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27-29 avril 2016, Ecole Nationale dIngnieurs de Saint-Etienne, France

JIFT 2016

LETUDE DU COMPORTEMENT TRIBO-ELECTRIQUE DU COUPLE


GLISSANT LAITON-ACIER
C. Boubechou11 ; A. Bouchoucha22 ; H. Zaidi33

1. Facult de Technologie, Dpartement de Gnie Mcanique, Universit 20 Aot 1955, Skikda 21000,
Algrie.
2.Laboratoire de Mcanique, Facult des Sciences de la technologie, Dpartement de Gnie
Mcanique,
Universit
des
Frres
Mentouri,
Constantine
25000,
Algrie.
3.Laboratoire LMS (UMR-6610-CNRS), SP2MI, Tlport 2, Boulevard Marie et Pierre Curie,
Universit de Poitiers, BP 30179, 86962 Futuroscope Chasseneuil Cedex, France.

MOTS CLES
Frottement, usure, charge, vitesse, courant lectrique, temprature, film doxyde, laiton, acier

INTRODUCTION
Le frottement entre deux matriaux peut induire, dans certaines conditions, des lvations de
temprature interfaciale importantes qui conduisent une modification des proprits mcaniques et
physico-chimiques des matriaux en contact et, par consquent, des endommagements svres des
surfaces frottantes. Le frottement est une source de perte de fonctionnalit lorsque lusure dgrade ou
grippe des surfaces. En effet, linterface dissipe lnergie mcanique due au frottement et devient
source de chaleur. Si on fait passer un courant lectrique travers le contact, dans ce cas, en plus de la
dissipation de chaleur mcanique, sajoute la dissipation par effet Joule et dans certaines conditions
celle des arcs lectriques. De plus, lintensit du courant lectrique et sa polarit induisent un champ
lectrique dans le contact qui favorise le processus d'oxydation, et donc la croissance du film doxyde
qui joue un rle majeur et dtermine la dure de service des couples lectriques glissants.
Ce travail sintresse ltude exprimentale du comportement tribo-lectrique du contact
glissant laiton-acier pour des paramtres fonctionnels (charge normale P= 20N, vitesse de glissement
V= 0,5m/s, paramtre temps t= 30 mn, et intensit du courant lectrique I = 10A). Dans ce but, une
approche exprimentale sur des diffrents chantillons t ralise en utilisant un test de type piondisque. Paralllement cette tude exprimentale, une approche analytique a t entreprise afin de
caractriser les diffrents paramtres gomtriques et thermiques.
DISPOSITIF EXPERIMENTAL
Les expriences ont t ralises lair ambiant en utilisant un tribomtre classique pion-disque
(Fig. 1(a)). Le disque est en acier. Le pion est en laiton. Il est appuy contre le disque par une charge
normale P. Le courant lectrique continu I est dlivr par une alimentation A. Un contact tournant
mercure assure convenablement le transfert du courant lectrique. Le coefficient de frottement est
calcul par cette formule =Ft/P et lusure W est value par la mesure de la perte en masse. Avant et
aprs chaque essai laide dune microbalance.

27-29 avril 2016, Ecole Nationale dIngnieurs de Saint-Etienne, France

JIFT 2016

Figure 1:(a)Vue densemble dun tribomtre, (b) pion-disque

0,25

0,21
0,18
0,15
0,12
0,09
0,06
0,03
0

0,2
0,15
0,1
0,05
0
0

0,2

0,4

0,6

V[m/s]

W[g]

W[g]

0,15

0,2

0,05

0,1

0
0,4 V[m/s] 0,6

0,2

10 15 20 25 30 35 40P[N]
45

0,3

0,1

10 15 20 25 30 35 40 45
P[N]

MODELISATION ANALYTIQUE DE LA TEMPERATURE INTERFACIALE

a P

.H ,

T m .

Qp
4.a. p ,

Q p Q m Q e .P.V R c I 2

avec a : rayon rel de contact, Tm : temprature interfaciale, QP : quantit de chaleur du pion, :


coefficient de partage, H : duret, Rc : rsistance lectrique de contact, : conductibilit thermique.
CONCLUSION
Le passage du courant lectrique travers le contact diminue lusure et le coefficient de
frottement. Ceci sexplique par le fait que lchauffement provoqu par effet joule contribue au
processus doxydation et au changement des caractristiques du matriau le plus tendre.
Les rsultats obtenus montrent que le courant lectrique a un effet significatif sur la nature, la
composition ainsi que sur lpaisseur de la couche oxyde. En effet, le mcanisme de formation et de
rupture de ce film doxyde rgit le comportement tribologique de ce couple.
Rfrences
[1]E.M. Lysczek et al(2006) Ohmic contacts to p-type , Materials Science and Engineering B 134,
4448.

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