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par
Peter HAWKES
Directeur de Recherche au Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
1.
1.1
1.2
1.3
1.4
1.5
2.
2.1
2.2
2.3
2.4
2.5
Composantes de base.............................................................................
Sources dlectrons .....................................................................................
Lentilles symtrie de rvolution ..............................................................
2.2.1 Lentilles lectrostatiques ...................................................................
2.2.2 Lentilles magntiques ........................................................................
Lentilles quadrupolaires..............................................................................
Systmes de dflexion ................................................................................
Prismes .........................................................................................................
10
10
11
11
11
12
12
15
3.
16
4.
4.1
4.2
4.3
16
16
17
18
5.
5.1
5.2
5.3
18
18
19
20
E 1 300 - 3
Doc. E 1 300
E 1 300
6 - 1993
Toute reproduction sans autorisation du Centre franais dexploitation du droit de copie est strictement interdite.
Techniques de lIngnieur, trait lectronique
E 1 300 1
rle sauf dans des cas trs exceptionnels (microscopie balayage basse
tension), il est toujours mis de ct. On se contente alors dune forme relativiste
de lquation de Schrdinger.
Les lois optiques ne conviennent pas pour caractriser tous les faisceaux dlectrons. Pour quun formalisme optique dcrive correctement la propagation des
lectrons, ceux-ci doivent respecter certaines conditions. Dabord, ils doivent
rester ensemble autour dun axe, qui peut en principe tre une courbe quelconque
mais qui en pratique se limite un petit nombre de courbes simples, une ligne
droite ou circulaire par exemple. De plus, la densit du courant dans le faisceau
doit tre suffisamment faible pour que les interactions inter-lectrons restent
ngligeables. Dans le paragraphe consacr aux sources dlectrons ( 2.1),
nous verrons quelles sont les consquences dune densit de courant locale trop
leve (effet Boersch).
Un paragraphe entier ( 2.2) est consacr aux lentilles lectroniques mais
nous serons amens les voquer titre dexemple partout. Nous rappelons
donc ici quune lentille lectrostatique typique comporte trois lectrodes
(figure Aa ) portes des tensions varies. Ces lectrodes peuvent tre des
plaques perces de trous circulaires ou des cylindres section circulaire mais
pas ncessairement rayon constant.
Une lentille magntique (figure Ab ) est un lectroaimant au centre duquel
un trou a t perc pour le passage des lectrons. Le champ est concentr dans
une petite rgion au niveau de lentrefer.
De nombreux rsultats sont donns dans cet article sans dmonstration ; pour
trouver des informations complmentaires, le lecteur est invit se reporter
un des ouvrages [1] [10]. La notation adopte ici est identique celle de Principles of Electron Optics par Hawkes et Kasper [6] [7], le plus rcent des traits
sur loptique lectronique. Il nexiste pas de texte rcent en langue franaise.
E 1 300 2
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Notations et Symboles
Symbole
Dfinition
A
B
G ( z ), G ( z ) paraxiaux (12)
h
Constante de Planck (= 6,62 1034 J/s)
i
Imaginaire (i2 = 1)
j
Densit de courant
k
Constante de Boltzmann (= 1,38 1023 J/K)
M ( M , M ) Grandissement (longitudinal, angulaire)
m0
Masse au repos de llectron (= 0,91 1030 kg)
m
Masse relativiste de llectron
r
Vecteur de position
t
Temps
T
Temprature
v
Vitesse
Angle
= m /m 0
= e /m 0 c 2
= e/2m 0
(z )
Angle entre deux repres (x, y, z ) et (X, Y, z)
Permabilit magntique
(r )
Rpartition des charges despace
(r )
Rpartition des charges sur la surface
correction relativiste
Potentiel scalaire
: Laplacien
a, i, o : indices employs pour les plans respectivement
douverture, image, objet
m = m0 = m0 /
1 ( v 2 /c 2 ) ; m 0 = m ( v = 0 ) ; m 0 = 0,91 10 30 kg
2m 0 e
= 1/ 1 v 2 /c 2 =
et
1.1 Gnralits
= (1 + )
1,602 10 19
= e/ ( 2m 0 c 2 ) = ------------------------------------------------------------2 0,91 10 30 9 10 16
0,98
MV 1
(2)
(3)
H = B/ = grad
(4)
rot --------------------------------- = j ( r )
(
rot
A
)
1. Principes de loptique
lectronique gomtrique
1 + 4
(5)
avec
div A 0
2 A = 0
et
2 = 0
(6)
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E 1 300 3
de cet axe. Un calcul assez long mais sans difficult (voir [5] pour
les dtails) montre que :
1
1
( r ) = ( z ) ----- ( x 2 + y 2 ) ( z ) + -------- ( x 2 + y 2 ) 2 IV ( z )
64
4
1
xF 1 ( z ) yF 2 ( z ) + ----- ( x 2 + y 2 ) ( x F 1 + yF 2 )
8
1
1
+ ----- ( x 2 y 2 ) p 2 ( z ) + xyq 2 ( z ) ------- ( x 4 y 4 ) p 2 ( z )
2
24
(7)
1
1
-------- xy ( x 2 + y 2 ) q 2 ( z ) ----- p 3 ( z ) ( x 3 3 xy 2 )
12
6
1
1
+ ----- q 3 ( z ) ( y 3 3 x 2 y ) + -------- p 4 ( z ) ( x 4 6 x 2 y 2 + y 4 )
6
24
1
+ ----- q 4 ( z ) ( x 3 y xy 3 ) + ...
6
1
- (x 2 + y 2) B
B ---8
1
1
2
2
4
+ ----- ( x y ) B 2 -------- ( x y 4 ) B 2
4
48
1
1
----- xyB 1 + -------- xy ( x 2 + y 2 ) B 1
2
24
1
1
-------- x ( x 2 3 y 2 ) Q 2 -------- y ( y 2 3 x 2 ) P 2
12
12
1
1
+ -------- ( x 4 6 x 2 y 2 + y 4 ) Q 3 -------- xy ( x 2 y 2 ) P 3 + ...
48
12
1
A x ( r ) = ----- y
2
1
A z ( r ) = xB 2 + yB 1 + ----- ( x 2 + y 2 ) ( xB 2 yB 1 )
8
1
1
1
+ ----- ( x 2 y 2 ) Q 2 xyP 2 -------- ( x 4 y 4 ) Q 2 + -------- xy ( x 2 + y 2 ) P 2
2
24
12
(8)
1
1
----- x ( x 2 3 y 2 ) Q 3 ----- y ( y 2 3 x 2 ) P 3
6
6
1
1
+ -------- ( x 4 6 x 2 y 2 + y 4 ) Q 4 ----- xy ( x 2 y 2 ) P 4 + ...
24
6
(Pour obtenir A y partir de A x , on remplacera x par y et y par x ).
Les fonctions (z ), F1 (z ), ..., q 4 (z ) qui figurent dans le dveloppement de (r ) et les fonctions B (z ), B 1 (z ), B 2 (z ) ... Q 4 (z ) qui
figurent dans celui de A (r ) caractrisent des symtries diffrentes.
Pour les faire ressortir, on exprime en coordonnes cylindriques
(r , , z ) :
r2
r4
( r, , z ) = ------- + ------- IV
4
64
r3
r ( F 1 cos + F 2 sin ) + ------- ( F 1 cos + F 2 sin )
8
r2
r4
+ ------- ( p 2 cos 2 + q 2 sin 2 ) ------- ( p 2 cos 2 + q 2 sin 2 )
2
24
r4
r3
------- ( p 3 cos 3 + q 3 sin 3 ) + ------- ( p 4 cos 4 + q 4 sin 4 )
6
24
+ ...
Lorsque le systme est symtrique autour de laxe z, seule la fonction (z ) peut tre diffrente de zro, ou B (z ) dans le cas magntique.
Pour un systme qui possde deux plans de symtrie, p2 , q2 , p4
et q 4 peuvent tre diffrents de zro, ainsi que (z ) et si ces plans
sont les plans (x, z ) et (y, z ), seuls p2 et p4 ne sont pas nuls.
Dans le cas magntique (figure 1), ce sont Q2 et Q4 qui subsistent.
On voit que le champ perpendiculaire laxe, (/x, /y ), ne tend
pas vers zro sur laxe, si une des fonctions F1 ou F2 est diffrente
de zro. Par consquent, ces fonctions doivent reprsenter des
champs dflecteurs.
E 1 300 4
(r ) da
---------------------------r r
da
un lment de surface,
(r) la rpartition des charges sur la surface.
Lintgration seffectue sur toutes les surfaces.
Le potentiel est donn sur les lectrodes et on peut donc calculer
. Ensuite, le potentiel peut tre valu en tout autre point de
lespace entour par les lectrodes (figure Aa ). Un raisonnement
analogue permet de calculer les champs magntiques.
Dans un calcul pratique, les surfaces sont dcoupes en petites
zones et lintgrale est discrtise (BEM : Boundary-Element
Method ).
Pour ce faire, sans perdre de prcision, des procds ultrasophistiqus ont t dvelopps. Voir [6] et les publications cites
dans ces livres, ainsi que les traits de Durand [11] [12].
Deux autres groupes de mthodes sont employs couramment
pour rsoudre lquation de Laplace : les mthodes de diffrences
finies (FDM) et les mthodes dlments finis (FEM).
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1.3 Trajectoires
Lquation de Newton-Lorentz (1) peut tre rsolue laide de
mthodes numriques classiques, malheureusement, de telles solutions ne nous donnent aucune information sur le comportement
gnral du systme en question. Avant de considrer les mthodes
numriques, il convient donc de transformer cette quation et den
dduire lquation diffrentielle approche qui dcrit les trajectoires
voisines de laxe, lquation des rayons paraxiaux.
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E 1 300 5
2
2
d2 X
--------- --------- X --------- + ^
------------ ( B Y Y B t )
-----------=
^
z 1/2
dz 2
2 X
^
^
2
2
d2 Y
----------- ( B X + X B t )
- --------- Y --------- +^
-----------= --------^
2
z 1/2
2 Y
dz
1 + X 2 + Y2 , =
e/ ( 2m 0 )
3 10 5
(9)
o A1 et A2 sont des constantes, u1 et u 2 sont deux solutions quelconques mais indpendantes de (12). Deux solutions sont particulirement utiles (figure 5) : g (zo ) = 1 et h (zo ) = h (zi ) = 0. Un pinceau
de rayons qui passe par un point dans le plan z = zo scrit :
C 1/2 kg 1/2
Bt = (B z + X BX + Y BY )/
et
Nous avons not les coordonnes cartsiennes X, Y, z provisoirement, pour des raisons qui apparatront videntes plus loin [cf.
relation (11)].
Ces quations sappliquent tout systme ayant un axe rectiligne.
Le cas o le systme possde une symtrie de rvolution autour de
cet axe est particulirement important. Nous avons vu [relations (7)
et (8)] que pour un tel systme, seules les fonctions (z ) et B (z ) subsistent dans les dveloppements de et de A. En substituant ces
sries dans les quations (9) et en se limitant aux termes de premier
ordre, on trouve :
B dY
B
d 2 X dX
---------- ---------- + ------------- Y = 0
- ---------- + ---------- X +^
------------ + ---------^
^
^1/2
1/2
dz
2 dz
4
dz 2
B dX
B
d 2 Y dY
---------- ---------- ------------- X = 0
- ---------- + ----------- Y ^
-----------+ ---------^
^
^
2
2 dz
4
dz
1/2 dz 2 1/2
Figure 5 Rayons g (z ) et h (z )
u (z ) = uo g (z ) + h (z )
o est un paramtre.
Dans le plan z = zi , nous avons u (zi ) = uo g (zi ), ce qui dmontre
que tous les rayons du pinceau passent par un seul point dans le
plan z = zi . De plus, le rapport u (zi )/uo est constant et on conclut
que le systme forme une image du plan z = zo dans le plan z = zi ,
avec un grandissement M = g (zi ). Cependant, limage est tourne
par rapport lobjet, cause de la torsion des coordonnes (x, y, z).
avec = m /m0 .
Ces quations sont couples : X et Y figurent dans chacune delles.
Pour essayer de les dcoupler, nous pouvons introduire de nouvelles
coordonnes (x, y, z ) obtenues par rotation dun angle (z ) autour
de laxe z. Soit w = X + iY et u = w exp [ i (z )].
Lquation (10) scrit alors :
i B
iB
- w -------------w = 0
- w + ---------- w ---------w + --------^
^
^
^
2
4
1/2
2 1/2
1/2
o h ( z o ) = i h ( z i )M
et ensuite :
i B
------------^
u + u 2i + --------^
2 1/2
MM = ( o / i ) 1/2
^
i B i B
- + ---------- = 0
- -------------+ u i 2 + i ---------^- -------------^
^
^
2
4
2 1/2
2 1/2
= B/2 1/2
^
(11)
et nous trouvons :
u + ( /2 )u + { ( + 2 B 2 )/4 }u = 0
^
(12)
E 1 300 6
(13)
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lim G ( z ) = 1
(15)
lim x ( z ) = [ A 1 ( z z Fi )/f i ] + A 2
donc
lim G ( z ) = ( z z Fo ) G o
1/2
o G o = i G i
^
o 1/2
fo
-----= ------^
fi
i
x 2
relation entre fo et fi :
x2
z 2 z Fi
------------------fi
f o + Q 12 / f i
1 / fi
z 1 z Fo
-------------------fi
x1
(16)
x 1
et
1/2
i
( o i ) 1/4
o
---------------------+ ---------------- = ------------------------z Po z Fo z i z Pi
( f o f i ) 1/2
^
ou
^ ^
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E 1 300 7
Z i /f o
avec
uo = xo + iyo , ua = xa + iya , r = x 2 + y 2 et u* = x iy
f o /
Aberration sphrique : il est commode de remplacer les coordonnes xa , ya par le gradient x o , y o dans le plan objet. On montre
que [relation (17)] :
Z i = f o 2
ce qui justifie le choix de dfinition de longueur focale.
y i = Cy a ( x a + y a ) = C s y o ( x o2 + y o2 )
1.5 Aberrations
Lors de la drivation de lquation des rayons paraxiaux, seuls les
termes de bas ordre en x, y ont t retenus. Cette restriction permet
de calculer les proprits paraxiales dune lentille mais ne donne
aucune indication sur les carts dus aux termes dordre suprieur.
Pour calculer ces carts, il convient de retenir les termes de troisime
ordre (dans un systme axe rectiligne, il ny a pas de termes dordre
pair). Les quations paraxiales (homognes) sont remplaces par
des quations htrognes dont le premier membre revt la mme
forme que les quations paraxiales alors que le deuxime membre
caractrise les aberrations gomtriques. De plus, nous avons suppos implicitement que le faisceau dlectrons est mononergtique
et monochromatique. En effet, on sefforce de limiter la gamme
dnergie dans le faisceau autant que possible mais une certaine
variation persiste toujours. Il en rsulte une aberration chromatique.
Nous ne pouvons exposer la thorie des aberrations ici ; des traitements dtaills se trouvent dans les ouvrages [1] [2] [3] [4] [5] [6].
Les aberrations gomtriques des lentilles symtrie de rvolution forment cinq groupes. Dans un plan image z = zi , conjugu du
plan objet z = zo , entre lesquels se trouve un plan douverture z = za ,
lcart entre le point darrive dun rayon paraxial et un rayon avec
aberrations, divis par le grandissement M, scrit [1] [2] [3] [4] [5]
[6] :
2
x i + iy i = Cr a u a
(coma)
2
+ ( A + ia ) u o u *
a (astigmatisme)
2
+ Fr o u a
(courbure de champ)
+ ( D + id ) r o u o (distorsion)
(aberration sphrique)
+ 2 ( K + ik ) r a u o + ( K ik )u a u *
o
E 1 300 8
x i = Cx a ( x a + y a ) = C s x o ( x o2 + y o2 )
(17)
Cs =
zi
zo
B
- h
-------------16
4
2 h2 2 B2 2 2
- h h dz (18)
+ ( hB + hB ) 2 ------------^ - + ------------^
8
8
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Dans la dernire lentille de projection, la distance r devient importante alors que les angles sont extrmement faibles. Au niveau de
lobjet, les angles de diffusion peuvent atteindre 102 rad ; un grandissement de 100 000, cet angle est rduit 0,1 rad. Cest donc la
distorsion qui est importante. Pour les lentilles magntiques, elle a
une composante isotrope et une composante anisotrope, ou en
spirale. La figure 9 montre les effets associs ces composantes.
On dmontre que :
D = (D1 /M ) + D0
o D1 et D0 sont des constantes pour une lentille donne et une
excitation donne. Le coefficient anisotrope est indpendant de M.
D1 =
fo
D0 =
fo
d =
o
m G 4 dz
(cas magntique)
e G 4 dz (cas lectrostatique)
m G 3 G dz + 3/ ( 8f 2 )
e G 3 G dz + 3/ ( 8f i )
a G 2 dz
1 4 4 B 4 5 2 B 2 2 BB
m = -------- ------------------ + ------------------- -----------------^
^
^
48
^
1
2
^
- ( 3 + 5 ) ----------- ( 3 + 4 ) ------------- e = ------------------^3/2
^3/2
^1/2
192 0
2
4
^
- + ( 22 4 + 7 2 + 1 ) ^
---------- 6 ( 5 + 17 ) ----------------^
5/2
7/2
1 B 2 3 B3
a = ------ ^
----------- + ----------------^
16 1/2
3/2
Les lentilles lectroniques souffrent galement daberrations chromatiques. Leurs proprits varient selon lnergie des lectrons
incidents. Cette variation est tellement rapide que lon sefforce dutiliser des faisceaux quasi monochromatiques (variation dnergie
de 1 ou 2 eV pour une tension acclratrice de plus de 100 kV). Les
courants dans les lentilles doivent de mme atteindre une stabilit
dau moins 105.
Laberration chromatique est caractrise par des coefficients :
B 0 0
u i = x i + iy i = [ C c u o + ( C D + iC )u o ] 2 ------------ ----------^
B
0
0
^
C D = f o C 2 /M + f o C 1
2
2 dz
C = --------B
^
4 0
2B 2
2
-------------^ - h dz
4 0
avec
2
C 2 = --------^
4 0
B 2 G 2 dz
2
C 1 = --------^
4
0
B 2 G G dz
(19)
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E 1 300 9
2. Composantes de base
2.1 Sources dlectrons
Une source comporte une cathode, ou filament, qui met des lectrons, une anode qui dfinit lnergie de sortie des lectrons et
dautres lectrodes intermdiaires qui servent focaliser ou
contenir le faisceau dlectrons. Lmission est provoque par lapplication dun champ lectrostatique lev la surface de la cathode
(mission de champ) ou par le chauffage de celle-ci (mission
thermoonique). On peut galement exciter lmission par bombardement ionique de la cathode ou par rayonnement laser.
La gomtrie de la source, que lon appelle couramment un canon
lectronique, varie beaucoup selon lutilisation envisage. Dans un
microscope lectronique, par exemple, on cherche une configuration
donnant un faisceau aussi mononergtique que possible provenant
dune zone mettrice trs petite.
Le canon dun microscope a normalement trois lectrodes (canon
triode) : un filament en tungstne, chauff une temprature de
lordre de 2 600 K, une lectrode intermdiaire que lon appelle le
wehnelt, et lanode qui est maintenue la tension acclratrice de
linstrument. En ralit, lanode et toute la colonne du microscope
sont relies la terre et cest au filament que lon applique la haute
tension (ngative). Le wehnelt est maintenu une tension faiblement
ngative par rapport celle du filament, ce qui permet de limiter
la zone mettrice de la cathode (figure 10).
Pour les appareils de haute performance, pour lholographie, pour
le microscope balayage en transmission (STEM : Scanning Transmission Electron Microscope ) et pour certains microscopes
balayage classiques, lmission de champ simpose cause de sa
brillance leve. Nous reviendrons sur la brillance, qui joue en
optique lectronique le rle de la luminance en optique photonique
la fin de ce paragraphe. Un canon mission de champ a trois
lectrodes mais le rle du wehnelt est maintenant de crer un champ
lectrique lev au niveau du filament, trs pointu (figure 11). Le
rayon de courbure de la pointe est de lordre de 0,1 m et le champ
appliqu est de 108 V/cm. La tension du wehnelt est positive par
rapport celle de lmetteur. La troisime lectrode, lanode, acclre
et focalise les lectrons.
Le canon mission de champ a certains inconvnients par
rapport au canon thermoonique. Bien que la brillance soit plus
leve (elle peut atteindre 109 A cm2 sr1), le courant mis est
plus faible (de lordre du microampre). La brillance leve est due
essentiellement aux dimensions rduites de la zone mettrice. De
plus, un vide de lordre de 107 Pa est indispensable pour le bon fonctionnement dun canon mission de champ, alors que 103 Pa est
largement suffisant pour un canon thermoonique en tungstne
(ou 105 Pa avec LaB6).
Dans ces canons, le filament a la forme dune pointe. Dans dautres
applications, notamment quand un courant total plus lev est
ncessaire, la cathode est plate et les lectrodes du canon servent
concentrer le faisceau autour de laxe. On trouve des canons de
ce type dans les tubes lectroniques, pour camras de tlvision par
exemple, et pour les convertisseurs dimages en gnral.
Quand la densit de courant souhaite devient si leve que la
force inter-lectrons dans le faisceau devient trs importante, on
entre dans le domaine des canons de Pierce ou canons pervance
leve ; la pervance est proportionnelle I / 3/2 (I courant,
potentiel relativiste). Nous ne les traiterons pas ici mais ils jouent
un rle trs important dans la physique des plasmas, par exemple,
et le soudage par faisceau lectronique.
Cependant, dans tout canon qui forme un crossover rel, la densit
de courant est localement leve et il semble que la rgion du crossover chappe la rgle que nous nous sommes impose. Cette anomalie locale a pourtant des consquences importantes.
^
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k
T (K)
(20)
constante de Boltzmann,
temprature,
(21)
p = kT /d,
d = eF /2 ,
peut atteindre 10 A cm
sr
B ( z ) dz = B 0
f ( z ) dz = 0 J
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f ( z ) dz
0 J
B 0 = --------;
AL
B 0 L 0 J
------------- = -------------^
^ 1/2
A 1/2
2 p 2 + 4 Q 2 1/2
d ^
-------- ( 1/2x ) + -------------------------------------------------------------x = 0
^1/2
dz
4
w = x + iy
^
1 QE
- + i 1/2 Q M
A 1 = ----- ------2 ^
1 1 ^ 1/2
- + ----- i
B
A 2 = ----- -----4 ^
2
1
^
- + i 1/2 B
A 3 = ----- ----2 ^
^
1 FT
- i 1/2 B T
D = ----- -----2 ^
et
Les fonctions F1 , ..., Q2 sont celles qui figurent dans les dveloppements de et de A ( 1.2). En ralit, une lentille lectrostatique
symtrie de rvolution ne se trouve jamais proche dun dflecteur
et une lentille magntique noccupe la mme rgion que dans des
situations trs spcialises ; nous y reviendrons la fin de ce paragraphe. Le terme A1 peut tre nglig car il est lorigine dun astigmatisme que lon sefforcera dliminer.
Lquation (22) se rduit donc :
^
^
1
w ( z ) = D = ----- ( F T / ) i 1 /2 B T
2
+ 2 p 2 4 Q 2 1/2
d ^
-y = 0
-------- ( 1/2y ) + ------------------------------------------------------------^
dz
4 1/2
^
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(22)
wd ( z ) =
(23)
z0
( z z ) D ( z ) dz
D ( z ) dz
zD ( z ) dz
x d ( ) =
D x ( z ) dz
y d ( ) =
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D y ( z )dz
Figure 13 Reprsentation unifie des proprits des lentilles magntiques symtriques sans saturation. (Les coefficients A... k... sont dfinis par
lquation (17).)
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avec
Dx et Dy composantes de D,
et
z1 =
z2 =
zD x ( z ) dz
Dx ( z ) dz
Dy ( z ) dz
zD y ( z ) dz
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Fj (z ) = Uj aj (z ), Bj (z ) = 0 Ij bj (z ), j = 1, 2
o aj et bj sont des fonctions ayant la dimension [L] 1 qui caractrisent la forme de la rpartition. On a :
0 b2 ( z )
1 a1 ( z )
- I2
D x = ----- ---------------U 1 + --------------------------^
^
2
1/2
0 b1 ( z )
1 a2 ( z )
- I1
U 2 --------------------------D y = ----- ---------------^
^
2
1/2
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Mais il est rare que cette relation complique soit utilise. Pour
un systme de dflexion purement lectrique, on trouve :
zj =
za j ( z ) dz
aj ( z ) dz
j = 1, 2
xi = d 1 U1 ,
E
yi = d 2 U2
E
a j ( z ) dz
j = 1, 2
Dans le cas o d 1 = d 2 , on parle de dflexion isotrope. Un raisonnement similaire est utilis pour le cas de la dflexion magntique.
Ces dernires annes, les exigences de la microlithographie, voire
de la nanolithographie, sont devenues tellement astreignantes que
de grands efforts sont consacrs la lithographie lectronique. Il
savre avantageux de regrouper le champ focalisateur symtrie
de rvolution et le champ dflecteur dans la mme rgion. Dans les
dveloppements de et de A ( 1.2), les fonctions F1 , F2 , B1 et B2
peuvent tre toutes prsentes, ainsi que B (z ), (z ) et les fonctions
quadrupolaires. Selon la symtrie adopte, certaines de ces fonctions disparaissent. La figure 17 montre laspect gnral dune
lentille immersion axe variable (VAIL : Variable-Axis Immersion
Lens ) ou encore Moving-Objective Lens (MOL). Malgr la complexit
de la thorie et de la construction de ces lments optiques hybrides,
des tudes trs compltes de leurs proprits sont ralises.
La thorie des aberrations gomtriques et chromatiques des
systmes dflecteurs a t tudie en profondeur. Des expressions
pour les nombreux coefficients sont disponibles sous forme
dintgrales, aussi bien dans le cas dun dflecteur spar de toute
lentille que dans le cas beaucoup plus compliqu o les champs
des lentilles et ceux des dflecteurs se chevauchent.
2.5 Prismes
Jusqualors, nous navons considr que les systmes axe
rectiligne. Pour analyser la rpartition dnergie dans un faisceau,
un lment dispersif est ncessaire. En optique lectronique, un
prisme magntique ou lectrostatique remplace le prisme en verre
qui sert pour la dispersion de la lumire (figure 18). Le prisme
magntique est un aimant en forme de secteur, lintrieur duquel
laxe correspondant lnergie moyenne du faisceau est circulaire.
Pour une configuration simple, le champ sur laxe B0 , le rayon du
cercle R et la charge Q satisfont la relation :
B 0 = mv0 /(RQ )
(pour un faisceau dlectrons, Q = e et v0 reprsente la vitesse
correspondant lnergie moyenne).
Tout comme la lentille quadrupolaire ( 2.3), leffet du prisme sur
les particules charges est diffrent dans le plan radial et dans le
plan mridien. Des lments cardinaux sont dfinis dans le plan
radial, et la dispersion est caractrise dans ce plan laide de coefficients de dispersion linaire et angulaire.
Examinons, titre dexemple, le cas magntique pour lequel on a :
Bx yn B0 [ 1 + x (1 + n)]
By = B0 (1 + x ) n B0 (1 n x )
y + 2 ny = 0
(24)
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4. Optique ondulatoire
4.1 Introduction
i = 1 , , N
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Loptique gomtrique suffit pour comprendre en dtail la focalisation et la dflexion des lectrons. En pratique, les faisceaux dlectrons sont souvent employs pour former une image (microscopes
lectroniques) ou pour crire avec un spot aussi petit que possible.
Dans de tels cas, les effets dus la longueur donde des lectrons,
introduite par Louis de Broglie, ne sont plus ngligeables. Ici, nous
prsentons quelques aspects importants de loptique ondulatoire,
branche de loptique lectronique qui tudie ces effets.
Le point de dpart est lquation de Schrdinger pour un lectron
dans un champ lectromagntique statique. Celle-ci est obtenue par
lintroduction des oprateurs :
p i, grad = i,,
E = i, /t
1034
o , = 1,055
J s (constante de Planck rduite),
dans lexpression de lhamiltonienne :
1
H = ------------- [ p + eA ( r ) ] 2 e ( r ) = E = Cte
2m 0
ce qui donne :
( r, t )
1
------------- [ i, + eA ( r ) ] 2 ( r, t ) e ( r ) ( r, t ) = i, ------------------------t
2m 0
On cherche une solution ayant la forme :
(r, t ) = (r ) exp [ it ]
et avec E = , , on trouve :
1
------------- { ( i, + eA ) 2 e } ( r ) = E ( r )
2m 0
En labsence de champ magntique (A = 0), cette quation de
Schrdinger (indpendante du temps) scrit :
2 + k 2 = 0
avec
,k =
2m 0 ( E + e )
( x0 , y0 , z0 )
i 2 ( xx 0 + yy 0 ) g 2
2
x exp ------- ----------------------------------- + ----- ( x 0 + y 0 ) dx 0 dy 0
h
h
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N = exp [i (h/ h ) (x 2 + y 2 )]
avec
2i
( x 0 , y 0 , z 0 ) exp ----------- ( xx 0 + yy 0 ) dx 0 dy 0
f
et on voit immdiatement que la fonction donde dans z F est proportionnelle la transforme de Fourier bidimensionnelle de la fonction
donde lobjet. Un microscope lectronique peut tre rgl de
manire ce que ce plan soit conjugu du plan image (lcran
fluorescent) ; ceci permet dobserver le diagramme de diffraction de
lchantillon.
~ ~
~
C = sin + cos
avec
sin = Im TL
cos = Re TL
4 4
2 2 q 2 C s q
= --------- ------------------- ---------------------
4
2
C = Ca + Cp
avec
Ca =
Cp =
~
( q ) Re [ T L ( q ) ] exp ( 2iq u ) dq
~
~
o et sont les transformes de Fourier de et et o TL englobe
les proprits de lobjectif. La quantit q, appele frquence spatiale,
a la dimension [L] 1.
Avec (x a , y a ) les coordonnes de position dans le plan du
diaphragme (plan focal de lobjectif), on a :
q = u a / f,
u a = x a + iy a
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5. Exemples dapplications
5.1 Vie courante
Dans cette rubrique sont classs non seulement les postes de tlvision et les crans de visualisation des ordinateurs personnels mais
aussi les tubes destins aux appareils de surveillance et les amplificateurs de brillance employs dans le monde mdical. Pour plus
de dtails sur les tlviseurs et sur les crans de visualisation, voir
articles Restitution des images. Notions de base sur les crans
[E 5 660] dans le trait Tlcoms. Ici, nous dcrivons brivement un
dispositif pour la surveillance et un amplificateur de brillance.
De trs nombreux dispositifs enregistrent des signaux infrarouges,
pour la protection contre cambriolages et incendies, par exemple,
ou pour naviguer dans le brouillard.
Parmi les techniques permettant de crer cette image thermique,
lemploi de la camra pyrolectrique est trs efficace. Au cur de
cette camra se trouve un tube de type Pyricon (Thomson Tubes lectroniques), qui ressemble un tube vidicon traditionnel (figure 23).
On voit que le faisceau mis par la cathode est focalis laide dune
lentille lectrostatique quatre lectrodes (g1 , ..., g 4) et dvi par
des bobines externes afin de lire la cible pyrolectrique.
Dans le domaine mdical, de trs nombreux types dimages ont
besoin de conversion et damplification. Dans la plupart des cas, le
signal primaire provient de rayons X, qui tombent sur un scintillateur
dentre ; la lumire ainsi produite est ensuite convertie en photolectrons, ceux-ci sont alors acclrs par un systme doptique lectronique vers lcran phosphorescent de sortie.
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La complexit est telle quil est devenu courant de grer les circuits de contrle laide dun microprocesseur de faon que toutes
les excitations changent correctement lorsquon modifie le grandissement ou le mode de fonctionnement.
Au moins un constructeur (Hitachi) propose un biprisme pour
pratiquer lholographie en option. La figure 28 montre la suite de
lentilles que lon trouve dans un microscope moderne (la srie CM
de Philips).
Le microscope balayage en transmission (STEM), qui peut tre
considr comme un microscope transmission fonctionnant en
sens inverse, le canon prenant la place de lcran et inversement,
est moins rpandu mais permet dobtenir des informations que le
microscope transmission ne peut donner. Son principe est prsent
sur la figure 29, o lon voit quune petite sonde (quelques diximes
de nanomtre en diamtre) explore lchantillon et, pour chaque
point, un diagramme de diffraction apparat dans le plan de dtection. Dans lappareil de base, ce plan est divis en deux zones, une
zone annulaire et un disque central ; ce dernier est en fait toujours
remplac par un systme dispersif. Les lectrons ayant subi des
collisions lastiques dans lchantillon sont plus dvis en moyenne
que ceux qui ont subi des chocs inlastiques. Le dtecteur annulaire
reoit surtout des lectrons lastiques et le disque central les lectrons non diffuss et les lectrons diffuss avec perte dnergie. Les
images correspondant ces diffrents groupes sont ensuite visualises laide des moniteurs du microscope.
Trs rcemment, des tentatives ont t faites pour enregistrer le
diagramme de diffraction de chaque pixel et pour ne former des
sommes (pondres ventuellement) que dans une tape ultrieure.
Cela permettrait en principe dutiliser toutes les informations
fournies par le STEM mais il faudra travailler avec des signaux trs
faibles.
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P
O
U
R
Optique lectronique
par
Peter HAWKES
Directeur de Recherche au Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
Bibliographie
Rfrences
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6 - 1993
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Ouvrages
LANNES (A.) et PREZ (J.P.). Optique de Fourier en
microscopie lectronique. 199 p., Masson, Paris
(1983).
REIMER (L.). Transmission Electron Microscopy.
547 p., Springer Verlag, Allemagne (1989).
REIMER (L.). Scanning Electron Microscopy. 457 p.,
Springer Verlag, Allemagne (1985).
HAWKES (P.W.). Electron Optics and Electron
Microscopy. 244 p., Taylor and Francis, Londres
(1972).
DUPOUY (G.). lments dOptique lectronique.
218 p., Armand Colin, Paris (1961).
Revues
Microscopy Microanalysis Microstructures (F)
Optik (D)
Ultramicroscopy (Pays-Bas)
Microelectronic Engineering (Pays-Bas)
Nuclear Instruments and Methods in Physical
Research (Pays-Bas)
Journal of Microscopy (GB)
Journal of Electron Microscopy (J)
Advances in Optical and Electron Microscopy
(G.B.)
Advances in Electronics and Electron Physics
(USA)
Doc. E 1 300 1
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