Para que un producto manufacturado cumpla con los requerimientos destinados a lograr la

satisfaccin del cliente, es necesario que los procesos involucrados en su fabricacin sean
estables y de variabilidad controlada. Dicha variabilidad puede encontrarse relacionada con
dos tipos de causas posibles:
Causas comunes de variacin. Estas son causas de origen fortuito, que resultan de la
unin de numerosos factores de origen aleatorio, donde cada uno produce por si mismo
cambios de baja magnitud en el proceso, formando parte permanente del mismo y
afectando en conjunto a todos sus elementos de entrada. Se puede decir que constituyen
la variabilidad natural del proceso y por lo tanto no pueden ser eliminadas en su
totalidad y su disminucin requiere de cambios importantes en el mismo.
Causas especiales de variacin. Estas son causas que se presentan de manera
espordica dentro de los procesos, las cuales originan cambios de magnitud considerable
en los mismos, generando un nivel de desempeo no aceptable. Pueden ser identificadas
con facilidad por tcnicos y operarios y eliminadas en su totalidad.
Cuando en un proceso se encuentran presentes nicamente causas comunes de variacin, se
dice que el mismo se encuentra bajo condiciones de control estadstico. Para mantener un
proceso bajo control, es necesario poder identificar las causas especiales de variacin de
manera oportuna con el fin de eliminarlas. Una herramienta til para este fin son las
denominadas cartas o grficas de control.
CARTAS DE CONTROL.
Las cartas de control, son un mtodo estadstico que consiste en la representacin grfica de
los cambios en el valor promedio de una caracterstica de calidad medida o calculada a
partir de muestras, en funcin del tiempo o del nmero de muestras. Esta herramienta es
aplicable a procesos repetitivos y est constituido bsicamente por:

Una lnea central (Valor medio de la caracterstica de calidad estudiada).

Un par de lmites de control, uno colocado por encima y otro por debajo de la lnea
central. A estos lmites se les denomina respectivamente Lmite superior de control
(LSC) y lmite inferior de control (LIC).

Una aproximacin importante para la elaboracin de cartas de control es la establecida en el

teorema del lmite central:
Si tenemos un grupo numeroso de variables independientes y todas ellas siguen el
mismo modelo de distribucin (cualquiera que ste sea), la suma de ellas se
distribuye segn una distribucin normal.
La aplicacin de este teorema implica que, si calculamos los promedios de las mediciones
de diferentes muestras de una caracterstica de calidad determinada, dichos promedios se
1

distribuirn normalmente con promedio y desviacin estndar . Por esta razn, cada
medicin debe ser realizada sobre una muestra de tamao n, donde el valor reportado para
cada observacin es el promedio de dicha muestra, a la cual se le denomina subgrupo
racional. En la Figura 1 se muestra una representacin grfica de la distribucin normal.

Figura 1. Funcin de distribucin de probabilidad normal estndar

Se considera que los lmites de control naturales para un proceso, se encuentran en el valor
promedio +/- 3 que corresponde a un 99,73% de los datos, con una probabilidad de error
tipo I = 0,001 . Por esta razn se tiene que:
LSC = + 3
LIC = 3

Cuando los procesos se encuentra bajo control, puede ser de utilidad analizar
adicionalmente el comportamiento de los mismos utilizando los lmites 2 los cuales
actan como lmites de advertencia.
Los valores de y son parmetros poblacionales, por lo que es necesario establecer
estimadores de los mismos cuando se analizan muestras.
Tipos de cartas de control
Las cartas de control pueden ser por variables (caractersticas de calidad medibles en escala
continua) o por atributos (el producto se clasifica en conforme o no conforme para la
caracterstica de calidad especfica). Cada una de ellas se divide en sub categoras de
acuerdo con lo siguiente:

Cartas de control para el promedio y el rango. (X-R).

Cartas de control para el promedio y la desviacin estndar. (X-S).
Cartas de control p para la fraccin defectuosa
Cartas de control np para el nmero de defectuosos
Cartas de control c para el nmero de defectos por unidad para un tamao de
muestra constante.
2

Cartas de control u para el nmero de defectos por unidad para un tamao de

muestra variable.

La distribucin de probabilidad de las caractersticas de la calidad analizadas en cartas de

control por variables, se aproxima a normal mediante el uso del teorema del lmite central.
La fraccin y nmero de defectuosos disconformes, poseen una distribucin binomial y
las de nmero de defectos por unidad una distribucin de Poisson. En el Cuadro 1 se
muestran los diferentes tipos de cartas de control para variables y para atributos y sus
respectivas frmulas para el clculo de los lmites de control. Los valores A2, A3, B3,B4,D3 y
D4, son constantes y se encuentran tabulados en funcin del tamao de muestra n como se
puede observar en el Cuadro 2.

Variables

Cuadro 1. Frmulas para estimacin de los lmites de control aplicables a cartas de control
por variables y atributos.
Tipo de grafico

LIC

Lnea central

LSC

X R

X A2 R

X + A2 R

D3 R

D4 R

X S

X A3 S

X + A3 S

B3 S

B4 S

Atributos

p 3

p (1 p )
n

p+3

p (1 p )
n

Np

n p 3 p(1 p)

np

n p + 3 p(1 p)

c 3 c

c+3 c

u
n

U
u 3

u 3

u
n

Cuadro 2. Constantes para grficos de control

Usos de las cartas de control.

Para determinar los lmites de control.
Cuando se tiene un proceso nuevo o con modificaciones recientes, es necesario conocer el
comportamiento natural del mismo para esta forma establecer los lmites de control. Para
ello:
1. Se realiza una corrida experimental, tomando preferiblemente un nmero
mayor a 20 observaciones. (Puntos en la grafica).
2. Se calculan los lmites de control de acuerdo con la frmula establecida para
el tipo de grfico aplicable (X-R , X-S ,p, np, c u).
3. Se diagrama la carta de control aplicable, ubicando en la misma los valores
correspondientes al promedio y a los lmites de control.
4. Se ubican en la grfica los diferentes puntos calculados.
5. Se verifica la presencia de patrones fuera de control.
6. Se realiza un anlisis de dichos puntos para ubicar causas asignables de
variacin.

7. Se repiten los pasos 4 a 6, hasta que se obtenga una grfica que muestre la
presencia de control estadstico. (En caso de que no sea posible, actuar sobre
el proceso).
8. Se toman los lmites de control calculados, cuando el mismo se encuentra
dentro de control y se fijan como los lmites naturales del proceso.
Para verificar el desempeo del proceso.
Una vez establecidos los lmites de control naturales del proceso.
1.
2.
3.
4.
5.

Se colocan en la grfica los lmites de control previamente calculados.

Se verifica que dichos lmites se encuentren dentro de los lmites de
especificacin del proceso.
Se grafican los diferentes valores calculados en funcin del tiempo.
Se verifica que el proceso se mantenga dentro de control.
En el caso de aparicin de tendencias, puntos fuera de lmite o cualquier otro
patrn irregular, realizar los anlisis y correcciones pertinentes.

Seales de que un proceso se encuentra fuera de control.

1.
2.
3.
4.
5.
6.
7.
8.

Uno o ms puntos fuera de los lmites de control.

Dos de tres puntos fuera de los lmites de advertencia pero dentro de los de control.
Siete o ms puntos de un mismo lado de la lnea central.
Siete o ms puntos incrementndose o decreciendo de manera sostenida.
Quince puntos seguido muy cercanos a la lnea central.
Catorce puntos seguidos alternndose arriba y abajo (diente de sierra).
Patrones cclicos en los datos.
Pocos puntos en la zona central.

Cartas de control para el promedio y el rango. (X-R).

En estas cartas se monitorean simultneamente el comportamiento del promedio del
proceso y de la variabilidad.
EJEMPLO 1. Una pieza manufacturada por un proceso de moldeo es sometida a una prueba
de resistencia a la compresin. Se colectan 20 muestras de 5 partes cada una y se les mide
la resistencia a la compresin en psi. Las mediciones se muestran en el cuadro 3:

Cuadro 3. Datos para elaboracin de carta de control para la resistencia a la compresin de

la pieza manufacturada.
X1
83
88,6
85,7
80,8
83,4
75,3
74,5
79,2
80,5
75,7
80
80,6
82,7
79,2
85,5
78,8
82,1
84,5
79
84,5

X2
81,2
78,3
75,8
74,4
78,4
79,9
78
84,4
86,2
75,2
81,5
81,8
81,3
74,9
82,1
79,6
78,2
76,9
77,8
73,1

X3
78,7
78,8
84,3
82,5
82,6
87,3
80,8
81,5
76,2
71,1
78,4
79,3
79,1
78,6
82,8
80,2
75,5
83,5
81,2
78,6

X4
75,7
71
75,2
74,1
78,2
89,7
73,4
86
84,1
82,1
73,8
73,8
82
77,7
73,4
79,1
78,2
81,2
84,4
78,7

X5
77
84,2
81
75,7
78,9
81,8
79,7
74,5
80,2
74,3
78,1
81,7
79,5
75,3
71,7
80,8
82,1
79,2
81,6
80,6

X
79,12
80,18
80,4
77,5
80,3
82,8
77,28
81,12
81,44
75,68
78,36
79,44
80,92
77,14
79,1
79,7
79,22
81,06
80,8
79,1

R
7,3
17,6
10,5
8,4
5,2
14,4
7,4
11,5
10
11
7,7
8
3,6
4,3
13,8
2
6,6
7,6
6,6
11,4

X = 79,53

R = 8,75

EL valor de A2 se encuentra tabulado. Para n=5 es 0,577

LIC = X A2 R = 79 ,53 0 ,577 * 8,75 = 74 , 48
LSC = X A 2 R = 79 ,53 + 0,577 * 8,75 = 84 ,58

Para el Rango:

LIC = D3 R = 0 * 8,75 = 0
LIC = D4 R = 2,14 * 8,75 = 18,73

Con estos valores se obtienen la grficas.

86
84
82
80
78
76
74
72
70
68
1

9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20

Figura 2. Carta de control del promedio del proceso

20
18
16
14
12
10
8
6
4
2
0
1

9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20

Figura 3. Carta de control del rango del proceso

El proceso se encuentra dentro de control estadstico.

Cartas de control para el promedio y la desviacin estndar. (X-S).
Estas cartas de control se construyen de manera similar a la anterior, considerando como
indicador de la variabilidad, en lugar del rango, a la desviacin estndar. Se sugiere como
ejercicio, construir la carta X-S utilizando los mismos datos del ejemplo anterior. Qu

diferencia se observa entre ambas grficas?Cual es ms sensible a detectar cambios en el

proceso?
Cartas de control para la fraccin defectuosa (p)
Se realizan en funcin de la fraccin disconforme defectuosa p en una muestra. Donde:
p=

Nro _ Disconform es
Tamao _ de _ muestra

En una unidad de inspeccin, p el promedio de las fracciones disconformes para todas las
observaciones.
EJEMPLO 2.
En una fbrica de conectores elctricos, se le miden 3 caractersticas de calidad a los
mismos, sin embargo, independientemente del nmero de estas presentes en cada conector,
se les clasifica como defectuoso (por lo menos una caracterstica fuera de especificacin) o
no defectuoso. A una frecuencia determinada, se realizaron las mediciones pertinentes a
muestras de 50 unidades, obtenindose lo mostrado en el cuadro 5:

Cuadro 5. Nmero de unidades defectuosas en muestras de tamao 50

Nro. de
Unidades Fraccin
Nro. de
Unidades Fraccin
Muestra defectuosas defectuosa Muestra defectuosas defectuosa
(p)
(p)
1
2
0,04
14
5
0,1
2
1
0,02
15
3
0,06
3
3
0,06
16
4
0,08
4
2
0,04
17
2
0,04
5
3
0,06
18
3
0,06
6
1
0,02
19
3
0,06
7
1
0,02
20
5
0,1
8
6
0,12
21
2
0,04
9
4
0,08
22
1
0,02
10
2
0,04
23
4
0,08
11
2
0,04
24
2
0,04
12
1
0,02
25
1
0,02
13
2
0,04
p

0,052

LSC = p + 3

p (1 p )
0,052(1 0,052)
= 0,052 + 3
= 0,146
n
50

LIC = p 3

p (1 p )
0,052(1 0,052)
= 0,052 3
= 0,042
n
50

Cuando del clculo de un lmite de control resulte un nmero negativo, se asume que su
valor es cero. La carta de control para la fraccin defectuosa es la mostrada en la figura 6.
0,16
0,14
0,12
0,1
0,08
0,06
0,04
0,02
0
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25

Figura 6. Carta de control para la fraccin defectuosa de los conectores elctricos.

Se puede observar que el proceso se encuentra dentro de control, por lo que se toman los
lmites calculados como los naturales del proceso. Se contina haciendo el monitoreo a 10
lotes subsiguientes, con un tamao de muestra de 25, obtenindose los resultados
mostrados en el cuadro 6.
Cuadro 6. Datos para el monitoreo del proceso de fabricacin de conductores
elctricos.
Nro. de Muestra Unidades defectuosas Fraccin defectuosa (p)
1

0,04

0,08

0,04

0,12

0,04

0,04

0,04

10

0,12

La carta de control del proceso monitoreado es la mostrada en la figura 7, pudindose

observar que contina dentro de control

0,16
0,14
0,12
0,1
0,08
0,06
0,04
0,02
0
1

10

Figura 7. Carta de control de la fraccin defectuosa para el monitoreo del proceso

10

Cartas de control para el nmero de unidades defectuosas (np).

Las cartas np, se construyen de manera similar a las cartas p, slo que en este caso se
realizan en funcin del nmero de disconformes, lo que se logra multiplicando la fraccin
defectuosa por el tamao de muestra. En este caso es conveniente utilizar un tamao de
muestra estndar para todas las observaciones. Se sugiere como ejercicio realizar la carta np
utilizando los datos del ejemplo 2.
Cartas de control para el nmero de defectos por unidad de inspeccin (c y u).
Un producto disconforme o defectuoso, puede tener uno o ms defectos. Es posible que sea
de inters no slo conocer si el producto es defectuoso, si no identificar la cantidad de
defectos en el mismo. Para ello es necesario establecer una unidad de inspeccin que puede
ser una unidad del producto terminado (por ejemplo una tarjeta impresa) una porcin del
mismo (por ejemplo 1m2 de un producto textil). Cuando la unidad de inspeccin es de
tamao constante, se considera para la grfica el nmero total de defectos encontrados en
cada una y se realiza una grfica c. Cuando el tamao de la unidad de inspeccin es
variable, se divide el nmero de muestra entre dicha magnitud y se realiza una grfica u.
EJEMPLO 3.
Como Parte de un programa de mejoramiento de la calidad, un fabricante de telas decide
usar una carta de control para supervisar el nmero de imperfecciones en rollos de tela. Se
registraron los datos de las ltimas 25 inspecciones realizadas a muestras de 5 rollos cada
una, resultando lo mostrado en el cuadro 7:

1
2
3
4
5

14
5
10
19
0

6
7
8
9
10

6
2
9
8
7

11
12
13
14
15

3
12
1
22
1

16
17
18
19
20

6
14
8
6
9

21
22
23
24
25

Nmero de
defectos

Observacin

Nmero de
defectos

Observacin

Nmero de
defectos

Observacin

Nmero de
defectos

Observacin

Nmero de
defectos

Observacin

Cuadro 7. Nmero de defectos en rollos de tela.

7
1
5
12
4

Como la unidad de inspeccin es constante (5 rollos), se pueden realizar tanto la carta c

como la u. Para la carta c se toman los datos directamente de la tabla. Para la carta u, se
divide el nmero de defectos entre la unidad de inspeccin que son 5 rollos. A continuacin
se realizar el anlisis para esta ltima, quedando como ejercicio construir la carta c.
11

1
2
3
4
5

3
5
10
7
0

6
7
8
9
10

6
2
9
8
7

11
12
13
14
15

LSC = u + 3

u
1,176
= 1,176 + 3
= 2,63
n
5

LSC = u + 3

u
1,176
= 1,176 + 3
= 0,28
n
5

3
12
1
10
1

16
17
18
19
20

6
5
8
6
9

Nmero de
defectos

Observacin

Nmero de
defectos

Observacin

Nmero de
defectos

Observacin

Nmero de
defectos

Observacin

Nmero de
defectos

Observacin

Cuadro 8. Datos para la construccin de la carta u de nmero de defectos por unidad en

rollos de tela.

21
22
23
24
25

7
1
5
12
4

1,176

El lmite inferior de control se toma como cero, ya que los clculos arrojaron un nmero
negativo. La grafica de control es la mostrada en la figura 8, donde se puede observar que
el proceso se encuentra dentro de control, por lo que los lmites calculados se toman como
lmites naturales del proceso.
3
2,5
2
1,5
1
0,5
0
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10111213141516171819202122232425

Figura 8. Carta de control para el nmero de defectuosos por unidad en rollos de tela

12

Capacidad de procesos.
Hasta el momento se han calculados los lmites naturales del proceso, sin embargo, es
posible que el mismo tenga unas especificaciones determinadas y es necesario conocer si el
proceso en forma natural es capaz de cumplir con las mismas. Para ello se usan los ndices
de capacidad cp y cpk, Los cuales se calculan como se muestra a continuacin:
cp =

LSE LIE
LSE LIE
Usando los estimadores para la varianza c p =
6
LSC LIC

Donde LSE y LIE son los lmites superior e inferior de especificacin respectivamente.
Para que el proceso sea capaz:
cp>1,33
c pk = mnimo (

LSE LIE
;
) Usando los estimadores para el promedio y la varianza
3
3

c pk = mnimo(

LSE X X LIE
;
)
LSC X X LIC

Para que el proceso adems de capaz, se encuentre centrado en las especificaciones:

cpk >1,5
cp Mide la amplitud del desempeo del proceso y cpk el centrado del mismo.

13

PROBLEMAS PROPUESTOS
1. Un producto se empaca en envases de 3700 Kg. Las especificaciones de calidad del
llenado son 3700 +/- 0.15. Se realiz una corrida experimental, obtenindose lo
Siguiente:
Subgrupo
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25

Muestra1

Muestra2

Muestra3

Muestra4

Muestra5

3.701,75
3.699,75
3.699,40
3.700,10
3.699,60
3.700,45
3.699,75
3.699,25
3.700,40
3.699,90
3.699,70
3.700,20
3.699,15
3.700,30
3.700,60
3.700,00
3.699,70
3.700,30
3.699,20
3.700,00
3.700,10
3.700,20
3.699,00
3.700,75
3.699,10

3.700,10
3.699,60
3.701,20
3.699,80
3.700,35
3.699,70
3.700,30
3.700,15
3.699,75
3.700,00
3.699,90
3.699,70
3.700,10
3.699,35
3.700,70
3.700,00
3.700,60
3.699,60
3.700,10
3.700,00
3.700,05
3.699,95
3.699,00
3.700,40
3.699,20

3.700,95
3.700,05
3.701,05
3.699,65
3.700,75
3.699,85
3.699,70
3.699,65
3.700,45
3.699,00
3.699,70
3.700,35
3.699,90
3.699,70
3.699,90
3.700,00
3.699,30
3.700,90
3.700,15
3.700,00
3.700,75
3.700,04
3.699,00
3.699,65
3.699,75

3.699,60
3.700,55
3.700,25
3.700,75
3.699,45
3.699,25
3.700,00
3.700,75
3.700,25
3.700,35
3.699,75
3.699,30
3.699,85
3.699,08
3.699,95
3.700,00
3.700,25
3.700,15
3.700,25
3.700,00
3.700,25
3.700,30
3.699,00
3.700,00
3.700,85

3.700,40
3.700,20
3.700,10
3.700,45
3.700,70
3.699,65
3.700,25
3.699,40
3.700,20
3.699,75
3.699,80
3.699,80
3.700,60
3.699,20
3.700,35
3.700,00
3.700,35
3.700,00
3.699,85
3.700,00
3.699,80
3.700,45
3.699,00
3.700,30
3.700,65

Qu conclusiones puede sacar con esta informacin? Qu recomendara?

14

2. Se mide el espesor a en de un componente en particular, obtenindose lo

siguiente:
Subgrupo
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25

Muestra1
70
70
70
70
70
80
70
70
90
70
70
70
75
85
85
75
75
75
75
75
75
75
90
70
90

Muestra2
75
70
75
75
75
80
85
70
85
75
75
75
88
80
85
75
75
75
75
85
75
85
85
85
75

Muestra3
75
75
85
85
85
75
75
75
75
75
75
75
75
75
70
90
90
85
85
85
75
75
70
70
70

Muestra4
70
70
70
70
70
70
70
70
75
80
80
80
85
70
70
90
90
85
85
85
75
75
70
75
85

Muestra5
70
70
70
70
70
80
75
70
70
80
80
80
70
80
70
70
75
70
75
70
75
75
70
75
70

Si la especificacin de fabrica es 75 +/- 20. Qu conclusiones puede sacar con esta

informacin? Qu recomendara?

15

3. Se desea establecer los lmites de especificacin para el nmero de

disconformidades de un proceso en particular, tomando como base muestras de
tamao 50. Con los datos obtenidos a continuacin, Qu sugerira?
Numero No
de
Numero No
de
Fraccin
Fraccin
de
productos
de
productos
disconforme
disconforme
muestra disconformes
muestra disconformes
1

12

0,24

16

0,16

15

0,3

17

10

0,2

0,16

18

0,1

10

0,2

19

13

0,26

0,08

20

11

0,22

0,14

21

20

0,4

16

0,32

22

18

0,36

0,18

23

24

0,48

14

0,28

24

15

0,3

10

10

0,2

25

0,18

11

0,1

26

12

0,24

12

0,12

27

0,14

13

17

0,34

28

13

0,26

14

12

0,24

29

0,18

15

22

0,44

30

0,12

16

4. En una inspeccin de una pieza ensamblada, se encontraron los siguientes nmeros

de defectos:
Nro. Defectos
de
encontrados
pieza

Nro.
pieza

de Defectos
encontrados

70

14

40

64

15

21

81

16

56

105

17

91

40

18

70

62

19

65

53

20

50

48

21

28

82

22

24

10

90

23

60

11

110

24

75

12

54

25

25

Realizar la carta de control que corresponda y concluir sobre los resultados.

17

5. Asumiendo que en el ejercicio anterior se encontraron causas atribuibles a los

puntos fuera de control, se realiz una segunda corrida, obteniendo lo siguiente:
Nro. Defectos
de
encontrados
pieza

Nro.
pieza

de Defectos
encontrados

35

14

49

14

15

37

21

16

51

33

17

54

40

18

45

63

19

33

62

20

41

55

21

57

65

22

50

10

70

23

63

11

45

24

48

12

38

25

49

13

38

Site los datos en la carta encontrada en el aparte anterior. Es necesario realizar una
revisin de la carta de control?

18