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Objetivo
Entender el funcionamiento del microscopio de barrido y las diversas
aplicaciones que nos ofrece para el anlisis de muestras.
Antecedentes
En 1924 de Broglie postulo el famoso principio conocido como dualidad onda
partcula para la materia, segn el cual, as como a las ondas electromagnticas
se les puede asociar una partcula llamada fotn y por medio de l se explican
los fenmenos corpusculares de la luz, a toda partcula con cantidad de
movimiento p se le puede asociar una con longitud de onda tal que =
h
p
Para
efectos
de
comparacin,
longitud
la
de
onda
para Rayos X blandos a 0.1 amstrongs para Rayos-X duros. O sea 10 3 veces
mayor que para electrones.
Microscopia de luz y microscopia de electrones
El orden de magnitud de longitud de onda de los electrones permite concebir la
idea de que con la ayuda de lentes electromagnticas, que enfoquen el haz de
electrones se puede obtener un microscopio de alto poder resolucin. Esta idea
se fue haciendo realidad, primero en los 20 aos de este siglo cuando se
construyeron lentes para electrones (h.Bosh) y en la dcada de los 30 cuando
se obtuvieron las primeras imgenes de un microscopio de electrones como
fuente de radiacin. Los electrones emitidos por un filamento son acelerados
por un nodo y enfocados sobre el espcimen con ayuda de lentes magnticas
condensadoras y aberturas. (Fig 1)
microscopio electrnico.
La figura (2) muestra esquemticamente la aberracin esfrica, la aberracin
cromtica y el astigmatismo, este ltimo corregible con ayuda de astigmatores
para la lente objetivo.
El poder de resolucin en microscopia electrnica tiene que ver con el tipo
particular de espcimen y con el instrumento en s, esto ltimo funcin de las
aberraciones de las lentes.
De la aberracin esfrica en la figura (2a), se sigue que entre ms pequea sea
la abertura es la resolucin, pero para aberturas de lentes muy pequeas
aparecen efectos de difraccin, segn se muestra en la figura 3. La imagen de
una fuente puntual al atravesar una abertura circular es un disco central
brillante rodeado por anillos oscuros concntricos. Si tenemos, dos fuentes
puntuales que atraviesan la abertura caracterizada por , las distribucin de la
intensidad en el plano imagen se muestra en la figura (3a). La distancia r d ms
cerca que pueden estar las dos fuentes S 1 y S2 tal que podamos distinguir o
resolver los dos puntos S1 y S2 , es tal que en la imagen el primer mnimo de uno
de los dos, al superponerse con el patrn de intensidad del otro, coincide con el
mximo del este; en esa situacin el mnimo central tiene una intensidad de
0.81 del mximo.
Esta condicin es conocida como el criterio de Rayleigh y nos dice que el lmite
de resolucin punto a punto es tal que :
rd =0.161
(Ec.2)
(Ec. 4)
Figura
3.
Ejemplo de una muestra tomada (TEM).
importante
para la caracterizacin
Principios de la Tcnica
El microscopio electrnico de transmisin utiliza un fino haz de
acelerados a gran velocidad como fuente de iluminacin. Dichos
atraviesan la muestra, producindose la dispersin de los mismos en
trayectorias caractersticas de la ultraestructura del material
electrones
electrones
diferentes
observado.
Colocando una barrera fsica de pequea apertura angular por debajo del plano
de la muestra, los electrones dispersados segn ciertos ngulos, sern
eliminados del haz, siendo la imagen formada menos intensa en aquellas zonas
correspondientes a una mayor masa de la misma. La imagen de alta resolucin
formada es aumentada y proyectada sobre una pantalla fluorescente para su
visualizacin en tiempo real, pudiendo registrarse digitalmente o en negativos
para su estudio posterior.
Procedimiento experimental
En esta prctica se obtuvieron algunas imgenes mostrando diversos enfoques,
las cuales son tiles para darnos una idea ms clara acerca de las funciones que
tiene el TEM, de manera anloga como en el SEM se dej que el microscopio
hiciera vaco, pero ya que es un equipo ms especializado, para lograr el
enfoque adecuado se trataron las posibles aberraciones que se pudieran
presentar, mirando el circulo de confusin (que nos permite observar las
posibles aberraciones).
Anlisis Experimental
A continuacin se muestran las imgenes obtenidas en el IMP por el TEM, en
diversos enfoques y por ltimo se realiz difraccin de rayos X a la muestra.
Conclusiones
Figura 8.difraccin, si
ambas
imgenes
la del lado izquierdo
El enfoque
enPatrones
las imgenes
esobservamos
uno de detenidamente
los aspectos
ms
importantes
para se
tener
muestra menos brillante que la de la derecha y la ltima imagen (abajo) es ms brillante que las otras
claridad en
imgenes,
existensediversos
tipos
de enfoque,
elque
que
nos
dos ylas
si observamos
detenidamente
muestran puntos
del patrn
de difraccin
no estn
presentes
en las
otrasfoco,
dos. ya que las otras dos (Sobre
muestra una imagen adecuada fue
la de
bajo
Bibliografa
http://bibliotecadigital.univalle.edu.co/bitstream/10893/4437/1/Usos%20y
%20Aplicaciones%20de%20la%20Microscop%C3%ADa%20Electronica.pdf
https://www.uam.es/ss/Satellite/es/1242668321277/1242666606887/UAM_Labo
ratorio_FA/laboratorio/Laboratorio_de_Microscopia_Electronica_de_Transmision.
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