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En 1982, un artculo escrito por Kurt Petersen fue publicado en The Institute
of Electrical and Electronic Engineers (IEEE). La publicacin se titulaba "El
silicio como material mecnico". En el documento se proporcionaba
informacin sobre las propiedades del silicio y datos para manipularlo y fue
fundamental para atraer a la comunidad cientfica en la exploracin de
estas reas. Es uno de los artculos ms referenciados en el campo de los
MEMS.
En 1986 los cientficos de IBM desarrollaron un microdispositivo llamado
microscopio de fuerza atmica (AFM, de sus siglas en ingls Atomic Force
Microscope). El AFM es un dispositivo mecano-ptico capaz de detectar
fuerzas del orden de piconewtons (pN). Al rastrear una muestra, es capaz de
registrar continuamente su topografa mediante una sonda o punta afilada
de forma piramidal o cnica. La sonda va acoplada a un listn o palanca
microscpica muy flexible de slo unos 200 m. El microscopio de fuerza
atmica ha sido esencial en el desarrollo de la nanotecnologa, para la
caracterizacin y visualizacin de muestras a dimensiones nanomtricas.
Hubo muchos desarrollos y nuevas aplicaciones en la dcada de 1980. Cabe
destacar en 1988 el primer motor rotativo electrosttico de transmisin
lateral que se realiz en la Universidad de Berkeley y el desarrollo en 1989
de las estructuras en peine que se mueven lateralmente a la superficie.
Aplicaciones:
Aplicaciones comunes incluyen: