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UNIVERSIDAD NACIONAL DE INGENIERA

FACULTAD DE INGENIERA GEOLOGCA, MINERA Y METALURGICA

NOMB

: TORRES

RE
CODIGO

DELGADO , JIM
: 20127034J

CURSO

: GEOFISICA

PROFESOR

APLICADA
: ING. DENY BAYONA

JULIO 2015

ELECTROMAGNETISMO

1. Por que la presencia de una cobertura conductora es tan importante en


los Mtodos Electromagnticos.
Porque los mtodos de prospeccin electromagntica-induccin, tanto en el
aire y de tcnicas de suelo, al hacer uso de campos electromagnticos
primarios artificiales necesitan una cobertura conductora, de manera que un
campo magntico alterno se pueda establecer, haciendo pasar una corriente a
travs de un cable largo.
El campo se mide con un receptor que consta de un amplificador electrnico
sensible y puente potencimetro.
La frecuencia de la corriente alterna se elige de tal manera que un campo de
corrientes parsitas insignificante est inducida en el suelo si tiene una
conductividad elctrica promedio.
De manera que si la fuente y el receptor son llevados cerca de una zona ms
conductora, pueden circular fuertes corrientes parsitas dentro de ella y un
campo magntico secundario apreciable de ese modo se puede crear.
2. Explique como la profundidad de investigacin puede variar en metodos
electricos y Electromagnticos.

En los mtodos elctricos como en el SEV (sondeo elctrico vertical) la


variacin de la profundidad de investigacin depende del alejamiento entre los
electrodos receptores y transmisores. La profundidad de investigacin puede
variar entre un 0.1 y 0.3 veces el largo de la distancia entre electrodos.
En los mtodos electromagnticos, la variacin de profundidad de investigacin
depende de la dimensin y el nmero de vueltas en la bobina o largo del dipolo
de transmisin y de la potencia del transmisor. Esta puede llegar y superar los
500 1000 m.

3. Describa la relacin entre Campos Magnticos Primarios y Secundarios


El campo magntico primario es generado artificialmente de manera que un
campo magntico alterno se pueda establecer.
Es decir existen campos magnticos secundarios que se generan debido a un
campo magntico primario.
El aumento de la intensidad de campo primario aumenta la intensidad de
campo secundario proporcionalmente pero la "anomala" mide en ppm o por
ciento sigue siendo el mismo.
En las exploraciones electromagnticas en dominio de frecuencia, (FDEM)
permiten conseguir, de modo expeditivo, los mapas de valores de la variacin
de fase y amplitud del campo electromagntico secundario con respecto del
campo primario inducido.
Anomala = Hs / Hp.
4. Que factores
levantamiento
-

controlan

la

profundidad

de

penetracin en un
electromagnetico?

Principalmente de las propiedades elctricas del subsuelo y las estructuras


enterradas.
Susceptibilidad magntica del material

5. Que tipos de Levantamientos electricos y Electromagnticos seran mas


adecuados para detectar los siguientes tipos de mineralizacin:
a) Sulfuros diseminados:
-

Metodo polarizacion inducida

b) Sulfuros masivos:
-

Magnetometra,

polarizacin

c) Suelos lateriticos:
-

Metodo resistividad electrica

SISMICA

inducida

electromagnetismo

(HLEM)

1. Describir los principales controles en la variacin de velocidad e


impedancia acstica a travs de tres clases principales de roca.
-Roca gnea:
El principal control de la velocidad y la impedancia acstica en las rocas
gneas es la mineraloga.
La impedancia acstica vara de flsico a mfico.
-Roca Sedimentaria:
Los principales controles de velocidad y la impedancia acstica en las rocas
sedimentarias son porosidad y fluidos de los poros
-Roca Metamrfica:
El principal control de la velocidad y la impedancia acstica en las rocas
metamrficas es el grado de metamorfismo y la mineraloga.

2. Describe el efecto de metamorfismo, serpentinizacin e intemperismo


en la velocidad ssmica e impedancia acstica.
-

Metamorfismo:
En el caso del metamorfismo aumentara la velocidad debido a su grado de
metamorfismo por ende la impedancia acstica sera mayor.

Serpentinizacin:
En este caso se reduce la velocidad y la densidad de las ondas en las rocas
mficas y ultramficas. Por ende la impedancia acstica aumentara.
.
Intemperismo:
Debido a este proceso la roca presentara mayor cantidad de poros por
ende la velocidad y la impedancia acstica disminuiran.

3. Describe el Proceso de stacking en datos de reflexin ssmica. Que


asunciones se hacen sobre las propiedades ssmicas del subsuelo, y
como pueden afectar los resultados en un rea de geologa compleja
Proceso Stacking: Consiste en hacer repeticiones sobre un mismo reflector.
Generalmente se busca que la relacin Seal/Ruido sea alta, porque si la
seal baja el ruido es muy alto.

Para lograr que ese ruido que siempre est en la data de campo, la forma
de corregir eso es tener ms datos, la sumatoria final seria 1. En un perfil
ssmico cada hiprbola debe ser reducida a un solo pulso, primero
aplanarla eliminando los sobretiempos y luego sumando los registros
Stacking.", obteniendo traza ssmica con mayor amplitud, esto elimina el
ruido.
En una geologa compleja se debe tener en cuenta la difraccin y reflexin
debido a la diferencia de impedancias y tener en cuenta que los gefonos
no estn buzando y no obtener errores.
4. Compare y contraste los mtodos de Refraccin y Reflexin Ssmica,
describiendo las fortalezas y debilidades de ambos mtodos. Cul es
el Mtodo que usara para:
Explique sus elecciones
a) Mapear la potencia de sedimentos en un paleocanal
- Mtodo de reflexin
Con el fin de conseguir un mejor reconocimiento de la zona de estudio, se
realiza un nmero de disparos mayor y se aumenta la cantidad de gefonos
en comparacin con los empleados en un perfil de refraccin de longitud
equivalente. El resultado es un grupo de trazas ssmicas procedentes de
todos los tiros que se analizan, se procesan y luego se reordenan en
conjuntos de puntos reflectores comunes (CMP), los cuales contienen la
informacin de todas las reflexiones halladas. Una vez todas las trazas de
un mismo CMP se han agrupado, se suman y se obtiene una traza CMP.
El conjunto de todas las trazas CMP constituye la denominada que es el
resultado final de este mtodo. Una seccin ssmica es una imagen del
subsuelo en donde las reflexiones se ven en forma de lbulos negros de
mayor amplitud y definen las capas reflectoras que despus se asociarn a
las estructuras geolgicas
El tratamiento de los datos en ssmica de reflexin es ms laborioso y
delicado que el procesado de refraccin donde uno de los retos ms
importantes es conseguir aislar de los registros las reflexiones,
eliminando las otras ondas (onda directa, refracciones, ruido, etc.).
Esta tarea implica la aplicacin de tratamientos multiseal (filtros,
deconvoluciones, etc.) que, si no se hacen cuidadosamente, pueden crear
artefactos y confundirse con falsos reflectores.
Otro punto conflictivo del procesado es que en las secciones ssmicas de
reflexin las capas reflectoras estn en modo tiempo doble debido a que
cada rayo reflejado ha hecho el viaje de ida (incidencia) y vuelta (rebote). A
los interpretes que estn acostumbrados a trabajar con secciones ssmicas
les es fcil pasar mentalmente del tiempo doble en donde se detecta un

reflector a la profundidad que le tocara (profundidad equivalente), pero en


muchos casos se facilita esta tarea automticamente y se presentan las
secciones ssmicas de reflexin convertidas a una profundidad aproximada.
Este mtodo es una de las tcnicas de prospeccin geofsica ms utilizada
debido a que su resultado es una imagen denominada seccin ssmica en
donde se aprecia la geometra de las estructuras geolgicas
b) Detectar sulfuros masivos en un rea que ha sido perforada
- Mtodo de refraccin
Debido a su menor costo y al tipo de informacin que proporciona (campo
de velocidades) la ssmica de refraccin es un potente mtodo que
actualmente se emplea tanto en estudios de estructuras profundas de la
corteza terrestre como en estudios del subsuelo ms inmediato, rellenos
aniso trpicos, compactacin de los materiales, etc.
La ssmica de refraccin es especialmente adecuada cuando se desean
estudiar superficies de alta velocidad, ya que brinda informacin de
velocidades y profundidades en las cuales se propagan las ondas.
Tambin es posible inspeccionar reas ms grandes ms rpidamente y de
forma ms econmica que el mtodo de reflexin; a pesar de presentar una
significante perdida del detalle