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DE DIFRACCIN DE RAYOS X
1. Objetivos:
-
2. Introduccin:
3. Fundamento terico:
Cristal
Redes espaciales:
La estructura fsica de los materiales de ingeniera tiene gran
importancia principalmente en cuanto a la disposicin de los tomos,
iones o molculas que constituyen el slido y de las fuerzas de enlace
entre ellos.
Si los tomos o iones de un slido estn ordenados segn una
disposicin que se repite en las tres dimensiones, forman un slido
que se dice posee estructura cristalina y es referido como solido
cristalino o material cristalino. Ejemplos de materiales cristalinos son
los metales, las aleaciones, y algunos materiales cermicas.
La disposicin atmica en los slidos cristalinos se puede representar
considerando a los tomos como los puntos de interseccin de una
red de lneas en tres dimensiones.
n = 2 dhkl sen
La direccin en la que sale el haz difractado forma tambin un
ngulo con la superficie de la familia de planos que difractan,
es decir, un ngulo 2 con la direccin de incidencia del haz de
rayos X. Adems, la direccin del haz incidente y la direccin
del haz difractado estn contenidas en un plano que es
perpendicular a la familia de planos que difractan. Como en un
cristal hay distintas familias de planos, con distintos espaciados,
existirn tambin distintas direcciones de difraccin. Al ser el
conjunto de espaciados de un cristal caracterstico para cada
especie cristalina, si decamos que no existen dos sustancias
cristalinas que tengan un diagrama de difraccin idntico. Se
dice que el diagrama de difraccin es como una huella dactilar
de las sustancias cristalinas En la obtencin de la informacin
que nos proporciona la difraccin de rayos X pueden
distinguirse dos aspectos claramente diferenciados y
complementarios: por una parte, la geometra de las
direcciones de difraccin, que est condicionada nicamente
por el tamao y la forma de la celdilla unidad del cristal.
Conociendo estas direcciones ser posible averiguar el sistema
cristalino y las dimensiones de la celdilla. El otro aspecto viene
dado por las intensidades de estos rayos difractados, que estn
ntimamente relacionadas con la naturaleza de los tomos y con
las posiciones que stos ocupan en la red cristalina, de forma
que su medida constituye un procedimiento para obtener
informacin tridimensional acerca de la estructura interna del
cristal.
4. Procedimiento experimental:
Formacin de cristales:
Se hecho sal de mesa en una tapa de agua tibia, hasta quedar
completamente saturado luego se dej en el ambiente hasta que se
evapore completamente el agua, y as se obtuvieron los cristales de
cloruro de sodio.
Difraccin de rayos X:
Mediante los datos obtenidos por la difraccin de rayos X, y el
programa match3 se logra conocer los atomos que componen
los elementos, y con el programa powdercell obtenemos su
estructura cristalina.
Muestra numero 1:
P 63 m c
(186)
hexagonal
a= 3.2494
c= 5.2038
T= 293.0 K
Element
Zn
0.333
0.667
0.333
T0.667
0.382
d []
28.141
Int.
524.4
k
1
l
0
Mult.
0
26.019
397.3
24.753
1000
12
19.104
217.2
12
16.247
315
14.766
285
12
1.407
43.2
13.781
241.3
12
13.583
122.8
12
1.301
20.3
12.377
38.3
12
11.809
20.8
12
10.927
81.8
12
10.636
27.5
12
10.421
89.9
24
10.155
50.1
12
Muestra numero 2:
F m -3 m
(225)
cubic
Cell
parameters
a= 5.6393
Cell meas.
conditions
T= 295.0 K
Zn
0.333
0.667
0.333
0.667
0.382
d []
Int.
Mult.
28.141
524.4
26.019
397.3
24.753
1000
12
19.104
217.2
12
16.247
315
14.766
285
12
1.407
43.2
13.781
241.3
12
13.583
122.8
12
1.301
20.3
12.377
38.3
12
11.809
20.8
12
10.927
81.8
12
10.636
27.5
12
10.421
89.9
24
10.155
50.1
12
5. Observaciones:
-
6. Discusiones:
- La temperatura afectaba al proceso de evaporacin, pues cuando
haba una temperatura de 20C la cristalizacin demoraba, en cambio
cuando la temperatura llegaba a los 25 C la cristalizacin se daba
rpidamente.
-
7. Conclusiones:
- Se pudo obtener la cristalizacin del cloruro de sodio a partir de la
solucin saturada el cual demoro 2 semanas.
- Como se pudo notar existe un pequeo desfasaje en el difractograma
en la cual es causado por el cambio de temperatura del material este
tienden a deformarse por lo cual varia su estructura cristalina
entonces y ocasiona un retraso en el pico de intensidad en el
difractograma a causa de la fatiga trmica
- El problema de los diferentes valores de intensidad es debido a la
forma del material que se usa en el difractometro ya que si el
material a usar es una lmina solida la estructura cristalina tendra un
sentido favorable en ciertos planos para la difraccin , en cambio si el
material estuviera en un estado similar al polvo los planos de
difraccin de la estructura cristalina serian aleatorios y por lo cual
tendramos un mejor resultado en el difractometro y este nos
mostrara mejor su valores esperados de intensidad para diferentes
ngulos
8. Bibliografia:
- Hammond, C. "Introduction to Crystallography". Royal Microscopical
Society Microscopy Handbooks 19. Oxford Science Publications.
Oxford, 1990.