METALOGRAFA

La metalografa consiste en el estudio de la constitucin y la estructura de los

metales y las aleaciones. La forma ms sencilla de hacer dicho estudio es
examinando las superficies metlicas a simple vista, pudiendo determinar de esta
forma las caractersticas macroscpicas. Este examen se denomina macrogrfico
del cual se pueden obtener datos sobre los tratamientos mecnicos sufridos por el
material (es decir se puede determinar si el material fue trefilado, laminado,
forjado, etc.) o comprobar la distribucin de defectos (como grietas superficiales,
rechupes, partes soldadas, etc). Para el examen macroscpico, dependiendo del
estudio a realizar, se utilizan criterios para el tipo de corte a realizar (transversal o
longitudinal) para extraer la muestra (por ejemplo un corte transversal para
determinar la naturaleza del material, homogeneidad, segregaciones, procesos de
fabricacin de caos, etc., y un corte longitudinal: para controlar los procesos de
fabricacin de piezas, tipo y calidad de la soldadura, etc.).
Con la ayuda del microscopio podemos realizar un ensayo microgrfico con el cual
es posible determinar el tamao de grano, y el tamao, forma y distribucin de las
distintas fases e inclusiones que tienen gran efecto sobre las propiedades
mecnicas del material. La microestructura revelar el tratamiento mecnico y
trmico del metal y podr predecirse cmo se comportar mecnicamente. El
examen microgrfico, es una tcnica ms avanzada que el macrogrfico y
necesita de una preparacin ms especial y cuidadosa de la muestra. Se basa en
la amplificacin de la superficie mediante instrumentos pticos (microscopio) para
observar las caractersticas estructurales microscpicas (microestructura). Este
tipo de examen permite realizar el estudio o controlar el proceso trmico al que ha
sido sometido un metal, debido a que los mismos nos ponen en evidencia la
estructura o los cambios estructurales que sufren en dicho proceso. Como
consecuencia de ello tambin es posible deducir las variaciones que experimentan
sus propiedades mecnicas (dependiendo de los constituyentes metalogrficos
presentes en la estructura).
El examen de la microestructura es muy til para determinar si un metal o aleacin
satisface las especificaciones en relacin a trabajos mecnicos, tratamientos
trmicos y composicin general. La microestructura es un instrumento para
analizar las fallas metlicas y para controlar procesos industriales.

PROPIEDAD DE LA LUZ
Refraccin:
Se denomina refraccin luminosa al cambio que experimenta la direccin de
propagacin de la luz cuando atraviesa oblicuamente la superficie de separacin
de dos medios transparentes de distinta naturaleza. Las lentes, las mquinas
fotogrficas, el ojo humano y, en general, la mayor parte de los instrumentos
pticos basan su funcionamiento en este fenmeno ptico.

Reflexin:
Cuando la luz (u otro tipo de radiacin electromagntica) incide sobre la superficie
de un medio (gas, lquido o slido) algunos rayos no son absorbidos, por el
contrario son rebotados y se dispersan lejos de la superficie del medio en
cuestin. El rayo que llega es denominado incidente y el que se desva es
denominado reflejado. La direccin en que sale reflejada la luz ser determinada
por el tipo de superficie. Si es una superficie brillante o pulida (espejo) se produce
la reflexin regular en la que toda la luz sale en una nica direccin
denominndose reflexin regular o especular. Si la superficie es mate la luz sale
esparcida en todas direcciones y se llama reflexin difusa. Sin embargo tambin
puede ser reflexin mixta, en la que predomina una direccin sobre las dems
(papel brillante, superficies metlicas sin pulir).

COMPONENTES MECNICOS DEL MICROSCOPIO

El ESTATIVO O SOPORTE

Est formado por un pie pesado que sostiene un brazo inclinado del cual salen tanto la
platina como el tubo del microscopio

LA PLATINA

Es la pieza sobre la que se colocan las diferentes preparaciones que deseamos observar.
La forma de la platina es variada y puede ser tanto fija como mvil. Prcticamente, todos
los microscopios profesionales actuales poseen un carro mvil graduado, que hace
posible el movimiento y la localizacin precisa de reas de inters en la preparacin.

El TUBO

Lleva, en la parte inferior, el revlver con los objetivos, y en la superior, los oculares
cambiables.

El REVLVER

Es una pieza que lleva varios objetivos intercambiables y permite adaptar stos al tubo del
microscopio.

LOS MANDOS DE ENFOQUE

Manejan el enfoque bien sea por el movimiento vertical de la platina o del tubo, segn el
tipo de microscopio. Habitualmente se colocan a ambos lados del estativo. Para una
mayor precisin en el enfoque es necesario un mando micromtrico para ajuste fino,
resultando ms cmodos si ambos mandos (macro y micro) actan sobre el mismo eje
(co-axiales).

COMPONENTES PTICOS DEL MICROSCOPIO

LOS OBJETIVOS

Constan de un sistema de lentes. Podemos hablar de objetivos secos, que son

aquellos en los que entre el objetivo y la preparacin slo hay aire, y tambin
podemos hablar de objetivos de inmersin, cuando es necesario colocar entre la
lente y la preparacin un elemento lquido, que permite una mayor luminosidad.
sta y otras caractersticas como: aumento del objetivo, apertura numrica,
longitud del tubo y espesor del cubreobjetos, vienen indicadas mediante unas
marcas en el objetivo.

LOS OCULARES

Estn formados por dos lentes que se encuentran separadas por un diafragma.
Para hacer ms cmoda la observacin, existen microscopios que tienen dos
oculares en lugar de uno. Ello permite observar con los dos ojos a la vez.
Actualmente existen cabezales mltiples, que permiten que varias personas
puedan observar una misma muestra a la vez.

LA FUENTE DE LUZ

Es muy importante ya que una correcta iluminacin de la preparacin que

deseamos observar es una condicin necesaria para poder realizar una buena
observacin. Podemos obtener la fuente de luz a travs de un espejo situado
debajo de la platina, que recoge tanto la luz natural como la luz elctrica, o a
travs de lmparas incorporadas al pie del microscopio.

El CONDENSADOR

Es una lente o sistema de lentes situadas debajo de la platina y que permite

concentrar la luz en la muestra que se observa Existen distintos tipos de
condensadores, dependiendo de las necesidades y requerimientos de nuestra
observacin: abbe, de campo oscuro, acromtico, etc.

El DIAFRAGMA

Est situado debajo de la platina y del condensador, siendo el encargado de

regular la entrada de luz al condensador. En algunos modelos se acciona por
medio de una palanca y en otros mediante una rueda con orificios de distintos
dimetros. Ni brillo resolucin ni imagen se ve afectada por la abertura del
diafragma de campo.

ESQUEMA DE UN MICROSCOPIO METALOGRFICO

1.1 Ocular.
1.2. Cabezal binocular.
1.3. Platina.
1.4. Adaptador para muestras.
1.5. Objetivos.
1.6. Ajuste del condensador.
1.7. Condensador.
1.8. Fuente de alimentacin.
1.9. Portafiltros.
1.10. Cable de la lmpara.
1.11. Estativo.
1.12. Diafragma.
1.13. Revlver.
1.14. Mandos macro y micromtrico.

MANEJO DEL MICROSCOPIO

1.- Quitamos la funda del microscopio.

2.- Conectamos el enchufe del microscopio a la fuente de corriente.
3.- Encendemos la lmpara (Hubo un microscopio que no encendi)
4.- Colocamos la probeta sobre la platina.
5.- Acercamos nuestros ojos a los oculares y observamos la probeta.
6.- Mirando con el objetivo de menos aumentos bajamos la platina con el mando
macro hasta que aparezca la imagen, en este momento empezamos a accionar el
mando micro hasta conseguir un correcto enfoque.
7.- Si observamos la imagen con demasiada luz podemos utilizar el regulador de
la intensidad de luz (Se tiene nivel bajo, medio y alto).
8.- Con el diafragma cerramos la apertura para regular la entrada de luz al
condensador con esta minimizamos el resplandor interno y mltiples reflejos de luz
en el sistema de microscopio mejorando el contraste en la imagen.
9.- Al tener una imagen clara de la probeta podemos dibujar lo que observamos.

PRINCIPIOS DEL MICROSCOPIO METALOGRFICO

La forma convencional de la iluminacin mediante el cual las muestras

metalogrficas se iluminan para el examen microscpico se conoce como campo
brillante condicin de iluminacin hace que una imagen oscura en un campo de
fondo brillante, bien iluminado. Iluminacin de campo brillante se obtiene por
medio de un iluminador vertical que est montado en la parte trasera del objetivo
del microscopio. La luz procedente de la fuente de luz se dirige en el iluminador
vertical. Desviacin del haz de luz incidente desde el iluminador vertical en la que
el objetivo se consigue ms comnmente por un reflector plano de vidrio o un
espejo semitransparente inclinado en un ngulo de 45 con respecto al eje de la
luz incidente de la fuente. La luz incidente golpea la placa de vidrio y se refleja
especularmente hacia abajo a lo largo del eje ptico del microscopio en el objetivo.
La muestra preparadas (pulidas o grabadas) se coloca en la platina del
microscopio, su superficie perpendicular al eje ptico del microscopio. Est
iluminada por la luz que emerge de la lente del objetivo y que se ha centrado hasta
que el haz es aproximadamente paralelo al eje ptico del microscopio. As, la luz
incidente sobre la muestra es prcticamente normal al plano de la superficie de la
muestra. Esta forma de iluminacin se llama "iluminacin vertical"; el espcimen y
la luz que incide sobre l estn en ngulo recto entre s, la luz incidente sobre la
muestra se refleja de vuelta desde la superficie de la muestra. Cualquier luz que
se refleja de vuelta de las caractersticas de especmenes que son
aproximadamente normal al eje ptico (es decir, caractersticas que son
perpendiculares al haz de luz incidente) entrar en el objetivo, pasar a travs del
reflector de vidrio plano, circular por el ocular, y formar la parte brillante de la
imagen que se ve. Cualquier luz que se refleja de vuelta de caractersticas
inclinado con respecto al eje ptico (es decir, caractersticas que no son

perpendiculares al haz de luz incidente) se dispersa y no entrar en el objetivo.

Estas caractersticas sern por lo tanto aparecen oscuras en la imagen que se ve.
La imagen final de la muestra, formado por el ocular del microscopio, es por tanto
brillante para todas las caractersticas normales al eje ptico y oscuras para las
caractersticas inclinadas. De esta manera, las diversas caractersticas micro
estructurales de una muestra metalogrfica como lmites de grano que han sido
grabados para producir ranuras con bordes inclinados.

BIBLIOGRAFA

https://ocw.mit.edu/courses/materials-science-and-engineering/3-094-materials-inhuman-experience-spring-2004/laboratories/manual_suppl.pdf

http://slideshowes.com/doc/1097308/microscopio-metalogr%C3%A1ficometallographic

http://materias.fi.uba.ar/6713/PREPARACION%20METALOGRAFICA.pdf

http://campusvirtual.edu.uy/archivos/mecanica-general/Curso%20de%20END%20y
%20Mantenimiento%20Predictivo%20-%20Diciembre%202011/Ensayos
%20superficiales/Metalografia-utu.pdf

INTRODUCCIN
La metalografa es la disciplina que estudia microscpicamente las caractersticas
estructurales de un metal o de una aleacin. Sin duda, el microscopio es la
herramienta ms importante del metalurgista tanto desde el punto de vista
cientfico como desde el tcnico. Es posible determinar el tamao de grano, forma
y distribucin de varias fases e inclusiones que tienen gran efecto sobre las
propiedades mecnicas del metal. La microestructura revelar el tratamiento
mecnico y trmico del metal y, bajo un conjunto de condiciones dadas, podr
predecirse su comportamiento esperado.