se aleje mucho de la curva ideal mostrada en la figura 6.1
fectuosos, el lote s podra tenerlos si p > 0. Supongamos que la proporcin
anterior. El objetivo de un diseo de un plan de muestreo es, pues, doble:
de artculos defectuosos que se est dispuesto a admitir para un lote es pA .

1. Garantizar que, aplicando dicho plan, lotes con un porcentaje de defectuosos bajo
143
se acepten con una probabilidad muy
alta. Esto es equivalente a decir, que a la
izquierda de pA la curva OC(p) se aproxime a la unidad.
2. Garantizar que lotes con un porcentaje de defectuosos alto sean aceptados con una
probabilidad muy baja. Por tanto, a la derecha de pA la curva OC(p) correspondiente
se aproxime a cero.

En ese caso, aceptamos un lote si su proporcin de artculos defectuosos es

p pA y rechazamos el lote si p > pA . Un plan de muestreo ideal debera
llevar siempre a aceptar un lote que tenga una proporcin de defectuosos
p pA , es decir OC(p) = 1, p pA . Por el contrario, si p > pA dicho plan ideal
debera siempre llevar a rechazar el lote, por tanto OC(p) = 0, p > pA . La curva
caracterstica de este plan ideal sera la expresada en la figura 7.1.
Un plan ideal no podr establecerse nunca. La razn est en que la proporcin de artculos defectuosos del lote, p, es un dato desconocido salvo
que examinemos el lote entero. Una vez extrada una muestra de tamao n
de un lote de tamao N >> n, la proporcin de artculos defectuosos que
se encuentren en la muestra puede no coincidir con la proporcin que se
encuentre en el lote. Supongamos que se tiene un lote no admisible por tener una proporcin de defectuosos alta, p > pA . El comprador de ese lote
puede tener mala suerte y seleccionar una muestra con muy pocos artculos
defectuosos, llevndole a adquirir un lote no admisible. Anlogamente, un
lote con muy pocos artculos defectuosos , p pA puede ser rechazado si se
selecciona una muestra donde, por azar, haya muchos artculos defectuosos.
Por tanto, en un muestreo de aceptacin siempre existe el riesgo de tomar
una decisin equivocada. Vemos, adems, que las equivocaciones son en
dos sentidos: rechazar lotes buenos (riesgo para el vendedor) y aceptar lotes
malos (riesgo para el comprador). La efectividad de un plan de muestreo se
determinar por la capacidad de minimizar estos dos riesgos. Grficamente,
equivale a disear un plan de muestreo cuya curva OC no se aleje mucho
de la curva ideal mostrada en la figura 7.1 anterior. El objetivo de un diseo
de un plan de muestreo es, pues, doble:
1. Garantizar que, aplicando dicho plan, lotes con un porcentaje de defectuosos bajo se acepten con una probabilidad muy alta. Esto es equivalente a decir, que a la izquierda de pA la curva OC(p) se aproxime a
la unidad.
2. Garantizar que lotes con un porcentaje de defectuosos alto sean acep144

tados con una probabilidad muy baja. Por tanto, a la derecha de pA la

curva OC(p) correspondiente se aproxime a cero.
De esto puede deducirse que, dado un plan de muestreo, tanto el comprador como el vendedor corren sus riesgos. El comprador corre el riego de
adquirir un lote que sea peor de lo que mostraba la muestra y por tanto quedarse con un lote con un porcentaje de defectuosos superior al que estara
dispuesto a admitir. Por otra parte, el vendedor corre el riesgo de que un lote
bueno parezca malo porque en la muestra aparecieron una proporcin
de defectuosos superior a la que admita el comprador.
Por esta razn, para determinar un plan de muestreo, el comprador y el
vendedor deben acordar un plan que sea justo para ambos. Es decir, deben
negociar un plan de muestreo con una curva OC que les interese a ambos.
Negociar una curva OC puede ser complicado, por lo que el acuerdo entre
comprador y vendedor se suele limitar a fijar unos pocos puntos de ella. En
primer lugar, el comprador debe especificar el nivel de calidad que le gustara que le suministrase el vendedor. La proporcin de artculos defectuosos
de un lote que es aceptable para el comprador se le denomina nivel de
calidad aceptable (NCA, y en ingls AQL, acceptable quality level) y corresponde al valor pA mencionado anteriormente. La probabilidad de que un
lote de calidad aceptable sea rechazado por azar de la muestra se denomina riesgo del vendedor y lo denotaremos por . Este riesgo coincide con la
probabilidad de rechazar el lote cuando p = pA y es igual a = 1 OC(pA ).
Por tanto:
= riesgo del vendedor = probabilidad de rechazar un lote con p = pA .
Usualmente, un plan de muestreo se disea de forma tal que este riesgo
est cercano al 5%.
Por otra parte, para determinar la probabilidad de aceptar un lote de
mala calidad, el comprador debe tambin decidir qu nivel de calidad es
absolutamente inaceptable. A la proporcin de artculos defectuosos en un
145

lote que es inaceptable para el comprador se le denomina nivel de calidad

rechazable (NCR, en ingls se suele denominar limiting quality level -LQL- o
lot tolerance percentage defective -LTPD). A esta proporcin de defectuosos
inaceptable la denotaremos por pR . Normalmente pR /pA est entre 4 y 10. La
probabilidad de que un lote de nivel de calidad rechazable sea aceptado
por azar de la muestra se denomina riesgo del comprador y se le denota
por . Usualmente, los planes de muestreo se disean de forma tal que este
riesgo sea alrededor del 10%. Por tanto:
= riesgo del comprador = prob. de aceptar un lote con p = pR = OC(pR ).
En la prctica, los planes de muestreo se determinan fijando a priori los
valores , pA , y pR . Habitualmente, los valores de estn alrededor del 5% y
alrededor del 10%.

7.3 Plan de Muestreo Simple por Atributos

El muestreo simple es el tipo de plan ms sencillo. Consiste en tomar una
nica muestra aleatoria de tamao n (sin reemplazamiento) de cada lote
y aceptar dicho lote si el nmero de artculos defectuosos no supera cierto
nmero predeterminado c. A dicha cantidad c se le denomina nmero de
aceptacin.

Ejemplo 1: Un fabricante de microcircuitos de silicio produce lotes de 1000

microcircuitos para suministro. Un plan simple con n = 65 and c = 2 es empleado para controlar lotes salientes deficientes.

Ejemplo 2: Un comprador (Director de compras de unos almacenes) recibe lotes de cmaras fotogrficas y toma una muestra de n =50 artculos y
acepta el lote entero si se encuentran 3 menos artculos defectuosos en
dicha muestra.
146

A la hora de calcular la curva caracterstica de estos planes surgen diversos cuestiones. La primera es tener un modelo probabilstico para el nmero
de defectos en la muestra de tamao n.
Estrictamente, el nmero de artculos defectuosos en una muestra de tamao n extrada de un lote de tamao N , en el que hay D artculos defectuosos, y por consiguiente una proporcin de artculos defectuosos p = D/N ,
sigue una distribucin llamada distribucin hipergeomtrica. Sea X el nmero de unidades defectuosas en el lote de tamao n; para esta distribucin se
tiene que

OC(p) = Pr(X c|p) =

c
X
k=0

pN
k



N
nk
 
N
n

Si N es muy grande comparado con el tamao de la muestra n, puede

utilizarse como aproximacin la distribucin binomial (p.ej. n/N < 0.1), en la
que se supone que la muestra es extrada de una poblacin de dimensin
infinita. En este caso, el clculo de probabilidades se puede aproximar por
c  
X
n k
OC(p) = Pr(X c|p) =
p (1 p)nk
k
k=0
Tambin es posible aplicar una aproximacin a la ley Binomial(n, p) por
medio de una Poisson(np), si n es grande y p muy pequeo. En este caso
OC(p) = Pr(X c|p) =

c
X
exp(np)(np)k
k=0

k!

(7.1)

Para la representacin de curvas OC, se suele utilizar la aproximacin binomial siempre que se puede. Estas curvas se denominan en ocasiones curvas OC de tipo B, en contraposicin a las curvas OC de tipo A que son aquellas calculadas con la distribucin hipergeomtrica exacta.

147

7.3.1

Diseo de planes ptimos

Prefijados uno valores de pA , pR , y puede ser imposible encontrar un plan

que se ajuste a nuestros requerimientos, ya que n y c deben ser nmeros enteros. Observar que buscamos n y c de forma que la curva caracterstica de
dicho plan pase por los puntos prefijados (pA , 1 ) y (pR , ). Existen diversas
estrategias a la hora del diseo del plan de muestreo simple de forma que se
verifiquen aproximadamente los riesgos asumidos para los niveles de calidad
prefijados.
Nomograma
Es una grfico con escalas que permite, mediante el trazado de dos rectas determinar los valores de n y c a partir del punto donde se cortan dichas
rectas. Est algo en desuso y dicho grfico se encuentra al final del captulo
(ver figura 10.9).
Aproximacin por una distribucin normal
Esta forma de determinar el plan de muestreo simple se basa en al aproximacin de la distribucin binomial por una distribucin normal. Las ecuaciones en n y c a resolver son:
p
X Bin(n, pA ) N (npA , npA (1 pA ))
p
X Bin(n, pR ) N (npR , npR (1 pR ))

OC(pA ) = Pr(X c|pA ) = 1

OC(pR ) = Pr(X c|pR ) =

La normalizacin y solucin aproximada de estas dos ecuaciones con dos

incgnitas nos da unos valores aproximados, dados por las siguientes expresiones donde las soluciones iniciales han sido modificadas teniendo en cuenta que el verdadero muestreo se realiza de una poblacin finita de tamao
N sin reemplazamiento.

n0 = [z1 (pA (1 pA ))0.5 + z1 (pR (1 pR ))0.5 ]2 /(pR pA )2

n = n0 /(1 + n0 /N )
c = npA 0.5 + z1 [npA (1 pA )(1 n/N )]0.5
148

Tabla de Grubb
1 = 0.95 = 0.10
c

npA

npR

1 = 0.95 = 0, 10

npR /npA

npA

npR

npR /npA

0 0.051 2.303

44.84

3.286

10.532

3.21

1 0.355 3.890

10.96

3.981

11.771

2.96

2 0.818 5.322

6.51

4.695

12.995

2.77

3 1.366 6.681

4.89

5.426

14.206

2.62

4 1.970 7.994

4.06

10

6.169

15.407

2.50

5 2.613 9.274

3.55

11 6.924

16.598

2.40

Tabla 7.1: Tabla de Grubb para planes de muestreo simple para = 0.05 y
= 0.10
Los valores n y c que se obtienen deben ser redondeados al alza (al mnimo
entero mayor que el correspondiente valor obtenido); an as no hay una
seguridad de que se verifiquen estrictamente los errores 1 y que fijen.
Mtodo de Grubb basado en la distribucin Poisson
Es un mtodo basado en tabulaciones que se encuentra disponible slo
para algunos valores de y . La tabla dada hace referencia a un riesgo del
fabricante = 0.05 y un riesgo del comprador de = 0.10.
Plan JIS Z 9002
Para el diseo de planes de muestreo sencillo con = 0.05 y = 0.10 puede aplicarse tambin el plan JIS Z 9002. Esta norma consiste en la aplicacin
de una tabla (ver Tabla 7.4 al final del captulo) que proporciona, para unos
valores de pA y pR , unos valores de n y c que satisfacen, aproximadamente,
las condiciones requeridas.

Ejemplo 3: Supongamos un fabricantes que produce bandas magnticas

para billetes de metro en lotes de N = 10000 unidades. El nivel de calidad
admisible para el comprador es pA = 0.02 (i.e. 2%) y el nivel de calidad rechazable pR = 0.05. El riesgo fijado para el vendedor es = 0.05 y el riesgo
149

fijado para el comprador es = 0.1. Calcula planes de muestreo simple que

satisfagan estas condiciones de acuerdo con los mtodos anteriores
Mtodo Normal
De acuerdo con este mtodo, z0 .95 = 1.645, z0 .90 = 1.281 y se tiene
 1.645 .05 .95 + 1.281 .1 .9 2
n0 =
= 289
.03
n = 289/(1 + .0289) = 281
c = 281 .02 0.5 + 1.645[281 .02 .98 .9719]0.5 = 9
OC(pA ) = 0.944(exacto)
OC(pR ) = 0.098(exacto)
Mtodo de Grubb
Con los valores dados para este ejemplo, se tiene que pR /pA = 2.5 que se
corresponde con el plan de c = 10 en la tabla de Grubb (Si no se corresponde
de forma exacta se toman en consideracin el plan anterior y el siguiente al
valor de pR /pA ). El valor de aceptacin es c = 10. El tamao n de muestra a
tomar se determina como n = npA /pA = 6.169/0.02 309 o bien n = npR /pR =
15.407/.05 309. Para estos valores, los riesgos exactos que se asumen son
OC(pA ) = 0.954 y OC(pR ) = 0.089.
Plan JIS Z 9002
Consultado la tabla, en la fila 1, 81 < pA % < 2, 24 y columna 4, 51 < pR % <
5, 60 se tiene que n = 300 y c = 10. Para este plan se tienen los siguientes
valores de la curva caracterstica, OC(pA ) = 0.961 y OC(pR ) = 0.109

7.4 Plan de muestreo doble

El plan de muestreo doble es una extensin del simple. Se extrae primeramente una muestra de tamao n1 y se cuenta el nmero de artculos defectuosos
150

d1 . Si este nmero es muy elevado, digamos superior a cierto valor c2 , el lote

se rechaza. Por el contrario, si el nmero d1 es muy bajo, menor o igual que
cierto valor c1 , el lote se acepta. Sin embargo, si el nmero de defectuosos
d1 se encuentra entre estos valores extremos: c1 < d1 c2 se concluir que la
muestra no arroja evidencia suficiente para tomar la decisin. En ese caso, se
toma una segunda muestra de tamao n2 y se evala el nmero de defectuosos de dicha muestra. Si d1 + d2 es mayor que cierta cantidad c3 el lote se
rechaza definitivamente. En caso contrario se acepta. Para la seleccin de
los valores n1 , n2 , c1 , c2 y c3 existen tablas. Vase, por ejemplo Duncan (1971)
captulo 8 y las tablas 10.3 y 10.4 del final del captulo. El primer tamao muestral n1 suele ser mucho menor que el que se requiere en el muestreo simple.
Por esta razn, aunque este plan es de aplicacin algo ms compleja que el
anterior, es ms econmico, pues permite reconocer en la primera muestra
a los lotes muy malos o muy buenos. Para lotes de calidad intermedios se
corre el riesgo de requerir una mayor inspeccin que en los planes de muestreo simple, por lo que se suele detener la inspeccin en el momento que
se alcanzan c3 + 1 artculos defectuosos, sin seguir la inspeccin (courtailed
inspection, inspeccin limitada o reducida).
El diseo de planes de muestreo dobles es, en general, complejo. Este
diseo se puede simplificar con la ayuda de tablas publicadas. Un ejemplo
de estas tablas aparece en la tabla 10.3 (extrada de la Chemical Corps
Engineering Agency), que puede encontrarse en algunos textos. Para ver su
utilizacin usaremos un ejemplo.

Ejemplo 4:
Vamos a disear un plan de muestreo doble con n1 = n2 para lotes de
tamao 5000 con un pA = 0.01; = 0.05; pR = 0, 045, = 0.10. En las tablas, la
notacin empleada es p1 pA y p2 pR . En nuestro caso se tiene que
R=

p2
0.045
=
= 4.5
p1
0.01
151

Buscando este valor en la columna correspondiente a R vemos que el plan

ms cercano es el PLAN 5: c1 = 2, c2 = c3 = 4. Tenemos as, por tanto, los
nmeros de aceptacin de cada muestra. Para obtener el tamao muestral
n1 se han de mirar las columnas correspondientes a Approximate values of
n1 p, donde Pa es la probabilidad de aceptar un lote con una proporcin de
defectuosos p. Si utilizamos la informacin del vendedor, aceptaremos con
probabilidad 1 un lote con proporcin de defectuosos p = pA = 0.01. Por
tanto tendremos que
Pa = 1 = 0.95
Utilizaramos, entonces, la columna correspondiente a Pa = 0, 95. Para el plan
5 se tiene que n1 p = 1, 16. Por tanto:
n1 p = n1 pA = 1, 16 n1 = 1, 16/pA = 1, 16/0, 01 = 116.
El plan de muestreo que se ha calculado es:
Se extrae una muestra de tamao n1 = 116 y se cuenta el nmero de
artculos defectuosos d1 .
Si d1 2 se acepta el lote.
Si d1 > 4 se rechaza el lote.
Si 2 < d1 4 se extrae una segunda muestra de tamao n2 = 116 y se
cuenta el nmero de artculos defectuosos d2 .
Si d1 + d2 > 4 se rechaza el lote, en caso contrario se acepta.
Una segunda opcin es haber utilizado, en las columnas de Approximate
values of n1 p la informacin del comprador, es decir, se acepta con probabilidad un lote de p = pR . En este caso tendramos:
Pa = = 0.10
y para el plan 5 tendramos n1 p = 5, 39. Por tanto,
n1 p = n1 pR = 5, 39 n1 = 5, 39/pR = 5, 39/0, 045 120.
152

Han de ser las partes implicadas quienes decidan cul de las dos opciones
usar. Una tercera alternativa es utilizar un punto intermedio, es decir, decidir
cmo ha de ser el lote (valor de p) que se acepta con probabilidad 50%.

Si quisisemos disear un plan de muestreo con n2 = 2n1 utilizaramos el

mismo esquema anterior pero utilizando la tabla inferior de la tabla 10.4.

7.5 Plan de muestreo secuencial

La idea del muestreo doble puede extenderse al muestreo secuencial. En
este caso el tamao muestral se va aumentando unidad a unidad. Despus
de cada observacin se decide si el lote se acepta, se rechaza o se contina
muestreando. Primero, y al igual que en los planes anteriores, se han de fijar
las cantidades , pA , y pR . El plan viene caracterizado por tres constantes
que dependen de los anteriores parmetros. Estas constantes h1 , h2 y s se
obtienen de la siguiente forma:



1
ln



h1 =
pR (1 pA )
ln
pA (1 pR )



ln
1


h2 =
pR (1 pA )
ln
pA (1 pR )


1 pA
ln
1 pR


s =
pR (1 pA )
ln
pA (1 pR )
Despus de inspeccionar cada artculo se tendr un tamao muestral
acumulado n y un nmero de artculos defectuosos acumulado d. Entonces, si d > sn + h2 se rechaza el lote y si d sn h1 se acepta el lote. En caso
153

contrario se inspecciona un artculo ms y se repite el proceso. Esta regla de

decisin puede verse grficamente en la figura 7.2. En esta figura, (sn + h2 ) y
(sn h1 ) constituyen dos rectas paralelas de manera que al cruzarlas se toma

6.7. PLAN MILITARY STANDARD 105E

la decisin de rechazar o aceptar el lote.

Plan de muestreo secuencial

7

6
d=sn+h2

Rechazar lote

Nmero de defectuosos acumulado

Continuar inspeccionando
2
d=sn-h1
1

Aceptar lote
0

-1

-2

20

40

60

80
100
120
Tamao muestral acumulado

140

160

180

200

Figura
7.2: 6.8:
Grfico
zonas
de=aceptacin,
rechazo
seguimiento
de un
Figura
Plan de
secuencial:
0,05; = 0,10;
p =y0,01;
p = 0,04.
A

plan secuencial, = 0.05, = 0.10, pA = 0.01 y pR = 0.04

Ejemplo 5: Para los valores que aparecen en la figura 7.2 se tiene que


 .04 .99
pR (1 pA )
k = ln
= ln
= 1.417
pA (1 pR )
.01 .96
ln(.95/.1)
h1 =
= 2.251/1.417 = 1.589
k
ln(.90/.05)
h2 =
= 2.890/1.417 = 2.040
k
ln(.99/.96)
s =
= 0.031/1.417 = 0.022
k
154

7.6 Plan de muestreo Rectificativo

En este tipo de plan, cualquier lote que sea rechazado es sometido a una
inspeccin al 100% y se sustituyen todos los artculos defectuosos por artculos
buenos (lote rectificado). Si el lote es aceptado, pero durante la inspeccin
se hallaron artculos defectuosos, estos tambin se reemplazan por artculos
buenos. De esta manera, el comprador recibe dos tipos de lotes. El primer tipo de lote corresponde a aquellos que han superado la etapa de muestreo,
por lo que contendrn una pequea proporcin de artculos defectuosos. El
segundo tipo de lotes sern aquellos que han sido revisados al 100% y rectificados. De estos dos tipos de lotes puede calcularse la calidad media de
salida ( en ingls average outgoing quality -AOQ-), que es la proporcin media de artculos defectuosos que recibe el comprador.
El clculo del AOQ es simple a partir del valor de p (proporcin de defectuosos en el proceso de produccin). Los n artculos seguro que son buenos.
Si el lote ha sido rechazado, los (N n) restantes artculos tambin han sido
repasados y son ahora no-defectuosos; esto sucede con una probabilidad
1 OC(p). Si el lote es aceptado, esto sucede con probabilidad OC(p) se tiene que en media habr (N n)p artculos defectuosos por lote. Por lo tanto,
AOQ(p) =

(N n)pOC(p) + (1 OC(p)) 0
(N n)pOC(p)
=
N
N

y si N >> n, podemos decir aproximadamente que AOQ(p) = pOC(p) p

Supongamos que un lote tiene una proporcin p de artculos defectuosos antes de ser inspeccionado. Si p = 0 est claro que AOQ = 0. Si, por el
contrario, p = 1, todos los lotes sern sometidos a inspeccin al 100% y rectificacin por lo que de nuevo AOQ = 0. Entre medias de estos dos valores
el AOQ tendr un mximo, que llamaremos AOQL ( average outgoing quality
limit). Si p es baja la AOQ ser baja y prxima a p, pues casi todos los lotes se
aceptarn. A medida que p aumenta tambin aumentar AOQ, aunque en
menor proporcin, pues los lotes rechazados se revisan y rectifican. A partir
de cierto valor de p el nmero de lotes rechazados comenzar a ser ya una
155

proporcin importante de los lotes. Puesto que todos estos lotes rechazados
se rectifican, la AOQ bajar de nuevo. La AOQ ser por tanto una curva
semejante a la que se muestra en la figura 7.3.

Curva de calidad media de salida (AOQ)

0.3

0.25

AOQ

0.2

AOQL
0.15

0.1

0.05

Proporcin de defectuosos

Figura 6.10: Plan de muestreo rectificativo. Calidad media de salida

Figura 7.3: Curva AOQ(p) en un plan de muestreo rectificativo. La lnea

horizontal marca el nivel mximo AOQL.

Otro elemento a tener en cuenta por el productor, en un plan de muestreo

rectificativo es el nmero de unidades inspeccionadas ya que dicha inspeccin puede suponer un alto coste. Observar que si p es grande se dar con
mucha frecuencia una inspeccin y rectificacin completa del lote. Sea X el
nmero de unidades inspeccionadas en un lote. Si el lote se rechaza, X = N ;
si el lote se acepta X = n. El nmero medio de unidades inspeccionadas
se denomina inspeccin total media o ATI ( average total inspection) y viene
dado por
ATI = E[X] = nOC(p) + N (1 OC(p)) = n + (N n)(1 OC(p)).

(7.2)

Es posible determinar un plan de muestreo simple rectificativo que mini156

miza el ATI, dando el tamao muestral N , el AOQL deseado y p (se conoce

como plan Dodge-Roming). El tamao n responde a la frmula
n=

yN
N AOQL + y

donde y se toma de la tabla siguiente. El procedimiento es comenzar con c =

0, calcular n de acuerdo con la frmula anterior (usando el y correspondiente
a c), calcular la probabilidad de aceptar el lote con el actual plan utilizando
la frmula de la aproximacin de Poisson dada en (7.1), calcular el ATI por
la frmula (7.2), aumentar el valor de c en una unidad y repetir los clculos
hasta llegar a un nuevo valor del ATI. Se selecciona el plan que minimiza el
valor de ATI.

Ejemplo 6:

Construimos un plan de muestreo simple rectificativo para

N = 4000, AOQL = 0.03 y p = 0.015 que minimize el ATI.

Comenzamos con c = 0, entonces
n=

0.3679 4000
= 12.23 13,
4000 0.03 + 0.3679

y
np = 0.195,

OC(p) = 0.823,

AT I(p) = 13 + (1 .823) (3987) = 718.7,

y as sucesivamente podemos construir la tabla 7.3.

La solucin es por lo tanto, n = 83 y c = 4; y la inspeccin total media es de
118.2 unidades por lote.

Existen tablas para disear un plan de muestreo rectificativo y las ms conocidas se deben a Dodge y Roming. Por esta razn, a este tipo de plan
se le conoce tambin como plan Dodge-Roming. Estas tablas pueden usarse de varias maneras, dependiendo de la informacin que se utilice. Puede
fijarse un tamao del lote N , la calidad promedio que se desea -AQL- (en
157

0.3679

21

14.66

0.8408

22

15.42

1.372

23

16.18

1.946

24

16.97

2.544

25

17.73

3.172

26

18.54

3.810

27

19.30

4.465

28

20.11

5.150

29

20.91

5.836

30

21.75

10

6.535

31

22.54

11

7.234

32

23.40

12

7.948

33

24.22

13

8.677

34

25.08

14

9.404

35

25.94

15

10.12

36

26.83

16

10.87

37

27.68

17

11.63

38

28.62

18

12.38

39

29.50

19

13.14

40

30.44

20

13.88

Tabla 7.2: Tabla de Dodge-Roming para planes de muestreo simple rectificativos que minimizan el ATI

158

np

OC(p)

ATI

0.3679

13

0.195

0.823

718.7

0.8408

28

0.420

0.933

294.1

1.372

46

0.690

0.967

176.5

1.946

64

0.960

0.983

130.9

2.544

83

1.245

0.991

118.2

3.172

103

1.545

0.995

122.5

3.810

124

1.860

0.997

135.6

Tabla 7.3: Datos del ejemplo 6

porcentaje de defectuosos), el nivel de calidad rechazable y el riesgo del
comprador. Entonces se obtiene el tamao de la muestra n, el nmero de
aceptacin c y el nivel de calidad promedio mxima que se obtiene -AOQL-.
Tambin puede entrarse con el AOQL y el tamao del lote y se obtiene la
calidad promedio, n y c. Existen versiones de estas tablas tanto para planes
de muestreo simple como para planes de muestreo doble; para el caso de
muestreo simple se recogen en las tablas 10.1910.21 y las tablas 10.2310.25
del anexo final.

7.7

Plan MIL STD 105E

La estandarizacin de los procedimientos de muestreo de aceptacin comenz a producirse durante la II guerra mundial por el ejrcito en USA. Dicho
estndar se denomin Mlitary Standard (MIL STD). Desde entonces, el plan
Military Standard se ha convertido en el estandar ms popular. El plan original, el Miltary Standard 105A fue diseado en 1950. La ltima revisin, el plan
Military Standard 105E data de 1989. Existe una versin civil de este plan militar, el plan ANSI/ASQC Z1.4, pero supone slo pequeas modificaciones de
ste. Este estndar ha sido tambin adoptado por la International Organization for Standarization bajo la denominacin ISO 2859. Este estndar cubre
tres tipos de muestreo: simple, doble y mltiple. Para cada tipo de muestreo
159

existen planes especficos dependiendo del nivel de calidad que el comprador espera del vendedor. En este tema nos ocuparemos slo de los planes
simples.
Para un mismo tamao de lote y un mismo nivel de calidad aceptable
(NCA o AQL o valor pA ) se especifican tres planes de inspeccin:
Normal: para aquellos casos en los que la calidad que se espera del
proveedor es similar al NCA
Reducido: para aquellos casos en los que la calidad esperada sea muy
alta (p < pA). En este tipo de muestreo, el tamao muestral es inferior al
plan normal.
Riguroso: implica un elevado tamao muestral. Se utiliza cuando se espera una calidad inferior a la AQL (p > pA ).
Existen una serie de reglas que determinan el plan de muestreo anterior.
Estas reglas pueden resumirse en los siguientes puntos:
El plan de inspeccin normal se realizar al comienzo de la tarea de
inspeccin.
Cambio de plan normal a riguroso: se pasar de inspeccin normal a
rigurosa si dos de cinco lotes consecutivos han sido rechazados
Cambio de plan riguroso a normal: se pasar de control riguroso a normal cuando se acepten cinco lotes consecutivos
Cambio de plan normal a reducido: se pasar de muestreo normal a
reducido si no se rechaza ningn lote durante diez lotes seguidos.
Cambio de plan reducido a normal: se pasar de muestreo reducido a
normal si un lote es rechazado. Tambin puede volverse al plan normal
cuando el nmero de defectuosos no lleva ni a aceptar ni a rechazar el
lote.
160

lev ou faible; si l'inspection est destructrice on utilise les degrs S1, S2, S3, S4.
3. Dterminer la lettre code A, B, C, . selon la taille du lot. - Consulter le tableau la page 6.
4. Prciser la valeur AQL.
5. Choisir le mode normal pour commencer ; dteminer le plan (n, Ac, Re) o
n est la taille de l'chantillon prlever
Ac est le nombre maximal d'articles non conformes pour accepter le lot
Re est le nombre minimal d'articles non conformes pour rejeter le lot
6. Dterminer les triplets (n, Ac, Re) correspondants pour le mode rduit et le mode svre.
7. Tirer n units du lot, inspecter chaque unit et compter le nombre X d'units non conformes.
8. Si X <= Ac , accepter le lot.

Si X >= Re, rejeter le lot.

Si Ac < X < Re (en mode rduit), accepter le lot et retourner en mode normal.
9. Prendre action sur le lot rejet : inspection rectificatrice ou mise en quarantaine.
10. Noter les rsultats d'inspection des lots afin d'ajuster le mode selon les rgles de changement.
REGLAS DE CAMBIO
10 lotes conscutivos
en este modo

SEVERO

2 lotes de 5 lotes
conscutivos rechazados

INICIO

detener la
inspeccin

5 lotes consecutivos
aceptados

NORMAL

1 lote rechazado

1 lote que satisface

el criterio

10 lotes
consecutivos
aceptados

Ac

< X < Re

REDUCIDO

___________________________________________________________________________

Figura 7.4: Reglas

para
planes
de muestreo enpagela4 norma MIL
Bernard Clment,
PhDel cambio entre
Mars
2002
STD 105E para planes simples

Si se est en el plan de inspeccin riguroso durante ms de diez lotes, la

inspeccin debe concluir y se debe proponer el vendedor que aumente
los niveles de calidad de su produccin.
Este conjunto de reglas se resumen en la figura 7.4
El plan MIL STD 105E vara tambin en funcin del coste del muestreo, existiendo varios niveles segn el coste de inspeccin. Estos niveles son:
Coste de inspeccin alto: Nivel I.
Coste de inspeccin estndar: Nivel II.
Coste de inspeccin bajo: Nivel III.
Niveles especiales (por ejemplo, en ensayos destructivos): Niveles S-1 a
S-4
161

Los planes estn diseados teniendo en cuenta el riesgo del vendedor,

AQL o pA . El riesgo del comprador y pR no se tienen en cuenta explcitamente al utilizar las tablas, pero los valores de son muy pequeos si pR > 5pA .
Para aplicar el plan hay que seguir los siguientes pasos (consideramos muestreo simple):
1. Decidir el AQL o pA . Las columnas desde 0.01 hasta 10 son % de noconfomes. El resto de columnas desde 15 a 1000 indican el nmero de
no-conformidades por 100 unidades.
2. Determinar el nivel de inspeccin en funcin de su coste (nivel I, II, III, o
niveles especiales).
3. Con el tamao del lote y el nivel de inspeccin anterior ir a la tabla de
cdigos y encontrar el cdigo de inspeccin (tabla 10.7 del anexo).
4. Determinar el plan de inspeccin (normal, riguroso (o estricto) y reducido).
5. Con el cdigo de inspeccin y el plan de inspeccin, acudir a la tabla correspondiente: Inspeccin normal: Tabla 10.8, inspeccin estricta: Tabla 10.9, inspeccin reducida: Tabla 10.10) y encontrar el plan de
muestreo.
6. Tomar la muestra y ejecutar la inspeccin. Con el resultado evaluar un
posible cambio de plan.

Ejemplo 7:
Sea N = 500, AQL = 4% y Nivel II. Determina el plan de muestreo simple de
la norma MIL STD 105E.
La letra del cdigo es J, y los valores (n, Ac, Re) son (80, 7, 8) en inspeccin
normal, (80, 5, 6) en inspeccin estricta y (32, 3, 6) en inspeccin reducida.

162