Sistema Paramedic A o Deer Rode Plan I Cidade

A-PDF MERGER DEMO
UNIVERSIDADE DE SO PAULO
ESCOLA DE ENGENHARIA DE SO CARLOS
DEPARTAMENTO DE ENGENHARIA MECNICA
SISTEMA PARA MEDIO DE ERRO DE

PLANICIDADE
RITA DE CSSIA ALVES DE MAGALHES
Dissertao apresentada Escola de Engenharia de

So Carlos da Universidade de So Paulo, como
parte dos requisitos para obteno do ttulo de
Mestre em Engenharia Mecnica
ORIENTADOR: Prof. Dr. Benedito Di Giacomo
So Carlos
2006
Ficha catalogrfica preparada pela Seo de Tratamento

da Informao do Servio de Biblioteca EESC/USP
M188s
Magalhes, Rita de Cssia Alves de

Sistema para medio de erro de planicidade / Rita de
Cssia Alves de Magalhes. - So Carlos, 2006.
Dissertao (Mestrado) - Escola de Engenharia de So

Carlos-Universidade de So Paulo, 2006.
rea: Engenharia Mecnica.
Orientador: Prof. Dr. Benedito Di Giacomo.
1. Metrologia. 2. Metrologia dimensional. 3. Desvio de

planicidade. 4. Tcnicas de separao de erros. I.
Ttulo.
Aos meus pais Anna e Joo (in memorian).

Com todo o meu amor.
Agradecimentos
Ofereo meus sinceros agradecimentos ao Prof. Dr. Benedito Di Giacomo
por ter sido professor, estudante, amigo e companheiro. Obrigada pela pacincia
e dedicao para me transmitir seus conhecimentos e experincias. Pelas lies
que no podem ser encontradas em livros.
Aos colegas de ps-graduao Alessandro, Fabrcio, Marcela, Alexandre,
Rosenda, Mrcia, Eraldo, Juliana, Enzo, Alessandra, Roberto e Andra por terem
tornado os anos de ps-graduao to agradveis.
Ao Prof. Dr. Roberto Hideaki Tsunaki pelo incentivo pesquisa cientfica e
por todas as discusses que ajudaram o desenvolvimento deste trabalho e o meu
aprendizado.
Ao Luiz Carlos Neves pelas brincadeiras e amizade. Obrigada, pela ajuda
na montagem dos experimentos, coletas de dados e pelo apoio dado durante a
fase em que estive ausente de So Carlos.
Ao Alessandro Marques pela amizade e ajuda no desenvolvimento dos
programas computacionais.
Ao MSc. Jos Cludio P. De Azevedo pela ajuda no desenvolvimento das
interfaces eletrnicas, pela amizade e por estar perto quando precisava de ajuda.
Aos funcinrios de oficina Ado S. Bolsan, Jos C Botelho e Jos C.
Risardi pelo apoio tcnico e incontveis visitas oficina.
minha me e ao meu pai (in memorian) que, mesmo com todas as
dificuldades e limitaes, no pouparam esforos para me educar. Obrigada pelo
amor e carinho que tm por mim.
Aos meus irmos Ftima, ngelo e Joana por nunca me faltarem. Pelas
risadas e lgrimas. Pelas longas conversas 'filosficas'.
Aos meus sobrinhos Carol, Laura, Lvia, Caio, Joo Victor, Joo Gabriel e
Jos Gabriel por me darem tantas alegria e me fazerem passar horas rindo de
suas peraltices.
s amigas Priscila, Laura e Ana Carolina, com quem compartilho minhas
alegrias e aflies.
Ao Gil por me fazer sonhar.
A Deus por sempre me acompanhar e me dar foras.
A todos aqueles que de uma forma ou de outra contriburam para a
realizao deste trabalho.
Sumrio
LISTA DE FIGURAS
IV
LISTA DE GRFICOS
VI
LISTA DE TABELAS
VII
RESUMO
VIII
ABSTRACT
IX
CAPTULO 1: INTRODUO
CAPTULO 2: DEFINIO E MTODOS DE MEDIO DO
DESVIO DE PLANICIDADE
2.1 Definio para Planicidade e Tolerncia de Planicidade
2.2 Princpios de Gerao e Medio de Superfcies Planas
2.3 Superfcies de Referncia e outros Mtodos de Medio de
19
Desvio de Planicidade
2.4 Instrumentos mais Utilizados na Medio de Desvio de
25
Planicidade
2.5 Evoluo dos Algoritmos para Clculo do Desvio de
30
Planicidadade
CAPTULO
ESTUDO
3:
E
FERRAMENTAS
ANLISE
DO
MATEMTICAS
DESVIO
DE
PARA
PLANICIDADE
32
CLCULO DA INCERTEZA DE MEDIO

3.1 Tcnicas Histricas de Separao de Erros
33
3.1.1 Teste de Trs Planos
34
3.1.2 Reverso do Nvel
35
3.2 Tcnicas Atuais de Separao de Erros
36
3.2.1 Reverso da Rgua Padro
36
3.2.2 Mtodo Sequential-Two-Points (TSP)
38
II
3.2.3 Mtodo Sequential-Three-Points (STRP)
40
3.2.4 Mtodo Combinado ( Kiyono e Gao, 1994)
42
3.2.5 Mtodo com Trs Apalpadores ( Gao et al, 2002)
44
3.3 Mtodo Matemtico para Determinao do Desvio de
46
Planicidade
3.3.1 Mtodo dos Mnimos Quadrados
46
3.3.2 Mtodo dos Mnimos Desvios Proposto por Huang et al
49
(1993)
3.3.3 Mtodo de Otimizao para Determinao do Desvio de
53
Planicidade
3.4 Conceitos Estatsticos Bsicos para Tratamento de Dados
55
Experimentais
3.4.1 Incerteza Padro
57
3.4.2 Incerteza Padro Combinada
60
3.4.3 Incerteza Expandida
61
CAPTULO 4: SISTEMA PARA MEDIO DE ERRO DE
63
PLANICIDADE
4.1 Desenvolvimento das Interfaces entre Mquina, Computador
64
e Operador
4.2 Mtodo de Tomada de Dados
65
4.3 Mtodo Matemtico
66
4.4 Avaliao do Sistema Mltiplas Sondas
67
4.5 Clculo da Incerteza de Medio
67
CAPTULO 5: DESENVOLVIMENTO DO SISTEMA PARA
68
MEDIO DE ERRO DE PLANICIDADE

5.1 Desenvolvimento da Interface entre Mquina e Computador
69
5.2 Mtodo de Tomada de Dados
72
5.3 Algoritmo para Clculo o Desvio de Planicidade
73
5.4 Avaliao do sistema Mltiplas Sondas
80
81
5.5.1 Incerteza no clculo das alturas u2(z)
82
III
5.5.2 Clculo de u2(0), u2(1) e u2(2)
CAPTULO 6: TESTES EXPERIMENTAIS, RESULTADOS E
89
DISCUSSO
6.1 Medio do Erro de Retilineidade
90
6.1.1 Resultados Obtidos com o Mtodo Combinado Proposto
90
por Kiyono e Gao, 1994

6.1.2 Resultados Obtidos com o Mtodo Utilizando Trs
93
Apalpadores Proposto por Gao et al, 2002

6.1.3 Resultados Obtidos com o Mtodo Sequential-Three-
97
Points (STRP)
6.1.4 Resultados Obtidos com o Mtodo Sequential-Two-
99
Points (TSP)
6.1.5
Verificao
da
Repetibilidade
dos
Mtodos
de
101
Separao de Erros
6.2 Medio de Erro de Planicidade
103
103
6.3.1 Clculo da Incerteza Relativa s Alturas Z medidas
103
6.3.2 Clculo de u2(0) u2(1) e u2(2)
105
6.3.3 Clculo de u2(Max(dist)) e u2(Min(dist))
107
CAPTULO 7: CONCLUSES E SUGESTES PARA
107
TRABALHOS FUTUROS
REFERNCIAS BIBLIOGRFICAS
110
IV
Lista de Figuras
Figura 2.1. Tolerncia de planicidade segundo ASME
Figura 2.2. Tolerncia de planicidade segundo ABNT
Figura 2.3. Zona de tolerncia de planicidade
Figura 2.4. Mquina de Polimento
10
Figura 2.5. Plano tico
12
Figura 2.6. Sistema PBSS para medio de erro de planicidade
13
Figura 2.7. Converso de ngulo em altura
14
Figura 2.8. Princpios de medio de forma 3D atravs de franjas
15
de moir
Figura 2.9. Medio por triangulao
16
Figura 2.10. Sistema de medio de panicidade sem contato
18
Figura 2.11. Mquina de serrar granito
21
Figura 2.12. Repeat-o-meter _ instrumento para medio de
21
planicidade em desempenos
Figura 2.13. Espelho normal ao eixo tico
22
Figura 2.14. Espelho inclinado
22
Figura 2.15. Esquema de um autocolimador
23
Figura 2.16. Medio de planicidade com rgua padro e blocos
23
padres
Figura 2.17. Medio de planicidade de desempeno
24
Figura 2.18. Medio de ngulos
25
Figura 2.19. pticas para medio angular
27
Figura 2.20. Montagem para medir planicidade
27
Figura 2.21. Nvel de bolha
28
Figura 2.22. Nvel eletrnico
29
Figura 3.1. Teste de trs planos
34
Figura 3.2. Esquema para inverso do nvel
35
Figura 3.3. Esquema de montagem para medio de erro de
37
retilineidade
Figura 3.4. Princpio do mtodo STP
38
Figura 3.5. Desalinhamento entre sensores (Tanaka e Sato, 1986)
39
Figura 3.6. Princpio do mtodo STRP (Tanaka e Sato, 1986)
41
Figura 3.7. Princpio do Mtodo Combinado (Kiyono e Gao,1994)
43
Figura 3.8. Mtodo com trs apalpadores (Gao et al,2002)
44
Figura 3.9. Desalinhamento entre os sensores (GAO et al,2002)
45
Figura 3.10. Comparao entre MMQ e Mnimo Desvio
48
Figura 3.11. Determinao do modelo 1-1
50
Figura 3.12. Rotao dos planos de Controle para formar
50
modelo2-1
Figura 5.1.Representao da mquina de medir a trs
70
coordenadas do tipo ponte mvel

Figura 5.2. Garra de medio
70
Figura 5.3. Esquema do sistema de medio
71
Figura 5.4. Mtodo das linhas diagonais
72
Figura 5.5. Union jack
72
Figura 5.6. Mtodo de grades retangulares
72
Figura 5.7. Linhas para coleta de dados
72
Figura 5.8. Tela do programa computacional
73
Figura 5.9. Fluxograma para coleta de dados
74
Figura 5.10. Fluxograma dos mtodos de separao de erros com
75
2 e 3 sensores propostos por Tanaka e Sato (1986)

Figura 5.11. Clculo do desvio de planicidade
78
Figura 5.12. Medio da pea teste com nvel eletrnico
80
Figura 5.13. Foto da medio da pea teste com interfermetro a
81
laser
VI
Lista de Grficos
Grfico 6.1: Comparao entre os resultados obtidos com cada
91
uma das combinaes de sensores.

Grfico 6.2: Comparao entre os resultados obtidos com cada
uma
das
combinaes
de
sensores
92
desalinhamento eliminado
Grfico
6.3-a
Erro
de
retilineidade
rgua
de
ao
com
93
rgua
de
ao
sem
93
Grfico 6.4: Erro de retilineidade rgua de granito calculado com
94
desalinhamento
Grfico
6.3-b
Erro
de
retilineidade
desalinhamento
mtodo proposto por GAO et al,2002.

Grfico 6.5: Resultados do desvio de retilineidade da superfcie
96
idealizada
Grfico 6.6: Erro de retilineidade rgua de ao calculado com
96
mtodo proposto por GAO et al,2002.

Grfico 6.7: Desvio de retilineidade determinados atravs do
97
mtodo STRP
Grfico 6.8-a: Desvio de retilineidade rgua de granito usando
98
mtodo TSP com desalinhamento

Grfico 6.8-b: Desvio de retilineidade rgua de granito usando
98
mtodo TSP sem desalinhamento

Grfico 6.9-a: Desvio de retilineidade rgua de ao usando
99
mtodo TSP com desalinhamento

Grfico 6.9-b: Desvio de retilineidade rgua de ao usando
99
mtodo TSP sem desalinhamento

Grfico 6.10: Resultado do experimentos realizados para verificar
100
repetibilidade dos mtodos de separao de erros

Grfico 6.11 : Erros de planicidade medidos utilizando diferentes
sistemas de medio
102
VII
Lista de Tabelas
Tabela 2.1. Exemplos de aplicao de desempenos
19
Tabela 3.1. Comparao entre os mtodos ( Weber et al, 2002)
54
Tabela 3.2. Fator de abrangncia e seu respectivo nvel de
59
confiana assumindo uma distribuio normal (gaussoana)

Tabela 6.1. Leitura dos sensores A, B e C em sistema idealizado
95
Tabela 6.2. Leitura dos sensores A, B e C em sistema sem
95
desvios geomtricos e com sensores desalinhados

Tabela 6.3. Equaes usadas para separao de erros com
98
mtodo de TSP
Tabela 6.4. Comparao entre sistemas de medio
102
Tabela 6.5. Incerteza no clculo de 0, u(0)
104
104
104
Tabela 6.8. Incerteza no clculo de Mx(dist ) , u ( Mx(dist ))
105
Tabela 6.9. Incerteza no clculo de Mn(dist ) , u ( Mn(dist ))
105
Tabela 6.10. Incerteza do resultado da medio de desvio de
106
planicidade
VIII
Resumo
MAGALHES,
R.C.A..
Sistema
para
Medio
de
Desvio
de
Planicidade. Dissertao (Mestrado). Escola de Engenharia de So

Carlos. Universidade de So Paulo.2005.
A acuracidade dos processos de medio e de montagem que

utilizam os desempenos como referncia depende principalmente da
planicidade
dessas
superfcies.
Se
referncia
est
fora
das
especificaes intil utilizar instrumentos sofisticados e de alta

acuracidade.
Neste trabalho apresentado um sistema para medio de desvios
de planicidade de desempenos. O sistema constitudo por dois
transdutores de deslocamento do tipo LVDT fixados no eixo z de uma
Mquina de Medir a Trs Coordenadas (MM3C).
Durante a medio a inteno avaliar apenas os desvios da
superfcie, no entanto os mancais das MM3C no se deslocam
perfeitamente e as leituras obtidas so as componentes dos desvios da
superfcie e do movimento dos mancais. Para eliminar os componentes
de erros da mquina dos dados medidos, pode-se usar as tcnicas de
separao de erros, e ento, o desvio da superfcie pode ser
determinado.
O sistema de medio proposto possui uma interface eletrnica
que possibilita a aquisio dos sinais da rgua ptica da MM3C e dos
transdutores de deslocamento do tipo LVDT. Possui, tambm, um
programa computacional que utiliza as tcnicas de separao de erros
para determinar o desvio de planicidade do mensurando.
O sistema desenvolvido foi utilizado para medir o desvio de
planicidade de uma superfcie. Para verificar a eficincia do mesmo foi
realizada uma comparao entre os valores de erro de planicidade
obtidos atravs de medio com o sistema proposto e aqueles obtidos
com interfermetro a laser e nvel eletrnico.
Palavras Chaves: Metrologia Dimensional, Desvio de Planicidade,
Tcnicas de Separao de Erros.
IX
Abstract
The accuracy of measurement and assembly process using
surface plates depends mainly on these surfaces flatness. If the surface
plate does not meet the flatness specification, it is ineffective to apply
high technology instruments of measurement.
This research proposes is to develop a flatness measurement
system for surface plates using two electronic comparators attached to
the Coordinate Measuring Machine (CMM).
During a measurement process, the purpose is to evaluate the
workpiece profile. However, the signals picked up by sensors include
the workpiece profile and component motion error. In order to separate
these errors, error separation techniques can be applied.
The proposed measurement system has an electronic interface to
collect data from the CMM optical scale and from the electronic
comparators. The collected data are sent to a computer prepared with
an algorithm for applying the error separation equations and for
compute the flatness error.
A surface was measured using the proposed measurement
system. To evaluate its efficiency, the results were compared to the
measurements made using electronic level and laser interferometric
system.
Keywords:
Technique.
Dimensional
Metrology;
Flatness;
Error
Separation
CAPTULO 1
INTRODUO
A economia capitalista mundial, caracterizada pelo dinamismo do

ambiente competitivo tem acelerado o desenvolvimento de tecnologias
ligadas diretamente produtividade industrial. a necessidade cada
vez mais premente de aumentar a produtividade, melhorar a qualidade
e de reduzir custos dos produtos manufaturados que leva os pases a
investirem na procura de novas tecnologias e na automatizao dos
processos de fabricao e inspeo.
Das diversas fases da manufatura de um produto, uma das
importantes o controle de qualidade, nesta fase as dimenses das
peas so medidas e comparadas aos valores especificados no projeto.
Os erros de forma, orientao e posio tambm so medidos e
comparados
aos
valores
especificados
para
garantir
bom
funcionamento do produto final e muitas vezes a intercabiabilidade.

O controle dos erros de forma e em especial o de planicidade se faz
necessrio em vrios casos e os mais diferentes como, por exemplo, dar
conforto e segurana s pessoas que utilizam rodovias e pistas de pouso
de aeroportos. Um outro aspecto o econmico, j que aumentar a
qualidade de um produto implica em torn-lo mais competitivo. Isto
pode ser verificado, por exemplo, no processo de laminao, uma das
reas
do
setor
siderrgico.
partir
de
diversas
intervenes
tecnolgicas ganhos de produtividade foram conseguidos e garantiram o

diferencial do produto, colocando a siderurgia brasileira dentre as mais
competitivas do mundo. A melhoria da planicidade dos laminados
permitiu atender aplicaes crticas, especialmente nos setores de
eletrodomsticos, mveis de ao, construo civil e etc.
Outros casos em que se deseja controlar a planicidade que podem
ser mencionados so o encaixe de peas, o contato de superfcies, em
mesas de montagem, diversos elementos de mquinas, instrumentos de
medio
mecnica,
instrumentos
ticos
utilizados
na
medicina,
odontologia, astronomia entre outros. Os limites de imperfeio do

plano so de grande interesse, tambm, na construo de mquinas
ferramentas onde o assento de carros e caixas de engrenagens sobre
guias prismticas ou paralelas e mesas de fixao das peas tm grande
influncia na preciso exigida da mquina.
planicidade
dessas
superfcies.
Se
referncia
est
fora
das

acuracidade.
Assim, diante do exposto, este trabalho tem por objetivo apresentar
um sistema para medio de desvios de planicidade de desempenos. O
sistema de medio possui uma interface eletrnica que possibilita a
aquisio dos sinais da rgua ptica da MM3C e dos transdutores de
deslocamento do tipo LVDT e uma interface computacional que utiliza
os sinais adquiridos para calcular o desvio de planicidade de uma

superfcie.
planicidade de uma superfcie. Para verificar a eficincia do mesmo foi
com interfermetro a laser e com nvel eletrnico.
Para um melhor entendimento, uma breve descrio dos captulos
do trabalho encontra-se na seqncia.
No captulo dois so descritos uma srie de sistemas de medio
de desvio de planicidade desenvolvidos ao longo do ltimo sculo. Alm
disso, apresentada a definio de desvio de planicidade de acordo com
as normas tcnicas. Uma parte do captulo dedicada descrio dos
processos de fabricao e medio de desempenos.
No captulo trs so apresentadas as tcnicas de separao de
erros do sistema de medio e do mensurando e
os algoritmos para
clculo do desvio de planicidade.

No captulo quatro, apresentado o sistema proposto para
medio de desvio de planicidade.
No captulo cinco, o sistema proposto descrito detalhadamente.
A interface entre mquina e microcomputador e o algortimo para
clculo do desvio de planicidade so apresentados. Por ltimo, so
introduzidas as equaes para clculo da incerteza das medio
realizadas com o sistema proposto.
No captulo 6 os resultados obtidos nos testes experimentais e
uma discusso sero apresentadas.
As concluses e as sugestes para trabalhos futuros esto
apresentadas no captulo 7.
CAPTULO 2
DEFINIO E MTODOS DE MEDIO DO DESVIO

DE PLANICIDADE
As fontes de erros so atribudas normalmente presena de

foras de corte no processo de usinagem, aos erros nas guias das
mquinas, variaes trmicas durante o processo de usinagem, falta
de rigidez da mquina e a deformaes devido ao prprio peso da pea
(Day e Marples, 1972).
Os desvios de forma so definidos como o grau de variao das
superfcies reais com relao s geometrias ideais que as definem e
podem
ser
divididos
em
desvio
de
retilineidade,
circularidade,
cilindricidade e planicidade. O bom desempenho de sistemas mecnicos
est ligado ao grau de conformidade das formas reais com suas

geometrias euclidianas equivalentes, isto , dentro das tolerncias
estabelecidas. A necessidade de avaliar o erro de planicidade justifica-se
em muitas aplicaes. A seguir esto apresentadas algumas dessas
aplicaes e para facilitar a apresentao, as superfcies esto
classificadas
de
acordo
com
suas
dimenses.
Segundo
essa
classificao as superfcies esto divididas em muito grandes, grandes,

mdias e pequenas.
As pistas de pouso de aeroportos, rodovias, pisos de depsitos e de
fbricas so chamadas de superfcies muito grandes. As normas do ACI
(American Concrete Institute) especificam os mtodos de medio e as
tolerncias de planicidade e de nivelamento para tais superfcies.
Desempenos, guias e mesas de mquinas ferramentas utilizados
durante fabricao de peas, medies e montagem de conjuntos so
consideradas superfcies grandes e a medio do erro de planicidade
pode ser feita com o auxlio de transdutores de deslocamento do tipo
LVDT, de autocolimador, de interfermetro laser, de nvel eletrnico ou
de nvel de bolha.
Peas como selos mecnicos, blocos de motores e discos de
embreagem so classificadas como peas mdias. A medio dos erros
de planicidade dessas peas pode ser realizada com a utilizao de
LVDT,
rgua
padro
ou
MM3C
(Mquina
de
Medir
Trs
Coordenadas). Em peas mdias o desvio de planicidade deve ser

controlado, por exemplo, para melhorar o contato entre superfcies. O
contato imperfeito entre a face superior do bloco de motores e a face
inferior do cabeote pode, por exemplo, causar vibraes e perda de
potncia. Os selos mecnicos, utilizados em bombas hidrulicas,
tampas de redutores e crteres, tm a funo de vedar e devem permitir
o contato pleno para impedir o vazamento de fluidos. As faces de
contato entre volante de motor e disco de embreagem devem ter baixo
desvio de planicidade para garantir a transmisso adequada de
potncia
Blocos padres e sapatas de contado de micrmetros so

classificadas como peas pequenas. A inspeo do desvio de planicidade
em tais superfcies feita com paralelos pticos ou planos pticos.
O maior tamanho da superfcie no implica em tolerncias maiores
para o desvio de planicidade como pode ser visto nos desempenos que
possuem tolerncias na faixa de 8m e so classificados como
superfcies grandes. J a face superior do bloco de motor, classificado
como superfcie mdia, possui tolerncias por volta de 30m. Portanto,
o valor tolerado determinado a partir da aplicao da superfcie.
Este captulo apresenta uma ampla reviso bibliogrfica sobre
desvio de planicidade, definio de desvio de planicidade e algumas
consideraes sobre instrumentos de medio do desvio de planicidade.
2.1 DEFINIO PARA PLANICIDADE E TOLERNCIA DE

PLANICIDADE
Para definir um plano so necessrios trs pontos no colineares,

ou um ponto e uma reta, ou duas retas. Por esta definio um plano
no possui espessura e, portanto, no possui vales nem picos, sendo
perfeito para ser utilizado como referncia nas medies e nos
processos de fabricao. No entanto, no se consegue fabricar tal plano
e por isto tolerncias so especificadas para os pontos que ficam fora do
plano ideal, devendo existir um limite para o quanto fora eles esto. A
seguir so apresentadas algumas definies para o erro e para
tolerncia de planicidade segundo ASME, BSI, JIS e ABNT.
De acordo com a BSI (British Standarts Institution) a zona de
tolerncia de planicidade limitada por dois planos paralelos e a
distncia entre eles o valor tolerado.
Segundo a JIS (Japanese Institution for Standarts) a planicidade de
uma superfcie de trabalho expressa pela dimenso do intervalo
mnimo entre dois planos paralelos.
Segundo a ASME (The American Society of Mechanical Engineers)

planicidade a condio de uma superfcie com todos os seus
elementos em um plano. A tolerncia de planicidade definida por dois
planos paralelos, distantes de t, entre os quais a superfcie deve
pertencer, Figura 2.1.
0,25
Zona de Tolerncia
de largura 0,25
Figura 2.1- Tolerncia de planicidade segundo ASME
Conforme a ABNT (Associao Brasileira de Normas Tcnicas) o

campo de tolerncia limitado por dois planos paralelos, distantes de
t, entre os quais deve estar situada a superfcie em considerao,
Figura 2.2.
0.08 de
tolerncia
Figura 2.2- Tolerncia de planicidade segundo ABNT
As normas citadas acima foram escritas quando, apenas blocos

padres eram usados para inspeo, causando ambigidades quando
vrios pontos sobre a superfcie passaram a ser tomados para
caracterizar a superfcie (Carr e Ferreira, 1995). Esse problema levou os
membros das comunidades de normalizao a desenvolver uma

definio matemtica para tolerncias geomtricas. As definies foram
documentadas na norma ANSI Y14.5.1M-Draft: Mathematical Definition
of Dimensioning and Tolerancing Principle no ano de 1993. De acordo
com essa norma, zona de planicidade um volume em que todos os
pontos, P i , satisfazem a condio:
T Pi A
t
2
Figura 2.3- Zona de tolerncia de planicidade

Sendo, T o vetor direo dos planos paralelos que definem a zona
de tolerncia; A o vetor posio localizado no plano mdio da zona de
tolerncia e t a distncia entre os dois planos paralelos que contm
todos os pontos medidos, como mostrado na Figura 2.3.
2.2 PRINCPIOS DE GERAO E MEDIO DE SUPERFCIES

PLANAS
Em 1817 Richard Roberts inventou a plaina possibilitando a

fabricao de superfcies planas e paralelas com maior produtividade
(Busch, 1988). Essas superfcies possuam, porm, baixa acuracidade.
Mas quem poderia garantir acuracidade se ainda no existiam

instrumentos precisos de medio nem planos de referncia?
Joseph Whitworth, h 150 anos, j sabia da importncia dos plano
de referncia. Percebendo que no poderia existir manufatura precisa
sem medies precisas, e que no poderiam existir medies precisas se
no existissem planos de referncia, Whitworth desenvolveu o mtodo
das trs chapas para gerar um plano de referncia. Esse mtodo utiliza
trs peas de ferro fundido e consiste na anulao dos erros da
superfcie de cada plano combinando-as duas a duas, colocando suas
superfcies em contato e movendo-as uma contra a outra. Obtendo
assim, trs superfcies com baixo erro de planicidade (Busch, 1988).
Desde ento, o homem comeou a estudar mtodos para a medio
de desvios de planicidade de superfcies de referncia e tambm de
superfcies onde a planicidade deve ser controlada para garantir sua
funcionalidade.
Em 1962, Gale e Wilson desenvolveram uma mquina para medir
desvio de planicidade em superfcies com dimenses mximas de 95mm
x 95mm x 19mm. O princpio de funcionamento da mquina simples.
A pea a ser medida colocada sobre trs parafusos de regulagem no
desempeno da mquina. Ajustando os parafusos gera-se um plano de
referncia e as alturas da superfcie so medidas pneumaticamente. A
vantagem desse tipo de medio a ausncia de carregamento sobre a
pea. O desempenho da mquina foi verificado atravs da medio de
um plano ptico. A acuracidade conseguida foi de 38m.
Uma mquina de polimento com prato de 305mm de dimetro foi
usada por Dickinson em 1968 para fabricar superfcies pticas com
baixo erro de planicidade. Os desvios de planicidade do prato eram
modificados por trs anis posicionados junto ao prato, como pode ser
visto na Figura 2.4. Movendo os anis para dentro ou para fora do prato
a forma da superfcie modificada de cncava para convexa. Entre
essas condies existe uma posio dos anis em que o prato
permanece plano. Encontrada a posio adequada dos anis, a
mquina est pronta para trabalhar e novos ajustes raramente so
10
necessrios. Superfcies de 101mm de dimetro foram polidas com essa

mquina e o erro de planicidade foi menor que 0,6m.
Anel 1
Direo de
rotao
Anel 3
Anel 2
Figura 2.4- Mquina de polimento
Day e Marples fizeram, em 1972, adaptaes no instrumento

Talylin de medio de rugosidade de forma a habilit-lo a medir desvios
de planicidade. O Talylin possui um plano ptico que opera como
referncia sobre a qual corre uma guia de nylon. Qualquer movimento
da agulha, fixado na guia de nylon, medido com relao linha de
referncia. Quando a agulha usada possui ponta com raio de curvatura
bastante grande a resposta rugosidade minimizada, aparecendo
apenas as ondulaes com maiores comprimentos de onda, ou seja, os
desvios de forma.
Para habilitar o Talylin para medir planicidade, uma mesa de
referncia, ajustvel atravs de trs parafusos de regulagem, foi
construda e montada sobre a mesa rotativa. Mesa de referncia, mesa
rotativa e pea foram centralizadas, assim, a agulha percorre o mesmo
raio quando a mesa rotativa gira 180. A guia de nylon permite a
medio de vrios raios sobre a pea.
Os erros de batida da mesa rotativa e os desvios de retilineidade da
guia de nylon diminuem a acuracidade das medies. A acuracidade foi
verificada substituindo a mesa de referncia por um plano ptico com
11
erro de planicidade de 0,025m e feitas medies com o Talylin. O erro

de planicidade do plano ptico foi de 1,3m. Parte desse erro, 0,3m,
deve-se ao desvio de retilineidade da guia de nylon e 1m de erro surge
devido a inacuracidade do giro da mesa rotativa. O autor sugeriu para
separar os erros causados pela mesa rotativa a utilizao de mtodos de
reverso.
Medies de erro de planicidade auxiliadas por computador foram
feitas por Birch em 1976. Para examinar a superfcie de interesse foram
feitos vrios interferogramas e esses foram correlacionados usando um
programa computacional desenvolvido por Birch e Cox (1973). O autor
fez medies do desvio de planicidade de um espelho e os resultados
demonstraram
eficincia
da
associao
de
interfermetro
de
incidncia oblqua com microcomputador. Alm disso, o autor verificou

o comportamento da superfcie de acordo com o tipo de apoio utilizado.
Durante a medio o mensurando foi colocado sobre trs tipos
diferentes de suportes: trs suportes igualmente espaados em uma
circunferncia de raio 0,95R, onde R o raio do espelho medido; trs
suportes eqidistantes no raio de 0,70R e seis suportes igualmente
espaados no raio de 0,70R. A forma da superfcie foi modificada em
cada uma das configuraes e foi atribuda ao da gravidade e
fora dos suportes, como j havia sido discutido por Dew em 1966.
Nomura et al utilizaram, em 1992, o interfermetro de Fizeau para
medio de erros de forma durante o processo de fabricao.
Verificaram que o interfermetro no pode ser usado durante a
fabricao devido a vibraes e gradientes de temperatura no ambiente.
No entanto, afirmaram que se a mquina ficar parada por dez minutos
as medies podem ser feitas com o interfermetro sem influncias
externas. A vantagem que a pea no precisa ser retirada da mquina.
Continuando o trabalho de medio de erro de forma durante a
fabricao de superfcies planas, Nomura et al apresentaram, em 1993,
um sistema de medio usando o interfermetro com sistema ptico tridimensional montado em uma mquina de usinagem de alta preciso.
Foi feita a medio do erro de espelhos girando a 900rpm e em
12
velocidades menores. Os resultados foram os mesmos para vrias

velocidades e concordaram com os valores estticos, obtidos com o
interfermetro de Fizeau.
O objetivo da medio de plancidade determinar o desvio de uma
superfcie com relao a outra plana padro. Para esse tipo de medio
comparativa pode ser usada projeo de luz, como no interfermetro de
Fizeau. O interfermetro de Fizeau constitui de uma superfcie de
referncia, uma fonte de luz colimada e monocromtica e um visor para
observar as franjas de interferncia e usado para medir desvio de
planicidade.
superfcie
de
referncia
usada
nesse
tipo
de
interfermetro a face de planos pticos.

Planos ticos para aplicaes metrolgicas so normalmente feitos
de quartzo, podem ter vrias dimenses e sua superfcie acabada de
forma a se ter uma superfcie prxima de um plano perfeito. Quando o
plano tico colocado sobre uma superfcie refletora com um pequeno
ngulo de inclinao e luz monocromtica incide sobre o plano tico so
formadas as franjas de interferncia.
A Figura 2.5 apresenta o caminho percorrido pelo feixe de luz. O
raio quando atinge a superfcie A refratado para a superfcie B com
um certo ngulo de inclinao. Na superfcie B, parte do raio refletida
para C enquanto a outra parte atinge a superfcie E, onde refletido
percorrendo o caminho BEF. Um observador em DH ver a combinao
destes dois raios.
P. ptico
Figura 2.5: Plano tico
13
O caminho adicionado BEF pode causar uma diferena de fase

entre os dois raios. Se essa diferena igual a um nmero mpar de
metades do comprimento de onda o resultado da combinao de raios
ser um escuro, pois ocorre o fenmeno de interferncia destrutiva,
caso contrrio, um nmero par de metades do comprimento de onda, o
resultado visvel ser um claro, isto interferncia construtiva
(Sardins,1986).
Em 1997, Fan e Shiou descreveram o sistema desenvolvido em
Taiwan para medio sem contato de erro de planicidade de superfcies
de tamanho mdio, como lminas de metal e superfcies de vidro. O
sistema consiste em fonte laser He_Ne com boa estabilidade, pticas
montadas em uma plataforma que pode ser rotacionada para modificar
a direo do raio laser, lente colimadora para converter os raios laser
divergentes em paralelos, uma estao linear para movimentar a pea
para a posio de medio, uma tela para projetar os raios refletidos
pela superfcie de teste, cmera para capturar a imagem projetada e
unidade de processamento de imagem para digitalizar a imagem
projetada. O esquema do sistema PBSS (parallel beam scanning system)
pode ser visualizado na Figura 2.6.
Controle
Rotao
Controle Motor de Passo

Controle
Motor de Passo B
Figura 2.6: Sistema PBSS para medio de erro de planicidade
14
O sistema PBSS faz medio do ngulo de inclinao de cada parte

da superfcie e os ngulos so convertidos em altura, como pode ser
verificado na Figura 2.7.
Tela
Superfcie 2
Superfcie 1
Figura 2.7: Converso de ngulo em altura
Os autores fizeram medio de uma mesma pea com o sistema

PBSS e com a MM3C e os resultados foram
117m e 122m,
respectivamente.
Durante a fabricao de chapas, os rolos de laminadores so
imperfeitos e no exercem presso uniforme sobre a chapa. Em
conseqncia, o incremento no comprimento no ser o mesmo em
todos os pontos da seco da chapa. Essas variaes de comprimento
geram tenses internas na chapa, produzindo deformaes, chamadas
desvios de planicidade (Garcia et al, 1999).
Paakkari, Ailisto e Kopola (1998) mediram desvio de planicidade de
chapas de ao laminados com 3,5m de largura e comprimentos que
podem variar de 4m a dezenas de metros. O sistema deveria cobrir
100% da chapa enquanto essa se desloca na linha de produo e as
chapas possuam desvio de planicidade na faixa de 6mm por metro. A
medio de planicidade foi feita usando princpio de Moir. Uma cmera
observa as franjas formadas e envia os dados para o microcomputador.
A Figura 2.8 ilustra o princpio de medio de formas 3D por
franjas de moir. Uma grade, formada por uma srie de linhas finas,
15
retas e paralelas impressas em uma placa de vidro, obliquamente

iluminada e projeta sua sombra sobre a superfcie a medir. Uma
cmera digital observa frontalmente a superfcie a medir atravs da
grade. O encontro entre as sombras na chapa e as prprias linhas da
grade d origem a regies claras e escuras denominadas de franjas de
moir.
Figura 2.8: Princpio de medio de forma

3D atravs de franjas de moir
Garcia et al (1999), tambm preocupados com a qualidade dos

laminados, desenvolveu um sistema integrado ao processo de laminao
para inspecionar o desvio de planicidade. O sistema possui 5 pticas,
um diodo laser e uma cmera. As variaes de altura da chapa so
medidas em posies igualmente espaadas atravs de tcnica de
triangulao ptica. Foram feitos testes em diferentes elementos com
desvios conhecidos. O erro relativo foi pequeno, chegando a 3,75% no
pior caso. A acuracidade desse sistema de 0,1mm.
Medies usando mtodo de triangulao so to antigas quanto
as pirmides do Egito. Quando usada em conjunto com laser e
fotodiodo uma poderosa ferramenta metrolgica (Slocum, 1992).
Nesse mtodo a unidade laser envia um raio de luz monocromtico para
a superfcie, onde refletido para uma cmera. A Figura 2.9 mostra
que se a altura da chapa variar h o caminho da luz modificado.
16
Detector
Lente
Figura 2.9: Medio por triangulao
Na indstria metal-mecnica o processo de retificao usado

para conseguir superfcies com bom acabamento e tolerncias estreitas.
No entanto, deflexes mecnicas associadas pea e ferramenta
impedem
que,
em
um
passe,
tolerncias
apertadas
sejam
conseguidas (Hekman e Liang, 1998).

No processo de retificao a fora proporcional taxa de remoo
de material, de forma que, se a profundidade de corte reduzida, a
fora decresce. Outros fatos que influenciam a fora de retificao so
propriedades do material, rea de contato entre o rebolo e a pea e
velocidade de rotao do rebolo. Como a rea de contato e a taxa de
remoo de material modificam durante a usinagem, a fora tambm
modificada. Essas variaes causam deflexes na mquina reduzindo a
capacidade de gerao de superfcies planas. Para aprimorar a
planicidade de superfcies usinadas em retificadoras verticais, Heckman
e Liang manipularam a profundidade de corte para compensar as
deflexes mecnicas que indiretamente influem na planicidade da
superfcie.
Para medir a fora de usinagem vertical, um dinammetro foi
colocado entre a mesa da mquina e a pea, possibilitando o clculo da
deflexo relativa entre rebolo e pea. Um controlador foi usado para
verificar a tendncia de deflexo do rebolo e manipular a profundidade
de corte, minimizando, portanto, o erro. A qualidade da superfcie foi
melhorada em 5 vezes no melhor caso e em 2 vezes no pior caso.
17
Para aumentar a qualidade de filmagens, feitas por astrnomos,

detectores CCD de 2048 x 4096 pixels quadrados so montados lado a
lado para se ter detectores de 16384 x 16384 pixels quadrados. Para
ser usado sem comprometimentos, os detectores devem ser montados
com desvio de planicidade mximo de 30 m (Strbele, 2001). Strbele
desenvolveu um instrumento para medir os desvios de planicidade
dessas placas de detectores. A superfcie a ser medida colocada sobre
uma mesa x-y controlada por motor de passo. No eixo vertical
colocado um sensor de triangulao. Os dados do sensor e dos motores
so enviados para um microcomputador preparado com programa
computacional para determinar o valor do desvio.
Gao et al desenvolveram, em 2002, uma sonda bi-dimensional com
resoluo de 0,01 arc-segundo para medir planicidade de placas de
silcio (silicon wafers) com dimetro entre 300 e 500mm usadas para
montagem de componentes eletrnicos.
A sonda usa o princpio do
autocolimador para detectar as duas componentes de inclinao de um

ponto da superfcie. O sistema constitui de uma unidade sensora com
duas sondas angulares bidimensionais movimentadas por uma guia
linear na direo radial da placa, que rotacionada por um eixo. De
acordo com Gao o perfil de planicidade da superfcie pode ser avaliado a
partir das sadas das sondas sem as influncias dos desvios de
movimentao da guia e do eixo.
Nos anos 30 foi desenvolvido um prottipo de um interfermetro
para medio de bloco padres. Baseado nesse prottipo foi feito o
projeto final e a construo de um interfermetro no NPL (National
Phisical Laboratory) em Londres. As fontes de iluminao eram
lmpadas de cdmio e mercrio. Franjas de interferncia eram
formadas pelo encontro da luz refletida do plano ptico e do
mensurando.
Observando as franjas de interferncia, atravs de um
visor, o desvio de planicidade podia ser estimado (Howick et al, 2003).

No ano de 2003, foi feita, na Nova Zelndia, a automao desse
interfermetro. A lmpada de cdmio foi substituda por fibra ptica
18
alimentada por radiao laser. Uma cmera foi usada para filmar as
franjas e enviar a imagem para o microcomputador.
Com a mquina automatizada o tempo de medio caiu
significativamente. Com o interfermetro original demorava-se 2 horas e
30 minutos para medir 10 blocos padres, agora, gasta se 30 minutos.
No sistema original a incerteza de medio era de 0,07 franja. A
incerteza de medio com a mquina semi-automtica, sem a cmera
CCD, foi de 0,005 franja. Com a colocao da cmera CCD, a incerteza
aumentou para 0,028 franja.
Foi publicado, em outubro de 2003, um sistema para medio de
planicidade sem contato de superfcies de at 2,6 x 0,5m2. Pavageau et
al descreveram o sistema que consiste de duas guias movidas por
motores, sendo uma das guias responsvel pelo movimento vertical e a
outra pelo movimento horizontal. No eixo vertical, laser e cmera CCD
foram fixados para medir a distancia at a placa medida. A cada
posio (x, y) ao longo da chapa so coletadas as medies. Como as
guias no so retilneas, dois raios laser foram usados para gerar a
referncia, como pode ser visto na Figura 2.10.
Raio
laser
Mensurando
Figura 2.10: Sistema de medio de planicidade sem contato
19
2.3 SUPERFCIES DE REFERNCIA E OUTROS MTODOS DE

MEDIO DE DESVIO DE PLANICIDADE
A percepo de planicidade na indstria metal mecnica est

amplamente associada s superfcies de referncia. Os desempenos
representam os meios mais utilizados para estabelecer planos de
referncia,
para os mais diversos tipos de medio dimensional
mecnica. A Tabela 2.1, a seguir, apresenta algumas das aplicaes

mais comuns.
Tabela 2.1: Exemplos de aplicaes de desempenos
Tipo de medio
Dispositivos
Blocos para
Paralelismo
suporte e
indicador
Traador de
Distncia linear
altura e
apalpador
Comprimento
Blocos padro e
apalpador
Diagrama
20
Pode-se
dizer
que
desvio
de
planicidade
principal
caracterstica funcional dos desempenos. A falta de planicidade nessas

superfcies afeta diretamente as medies nele realizadas.
Os desempenos podem ser fabricados em granito, ferro fundido e
ao. As vantagens dos fabricados em granito so a elevada dureza e o
fato
de
no
oxidarem.
Alm
disso,
so
termicamente
estveis,
resistentes ao desgaste, fceis de limpar e no magnticos.

O granito tolera bem a gua. Por isso so fceis de limpar, no
oxidarem nem so corrodos.
Os desempenos de ferro fundido, ao
contrrio, no s se enferrujam como induzem a ferrugem nas peas

que repousam sobre ele. Para diminuir esse problema, a superfcie de
trabalho
deve
ser
lubrificada.
No
entanto,
leo
atrai
poeira,
acrescentando erros na medio e acelerando o desgaste.

Os desempenos de ferro fundido sofrem interferncia at do calor
gerado por pessoas sua volta. J os desempenos de granito possuem
grande
estabilidade
trmica.
Fato
que
tambm
pode
ser
uma
caracterstica negativa, pois demoram a atingir a temperatura ambiente.

Quando a umidade alta, vapor se condensa sobre a superfcie
enquanto o equilbrio trmico no atingido. Fazendo com que as
superfcies de ao sobre o desempeno oxidem (Busch, 1988).
A fabricao de desempenos exige controle rgido de qualidade.
Quando fabricados em granito, as pedras so cortadas em fatias
grossas. Na Figura 2.11 pode-se visualizar uma mquina para serrar
granito. Algumas das peas serradas so selecionadas e polidas at
possurem desvio mdio da ordem de micrometros. As operaes
seguintes so feitas em cmeras climatizadas. As superfcies so
medidas usando um equipamento chamado repeat-o-meter e as reas
com irregularidades so polidas.
O repeat-o-meter possui duas partes: uma mvel e outra fixa. A fixa
colocada sobre a parte do desempeno tomada como referncia. A
mvel, bem mais leve que a parte fixa, desloca-se de acordo com o
desvio da superfcie. Como pode ser visto na Figura 2.12, o apalpador
21
fixado numa extenso da parte fixa e sua ponta encosta na parte mvel
e, assim, os desvios da superfcie so medidos.
Figura 2.11: Mquina de serrar granito
O repeat-o-meter usado apenas para medies grosseiras.

Quando a superfcie atinge limites mais finos de planicidade as
medies passam a ser feitas com autocolimador.
Figura 2.12: Repeat-o-meter _ instrumento para medio de

planicidade em desempenos
22
O autocolimador usado para medio de pequenos ngulos. Sua

aplicao possvel devido possibilidade de colimar os raios de luz,
como ilustra a Figura 2.13.
Figura 2.13: Espelho normal ao eixo tico
Figura 2.14: Espelho Inclinado
Se uma fonte de luz, O, colocada no foco de uma lente

colimadora os raios de luz sero projetados paralelamente, como mostra
a Figura 2.13. Se os raios paralelos forem refletidos por um espelho em
posio normal ao eixo tico estes retornaro ao foco, posio inicial O.
Se o espelho refletor estiver inclinado de um certo ngulo , Figura
2.14, os raios paralelos sero refletidos com ngulo e convergiro para
uma posio diferente do foco, O, no plano focal a uma distncia x de
O.
x = f , onde f a distncia focal.
Os autocolimadores utilizam o princpio de funcionamento acima

explicado e o esquema de um autocolimador pode ser visto na Figura
2.15. Pode-se observar que a distncia entre o espelho e a lente no
afeta o valor de x. Para se ter sensibilidade, isto , um grande valor de x
para um pequeno desvio angular basta aumentar a distncia focal da
lente.
23
O esquema da Figura 2.15 apresenta um autocolimador comercial

onde a luz emitida pela fonte desviada de 90 do eixo do telescpio por
uma lente de 45 e passa pela objetiva iluminando um espelho parcial
(P), com o desenho de duas linhas cruzadas em O. As linhas cruzadas
esto localizadas no plano focal da objetiva, portanto sua imagem pode
ser vista no infinito. No entanto, se um plano refletor colocado na
direo de projeo a luz refletida para o autocolimador e a imagem
das linhas cruzadas ficar no plano focal. Se o refletor for inclinado de
um certo ngulo a imagem se mover proporcionalmente a este ngulo,
como explicado anteriormente. Para saber qual o deslocamento da
imagem utiliza-se um micrmetro incorporado ao sistema (Galyer e
Shotbolt, 1981). Atualmente, os sinais do autocolimador podem ser
transferidos
para
microcomputador
dispensando
uso
do
micrmetro.
P
Figura 2.15: Esquema de um autocolimador
Outro mtodo utilizado na

medio do desvio de planicidade
de
desempenos
utiliza
rgua
padro e blocos padres. Trs

pontos a, b e c sobre a superfcie
so escolhidos, como indica a
figura, para gerar o plano de
Figura 2.16: Medio de planicidade

com rgua padro e blocos padres
24
referncia terico onde so colocados os blocos de mesma altura. Dessa

forma, o plano que passa pela face superior dos blocos o plano de
referncia. A rgua padro colocada sobre os blocos a e c e um bloco
padro de altura ajustvel colocado no ponto e. A altura ajustada
at que a face do bloco encoste na rgua padro. A rgua agora
colocada sobre b e e para encontrar o desvio do ponto d, em seguida
colocada sobre a e d para encontrar o desvio de f. Os desvios dos
pontos entre b e c so encontrados da mesma forma.
Nvel de bolha, relgio comparador e rgua padro tambm so
muito aplicados para medio de desvio de planicidade. Nas medies
com esses intumentos, o plano de referncia definido por duas rguas
padres colocadas paralelamente sobre o desempeno, como mostra a
Figura 2.17. As duas rguas R1 e R2 so colocadas sobre os calos a,
b, c e d, um deles de altura ajustvel, de forma que as faces das
rguas fiquem paralelas
e pertenam, portanto, ao mesmo plano. O
nvel de bolha usado para esse ajuste.
Figura 2.17: Medio de planicidade de desempeno
A rgua R ajustada perpendicularmente sobre as outras duas e

as alturas so lidas atravs de relgio comparador. A rgua deve ser
rgida o suficiente para no haver interferncia de deslocamentos
causados por flexo.
25
Medio de planicidade pode tambm ser feita atravs de uma srie

de medies angulares tomadas enquanto o instrumento de medio
adotado caminha sobre a superfcie, como pode ser visto na Figura
2.18.
Figura 2.18: Medio de ngulos
A posio A chamada de referncia, ou seja, possui altura zero.

A posio B, cuja distncia de A igual ao comprimento da base do
instrumento utilizado, possui altura determinada atravs do ngulo
medido
do
comprimento
da
base
do
instrumento
(Hewlett-
Packard,1988). Similarmente, a altura dos demais pontos calculada e

relacionada referncia A.
2.4 INSTRUMENTOS MAIS UTILIZADOS NA MEDIO DO

Instrumentos como autocolimador, nvel eletrnico, nvel de bolha

e interfermetro laser so empregados para medio de ngulos e
podem ser aplicados para medir planicidade. Na sequncia so
abordados os principais instrumentos.
26
INTERFERMETRO LASER
O sistema de medio a laser, freqentemente chamado de

interfermetro, consiste nos seguintes componentes:
unidade laser;
trip sobre o qual o cabeote laser colocado;
sensor que temperatura, umidade e presso baromtrica da

atmosfera de medio;
interfermetro que divide os feixes de luz e depende do tipo de

medio a ser feita e
espelho refletor.
As medies com o interfermetro laser so afetadas pela variao
de temperatura, umidade e presso baromtrica. Estes parmetros

afetam a velocidade da luz e, portanto afetam o comprimento de onda
da luz. O comprimento de onda do laser pode variar uma parte por
milho para cada variao de 1C na temperatura; 2,5 mm Hg na
presso baromtrica e 30% na umidade relativa.
Normalmente, o interfermetro laser vem equipado com sistemas
de medio capazes de detectar a variao dos parmetros citados.
Estas informaes so utilizadas para alterar os valores das medies,
compensando as variaes no comprimento de onda do raio laser nas
condies atmosfricas do ambiente.
As pticas utilizadas na medio de deslocamento angulares so
mostradas na Figura 2.19. O feixe laser dividido em dois feixes
paralelos de freqncias F1 e F2 ,no interfermetro angular. A distncia
entre os dois caminhos percorridos pelos feixes conhecida e
inicialmente o ngulo entre o interfermetro e o refletor assumido
nulo. Se o interfermetro ou o refletor movimentado, o comprimento
relativo entre os dois caminhos ir mudar. O sistema de medio
calcula o ngulo baseado na variao das distncias entre os espelhos.
27
Interfermetro
angular
Refletor
angular
F1
F1
F2f2
F2
F2
F1f1
Figura 2.19: pticas para medio angular
O desvio de planicidade pode ser medido utilizando canho (1),

interfermetro (2), refletor (3), rgua (4) e espelho para desviar o feixe
(5). O esquema de montagem para esta medio pode ser visto na
Figura 2.20.
Figura 2.20: Montagem Para Medir Planicida
- NVEL DE BOLHA:
Esse instrumento constitudo por um tubo de vidro, na forma de

um arco, fechado e quase cheio com um lquido de baixa viscosidade,
por exemplo: lcool. O pequeno espao que no preenchido com o
lquido forma uma bolha que sempre ficar no ponto mais alto do arco.
28
A Figura 2.21 apresenta o nvel de bolha (com curvatura

exagerada) com a bolha na posio central. O raio R deve ser constante
para que haja correspondncia entre o valor indicado L e o ngulo de
inclinao . A relao simples:
L = R
(2.1)
A resoluo do nvel definida como o ngulo de inclinao que

causa o movimento da bolha em uma diviso.
Como difcil equipar o nvel de bolha com transdutores eltricos
sua conexo com um microcomputador no pode ser feita facilmente.
Esta desvantagem superada com o nvel eletrnico (Thomas, 1974).
Figura 2.21: Nvel de Bolha
- NVEL ELETRNICO:
O nvel eletrnico composto basicamente por um pndulo e um

sistema eltrico que detecta o movimento desse. O sinal eltrico
amplificado e usado para operar um display LCD. O instrumento pode
ser utilizado para fazer medidas absolutas ou pode funcionar como um
comparador. Possui duas unidades: base do nvel e unidade de medida.
A base do nvel deve ser colocada na superfcie a ser verificada.
Contm um pndulo e um transdutor eltrico sensvel posio do
pndulo. O circuito eltrico essencialmente uma ponte eltrica
balanceada quando o pndulo se encontra eqidistante das duas
bobinas, isto , quando possui inclinao nula. Quando a base do nvel
est inclinada, a ponte desbalanceada e a tenso induzida no
29
transdutor proporcional ao ngulo de inclinao da base do

instrumento.
As vantagens do nvel eletrnico so:
Acuracidade de 0,23% da leitura indicada;

Estabilidade: a variao das leituras devido variao de
temperatura menor que 1% para uma faixa de temperatura de 5C at +40C e
Tempo de resposta de 2 segundos.
Tra n s d u to res
Figura 2.22: Nvel Eletrnico
2.5 EVOLUO DOS ALGORITMOS PARA O CLCULO DO

produo
em
srie
depende
da
qualidade
da
intercambiabilidade entre as peas. Para garantir a equivalncia

funcional entre peas, pequenas variaes dimensionais so permitidas
nos processos de fabricao (Carr e Ferreira, 1995). As variaes na
dimenso ou na forma de peas resultam de erros sistemticos e
aleatrios inerentes ao processo de fabricao. Para estabelecer limites
30
para essas variaes, tolerncias so especificadas no desenho da pea.

As peas so inspecionadas de acordo com os valores de tolerncia
especificados pelo projetista. Tradicionalmente, essas inspees so
feitas com o auxlio de blocos padres e comparadores.
A partir dos anos 80, depois de grande avano nas reas de
metrologia e de computao, passou-se a utilizar sistemas metrolgicos
auxiliados por computadores. Nesses sistemas vrios pontos so
coletados por sensores de medio e depois usados no clculo do desvio
do mensurado. Para esse fim, muitos algoritmos foram desenvolvidos
para avaliar os desvios de forma.
O
mtodo
dos
Mnimos
Quadrados
(MMQ)
amplamente
empregado em equipamentos como as MM3C devido a sua facilidade de

implementao. No MMQ a soma dos quadrados dos resduos
minimizada e por isso o resultado do desvio freqentemente
superestimado. E, portanto, no obedece s condies de mnimos
desvios estabelecidas pela norma ISO/R1101. Uma variedade de
tcnicas foram desenvolvidas para obter resultados melhores, muitas
delas resultando no desvio exato (Weber et al,2002).
Em 1989 Traband et al discutiram um mtodo alternativo para
encontrar o desvio mnimo de planicidade. O mtodo usa a concepo
de casco convexo (convex hull ) que definido como o menor conjunto
convexo que contem todos os pontos medidos. O mtodo procura
iterativamente pares de planos paralelos que contenham todos os
pontos medidos e que satisfaam a condio de mnimos desvios, como
descrito por Chetwynd. O valor mnimo das distncias entre esses
planos paralelos o valor do desvio de planicidade da superfcie.
Huang, Fan e Wu (1993) desenvolveram o mtodo CPRS (control
plane rotate scheme) para encontrar os dois planos paralelos que
satisfaam as condies de mnimos desvios. O mtodo usa o MMQ
para encontrar o plano mdio. Dois planos paralelos ao plano mdio e
que passam pelos dois pontos ortogonalmente mais distantes ao plano
mdio so traados e rotacionados iterativamente at encontrar o plano
de mnimo desvio.
31
Em 1995, Carr e Ferreira apresentaram o modelo Min{Max|ei|}. O

modelo procura o plano de referncia de forma que a distncia mxima
de cada ponto a esse plano seja mnima. A formulao matemtica do
problema no linear e, portanto, de difcil implementao. Por isso,
Carr e Ferreira usaram outro modelo, equivalente ao MinMax, mas que
ao invs de procurar um plano de referncia busca por dois planos
paralelos que contenham todos os pontos medidos com a menor
distncia possvel. A formulao matemtica continua sendo no linear,
no entanto, a funo objetivo e as restries so lineares.
O clculo do desvio de planicidade foi formulado como um
problema no linear por Cheraghi et al (1996). Os autores assumiram
que um dos planos paralelos coincide com o plano x-y e que o outro fica
distncia tf, equivalente ao erro de planicidade da superfcie. O
problema solucionado foi: dados dois planos paralelos distantes de tf,
minimizar tf, de forma que entre esses planos estejam todos os pontos
medidos, depois de rotacionados e transladados. Os resultados foram
comparados aos mtodos de MMQ e de casco convexo e os resultados
foram iguais ou melhores.
Weber et al, em 2002, aplicou expanso de Taylor para linearizar
as equaes obtidas por Cheraghi (1996 ). Os resultados obtidos foram
em torno de 5% maiores que os obtidos com a soluo do problema de
otimizao e 14% menores que os valores obtidos com o MMQ.
32
CAPTULO 3
FERRAMENTAS MATEMTICAS PARA O ESTUDO E

ANLISE DO DESVIO DE PLANICIDADE E CLCULO DA
INCERTEZA DE MEDIO
Mquinas ferramentas capazes de usinar com acuracidade de

micrometros j so realidade no contexto industrial. Essas mquinas,
alm de precisas, tm alta produtividade. Os processos de medio, no
entanto, representam o gargalo dos processos de manufatura.
A qualidade de um processo de medio est intimamente
relacionada com os equipamentos utilizados e com os procedimentos de
coleta e de avaliao dos dados (Cheraghi et al, 1996). Mesmo
equipamentos como as MM3C esto sujeitas a erros. Os erros que mais
afetam o resultado das medies so os erros geomtricos, decorrentes
dos processos de fabricao e de montagem das diversas partes das
33
mquinas de medio. Para eliminar esses erros, inerentes aos

equipamentos de medio, podem-se utilizar tcnicas de separao de
erros. Eliminados os erros gerados pelo equipamento de medio
utilizado, pode-se considerar o processo de medio acurado quanto ao
equipamento.
Outra preocupao necessria quanto ordem de coleta de
dados que normalmente simples, mas se no forem tomados os
devidos cuidados pode por a perder a medio. Obtidos os pontos de
medio deve-se determinar o valor do desvio. Para facilitar esse
processo, algoritmos foram desenvolvidos por muitos autores. Alguns
algoritmos so de fcil implementao, no entanto, superestimam o
valor do erro, fazendo com que peas boas sejam rejeitadas. Outros
algoritmos so de difcil implementao, mas satisfazem o critrio de
mnimos desvios.
Neste captulo so apresentados os fundamentos tericos relativos
s tcnicas de separao de erros do instrumento de medio e dos
erros do mensurando. Descreve tambm, ferramentas matemticas para
determinar o desvio de planicidade e, em seguida so apresentados os
conceitos bsicos referentes incerteza de medio.
3.1 TCNICAS HISTRICAS DE SEPARAO DE ERROS

As medies esto sujeitas a erros e quanto mais desfavorvel o
ambiente de medio, maiores so os erros. Os erros de medio podem
ser divididos em aleatrios e sistemticos. Os erros aleatrios resultam
de influncia externas e internas, no controladas, que provocam o
aparecimento de erros no repetitivos. Os erros sistemticos so
aqueles que se repetem quando as condies de ensaios so mantidas
constantes (ASME, 1997). A maneira de lidar com os erros depende de
sua origem. Os erros sistemticos podem ser pr-determinados e
compensados dos dados de medio. As tcnicas de reverso so formas
simples de determinar esses erros. J os erros aleatrios no podem ser
34
eliminados atravs de mtodos de compensao. Eles podem apenas ser

avaliados durante a medio. A seguir so apresentados alguns
mtodos de separao de erros do instrumento de medio e de erros do
mensurando.
3.1.1 TESTE DOS TRS PLANOS

Como j mencionado neste trabalho, o interfermetro de Fizeau
usa um plano ptico como referncia para as medies. Nessas
condies, a figura interferomtrica mostra as variaes no caminho da
luz entre o plano ptico e o mensurando, e isto diretamente o
resultado da soma algbrica dos erros das duas superfcies. Torna-se
necessrio ento, separar os desvios de planicidade da superfcie de
referncia e o da pea medida (Dew, 1966).
d1
d1
d2
d1
d3
d2
d3
d2
d3
L1=d1 + d2
L2=d1 + d3
L3=d2 + d3
Figura 3.1: Teste de trs planos
Considere trs planos pticos iguais, exceto quanto forma da

superfcie. Comparaes interferomtricas das superfcies podem ser
feitas, combinado-as duas a duas. Na Figura 3.1, d1, d2 e d3
representam o desvio de planicidade de cada uma das superfcies e L1,
L2 e L3 as leituras dos desvios com cada uma das combinaes. Assim,
35
com trs equaes e trs incgnitas, os desvios individuais dos planos

podem ser determinados.
3.1.2 REVERSO DO NVEL

A inverso do nvel a tcnica de separao de erro mais simples.
Assumindo que a superfcie est inclinada com ngulo 2 e o sensor do
instrumento est inclinado de 1, com relao superfcie de referncia
do instrumento, as leituras do nvel sero dadas pelas equaes (3.1) e
(3.2), como mostra a Figura 3.2 (Evans, Hocken e Estler, 1996).
Utilizando essas duas equaes, a inclinao verdadeira da superfcie,
2, pode ser determinada.
L1 = 1 + 2
(3.1)
L2 = 1 2
(3.2)
1
L1
L2
1
2
Figura 3.2: Esquema para inverso do nvel (Evans, Hocken e Estler,

1996)
36
3.2 TCNICAS ATUAIS DE SEPARAO DE ERROS

Uma superfcie plana composta por infinitas linhas. Para a
superfcie estar realmente plana, todas as linhas devem ser retas e
pertencerem ao mesmo plano (Galyer e Shotbolt, 1981). notvel que a
primeira condio mais fcil de se realizar, afinal todas as linhas
podem ser retas, mas a superfcie pode no ser plana.
Muitas vezes, a medio de erro de planicidade se faz pela
medio do erro de retilineidade de vrias linhas dentro da superfcie de
controle. A unio das linhas medidas formar a figura tridimensional da
superfcie. Assim, tcnicas de separao de erros, aplicadas na medio
de erro de retilineidade, podem ser estendidas para a medio de desvio
de planicidade. Algumas dessas tcnicas so descritas a seguir.
3.2.1 REVERSO DA RGUA PADRO

Rguas padres so usadas como referncia para medio de
reteilineidade. No entanto, mesmo uma rgua padro no tem a face de
medio perfeitamente retilnea. Ento os seus erros de forma se
misturam com os erros da mquina dificultando a medio. Este
problema pode ser resolvido por uma tcnica conhecida como tcnica da
reverso da rgua (Campbell, 1995).
A Figura 3.3a mostra uma montagem tpica para a medio de
retilineidade de uma guia utilizando uma rgua padro. Pode-se
observar a rgua e um transdutor de deslocamento que mostra a leitura
I1. Na Figura 3.3b tem-se a rgua padro girada em 180 e o transdutor
posicionado de forma a manter sua direo de sensibilidade com
relao rgua. No transdutor de deslocamento tem-se a leitura I2 (Di
Giacomo, Magalhes e Paziani, 2003). Assumindo-se que o erro de
retilineidade da guia da mquina dado por G(x) e que o desvio da
rgua padro dado por R(x), o indicador de sada In(x) para as duas
posies dado pelas expresses (3.3) e (3.4):
37
I1(x) = G(x) + R(x)
(3.3)
I2(x) = - G(x) + R(x)
(3.4)
Sada do
indicador
a)
R(x)
Rgua
Rgua padro
padro
G(x)
I1=G(x)+R(x)
Guia
I2
Transdutor
I1
R(x)
b)
Rgua padro
G(x)
Mesa
Guia
I2=-G(x)+R(x)
Escala
Figura 3.3: Esquema de montagem para medio de erro de
retilineidade
Deste modo, os erros de retilineidade da guia e o da rgua podem

ser calculados respectivamente por (Evans, Hocken e Estler, 1996):
G(x) =
R (x ) =
I1 ( x ) I 2 ( x )
2
(3.5)
I1 ( x ) + I 2 ( x )
2
(3.6)
3.2.2 MTODO SEQUENTIAL-TWO-POINTS (TSP)

O mtodo Sequential-Two-Points (TSP) foi idealizado de modo a
realizar medidas de retilineidade tomadas com redundncia, Figura 3.4.
38
Dois transdutores so empregados em cada medida. Aps a primeira

medida, o dispositivo que contm os transdutores sofre uma translao
sobre a estrutura de teste. Esta translao corresponde distncia
entre
os
transdutores,
assim,
sempre
haver
uma
medida
redundante.
V
V0
V1
V2
V3
V4
S u p e rfc ie d a p e a
0
D ire o d e
avano
U1
U2
U3
M o v im e n to
da sonda
B
S e n s o re s
Figura 3.4 Princpio do mtodo STP (Tozawa et al, 1982).
Como evidenciado na Figura 3.4, a retilineidade do movimento da

sonda contendo os transdutores designada por U1, U2, U3, ... e a
retilineidade da superfcie sob anlise por V1, V2, V3,.... O deslocamento
relativo entre a sonda e a pea medido pelos sensores A e B (Tozawa et
al, 1982). Como a sonda sempre avanada com a distncia entre os
sensores, um conjunto de deslocamentos relativos entre dois pontos
pode ser obtido:
D 0,B D 0,A = V1
(3.7)
D1,A D 0,A = V1 U 1
(3.8)
D1,B D 0,B = (V 2 V1 ) U 1
(3.9)
D 2,A D 0,A = V 2 U 2
(3.10)
D 2,B D 0,B = (V 3 V1 ) U 2
(3.11)
39
A generalizao destas equaes pode ser escrita como:

D (i 1),B D 0,B = (V i V1 ) U i 1
(3.12)
D i , A D 0, A = V i U i
(3.13)
Desta forma, a retilineidade Ui na i-sima posio da sonda

devido ao deslocamento relativo medido dado:
U i = U i 1 + D (i 1),B D (i ,A )
(3.14)
V i = U i + D i , A D 0, A
(3.15)
Assumindo
que
U0=V0=constante,
sries
de
Ui e
Vi
so
determinados.
O desalinhamento na direo axial dos sensores uma fonte de
erro, como pode ser verificado na Figura 3.5. Os sensores podem ser
usados se antes do incio da medio forem ajustados de forma a
eliminar o desvio . No entanto, pequenas diferenas so deixadas.
Sensor B
Sensor A
Porta Sensores
Figura 3.5 Desalinhamento entre os sensores (Tanaka e Sato, 1986).
Anlises feitas por Tanaka apontaram que essas diferenas geram

incremento linear na medio. Por isso, Tanaka e Sato (1986)
propuseram um novo equacionamento incluindo o desalinhamento . A
Equao 3.14 foi escrita como:
T
U i =U T i 1 + D(i 1), B D(i , A )
(3.16)
40
O valor de no facilmente determinado e U i
no pode ser
determinado diretamente da equao (3.16). Ento, U i introduzida.

C
U i = U C i1 + D(i1),B D(i , A )
(3.17)
Considerando que para o intervalo inicial de medio os valores

do desvio de retilineidade da guia
e da pea so nulos, ou seja,
U 0T = U 0C = V0 = 0 , tem-se a equao (3.18).

U iT = U iC i , i=0...N
(3.18)
A equao (3.18) pode ser resolvida se os desvios de retilineidade

obtidos pelas equaes (3.14) e (3.15) possurem incremento linear,
causado pelo termo i
na Eq. (3.18). Esse termo pode ser
compensado passando uma reta pelos pontos U 0C e U NC . O que faz U NT = 0

e conseqentemente:
U NC
N
(3.19)
Vi pode ser calculado normalmente pela equao (3.15) j que U iT

foi compensado.
3.2.3 MTODO SEQUENTIAL-THREE-POINTS (STRP)
O mtodo Sequential-Three-Points (STRP) distingue no apenas os

erros de retilineidade, mas tambm o erro angular do carro de
movimentao dos sensores. A Figura 3.6 ilustra o princpio do mtodo
STRP e as equaes (3.20), (3.21), (3.22), e (3.23) podem ser escritas
(Tanaka e Sato, 1986).
41
Di,A
Vi-1
Vi+
Vi
Di,
Di-1,C
Di-1,B
T k-1
Ui-1
T k
Ui
Figura 3.6 Princpio do mtodo STRP (Tanaka e Sato, 1986)
U iT = U iT1 + Di 1, B Di , A + L iT 1
(3.20)
U iT = U iT1 + Di 1C Di , B + L iT1 + 2
(3.21)
U iC = U iC1 + Di 1, B Di , A + L iC
(3.22)
U iC = U iC1 + Di 1, C Di , B + L iC1
(3.23)
Eliminando U iC , U iC1 , U iT e U iT1 das equaes (3.20) e (3.23) tem-se
iT e iC .
iT = iT1 +
Di , A Di 1, B Di , , B + Di 1,C + 1 + 2
L
(3.24)
iC = iC1 +
Di , A Di 1, B Di , , B + Di 1, C
L
(3.25)
Substituindo (3.25) em (3.24) e eliminando os termos D,
iT = iC + 0T 0C +
k ( 1 + 2 )
L
(3.26)
42
Eliminando os termos D das equaes (3.20) e (3.22) e fazendo

U 0T = U 0C = U NT = 0 e 0C = 0T = 0 , a equao para U iT pode ser escrita como
na expresso (3.27).
U iT = U iC + i (i 1)
1
2
+ i (i + 1)
(3.27)
Como no prtico medir 1 e 2 diretamente, os trs sensores

devem ser colocados sobre uma rgua padro e deve-se calcular
atravs da relao geomtrica, equao (3.28).
= 2 DB DA DC
(3.28)
Por outro lado, sabemos que
= 1 + 2
(3.29)
Expressando (3.29) como uma equao similar (3.27) para i=N:
1 =
(U NC + N ( N 1)
Inserindo
(3.30)
N
(3.28)
em
(3.30),
pode
ser
calculado
conseqentemente 2 .
3.2.4 MTODO COMBINADO (KIYONO E GAO,1994)

Esse mtodo foi desenvolvido para medir perfis que incluam
componentes de alta freqncia, isto , comprimentos de onda espaciais
mais curtos que a distncia entre as sondas. O mtodo combina os
mtodos de dois pontos com o da inclinao.
A Figura 3.7 mostra esquematicamente o princpio do mtodo de
dois pontos. Como os dois sensores esto submetidas a erros na mesma
direo, o erro do movimento do porta sensores, ez ( xn ) , pode ser
cancelado pela diferena entre suas leituras m A ( xn ) e mB ( xn ) .
m A ( xn ) = f ( x n ) e z ( xn )
(3.31)
m B ( xn ) = f ( x n L) e z ( x n )
(3.32)
43
m( xn ) = m A ( xn ) mB ( xn ) = f ( xn ) f ( xn L)
(3.33)
Z ( x) f ( x )
Xn-L
Xn
Xn+1
Figura 3.7 Princpio do Mtodo Combinado (Kiyono e Gao,1994).
A derivada aproximada de f ( xn ) pode ser definida pela equao

(3.34).
m , ( xn ) =
m( xn ) f ( xn ) f ( xn L)
=
L
L
(3.34)
E a integrao da equao (3.34) representa o perfil aproximado,
Z ( xn ) ,da superfcie medida.

n
Z ( xn ) = m , ( xi ) s =Z ( xn1 ) + m , ( xi ) s
(3.35)
i =1
Quando o intervalo para coletas de dados, s, igual distncia

entre os transdutores, L, o mtodo chamado de mtodo da inclinao
e a equao (3.36) pode ser escrita da seguinte forma:
Z ( xn ) = Z ( xn1 ) + (m A ( xn ) mB ( xn ))
(3.36)
O mtodo da inclinao permite medio de alturas do perfil em

pontos discretos. No entanto, o nmero de dados muito pequeno para
expressar corretamente o perfil. Para aumentar o nmero de pontos no
mtodo da inclinao, so feitas vrias medidas do perfil. O ponto
inicial de medio de cada uma dessas medies transladado de s, ou
44
seja, do intervalo de coleta de dados. O nmero de medies, M, a

serem feitas dado por L/s. Sendo, s menor que a distncia entre as
sondas (Kiyono e Gao, 1994).
3.2.5 MTODO COM TRS APALPADORES (GAO ET AL,2002)

O esquema do mtodo pode ser visto na Figura 3.8. Nesse mtodo
uma integrao dupla da diferena das sadas dos sensores usada
para avaliar o perfil da superfcie.
pitch
z
Z ( x) f ( x)
Xi
Figura 3.8 Mtodo com trs apalpadores (Gao et al,2002).
A leitura, mi, em cada um dos sensores ser:

m1 ( xi ) = f ( xi L) + eZ ( xi ) L e pitch
(3.37)
m2 ( xi ) = f ( xi ) + eZ ( xi )
(3.38)
m3 ( xi ) = f ( xi + L) + e Z ( xi ) + L e pitch
(3.39)
A diferena mS ( xn ) calculada para eliminar o erro de translao,
ez ( xn ) , e o erro angular, e pitch .

mS ( xi ) = m3 ( xi ) 2 m2 ( xi ) + m3 ( xi )
(3.40)
mS ( xi ) = f ( xi + L) f ( xi ) f ( xi ) f ( xi L)
(3.41)
A derivada segunda de mS ( xi ) ser
45
f ( xi + L) f ( xi ) f ( xi ) f ( xi L)
L2
m, , ( xn ) =
(3.42)
A integrao dupla da equao (3.42) representa o perfil

aproximado, Z ( xi ) ,da superfcie medida.
i
Z ( xi ) = m ,, ( x j )ds = ((m ,, ( x j ) s ) s )
(3.43)
k =1 j =1
Onde Z ( x0 ) = 0 e i=1..N.
Os valores de zero dos sensores no so ajustados ou medidos
precisamente, como j mencionado. A diferena entre os valores de zero
introduzir erro na medio e a integrao dupla desse erro far com
que o erro tenha perfil parablico no resultado do perfil. A equao
(3.44) considera o erro de desalinhamento entre os sensores.
Z1 ( xi ) = ((m, , ( x j ) s ) s ) +
k =1 j =1
xi2
= Z ( xi ) +
2 L2
xi2
2 L2
(3.44)
Sendo = (em3 em 2 ) + (em1 em 2 ) = em3 2 em 2 + em1 e emi determinados

como indica a Figura 3.9.
Porta sensores
Plano ptico
Figura 3.9 Desalinhamento entre os sensores (GAO et al,2002).
46
3.3 MTODOS MATEMTICOS PARA DETERMINAO DO

Na medio de erro de planicidade as leituras obtidas devem ser

cuidadosamente analisadas.
Para determinar o erro de planicidade de uma superfcie
necessrio gerar um plano de referncia. O que pode ser feito utilizando
trs parafusos de regulagem vinculados a um desempeno ou atravs de
diferentes algoritmos matemticos. A seguir so apresentados alguns
desses mtodos.
A apresentao deste item foi subdividida em trs partes. A
primeira apresenta uma breve descrio sobre o Mtodo dos Mnimos
Quadrados (MMQ) para ajuste de uma reta a um dado conjunto de
pontos. A descrio pode ser facilmente estendida para ajuste de um
plano.
Os
dois
sub-itens
restantes
apresentam
mtodos
para
determinar o desvio de planicidade de acordo com o critrio de mnimos

desvios.
3.3.1 MTODO DOS MNIMOS QUADRADOS

Nas investigaes cientficas freqentemente deseja-se ajustar
uma curva a um dado conjunto de pontos como um plano, uma reta,
etc. Em geral tem-se um grande nmero de pontos, obtidos a partir de
ensaios
experimentais
que
podem
ser
indicados
por:
{x1 , y1 },..., {xi , yi },..., {xn , yn }.Para ajustar uma funo f(x) a este conjunto de
pontos utilizando o mtodo dos mnimos quadrados a melhor funo f(x)
deve
ser
determinada
partir
de
uma
funo
geral,
f(x, a 1 , a 2 ,..., a p ) previamente escolhida. Isto , a funo f(x) tem forma e
nmero de parmetros predeterminados.
47
Esta segunda condio significa que a melhor funo f(x)

f ( x) = f(x, a 1 , a 2 ,..., a p ) , onde os valores particulares de a1, a2, ..., ap devem
ser determinados conforme o mtodo dos mnimos quadrados.

De acordo com o mtodo dos mnimos quadrados a melhor
aproximao da funo a ser ajustada, f(x), ocorre quando os
parmetros a1,a2,...,ap minimizam a soma dos quadrados dos resduos,
dada pela expresso (3.47):
N
S = y i f ( xi ; a1 , a 2 ,..., a p )
(3.47)
i =1
Para a determinao dos erros de retilineidade deve-se ajustar

uma reta ao conjunto de pontos medidos. O modelo linear a ser
ajustado dado pela eq. (3.48), onde i o resduo ( diferena entre o
valor calculado pelo modelo,f(xi) , e o valor real, yi ) e a1, a2 so os
parmetros a serem determinados.
f ( xi ) = a1 + a 2 xi + i , i=1,...,N (N 2)
Os
resduos
so
(3.48)
considerados
variveis
aleatrias,
independentes e identicamente distribudas, isto , com distribuio

normal de mdia zero e varincia constante.
Como
mencionado
anteriormente,
mtodo
dos
mnimos
quadrados minimiza a soma dos quadrados dos resduos e para o ajuste

de uma reta a equao a ser minimizada dada por:
^
^
S = yi ( 0 + 1 xi )
i =1
N
(3.49)
Os estimadores 0 e 1 que minimizam a expresso (3.49) so

denominados estimadores de mnimos quadrados a serem calculados.
Para encontrar o mnimo de (3.49) deve-se fazer com que as
derivadas parciais de S com relao a 0 e 1 sejam nulas. Desta forma,
obtm-se o conjunto de equaes (3.50), chamadas de equaes
normais.
48
N
N
N + x
y
=
0
1 i
i
i =1
i =1
N
N
N
x y = x + x 2
i
i
0 i
1 i
i =1
i =1
i =1
(3.50)
Resolvendo o sistema de equaes (3.50), os estimadores de

mnimos quadrados resultam nas expresses dada em (3.51), onde x e
y so respectivamente as mdias aritmticas dos valores xi e yi.

N
1 =
y (x
i
i =1
N
(x
x)
x)
(3.51)
i =1
0 = y 1 x
As equaes descritas em (3.51) so sempre solues viveis e

nicas de (3.49) se nem todos os xi forem iguais.
No MMQ os resduos maiores tm maior influncia no resultado.
Isto ocorre pois h uma ponderao indireta pelo uso de quadrado.
Assim, o MMQ oferece apenas uma aproximao para o desvio e,
normalmente, superestimada.
Na Figura 3.10 pode-se visualizar a
diferena entre os resultados obtidos com o MMQ e com o mtodo de

mnimos desvios.
Figura 3.10 Compararao entre MMQ e Mnimo Desvio
49
A seguir a descrio dos mtodos propostos por Huang et al

(1993) e por Weber (2002) que tentam encontrar o desvio mnimo de
planicidade.
3.3.2 MTODO DE MNIMOS DESVIOS PROPOSTO POR HUANG ET AL (1993)

Para um mtodo garantir o critrio de mnima zona para o clculo
do erro de planicidade as seguintes condies devem ser verificadas no
ltimo estgio de clculo:
Pelo menos quatro pontos devem estar em contato com os dois
planos paralelos que contm todos os pontos medidos. Esses quatro
pontos devem ter uma das duas configuraes abaixo:
- 3 pontos em contato com o plano de cima e 1 ponto em contato
com o plano de baixo ou vice-versa, formando o modelo 3-1;
- 2 pontos em contado com o plano de cima e 2 pontos em
contado com o plano de baixo, formando o modelo 2-2.
- Para o caso do modelo 3-1: a projeo do ponto sozinho no
plano que contem os outros trs pontos deve pertencer ao tringulo
formado por esses trs pontos.
- Para o caso do modelo 2-2: a projeo da reta que une dois
pontos de um mesmo plano deve interceptar a reta que une os outros
dois pontos.
O verdadeiro erro de planicidade a distncia entre os dois
planos paralelos que satisfazem a essas condies. Os seguintes
modelos devem ser construdos para encontrar os dois planos:
Modelo 1-1:
Como primeira aproximao para o plano que melhor se ajusta
aos pontos medidos adota-se o plano determinado pelo mtodo dos
mnimos quadrados (MMQ).
O ponto mais alto com relao ao plano MMQ definido como
ponto de controle alto e o mais baixo definido como ponto de controle
baixo. O modelo 1-1 estabelecido de tal forma que os planos de
controle alto baixo so gerados respectivamente pelo ponto de controle
50
alto e pelo ponto de controle baixo, com os dois planos paralelos ao

plano MMQ.
A Figura 3.11 mostra a configurao do modelo 1-1.
Z
Pa
Plano MMQ
Pb
X
Figura 3.11: Determinao do modelo 1-1
Modelo 2-2:
Para encontrar o terceiro ponto de controle deve-se rotacionar os
planos determinados no modelo 1-1. Considere uma vista lateral dos
dados em relao ao plano MMQ. Cada plano de controle ser
rotacionado em uma direo para encontrar o terceiro ponto de contato,
que ser aquele com menor ngulo com relao ao plano de controle,
como pode ser visto a Figura 3.12.
Z
ai
Pa
Ema
Emb Li
Plano MMQ
Ei
Pb
X
Figura 3.12: Rotao dos planos de controle

para formar modelo 2-1
51
O ngulo de rotao do plano de controle alto em relao a sua

posio inicial dado pela equao (3.53):
Ema Ei
Li
ai = sen 1
(3.53)
Sendo:
Li a distncia do ponto alto de controle ao ponto i;
Ema a distncia do ponto de controle alto ao plano MMQ e
Ei a distncia do ponto i ao plano MMO.
O mesmo deve ser feito para o plano de controle baixo. O ngulo

de rotao do plano de controle baixo em relao sua posio inicial :
Emb Ei
L
i
bi = sen 1
(3.54)
Sendo Emb a distncia do ponto de controle baixo ao plano MMQ.

O terceiro ponto de controle ser o menor entre todos a e b, ou seja,
3 = min( a , b ) . Encontrado o terceiro ponto de controle deve-se

determinar o quarto ponto de controle atravs do modelo 3-1_2-2.
Modelo 3-1_2-2:
Para encontrar o quarto ponto de controle, deve-se considerar a

vista dos pontos medidos na direo que une os dois pontos de controle
pertencentes ao mesmo plano de controle. O modelo 2-1 deve ser
aplicado novamente, ou seja, os planos de controle devem ser
rotacionados para encontrar o quarto ponto de controle.
No final desse estgio os quatro pontos de controle foram
determinados. A equao do plano mdio dada pela equao (3.55).
Z = aX + bY + c
(3.55)
Caso estes pontos tenham a configurao do modelo 3-1, os

coeficientes a, b, c da equao do plano mdio so calculados pelas
seguintes equaes.
a=
( z 2 z1 )( y3 y 4 ) ( z 3 z 4 )( y 2 y3 )
D1
(3.56)
52
b=
c=
( x2 x1 )( z3 z 4 ) ( x3 x4 )( z 2 z3 )
D1
(3.57)
( z 2 + z1 ) a ( x1 + x2 ) b( y1 + y 2 )
2
(3.58)
Onde,
D1 = ( x 2 x3 )( y 3 y 4 ) ( x3 x 4 )( y 2 y3 )
(3.59)
Sendo P1(x1,y1,z1), P2(x2,y2,z2) e P3(x3,y3,z3) pontos pertencentes ao

mesmo plano de controle e P4(x4,y4,z4) pertencente ao outro plano de
controle.
Caso os quatro pontos de controle satisfaam ao modelo 2-2 os
coeficientes a,b e c do plano mdio so determinados por:
a=
b=
c=
( y1 y2 )( z3 z 4 ) ( z1 z 2 )( y3 y4 )
D2
(3.60)
( x3 x4 )( z1 z 2 ) ( x1 x2 )( z3 z 4 )
D2
(3.61)
( z 2 + z 3 ) a ( x2 + x3 ) b( y 2 + y3 )
2
(3.62)
Onde,
D2 = ( x3 x4 )( y1 y 2 ) ( x1 x2 )( y3 y4 )
(3.63)
Sendo P1(x1,y1,z1) e P2(x2,y2,z2) os pontos de controle pertencentes

ao plano alto e P3(x3,y3,z3) e P4(x4,y4,z4) pontos pertencentes ao plano
baixo.
As equaes dos dois planos de controle so obtidas pela equao
(3.55). O coeficiente c da equao (3.55) ser dado por:
ca = z1 ax1 by1
(3.64)
cb = z3 ax3 by3
(3.65)
O erro de planicidade dado pela distncia entre os dois planos

de controle.
No entanto, se os quatro pontos de controle no satisfizerem a
condio 2 ou a 3 do mtodo dos mnimos desvios, deve-se reformular o
modelo 3-1 _2-2, descartando o ponto que no obedecer condio 2
ou 3.
53
3.3.3 MTODO DE OTIMIZAO PARA DETERMINAO

PLANICIDADE PROPOSTO POR WEBER ET AL, 2002
DO
DESVIO
DE
Como j definido no Captulo 2, o desvio de planicidade exato de

um superfcie a menor distmcia entre dois planos paralelos que
contm todos os pontos medidos. Assim, o o problema matemtico para
determinar o desvio de planicidade exato pode ser escrito como: dado o
conjunto S de n pontos medidos Pi, i=1..n, encontrar os dois planos
paralelos com a menor distncia entre eles e que contenham o conjunto
de pontos S.
Se o conjunto de pontos no espao, S, transladado ao longo de
um eixo arbitrrio ou rotacionado em torno de um eixo, a posio
relativa entre os pontos ser a mesma. Cheraghi et al (1996) buscaram
os dois planos paralelos de mnimos desvios depois que os pontos
fossem transladados ou rotacionados. Como os planos poderiam estar
em qualquer lugar do espao, os autores assumiram que um dos planos
coincide com o plano x y, z=0, e que o outro fica distancia ts do
primeiro.
Rotacionando os dados com os ngulos e em torno dos eixos x
e y, respectivamente e transladando-os de ( X 0 , Y0 , Z 0 ) , a nova posio do
conjunto de pontos
( xi , y i , z i )
representada por
(x , y , z ) ,
i
equao
(3.66).
xi
cos
yi = sen sen
cos sen
zi
0
cos
sen
sen
xi
X0
sen cos yi + Y0
cos cos
zi Z 0
(3.66)
Resolvendo o sistema de equaes (3.66) tem-se:
zi = xi cos sen + y i sen + z i cos cos + Z 0
(3.67)
O valor mnimo de erro de planicidade a soluo do seguinte

problema de otimizao. Minimizar tf, tal que:
zi t f
zi 0
i = 1,..., n
(3.68)
54
Para diminuir a complexidade matemtica do mtodo descrito

acima, Weber et al (2002) utilizaram expanso de Taylor para linearizar
a equao (3.67). O desvio de planicidade mnimo pode ser determinado
pela soluo do problema linear da expresso (3.69).
MinimizarT f , obedecendo :
( xi cos 0 sin 0 + yi sen 0 + cos 0 cos 0 + Z 0 )

+ ( xi sen 0 sen 0 + yi cos 0 sen 0 cos 0 )d
+ ( xi cos 0 cos 0 zi cos 0 sen 0 )d + Z 0 = T f
(3.69)
( xi cos 0 sin 0 + yi sen 0 + z i cos 0 cos 0 + Z 0 )

+ ( xi sen 0 sen 0 + yi cos 0 zi sen 0 cos 0 )d
+ ( xi cos 0 cos 0 zi cos 0 sen 0 )d + dZ 0 T f
As variveis do problema linear so d , d e dZ 0 . Os valores de
0, 0 e Z0 so relacionados aos parmetros a, b e c determinados

atravs do MMQ, como indicam as equaes (3.70), (3.71) e (3.72).
0 = sen 1 (b)
(3.70)
cos( 0 )
0 = sen 1
(3.71)
Z 0 = c cos( 0 ) cos( 0 )
(3.72)
A Tabela 3.1 apresenta os resultados do desvio de planicidade

obtidos com o mtodo dos mnimos quadrados, com o mtodo de
otimizao de Cheraghi et al e com o mtodo de aproximao linear de
Weber et al.
Tabela 3.1: Comparao entre os mtodos (Weber et al, 2002)

Exemplo
MMQ
Cheraghi et al
Weber et al
2,3664
1,9612
2,0715
9,1797
4,8573
4,8626
0,1856
0,1465
0,1561
0,0044
0,0042
0,0042
0,0030
0,0026
0,0026
55
3.4
CONCEITOS
ESTATSTICOS
BSICOS
PARA
TRATAMENTO DE DADOS EXPERIMENTAIS
Todo resultado de medio apenas uma estimativa do valor

verdadeiro. Isto devido a influncia de vrios fatores que interferem no
processo de medio, tais como: variaes associadas ao instrumento
de medio, ao operador, s condies ambientes, temperatura e
outros.
Com
Industrial
a
de
evoluo
vrios
da
tecnologia,
pases
sentiram
Institutos
a
de
necessidade
Normalizao
de
indicar
quantitativamente a qualidade do resultado de uma medio, ou seja,

acrescentar ao resultado da medio uma declarao sobre a confiana
associada a ele. Isto requer estabelecimento de critrios para a
determinao do valor que representa a incerteza de medio. Esse
valor pode ser considerado como um indicador do desempenho do
sistema de medio (PHILLIPS, 1995).
A diferena entre o valor verdadeiro e o valor encontrado em uma
medio denominado erro de medio. Como em muitos processos de
medio o valor verdadeiro desconhecido, o erro de medio dado
pela diferena entre o resultado da medio e o valor calibrado.
De acordo com seu comportamento os erros de medio podem ser
classificados em erros sistemticos e aleatrios. Erros sistemticos so
aqueles que permanecem constantes em grandeza e sinal ou variam, de
acordo com uma lei definida, quando um nmero considervel de
medies de um mesmo mensurando so efetuadas sob as mesmas
condies. Estes erros podem ser reduzidos atravs de correes nos
resultados finais da medio. Quanto menor for o erro sistemtico,
maior ser a acuracidade do instrumento.
Os erros aleatrios so resultados de influncias externas e
internas, no controladas, que provocam o surgimento de erros no
repetitivos. Em geral, estes erros diferem a cada leitura, podendo-se
apenas ter noo dos seus limites. Tais erros estaro sempre presentes
56
provocando variaes nas medies sucessivas e somente podem ser

avaliados estatisticamente (Slocum, 1992). Quanto menor for o erro
aleatrio, maior ser a repetibilidade do instrumento. Quando nenhuma
das causas que provocam os erros aleatrios predominante, pode-se
dizer que sua ocorrncia e comportamento coincidem com a curva de
probabilidade normal ou curva de distribuio de Gauss. Portanto,
pode-se assumir que erros aleatrios seguem a lei de distribuio
normal.
Porm, nem todas as fontes de erros num processo de medio
apresentam distribuies normais de probabilidade. So freqentes, por
exemplo, distribuies quadradas,trapezoidais e triangulares.
Aps avaliar todos os componentes de erros conhecidos e efetuar
as correes dos efeitos sistemticos no resultado de uma medio,
ainda permanece uma dvida sobre o quanto correto o valor obtido.
Essa dvida, proveniente dos efeitos aleatrios e da correo imperfeita
do resultado, no que diz respeito aos efeitos sistemticos, denominada
incerteza de medio (ISO, 1993).
Segundo o documento ISO (GUM), a incerteza de medio pode ser
definida como sendo o parmetro, associado ao resultado de uma
medio, que caracteriza a disperso dos valores que poderiam ser
atribudos ao mensurando. Tal parmetro pode ser, por exemplo, um
desvio padro (ou mltiplo dele) ou a metade de um intervalo
correspondente a um dado nvel de confiana.
A incerteza de medio expressa, geralmente, como uma faixa de
valores distribudos simetricamente em torno do valor obtido como
resultado de uma medio (PHILLIPS, 1995). Na incerteza de medio
esto contidos os efeitos de todos os fatores que influenciam o resultado
da medio. A incerteza associada a um resultado pode ser especificada
de diferentes formas: incerteza padro, incerteza padro combinada,
incerteza expandida.
57
3.4.1 INCERTEZA PADRO

Toda medio um conjunto de operaes que tm por objetivo
determinar o valor de uma grandeza. O mensurando, geralmente, no
medido diretamente e sim determinado a partir de N outras grandezas
X1, X2, ..., XN, denominadas grandezas de entrada, atravs de uma
relao funcional f, como mostra a equao (3.73).
Y = f ( X 1 , X 2 ,L X N )
(3.73)
As grandezas de entrada, por sua vez, podem tambm ser

consideradas mensurandos que dependem de outras grandezas. Seus
valores e respectivas incertezas podem ser obtidos a partir de uma
nica observao ou de repetidas observaes, de dados fornecidos
pelos fabricantes dos instrumentos, da experincia do observador, da
literatura, de medies realizadas anteriormente, de padres de
calibrao, de materiais de referncia ou de certificados de calibrao,
etc.
Assim sendo, a incerteza associada ao resultado da medio deve
levar em considerao as incertezas individuais das variveis que
afetam o processo de medio.
De acordo com o mtodo usado para determinar o valor numrico
das incertezas, estas podem ser classificadas em incertezas do Tipo A e
incertezas do Tipo B.
A incerteza do Tipo A aquela obtida estatisticamente partir de
medies ou observaes repetidas de uma dada grandeza, assumindo
uma distribuio normal ou outra qualquer. A incerteza do Tipo B, por
sua vez, no estimada atravs de anlise estatstica de sries de
observaes e, sim, atravs de consideraes de efeitos fsicos que
afetam os resultados (Piratelli, 1997; Decker e Pekelsky, 1999).
No caso de incerteza do tipo A, a mdia dos valores obtidos em
um dado experimento a estimativa do mensurando e a raiz quadrada
da varincia a incerteza padro associada ao estimador. A incerteza
padro
considera
as
flutuaes
aleatrias
dos
resultados
do
58
experimento e outras influncias que so consideradas constantes para

este experimento (BS 6808: Code of Practice, 1989). A representao
das componentes de incertezas feita pela estimativa de um desvio
padro, denotada por u, chamada incerteza padro. No caso de
incerteza Tipo A, quando o componente de n medies representam
uma amostra, a incerteza padro determinada pela equao (3.74),
onde a estimativa do mensurando x .
x=
x1 + x2 + L xn
n
(x
e u = s2 =
x)
i =1
n 1
(3.74)
A incerteza do tipo B estimada a partir de um julgamento

cientfico baseado em todas as informaes relevantes disponveis sobre
o instrumento e o processo de medio. (ISO GUM, 1993; Decker e
Pekelsky, 1999).
Quando a estimativa do mensurando for obtida de uma
especificao do fabricante, certificado de calibrao, manual tcnico ou
de outra fonte e sua incerteza dada como um mltiplo do desvio padro,
a incerteza padro a incerteza citada dividida pelo multiplicador (ISO
GUM, 1993). Por outro lado, se a incerteza declarada um parmetro
ao qual est associado um dado nvel de confiana, o clculo da
incerteza padro s ser efetuado se a distribuio de probabilidade
caracterizada pela estimativa do mensurando e sua incerteza for
conhecida. Neste caso, a incerteza padro a incerteza citada dividida
pelo fator de abrangncia apropriado para a distribuio adotada. Tal
fator encontrado nas tabelas de distribuies de probabilidades.
A distribuio mais usada para calcular a incerteza padro a
normal, pois geralmente utilizada para descrever erros experimentais.
A tabela 3.2 apresenta alguns fatores de abrangncia para essa
distribuio de probabilidade.
59
Nvel de Confiana (%)
Fator de Abrangncia (k)
68.27
90
1.645
95
1.960
95.45
99
2.576
99.73
Tabela 3.2: Fator de abrangncia e seu respectivo nvel de confiana

assumindo uma distribuio normal (gaussiana)
Em geral, de posse de todas as informaes disponveis sobre o

instrumento e a medio, possvel determinar o intervalo que contm
o valor verdadeiro da grandeza analisada e fazer alguma hiptese
sobre a distribuio de erros. Quando, porm, o intervalo bem
definido, mas a distribuio de erros no bem conhecida, deve-se
admitir uma distribuio mais simples que a normal, tal como uma
distribuio
retangular,
uma
distribuio
trapezoidal
ou
uma
distribuio triangular (ISO GUM, 1993).

A distribuio trapezoidal utilizada quando a probabilidade do
valor do mensurando estar no intervalo (a_, a+) igual a 1 e a
probabilidade de estar fora praticamente zero. Alm disso, provvel
que ele esteja mais prximo do ponto mdio do que dos limites do
intervalo. A melhor estimativa para o mensurando
incerteza u = a
distribuio
(a+ + a ) 2
e a
1+ 2
, onde 0 1 e a = (a+ + a ) 2 . Quando 1 , a
6
trapezoidal
se
aproxima
da
distribuio
enquanto com = 0 tem-se a distribuio triangular.
3.4.2 INCERTEZA PADRO COMBINADA
retangular,
60
A incerteza padronizada pode ser calculada a partir das incertezas

padres individuais das variveis que interferem no processo de
medio, atravs de uma lei conhecida como lei de propagao de
incertezas. A incerteza assim determinada definida pelo Comit
Internacional de Pesos e Medidas (CIPM) como incerteza padronizada
combinada e designada por uc . A lei de propagao de incertezas,
porm, somente pode ser aplicada quando o modelo matemtico que
relaciona a varivel resposta da medio com as variveis que afetam o
seu comportamento for conhecido. Isto , quando a funo f
conhecida. Nesse caso, a incerteza padronizada combinada, uc(y),
dada pela raiz quadrada positiva da varincia, equao (3.75).
f
u ( y ) =
i =1 xi
N
2
c
N 1 N
2
f f
u ( xi ) + 2
u (x i ) u (x j ) r ( xi , x j )
i =1 j =i +1 xi x j
(3.75)
Onde, y a estimativa da grandeza Y, xi a estimativa da varivel

Xi e u 2 (xi ) a varincia associada a xi, para todo i variando de 1 at N,
onde N o nmero de variveis que afetam a varivel resposta Y. E
u ( xi ) a incerteza associada fonte de erro representada pela

estimativa xi e r ( xi , x j ) o coeficiente de correlao entre as estimativas
xi e xj.
A equao (3.75), referenciada como a lei de propagao de
incerteza, baseada numa aproximao da srie de Taylor de primeira
ordem de Y = f ( X 1 , X 2 , L X N ) .
As derivadas parciais em funo de cada varivel xi (i=1,...,n) que
aparecem na expresso (3.75) so denominadas coeficientes de
sensibilidade. A grandeza desses coeficientes descreve a contribuio de
cada fonte de incerteza no valor final da incerteza de medio.
O segundo termo da equao (3.75) expressa a correlao
existente entre duas fontes de incertezas xi e xj (ij). O coeficiente r
fornece uma medida do grau de correlao entre as variveis. A
expresso (3.76) apresenta o coeficiente de correlao entre duas
variveis xi, xj.
61
r (xi , x j ) =
(x
ik
xi ) (x jk x j )
k =1
M
(x
ik
(3.76)
xi ) (x jk x j )
2
k =1
k =1
Onde, M o nmero de valores atribudos s variveis xi e xj e xi e

x j so respectivamente as mdias aritmticas dos M valores atribudos
a xi e xj.
O coeficiente de correlao varia de 1 a 1. Quando esse valor se
aproxima dos extremos significa que as variveis xi e xj tm um alto
grau de correlao. Por outro lado, se o coeficiente de correlao zero
significa que no h correlao entre as variveis. Portanto, se as
estimativas xi, xj so independentes entre si, o coeficiente de correlao
igual a zero e o segundo termo da equao (3.75) desaparece,
diminuindo,
assim,
nmero
de
clculos
necessrios
para
determinao da incerteza padro combinada.
3.4.3 INCERTEZA EXPANDIDA

Alm
da
incerteza
padronizada
combinada,
Comit
Internacional de Pesos e Medidas (CIPM) prope descrever a incerteza

de medio atravs de intervalos que representam os valores esperados
para os erros de medio, com uma probabilidade conhecida. O CIPM
usa o termo incerteza expandida (Up) para descrever tal intervalo. Seu
valor obtido pela expresso (3.77), onde uc a incerteza padro
combinada e k > 0 o fator de abrangncia.
U p = k uc
(3.77)
O fator k est associado distribuio de probabilidades dos

valores
obtidos
na
medio,
que
geralmente
apresentam
uma
distribuio Normal. Para esta distribuio, assume-se k igual a 2 para

um intervalo de confiana de 95,5% ( ou aproximadamente 95%) e 3
para um intervalo com 99.7% de probabilidade, conforme mostrado na
tabela 1.
62
A incerteza expandida uma maneira de apresentar a informao

para
satisfazer
requisitos
de
algumas
aplicaes
comerciais
industriais, que necessitam de um intervalo de valores em torno do

resultado de medio (ISO GUM, 1993). Ela deve ser apresentada junto
do valor mdio, y , conforme a expresso (3.78)
y U p
(3.78)
63
CAPTULO 4
SISTEMA PARA MEDIO DE ERRO DE PLANICIDADE

planicidade
dessas
superfcies.
Se
referncia
est
fora
das

acuracidade.
Neste trabalho apresentado um sistema para medio de desvios
de planicidade de desempenos. O sistema constitudo por trs
transdutores de deslocamento do tipo LVDT fixados no eixo z de uma
Mquina de Medir a Trs Coordenadas (MM3C). Para executar as
medies o eixo z foi travado enquanto os eixos x e y foram usados para
deslocar os transdutores.
64
Durante a medio a inteno avaliar apenas os desvios da

superfcie, no entanto, os mancais das MM3C no se deslocam
perfeitamente e as leituras obtidas so as componentes dos desvios da
superfcie e dos erros de movimentao dos mancais. Uma estratgia
que pode ser utilizada para a separao desses erros a tomada de
dados com redundncia. Nesse tipo de medio, o mesmo ponto
verificado mais de uma vez. Para eliminar as componentes de erros da
mquina dos dados medidos, pode-se usar as tcnicas de separao de
erros, e ento, o desvio da superfcie pode ser determinado.
planicidade de um desempeno. Para verificar a eficincia do mesmo foi
com interfermetro a laser, nvel eletrnico e MM3C.
Para melhor entendimento do sistema de medio a apresentao
do trabalho foi dividida em 5 itens. O primeiro item descreve a interface
entre MM3C, transdutores e operador. O segundo item descreve o
mtodo de coleta de dados e os demais itens apresentam: mtodo
matemtico, tcnica de separao de erros, mtodo para avaliao do
sistema de mltiplas sondas e clculo de incerteza de medio.
4.1
DESENVOLVIMENTO DAS INTERFACES

MQUINA, COMPUTADOR E OPERADOR
ENTRE
Para medir o desvio de planicidade o mensurando foi colocado

sobre trs parafusos de regulagem no desempeno da mquina de medir
e alinhado com o plano formado pelas guias x e y da mquina. Para
medir as variaes de altura na superfcie foi fixado no eixo z da
mquina um dispositivo contendo trs transdutores. Esse conjunto foi
denominado garra.
As medies foram feitas on-the fly, ou seja, pelo mtodo de
medio em que a mquina no pra e as leituras dos transdutores so
65
executadas quando as posies programadas so atingidas. Para tanto,

os sinais das escalas da mquina e dos transdutores foram enviados
para um microcomputador.
Os sinais dos encoders das escalas da mquina foram capturados
atravs do sistema implementado por Marques (2003). Tal sistema tem
como funo capturar e enviar esses sinais para o microcomputador,
que recebe o sinal atravs de uma placa de aquisio confeccionada
exclusivamente para esse fim.
Os transdutores foram conectados a uma coluna de medio para
processamento
dos
sinais
esses
foram
enviados
para
microcomputador atravs de uma placa de aquisio de dados.

Com os sinais das escalas x e y e dos transdutores disponveis no
microcomputador foi possvel elaborar um programa computacional
para ler as escalas x e y da mquina de medir e os deslocamentos dos
transdutores. Quando o carro da mquina passa pelas posies
estabelecidas pelo usurio, o programa armazena os dados dos
transdutores. Alm disso, o programa faz o gerenciamento do processo
de coleta de dados, a manipulao dos dados e apresenta o resultado da
medio.
4.2 MTODO DE TOMADA DE DADOS

Em qualquer processo de medio deve-se escolher a estratgia a
ser adotada para a tomada de leituras. Existem diferentes tipos de
estratgias para medio de desvio de planicidade e as mais comuns
so os mtodos union Jack e grades retangulares. No mtodo union
Jack a diviso da superfcie feita imitando a bandeira do Reino Unido
e no mtodo de grades retangulares so traadas linhas paralelas e
perpendiculares. Em ambos os casos so medidos os desvios de
retilineidade de cada linha e esses desvios so usados para formar a
superfcie tridimensional. O mtodo aplicado neste trabalho foi o de
clulas retangulares, pois com ele, maior nmero de pontos so
66
verificados e, portanto, consegue-se uma melhor representao da

superfcie.
Foi medida uma superfcie de granito de dimenses 500 x 300mm.
Foram traadas linhas paralelas e uma linha perpendicular a essas, que
foi utilizada para vincular as linhas paralelas. A distncia entre as
linhas foi de 18mm e equivale distncia entre os transdutores. O
desvio de retilineidade de cada linha foi medido e cada ponto foi
apalpado pelos trs sensores. Como mencionado, esses dados so, na
verdade, uma mistura de erros da mquina e da pea e por isso, foram
aplicadas as tcnicas de separao de erros. Muitos autores tm
estudado e sugerido tcnicas de separao de erros, mas nenhum
estudo foi encontrado contendo a comparao entre essas tcnicas. Por
isso, decidiu-se aplicar quatro tcnicas de separao de erros. Duas
propostas por Tanaka (1986) e duas propostas por Gao (2002).
Aplicadas as tcnicas de separao de erros o desvio da pea pode
ser calculado. At ento, os dados representam apenas o desvio de
retilineidade de cada linha. Para formar a superfcie tridimensional, a
linha perpendicular usada para vincular as paralelas e fazer com que
as alturas de todos os pontos sejam relativas a um mesmo referencial.
4.3 MTODO MATEMTICO

Para o clculo do desvio de planicidade, primeiramente, foi
determinado o plano que melhor representa os pontos medidos atravs
do mtodo dos mnimos quadrados. Em seguida, foi calculada a
distncia de cada ponto medido at esse plano. A distncia entre os dois
pontos de lados opostos e mais distantes do plano de MMQ o desvio
de planicidade da superfcie.
67
4.4 AVALIAO DO SISTEMA MLTIPLAS SONDAS

Para verificar a eficincia do sistema de mltiplas sondas foi feita a
medio do desvio de planicidade de uma superfcie de granito
utilizando o sistema de mltiplas sondas, MM3C, nvel eletrnico e
interfermetro a laser. Os aspectos considerados para comparao
foram: custo de cada equipamento, tempo de medio e valor do desvio
de planicidade fornecido por cada equipamento. Como o interfermetro
a laser considerado o instrumento padro na rea de metrologia
dimensional mecnica, o erro de planicidade medido com esse
instrumento foi considerado o verdadeiro desvio de planicidade da
superfcie.
4.5 CLCULO DA INCERTEZA DE MEDIO

Aps a validao do modelo proposto, procedeu-se finalmente,
determinao das incertezas associadas ao processo de medio. Para
tanto, utilizou-se o procedimento proposto pelo Guia para Expresso
das Incertezas de Medio (1999), que recomenda a aplicao da lei de
propagao das incertezas.
Tal procedimento exigiu a identificao e a observao de todas as
grandezas que interferiram nos resultados obtidos, como resoluo dos
transdutores e variao da temperatura ambiente. A seguir procede-se
determinao da incerteza padro de todas as grandezas e a avaliao
segundo seus tipos A ou B. Por fim, aplicao da lei de propagao de
incertezas para calcular a incerteza associada ao desvio de cada ponto
medido.
68
CAPTULO 5
DESENVOLVIMENTO DO SISTEMA PARA MEDIO DE

ERRO DE PLANICIDADE
Conhecidos os diversos mtodos de medio, separao de erros e

clculo de desvio de planicidade, segue-se a proposta de um sistema
que concilie os trs assuntos estudados. Tal sistema deve possibilitar a
separao dos erros relativos aos mensurandos e os relativos ao sistema
de medio. Para isso, o sistema proposto foi idealizado de forma a
medir desvio de retilineidade de diversas linhas e em seguida utilizar
um programa computacional para separar os erros em cada uma das
linhas medidas. O algoritmo deve tambm organizar os dados de forma
que cada ponto medido seja referenciado a um nico sistema de
69
coordenadas. Esse procedimento adotado para clculo do plano que

melhor representa os pontos medidos atravs do MMQ.
Organizados os dados e calculado o plano de MMQ, o programa
computacional deve calcular o desvio de planicidade.
Este captulo descreve os detalhes relativos ao sistema de medio
proposto. Apresenta, tambm, as equaes para clculo da incerteza de
medio utilizando tal sistema.
5.1 DESENVOLVIMENTO DA INTERFACE ENTRE MQUINA E

COMPUTADOR
Os experimentos para levantamento do erro de planicidade da
superfcie foram feitos em uma Mquina de Medir a Trs Coordenadas
(MM3C) do tipo Ponte Mvel, fabricada pela Brown & Sharpe Mfg. Co.
modelo Micro Validator.
As MM3C, com estrutura Ponte Mvel, tm como caractersticas
principais um desempeno de granito fixo para suporte do mensurando e
uma ponte que se movimenta para posicionar o apalpador de medio
sobre a pea. Trs conjuntos de mancais aerostticos permitem o
movimento dos eixos X, Y, e Z sobre as guias. Esses mancais
necessitam de ar comprimido, seco e limpo para a formao de um
colcho de ar que sustenta a parte mvel da estrutura.
O sistema de medio da mquina de medir consiste de escalas
pticas de vidro fixadas nas guias. O gatilhamento do sinal para a
aquisio de pontos sobre a superfcie do mensurando feito por um
apalpador de medio, que emite um sinal eltrico toda vez que
encostado na pea. Nesse instante, as posies nos eixos X, Y e Z so
armazenadas no microcomputador dedicado MM3C.
70
A Figura 5.1 apresenta um esquema da MM3C e alguns de seus

componentes.
B
r
o
w
n
&
S
Figura 5.1: Representao da mquina de medir a trs

coordenadas do tipo ponte mvel
MARQUES, A. (2003) desenvolveu uma interface para obter os

sinais das escalas pticas e do apalpador de medio. O sistema
captura os sinais das trs escalas pticas antes que sofram qualquer
tipo de manipulao numrica. Esses sinais so enviados para um
microcomputador equipado com uma placa de aquisio confeccionada
exclusivamente para esse fim.
Neste trabalho, o apalpador de medio foi substitudo por dois ou
trs transdutores do tipo LVDT. Uma pea, com trs furos passantes e
igualmente espaados, foi fabricada para alojar os transdutores. Esse
conjunto foi chamado de garra de medio e sua foto pode ser vista na
Figura 5.2.
Figura 5.2: Garra de medio
71
Os sinais dos trs transdutores foram enviados para uma placa de

aquisio de sinais instalada no mesmo microcomputador que possui a
placa de aquisio de sinais das escalas pticas. A Figura 5.3 apresenta
o esquema do sistema de medio.
MM3C
X
Y
Z
CPU da
MM3C
Digitalizao
dos sinais
Sada
dos sinais
Placa de aquisio
transdutores
Placa de aquisio
escala ptica
Figura 5.3: Esquema do sistema de medio
5.2 MTODO DE TOMADA DE DADOS

Em qualquer processo de medio, deve-se estabelecer uma
seqncia de tomada de dados. Existem alguns mtodos, estabelecidos
pelas normas tcnicas, para diviso da superfcie e para coleta de
pontos nas medies de planicidade. Cabe citar, entre estes, o mtodo
das linhas diagonais, o mtodo de grades retangulares e o mtodo Union
Jack.
O primeiro divide a superfcie como na Figura 5.4. As linhas so
traadas dentro de uma rea interna superfcie e as diagonais so
medidas (JIS B 7513).
No segundo mtodo mostrado na Figura 5.5 todas as linhas so
medidas. O mtodo Union Jack freqentemente criticado pela baixa
cobertura da rea de medio. No entanto, os erros mximos
72
geralmente esto nos cantos dos desempenos e como este mtodo cobre
os cantos no h problemas na sua utilizao (WHITEHOUSE, 1976).
O mtodo das linhas cruzadas utiliza um sistema de coordenadas
XYZ fixo e as medidas so relativas a ele (MILLER, 1962). As linhas
para medio so traadas como mostra a Figura 5.6. Quando se utiliza
nvel eletrnico ou nvel de bolha para medio a distncia entre as
linhas deve ser igual ao comprimento da base do instrumento.
Figura 5.4 Mtodo

das linhas diagonais
Figura 5.6 - Mtodo de

grades retangulares
Figura 5.5 Union Jack
Os mtodos citados consistem em medir o erro de retilineidade de

cada linha. A unio das linhas medidas formar a figura tridimensional
da superfcie. A ordem de coleta dos dados deve ser especificada para
reduzir erros de clculo e para a construo de um mapa com a
distribuio dos erros, assim pode-se ter idia da parte da superfcie
que se apresenta mais plana.
Y
Distncia
entre os
sensores
Y=0
Distncia entre os
sensores
Figura 5.7: Linhas para coleta de dados
O mtodo escolhido para tomada de leituras foi o de grades

retangulares, pois com ele, maior nmero de pontos verificado e,
portanto, a superfcie melhor representada. Nesse mtodo, todas as
linhas horizontais e uma linha vertical, indicada em vermelho na Figura
73
5.7, so medidas. A linha vertical usasa para unir as linhas

horizontais e formar a figura tridimensional da superfcie medida.
Foi definida uma ordem de entrada de dados no programa
computacional desenvolvido. A primeira linha a ser medida a vertical,
desenhada em vermelho na Figura 5.7. Em seguida, as linhas
horizontais so medidas partindo da posio y=0, como indicado na
Figura 5.7. O passo de medio a distncia entre os sensores, ou seja,
18mm.
5.3 ALGORITMO
PARA
CLCULO
DO
DESVIO
DE
PLANICIDADE
Com os sinais das escalas pticas e dos transdutores disponveis
no microcomputador e com o mtodo de tomada de dados definido,
passou-se fase de desenvolvimento de um programa computacional
para manipulao dos dados medidos.
Na primeira tela do programa computacional o operador deve
informar as dimenses da superfcie a ser medida, o passo de medio e
a distncia entre os sensores. A segunda tela pode ser visualizada na
Figura 5.8. Nela
visualiza-se um mapa de medio que indica ao
operador a posio em que a garra deve ser colocada sobre a pea. O

programa l constantemente as leituras das rguas pticas para
verificar se a garra est na posio de armazenar as leituras dos
transdutores. Quando a garra de medio passa por essa posio as
leituras so armazenadas e a prxima
posio
em
que
garra
deve
ser
colocada indicada ao usurio. Para

fazer a indicao, a linha que representa
a posio no mapa de medio fica
piscando. Enquanto a posio indicada
no mapa no for medida, o programa
no armazena outros dados.
Figura 5.8: Tela do programa

computacional
74
O fluxograma do programa computacinal pode ser visualizado na

Figura 5.9.
Dados de entrada do programa: comprimento e largura da
pea, passo de medio e distncia entre os sensores.
x0;
y0;
xpleitura escala x;
ypleitura da escala y;
x=xp;
y =yp;
S
Armazena leitura dos
transdutores
Linha vertical j foi lida?
yy+passo
de medio;
S
xx+passo de medio;
x>comprimento da pea?
S
x0;
yy+passo;
Terminou a medio?
S
1
Figura 5.9: Fluxograma para coleta de dados
75
Terminada a medio, os erros de movimentao so eliminados de

cada uma das linhas medidas atravs da tcnica de separao de erros
propostas por Tanaka & Sato (1986) e Gao et al (2002). Para verificar a
adequabilidade dessas tcnicas testes preliminares foram feitos. Nesses
testes foram medidos os erros de retilineidade de uma rgua com
desvios de retilineidade conhecidos. A Figura 5.10 mostra a seqncia
de operaes realizadas para separar os erros da pea dos erros do
sistema de medio.
1
U 0C = 0; 0C = 0
U 0C = 0
iC = iC1 +
Di , A Di 1, B Di ,, B + Di 1,C
L
U i = U C i 1 + D(i 1), B D(i , A )
U iC = U iC1 + Di 1, C Di , B + L iC1
N
i=N
i=N
=
C
N
U
N
= 2 DB DA DC
U iT = U iC i
i=N
V =o
Vi =UT i + Di, A D0, A
1 =
(U NC + N ( N 1)
iT = iC + 0T 0C +
U iT = U iC + i (i 1)
1
2
2 = 1
k ( 1 + 2 )
L
+ i (i + 1)
2
2
Vi =U i + Di , A D0, A
N
i=N;
i=N
2
2
Figura 5.10: Fluxograma dos mtodos de separao de erros com 2
e 3 sensores propostos por Tanaka & Sato (1986)
Sendo, U i o desvio de retilineidade do sistema de medio, Vi o

desvio de retilineidade do mensurando, i o desvio angular da garra de
medio e o desalinhamento entre os sensores de medio.
76
Como j descrito, os mtodos que usam dois sensores permitem

eliminar o erro de retilineidade da referncia, enquanto os mtodos que
utilizam trs sensores permitem eliminar os erros de retilineidade e
angular da referncia adotada. Observou-se, no entanto, que os
mtodos propostos por Tanaka & Sato (1986)
e GAO et al (2002)
utilizando trs sensores no apresentaram repetibilidade. Os resultados

obtidos quando foram empregados apenas dois sensores representaram
corretamente o desvio de retilineidade da rgua. Esses resultados sero
apresentados e discutidos no Captulo 6.
Como a referncia adotada para a medio foram as guias de uma
MM3C, com pequeno desvio angular, decidiu-se aplicar os mtodos de
Tanaka e Sato (1986) e Gao et al (2002) com dois sensores para separar
os erros da pea e os erros da mquina de medir.
Eliminados os desvios de retilineidade da guia da MM3C, cabe
agora calcular o desvio de planicidade.
Para determinar o erro de planicidade de uma superfcie
necessrio gerar um plano de referncia. Assim, pode-se determinar
quanto fora deste plano esto os picos e os vales da superfcie. Para o
desenvolvimento do presente projeto o plano de referncia foi definido
pelo melhor plano que representa os pontos medidos e foi utilizado o
Mtodo dos Mnimos Quadrados (MMQ) para sua determinao. A
seguir ser apresentada uma breve discusso sobre o MMQ para o
ajuste de um plano.
Considere N pontos espaciais no colineares, N 3, medidos sobre
uma superfcie teoricamente plana e a funo matemtica que descreve
a relao entre as variveis :
z = 0 + 1 x + 2 y
(5.1)
onde Z a varivel medida.

Para determinar os estimadores de mnimos quadrados basta
escolhe-los de maneira que a equao (5.2) seja mnima. Isto , fazer
com que as derivadas parciais da funo dada em (5.2) com relao aos
coeficientes i (i=0,...,2) sejam nulas, (5.3)-(5.5).
77
MQ = [z i ( 0 + 1 x i + 2 y i )]2
(5.2)
i =1
N
N
N
MQ
= 2 0 N + 1 x i + 2 y i z i = 0
0
i =1
i =1
i =1
(5.3)
N
N
N
N
MQ
= 2 0 x i + 1 x i2 + 2 x i y i x i z i = 0
1
i =1
i =1
i =1
i =1
(5.4)
N
N
N
N
MQ
= 2 0 y i + 1 x i y i + 2 y i2 y i z i = 0
2
i =1
i =1
i =1
i =1
(5.5)
Os coeficientes do plano que melhor ajusta os N pontos so,

ento, a soluo do sistema de equaes normais, escrito na forma
matricial em (5.6). Utilizou-se aqui o smbolo para representar o
somatrio para i variando de 1 at N.
x i
y
i
xi
y i 0 z i

2
xi
x i y i 1 = x i z i
x i y i y i2 2 y i z i
(5.6)
As expresses dos coeficientes de mnimos quadrados esto em

(5.7)-(5.8) e (5.9).
2 =
1 =
0 =
(((xi )yi Nxi yi )(Nxi zi (xi )zi ) + (Nxi2 (xi )2 )(Nyi zi ( yi )zi ))
((Nxi2 (xi )2 )(N yi2 (yi )2 ) (Nxi yi (xi )yi )2 )
5.7
(( xi zi )( yi ) 2 ( yi zi )( xi ) yi N ( xi zi ) yi2 + ( xi )( yi2 ) z i + ( xy)( N yi zi ( yi ) zi ))

( N ( xi yi ) 2 2( xi )( yi ) xi yi + ( xi ) 2 yi2 + ( xi2 )(( yi ) 2 N yi2 ))
5.8
(( zi )( xi yi ) 2 (( yi zi ) xi + ( xi zi ) yi ) xi yi + ( yi zi )( x 2 ) yi + ( yi2 )(( xi zi ) xi ( xi2 ) zi ))

( N ( xi yi ) 2 2( xi )( yi ) xi yi + ( xi ) 2 yi2 + ( xi2 )(( yi ) 2 N yi2 ))
5.9
78
Calculado o melhor plano que representa os pontos medidos devese determinar a distncia de cada ponto at este plano. A equao para
o clculo da distncia entre ponto e plano dada por (5.10):
dist =
zi ( 0 + 1 X i + 2 yi )
(5.10)
2 2 + 12 + 1
O erro de planicidade ser a distncia entre os dois planos

paralelos que contm todos os pontos medidos. Sendo que um dos
planos passa pelo ponto mais acima do plano de MMQ e o outro plano
passa pelo ponto mais abaixo do plano de MMQ.
Erro = Mx (dist ) Mn (dist )
A Figura 5.11 apresenta o fluxograma para o clculo do desvio de

planicidade usando o MMQ.
2
Calcular os coeficientes da equao do modelo

de mnimos quadrados (0, 1 e 2).
Calcular a distncia de cada ponto
coletado ao plano determinado pelo MMQ.
Encontrar o ponto mais acima (P1)

e o ponto mais abaixo (P2) do plano de MMQ.
Determinar o erro de planicidade.
Erro = Soma das distncias de P1 e de P2 ao
plano de MMQ.
Mostrar Resultados.
Fim
Figura 5.11: Clculo do desvio de planicidade
79
5.4 AVALIAO DO SISTEMA DE MLTIPLAS SONDAS

Para
verificar
eficincia
de
um
sistema
de
medio,
recomendado que o instrumento adotado como referncia possua

resoluo 10 vezes menor que o analisado, ou pelo menos acuracidade e
repetibilidade iguais ou melhores que o sistema a ser verificado. Como
os
transdutores
utilizados
possuem
resoluo
de
0,10m,
um
instrumento com resoluo de ordem 10 vezes menor necessrio. O

interfermetro a laser foi adotado como padro por possuir resoluo de
0,03m (HEWLETT-PACKARD, 1988).
Um instrumento de medio considerado competitivo se alm de
medies acuradas, garantir medies rpidas e de baixo custo. O custo
de um sistema de medio est associado principalmente ao custo de
compra do instrumento e ao tempo gasto para realizar cada medio.
Decidiu-se tambm utilizar o nvel eletrnico para medir o desvio de
planicidade da superfcie, e assim, comparar o custo inicial desses
instrumentos, o tempo para realizar a medio e o resultado do desvio
de planicidade.
Uma pea teste foi medida com os trs sistemas de medio nvel
eletrnico, interfermetro a laser e sistema mltiplas sondas. Todas as
medies foram realizadas com a mesma configurao de apoio da pea
sobre o desempeno da mquina de medir. Tal procedimento foi adotado
para evitar influncias dos efeitos gravitacionais, que podem modificar a
distribuio de erros na superfcie medida. Os procedimentos para
coleta de dados e para clculo do desvio de planicidade tambm foram
os mesmos: mtodo de grades retangulares e Mtodo dos Mnimos
Quadrados.
O nvel eletrnico foi conectado a um microcomputador atravs de
um sistema de aquisio de dados. Este converte os sinais do
instrumento em sinais digitais, enviando-os ao microcomputador.
Algumas caractersticas da placa de aquisio de dados como resoluo
e faixa de operao so importantes para total aproveitamento do
80
sistema. A resoluo de uma placa de aquisio de dados depende do

nmero de bits que o conversor analgico-digital usa para representar o
valor do sinal. Quanto menor for a resoluo, maior ser a quantidade
de divises que ter a escala da grandeza que est sendo medida e,
portanto, menor ser a variao dessa grandeza que o sistema poder
detectar.
A placa de aquisio de dados, utilizada na medio com o nvel
eletrnico, possui resoluo de 12 bits e faixa de operao de 5V a
+5V. Os sinais eltricos do nvel, que so da ordem de -50mV a +50mV,
foram amplificados em 100 vezes e enviados para a placa A/D
especificada anteriormente. Desta forma os sinais de entrada esto na
faixa de operao da placa de aquisio. Foi determinada a curva de
calibrao das leituras do nvel eletrnico e dos nmeros digitais da
placa A/D. Um programa computacional foi desenvolvido em Borland
Delphi para ler os nmeros digitais da placa de aquisio, convert-los
em deslocamentos e calcular o desvio de planicidade da superfcie. A
Figura 5.12 mostra o esquema do sistema montado.
MM3C
Figura 5.12: Medio da pea teste com nvel eletrnico
81
Na medio com o interfermetro a laser, um conjunto de pticas

para medio de deslocamento angular foi utilizado. Na Figura 5.13
pode-se visualizar a foto da montagem.
Figura 5.13 : Foto da medio da pea teste com interfermetro a

laser

Para calcular a incerteza de medio necessrio definir as
variveis que influenciam o resultado da medio. As principais
variveis que influenciam no processo de medio de planicidade
utlizando o sistema proposto so a resoluo das escalas pticas da
MM3C, a resoluo dos transdutores e as incertezas associadas ao
clculo dos coeficintes de mnimos quadrados e as associadas s
equaes de separao de erros.
Para clculo da incerteza de medio do desvio de planicidade,
primeiramente foi calculada a incerteza quanto ao clculo do desvio de
retilineidade utilizando as equaes de separao de erros propostas
por Tanaka e Sato (1986). Em seguida, foram calculadas as incertezas
82
relacionadas ao clculo dos coeficientes de MMQ e finalmente a

incerteza relativa ao erro de planicidade foi determinada.
As
equaes
para
clculo
da
incerteza
de
medio
foram
determinadas seguindo as recomendaes do documento ISO GUM e

so descritas a seguir.
Sabemos que o erro de planicidade calculado por:
Erro = Mx(dist ) Mn(dist );
(5.11)
Sendo,
dist =
zi ( 0 + 1 X i + 2 yi )
(5.12)
2 2 + 12 + 1
Aplicando a lei de propagao de incertezas, descrita no Captulo 3,

na equao 5.12 tem-se a equao 5.13 que a expresso utilizada
para estimativa da incerteza do valor de dist. Os termos de segunda
ordem, que aparecem na equao 3.75, foram desprezados por
representarem parcelas muito pequenas da incerteza e para facilitar os
clculos.
2
dist
dist
dist
dist
2
2
* u 2 ( 0 ) +
* u 2 ( 1 ) +
u (dist) =
* u ( z ) +
* u ( x) +
z
x
0
1
2
dist
dist
* u 2 ( 2 ) + +
+
* u 2 ( y )
(5.13)
5.5.1 INCERTEZA NO CLCULO DAS ALTURAS U2(Z)
A varivel z representa a altura de cada ponto com relao ao

sistema de referncia adotado, como j foi descrito. Adotaremos a
varivel V para representar o desvio de retilineidade de cada ponto com
relao ao primeiro ponto da linha medida.
Como j mencionado, as equaes para clculo do desvio de
retilineidade proposta por Tanaka e Sato (1986) so:
Vi = U T i + Di , A D0, A
(5.14)
83
Ui =UCi1 + D(i1),B D(i,A)
(5.15)
U iT = U iC i
(5.16)
U NC
=
N
(5.17)
U0 = 0
(5.18)
A incerteza padro combinada u c2 (Vi ) , como o prprio nome sugere,

a soma da incerteza de cada uma das variveis que influenciam ou
modificam o valor de Vi. Aplicando a lei de propagao das incertezas de
medio na equao 5.14 tem-se a equao 5.19 que a expresso
utilizada para estimativa da incerteza do valor de Vi.
uc (Vi ) = (
Vi 2 2 T
Vi 2 2
Vi 2 2
) u (U i ) + (
) u ( Di , A ) + (
) u ( D0, A )
T
U i
Di , A
D0, A
(5.19)
Utilizando a equao 5.15 determina-se u (U T i ) :
uc (U T i ) = (
U T i 2 2 c
U T i 2 2
)
u
(
U
)
+
(
) u ()
i
U ic
( )
Da mesma forma, a incerteza de, u

c
uc (U i ) = (
(U
(5.20)
c
) , dada por:
U c i 2 2 c
U c i 2 2
U c i 2 2
)
u
(
U
)
+
(
)
u
(
D
)
+
(
) u ( Di , A )
i 1
i 1, B
U ic1
( Di 1,B )
( Di , A )
(5.21)
As
incertezas relativas s leituras dos transdutores
relacionadas
resoluo
dos
apalpadores
utilizados.
sero
Como
os
apalpadores utilizados possuem mesma resoluo, seus valores de

incerteza sero iguais.
u ( Di 1,B ) = u ( Di , A ) =
u (Re s LVDT )
6
Dessa forma, a equao para clculo de
(5.22)
c
uc2 (U i ) pode ser escrita
como indica a expresso (5.23).

c
uc2 (U i ) = 2 * i *
u 2 (Re s LVDT )
6
(5.23)
84
E a incerteza, u ( ) , dada por:

2
u () = (
u 2 (Re s LVDT )
( ) 2 2 C
1
)
*
u
(
U
)
=
*
2
*
N
*

N
(U NC )
6
N
(5.24)
As derivada parciais que aparecem nas equaes (5.19)-(5.22) e

(5.24) so apresentadas a seguir.
=1
Vi
=1
D0, A
U T i
=i
U C i
=1
Di 1, B
1
=
C
U N N
Vi
=1
Di , A
U T i
=1
U C i
U C i
=1
U C i 1
U C i
= 1
Di , A
(5.25)(5.32)
Vi
U i
Assim, a equao 5.33 pode ser utilizada para determinar a

incerteza relativa ao clculo de uc (Vi ) = uc ( Z i ) .
uc ( Z i ) = uc (Vi ) =
u 2 (Re s LVDT )
u 2 (Re sLVDT )
2 1
2 *i *
+ (i ) * * 2 * N *
+
N
6
6

u 2 (Re sLVDT )
+ 2*
6
(5.33)
5.5.2 CLCULO DE U2( 0), U2(1) E U2(2)
Os coeficientes da equao do plano, determinados atravs do

Mtodo dos Mnimos Quadrados, dependem dos valores ( xi , y i , z i ) dos
pontos medidos e so determinados atravs das equaes (5.7), (5.8) e
(5.9). As expresses (5.34), (5.35) e (5.36) podem ser utilizadas para
clculo da incerteza relativa aos valores de 0, 1 e 2.
2

u ( 0 ) = 0 * u 2 ( y ) + 0 * u 2 ( x ) + 0 * u 2 ( z )
x
z
y
(5.34)
85

u ( 1 ) = 1 * u 2 ( y ) + 1 * u 2 ( x ) + 1 * u 2 ( z )
x
z
y
(5.35)

u( 2 ) = 2 * u 2 ( y ) + 2 * u 2 ( x ) + 2 * u 2 ( z )
x
z
y
(5.36)
As derivadas parciais que aparecem nas equaes (5.34), (5.35) e

(5.36) so apresentadas podem ser determinadas atravs das equaes
(5.37)-(5.45).
0
X 2
( X iYi )
= (( Yi Z i )( i Yi (
)(( Yi Z i ) X i + ( X i Z i ) Yi ) ( Yi X i )
X
X
X
X
( X i Zi )
( X iYi )
(( Yi Z i ) i ) + (
) Yi ) + 2( X iYi )(
Zi + ( Yi 2 )(( X i Zi )
X
X
X
( X i Zi )
X 2
+ (
) X i ( i ) Z i )) /( N ( X iYi ) 2 2( X i )( Yi ) X iYi + ( X i )2
X
X
( X Y )
( X Y )
yi + ( X i2 )((Yi )2 N Yi 2 )) ((2 N ( X iYi ) Xi i 2( X i )( Yi ) Xi i
i
X i2
)(( Yi ) 2 N Yi 2 ))(( Z i )( Yi X i ) 2
X
(( Yi Z i ) X i + ( X i Z i ) Yi ) X iYi + ( Z iYi )( X i2 ) Yi + ( Yi 2 )(( X i Z i )
2( Yi X i ) Yi + 2( X i ) Yi 2 + (
X ( X ) Z ))) /( N ( X Y )
( X )(( Y ) N Y ))
2
i
2
i
2( X i )( Yi ) Yi X i + ( X i ) 2 Yi 2 +
i i
(5.37)
0
= (XiYi ((XiZi ) + (Zi )Xi ) + (ZiYi )Xi2 + (Zi )(Xi2)Yi (Xi )((ZiYi )Xi + (XiZi )Yi )
Y
+ 2(XiYi )(Xi ) + Zi + (2Yi )((Zi Xi )Xi (Xi2)Zi ))/(N(XiYi )2 2(Xi )(Yi )XiYi + (Xi )2 Yi2
+ (Xi2)((Yi )2 NYi2))(((2Yi )(Xi )2 2(XiYi )Xi 2(Xi )(Yi )Xi + 2N(XiYi )Xi + (Xi2)
(2(Yi N2Yi ))((Zi )(XiYi )2 ((ZiYi )Xi + (Xi Zi )Yi XiYi + (ZiYi )(Xi2)Yi + (Yi2)((XiZi )
X (X )Z )))/(N(X Y) 2(X )(Y)Y X +(X ) Y +(X )((Y) NY ))

i
2
i
i i
2
i
2 2
(5.38)
0
= ((XiYi )2 ((Yi )Xi +(Xi )Yi )(XiYi ) +(Yi )(Xi2 )Yi +((Xi )Xi Xi2)Yi2 )/
Z
(N(XiYi )2 2(Xi )(Yi )XiYi +(Xi )2 Yi2 +(Xi2 )((Yi )2 N(Yi2 ))
(5.39)
86
1
= ((Zi )(Yi )2 (ZiYi )(Yi ) N(Zi )Yi2 +(Yi2 )(Zi ) +(Yi )(NYi Zi (Yi )Zi ))/
X
(N(XiYi )2 2(Xi )(Yi )XiYi +(Xi )2 Yi2 +(Xi2 )((Yi )2 NYi2 ))((2N(XiYi )(Yi )
2(Xi )(Yi )Yi 2(XiYi )Yi +2(Xi )Yi2 +(2Xi )((Yi )2 NYi2 ))((Xi Zi )(Yi )2
(Yi Zi )Xi Yi N(Xi Zi )Yi2 +(Xi )(Yi2 )Zi +(XiYi )(NYi Zi (Yi )Xi )))/
(N(XiYi )2 2(Xi )(Yi )Yi Xi +(Xi )2 Yi2 +(Xi2 )((Yi )2 NYi2 ))2
(5.40)
1
=(N(Zi Xi )2Yi +(Xi )(Zi )2Yi (ZiYi )Xi +2(Zi Xi )Yi (Zi )(Xi )Yi +
Y
(XiYi )(NZi Zi ) +(Xi )(NZiYi (Yi )Zi ))/(N(XiYi )2 2(Xi )(Yi )XiYi +(Xi )2 Yi2
+(Xi2)((Yi )2 NYi2))(((2Yi )(Xi )2 2(Yi Xi )Xi 2(Yi )(Yi )Xi +2N(XiYi )Xi +
(Xi2 )(2Yi N2Yi ))((Xi Zi )(Yi )2 (ZiYi )(Xi )Yi N(Xi Zi )Yi2 +(Xi )(Y2i )Zi
+(Yi Xi )(NYi Zi (Yi )Zi )))/(N(XiYi )2 2(Xi )(Yi )Yi Xi +(Xi )2 Yi2 +(Xi2)((Yi )2 NYi2))2
(5.41)
1
= ((Xi )(Yi )2 (Yi )(Xi )Yi + (XiYi )(NYi Yi ) N(Xi )Yi2 + (Xi )Yi2) /
Z
(N(XiYi )2 2(Xi )(Yi )Yi Xi + (Xi )2Yi2 + (Xi2)((Yi )2 NYi2))
(5.42)
2
= (((Xi )Yi NXiYi )(NZi Zi ) +((Yi NYi )(NXi Zi Xi Zi ) +(N2Xi 2Xi )
X
(NYi Zi (Yi )Zi ))/((NXi2 (Xi )2 )(NYi2 (Yi )2 ) (NYi Xi (Xi )Yi )2 ) (((N2Xi 2Xi )
(NYi2 (Yi )2 ) 2(NYi Yi )(NYi Xi (Xi )Yi ))(((Xi )Yi NYi Xi )(NZi Xi (Xi )Zi ) +
(NXi2 (Xi )2 )(NYi Zi (Yi )Zi )))/((NXi2 (Xi )2 )(NYi2 (Yi )2 ) (NYi Xi (Xi )Yi )2 )2
(5.43)
2
= ((NXi2 (Xi )2 )(NZi Zi ) +((Xi NXi )(NZi Xi ) (Xi )Zi ))/
Y
((NXi2 (Xi )2 )(NYi2 (Yi )2 ) (NYi Xi (Xi )Yi )2 ) (((NX 2i (Xi )2 )(N2Yi 2(Yi )
2(NXi Xi )(NYi Xi (Xi )Yi ))(((Xi )Yi NYi Xi )(NZi Xi (Xi )Zi ) +
(NXi2 (Xi )2 )(NYi Zi (Yi )Zi )))/((NXi2 (Xi )2 )(NYi2 (Yi )2 ) (NYi Xi (Xi )Yi )2 )2
(5.44)
87
2
= ((NXi Xi )((Xi )Yi ) NYi Xi ) +(NXi2 (Xi )2 )(NYi Yi ))/
Z
((NXi2 (Xi )2 )(NYi2 (Yi )2 ) (NYi Xi (Xi )Yi )2 )
(5.45)
Os valores de u ( y ) e u (x ) so relativos incerteza das leituras da
rgua ptica da MM3C e podem ser determinados atravs da equao
(5.46).
u( y ) = u( x ) =
u 2 (Re s MM 3C )
3
(5.46)
Na equao (5.46), u (Re s MM 3C ) a resoluo da MM3C.
As derivadas parciais da equao (5.13) podem ser calculadas a

partir das equaes (5.47) (5.52).
dist
=1
z
( z 0 x 1 y 2 )
dist
x
= 1
2
2 3/ 2
(1 + 1 + 2 )
1
1 + 12 + 22
(5.47)
(5.48)
1
dist
=
x
1 + 12 + 22
(5.49)
dist
1
=
0
1 + 12 + 22
(5.50)
( z 0 x 1 y 2 )
dist
y
= 2
2
2 3/ 2
2
(1 + 1 + 2 )
1 + 12 + 22
(5.51)
2
dist
=
y
1 + 12 + 22
(5.52)
Atravs da equao (5.13) pode-se determinar a incerteza relativa

ao clculo das distncias entre ponto e plano. A incerteza do clculo do
desvio de planicidade determinada aplicando a lei de propagao de
incertezas na equao (5.11).
88
( Erro)
( Erro)
* u 2 ( Mx(dist )) +
* u 2 ( Mn(dist ))
u ( Erro) =
(
Mx
(
dist
))
(
Min
(
dist
))
(5.53)
Ou seja,
u 2 ( Erro) = u 2 ( Mx(dist )) + u 2 ( Mn(dist ))
(5.54)
89
CAPTULO 6
TESTES EXPERIMENTAIS, RESULTADOS E

DISCUSSES
Descrito o sistema de medio de desvio de planicidade, cabe agora

apresentar os resultados obtidos com a sua aplicao. A primeira parte
deste captulo apresenta os resultados das medies de erro de
retilineidade realizadas para validao das tcnicas de separao de erros.
A segunda apresenta os resultados das medies de erro de planicidade e
comparao com sistemas convencionais de medio desse erro. Em
seguida, so apresentados os clculos de incerteza de medio.
90
6.1 MEDIO DO ERRO DE RETILINEIDADE

Para verificar a aplicabilidade das tcnicas de separao de erros
descritas no Captulo 5 foram realizadas medies de erro de retilineidade
de duas superfcies, uma fabricada em granito com erro de retilineidade
muito pequeno e outra fabricada em ao e com erro de retilineidade da
ordem de 40m. O valor verdadeiro dos desvio de retilineidade dessas duas
superfcies foi determinado atravs do mtodo de reverso da rgua,
descrito no Captulo 3. A seguir so apresentados os resultados e a anlise
dessas medies.
6.1.1 RESULTADOS OBTIDOS COM

KIYONO & GAO,1994
MTODO
COMBINADO
PROPOSTO
POR
O mtodo proposto por Kiyono e Gao exige o uso de apenas dois

sensores para medio. Como a garra de medio construda suporta trs
sensores, decidiu-se combin-los dois a dois e aplicar a equao proposta
por Gao a cada uma das combinaes. De acordo com Gao, quando a
equao 6.1 utilizada, os erros de retilineidade da superfcie de
referncia, ou seja, do eixo y da MM3C, so eliminados.
n
Z ( xi ) = m' ( xi ) s =Z ( xi 1 ) +
i =1
(m B ( xi ) m A ( xi ))
s
D
(6.1)
Na equao 6.1, s a distncia entre os sensores A e B, D o

intervalo de tomada de dados e Z(xi) corresponde ao desvio de retilineidade
do mensurando no ponto i.
Na combinao entre os sensores A e B, o intervalo de tomada de
dados igual distncia entre os sensores, s=D=18mm. Portanto, a
equao 6.2 pode ser utilizada.
Z ( xi ) = Z ( xi 1 ) + (m B ( xi ) m A ( xi ))
(6.2)
91
Da mesma forma, quando
a combinao dos sensores B e C
avaliada, o erro de retilineidade do mensurando calculado pela equao

6.3.
(6.3)
Z ( xi ) = Z ( xi 1 ) + (mC ( xi ) m B ( xi ))
Na combinao entre os sensores A e C, s =18mm e D=32mm,

portanto, a equao 6.4 pode ser aplicada para a separao de erros.
Z ( xi ) = Z ( xi 1 ) +
(mC ( xi ) m A ( xi ))
18000
32000
(6.4)
Os resultados obtidos para a medio da rgua de granito, com cada

uma das combinaes de sensores, podem ser vistos nos Grfico 6.1 e 6.2.
Onde tambm, podem ser visualizadas as leituras individuais dos
Erro de retilineidade (m)
sensores.
85
Sensores A e B
Sensores B e C
Sensores A e C
60
35
10
-15
-40
-1
14
19
Posio (i)
Grfico 6.1: Comparao entre os resultados obtidos com cada uma

das combinaes de sensores na medio da rgua de granito.
92
AeB
BeC
AeC
Valor Verdadeiro
3.5
2.5
1.5
0.5
-0.5
-1.5
-2.5
-3.5
0
10
15
20
Posio (i)
Grfico 6.2: Comparao entre os resultados obtidos com cada uma das
combinaes de sensores na medio da rgua de granito
desalinhamento eliminado
Verifica-se atravs do Grfico 6.2 que o melhor resultado obtido com
o modelo proposto por Kiyono e Gao foi o da combinao dos sensores A e
B e que esse resultado se aproxima em 69% do valor verdadeiro do desvio
de retilineidade da rgua de granito. J o pior resultado foi quatro vezes
maior que o valor verdadeiro.
Idealmente as trs combinaes de sensores deveriam dar o mesmo
resultado, afinal foi utilizado o mesmo conjunto de dados e, portanto,
trata-se do mesmo desalinhamento entre rgua e guia. O desalinhamento
entre rgua e guia pode ser verificado quando observada as leituras
individuais dos sensores A, B e C no Grfico 6.1. Percebe-se, ento, que
alm do desalinhamento entre rgua e guia existem outros fatores que
tornam os resultados de cada combinao diferentes. A diferena entre os
resultados pode ser justificada pela presena de erros angulares no
movimento do eixo y da MM3Cs que sendo da ordem dos erros do
mensurando, interferem no resultado. Com isso, pode-se concluir que o
modelo proposto por Kiyono e Gao em 1994 no deve ser utilizado quando
os erros angulares da referncia de medio so da mesma ordem que os
erros do mensurando.
93
O procedimento de anlise dos resultados de medio da rgua de
ao fabricada com maior desvio foi o mesmo adotado para analisar os
resultados da rgua de granito. O resultado das trs combinaes de
Desvio de retilineidade (m)
Desvio de retilineidade
(m)
sensores pode ser visto no Grfico 6.3.

15
-5
-25
-45
-65
-85
-105
Sensores A e B
Sensores B e C
Sensores A e C
A
B
C
40
35
30
25
Sensor A
Sensor B
Sensor C
A/B
B/C
A/C
Valor Verdadeiro
20
15
10
5
0
-125
-1
45
14
19
Posio (i)
a- com desalinhamento
-1
14
19
Posio (i)
b- sem desalinhamento
Grfico 6.3-Erro de retilineidade rgua de ao

Como pode ser observado, a diferena entre os resultados no to
discrepante como no caso da rgua de granito. O melhor resultado, obtido
com a combinao dos sensores B e C, aproximou-se em 83% do valor
verdadeiro. Como o erro de retilineidade da rgua de ao da ordem de 10
vezes o erro angular da MM3C, esses erros,os angulares, no influenciam
tanto os resultados.
6.1.2 RESULTADOS
OBTIDOS COM O MTODO UTILIZANDO TRS APALPADORES

ROPOSTO POR GAO ET AL,2002
O mesmo conjunto de dados usado para avaliar o mtodo anterior foi

analisado. O modelo apresentado na equao 6.5 foi proposta por GAO et
al,2002 para eliminar os erros de retilineidade e angular, inerentes ao
sistema de medio.
i
Z ( xi ) =
k =1 j =1
A( xi ) 2 * B( xi ) + C ( xi )
*s*s
xi2
2
2
d
2*d
Z ( x1 ) = 0 ; i = 2,..., N ; s = d = 18mm e = A( x1 ) 2 * B( x1 ) + C ( x1 )
(6.5)
94
O resultado obtido para a rgua de granito pode ser visto no Grfico
6.4.
90
80
y = -0.3799x2 + 12.418x - 14.862

R2 = 0.9978
70
60
50
40
30
20
10
0
1
sem erro quadratico
Valor Verdadeiro
11
16
sem erro quadratico e desalinhado
Poly. (sem erro quadratico)
21
Posio (i)
Grfico 6.4: Erro de retilineidade rgua de granito calculado com mtodo

proposto por GAO et al,2002.
De acordo com GAO et al, o segundo termo da equao 6.5
utilizado para eliminar o erro causado pelo desalinhamento entre os
sensores, que segundo o mesmo autor, causa um erro parablico nos
resultados da medio. Pode-se verificar nos resultados do Grfico 6.4 que
mesmo depois de eliminar o erro quadrtico atravs da equao 6.5, a
curva do erro de retilineidade da rgua de granito ainda parablico, como
pode ser observado atravs da curva de aproximao linear do Grfico 6.4 .
Para entender melhor o mtodo, a seguinte anlise foi feita: suponha
que seja medida uma superficie perfeitamente retilnea com um sistema de
medio ideal, ou seja, um sistema de medio que no possui erros de
movimentao. Portanto, nesse sistema ideal, a leitura de cada um dos
sensores ser constante. Suponha tambm que, seja possvel alinhar os
sensores perfeitamente, de forma que durante todo o curso de medio as
leituras dos trs sensores sejam iguais.
Verifica-se na Tabela 6.2 que o resultado seria coerente, ou seja, o
erro de retilineidade da superfcie seria nulo.
95
Tabela 6.1: Leitura dos sensores A, B e C em sistema idealizado
A(xi)
B(xi)
C(xi)
=A-2B+C
Z(xi)
Sabe-se que praticamente impossvel alinhar os trs sensores

perfeitamente, considere agora, a mesma situao anterior mas com os
sensores ligeiramente desalinhados. As leituras de cada sensor sero
constantes durante a medio mas cada sensor medir um valor, j que
no esto alinhados.
Tabela 6.2: Leitura dos sensores A, B e C em sistema sem desvios
geomtricos e com sensores desalinhados
Posio
A-2B+C
Z com erro
quadrtico
Z sem erro
quadrtico
-2
-2
-2
-2
-6
-5
-2
-12
-8
-2
-20
-11
-2
-30
-14
-2
-42
-17
-2
-56
-20
A ltima coluna da Tabela 6.2 apresenta o erro de retilineidade do

mensurando calculado de acordo com a equao 6.5, propostas por Gao et
al,2002. O Grfico 6.5 mostra que a superfcie medida apresenta
inclinao mas que pode ser perfeitamente representado por uma reta.
Com isso verifica-se que o mtodo apresenta resultados coerentes para
dados simulados. No entanto, quando so analisados dados experimentais
96
verifica-se que um desalinhamento entre os sensores de 10 nm suficiente
para acrescentar um erro de perfil parablico nos resultados de medio,
tornando invivel a utilizao do mtodo para aplicaes prticas.
-20
y = -3x - 2
R2 = 1
-40
-60
-80
Sem eliminar desalinhamento

entre sensores
-100
Com desalinhamento
eliminado
y = -x2 - 3x - 2
R2 = 1
-120
0
8
9
Posio (i)
Grfico 6.5: Resultados do desvio de retilineidade da superfcie idealizada
O grfico 6.6 apresenta o erro
de retlineidade da rgua de ao.
Comparando com os resultados obtidos atravs do mtodo da reverso os

resultados podem ser considerados bons. O desvio de retilineidade com o
mtodo proposto por GAO et al,2002 foi de 48 m. Quando o desvio de
retilineidade calculado atravs do mtodo da reverso o valor encontrado
de 42 m. No entando, quando so realizadas inmeras medies
verifica-se que este mtodo no apresenta repetibilidade. O item 6.1.5
descreve o experimento realizado para verificar a repetibilidade dos
mtodos.
80
70
y = 2.1232x 2 + 10.334x - 6.5987

R2 = 0.9999
y = -0.4088x 2 + 10.334x - 6.5987
R2 = 0.9608
60
50
40
30
20
10
-10
-20
0
com erro quadrtico
5
sem erro quadrtico
10
sem erro quadrtico e desalinhado
15
Valor verdadeiro
20
Posio (i)
Grfico 6.6: Erro de retilineidade rgua de ao calculado com mtodo

proposto por GAO et al,2002.
97
6.1.3 RESULTADOS
POINTS"(STRP)
OBTIDOS
COM
MTODO
"SEQUENCIAL-THREE-
Os Grficos 6.7 a- e b- apresentam o erro de retilineidade das rguas

de ao e de granito determinado a partir do mtodo "Sequencial-ThreePoints"(STRP).
Percebe-se
que
mtodo
no
calcula
resultado
corretamente para a rgua de granito adicionando tendncia parablica no

resultado, enquanto que para a rgua de ao os resultados se aproximam
em 95% do valor verdadeiro. No entanto, o mtodo no apresenta
repetibilidade como descrito no item 6.1.5.
40
40
45
35
30
25
20
35
30
25
20
Mtodo STRP
Valor verdadeiro
15
15
Mtodo STRP
Valor Verdadeiro
10
10
5
0
10
15
Posio (i)
20
10
15
20
-5
Posio (i)
a- Rgua de ao
b- Rgua de granito
Grfico 6.7: Desvio de retilineidade determinados atravs do mtodo

STRP
6.1.4 RESULTADOS OBTIDOS COM O MTODO 'SEQUENCIAL-TWO-POINTS" (TSP)
Como esse mtodo exige apenas dois sensores, os trs sensores foram
combinados dois a dois e a equao proposta por Tozawa no ano de 1982
foi aplicada. A tabela 6.3 apresenta as equaes utilizadas para cada uma
das combinaes.
98
Tabela 6.3: Equaes usadas para separao de erros com mtodo de TSP
COMBINAO
EQUAO
X KC = X KC 1 + DK 1, B DK , A ; =
AeB
X NC
XC
= 22 ; X 0C = 0 ;
N
22
YK = X KT + DK , B D0, B
X KC = X KC 1 + DK 1, B DK ,C ; =
BeC
X NC
XC
= 22 ; X 0C = 0 ;
N
22
YK = X KT + DK ,C D0,C
X KC = X KC 1 + DK 1, A DK ,C ; =
AeC
X NC
XC
= 22 ; X 0C = 0 ;
N
22
YK = X KT + DK ,C D0,C
Os grficos 6.8-a e 6.8-b apresentam o erro de retilineidade da rgua

de granito. Assim como nos resultados calculados pela equao de Gao, os
resultados obtidos para cada uma das combinaes foram diferentes.
Como j constatado, a diferena pode ser justificada pela presena de
erros angulares nos eixos da MM3C com mesma grandeza que o erro do
mensurando. Inviabilizando que o mtodo seja utilizado para medio de
superfcies com desvio de retilineidade da mesma ordem que o desvio de
da referncia adotada. Desta forma, o sistema proposto foi utilizado abaixo
80
Desvio de retilineidade (m).
dos seus limites de resoluo na medio da rgua de granito.

70
60
50
40
30
A/B
20
B/C
A/C
10
Sensor A
Sensor B
Sensor C
0
-1
14
19
Posio (i)
2
C/B
B/A
A/C
Erro Verdadeiro
1.5
1
0.5
0
-0.5
-1
-1.5
-2
-2.5
-3
10
15
Posio (i)
20
b- sem desalinhamento
Grfico 6.8: Desvio de retilineidade rgua de granito usando mtodo TSP
99
O erro de retilineidade da rgua de ao tambm foi calculado

utilizando as equaes da Tabela 6.3. Os resultados so apresentados nos
Grficos 6.9-a e 6.9-b.
45
48
38
28
18
Sensor A
Sensor B
Sensor C
A/B
B/C
A/C
8
-2
-12
35
30
25
20
C/B
B/A
A/C
Erro Verdadeiro
15
10
5
0
-22
-1
40
14
19
Posio (i)
10
15
20
Posio (i)
b-sem desalinhamento
Grfico 6.9: Desvio de retilineidade rgua de ao usando mtodo TSP

As diferenas entre os resultados de cada um das combinaes na
medio da rgua com maior desvio de retilineidade pequena quando
comparadas aos resultados da medio da rgua de granito. Os resultados
para essa medio tambm so prximos aos valores verdadeiros do desvio
de retilineidade, calculados atravs do mtodo da reverso.
O valor
verdadeiro do desvio de retilineidade de 43 m. O maior resultado

calculado pelo mtodo de separao de erros resulta em 35 m,
equivalente a 81% do valor verdadeiro. Enquanto, o menor resultado foi de
25 m, equivalente a 56% do valor valor verdadeiro.
6.1.5 VERIFICAO DA REPETIBILIDADE DOS MTODOS DE SEPARAO DE ERROS

Para verificar e repetibilidade dos mtodos uma sequncia de quatro
experimentos foram realizados. Em cada um do experimentos, a rgua de
ao foi medida trs vezes seguidas. Entre os experimentos, os sensores
foram reajustados e o mesmo processo de medio foi realizado. Os
grficos abaixo apresentam o resultado para cada um dos mtodos.
45
40
20
15
-60
-80
Ensaio 2
10
8
12
6
14
4
16
2
18
0
19
8
21
6
23
4
25
2
27
0
28
8
30
6
32
4
34
2
36
0
54
72
-140
90
-120
18
36
-100
10
Ensaio 1
Ensaio 3
Ensaio 4
Valor verdadeiro
Ensaio 1
Posio (mm)
Ensaio 2
Ensaio 3
Ensaio 4
Valor Verdadeiro
Posio (mm)
a- Mtodo proposto por Kiyono e
b- Mtodo proposto por Gao et
Gao,1994
al,2002
45
0
-20
-40
-60
40
35
30
25
20
Ensaio 1
Ensaio 2
Ensaio 3
Ensaio 4
Valor verdadeiro
Posio (mm)
0
18
90
10
8
12
6
14
4
16
2
18
0
19
8
21
6
23
4
25
2
27
0
28
8
30
6
32
4
34
2
36
0
54
0
72
-140
18
10
-120
36
15
-100
-80
Ensaio 1
c- Mtodo STRP
72
90
10
8
12
6
14
4
16
2
18
0
19
8
21
6
23
4
25
2
27
0
28
8
30
6
32
4
34
2
36
0
20
36
54
40
-40
90
10
8
12
6
14
4
16
2
18
0
19
8
21
6
23
4
25
2
27
0
28
8
30
6
32
4
34
2
36
0
25
0
-20
54
30
20
72
35
36
40
18
Desvio de retilineidade (m)
Erro de retilineidade (m).
100
Ensaio 2
Ensaio 3
Ensaio 4
Erro de retilineidade Posio (mm)
d- Mtodo TSP
Grfico 6.10: Resultado do experimentos realizados para verificar

repetibilidade dos mtodos de separao de erros
Como pode ser observado nos grficos, os mtodos que utilizam trs
sensores no apresentam repetibilidade. Esses mtodos so influenciados pela
diferena das leituras dos sensores no primeiro ponto de medio. Como em
cada um dos ensaios, os sensores foram reajustados, o desalinhamento entre
os sensores em cada um dos ensaios foi diferente e portanto a varivel
diferente para cada um dos ensaios. Nesse, estudo, no foi encontrada uma
relao entre o valor de e o resultado da medio. PAZIANI, F. T. (2005)
props um modelo que resolve esse problema.
Os
mtodos
que
utilizam
dois
sensores
apresentaram
maior
repetibilidade e resultados prximos ao valor verdadeiro de desvio de

retilineidade. Oclculo do desvio de planicidade foi realizado atravs do mtodo
proposto por Kiyono e Gao,1994.
101
6.2 MEDIO DE ERRO DE PLANICIDADE

O desvio de planicidade de uma superfcie foi medido para verificar a
eficincia do algortmo de separao de erros na medio de desvio de
planicidade. O desvio de planicidade dessa superfcie tambm foi medido
utilizando interfermetro a laser e nvel eletrnico. Em seguida, os trs
resultados foram comparados.
Os grficos 6.11 apresentam os valores dos desvios medidos utilizando o
-50
-150
-250
216
50
-50
-150
-250
216
144
252
72
Posio (mm)
0
0
36
72
108
144
180
288
324
360
360
180
324
144
216
Posio (mm)
288
252
108
216
180
72
144
Posio (mm) 36
-150--50
Posio(mm)
108
72
36
-250--150
-250--150
Erro ( Microometros)
50
Erro ( Micrometros)
sistema proposto, o nvel eletrnico e o interfermetro a laser.
-150--50
-50-50
-50-50
b. Resultado obtido com nvel
sistema proposto
eletrnico
Desvio de planicidade = 220m
Desvio de planicidade = 225m
50
-50
-150
Erro ( Micrometros)
a. Resultado obtido com
-250
216
144
72
Posio (mm) 0
36
0
-250--150
72
108
144
-150--50
180
216
252
288
324
360
Posio (mm)
-50-50
c. Resultado obtido com interfermetro laser

Desvio de planicidade =202m
Grfico 6.11: Erros de planicidade medidos utilizando diferentes sistemas de
medio
102
De modo geral, pode-se dizer que os valores de desvio de planicidade
encontrados so prximos aos valores medidos com o interfermetro a laser e
com o nvel eletrnico. O desvio de planicidade calculado com o mtodo de
separao de erros foi de 220m. Esse valor corresponde a um percentual de
97% quando comparado ao nvel eletrnico e a um percentual de 92% quando
comparado ao interfermetro a laser.
Alm da avaliao qualitativa, o sistema de medio deve ser avaliado
quanto ao custo e tempo para realizar medio. Por isso, o tempo de medio
de cada um dos experimentos realizados foi medido. O interfermetro a laser foi
o mais demorado visto que as pticas devem ser alinhadas para a medio de
cada uma das linhas. A medio com o nvel eletrnico foi simples e rpida, j
que o instrumento foi conectado a um microcomputador preparado com
programa computacional para clculo do desvio de planicidade. A medio com
sistema proposto foi facilitada devido s rguas pticas da MM3C estarem
conectadas com programa computacional que verifica a posio do eixo da
MM3C e guarda a leitura dos transdutores na posio pr-determinada pelo
operador. Outro fato facilitador que este mesmo programa computacional
possua algoritmo para separao de erros e para clculo do desvio de
planicidade.
O custo do sistema interferomtrico a laser de aproximadamente
U$30.000,00 enquanto o nvel eletrnico custa em torno de U$15.000,00.
Desconsiderando o preo da MM3C o sistema proposto tem custo da ordem de
U$3.000,00. A Tabela 6.4 apresenta uma comparao entre os trs sistemas.
Tabela 6.4: Comparao entre sistemas de medio

Instrumento
Tempo (min) Erro (m)
Custo (U$)
Nvel eletrnico
225
15.000,00
Sistema proposto
11
220
3.000,00
Laser
60
251
30.000,00
103

A seguir so apresentados os clculos realizados para determinar a
incerteza de medio do resultado do erro de planicidade utilizando o sistema
proposto.
6.3.1 CLCULO DA INCERTEZA RELATIVA S ALTURAS Z MEDIDAS

Quando as equaes do mtodo de separao de erros propostas por
Tanaka e Sato (1986) so utilizadas para determinar os valores das alturas Z, a
altura Z de um ponto i calculada a partir do valor Z do ponto anterior (i-1).
Portanto, a incerteza relativa altura Z de um ponto depende de sua posio i,
conforme apresentado no Captulo 5.
A coordenada do ponto em que se tem mxima distncia at o plano de
MMQ, Min (dist ) , (x=180, y=108, z=-0,876). Como esse ponto encontra-se na
linha x=180 e a distncia entre cada ponto de medio 38mm, o valor do
ndice i usado na equao de separao de erros e na equao para
determinao da incerteza de medio, U2(Z), ser 5. A coordenada do ponto
em que se tem Mx (dist ) (x=0, y=216, z=0.132) e o valor do ndice i zero.
A incerteza relativa leitura dos transdutores dada por:
u ( Di 1, B ) = u ( Di , A ) =
(Re s LVDT ) 2
=
6
0.12
= 1.6 10 -3 m
6
Sendo que Re s LVDT a resoluo dos transdutores utilizados.

Atravs da equao (5.33), determina-se o valor de uc ( Z Mx (dist ) ) e de
u c ( Z Mn (dist ) ) : u c ( Z Min ( dist ) ) = 0,16m e uc ( Z Mx ( dist ) ) = 0,05m .
6.3.2 CLCULO DE u2(0), u2(1) e u2(2)

Utilizando as equaes 5.34 e 5.35 determina-se os valores de u2(0), u2(1)
e u2(2).
A incerteza relativa s leituras das escalas pticas da MM3C dada por:
104
u ( y ) = u ( x) =
Re s MM 3C
3
2
3
= 1,15m .
As Tabelas 6.5, 6.6 e 6.7 apresentam os resultados das incertezas

relativas a 0, 1 e 2.
Tabela 6.5: Incerteza no clculo de 0 , u(0)
Componente
Incerteza
de incerteza
Padronizada
u(xi)
(m)
U(z)
Coeficiente de
Sensibilidade
f 2
u ( xi )
x
i
0,16
4,67
0,56
U(x)
1,15
1,17
1,81
U(y)
1,15
2,4 10 3
7,62 10 6
Soma
1,53 m
Tabela 6.6: Incerteza no clculo de 1, u(1)

Componente
Incerteza
de incerteza
Padronizada
u(xi)
(m)
U(z)
Coeficiente de
Sensibilidade
f 2
u ( xi )
xi
0,16
1,37 10 5
4,8 10 12
U(x)
1,15
6,5 10 4
0,56 10 6
U(y)
1,15
4,27 10 10
2,4 10 19
Soma
0,75 10 3 m
Tabela 6.7: Incerteza no clculo de 2, u(2 )

Componente
Incerteza
de incerteza
Padronizada
u(xi)
(m)
U(z)
Coeficiente de
Sensibilidade
f 2
u ( xi )
xi
0,16
3,6 10 6
3,31 10 13
U(x)
1,15
1,1 10 3
1,60 10 6
u(y)
1,15
8,0 10 10
8.46 10 19
Soma
1,29 10 3 m
105
6.3.3 CLCULO DE
U2(MX(DIST)) E U2(MN(DIST))
A equao (5.13) pode ser utilizada para determinao de u 2 ( Mx(dist )) e
u 2 ( Mn( dist )) , os resultados so apresentados nas Tabela 6.8 e 6.9.

Tabela 6.8: Incerteza no clculo de Mx (dist ) , u ( Mx (dist ))
Componente
Incerteza
Coeficiente
de incerteza
Padronizada
de
u(xi)
(m)
Sensibilidade
U(z)
5,7 10 2
3,2 10 3
U(1)
7,5 10 4
2,9 10 4
4,73 10 14
U(2)
1,3 10 3
-215,9
7,87 10 2
U(0)
1,53
-0,99
2,29
U(x)
1,15
2,1 10 3
5,8 10 6
U(y)
1,15
3,58 10 5
1,69 10 9
Soma
f 2
u ( xi )
xi
1,53m
Tabela 6. 9: Incerteza no clculo de Mn (dist ) , u ( Mn ( dist ))

Componente
Incerteza
Coeficiente
de incerteza
Padronizada
de
u(xi)
(m)
Sensibilidade
U(z)
0,16
0,025
U(1)
7,5 10 4
-180
1,82 10 2
U(2)
1,3 10 3
-107,99
1,97 10 2
U(0)
1,53
-0,99
2,29
u(x)
1,15
2,1 10 3
5,83 10 6
u(y)
1,15
3,58 10 5
1,69 10 9
Soma
f 2
u ( xi )
xi
1.52m
106
Utilizando os resultados anteriores os valores de u ( Mx (dist )) e u ( Mn ( dist ))
so respectivamente 1,53m e 1,52m. Atravs da equao (5.49) determinase que o valor de u (Erro) 2,15 m.
Tabela 6. 10: Incerteza do resultado da medio de desvio de planicidade

Componente
Incerteza
Coeficiente de
Padronizada(m)
sensibilidade
f 2
u ( xi )
x
i
u ( Mx (dist ))
1,53
2,34
u ( Mn ( dist ))
1,52
2,31
Soma
2,15m
de incerteza
u(xi)
107
CAPTULO 7
CONCLUSES E SUGESTES PARA

TRABALHOS FUTUROS
Planicidade um parmetro crtico na fabricao de diversos

componentes da indstria mecnica. Para avaliar apropriadamente a
planicidade de superfcies, fabricadas com tolerncias cada vez mais
apertadas, intrumentos de alta acuracidade e alta velocidade de
medio devem ser desenvolvidos. O que sigmifica um grande desafio
para os especialistas em metrologia mecnica dimensional.
O objetivo desse trabalho foi desenvolver um sistema que utiliza a
medio de desvio de retilineidade para determinar o desvio de
planicidade de uma superfcie. Para tanto, foi feita uma ampla reviso
bibliogrfica sobre mtodos de medio de planicidade e sobre tcnicas
de separao de erros aplicadas na medio do desvio de retilineidade.
A literatura sobre tcnicas de separao de erros, destacou a
necessidade de resultados experimentais que permitam comprovar a
108
aplicabilidade das referidas tcnicas. A maioria dos artigos consultados

neste trabalho apresentaram os resultados atravs de dados simulados,
o que no pode ser utilizado para retirar concluses prticas j que um
experimento est imune a diversas fontes de erros.
O sistema de medio envolveu programao computacional,
interfaceamento
eletrnico
entre
instrumentos
de
medio
microcomputador e a realizao de ensaios cuidadosamente planejados.

Foram realizados experimentos para medio de retilineidade com
dois e trs sensores na garra de medio. Com isso, pde-se verificar a
eficincia das tcnicas que propem a utilizao de dois e trs sensores
para separao de erros. Em seguida, as tcnicas de separao de erros
foram utilizadas na medio de desvio de planicidade.
Do desenvolvimento do sistema para medio de desvio de
planicidade as seguintes concluses foram obtidas:
As equaes para separao de erros propostas por Tanaka

& Sato (1986) e GAO et al (2002) utilizando trs sensores
no apresentam repetibilidade nos resultados;
As equaes de separao de erros que utilizam dois

sensores de medio podem ser aplicadas desde que o
desvio de retilineidade da referncia adotada seja uma
ordem de grandeza menor que o desvio do mensurando;
Na medio de retilineidade os resultados obtidos com as

tcnicas de separao de erros se aproximam em 90% do
valor verdadeiro, calculado utilizando mtodo da reverso;
As tcnicas de separao de erros para medio de erro de

retilineidade podem ser aplicadas na medio de desvio de
planicidade;
109
Na medio de desvio de planicidade os resultados obtidos

com o sistema proposto se aproximam em 97% do valor
obtido com o nvel eletrnico e em 92% do valor obtido com
o interfermetro a laser;
O tempo de medio com o sistema proposto 88% menor

que quando se utiliza interfermetro a laser;
O tempo de medio com o sistema proposto comparvel

ao tempo de medio com o nvel eletrnico;
Durante o desenvolvimento deste trabalho diferentes propostas

para trabalhos futuros surgiram. So elas:
Utilizao de uma mesa x-y para a substituio da MM3C
no processo de medio;
Desenvolvimento de modelos para sepao de erros que

eliminem os erros de movimentao da referncia de
medio mesmo quando a referncia possua erros da
mesma ordem dos erros do mensurando;
Automatizao
do
processo
de
medio
atravs
da
utilizao de um rob para deslocar a garra de medio;
Desenvolvimento de sonda com sensores de medio sem

contato.
110
Referncias Bibliogrficas
ANSI/ASME
B89.4.1.
Methods
for
performance
evaluation
of
coordinate measuring machines. (1997).
ASSOCIAO BRASILEIRA DE NORMAS TCNICAS (1980).
BRITISH STANDARTS INSTITUTION (1998).
BS 6808 Part 1-3: British Standard Coordinate Measuring Machines

(1989).
BUSCH T. (1988). Fundamentals of Dimensional Metrology.
CAMPBELL, A. (1995). Measurement of lathe Z-axis straightness and

parallelism using a flat land. Precision Engineering v17 p207-210.
CARR K.; FERREIRA P. (1995). Verification of form tolerances Part 1:

Basic issues, flatness, and straightness. Precision Engineering v.17
p131-143.
CHERAGHI, S.H. et al (1996). Straightness and flatness tolerance

evaluation: an optimization approach. Precision Engineering v18 p3037.
111
DAY P. E.; MARPLES V. (1972). A technique for measuring the flatness

errors of machined surfaces. Apparatus and techniques, p1151-1153.
DECKER, J.E. AND PEKELSKY, J.R. (1999). Gauge Block Calibration

and the expression of associated measurement uncertainties, Anais III
Seminrio de Metrologia Aeroespacial, Julho, pp 1-10
DEW, G.D. (1966). The measurement of optical flatness. J. SCI.

INSTRUM. V43 p 409-415.
DICKINSON C. S. (1968). A method of flatness control in optical

polishing. J. Sci. Instrum. V1 p 365-366.
Di Giacomo, B.; Magalhes, R. C. A.; Paziani, F. T. (2003). Reversal

technique applied to the measurement of straightness errors. COBEM
2003.
EVANS, J.B.; HOCKEN, R.J.; ESTLER,W.T. (1996). Self-calibration:

reversal, redundancy, error separation and absolute testing. CIRP
v45/2
FAN, K.C.; SHIOU, F.J. (1997). An optical flatness measurement

system for medium-sized surface plates. Precision Engineering V21 p
102-112.
112
GALE B.; WILSON L. (1962). A simple machine for testing flatness

using air gauging. J. Sci. Instrum. V39 p 638-639.
GALYER,J.; SHOTBOLT,C. (1981). Metrology for Engineers.

GAO, W. et al (2002). A compact and sensitive two-dimensional angle
probe for flatness measurement of large silicon wafers. Precision
Engineering v26 p396-404.
GAO, W. et al (2002). Precision measurement of cylinder straightness

using a scanning multi-probe system.
Precision Engineering v26
p279-288.
GARCIA,D. F. et al (1999). Real-time flatness inspection system for

steel strip production lines. Real-Time Imaging V5 p35-47.
HEKMAN, K.A.; LIANG, S.Y. (1997). Flatness control in grinding by

depth of cut manipulation. Mechatronics v8 p323-335.
HEWLETT-PACKARD (1988). Laser Measurement System 5528A
Users Guide.
HOWICK,E.F. et al (2003). Automaton of a 1960s Hilger gauge block

interferometer. Metrologia v40 p139-145.
HUANG, S.T. et al (1993). A new minimum zone method for evaluating

flatness errors. Precision Engineering v15 p25-32.
113
HUANG,S.T.; FAN,K.C.; WU,J.H. (1993). A new minimum zone metho

for evaluating flatness errors. Precision Engineering v15 p25-32.
ISO TAG 4/WG 3: Guide to the Expression of Uncertainty in

measurement. (1993).
JAPANESE STANDARTS ASSOCIATION (1993).
KIYONO,S.; GAO,W. (1994). Profile measurement of machined surface

with a new differential method. Precision Engineering v16 p212-218.
MARQUES, A. (2003). Uma Interface Eletrnica e Computacional Para

Medies A Trs Coordenadas, Tese de Doutorado, EESC-USP.
PAAKKARI,
J.;
AILISTO,H.;
KOPOLA,H.
(1998).
Flatness
and
dimensional control of planar objects with a novel modular moir

system. J. Opt. v29 p174-178.
PAVAGEAU,S. et al (2003). High-accuracy optical measurement of

flatness for large objects. Meas. Sci. Technol. v14 p2121-2126.
PAZIANI, F. T. (2005). Desenvolvimento de um sistema automatizado e

dedicado de medio, Tese de Doutorado, EESC-USP.
114
PHILLIPS, S.D. (1995). Performance Evaluations, in: BOSCH, J. A.

Coordinate Measuring Machines and Systems.
PIRATELLI, A. F. (1997). Mtodo para Avaliao do desempenho de

mquinas de medir a trs coordenadas atravs de planejamento de
Experimento, Tese de Doutorado, EESC-USP.
SARDINS, H. (1986). Metrologia Dimensional.
SLOCUM, A.H. (1992). Precision Machine Design.
STRBELE, S. (2001). A new machine for planarity measurement of

CCDs and mosaics of CCDs. Experimental Astronomy v11 p151-156.
TANAKA, H.; SATO,H. (1986). Extensive analysis and development of

straightness measurement by sequential-two-points method. Journal
of Engineering for Industry v108 p176-182.
THE AMERICAN SOCIETY FOR MECHANICAL ENGINEERS (1998).
THOMAS, G.G. (1974). Engineering Metrology
TOZAWA, K. et al (1982). A new method for the measurement of the

straightness of machine tools and machined work. Journal of
Mechanical Design v104 p587-592.
115
TRABAND,M.T. et al (1989). Evaluation of straightness and flatness

tolerances using the minimum zone. Manufacturing Review v2 p189193.
WEBER et al (2002). A unified approach to form error evaluation.

Precision Engineering v26 p269-278.

Sistema Paramedic A o Deer Rode Plan I Cidade

Încărcat de

Informații document

Titlu original

Drepturi de autor

Formate disponibile

Partajați acest document

Partajați sau inserați document

Opțiuni de partajare

Vi se pare util acest document?

Este necorespunzător acest conținut?

Drepturi de autor:

Formate disponibile

Sistema Paramedic A o Deer Rode Plan I Cidade

Încărcat de

Drepturi de autor:

Formate disponibile

A-PDF MERGER DEMO

SISTEMA PARA MEDIO DE ERRO DE

RITA DE CSSIA ALVES DE MAGALHES

Dissertao apresentada Escola de Engenharia de

ORIENTADOR: Prof. Dr. Benedito Di Giacomo

Ficha catalogrfica preparada pela Seo de Tratamento

Magalhes, Rita de Cssia Alves de

Dissertao (Mestrado) - Escola de Engenharia de So

1. Metrologia. 2. Metrologia dimensional. 3. Desvio de

Aos meus pais Anna e Joo (in memorian).

CAPTULO 2: DEFINIO E MTODOS DE MEDIO DO

2.2 Princpios de Gerao e Medio de Superfcies Planas

2.3 Superfcies de Referncia e outros Mtodos de Medio de

CLCULO DA INCERTEZA DE MEDIO

3.1.1 Teste de Trs Planos

3.1.2 Reverso do Nvel

3.2 Tcnicas Atuais de Separao de Erros

3.2.1 Reverso da Rgua Padro

3.2.2 Mtodo Sequential-Two-Points (TSP)

3.2.3 Mtodo Sequential-Three-Points (STRP)

3.2.4 Mtodo Combinado ( Kiyono e Gao, 1994)

3.2.5 Mtodo com Trs Apalpadores ( Gao et al, 2002)

3.3 Mtodo Matemtico para Determinao do Desvio de

3.3.2 Mtodo dos Mnimos Desvios Proposto por Huang et al

3.4.2 Incerteza Padro Combinada

3.4.3 Incerteza Expandida

CAPTULO 4: SISTEMA PARA MEDIO DE ERRO DE

4.3 Mtodo Matemtico

4.4 Avaliao do Sistema Mltiplas Sondas

4.5 Clculo da Incerteza de Medio

CAPTULO 5: DESENVOLVIMENTO DO SISTEMA PARA

MEDIO DE ERRO DE PLANICIDADE

5.2 Mtodo de Tomada de Dados

5.3 Algoritmo para Clculo o Desvio de Planicidade

5.4 Avaliao do sistema Mltiplas Sondas

5.5 Clculo da Incerteza de Medio

5.5.1 Incerteza no clculo das alturas u2(z)

5.5.2 Clculo de u2(0), u2(1) e u2(2)

CAPTULO 6: TESTES EXPERIMENTAIS, RESULTADOS E

6.1.1 Resultados Obtidos com o Mtodo Combinado Proposto

por Kiyono e Gao, 1994

Apalpadores Proposto por Gao et al, 2002

6.3 Clculo da Incerteza de Medio

6.3.1 Clculo da Incerteza Relativa s Alturas Z medidas

6.3.2 Clculo de u2(0) u2(1) e u2(2)

6.3.3 Clculo de u2(Max(dist)) e u2(Min(dist))

CAPTULO 7: CONCLUSES E SUGESTES PARA

Figura 2.2. Tolerncia de planicidade segundo ABNT

Figura 2.3. Zona de tolerncia de planicidade

Figura 2.4. Mquina de Polimento

Figura 2.5. Plano tico

Figura 2.6. Sistema PBSS para medio de erro de planicidade

Figura 2.7. Converso de ngulo em altura

Figura 2.8. Princpios de medio de forma 3D atravs de franjas

Figura 2.10. Sistema de medio de panicidade sem contato

Figura 2.11. Mquina de serrar granito

Figura 2.12. Repeat-o-meter _ instrumento para medio de

Figura 2.14. Espelho inclinado

Figura 2.15. Esquema de um autocolimador

Figura 2.16. Medio de planicidade com rgua padro e blocos

Figura 2.18. Medio de ngulos

Figura 2.19. pticas para medio angular

Figura 2.20. Montagem para medir planicidade