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Filire : Electronique :
Spcialit : Instrumentation Electronique
Formation : Acadmique
Arrt LMD : N 329 du 08/09/10
Responsable de l'quipe de spcialit
Nom & prnom : MESLI Sidi Mohammed
Grade : Matre Assistant Classe A
: 040 67 11 94
Fax : 027 72 17 94
E - mail : mesli75@gmx.com
VHS
14-16 sem
V.H hebdomadaire
TD
TP
Autres
135
60
75
120
60
60
112.5
6.0
3.0
3.0
6.0
3.0
3.0
6.0
2.0
0.5
1.5
1.0
0.5
0.5
1.0
52.5
3.0
0.5
60
367.5
3.0
18.0
0.5
4.0
1.0
0.5
0.5
1.0
0.5
0.5
0.5
0.5
2.5
Coeff
Crdits
2
1
1
2
1
1
2
10
5
5
10
5
5
10
1
1
6
Mode d'valuation
Continu
Examen
1/3
1/3
2/3
2/3
1/3
1/3
2/3
2/3
1/3
2/3
5
30
1/3
2/3
6- Semestre 6 :
Unit dEnseignement
UE fondamentales
UEF1(O)
Systmes
microprocesseurs et
interfaces
Signaux et systmes discrets
UEF2(O)
Capteurs en instrumentation
Optolectronique
UE mthodologie
UEM1(O)
Techniques et Technologies
de Conception
VHS
14-16 sem
V.H hebdomadaire
TD
TP
Autres
120
6.0
1.0
60
3.0
60
120
60
60
3.0
6.0
3.0
3.0
37.5
37.5
Crdits
1.0
10
0.5
0.5
1/3
2/3
0.5
1.0
0.5
0.5
0.5
1.0
0.5
0.5
4
8
4
4
5
10
5
5
1/3
2/3
1/3
1/3
2/3
2/3
1.5
1.0
1.5
1.0
1/3
2/3
1/3
2/3
1/3
2/3
Stage et Projet
UE transversales
UET1(O)
Organisation et gestion des
entreprises
Total Semestre 6
Mode d'valuation
Continu
Examen
Coeff
22.5
1.5
22.5
1.5
300
15.0
25
30
2.0
3.0
Contenu de la matire :
Chapitre 1 : Introduction
Chapitre 2 : Architecture typique d'un ordinateur
Processeur, mmoire et entres/sorties (fonctions et rles, exemples, compatibilit). Bus d'adresse,
de donnes et de contrle (communication processeur/mmoire, processeur/entressorties).
Historique des microordinateurs. Mmoire cache. Mmoire virtuelle. Comparaison des diffrentes
technologies de mmoire (EPROM, Flash, SRAM, DRAM, SDRAM, DDRSDRAM, RAMBUS,
etc.).
Chapitre 3 : Logiciels
Comparaison des langages machines, assembleur et langage volu. Comparaison des
interprteurs et des compilateurs. Rle des systmes d'exploitation (Linux, MSWINDOWS).
Protection des ressources au niveau du processeur et du systme d'exploitation. Logiciels
d'application vs systme d'exploitation.
Chapitre 4 : Programmation
Architecture interne d'un processeur. Historique des processeurs: la famille Intel. Registres
internes. Registre d'tat du processeur. Organisation de la mmoire. Segmentation de la mmoire.
La pile.
Chapitre 5 : Rpertoire d'instructions du 80X86 et interruptions
Mode dvaluation :
Lvaluation du cours sera ralise laide dun examen final crit et des exercices et rapports de
laboratoires corrigs. La note finale sera dtermine par la moyenne gnrale qui sera calcule
avec la pondration suivante : 2/3 pour lexamen final et 1/3 pour la moyenne des exercices et
rapports de laboratoire corrigs.
Rfrences:
[1] Irv Englander, The Architecture of Computer Hardware and Systems Software: An
Information Technology Approach, 3rd Edition", John Wiley & Sons, Inc., 2003, ISBN:
0471073253
[2] William Stallings, Organisation et architecture de l'ordinateur, 6e dition, Pearson
Education France, 2003, ISBN: 274407007.
[3] Bui Minh Duc, Structure interne des ordinateurs, Les ditions Zeus, 2002, ISBN:
2980573728.
[4] David Patterson, John Hennessy, Morgan Kaufmann, Computer Organization and
Design Second Edition: The Hardware/Software Interface, 1997, ISBN: 1558604286.
Contenu de la matire :
Chapitre 1 : Amplificateurs diffrentiels
Paire diffrentielle de base transistor bipolaire
Terminologie et description qualitative
Caractristiques de transfert statique
Circuit quivalant pour les petits signaux
Le gain de mode diffrentiel et commun
Rapport de rejection de mode commun
Impdance dentre de mode diffrentiel et commun
Paire diffrentielle de base TEC
Caractristique de transfert statique
Impdance dentre de mode diffrentiel et commun
Circuit quivalant pour les petits signaux
Amplificateur diffrentiel JFET
Rponse en frquence de lamplificateur diffrentiel
Due au signal d'entre de mode diffrentiel
Due au signal d'entre de mode commun
Chapitre 2 : Filtres actifs
Problme gnral du filtrage
Dfinition des filtres actifs
Dfinition
Comparaison filtres actifs filtres passifs
Les quatre types de filtre du deuxime ordre
Filtre passe-bas (PL2)
Filtre passe-haut (PH2)
Filtre passe-bande (PB2) symtrique
Filtre rjecteur ou coupe bande (CB2) symtrique
Diffrentes formes de rponse
Gabarit
Forme de Butterworth
Forme de Chebyshev
Forme de Cauer
Forme de Bessel
Comparaison
Diffrentes structures de filtres actifs dordre 2
Contre-raction simple
Contre-raction multiple : structure de Rauch
Structure de Sallen et Key
Structure variables dtat
Synthse de filtres dordre suprieur 2
Mthodes de synthse
Mthode globale
Synthse en cascade
Rsolution pratique
Transposition de frquence
Chapitre 3 : Oscillateurs
Principe gnral
Condition doscillation
Les diffrents types des oscillateurs
Les oscillateurs basses frquences
Oscillateur ligne retard
Oscillateur Colpitts
Oscillateur Hartley
Oscillateur Clapp et stabilit des oscillateurs
Oscillateur Clapp frquence variable
Oscillateurs quartz
Notions de pizo-lectricit
Schma lectrique quivalent dun quartz
Chapitre 4 : Multivibrateurs
Gnralits
Le transistor en commutation
Trigger de Schmitt
Les multivibrateurs Monostables
Mode dvaluation :
Lvaluation du cours sera ralise laide dun examen final crit et des exercices et rapports de
laboratoires corrigs. La note finale sera dtermine par la moyenne gnrale qui sera calcule
avec la pondration suivante : 2/3 pour lexamen final et 1/3 pour la moyenne des exercices et
rapports de laboratoire corrigs.
Rfrences:
[1] Malvino Albert, Principes dlectronique : Cours et Exercices Corrigs, Dunod 2002.
[2] J. Ph Perez, C.Lagoutte, J.Y Fourniols, S Bouhours, Electronique Fondement et
Applications, Dunod 2006.
[3] Youcef Hamada, Circuits Electroniques.
Concevoir des contrleurs (P, PI, PD ou PID) et des compensateurs ncessaires maintenir la
stabilit des systmes avec une marge de stabilit acceptable, tout en ralisant des critres de
performance.
Utilisation de Matlab et Simulink pour rsoudre des problmes et simuler des systmes de
commande.
A la fin de ce cours, l'tudiant devrait tre en mesure de :
Appliquer la transformation de Laplace aux systmes linaires;
Faire la reprsentation des systmes par fonction de transfert;
Identifier et modliser les procds;
Analyser et synthtiser les systmes de commande en boucle ferme
Contenu de la matire :
Chapitre 1 : Introduction aux systmes asservis
Historique; Diffrencier les systmes en boucle ouverte de ceux en boucle ferme; Dfinir les
caractristiques dun systme de commande : rponse transitoire, rponse en rgime permanent,
stabilit; Identifier les diffrents composants dun systme de contrle et leurs fonctions ;
Prsentation des outils de simulation : Matlab, Simulink.
Chapitre 2 : Transforms de Laplace et rgime transitoire
Utiliser la transforme de Laplace pour ltude des systmes transitoire et permanent; Utiliser la
transforme de Laplace pour rsoudre les quations diffrentielles; Diffrencier le rgime
transitoire et le rgime permanent; Dcomposition en fractions partielles.
Chapitre 3 : Modlisation et mise en quations des systmes
Dvelopper les fonctions de transfert pour un systme de commande; Dcrire les modles
physiques : Systmes lectriques, mcaniques (en translation, en rotation, engrenages),
thermiques, fluides, et systmes mixtes; Dvelopper le modle linaire dun systme de contrle
laide de ses lments; Modliser des systmes lectriques et mcaniques de 1 plusieurs degrs
de libert.
Chapitre 4 : Analyse dans le domaine temporel systme du 1er ordre
tablir la notion de fonction de transfert, ples, zros et rponse; Rponse totale, rponse
naturelle, rponse force; Dfinir les caractristiques dun systme du 1er ordre : constante de
temps, temps de monte et de rponse; Analyser les performances des systmes du 1er ordre.
Chapitre 5 : Analyse dans le domaine temporel systme du 2me ordre
Analyser les diffrents types de rponse : sur amortie, sous amortie, amortie critique, non amortie;
Dfinir les caractristiques dun systme du 2e ordre : frquence naturelle, facteur
damortissement, temps de monte, de rponse, % de dpassement; Analyser la stabilit des
systmes avec la position des ples.
Chapitre 6 : Simplification des systmes de commande et modlisation du moteur courant
continu (C.C.)
Simplification par la mthode des schmas - blocs; Simplification automatique par la mthode
matricielle; Dvelopper le modle dun moteur courant continu; tudier les courbes
caractristiques du moteur C.C ; Modliser un asservissement de vitesse pour le moteur C.C.
Chapitre 7 : Stabilit des systmes de commande
Dterminer la stabilit avec la position des ples de la fonction de transfert du systme de
commande. valuer la stabilit absolue avec le critre de Routh - Hurwitz; valuer la stabilit
relative avec le critre de Routh - Hurwitz; Introduction la mthode dite Lieu des racines .
Chapitre 8 : Analyse en frquence (rponse sinusodale)
Dfinir la rponse en frquence dun systme de commande; Reprsentation gomtrique de la
rponse en frquence par les diagrammes de : Bode, Nyquist, Black et Nichols.
Tracer les lieux de Bode dune fonction de transfert en boucle ouverte ; Analyser la rponse en
frquence dun systme de contrle.
valuer la fonction de transfert dun systme partir de la rponse en frquence exprimentale;
Dterminer les marges de gain et de phase avec un lieu de Bode (stabilit relative).
Chapitre 9 : Design des systmes de commande Les compensateurs
Modifier les performances dun systme en ajoutant une compensation en correction par avance et
retard de phase; Concevoir des correcteurs de phase par avance de phase; Concevoir des
correcteurs de phase par retard de phase.
Chapitre 10 : Design des systmes de commande Les contrleurs de type P, PI, PID.
Mthode dajustement de Ziegler - Nichols
Dcrire le fonctionnement thorique et pratique des contrleurs; Introduction de la mthode de
Ziegler Nichols.
Mode dvaluation :
Lvaluation du cours sera ralise laide dun examen final crit et des exercices et rapports de
laboratoires corrigs. La note finale sera dtermine par la moyenne gnrale qui sera calcule
avec la pondration suivante : 2/3 pour lexamen final et 1/3 pour la moyenne des exercices et
rapports de laboratoire corrigs.
Rfrences:
[1] NISE, N., Control Systems Engineering, 4e d., John Wiley and Sons.
[2] BLANGER, P.R., Control Engineering, a Modern Approach, Oxford University Press,
1994.
[3] SEBORG, D.E., T.F. EDGAR et D.A. MELLICHAMP, Process Dynamic and Control,
Wiley, 1989.
[4] OGUNNAIKE, B.A. et W.H. RAY, Process Dynamics, Modeling, and Control, Oxford
University Press, 1994.
[5] BEQUETTE, B.W., Process Dynamics, Modeling, Analysis, and Simulation, Prentice
Hall, 1998.
[6] THOMAS, P., Simulation of Industrial Processes for Control Engineers, Butterworth
Heinemann, 1999.
[7] CODRON, P. et S. LE BALLOIS, Automatique, systmes linaires et continus, Dunod,
1998.
[8] OGATA et KATSUHIKO, Modern Control Engineering, Prentice Hall, 3e d., 1997.
[9] KUO, B.C., Automatic Control System, Prentice Hall, 7e d., 1995.
[10] DORF, R. C. Et R.M. BISHOP, Modern Control Systems, 7e d., Addison Wesley,
1995.
[11] SAADAT, H., Computational Aids in Control Systems Using Matlab, Mc Graw Hill,
1993.
[12] RAVEN, F.H., Automatic Control Engineering, McGraw Hill, 1987.
Contenu de la matire :
Chapitre 1 : Introduction Gnrale
Pourquoi le traitement du signal ;
Applications de traitement du signal ;
Information et signaux ;
Classification des signaux ;
Signaux lmentaires ;
Oprations lmentaires sur les signaux.
Chapitre 2 : Reprsentation Vectorielle des Signaux
Distance entre deux signaux ;
Produit scalaire de deux signaux ;
Fonctions orthogonales ;
Principe dorthogonalit ;
Orthogonalisation de Gram-schmidt.
Chapitre 3 : Analyse de Fourier des Signaux Analogiques
Sries de Fourier : Dfinitions, Proprits ;
Transforme de Fourier : Dfinitions, Proprits ;
Energie et puissance des signaux ;
Densit spectrale ;
Fonction de corrlation ;
Thorme de Wienner-Kintchine ;
Systmes et oprateurs fonctionnels ;
Oprateurs linaires invariants ;
Transforme dHilbert.
Chapitre 4 : Notions de probabilits et variables alatoires
Elments de la thorie des ensembles ;
Analyse combinatoire ;
Notions de probabilits ;
Variables alatoires une dimension ;
Variables alatoires deux dimensions ;
Transformation des variables alatoires.
Chapitre 5 : Processus Alatoires
Dfinitions et caractristiques ;
Moyenne, corrlation, covariance ;
Stationnarit, Ergodicit ;
Puissance et nergie dun signal alatoire ;
Bruit blanc ;
Rponse des systmes linaires aux signaux alatoires.
Mode dvaluation :
Lvaluation du cours sera ralise laide dun examen final crit et des exercices et rapports de
laboratoires corrigs. La note finale sera dtermine par la moyenne gnrale qui sera calcule
avec la pondration suivante : 2/3 pour lexamen final et 1/3 pour la moyenne des exercices et
rapports de laboratoire corrigs.
Rfrences:
[1] F. De Coulon, Thorie et traitement des signaux, Presses polytechniques romandes.
[2] J. Max, J. L. Lacoume, Mthodes et techniques de traitement du signal, Dunod, 2004.
[3]
Contenu de la matire :
Chapitre 1 : Rappels sur les proprits des semi-conducteurs
semi-conducteurs lquilibre,
semi-conducteurs hors quilibre,
proprits de transport dans les semi-conducteurs, quation de continuit.
Chapitre 2 : Jonction PN
Jonctions p-n lquilibre : Description du phnomne de contact, Potentiel de contact ,
Zone de charge despace.
Jonctions p-n polarises : Description qualitative du transport, Courant de porteurs
majoritaires et minoritaires, Effets de fortes injections, recombinaison et gnration dans la
rgion de transition, claquage (effet Zener et effet avalanche).
Modle dynamique petit signal.
Chapitre 3 : Transistor bipolaire jonction
Leffet transistor et modes de fonctionnement
Calcul des courants terminaux
Modle dHebers-Moll
Modle dynamique petit signal
Chapitre 4 : Transistor mtal oxyde semiconducteur effet de champ (MOSFET)
Principe de fonctionnement
Structure MOS idale
Structure MOS relle
Tension de seuil
Calcul du courant de drain
Autres effets importants
Modle dynamique petit signal
Mode dvaluation :
Lvaluation du cours sera ralise laide dun examen final crit et des tests priodiques de
contrle de connaissances. La note finale sera dtermine par la moyenne gnrale qui sera
calcule avec la pondration suivante : 2/3 pour lexamen final et 1/3 pour la moyenne des tests
priodiques de contrle de connaissances.
Rfrences:
[1] B.SAPOVAL C.HERMANN, Physique des semiconducteurs, Ed. Ellipse (1990).
[2] B.BOITTIAUX, Les composants semi-conducteurs, Lavoisier Tec et Doc (1991).
[3] A.VAPAILLE, R.CASTAGNE, Dispositifs et circuits semi-conducteurs, Physique et
Technologie Ed. Dunod (1990).
[4] S.M. SZE, Semiconductor devices: physics and technology, Ed. J. Wiley (1985).
[5] H. MATHIEU, Physique des semi-conducteurs et les composants lectroniques, Ed.
MASSON.
Contenu de la matire :
Chapitre 1 : Appareils de mesure dviation
Multimtres passifs : principes et spcifications.
Chapitre 2 : Appareils de mesure lectroniques
Multimtres lectroniques : principes et spcifications.
Chapitre 2 : Appareils de mesure numriques
Rsolution des appareils de mesure, convertisseur analogique-numrique, Schma fonctionnel
dun multimtre numrique, spcifications et caractristiques dun multimtre numrique.
Chapitre 3 : Oscilloscope
Principe de fonctionnement, amplificateur vertical et horizontal, base de temps, synchronisation,
base de temps dclenche, double base de temps, oscilloscope double voie, mode hachage et
mode alternat, oscilloscope double base de temps, oscilloscope chantillonnage, oscilloscopes
mmoire. Sondes de mesure.
Chapitre 4 : Compteurs lectroniques
Frquence, priode et intervalle de temps, composantes dun compteur lectronique,
spcifications (gammes de frquences, sensibilit dentre, impdance dentre, prcision, ).
Chapitre 5 : Analyseurs logiques, Wobulateurs et Electromtres
Schmas synoptiques, principes de fonctionnement, spcifications.
Chapitre 6 : Analyseurs de spectres et Distrostiomtres
Rappels sur les techniques de modulations et dmodulations analogiques, Schma synoptique,
principe de fonctionnement, spcifications.
Chapitre 7 : Cartes dacquisition de donnes
Mode dvaluation :
Lvaluation du cours sera ralise laide dun examen final crit et des exercices et rapports de
laboratoires corrigs. La note finale sera dtermine par la moyenne gnrale qui sera calcule
avec la pondration suivante : 2/3 pour lexamen final et 1/3 pour la moyenne des exercices et
rapports de laboratoire corrigs.
Rfrences:
[1] Notes de cours.
[2] C. H. Gilmore, Appareils de mesure, McGraw-Hill Editeurs.
[3] REGHINOT, BECKER, Pratique des Oscilloscopes Techniques Mesures
Manipulations, Dunod.
[4] Klaas B. Klaassen, Electronic measurement and instrumentation, Cambridge University
Press, 1996.
[5] Semyon G. Rabinovich, Measurement errors and uncertainties: theory and practice, 2e
dition, SpringerVerlag, 2000.
[6] Robert B. Northrop, Introduction to instrumentation and measurements, CRC Press,
1997.
[7] Georges Asch, Les capteurs en instrumentation industrielle, 5e dition, Dunod, 1999.
[8] James W. Dally, William F. Riley, Kenneth G. McConnell, Instrumentation for
engineering measurements, 2e dition, John Wiley & Sons, Inc., 1993.
[9] Stanley Wolf, R. Smith, Student reference manual for electronic instrumentation
laboratories, PrenticeHall, 1990.
[10] John G. Webster, The measurement, instrumentation and sensors handbook, CRC
Press, 1998.
[11] Beauvillain, Mesures lectriques et lectroniques, Dunod.
dvelopper
des
systmes
bass
sur
Contenu de la matire :
Chapitre 1 : Historique des microprocesseurs
Microprocesseurs, microcontrleurs et microordinateurs. volution et architectures. La famille
Motorola. Intel. Zilog, Atmel, AVR, ARM.
Chapitre 2 : Architecture d'un microprocesseur; le 68000
Interface. Registres internes. Modle de programmation. Modes d'adressage. Jeu d'instructions.
Mmoire et entressorties. Les exceptions. Interface srie, USB. Firewire, Parallle, moteur pas
pas, LCD, clavier.
Chapitre 3 : Mthodologie de dveloppement logiciel
Crossassembleur 68000 et crosscompilateur C 68000. Ordinateur MicroLink sur bus STD.
Chapitre 4 : Systmes microprocesseur
Mode dvaluation :
Lvaluation du cours sera ralise laide dun examen final crit et des exercices et rapports de
laboratoires corrigs. La note finale sera dtermine par la moyenne gnrale qui sera calcule
avec la pondration suivante : 2/3 pour lexamen final et 1/3 pour la moyenne des exercices et
rapports de laboratoire corrigs.
Rfrences:
[1] James L. ANTONAKOS, The 68000 Microprocessor Hardware Software. Principles and
Applications. 5e Ed. PrenticeHall, ISBN 0136681204.
[2] STD202 68008 Single Board Computer Operation Manual, STD202601 8K Monitor
Operation Manual, MicroLink Corp., 1986.
[3] Steve FURBER : ARM System on a chip (Soc) 2nd Ed, Addison Wesley 2000, ISBN
020167596
[4] W. WOLF : Computers as components : Principles of Embedded computer design.
Morgan Kaufman. San Francisco 2000.
la fin de ce cours, l'tudiant devra tre en mesure de matriser les notions de base concernant
les signaux et les systmes discrets.
Contenu de la matire :
Chapitre 1 : Echantillonnage et Quantification
Transforme de Fourier d'un signal chantillonn, proprits ;
Relation entre le signal discret et le signal temporel dont il est l'chantillonnage;
Critre d'chantillonnage et reconstitution du signal continu ;
Echantillonnage rel ;
Echantillonnage de signaux bande troite ;
Quantification uniforme ;
Quantification logarithmique.
Chapitre 2 : Signaux et Systmes temps discret
Dfinition et reprsentation des signaux discrets ;
Dfinition des systmes discrets, proprits: linarit, invariance, rponse impulsionnelle,
causalit, interconnexion de systmes discrets, stabilit ;
Equations aux diffrences coefficients constants ;
Structures rcursives et non rcursives;
Entres lmentaires et rponses lmentaires (rponses impulsionnelles et convolutions,
rponses en frquences).
Chapitre 3 : Transforme de Fourier des Signaux Discrets (TFSD)
La TFSD et son inverse ;
Convergence de la TFSD ;
Proprits de Symtrie de la TFSD ;
Thormes de la TFSD.
Chapitre 4 : Transformation en Z et systmes temps discret
Dfinition, convergence ;
Proprits de la transformation en Z ;
Transformation inverse;
Fonction de systme (notion, relation avec lquation aux diffrences, ples et zros, lieu
de ples, rponse en frquences, rponse impulsionnelle, causalit, stabilit) ;
Systmes passe tout ;
Systme phase minimale.
Chapitre 5 : Transforme de Fourier Discrte (TFD)
La TFD et son inverse ;
Proprits de la TFD ;
Reconstruction dun signal via lchantillonnage de la TFSD ;
Relation entre la convolution linaire et circulaire ;
Filtrage RIF par bloc ;
Chapitre 6 : Transforme de Fourier Discrte et Algorithmes de calcul
Performance de calcul de la TFD ;
Transforme de Fourier Rapide (TFR) ;
Dcoupage en temps ;
Dcoupage en frquences ;
Rfrences:
[1] M. Bellanger, Traitement numrique du signal, Dunod, 1998.
[2] M. Kunt, Traitement numrique du signal, Dunod, 2004.
[3]
A. V. Oppenhneim et al., Discrete Time Signal Processing, Prentice Hall, 2nd edition,
1999.
[4] S. K. Mitra, Digital Signal Processing, a computer based approach, McGraw-Hill, 2nd
edition, 2001.
e module est destin principalement ltude dtaille des diffrentes familles de capteurs
industriels et ltude explicite du systme de conditionnement associ.
Contenu de la matire :
Chapitre 1: Introduction
Dfinitions, Synoptique dune chane de mesure industrielle, Capteurs actifs-passifs, composite
Classification des capteurs suivant le signal mesurer, Classification des capteurs suivant leffet
physique.
Chapitre 2: Caractristiques statiques des capteurs
Dfinitions, Etalonnage dun capteur, Sensibilit, Linarit, Erreurs Systmatiques, Erreurs
Alatoires, Fidlit, Justesse, Prcision.
Chapitre 3: Caractristiques dynamiques des capteurs
Dfinitions, Sensibilit Dynamique, Dtermination des paramtres dynamiques
rponse, ...)
(temps de
Mode dvaluation :
Lvaluation du cours sera ralise laide dun examen final crit et des exercices et rapports de
laboratoires corrigs. La note finale sera dtermine par la moyenne gnrale qui sera calcule
avec la pondration suivante : 2/3 pour lexamen final et 1/3 pour la moyenne des exercices et
rapports de laboratoire corrigs.
Rfrences:
[1] Georges Asch, Les capteurs en instrumentation industrielle, 5e dition, Dunod, 1999.
[2] E. O. Doebelin, Measurement systems, application and design, McGraw-Hill.
Contenu de la matire :
Chapitre 1 : Notions d'optique
Nature ondulatoire et nature corpusculaire de la lumire
Rflexion, rfraction et interfrence.
Photomtrie et radiomtrie
Chapitre 2 : Rappels de physique de semiconducteurs
Structure de bande. Transport lectronique. Jonctions semiconducteur. Htrojonctions.
Transitions optiques (mission spontane, mission stimule, absorption).
Chapitre 3 : Photodtecteurs
Structure et principe de fonctionnement
Caractristiques : rendement, rsponsivit, dtectivit, temps de rponse et bande passante.
Types de photodtecteurs : photoconducteurs, photodiodes (PN, PIN), photodiodes
avalanche, phototransistor.
Chapitre 4 : Diode lectroluminescente (LED) :
Structure et principe de fonctionnement
Caractristiques: rendement. Spectre et puissance dmission. Temps de rponse et bande
passante.
Chapitre 5 : Lasers semiconducteur (LD)
Leffet LASER et conditions doscillation
Structure et principe de fonctionnement
Caractristiques : Spectre et puissance dmission, courant de seuil, frquence de coupure
Types de Lasers: DBR, DFB, VCSELs
Mode dvaluation :
Lvaluation du cours sera ralise laide dun examen final crit et des exercices et rapports de
laboratoires corrigs. La note finale sera dtermine par la moyenne gnrale qui sera calcule
avec la pondration suivante : 2/3 pour lexamen final et 1/3 pour la moyenne des exercices et
rapports de laboratoire corrigs.
Rfrences:
[1] B.VINTER, E.ROSENCHER, OPTOELECTRONIQUE, 2 ED. DUNOD (2002).
[2] D.DECOSTER, J.HARARI, DETECTEURS OPTOELECTRONIQUES, LAVOISIER
(2002).
[3] P. MAYE, OPTOELECTRONIQUE INDUSTRIELLE, ED DUNOD (2003).
Contenu de la matire :
Chapitre 1: Initiation au dessin en lectronique
Schma synoptique, schma dvelopp, schma quivalent, dessins dimplantation, plan de
cblage, dessin de dfinition, dessin dopration, disposition des schmas, nomenclatures.
Chapitre 2 : Technologie de ralisation de schmas lectroniques
Grille internationale maquettes prliminaires, disposition des lments (lments actifs, lments
passifs, circuits intgrs, radiateur, transformateurs, lments de puissance).
Chapitre 3 : Technique de cblage des circuits lectroniques
Cblage imprime : Dfinition, constituants, proprits, tablissements du dessin du circuit
lectrique, ralisation du ngatif (mthodologie et logiciel), le report sur cuivre par photogravure, la
gravure du cuivre, traitement aprs lattaque, vrification et usinage du circuit, modification et
rparation du circuit.
Technique de cblage enroule (wrapping) : Dfinition, constituants, matriel utilis, mthode de
ralisation, application dans le montage circuits intgrs (circuits logiques).
Circuits en cms : Approche thorique et exemples.
Chapitre 4 : Principes de base de dpannage des circuits lectroniques
Dfaillance des composants, Causes des dfaillances (contraintes de fonctionnement
denvironnement) ; Instruments de mesures ; Mthodes de test.
Chapitre 5 : Sances de travaux pratiques
Prsentation des composants lectroniques, initiation lutilisation des appareils de mesure,
critre de choix des mini-projets, utilisation des logiciels informatiques pour les ralisations de
ngatifs.
1er Mini-Projet
Familiarisation aux problmes pratiques ltude dun circuit simple, principe de fonctionnement,
calcul des composants, tude bibliographique.
2me Mini-Projet
Ce mini-projet (de dure plus longue que le 1er mini-projet) permet de donner aux tudiants des
sujets plus consistants o le travail personnel est mis en relief (exploitation des diffrents cours,
recherche bibliographique, consultation de catalogues). Ce mini projet doit tre ponctu par un
compte rendu et par un expos.
Mode dvaluation :
Lvaluation du cours sera ralise laide dun examen final crit et des rapports de laboratoires
corrigs. La note finale sera dtermine par la moyenne gnrale qui sera calcule avec la
pondration suivante : 2/3 pour lexamen final et 1/3 pour la moyenne des rapports de laboratoire
corrigs.
Rfrences:
[1] Notes de Cours.
[2] Les livres et les revues sur les schmas lectroniques.
Mode dvaluation :
Lvaluation du mmoire de fin dtudes sera ralise par une soutenance orale devant lencadreur
du travail ainsi que les tudiants de la spcialit avec une sance de discussion sous forme de
questions/rponses. La note finale sera dtermine par la moyenne gnrale qui sera calcule
avec la pondration suivante : 30% sur le document, 30% sur lexpos et 40% sur la discussion.
Contenu de la matire :
Grer au 21e sicle et lenvironnement de la gestion
Grer lthique, la diversit, la culture et la responsabilit sociale
La prise de dcision
Planification et fixation des objectifs
Gestion stratgique
Les fondements de lorganisation
Crer des organisations aptes grer le changement
La dotation et la gestion des ressources humaines
Le rle de leader
Influencer le comportement et la motivation
Influencer la communication interpersonnelle et organisationnelle
Mode dvaluation :
Lvaluation du cours sera ralise laide dun examen final crit et des tests priodiques de
contrle de connaissances. La note finale sera dtermine par la moyenne gnrale qui sera
calcule avec la pondration suivante : 2/3 pour lexamen final et 1/3 pour la moyenne des tests
priodiques de contrle de connaissances.
Rfrences:
[1] Dessler, G., Starke, F. et Cyr, D. La gestion des organisations, principes et tendances
du XXIe sicle, ditions du renouveau pdagogique, 2004.
[2] Aktouf, Omar, Le management - entre tradition et renouvellement, Gatan Morin, 1989.
[3] Bergeron, Pierre G., La gestion dynamique, concepts, mthodes et applications, Gatan
Morin diteur, 1986.
[4] Boone & Kurtz, Lentreprise daujourdhui, ditions tudes vivantes, 1989.
[5] Certo et Applebaum, Principles of Modern Management : A Canadian Perspective, C.
Brown Company Publishers, 1984.
[6] Enregle, Y. et Thietart, R.-A., Prcis de direction et de gestion, Les ditions
dorganisation, 1978.
[7] Koontz, H., Odonnell, C., Management, principes et mthodes de gestion, McGraw-Hill,
1980.
[8] Miller, Roger et coll., La direction des entreprises : concepts et applications, McGrawHill, 1989.
[9] Turgeon, Bernard, La pratique du management, Montral, McGraw-Hill, 1989.
Nombre denfants : 01
ETUDES ET DIPLOMES
Baccalaurat Gnie mcanique : Tlemcen (juin 1994)
Diplme des tudes suprieures en Physique Electronique : Tlemcen (juillet 1999)
Magister en physique, Option optique Optolectronique et Micro-Onde : Tlemcen (Dcembre
2003)
Diplme de matrise doutil informatique. Tlemcen (2003)
INTITULE DES THESES SOUTENUES:
RESONABILITES
-Prsident du conseil pdagogique de coordination pour lanne universitaire 2008/2009
(Universit de Chlef).
-Membre du conseil discipline pour lanne en cours 2009/2010.
CONNAISSANCES ET CAPACITES
COURS TD et TP ASSURES
-TP de Physique Gnrale.
-TP de Thermodynamique et Proprits de la Matire (SEP210)
-Cours TD et TP dinformatique gnrale
-TP de Mesures Electriques et dElectroniques (TEC583-TEC580)
-Cours TD et TP langage de programmation et danalyse numrique
-Cours et TD des antennes (TEC590)
-Cours et TD de la propagation des ondes lectromagntiques
-Cours et TD de Phy. Des Semi-conducteurs
-Cours et TD et TP des Capteur en Instrumentation
-Cours et TD de TP des Appareils de Mesure
LABORTOIRES
-Membre de lquipe du Laboratoire physique thorique, prsidence du Professeur M.
kOTBI)
ACTIVITE DE RECHERCHES SCIENTIFIQUES
Publications
Mohammed Habchi, Mohammed Kotbi, S. Mohamed Mesli, Okacha Abbs: SCREENED
POTENTIAL CONSTRAINT IN A REVERSE MONTE CARLO (RMC) SIMULATION,
Publication envoye au Physics Letter A, ELSEVIER.
REFERENCES
-Pr M. BENMOUNA
-Mr A.BENOIZE
-Dr S. KHALDI
-Dr M. KOTBI
-Pr H. XU