M en C. Erick Barrios Barocio.

Fis. Arnaldo Hernndez Cardona.

Laboratorio de ptica, Facultad de Ciencias, UNAM.

Objetivo.
Estudiar el funcionamiento de rejillas de difraccin y caracterizar una. As mismo, utilizar una rejilla
de difraccin para analizar las componentes de longitudes de onda de una fuente de luz.
Material.
Rejillas de difraccin. 1 Lser rojo. 1 Lser de otra longitud de onda. 2 Porta lentes. 2 Porta postes
grandes con base. 2 Postes extra-grandes. 2 Postes medianos. 1 pantalla. 1 flexmetro. Papel milimtrico.
1 espectrmetro. 1 lmpara espectral.
Teora.
Suma fasorial de ondas [1].
Consideremos una onda senoidal cuya componente de campo elctrico est dada por:
1 = 0

(1)

Donde 0 es la amplitud de
E0
c)
b)
onda y es la frecuencia angular. a)

E0
E2
ER
Esta onda puede representarse de
E
P
E0
manera grfica mediante un fasor
de magnitud 0 como en la Figura E1
E2
t+
E1
t
t
1a. El fasor forma un ngulo el
eje horizontal. Su proyeccin en
Figura 1. Representacin y adicin de ondas en diagramas de fasores.
el eje y representa 1 . En
consecuencia, cuando el fasor gira, su proyeccin (intensidad) oscila. Consideremos una segunda onda
(Figura 1b):
2 = 0 ( + )
(2)
La onda resultante, suma de 1 y 2 , puede representarse de marea

E0
ER
=/2
grfica dibujando sus fasores como en la Figura 1c. Y el fasor resultante
EP
( ) es la suma vectorial de los dos fasores. En el caso que nos interesa

(independencia temporal) es conveniente dibujar los fasores en = 0

(Figura 2); a partir de la geometra de los tringulos rectngulos:
Figura 2. Suma de fasores a t=0.
=

/2
0

(3)

Lo cual produce:

= 20 = 20 cos ( )

(4)

En consecuencia, la proyeccin del fasor resultante a cualquier tiempo es:

= ( + 2 ) = 20 cos ( 2 ) ( + 2 )

(5)

Como la intensidad es: 2 y la mayora de los instrumentos detectores de luz miden la intensidad

1
promedio en el tiempo (2 ( + 2 ) = 2):

= 2 ( 2 ) = 2 (

(6)
99

=270
=3/4

ER=2
E0
E0

45
E0

=0
=0

=45
=/8

90
=90
=/4

ER=2
E0

270

180

E0

=180
=/2

E0
=360
=

Figura 3. Comportamiento de dos fasores a t=0, cuando se vara la fase entre ellos.

Aunque el anlisis trigonomtrico es til para ciertas cuestiones, en situaciones prcticas es suficiente
limitarnos a la interpretacin de fasores de . Por ejemplo, si se quiere saber de forma rpida y sencilla
cmo es el patrn de interferencia de dos fuentes coherentes, se usan diagramas de fasores a t=0 (Figura
3) y se estudia la magnitud del fasor resultante, la cual es proporcional a la intensidad del patrn de
interferencia, a distintos valores de diferencia de fase (diferencia de camino ptico ). Mediante este
anlisis, es posible ver que la intensidad es mxima cuando = 0,2, 4, y es mnima cuando =
, 3, 5, Este tipo de anlisis permite visualizar cmo ser el patrn de interferencia de dos rendijas
(Figura 5a).
Usando el mismo procedimiento, podemos visualizar el patrn de interferencia causado por tres rendijas
igualmente espaciadas. Las componentes de campo elctrico en un punto P sobre la pantalla causado por
ondas provenientes de las rendijas individuales pueden expresarse como:
1 = 0
2 = 0 ( + )

(7)

3 = 0 ( + 2)
=240
=2/3

ER=3
E0
E0

=0
=0

=60
=/6

=120
=/3

=300

=360
=

=5/6

=180
=/2

Figura 4. Comportamiento de tres fasores a t=0, cuando se vara la fase entre ellos.

Donde es la diferencia de fase entre las ondas. El

anlisis con diagramas de fasores (Figura 4), nos muestra
que la condicin de mxima intensidad se presenta
cuando = 0,2, 4, , los cuales son llamados
mximos primarios, que ocurren cuando los tres fasores
estn alineados. Sin embargo, se encontrarn mximos
secundarios (de menor intensidad que los primarios)
cuando = , 3, , donde la onda de una rendija
cancela solamente la onda de otra, sobreviviendo una sola
onda. La interferencia destructiva ocurre cuando los tres
fasores forman un tringulo cancelndose totalmente,
2 4
estos mnimos se presentan cuando = 3 , 3 , El
patrn de interferencia que se genera se muestra en la
Figura 5b. El mtodo de fasores toma relevancia cuando
se estudian patrones de interferencia de mltiples rendijas
(Figuras 5c, 5d, 5e).
100

Rendija simple

a) = 2
Mx. Primario
Mx. Secundario

b) = 3

c) = 4

d) = 5

e) = 10

Figura 5. Patrones de difraccin producidos

por distintos nmeros de rendijas.

La rejilla de difraccin.

m
2

La rejilla de difraccin es un dispositivo til para

P
2
analizar fuentes luminosas, se compone de un gran

1
nmero de rendijas paralelas igualmente espaciadas.

Una rejilla de transmisin puede hacerse cortando lneas

0
0
d
paralelas sobre una placa de vidrio con una mquina de

rayado de precisin. Los espacios entre las lneas son

1

transparentes a la luz y, en consecuencia, actan como

2

2
rendijas individuales. Una rejilla de reflexin puede

hacerse cortando lneas paralelas en la superficie de un

d
material reflejante. La reflexin de la luz de los espacios
entre las lneas es especular y la reflexin de las lneas
=
cortadas en el material es difusa.
Figura 6. Patrn de difraccin producido por una
rejilla de difraccin.

Una seccin de una rejilla de difraccin se ilustra en

la Figura 6, en ella una onda plana incide desde la izquierda, normal a la rejilla. Una lente convergente
(opcional) junta los rayos en el punto P. El patrn observado sobre la pantalla es el resultado de los efectos
de interferencia y difraccin, lo cual puede ser entendido mediante fasores.
En la Figura 6, la diferencia de trayectoria entre rayos de dos rendijas adyacentes cualesquiera es igual
a . Si tal diferencia de trayectoria es igual a una longitud de onda o algn mltiplo entero de una
longitud de onda, entonces las ondas provenientes de todas las rendijas estn en fase en P y se observa una
franja brillante. Por consiguiente, la condicin para mximos en el patrn de interferencia en el ngulo
es:
= = 0,1,2,
(2)
Si la radiacin incidente contiene varias longitudes de onda, el mximo de orden m-simo para cada
longitud de onda ocurrir a un ngulo especfico para cada longitud de onda, con excepcin del ngulo
= 0, el que corresponde a = 0, el mximo de orden cero, que tiene la misma posicin
independientemente de la longitud de onda. El mximo de primer orden ( = 1) se observa en un ngulo
que satisface la relacin = ; el mximo de segundo orden ( = 2) se observar en un ngulo
ms grande, y as sucesivamente.
Problemas.
1. Luz monocromtica de un lser Helio-Nen ( = 632.8) incide en direccin normal sobre una
rejilla de difraccin que contiene 6000 lneas por centmetro. Encontrar los ngulos a los que se observan
los mximos de primero, segundo y tercer orden.
2. El espectro del Hidrgeno tiene una lnea roja a 656nm y una lnea violeta a 434nm. Cul es la
separacin angular entre dos lneas espectrales obtenidas con una rejilla de difraccin que tiene 4500 lneas
por centmetro, para el primer, segundo y tercer orden?
3. Tres lneas espectrales discretas ocurren en ngulos de 10.09, 13.71 y 14.77 en el espectro de
primer orden de un espectroscopio de rejilla. a) Si la rejilla tiene 3600 rendijas por centmetro, cules son
las longitudes de onda de la luz? b) A qu ngulos se encuentra estas lneas en el espectro de segundo
orden?

101

Procedimiento.
Caracterizacin de rendijas mltiples.
1. Usando un lser de longitud de onda conocida, iluminar
Flexmetro
alguna de las rendijas mltiples proporcionadas y, a partir del
patrn generado y proyectado en una pantalla (colocada lejos
de las rendijas, Figura 7), deducir el nmero de rendijas que se
tiene.
2. Medir la separacin entre mximos principales (los ms
brillantes), especficamente entre el orden = 0 y los =
Lser
1. Con esta distancia y la distancia a la pantalla, calcular la Pantalla
Rejillas
separacin entre rendijas (d) haciendo uso de la ecuacin (2).
Nota: No en todos los casos se puede hacer la aproximacin
Figura 7. Montaje experimental.
de ngulo pequeo.
3. Una vez calculado d, calcular la densidad de lneas por milmetro ().
4. Repetir lo anterior para todas las rejillas disponibles.
Uso de una rejilla mltiple para calcular la longitud de onda de una fuente monocromtica.
1. Usando dos de las rejillas disponibles (de preferencia con grande), calcular la longitud de onda de
dos lseres distintos haciendo uso de la ecuacin 2 para orden = 1 y orden = 2.
Uso de una rejilla mltiple para analizar una fuentes de luz.
1. Usar la rejilla de 600lineas/mm y colocarla en el
Rejilla de
Fuente
espectrmetro de la forma mostrada en la Figura 8.
difraccin
Rayo de
de luz
orden m=0
2. Analizar dos fuentes de luz espectral mediante el
sistema montado en configuracin de rejilla de
transmisin. Medir las posiciones angulares de las
principales lneas espectrales de la fuente para el primer Rayos de
orden (m=1) y para el segundo orden (m=2).
orden m=1
3. Con la informacin anterior, calcular la longitud de
Figura 8. Arreglo experimental para anlisis
onda de las principales lneas espectrales de cada
espectral con rejilla de difraccin.
elemento.
Nota: Antes de hacer mediciones, asegurarse de que el espectrmetro est alineado.
Datos Importantes.
1. Tabla con datos de mediciones para la caracterizacin de las rejillas, incluyendo d, e incertidumbres.
2. Tabla con datos de mediciones para el clculo de longitud de onda de una fuente lser, incluyendo la
longitud de onda obtenida e incertidumbres.
3. Tabla de posiciones angulares medidas para las lneas espectrales de una fuente de luz y su valor de
longitud de onda correspondiente calculado, incluyendo incertidumbres (tanto para el orden 1 como
para el orden 2).
Referencias.
[1] R.A. Serway, R.J. Beichner. "Fsica para ciencias e ingeniera". 5 edicin, McGraw-Hill. 2002
[2] https://sites.google.com/site/laboratoriodeopticabb/ Prctica 15 Rejillas de Difraccin.
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