Cristallographie

Chapitre I

Diffraction des RX par les cristaux

I- Introduction :
Lorsquun faisceau de rayons X pntre dans un milieu matriel, trois phnomnes peuvent
avoir lieux, savoir labsorption, la transmission, et la diffusion.

Aprs traverser de la matire on constate une diminution progressive de son intensit. Cette
diminution du nombre de photons, est due essentiellement linteraction des photons avec les
lectrons. Dans un tel processus, lnergie perdue se retrouve sous deux formes: une partie EA
est absorbe par le milieu, et une partie ED est diffuse et sort de la matire dans une direction
diffrente de la direction du faisceau initial.
1. Absorption :
Lintensit du faisceau mis est plus faible que celle du faisceau incident. Ce phnomne
obit la loi de Beer Lambert : I = I0exp [- x]
I0 : Lintensit incidente
I = Intensit la sortie dun chantillon :
* dpaisseur x ;
* de densit ;
* de coefficient massique dabsorption .
Pour un compos AxBy, on a :

mA : masse atomique de A,

A : coefficient massique dabsorption de A.

2-Transmission :
Cest le passage direct du rayonnement sans changement de longueur donde, ni de direction
S0 .
3- Diffusion : Tout autour de lchantillon, il va y voir des rayons X de mme
longueur dondes et de directions diffrentes.
II- Lois gomtriques de la Diffraction :

1- Relations de LAU :
Les relations de Lau permettent de dterminer les directions de diffractions.
Soit un rseau unidimensionnel (on considre une range [uvw]), on suppose connatre la
direction du faisceau incident S0 par rapport au rseau.
S 0 : La direction dincidence.
o : L'angle que fait la direction du rayon incident avec une range quelconque [uvw] du
rseau, de distance nodale : nuvw.

: Une direction quelconque de diffusion.

: Cest l'angle que fait la direction du rayon diffus avec cette range [uvw].
La diffrence de marche (chemin du rayon passant par A2 le chemin du rayon passant par
A1) entre deux rayons diffuss par deux atomes successifs A1 et A2 de la range scrit :
= A1H2 - H1A2 do = nuvw.cos - nuvw.coso = nuvw(cos - coso)

Pour quil y diffraction dans la direction

il faut que la diffrence de marche soit gale un
nombre entier de do nuvw (cos - cos o) = n
Cos = n/a + cos o lquation dun cne de rvolution daxe une range [uvw] et de demiangle au sommet .
On dit que les lieux gomtriques des rayons diffracts sont des cnes de demi-angle au
sommet .

Cnes de diffractions

En terme de vecteur : Portons un vecteur unitaire

vecteur unitaire sur les rayons diffuss dans la direction
la diffrence de marche scrit :
nuvw (cos - coso) = n
a
cos cos 0 n

a
a
cos cos 0 n

aS aS0 n

a S S0 n

sur

les rayons incidents et un

1
S0 S0

, tel que :

En fait, dans une distribution priodique spatiale, il suffit d'crire cette relation pour chacune
des 3 ranges principales du rseau ([100], [010] et [001]). Il y aura diffraction lorsque les
trois conditions seront simultanment vrifies :

b S S n
c S S n

a S S 0 n1
0

On note :

S S 1 N 2 a N b N 0
0

n1

n2

a N n1 a b

N 0
b N n2anN1 n2
1
c N n3 n1 Les trois
c N de Lau
1 3 a Nrelations

0
n1
n3
bN
1
na2
c

N 0de N
*Signification
c nN1 n3

1
n3

2- Rflexion par les plans :

Soit un plan rticulaire le plus voisin de lorigine, il coupe laxe des x en a\h, laxe des y en
b\k et laxe des z en c\l. Les quations de Lau pour les paramtres a, b, c et pour les ordres
respectifs n1, n2, n3 scrivent en notation vectorielle :

OA AC OC
AC OC OA AB OB OA
BC

c b

l k

AB

b a

k h

CB

b c

k l

BA

a b

h k

OA AB OB

Si n1 = h, n2 = k, n3 = l
Il rsulte que N est orthogonal BA et CB par consquent N est orthogonal au plan ABC
not (h k l), do N est une range du rseau rciproque.

La direction de diffraction est donne par la direction du rseau rciproque avec

ON h a * k b * l c *

3- Relation de BRAGG:
aN h
Une autre mthode quivalente qui permet de dterminer la direction de diffraction et qui fait
bN k
intervenir les plans rticulaires cest la relation de Bragg.
1
cN l
S0 S0

sin

sin

N
2
OA
S

N 2
1

1
d hkl

sin

2d hkl

2d hkl sin Lquation de Bragg

2d hkl sin n

n : ordre de rflexion (N de plan hkl)

3- Notion de sphre dEwald

Soit un cristal plac en O reoit un faisceau X de longueur d'onde et de vecteur donde S 0 .
Sur le trajet du faisceau, on considre un point C que l'on prend comme centre d'une sphre de
rayon 1/, appele sphre de rflexion ou sphre dEwald.
Considrons un plan diamtral de cette sphre de rflexion, contenant le faisceau incident et
perpendiculaire une famille de plans en position de diffraction
Le faisceau incident pntre dans la sphre en S, traverse le cristal puis ressort de la sphre en
I.

On construit le rseau rciproque du cristal en prenant I pour origine et en supposant que

l'orientation du cristal est telle qu'un noeud n* hkl du rseau rciproque est exactement situ sur
la sphre de rflexion. (Pour simplifier la figure, on a suppos que les axes Ox* et Oy* du
rseau rciproque sont dans le plan de la figure).
1-Considrons le triangle SNI :
Il est rectangle en N* puisqu'il s'agit d'un triangle inscrit dont un ct est un diamtre. On a
donc les relations :

do :

Cette expression, compare la loi de Bragg, montre que l'angle NSI est angle de Bragg
lorsque un noeud rciproque est situ sur la sphre d'Ewald.
Les coordonnes du noeud n*hkl fournissent les indices du plan diffracteur du rseau direct.
Rgle : Les seules directions possibles pour les faisceaux diffracts sont celles des rayons de
la sphre de rflexion d'EWALD aboutissant des noeuds du rseau rciproque situs
exactement sur la sphre.

Chapitre III

Les Mthodes de diffraction

Le phnomne de diffraction rsulte de linteraction dune onde lectromagntique, telle que

les rayons X, avec le milieu priodique de la matire cristallise. Les diagrammes de
diffraction obtenus vont dpendre de la longueur donde des rayons X, mais aussi de
larrangement atomique interne, propre au matriau examin.
Ainsi, la diffraction des rayons X peut tre un moyen efficace danalyse et didentification de
phases. Plus loin, on pourra dterminer avec prcision lchelle de latome ou de la
molcule, larchitecture interne des matriaux. La connaissance de la structure est un lment
crucial dans le processus de llaboration de nouveaux matriaux aux proprits originales.
Lutilisation des mthodes de rayons X est un outil trs performant et universel pour
dterminer la structure des cristaux. Pratiquement tous les domaines de la physique du solide
ont recours lune ou lautres des mthodes de caractrisation par rayons X. Les rayons X
sont indissociables de quelques grands noms de la physique tels Rntgen le dcouvreur de ce
rayonnement lectromagntique en 1895, Bragg, Laue, Debye, Scherrer, Miller et tant
dautres noms qui voquent, une loi physique dcouverte ou une mthode exprimentale.
Les deux grandes mthodes de diffraction sont :

Mthodes de poudres :
Mthode de Debye-Scherrer
Diffractomtre verticale
Mthode Guinier-De Wolff
Mthode Guinier de Lenn

Mthodes de monocristaux :
Mthode du cristal tournant
Mthode de Weissenberg
Mthode de Lau
Mthode de prcession de Burgers
Mthode de diffraction automatique quatre cercles.

Mthode de poudres
Mthode de Debye-Scherrer
I- Introduction :
C'est la mthode la plus utilise lorsque le matriau est rductible une fine poudre (les grains
sont de l'ordre de 0,01mm). Lchantillon est ponctuel et les rayons X monochromatiques
diffracts sont enregistrs sur un film circulaire centr sur lchantillon.
II- Principe de la mthode
On fait tomber le faisceau de rayons X qui est ici monochromatique qui arrive dans un tube
appel collimateur, sur la poudre microcristalline dispose sur une petite baguette de verre,
dans un petit capillaire (capillaire de Lindemann) ou encore tale sur une lame mince
spciale.
L'hypothse de base est que parmi tous les petits cristaux (microcristaux) prsents (en
principe non orients) il s'en trouvera suffisamment pour prsenter des faces cristallines telles
que des diffractions pourront se faire selon l'angle 2 de Bragg. On enregistrera donc les
rayons diffracts sur un film photographique. Le faisceau direct (rayon mergent situ dans le
prolongement du rayon incident) est absorb dans un autre tube appel puits.

Figure 1 : Principe de la mthode de Debye-Scherrer

F, C : fente, collimateur du rayonnement X
E : place de l'chantillon
P = puits d'absorption des rayons X

Figure 2 : La chambre de Debye-Scherrer

Avec une chambre circulaire de Debye-Scherrer, on obtient sur le film des anneaux
concentriques dont chacun reprsente une distance rticulaire (les rayons diffracts donnent
une srie de cnes et coupent le film cylindrique On obtient ainsi des courbes qui sont
lintersection de ces cnes par le cylindre ces courbes sont appeles anneaux). Les (ou le)
trous du film proviennent du collimateur et/ou du puits, selon le montage. On remarquera la
disposition symtrique des raies aussi bien par rapport au collimateur que par rapport au puits.

Figure 3 : Aspect du film

III- Intrt de la mthode :
Ce diagramme permet :

Calculer les quidistances dhkl des diffrents plans :

avec en rd et AB : distance entre deux raies symtriques en mm.

On mesurant la distance entre deux raies symtriques, on pourra calculer la distance
interrticulaire, utilisant la relation de Bragg 2dsin = n.

Estimer les intensits relatives Ihkl de chaque rflexion, et connatre le dosage d'un
mlange, les intensits relatives des raies tant proportionnelles aux concentrations des
constituants du mlange.

Dterminer les paramtres de la maille et le type de rseau (pour les systmes un et

deux paramtres), on indexant les raies, cest--dire dterminer quel plan h, k, l
appartient chaque raie.
o Exemple dun systme cubique :

La distance interrticulaire est : d

hkl

a
h2 k 2 l 2

Les listes des rflexions prsentes des quatre types de rseau cubiques sont :
*Cas dun cubique simple P:
1, 2, 3, 4, 5, 6, 8, 9, 10, 11, 12, 13, 14, 16, 17, 18, 19, 20.
*Cas dun cubique centr I:
2, 4, 6, 8, 10, 12, 14, 16, 18, 20, 22, 24, 26, 28, 30, 32, 34, 36.
*Cas dun cubique faces centres F
3 4 8 11 12 16 19 20 24 27 28 32 35 36.
Les nombres 7 et 15 sont toujours absents car ils ne correspondent aucune somme de carrs
dentiers.

Diffractomtre de poudres

I- Introduction :
Chaque substance solide est caractris par un seul est unique diagramme de diffraction des
rayons X. Les donnes de chaque diagramme sont portes sur une fiche dite ASTM
(American Society for Testing Materials) qui contient tous les renseignements relatifs la
substance. Une fiche contient au moins les distances interrticulaires et les intensits relatives
correspondantes. Elle peut contenir dautre informations : indices des distances
interrticulaires, rseau, systme cristallin, groupe spatial, paramtre, contenu de la maille,
proprits optiques etc.selon le degr de connaissance.

I- Principe de la mthode :
L'chantillon est une poudre homogne isotrope, compos de minuscules cristaux souds
entre eux, place dans un porte-chantillon plat.
La source de rayons X est un tube sous vide, ou tube de Coolidge, muni d'un dispositif
permettant de ne slectionner qu'une seule longueur d'onde (filtre, monochromateur), on
travaille en monochromatique.
Lors de linteraction des rayons X avec les cristallites de lchantillon il existera toujours des
plans (hkl) en position de diffraction c'est--dire pour lesquels la relation de Bragg (2d hklsin
= n ) est vrifie.
Les rayons diffracts sont enregistrs laide dun compteur. Le dispositif exprimental est
conu de telle faon que le compteur tourne autour dun cercle centr sur le portechamtillon : le cercle goniomtrique.
Lchantillon est dpos sur une plaque tangente un cercle passant par la source de rayons X
et le compteur : le cercle de focalisation. Le porte chantillon tourne sur lui-mme avec une
vitesse angulaire moiti de celle du compteur, de manire que la plaque porte chantillon reste
toujours bissectrice des rayons incidents et diffracts.

Figure 1 : Principe du diffractomtre de poudre

La mthode gnrale consiste bombarder l'chantillon avec des rayons X, un compteur de

photons X reoit le faisceau diffract, le transforme en signaux lectriques qui, amplifis, sont
traduit en pics dont la position permet de dterminer et dont la surface conduit lintensit
du rayon diffract, cette intensit prsente donc des maxima dans certaines directions, on
parle de phnomne de diffraction. On enregistre l'intensit dtecte en fonction de l'angle
de dviation 2 ("deux-thta") du faisceau, la courbe obtenue s'appelle le diffractogramme.

Figure 2: Mesure de l'intensit en fonction de l'angle 2 de dviation

Plusieurs montages diffrents permettent la mesure, le montage le plus courant est celui de
Bragg-Bretano, o l'chantillon se prsente comme une plaquette, cela peut tre effectivement
une plaquette solide, ou bien une coupelle remplie de poudre avec un niveau bien plan.
On distingue deux
La configuration -2 ( thta-deux thta ) : le tube rayons X est fixe, l'chantillon est
anim dun mouvement de rotation avec un angle et le dtecteur de rayons X tourne d'un
angle 2 (diffractomtre deux cercles), c'est la configuration la plus courante, en effet, le
tube tant le dispositif le plus lourd et le plus encombrant, il est plus simple de le fixer

Figure 3 : Montage -2

La configuration - ( thta-thta ) : l'chantillon reste fixe (horizontal), le tube et le

dtecteur bougent de manire symtrique d'un angle , ceci permet de mesurer des
poudres des angles levs (l'chantillon reste fixe), et facilite la mise en place de
certains dispositifs comme un four autour de l'chantillon.

Figure 4 : Montage -
Le montage de Bragg-Brentano prsente l'avantage de rcolter le plus d'intensit, en effet, le
faisceau sort divergent du tube, et du fait de la gomtrie, il reconverge sur le dtecteur
Il y a au moins deux moteurs, un pour positionner le dtecteur, et un pour le porte-chantillon
(-2) ou pour le tube rayons X (-). Ce dispositif s'appelle un goniomtre, puisqu'il sert
rgler les angles d'incidence et de diffraction.

Figure 5 : Goniomtre de la marque Bruker-AXS, type D8

III- Application du diagramme de poudres :

Lintrt de cette mthode danalyse rside dans le fait quelle nest pas destructive.
Lchantillon nest pas transform au cours de lanalyse et il peut resservir autant de fois quil
est ncessaire.
Deux cas peuvent se prsenter selon que lchantillon comporte une seule phase, ou un
mlange de deux phases.

Cas dune seule phase :

Lanalyse consiste comparer les valeurs obtenues dhkl des trois premires raies classes par
ordre dcroissant dintensit, aux valeurs classes du fichier, puis on identifie lensemble du
diagramme.

Cas de deux phases :

Lorsque lchantillon est un mlange, les diagrammes sont superposs et certaines raies
peuvent se confondre. Si lon souponne lexistence de certains corps dans le mlange, on
compare directement sur les diagrammes de chaque corps celui du mlange. La prsence
dun corps apparat immdiatement et on peut dduire ces raies des autres.

Mthode Guinier-De Wolff

Principe :
La chambre de diffraction de Guinier-De Wolf est base sur le principe de transmission, dans
ce montage la focalisation a lieu aprs traverse de lchantillon. Celui-ci est dpos sur une
plaque de faible paisseur, en fine courbe, de manire minimiser labsorption. La plaque est
place la circonfrence de la chambre de diffraction.

Figure 1 : Principe de la focalisation par transmission

Contrairement au montage par rflexion, le montage par transmission est favorable aux petits
angles de diffraction.

Dtermination de langle de diffraction :

Sur le film dispos sur le pourtour de la chambre cylindrique, on repre limpact F du faisceau
direct (rayon X incidents) et limpact de chaque faisceau diffract (raie R par exemple, figure
1). La longueur l de larc FR, mesure sur le film est lie (exprim en degrs) par :
l
circonfrencedelacha mbre

4
360
On utilise gnralement des chambre de circonfrence de 360mm, par suite l exprim en mm,
a la mme valeur que 4 en degrs.
lmm = 4

La chambre de diffraction Guinier-De Wolf, bas sur ce principe, possde les caractristiques
suivantes :

Un monochromateur focalise les rayons X incidents en F.

La plaque porte-chantillon subit un mouvement de va et vient pour multiplier les

orientations des microcristaux.

Il est possible dtudier simultanment quatre chantillons : tous se passe comme si

on avait quatre chambres superposes, mai un filme unique permet de voir les quatre
diagrammes disposs paralllement et obtenus dans les mme conditions.

Il est possible de travailler sous vide ou sous atmosphre contrle, en particulier pour
minimiser la diffraction parasite responsable du font continu.

Figure 2 : Chambre de Guinier-De Wolf

Il existe des chambres pour ltude des poudres dans des conditions spciales : hautes ou
basses tempratures, hautes ou basses pressions.
La chambre de Guinier de Lenn qui est base sur le mme principe que celui de GuinierDe wolf, permet denregistrer lvolution du diagramme de poudres en fonction de la
temprature, donc danalyser directement les corps forms au cours dune transformation
physique ou chimique.
Conclusion :
Ce type de chambre prsente plusieurs avantages sur la chambre de Deby-Scherrer :
Le temps de pose est rduit et les raies sont plus fines, grce la focalisation.
On peut diminuer nettement le font continu et procder directement des
comparaisons de diagramme, ce qui est dune grande utilit en analyse qualitative par
rayons X.

Chapitre IV
Mthode des monocristaux

Un cristal unique, ou monocristal, est un cristal de dimensions suffisantes pour diffract seul
les rayons X et conduire un rayonnement diffract mesurable. A priori, on a intrt utiliser
un cristal volumineux. Les mesures sont plus rapides et on peut accder aux faibles intensits.
Mais deux difficults apparaissent.
1- Labsorption des rayons x croit trs rapidement avec la longueur traverse. Ce
phnomne est une source derreur dans les mesures dintensit, il sagit de le
minimiser.
2- Lensemble du cristal doit baigner dans les rayons X afin que les mesures soient
quantitatives. Un cristal volumineux ncessite un faisceau large de rayons X, il en
rsulte des faisceaux diffracts largis, ce qui complique singulirement les mesures.
On retient gnralement des dimensions relativement faibles de lordre de 1/10mm de manire
utiliser un pinceau troit de rayons X, et dterminer la sphre dEwald avec prcision.
Macle :
Lors de la croissance cristalline il arrive que deux ou plusieurs individus monocristallins se
dveloppent simultanment autour dun axe commun, ou, de part et dautre dun plan commun.
Lensemble prsente laspect extrieur dun cristal unique. On lappel macle.
On rencontre souvent des macles chez les composs minraux. Linconvnient de la macle est
quelles risquent de passer pour un monocristal et de conduire des rsultats errons. En effet,
par superposition des rseaux rciproques on peut aboutir un rseau unique. Les mesures
dintensits correspondantes conduisent de rsultats aberrants. Gnralement, on observe des
conditions de rflexion inhabituelles, et cela constitue un indice qui rvle lexistence dune
macle.

Mthode du cristal tournant

I- Principe :
Un monocristal de petites dimensions est plac au centre d'une chambre photographique
cylindrique. On le fait tourner sur lui-mme autour d'une de ses ranges [uvw], dans un
domaine angulaire dtermin (qui peut atteindre la rotation complte) vitesse de l'ordre de
1tour/mn.
Un faisceau troit de rayons X parallle et monochromatique, de longueur d'onde , irradie le
cristal, il ny a diffraction que si un noeud du rseau rciproque se trouve sur la surface de la
sphre de rflexion (2dhkl sin = n
Pour mener les nuds du rseau rciproque sur la sphre dEwald, on fait tourner le cristal
autour dun axe normal au faisceau incident. La rotation du cristal entrane celle du rseau
rciproque.
Si laxe de rotation du cristal prsente une orientation quelconque par rapport au rseau
cristallin, le diagramme de diffraction est en gnral trs complexe et inexploitable. Si par
contre le cristal tourne autour dune range nuvw, la figure de diffraction est particulirement
simple. En effet, la famille de plans rticulaires (uvw)* du rseau rciproque, dquidistance
duvw*, est normale laxe de rotation et lors de la rotation, ces plans rciproques vont dcouper
sur la sphre dEwald des cercles S0, S1, S2 distants de Duvw* (figure 1).

Figure 1 : Principe de la mthode du cristal tournant

Les rayons diffracts sont donc rpartis sur une srie de cnes de rvolution de sommet C et
sappuyant sur des cercles, les taches de diffraction sont rparties sur une srie de lignes
parallles, appel strates. On appelle strates quatoriales, celle qui passe par la trace du
faisceau direct (figure 2).

Figure 2 : Diagramme du cristal tournant

II- Utilit de la mthode:
Outre l'orientation des cristaux, cette mthode permet la mesure d'un paramtre direct de la
maille (axe de rotation).
La mesure de la distance dune strate dordre n la strate quatoriale permet de dduire
immdiatement du diagramme la valeur du paramtre de la range cristallographique parallle
laxe de rotation.
* Dmonstration :

sin

Soit le triangle CIP

IP d *uvw

1
IC

tg
Soit le triangle CIQ

Arctg

I 'Q
Rf

d *uvw
y
y
sin Arctg ( )
Rf
Rf
1

y : distance entre la strate dordre O et la

strate dordre n
n
d uvw
1
y
d *uvw
sin( Arctg ( ))
d uvw
R

Si on mesure la distance entre deux strates symtriques dordre n le paramtre direct est :

a( A)

Y
Sin( Arctg( ))
2R

a :Paramtre direct
n :Ordre de la strate
;

:Longueur 'donde de la radiation

Y :Distance en mm entre
2 strates symtriques
R : Rayon de la chambre
(R =28,648mm)

Mthode de weissenberg

I- principe :
Le cristal tournant a linconvnient de rassembler sur une droite les taches provenant dun plan,
les angles entre les ranges napparaissent pas, et il y a des risques de superposition.
Lobjet de la mthode de weissenberg et de lever cette dgnrescence des diffrents niveaux
du rseau.
On tudie sparment chacun des niveaux observs au cristal tournant. On tale sur lensemble
du film les taches du niveau de manire obtenir un diagramme bidimensionnel. Pour cela on
prend soin dviter que les rayons diffracts par les autres niveaux ne viennent impressionner le
film : un cran mtallique (caches cylindriques) est prvu cet effet. On dplace le film au
cours de lenregistrement, suivant un mouvement de va et vient synchronis avec le
mouvement de rotation du cristal, le film se dplace de 1mm lorsque le cristal tourne de
2degrs ( = 2x mm). Ainsi plusieurs strates d'ordre 0,1,2,3... peuvent tre enregistres
conduisant une image lgrement dforme des plans rciproques h0l*, h1l*, h2l*, h3l*...
correspondants (figure 1).

Figure 1 : Principe de la mthode de Weissenberg

La figure 1 prsente une coupe du dispositif utilis. Le cristal tourne autour dun axe direct
perpendiculaire au faisceau de rayons X monochromatique, plac au centre de la sphre
dEwald : les directions de diffraction se confondent avec les rayons diffracts eux-mmes.
Le film est cylindrique et entoure symtriquement le cristal. Lcran mtallique est form de
deux cylindres disposs de faon ne pas laisser passer que les rayons X diffracts par le
niveau tudi.
Le mouvement de va et vient est maintenu durant le temps ncessaire pour que les taches
soient suffisamment intenses.
Au cours dune rotation de 360 on obtient trois droites de ponte 2 (ce sont les ranges
centrales), qui drivent dune seule hlice enregistre sur le film cylindrique.
Toute range centrale conduit ce type de diagramme, mai son origine est dcale par rapport
lorigine 0 dune longueur xmm gale la moiti de langle, en degrs, entre cette range et la
range R. Pour les ranges non centrales on obtient des courbes de mme allure les unes dans
les autres.

Figure 2: Diagramme de Weissenberg

II- Utilit de la mthode:
Les films obtenus permettent :
La mesure des paramtres des deux axes rciproques perpendiculaires l'axe de
rotation du cristal ainsi que l'angle rciproque entre ces deux axes.
Ainsi, si le cristal tourne autour de l'axe b, on dterminera a* et c* ainsi que l'angle *.
Le paramtre rciproque est donn par la relation:

d* = 2sin [(L/2)sin arctg2)]/n

d*: paramtre rciproque en -1,
l: La distance (en mm) entre deux tches symtriques d'ordre n,
: Longueur donde du rayonnement utilis.
L'angle entre les axes rciproques, qui est donn par :

* = 2 x
*: angle rciproque
x: distance en mm entre les deux axes (droites de ponte 2)

Dmonstration :

=
2 = K.y soit y = 2x
= K.x
Les nuds de [h00]* ou de [0k0]* sont aligns
sur une droite de ponte 2.
Soit deux nuds symtrique appartenant la
range [h00]*, distant de L.

2 = K.y avec K = 2mm-1

Soit = y
Sachant y = 2x et tg = 2 soit = Arctg2
sin( Arctg 2)

y
L2

2dsin = n et y =
2dsin [L/2sinArtg2] = n
n
d
2 sin[ L / 2 sin arctg 2]

d*

2 sin[ L / 2 sin arctg 2]

n

L'indexation des tches des diffrentes strates et ltude des extinctions systmatiques
permettent:
1- Lidentification des modes de rseaux de BRAVAIS (P, C, I, ou F),
2- La mise en vidence des lments de symtrie de position.

Figure 4 : Dispositif exprimental de la chambre de Weissenberg

Mthode de Lae

I- Principe
Un monocristal est irradi par un faisceau troit, parallle, de rayons X polychromatiques
contenant donc (avec des intensits variables) toutes les longueurs d'onde entre une limite
infrieure M et une limite suprieure m (dans ce but on fait appel au "fond continu" d'un
tube rayons X). Nous aurons donc en prsence un rseau rciproque et une suite de sphres
dEwald tel que : m < < M. Ces sphres, centres sur les rayons X incidents, sont
tangentes entre elles lorigine I du rseau rciproque.

Figure 1 : Diffraction dans la mthode de Lae

1

Chacun des nuds compris dans lespace entre la sphre de rayon max et la sphre de rayon
1
1
min , rencontre une sphre dEwald de rayon avec < < .
min
max
Chaque famille de plans atomiques "slectionne" dans le spectre la longueur d'onde qui lui
convient pour vrifier la loi de Bragg et donner lieu une rflexion slective intense.
II- ralisation exprimentale :
Un film photographique plan, F, est dispos perpendiculairement au faisceau incident, le cristal
tant plac au point C. On utilise l'mission du fond continu produit par une anticathode
forme d'un lment lourd et on choisit couramment le tungstne avec une tension de 50 70
kV. Le cristal est orient de faon qu'un de ses lments de symtrie soit parallle au faisceau
de RX incident. La distance film cristal est rduite afin daugmenter le nombre de taches et de
diminuer le temps de pose.

Figure 1 : Dispositif exprimental

Le faisceau transmis travers le cristal, trs intense, est arrt par un pige P (puits). Un certain
nombre de faisceaux diffracts par des plans en conditions de Bragg sont visibles de part et
d'autre de la tche directe.
Les clichs sont enregistrs soit en transmission (2 < 90) o le film plan est dispos
en arrire (chantillons minces ou peu absorbants), soit en retour (rflexion) o le film
plan est dispos en avant et permet d'enregistrer les rayons diffracts correspondant des
incidences de Bragg suprieures 45, 2 > 90 (chantillons massifs). Le film est perc en
son centre pour laisser passer le faisceau direct.
Dans la pratique, un seul des deux diagrammes suffit pour les applications usuelles de la
mthode de Lae.
Un intrt de la mthode de Lae rside dans sa facilit de mise en uvre, pas de mouvement
du cristal, film plan immobile, rayon X ltat brut, temps de pose court.
II- Aspect et interprtation des diagrammes :
Aprs dveloppement du film on observe des tches qui reprsentent les impacts des rayons
diffracts.
Dans les diagrammes en transmission les taches se regroupent en courbes de formes
elliptiques. Chacune des ellipses ayant un sommet au centre du film.

Figure 2 : Clichs de Lae en transmission

Dans le diagramme en rflexion, les taches se regroupent suivant des courbes dallure
hyperbolique.

Figure 3 : Clichs de Lae en retour

III- Utilit de la mthode de Lae :

La mthode de Lae sert essentiellement orienter un axe du cristal suivant la direction
des rayons X incidents. Dune faon gnrale, elle permet de connatre lorientation du
cristal par rapport aux rayons X incidents.
Si le cristal possde un lment de symtrie d'ordre S (axes ou miroirs) et si celui-ci est
orient paralllement au faisceau de RX incident, la disposition des tches de diffraction
sur le film prsentera la symtrie de cet lment.

Mthode de Prcession ou de Buerger

I- Principe
La mthode de prcession ou de Buerger permet lobtention dune image non dforme des
diffrents plans du rseau rciproque. Le monocristal ne tourne plus autour dun axe direct,
mais autour dun axe inverse. Le faisceau de rayons X monochromatique est perpendiculaire
laxe inverse (axe de rotation). Pour chaque axe rciproque, il existe un plan direct qui lui est
perpendiculaire et donc parallle au faisceau de rayons X. La mthode de Buerger consiste
diriger un axe directs dans le faisceau des rayons X autour du quel il va prcesser (dcrire un
cne), par suite de prcession de laxe rciproque autour de laxe perpendiculaire.
Un film photographique est maintenu parallle au plan du rseau rciproque enregistrer. Ce
plan coupe la sphre de rflexion suivant un cercle (cercle de rflexion). Si on fait osciller ce
plan par un mouvement de prcession, le cercle de rflexion balaiera une partie du plan
rciproque et rencontrera des nuds qui, situs ce moment sur la sphre dEwald,
correspondront des faisceaux diffracts.

Figure 1 : Montage de la chambre de Burger

1- Mouvement de prcession

Soit un plan (P) susceptible de tourner librement autour dun de ses points O et soit sa
normale ON. Par ailleurs, soit un cercle (C) dont le plan est parallle (P), et laxe confondu
avec ON.

Figure 2 : Mouvement de prcession

En faisant pivoter le plan (P) autour de O, on carte sa normale de sa position initiale dun
angle de faon ce quelle sappuie sur (C).
Le mouvement dcrit par le plan (P) lorsque sa normale dcrit le cne dangle dfini par (C)
est un mouvement de prcession.
La position initiale de ON (laxe du cercle (C)) est laxe de prcession.

est langle de prcession.

[Cet angle est rglable de 0 30 sur les chambres habituelles].

2- Mcanisme d'une chambre de prcession

Pour que le film et le plan rciproque choisi restent parallles, il faut imposer le mme
mouvement de prcession au film et au rseau rciproque, cest--dire au cristal.
Cest pourquoi le film et le cristal sont monts sur des cardans (articulations 2 axes
rectangulaires), le film tant entran dans un mouvement de prcession par un arc de cercle
(voir figure 3) lui-mme entran dans un mouvement de rotation par un moteur rducteur.
Larc de cercle, gradu, permet de fixer la valeur de langle de prcession . Le mouvement du
film est transmis au cristal par un bras coud homothtique.

3-Enregistrement du niveau zro

Le niveau zro correspond au plan rciproque passant par lorigine I du rseau rciproque (ici
on la notera I). On a matrialis ce plan rciproque sur la figure suivante. Le cercle en
pointills matrialise la limite de laire balaye par le cercle de rflexion dEwald sur le plan
rciproque et son image sur le plan film (dans la pratique, celui-ci fait environ 10 cm de
diamtre).

Figure 3 : Mthode de prcession

4- Enregistrement du niveau n
Le plan rciproque du nime niveau se trouve en avant, la distance dn du plan du niveau zro.
Pour que lenregistrement se fasse la mme chelle que pour le niveau zro (sans
distorsion), il faudra dplacer le film, vers le cristal, de dn .

Figure 4 : enregistrement du niveau n

5- Ecran fente circulaire

Il faut isoler le cne de faisceaux rflchis correspondant au seul niveau explor. Cest le rle
dun cran fente circulaire que lon place en avant du film.
Un cran de diamtre 2r doit tre plac la distance D du cristal donne par :
D = r cotg , avec : : demi-angle au sommet du cne de faisceaux diffracts.
On calcule par la relation suivante :
dn = ST STn = (cos cos) /avec : angle de prcession
cos = cos dn

Figure 5 : montage avec cran

II- Utilit de la mthode

Les films obtenus permettent :
La mesure des deux paramtres rciproques perpendiculaires laxe cristallographique
(// aux rayons X) en utilisant la relation suivante:
dd* = R.
d: Distance entre deux taches voisines (mesure en mm sur le film).
d*: Paramtre rciproque
: Longueur donde du rayonnement utilis.
R = Facteur correcteur dchelle (constante de rflexion R= 60 mm).
La dtermination de langle rciproque correspondants qui se fait directement sur le
film.

 De dterminer les extinctions systmatiques (taches absentes) caractristiques du type de

rseau de bravais, des diffrents lments de symtrie de positions et de remonter au
groupe despace, on indexation sur les films les taches prsentes.
Remarque :
La mthode de Weissenberg ainsi que la mthode du cristal tournant, permettent dexplorer des
plans rciproques perpendiculaires laxe de rotation du cristal, par contre, la mthode de
Buerger explore les plans rciproques parallles laxe de rotation du cristal. Do la
possibilit denregistrer des plans de directions diffrentes avec un mme rglage du cristal
(systme Explorer).
Conclusion :
La diffraction X est une mthode trs puissante danalyse des structures. La taille de la
molcule ne semble pas tre une limite. La structure de la vitamine B 12, soit prs de 200
atomes, a t rsolue avec succs. La structure de la pnicilline a t un triomphe de la
cristallographie puisquelle ft dtermine avant que les organiciens ne connussent la formule
dveloppe. Certains chercheurs sont actuellement engags dans des analyses de structure de
molcules comportant plus de mille atomes.

Structure de la vitamine B12