Documente Academic
Documente Profesional
Documente Cultură
Nombre:
Bryan
Erasmo
Andrade
Materia/ paralelo:
Nmero
y
experimento
ttulo
de
Ciencia de Materiales/Paralelo
11
Experimento
de rayos X.
Profesor
No.1,
Difraccin
Fecha de experimento:
11 de Noviembre, 2013
Fecha de presentacin:
Nombre de
laboratorio
Samaniego
compaeros
25 de Noviembre, 2013
de
A) Objetivos:
B) Resumen
El da 11 de noviembre del presente se realiz la prctica Difraccin de
rayos X la cual consista en hacer saber al estudiante la interaccin que
existe entre los rayos X con la materia en este caso dos muestras (Arcilla y
Poliestileno de alta densidad), y experimentar la tcnica usada para realizar
dichos hechos y las aplicaciones que poseen los rayos X.
La tcnica usada en esta prctica es la de estudiar mediante un
difractmetro de rayos X la estructura interna de las muestras dichas
anteriormente para as conocer todas las propiedades que estas poseen.
Este mecanismo funciona conectado a un computador hacia donde iban
todos los datos que se obtenan a partir de la interaccin de los rayos X con
la materia, el computador se encargaba de realizar una grfica acerca de los
resultados obtenidos la cual luego nos permitira saber de que material est
C) Enfoque experimentales
El difractmetro de rayos X funciona en base a la ley de BRAGG, la cual nos
dice que el ngulo de incidencia de la longitud de onda debe ser igual al
ngulo de difraccin. Los estructura interna que poseen los cristales tiene
ciertas caractersticas especficas, poseen una estructura
molecular
ordenada y tienen patrones de repeticin formando una especie de planos en
el espacio, el difractmetro se ha diseado de tal manera que hace incidir
sobre las muestras un haz de rayos X, estos rayos chocan contra los
diferentes planos formados dentro de la muestra y debido a que algunos
planos no cumplen con la ley de BRAGG esto no nos otorga ningn dato
sobre el cristal, por tal razn el diseo esta hecho de tal manera que el
ngulo de incidencia del haz vari respecto a la familia de planos y as todos
cumplan con esta ley.
Para esto es aconsejable hacer polvo la muestra a analizar, lo que produce
pequesimos cristales del mismo material pero diferentemente orientados,
al incidir los rayos X se produce un estado de excitacin en los tomos de la
muestra lo que hace que se libere energa debido a la perdida de electrones
produciendo una descarga de rayos X difractndose nicamente aquellos
que cumplan con la ley de BRAGG, el resto de fragmentos que no lo cumplen
no otorgan nada acerca de la estructura de nuestra muestra. El detector de
rayos X capta la intensidad de luz que llega a diferentes ngulos y en base a
esto genera una grfica caracterizada por presentar muchos picos lo cual
nos permite identificar en que ngulos se obtuvo mayor intensidad de luz
difractada.
D) Datos
Equipo: Difractmetro de Rayos X Panalytical,
Modelo: Xpert PRO,
Serie: 12NC943003040601
Cdigo: EM-001-00,
E) Materiales
Arcilla natural
Poliestileno de alta densidad.
F) Condiciones de prueba:
Temperatura: ambiente (25C)
nodo: cobre
Arcilla
Poliestileno
Posicin final
80
30
Paso(2):
0.5
0.05
Posicin inicial
E) Anlisis de resultados
Counts
paralelo 11 CC.MM
150
100
50
0
10
20
30
40
50
60
70
Counts
PARALELO 11 PEAD
10
0
10
15
20
25
Qu pas?
Se puede observar que las grficas obtenidas se caracterizan por tener
muchos picos lo que nos indica diferentes magnitudes de intensidad de luz
para cada ngulo de incidencia dado del haz de rayos X.
F) Conclusiones:
G) Referencias
Juan Fernndez Buelga, Spanish-Minerals, Los rayos x y su difraccin por los
cristales, disponible en:
http://www.spanishminerals.com/articlelosrayosxysudifraccionporloscristales.
htm
H) Adjuntos
Dataset Name
File name
PEAD.xrdml
Comment
Owner=User-1, Creation
PARALELO 11 PEAD
C:\X'Pert Data\RODRIGO P CCMM\PARALELO 11
Configuration=Reflection-Transmission Spinner,
date=09/05/2008 10:30:26
Goniometer=PW3050/60 (Theta/2Theta); Minimum
step size 2Theta:0.001; Minimum step size Omega:0.001
Sample stage=Reflection-Transmission Spinner
PW3064/60; Minimum step size Phi:0.1
Diffractometer system=XPERT-PRO
Measurement program=arcillas andres,
Owner=User-1, Creation date=23/04/2009 10:22:30
Measurement Date / Time
11/11/2013 15:46:50
Operator
Escuela Superior
Raw Data Origin
XRD measurement (*.XRDML)
Scan Axis
Gonio
Start Position [2Th.]
8.0250
End Position [2Th.]
29.9750
Step Size [2Th.]
0.0500
Scan Step Time [s]
4.0000
Scan Type
Continuous
Offset [2Th.]
0.0000
Divergence Slit Type
Fixed
Divergence Slit Size [] 0.0315
Specimen Length [mm] 10.00
Receiving Slit Size [mm] 0.1000
Measurement Temperature [C]
25.00
Anode Material
Cu
K-Alpha1 []
1.54060
K-Alpha2 []
1.54443
K-Beta []
1.39225
K-A2 / K-A1 Ratio
0.50000
Generator Settings
45 mA, 40 kV
Diffractometer Type
0000000011040513
Diffractometer Number 0
Goniometer Radius [mm]
240.00
Dist. Focus-Diverg. Slit [mm] 91.00
Incident Beam Monochromator
No
Spinning
Yes
Document History:
Insert Measurement:
- File name = "PARALELO 11 PEAD.xrdml"
- Modification time = "21/11/2013 15:04:16"
- Modification editor = "Escuela Superior"
Default properties:
- Measurement step axis = "None"
- Internal wavelengths used from anode material: Copper (Cu)
- Original K-Alpha1 wavelength = "1.54060"
- Used K-Alpha1 wavelength = "1.54060"
- Original K-Alpha2 wavelength = "1.54443"
- Used K-Alpha2 wavelength = "1.54443"
- Original K-Beta wavelength = "1.39225"
- Used K-Beta wavelength = "1.39225"
- Dist. focus to div. slit = "91.00000"
- Irradiated length = "10.00000"
- Linear detector mode = "None"
- Length linear detector = "2"
- Step axis value = "0.00000"
- Offset = "0.00000"
- Sample length = "10.00000"
- Modification time = "21/11/2013 15:04:16"
- Modification editor = "Escuela Superior"
paralelo 11 CC.MM
C:\X'Pert Data\RODRIGO P CCMM\paralelo 11
Configuration=Reflection-Transmission Spinner,
date=09/05/2008 10:30:26
Goniometer=PW3050/60 (Theta/2Theta); Minimum
step size 2Theta:0.001; Minimum step size Omega:0.001
Sample stage=Reflection-Transmission Spinner
PW3064/60; Minimum step size Phi:0.1
Diffractometer system=XPERT-PRO
Measurement program=arcillas andres,
Owner=User-1, Creation date=23/04/2009 10:22:30
Measurement Date / Time
11/11/2013 15:05:58
Operator
Escuela Superior
Raw Data Origin
XRD measurement (*.XRDML)
Scan Axis
Gonio
Start Position [2Th.]
2.2500
End Position [2Th.]
79.7500
Step Size [2Th.]
0.5000
Scan Step Time [s]
10.0000
Scan Type
Continuous
Offset [2Th.]
0.0000
Divergence Slit Type
Fixed
Divergence Slit Size [] 0.0315
Specimen Length [mm] 10.00
Receiving Slit Size [mm] 0.1000
Measurement Temperature [C]
25.00
Anode Material
Cu
K-Alpha1 []
1.54060
K-Alpha2 []
1.54443
K-Beta []
1.39225
K-A2 / K-A1 Ratio
0.50000
Generator Settings
45 mA, 40 kV
Diffractometer Type
0000000011040513
Diffractometer Number 0
Goniometer Radius [mm]
240.00
Dist. Focus-Diverg. Slit [mm] 91.00
Incident Beam Monochromator
No
Spinning
Yes
Document History:
Insert Measurement:
- File name = "paralelo 11 CC.MM.xrdml"
- Modification time = "21/11/2013 15:03:54"
- Modification editor = "Escuela Superior"
Default properties:
- Measurement step axis = "None"
- Internal wavelengths used from anode material: Copper (Cu)
- Original K-Alpha1 wavelength = "1.54060"
- Used K-Alpha1 wavelength = "1.54060"
- Original K-Alpha2 wavelength = "1.54443"
- Used K-Alpha2 wavelength = "1.54443"
I)