Tcnicas experimentales II

Difraccin de rayos X

Ing. Horacio Pia Spezia

Captulo III
Dado que las longitudes de onda de los rayos X son del mismo orden que las
distancias interatmicas, cuando dichos rayos interactan con slidos cristalinos se
produce un fenmeno de difraccin que nos permite estudiar su estructura.

DIFRACCIN
La difraccin es un fenmeno caracterstico de las ondas que se basa en la
desviacin de estas al encontrar un obstculo o al atravesar una rendija. La
difraccin ocurre en todo tipo de ondas, desde ondas sonoras, ondas en la
superficie de un fluido y ondas electromagnticas como la luz visible y las ondas de
radio. Tambin sucede cuando un grupo de ondas de tamao finito se propaga; por
ejemplo, por causa de la difraccin, el haz colimado de ondas de luz de
un lser debe finalmente divergir en un rayo ms amplio a una cierta distancia del
emisor.
El fenmeno de difraccin de rayos X en el anlisis de materiales se da cuando esos
obstculos son tomos y se produce solo en casos especficos que lo marcaremos
mas adelante.
La interaccin de los rayos X con la materia esencialmente ocurre mediante dos
procesos:
a) Algunos fotones del haz incidente son desviados sin prdida de energa,
constituyen la radiacin dispersada exactamente con la misma que la radiacin
incidente(es la que origina el fenmeno de la difraccin).
b) Los fotones pueden sufrir una serie de choques inelsticos al incidir sobre un
blanco y su energa incrementa la T de la muestra o da lugar al fenmeno de
fluorescencia.

Bajo qu condiciones el haz de rayos X ser difractado? Un rayo difractado puede

definirse como un rayo compuesto de un gran nmero de rayos dispersados que se
refuerzan mutuamente. La difraccin es, por tanto, esencialmente un fenmeno de
dispersin. Los tomos dispersan la radiacin incidente en todas direcciones, y en
algunas direcciones los rayos dispersados estarn completamente en fase y por
tanto se refuerzan mutuamente para
formar rayos difractados. Los rayos
dispersados estarn completamente en fase si esa diferencia de fase es igual a un
nmero entero n de longitudes de onda.
LEY DE BRAGG

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Difraccin de rayos X

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En 1913 Bragg observ que los slidos cristalinos difractaban los rayos X
produciendo unos diagramas caracterizados por picos muy intensos en direcciones
determinadas. Para interpretar este fenmeno, Bragg supuso que el cristal estaba
formado por planos paralelos de tomos espaciados una distancia d, en los que se
produca una reflexin especular de los rayos X. La diferencia de
camino ptico entre dos rayos reflejados por planos contiguos ser 2 d sen.
Cuando dicha diferencia valga un nmero entero de veces la longitud de onda, la
interferencia ser constructiva y aparecer un pico. La condicin es, pues:

n = 2dsin
Esta relacin se conoce como Ley de Bragg y establece la condicin esencial que
debe cumplirse para que ocurra la difraccin; n se denomina orden de difraccin y
debe ser un n entero consistente con sin menor o igual que 1.
Aunque fsicamente no es un proceso de reflexin los trminos planos de reflexin y
rayo reflejado se usan con frecuencia para referirse a los planos de difraccin o
rayos difractados respectivamente.
En resumen, la difraccin es esencialmente un fenmeno de dispersin en el que
cooperan un gran n de tomos. Puesto que los tomos estn dispuestos
peridicamente en una red los rayos dispersados por ellos tienen unas relaciones de
fase definidas entre ellos; estas relaciones de fase son tales que en la mayora de
las direcciones se produce una interferencia destructiva pero en unas pocas
direcciones se produce una interferencia constructiva y se forman rayos difractados.
La dispersin de rayos X por un tomo es la resultante de la dispersin por cada
electrn. El factor de dispersin atmico, f, de un tomo es por tanto proporcional al
n de e- que posee ese tomo. La diferencia de fase en la onda generada por 2 e origina una interferencia parcialmente destructiva; el efecto neto de interferencia
entre los rayos dispersados por todos los e - en el tomo origina un descenso gradual
en la intensidad dispersada al aumentar el ngulo 2. La amplitud dispersada por
una celda unidad se obtiene sumando la amplitud dispersada por todos los tomos
en la celda unidad, de nuevo la suma debe tener en cuenta la diferencia de fase
entre todas las ondas dispersadas.

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ESPECTROSCOPIA DE RAYOS X
La espectroscopia de rayos X es un nombre genrico que abarca todas aquellas
tcnicas espectroscpicas utilizadas para determinar la estructura electrnica de los
materiales mediante excitacin por rayos X.
Para que se d el proceso de fluorescencia de rayos X, primero tiene que ocurrir la
absorcin fotoelctrica por el elemento. La absorcin fotoelctrica por la muestra
sucede cuando un fotn altamente energtico proveniente de una radiacin de
rayos X interacta con la materia. Cuando los tomos de la muestra a analizar
absorben esta alta energa, un electrn de los ms cercanos al ncleo de las capas
internas K o L es expulsado del tomo. En este proceso de absorcin, parte de la
energa del fotn incidente de rayos X es utilizada para romper la energa de enlace
del electrn interno del elemento y la energa restante acelera el electrn
expulsado. Despus de que el electrn es expulsado, el tomo queda en un estado
altamente excitado y por lo tanto muy inestable. Para que se reestablezca la
estabilidad, los electrones de las capas adyacentes llenaran el espacio vacante, al
pasar un electrn de otra capa y con una energa diferente al del electrn saliente
hay una diferencia de energa, la cual se emite en forma de radiacin de rayos X.
Precisamente, este proceso de emitir rayos X es conocido como fluorescencia de
rayos X. El fotn de rayos X emitido tendr una energa especfica igual a la
diferencia entre las dos energas de enlace de un electrn de las capas interna y
adyacente, y esta energa es nica para cada elemento.
El fenmeno de fluorescencia de rayos X se puede describir en dos etapas:
Excitacin y emisin.

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a) Excitacin: Si se considera un sistema en su estado fundamental, es decir de

menor energa, al aplicarse una energa de una magnitud suficiente, sta puede ser
absorbida por el sistema, pasando ste a un estado de mayor energa o estado
excitado debido a la salida de electrones del tomo. A la excitacin producida por
rayos X que provienen del tubo de rayos-X, se le llama radiacin primaria o fotones
de rayos-X primarios.
b) Emisin: Los estados excitados son inestables, y el tomo tiende a volver a su
estado fundamental, para lo cual se producen saltos de electrones desde los niveles
ms externos hacia los niveles ms internos, para ocupar los huecos producidos.
Este proceso produce desprendimiento de energa en forma de radiacin de rayos-X
secundaria llamada fluorescencia de rayos X.
DIRECCION DE DRIFACCION
Los rayos X solo pueden ser difractados en los planos que cumplen con la geometra
de la ley de Bragg, para esto se requieren haces de rayos X en fase y paralelos que
cumplan esta condicin, esto se logra con la direccin correcta de dicho haz sobre
la muestra y con un delicado manejo de los ngulos de incidencia y el de la
muestra.
METODOS DE DIFRACCION
Todo experimento de difraccin de r-x requiere una fuente de r-x, la muestra que se
investiga y un detector para recoger los r-x difractados. Dentro de este marco de
trabajo general las variables que caracterizan las diferentes tcnicas de r-x son:
a) radiacin, monocromtica o de variable
b) muestra: monocristal, polvo o pieza slida
c) detector: contador o pelcula fotogrfica

Las tcnicas de difraccin ms importantes son:

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Una muestra policristalina contiene una gran cantidad de pequeos cristales (de
tamao entre 10-7 y 10-4 m) que adoptan aleatoriamente todas las orientaciones
posibles. Algunos planos hkl en algunos de los cristales estarn orientados, por
casualidad, al ngulo de Bragg para la reflexin. Todos los planos de un espaciado
dhkl dado difractan al mismo ngulo 2 respecto al haz incidente de manera que
todos los rayos difractados se sitan en un cono de semingulo 2 respecto al haz
incidente. Para cada conjunto de planos se producir la difraccin a un ngulo de
Bragg diferente dando lugar a una serie de conos de difraccin. El difractmetro de
polvo usa un detector de rayos X, tpicamente un contador Geiger o un detector de
centelleo. En la geometra Bragg-Brentano la fuente de rayos X y el detector se
colocan a igual distancia y ngulo de la superficie de la muestra. El ngulo 2 se
vara de forma continua.

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