Placheta de siliciu pentru celulele fotovoltaice

Mod de lucru
Pentru realizarea masurtorilor directe se execut urmtoarele faze de pregtire a materialelor :
1. Se alege sistemul de msurare n funcie de mrimea obiectului (cmpul obiect) i se
plaseaz obiectul pe suprafaa de vizualizare.
2. Se ilumineaz corespunztor sistemul i se observ imaginea acestuia pe monitorul
laptopului. Se regleaz convenabil sistemul de iluminare sau cderea luminii pe obiect.
3. Se poziioneaz obiectul vizualizat convenabil pentru a efectua msurtoarea pe direcia
dorit, cota care trebuie verificat ( de exemplu pe orizontal )/
4. Se face fotografierea obiectului i se obine imaginea dorit.
5. Se trece imaginea ntr-un fiier special creat pentru aceste imagini i se selecteaz
6. Pe imaginea selectat cu Microsoft Word / Open With i Paint se face citirea coordonatelor
afiate prin atingerea punctelor limit. Diferena de citire exprimat n pixeli se transform
n mm prin echivalena din tabelul de mai sus, caracteristic fiecrui sistem
Claritatea imaginilor obinute ajut la stabilirea optim a punctelor ce determin cota vizat. Este
de preferat s se execute mai multe imagini ale unei poziii a obiectului pentru a se alege acelea care
sunt corespunztoare calitii dorite. Se pot face mai multe determinri, att pe o imagine stabilit
dar i pe mai multe imagini, separate, rezultatul fiind invariabil acelai pentru acelai sistem i
acelai reglaj la fotografiere. ( profunzimea n spaiul obiect a obiectivului poate introduce la
nceput unele deosebiri de poziionare i deci mriri sensibil diferite ale aceluiai sistem ).
Dac masurtorile sunt diferite ca rezultat, pentru o apreciere ct mai corect se va face o medie a
tuturor acestora, medie care reprezint valoarea cea mai apropiat de valoarea real.
Tabelul 1
Nr crt

2.

Echivalena stabilit prin

etalonare
x
Obiectiv PL 2,5 cu obiectiv de proiecie f = 50 mm i
1 mm = 213 pixeli
CMOS 1/7
1 mm = 330 pixeli
Obiectiv PL 4x cu obiectiv de proiecie f = 50 mm i

3.

CMOS 1/7
Obiectiv f = 18 mm cu CMOS 1/7

1.

Sistemul realizat

1 mm = 53 pixeli

Tabelul 2
Nr. Crt

Obiectul msurat

Obiectiv PL 2,5x
cu CMOS 1/7

Obiectiv PL 4x
cu CMOS 1/7

1,110 mm

1,09 mm

1,10 mm

1,09 mm

4,952 mm

4,93 mm

4,89 mm

1,358 mm

1,35(8) mm

Cota real
msurat pe
microscopul

Obiectiv f = 18
mm cu CMOS
1/7

universal (2
m)

1.

Fant

2.

( cota 1 0,10 mm )
Rondel moletat

3.

( cota 4,9 0,10 mm )

Ax rondel moletat

(cota 1,35

0, 050 mm)

Analiza rezultatelor din tabelul de mai sus arat c sistemele utilizate sunt echivalente i precizia de
msurare este suficient de bun, eroarea dintre valorile determinate i cele considerate etalon, fiind
sub 1,8 % . Diferenele sunt cauzate de iluminare i profunzimea spaiului imagine care difer de la
sistem la sistem. Punerea la punct a fiecrui sistem i fotografierea obiectului n condiii diferite,
introduce erori de mrire care apoi se transform n diferene dimensionale.
Este de remarcat faptul c pentru acelai sistem ales, n aceleai condiii de lucru i pentru acelai
reglaj nu apar diferente, citirile avnd constant aceleai valori. Este cazul de lucru pentru controlul
unor micro obiecte pentru care se alege un etalon i se repet operaia n aceleai condiii pentru
toate celelalte piese, eroarea datorat cauzelor de mai sus devine zero. Rmne eroarea uman de
citire, poziionare i interpretare a imaginilor create. Toate aceste lucruri sunt exemplificate n
experimentele fcute i prezentate mai sus.

336,68 px

339,360 px

427,68 px

432,324 px

Xinitial=336
yinitial=68
Xfinal=339
yfinal=360
y=292 px

xinitial=427
yinitial=68
xfinal=432
yfinal=324
y=256 px

331,65 px

178,307 px

413,113

306,335

Xinitial=331
yinitial=65
Xfinal=178
yfinal=307
y=242 px

xinitial=413
yinitial=113
xfinal=306
yfinal=335
y=222 px

95,84

200,349
Xinitial=95
Xfinal=200

190,47

275,283
yinitial=84
yfinal=349

xinitial=190
xfinal=275

yinitial=47
yfinal=283
y-236 px

y=265 px