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Universidade Estadual Paulista Jlio de Mesquita Filho

Faculdade de Engenharia de Ilha Solteira
Departamento de Engenharia Mecnica
rea de Materiais e Processos

O ENSAIO POR ULTRA-SOM

1.Caractersticas, comportamento e propagao de ondas ultra-snicas.
Chamamos de infra-som, a faixa de freqncia de at 20 Hz e de som audvel a faixa
de 20 Hz a 20000 Hz. Acima desta freqncia define-se o ultra-som.
Como sabemos toda substncia constituda por partculas. Imaginemos que esta
substncia seja composta de pequenas partculas de matria, as quais esto
interligadas por foras elsticas, podendo se mover em relao s suas posies de
equilbrio (fig. 7.1).

FIG. 7-1:

ENTERLIGAO DAS FORAS ELSTICAS NA MATRIA

Quando uma partcula impulsionada, ela comea a vibrar e passa sua energia para
as partculas adjacentes. Deste modo, a energia se propaga de uma partcula para as
outras partculas da substncia. O nmero de vibraes na unidade de tempo
(freqncia) nos informa se e gerado infra-som, som audvel ou ultra-som.
importante salientar que as partculas do meio em que se propaga a energia no
caminham junto com a onda e sim executam um movimento de vibrao ao longo de
um eixo orientado.
Dependendo do modo de vibrao distinguimos trs tipos bsicos de ondas ultrasnicas: ondas longitudinais, ondas transversais e ondas superficiais.
a)Onda longitudinal (ou de compresso):
Aquela na qual as partculas do meio vibram na mesma direo da propagao da
onda (fig. 7.2).

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FIG. 7-2: ONDA LONGITUDINAL

Em distncias iguais existem compresses de planos de partculas e entre eles,
encontram-se zonas diludas. As distncias entre duas zonas de compresso
determinam o comprimento de onda () de uma onda longitudinal.
As zonas de compresso e de diluio movem-se atravs do corpo de prova com uma
certa velocidade VL que a velocidade da onda longitudinal. Esta velocidade do som
uma constante do material, isto , difere de acordo com o material no qual a onda
propagada. Por tanto, a velocidade do som pode ser considerada constante em um
material totalmente homogneo. Para o ao, alumnio, gua e ar, as velocidades das
ondas longitudinais, so:
A freqncia (f) indica o numero de vibraes por segundo efetuado por cada partcula.
A correlao matemtica dos trs elementos definidos : V L f .
Como a velocidade do som e uma constante do material, a escolha de uma certa
freqncia determinar o comprimento da onda ultra-snica.
A velocidade de propagao do som de uma onda longitudinal, pode ser calculada pela
seguinte relao:
VL

Onde:

E . (1 )
. (1 ) . (1 2)

E = mdulo de elasticidade de Young (N/m 2)

= constante de Poisson
=densidade do material (kg/m3)

b) Onda transversal (ou de cisalhamento):

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aquela na qual as partculas do meio vibram na direo perpendicular ao de

propagao (fig. 7.3). Neste caso, observamos que os planos de partculas mantm-se
na mesma distncia um do outro, movendo-se apenas verticalmente. Desde que,
existe um movimento de cisalhamento entre os planos, as ondas transversais so
tambm denominadas ondas de cisalhamento.

FIG. 7-3: ONDA TRANSVERSAL

Nos lquidos e gases, estas ondas no podem-se propagar devido a incapacidade dos
rudos de suportar foras de corte ou cisalhamento. A velocidade transversal do som
tambm uma constante do material:
Da mesma forma anterior, a velocidade de propagao de uma onda transversal pode
ser calculada em funo das caractersticas fsicas de um material:
VT

2 . . (1 )

Onde: G = mdulo de cisalhamento (N/m2)

c) Ondas superficiais:
So assim chamadas, pela caracterstica de se propagar na superfcie dos materiais.
As ondas superficiais so do tipo secundrio (o modo de vibrao uma combinao
do modo de vibrao longitudinal e transversal), e se dividem em 3 classes:
-Ondas de Raleigh
-Ondas de Love
-Ondas de Lamb
Delas, as mais importantes so as Ondas de Raleigh, as quais apresentam um
movimento elptico e se propagam exclusivamente na superfcie de um slido, cuja

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espessura seja maior que o comprimento de onda (fig. 7.4).

FIG. 7-4: ONDA SUPERFICIAL DE RALEIGH

A velocidade de propagao das ondas de Raleigh aproximadamente 10% inferior a
velocidade de uma onda transversal, considerando o mesmo material de ensaio, e
pode ser calculada pela seguinte relao emprica:
VS

(0,87 1,12 )
. VT
1

As Ondas de Love propagam-se na superfcie do material, sem componente normal.

Apresentam um movimento paralelo superfcie, e transversal em relao direo de
propagao do feixe ( fig. 7.5). Sua aplicao restringe-se inspeo de camadas
finas de materiais que recobrem outros materiais ( por exemplo, chapas galvanizadas
ou com eletrodeposio).

FIG. 7-5: ONDA SUPERFICIAL DE LOVE

Quando a espessura do material comparvel (igual ou aproximadamente igual) ao
comprimento de onda, temos as Ondas de Lamb, sendo que elas se classificam em
ondas simtricas e ondas assimtricas (fig. 7.6).

CHAPAS FINAS

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FIG. 7-6: ONDA SUPERFICIAL DE LAMB

O ensaio ultra-snico de materiais com ondas superficiais utilizado com severas
restries, pois somente so detectados defeitos superficiais e nestes casos, existem
mtodos de ensaios no destrutivos mais simples (como por exemplo lquidos
penetrantes, partculas magnticas e correntes parasitas), que em geral so de custo e
complexidade inferior ao ensaio ultra- snico.
d) Incidncia Normal:
Uma caracterstica fundamental da propagao ondulatria que, quando o som, no
caso, atravessa vrios meios de densidades diferentes, a freqncia de emisso no
se modifica. Por exemplo: se voc est no quarto em sua casa e algum na sala est
ouvindo musica num aparelho de som, as notas musicais que voc ouve so as
mesmas que so produzidas pelo aparelho, ou seja, que o som ao propagar-se pelo ar
e as paredes da casa, no modifica a freqncia. Para cada mudana de meio
(densidade), dizemos que corresponde a uma interface. Portanto, um meio qualquer
com vrias interfaces ser sempre um meio descontinuo.
Definimos a impedncia acstica (Z) de um material como sendo o produto entre a
densidade do meio pela velocidade de propagao da onda, ou seja:
Z . V

A tabela 7.1 apresenta os valres de densidade, velocidades longitudinal e transversal

e impedncia acstica de alguns meios.

Tabela 2. Densidade, Velocidades de Propagao e Impedncia Acstica de alguns Materiais.

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Densidade
(kg/m3)

Veloc. Longit.
VL
(m/s)

Veloc. Transv.
VT
(m/s)

Impedncia Acstica
(Z)
(kg/m2 . s)

7.700

5.900

3.230

45 .106

1.000

1.480

xxxxxx

1,5 .106

2.700

6.300

3.130

17 .106

Ar

1,2

330

xxxxxx

0,0004 .106

Borrachas

900

1.480

xxxxxx

1,3 .106

Cdmio

8.600

2.780

1.500

24 .106

Chumbo

11.400

2.160

700

25 .106

Cobre

8.900

4.700

2.260

42 .106

Estanho

7.300

3.320

1.670

24 .106

Ferro Fundido

7.220

5.600

3.200

40 .106

Glicerina

1.260

1.920

xxxxxx

2,4 .106

Lato

8.100

3.830

2.050

31 .106

Magnsio

1.700

5.700

3.170

9,7 .106

Nquel

8.800

5.800

3.080

51 .106

950

1.250

xxxxxx

1,2 .106

Ouro

19.300

3.240

1.200

63 .106

Plexiglass

1.180

2.730

1.430

3,2 .106

Porcelana

2.500

5.660

3.420

14 .106

Prata

10.500

3.600

1.590

38 .106

Quartzo

2.600

5.570

3.520

14 .106

Titnio

4.540

6.240

3.210

28 .106

Zinco

7.100

4.170

2.410

30 .106

Material

Ao
o

gua ( 20 C )
Alumnio

leo (SAE 20/30)

Consideremos agora, uma onda longitudinal se propagando em um meio 1 e incidindo

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perpendicularmente em uma interface caracterizada pelo meio 2 (fig. 7.7).

ONDA TRANSMITIDA FIG. 7.7: INCIDNCIA NORMAL

Para cada interface que o feixe acstico encontre, haver sempre uma porcentagem
que se transmite ao outro meio e uma porcentagem que reflete, sendo que, as
quantidades transmitida B e refletidas dependem das velocidades dos meios e das
suas densidades.
Definimos os coeficientes de transmisso ou permeabilidade (T) e de reflexo (R)
matematicamente atravs das relaes:
R

Ir
Ii

It
Ii

onde Ii, Ir e It so as intensidades (energia por unidade de tempo e por unidade de

rea) das ondas incidentes, refletida e transmitida, respectivamente. Como as
intensidades das ondas snicas so difceis de se calcular, precisamos relacionar os
coeficientes R e T em funo das caractersticas acsticas dos meios 1 e 2. As
relaes matemticas abaixo, derivadas das anteriores, possibilitam o clculo destes
coeficientes:

( Z1 Z 2 ) 2
( Z1 Z 2 )

4 . Z1 . Z 2
( Z1 Z 2 ) 2

onde Z1 e Z2 so as impedncias acsticas dos meios que formam a interface.

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Exemplo 1: O material 1 gua e o material 2 ao. Calcular R e T.

Z1 = 1,5 . 106 (kg/m2.s) e Z2 = 45 . 106 (kg/m2.s)

Da tabela 7.1:
R

(1,5 45) 2
(1,5 45) 2
4 . 1,5 . 45
(1,5 45) 2

0,875 ou 87,5%

0,125 ou 12,5%

Note que R + T = 1
Portanto,neste caso 87,5% da intensidade da onda incidente perdida na reflexo e s
12,5% transmitida ao meio 2 (ao).
- Exemplo 2:

O material 1 glicerina e o material 2 ao. Calcular R e T.

Da tabela 7.1:

Z1 = 2,4 . 106 (kg/m2 . s)

Z2 = 45 . 106 (kg/m2 . s)

Calculando, da mesma forma anterior:

R = 80,8% e T = 19,2%
Portanto, se usarmos ao invs de gua, glicerina como acoplante numa inspeo ultrasnica, os resultados sero melhores, pois, a impedncia acstica da mesma e mais
prximas do ao.
Os exemplos mostram que a poro transmitida do som ser tanto menor quanto maior
for a diferena entre as impedncias acsticas dos materiais 1 e 2. Em outras
palavras, quanto maior a diferena de impedncias acsticas:
-

menor a transmisso ou permeabilidade

maior a reflexo na interface
maior a possibilidade de detectar uma interface no corpo em ensaio.

e) Incidncia oblqua:

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At agora se trabalhou com ondas longitudinais que entram na pea

perpendicularmente superfcie. Infelizmente, uma perfeita deteco de descontinuidade
somente possvel com este mtodo quando ela quase paralela a superfcie da
pea. Freqentemente, entretanto, as descontinuidades so orientadas obliquamente,
de maneira que a nica possibilidade de atingir a sua superfcie perpendicularmente,
isto , de modo mais favorvel possvel, direcionar um feixe snico sob um certo
ngulo com a superfcie da pea. O que acontece quando um feixe snico atinge uma
interface sob um certo ngulo? Considerando uma onda longitudinal, pode-se esperar,
de acordo com as leis da ptica, que primeiramente uma onda longitudinal seja
refletida, e em segundo lugar, se a interface for penetrvel, que ocorra uma refrao
(ou transmisso). Entretanto, isto no de todo correto. Alm das ondas longitudinal
refletida e refratada obtm-se duas ondas transversais, sendo que uma delas
refletida e a outra refratada (fig. 7.8).
Na figura 7.8, a designao das ondas a seguinte:
Li = onda longitudinal incidente propagando-se no meio 1.
Tr = onda transversal refletida propagando-se no meio 1.
Lr = onda longitudinal refletida propagando-se no meio 1.
Tt = onda transversal refratada (ou transmitida) propagando-se no meio 2.
Lt = onda longitudinal refratada (ou transmitida) propagada no meio 2

FIG: 7-8: INCIDNCIA OBLQUA

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Devido a todos os efeitos prticos no interessa o que acontece com a onda

transversal refletida, representaremos novamente a figura anterior, eliminando esta
onda (f ig.7.9).

FIG. 7-9: INCIDNCIA OBLQUA

Os ngulos de refrao podem ser calculados com o auxlio da lei de Snell:
VLt
VTt
VLi

sen Li
sen Tt sen Lt

Devido a que VLi igual a VLr(as duas so ondas longitudinais e propagam-se no

mesmo meio), os ngulos Li e Lr tambm so iguais.
Vamos nos referir agora as pores refratadas, desde que se deseja irradiar um feixe
oblquo na pea para procurar uma descontinuidade. Seria perturbador o fato de
existirem dois tipos de ondas simultaneamente na pea? Certamente seria, em
primeiro lugar devido existir dois ngulos de propagao e em segundo lugar devido s
diferentes velocidades snicas das ondas Lt e Tt. Um eco na tela de um aparelho de
ultrasom no daria uma informao clara da posio e da distancia da descontinuidade,
j que no se saberia qual o feixe snico que atingiu a descontinuidade. Uma
informao bem definida pode somente ser obtida com um nico feixe snico. Por isso
deve-se remover um dos feixes snicos refratados na pea.

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Vamos supor agora, que as respectivas velocidades de propagao no meio 2 sejam

maiores que no meio 1. De acordo com a lei de Snell, se aumentarmos o ngulo de
incidncia, os ngulos de refrao tambm aumentam (fig. 7.10a). Finalmente, se
chega a um ngulo de incidncia limite (1 ) para o qual a onda longitudinal refratada
(Lt) se propaga na superfcie(fig. 7.10b). Se aumentarmos ainda mais o ngulo de
incidencia se obtm um segundo ngulo limite (2 ), quando a onda transversal
refratada tambm tem um ngulo de refrao de 90o (fig. 7.10c). Portanto mantendo a
onda incidente entre os ngulos limites 1 e 2, uma determinao clara da
descontinuidade possvel com a onda transversal refratada.

FIG. 7-10: EFEITO DO AUMENTO DE NGULO DE INCIDNCIA

Quando a pea em ensaio de ao, para que a onda transversal refratada (Tt) se
afaste da perpendicular, a velocidade snica do material do qual o feixe snico provm
deve ser menor do que a velocidade do som no ao.
Esta condico satisfeita quando o primeiro material plexiglass (perspex ou lucite).
-

Exemplo 1: Determinar os ngulos limites 1 e 2 para uma interface

plexiglass/ao, e o ngulo de refrao correspondente a 1.

Da tabela 7.1: VLi = 2730 m/s plexiglass

VLt = 5900 m/s ao
VTt = 3230 m/s ao
de acordo com a lei de Snell:

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VLt
VTt
VLi

sen Li
sen Tt sen Lt

a condio para 1 que Lt = 90o. Substituindo valores na relao anterior, temos

que:
2730
3230
5900

sen 1
sen Tt
sen 90 o

como sen90o = 1 , podemos determinar os ngulos 1 e Lt :

1 = 27,6o
Tt = 33,2o
a condio para 2 que Tt = 90o, ento:
2730
3230

sen 2
sen 90 o

2 = 57,7o
Desde que o ngulo limite de 27,6 o estabelecido para um feixe snico infinitamente
estreito, escolhe-se um ngulo limite um pouco maior a fim de certificar-se que no
haver nenhuma onda longitudinal na pea.
Ento o menor ngulo de refrao da onda transversal (Tt) escolhido de 35o.
Como veremos mais a diante os cabeotes ultra-snicos angulares so caracterizados
pelo ngulo de refrao em ao e sua fabricao padronizada normalmente nos
ngulos de 35o, 45o, 60o, 70o, 80o e 90o. Mas, o que acontece se desejamos inspecionar
um material diferente?
-Exemplo 2: Deseja-se inspecionar uma pea de alumnio com um cabeote de 45 o
(ngulo de refrao em ao). Qual ser ngulo de refrao em alumnio?
Primeiramente, devemos determinar qual o ngulo de incidncia correspondente a
um ngulo de refrao de 45 o em ao. Devido a que os cabeotes angulares, tem uma
cunha de plexiglass na superfcie de contato, temos uma interface plexiglass/ao:

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VTt
VLi

sen Li
sen Tt

sen Li

VLi
2730
sen Tt
sen 45o
VTt
3230

Li 36,7 o

TABELA 7.2. NGULOS DE REFRAO PARA DIFERENTES MATERIAIS

Material
Ao
Alumnio

Cobre

Magnsio

Porcelana

Lato

ngulo do Feixe Snico

Tt

35o

45o

60o

70o

80o

Tt

33,8o

43,3o

57,1o

65,6o

72,6o

Lt

_____

_____

_____

_____

_____

Tt

23,7o

29,7o

37,3o

41,1o

43,6o

Lt

56,6o

_____

_____

_____

_____

Tt

34,3o

43,9o

58,2o

67,3o

75,1o

Lt

_____

_____

_____

_____

_____

Tt

37,3o

48,5o

66,5o

84,3o

_____

Lt

_____

_____

_____

_____

_____

Tt

21,3o

26,7o

33,3o

36,6o

38,7o

42,9o

57,0o

_____

_____

_____

Lt

Agora devemos calcular qual o ngulo de refrao em alumnio correspondente a um

ngulo de incidncia de 36,7o no plexiglass do cabeote. Temos portanto, uma
interface plexiglass/alumnio:
VTt
VLi

sen Li
sen Tt
Tt 43,3 o

sen Tt

VTt
3130
sen Li
sen 36,7 o
VLi
2730

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A tabela 7-2 apresenta os ngulos de refrao das ondas longitudinal e transversal

para alguns materiais, correspondentes a diferentes ngulos de refrao para ao.
Da tabela 7-2, podemos deduzir que no devemos ensaiar um material de cobre com
um cabeote de 35o nem o lato com cabeotes de 35o ou 45o.
O ensaio pelo Ultra Som um mtodo de ensaio no destrutivo no qual ondas
sonoras de alta freqncia (acima de 20.000 Hz) so introduzidas no material a ser
inspecionado, a fim de detectar falhas superficiais e falhas internas de um determinado
material.
A gerao da onda ultra snica realizada pelo conhecido efeito piezoeltrico.
Piezoeletricidade a propriedade que possuem certos cristais de se expandir ou
contrair quando aplicamos aos mesmos tenses ou voltagens alternadas. Os cristais
que apresentam estas propriedades so elementos em que as propriedades fsicoqumicas no so as mesmas em qualquer eixo ou direo (materiais anisotrpicos).
Quando uma pequena placa de cristal piezoeltrico cortado paralelo a um certo plano
cristalogrfico, e dois eletrodos so colocados em suas extremidades (Figura 1.a) e se
for aplicada uma tenso em corrente contnua(c.c.) a estes eletrodos se torna mais fina
(Fig.1.b) ou mais grossa (Fig.1.c).
Entretanto se uma tenso em corrente alternada(c.a.) aplicada (Fig. 1.d) ocorrem
pequenas oscilaes de pequenas amplitudes que so transmitidas ao meio de
contato. Quando a freqncia da voltagem c.a., aplicada coincide com a freqncia
natural de vibrao do cristal, as amplitudes de oscilao aumentam
consideravelmente. interessante destacar que a espessura do cristal piezoeltrico,
e no a freqncia da corrente alternada aplicada, que determina a freqncia de
oscilao. Portanto lgico supor que quanto menor for a espessura do cristal, maior
ser a freqncia das ondas ultra snicas geradas.

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(a)

(b)

(c)

(d)

Figura 1 Efeito Piezoeltrico

Tabela 1. Caractersticas dos principais cristais utilizados em ensaios ultra snicos
Cristal

V(m/s)

(kg/m3)
2.600
5.400
6.000
8.900

Quartzo
5.700
Titanato de Brio
5.000
Metaniobato de Chumbo
2.750
Titanato
Zirconato
de
2.300
Chumbo
onde:
a densidade do cristal e Z a impedncia acstica .

Z (kg/m2.s)
14,8 . 106
27,5 . 106
16,5 . 106
20,5 . 106

Se oscilaes de alta freqncia so introduzidas no corpo de ensaio, gerada

uma onda longitudinal contnua. Para transmitir as oscilaes do cristal pea
ensaiada possvel se no existir ar entre o cristal e a superfcie pea a ser ensaiada,
ou seja se houver um perfeito acoplamento.
O ar removido aplicando-se um lquido (gua, leo, vaselina, glicerina, etc.) entre
ambas as superfcies.
O elemento piezoeltrico alojado conjuntamente com um bloco amortecedor,
uma bobina sintonizadora de freqncia e um conector em uma pequena carcaa
metlica ou plstica. Este conjunto conhecido como cabeote ultra snico (Fig.2 ).

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Figura 2. Cabeote Ultra Snico

Um cristal piezoeltrico exibe propriedades de oscilao quando submetido a
uma diferena de potencial alternada, e quando solicitado mecanicamente ele capaz
de produzir cargas eltricas de polaridades contrrias na sua superfcie . Devido a
estas particularidades, um cristal tanto pode emitir ondas ultra snicas a partir a
excitao eltrica , quanto recebe-las a partir de esforos mecnicos de oscilao,
produzidos pela presso da onda ultra snica no cristal.
Um equipamento de ultra som contm basicamente : o transmissor, o receptor, o
tubo de raios catdicos e o circuito de varredura (Fig.3).

Figura 3. Diagrama esquemtico de um ultra som

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Os controles Bsicos do Equipamento de Ultra-som:

1. Controle do Ganho do amplificador de recepo : o controle da altura do eco
proveniente de uma interface, se faz atravs do ganho do equipamento, graduado
em dB (em geral de 0 - 100 dB). Este o controle de recepo da energia da onda
refletida, que volta ao transdutor (ou cabeote) e provavelmente um dos controles
mais importantes para a seleo de um equipamento ultra snico, j que quanto
maior o ganho , maior a sensibilidade e a segurana na deteco de defeitos
principalmente em peas de grandes espessuras e granulaes grosseiras.
2. Controle de Energia do Transmissor : determina a energia da onda que transmitida
na pea ensaiada ou seja determina a amplitude de oscilao do cristal. Tanto o
controle de energia quanto o controle de ganho, varia a amplitude ou altura do eco
refletido na tela do aparelho(osciloscpio), mas fundamentalmente so diferentes .
3. Ajuste de supresso de rudos: todo equipamento de ultra som afetado por rudos
inerentes ao aparelho e rudos externos de acoplamentos (cabo, cabeote etc.). Os
ecos provenientes de rudos aparecem na tela do osciloscpio em forma de ecos
esprios (ecos sem definio e agrupados ao longo da tela) conhecidos como "grama".
Para suprir estes ecos, que podem prejudicar a interpretao das indicaes num
ensaio, existe em todo
aparelho um controle que atenua os ecos da tela.
4. Ajuste de Escala : em geral os equipamentos apresentam dois controles para ajustar
a escala em mm que representada na tela do aparelho. Um primeiro de ajuste grosso
e outro de ajuste fino, que permitindo assim representar qualquer distncia,
normalmente 5 a 10m e 5a 10 mm na tela do aparelho.
5. Controle do Sistema Monitor : o monitor um sistema que permite inspecionar peas
sem que o operador necessite de ateno visual excessiva na tela do osciloscpio, pois
o aviso da presena de ecos produzidos por defeitos anunciado por um som
caracterstico de um apito ou um sinal luminoso.

Mtodos de Inspeo
a) Mtodo Impulso-Eco : neste caso usa-se um nico cabeote como emissor e
receptor. Denomina-se reflexo pulsada ou impulso - eco.
-Principais vantagens deste mtodo : medir o tempo que o pulso snico necessita para
ir at o refletor e voltar, pode-se portanto obter concluses sobre a distncia do refletor.
O osciloscpio basicamente uma combinao de um voltmetro e um
cronmetro , e registra a altura e a distncia dos refletores. Quando analisamos uma

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Universidade Estadual Paulista Jlio de Mesquita Filho

Faculdade de Engenharia de Ilha Solteira
Departamento de Engenharia Mecnica
rea de Materiais e Processos

amostra atravs do ultra som , sem a presena da descontinuidade aparecer na tela

do osciloscpio dois picos , o primeiro pico representa o pulso de emisso e o segundo
o pulso refletido, o pulso refletido chamado de eco.

0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10
pulsode
emisso

0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10

pulsode

ecodefalha

reflexo
PEA

PEA

descontinuidade

Figura 4 Inspeo pelo Mtodo Impulso - Eco.

b) Mtodo de Transparncia : aquele que utiliza dois cabeotes separados.
Neste caso no existe trem de ondas como no mtodo anterior, mas uma onda
contnua no meio, partindo do emissor e chegando ao receptor. Uma descontinuidade
na pea ensaiada ser determinada por uma diminuio da altura do eco de recepo
ou eco de fundo.
Transmissor

Receptor

Figura 5 Mtodo da Transparncia

c) Mtodo de Ressonncia : no mtodo do impulso - eco, as indicaes so das
ondas transmitidas e recebidas so separadas, enquanto que no mtodo da
ressonncia so sobrepostas.
A ressonncia ocorre em uma das freqncias naturais de vibrao da pea em

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teste, quando a espessura desta pea igual a um mltiplo exato de meios

comprimentos de ondas. Este mtodo caracteriza um processo de medio de
espessuras, ao qual conhecendo-se a velocidade v de propagao da onda acstica no
meio e a freqncia de vibrao, podemos calcular a espessura do material s
baseada no fato de que a espessura procurada ser um mltiplo da metade do
comprimento de onda da vibrao.
s = N l/2 onde : N = no inteiro de harmnicos. Como l = v/f , temos que
s = N v/2f
Os equipamentos standard de ultra som para a deteco de defeitos podem
operar somente pelos mtodos impulso - eco e de transparncia .
O mtodo de ressonncia usado principalmente de espessuras, sendo que
neste caso a freqncia de vibrao do cristal variada at o material entrar em
ressonncia, oscilando com intensidade mxima.
Exemplo : A espessura de um certo tipo de ao com velocidade de propagao
longitudinal de 5850 m/s, apresentou os picos de ressonncia na tela do osciloscpio
em 2,4 ; 3,3 ; 4,2 e 5,1 MHz. Determinar a espessura da pea .
s = N v /2f v = 5850 m/s = 5,85 . 10 mm/s
s == 3,25 mm

f = 0,9 MHz = 0,9 . 10 Hz

N=1

Dos trs mtodos de inspeo ultra snica apresentados, o mtodo do ImpulsoEco amplamente o mais utilizado.

Referencias Bibliogrficas
[1] Paula Leite, P.G. "Ensaios No Destrutivos" Editado pela ABM
[2] Spoerer, A.A. "Curso de Introduo aos Ensaios No Destrutivos"
Editado pela PANAMBRA INDUSTRIAL E TCNICA S.A..