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Resumo. A difrao de raios X uma tcnica indicada para determinar as fases cristalinas presentes em
diversos materiais, dentre eles os minerais. Isso acontece porque os tomos se ordenam em planos cristalinos
separados entre si por distncias da mesma ordem de grandeza dos comprimentos da onda dos raios X.
Quando se incide um feixe de raios X em um cristal, o mesmo interage com os tomos presentes, gerando o
fenmeno de difrao de raios X. Ela ocorre segundo a Lei de Bragg, a qual estabelece a relao entre os
planos que a originaram (caractersticos para cada fase cristalina).
Palavras-chave: Difrao de Raio-X, Lei de Bragg.
1. INTRODUO
A difrao de raios-X (DRX) representa
o fenmeno de interao entre o feixe de
raios-X incidente e os eltrons dos tomos
componentes de um material, relacionado ao
espalhamento coerente. A tcnica consiste na
incidncia da radiao em uma amostra e na
deteco dos ftons difratados, que
constituem o feixe difratado. Em um
material onde os tomos estejam arranjados
periodicamente no espao, caracterstica das
estruturas cristalinas, o fenmeno da
difrao de raios-X ocorre nas direes de
espalhamento que satisfazem a Lei de Bragg
(eq. 1). A teoria da difrao detalhada por
Cullity (1967).
n = 2 d sem (1)
LEITURA DE UM DIFRATOGRAMA
So Feitas as leituras dos trs picos mais
intensos ao qual so utilizados para iniciar o
procedimento de identificao, na sua ordem
de intensidade, comparando-os com dados
dos arquivos PDF (powder diffraction files,
ICDD, International Center for Diffraction
Data). Se elas coincidirem com uma
substncia, as posies e intensidades dos
demais picos so comparadas com as do
arquivo.
Descrio da Analise
O mineral a ser analisado j estava
preparado previamente de acordo com as
normas, onde foi utilizado o mtodo do p
com uma granulometria de 200# em moinho
ou almofariz.
Procedimentos da Analise:
A amostra em p foi colocado no porta
amostra especfico para a anlise e
levemente comprimido para que as
partculas no se soltem durante a anlise,
pois a compresso exagerada pode levar
orientao preferencial de gros, indesejvel
neste caso. Aps colocado o porta amostra
no difratmetro de raios X do laboratrio
(modelo XRD-6000, da marca Shimadzu),
foi iniciada foi feito a incidncia com
radiao Cu K, = 1,5418 , onde lido e
transmitido
para
a
unidade
de
armazenamento de dados que e transmitida
em um monitor de video.
Difratograma:
2. METODOLOGIA
A analise realizou-se no laboratrio de
Engenharia de Materiais da Universidade
Federal de Campina Grande - UFCG.
Fig. 1 - Difratograma da amostra analisada
n Picos
2 Theta
Theta
Distncia
Altura
(intencid.)
1
2
35,34
62,56
17,67
31,28
2,539
1,485
600,0
383,8
43,16
21,58
2,095
380,0
57,16
28,58
1,612
367,4
74,37
37,19
1,275
350,8
53,37
26,68
1,717
326,9
30,15
15,08
2,963
299,6
18,362
9,181
4,832
299,6
Pr;
http://pt.scribd.com/doc/34563220/19/Difratometriade-raios-X-DRX, acessado em 06 de maro de 2013.
[6] Magnetita, http://pt.wikipedia.org/wiki/Magnetita,
acessado em 06 de maro de 2013.
3. CONCLUSO