CONCAPAN XXXI
Normas y Regulaciones de Armnicos y flicker
Jos Ramos Lpez*
Resumen En este trabajo se presenta una revisin de las
normas y regulaciones de armnicos y flicker publicadas por IEC e
IEEE y adoptadas en Amrica Latina. La norma IEEE-519 ha
evolucionado desde los aos 80, su alcance es el control de
armnicos en sistemas de potencia.
En IEC el trabajo de normalizacin en el campo de la
compatibilidad electromagntica para fenmenos electromagnticos
conducidos tuvo como resultado la familia de normas IEC 555. En
esta familia se establecan lmites de emisin de armnicos y flicker
de equipos individuales. Las versiones actuales de estas normas son
las IEC 61000-3-2 e IEC 61000-3-3, y establecen lmites de emisin
a 230 V 50 Hz.
Por otra parte dentro del mbito IEC, han sido publicados
reportes tcnicos que establecen lmites de distorsin armnica
(61000-3-6) y flicker (61000-3-7) en redes de media y alta tensin.
Los lmites de distorsin de tensin y flicker de IEC 61000-3-6/-3-7
son los adoptados en EN50160, y son similares a los lmites
adoptados por la mayora de entes reguladores en Amrica Latina.
En general la norma IEC 61000-4-15 ha sido adoptada y
aprobada para uso como IEEE 1453. Aqu se unifica lo relacionado
a flicker e incluido previamente en otras normas IEEE.
Los lmites de emisin establecidos en varios pases de Amrica
Latina para consumidores conectados en bajo voltaje o con
demandas de potencia menores a 10 kW, parecen ser el producto de
una adaptacin de las normas 61000-3-2.
Palabras clave calidad de la energa (power quality),
fenmenos electromagnticos (electromagnetic phenomena),
armnicos en sistemas de potencia (harmonics in power systems),
parpadeo (flicker), Electromagnetic Compatibility (EMC).
I. NOMENCLATURA
SIGET: Superintendencia General de Electricidad y
Telecomunicaciones
IEC: Internacional Electrotechnical Commission
EN: European Norme (Norma Europea)
IEEE: The Institute of Electrical and Electronics Engineers
THD: Total Harmonic Distortion
LV/MV/HV/EHV: Baja Tensin/ Media Tensin/Alta
Tensin/ Extra Alta Tensin
rsc : Short circuit ratio
EC: European Community
TR: Technical Report
EMC: Electromagnetic Compatibility
*
El autor es profesor en la Escuela de Ingeniera Elctrica de la
Universidad de El Salvador en San Salvador.
IEEE, Seccin El Salvador
1
II. INTRODUCCIN
E N 2004, el ente regulador de electricidad de El Salvador
(SIGET), public la Norma de Calidad del Servicio de los
Sistemas de Distribucin [1]. Esta norma establece lmites y
percentiles para las categoras siguientes de fenmenos
electromagnticos: variaciones de voltaje de larga duracin,
distorsin armnica de voltaje (individual y total), flicker de
corta duracin (voltaje), e interrupciones sostenidas (duracin
mayor a 3 minutos). La norma SIGET tambin establece
lmites para fenmenos electromagnticos provocados por los
consumidores (distorsin armnica de corriente y flicker).
Los lmites para fenmenos de tensin adoptados por SIGET
son similares a los lmites adoptados por varios entes
reguladores en Amrica Latina [2]. En principio son
equivalentes a los de la norma europea EN50160 [3]. Los
lmites de distorsin armnica y flicker de [3] son los
establecidos en los reportes tcnicos IEC/TR 61000-3-6 [4] e
IEC/TR 61000-3-7 [5].
Los reportes tcnicos IEC 1000-3-6 e IEC 1000-3-7 usan los
trminos siguientes para la tensin del sistema (Vn):
Baja tensin (LV) se refiere a Vn < 1 kV
Media Tensin (MV)se refiere a 1 kV < Vn < 35 kV
Alta Tensin (HV) se refiere a 35 kV < Vn < 230 kV
Extra-Alta Tensin (EHV) se refiere a 230 kV < Vn
III. LMITES DE DISTORSIN ARMNICA IEC / IEEE.
A. Niveles de Compatibilidad y Planificacin
Los Niveles de compatibilidad son valores de referencia para
coordinar la emisin e inmunidad de equipo que es parte de, o
alimentado por, una red de suministro, con el propsito de
garantizar la compatibilidad electromagntica (EMC) del
sistema completo (incluyendo la red y los equipos conectados).
Los niveles de compatibilidad generalmente estn basados en
niveles de probabilidad del 95% de sistemas completos. El
perodo mnimo de evaluacin es de 1 semana.
El Salvador, Noviembre 2011
 CONCAPAN XXXI 2

TABLA I. NIVELES DE COMPATIBILIDAD IEC 1000-3-6 PARA TABLA II. LMITES IEEE 519 PARA TENSIN ARMNICA (EN
TENSIN ARMNICA (EN POR CIENTO DEL COMPONENTE % DEL COMPONENTE FUNDAMENTAL) [6].
FUNDAMENTAL) EN LV, MV, HV Y EHV. Categora de tensin Lmites Armnicos THD
Orden de la BAJA TENSIN Y MEDIA ALTA individuales de
armnica TENSIN TENSIN- orden impar
(n) EXTRA
< 69 Kv 3% 5%
ALTA
TENSIN 69 kV <V<161 kV 1.5% 2.5%
Niveles de Valores Valores
V > 161 kV 1% 1%
compatibilidad Indicativos de Indicativos de
Niveles de Niveles de
planificacin planificacin En un buen intento de solventar la restriccin en el alcance de
5 6.0 5 2 IEC 1000-3-6, Gmez San Romin, et al [2], elaboraron una
7 5.0 4 2 propuesta de aplicacin para el ente regulador argentino. De
11 3.5 3 1.5 acuerdo esta propuesta:
13 3.0 2.5 1.5 los niveles de compatibilidad de la tabla I se adoptan
17 2.0 1.6 1 como valores de referencia hasta 66 kV.
19 1.5 1.2 1 Los niveles de planificacin para HV-EHV de la tabla
23 1.5 1.2 0.7 I, se adoptan como valores de referencia entre 66 kV
25 1.5 1.2 0.7
y 230 kV.
>25 0.2 + 1.3x25/n 0.2+0.5x25/n 0.2+0.5x25/n
En el caso salvadoreo, los niveles de compatibilidad de la
3 5.0 4.0 2
tabla I se adoptan como lmites en el rango 600V- 115 kV [1].
9 1.5 1.2 1
15 0.3 0.3 0.3
21 0.2 0.2 0.2 B. Niveles de Emisin
>21 0.2 0.2 0.2
2 2.0 1.6 1.5
4 1.0 1.0 1 Lmites de Emisin de Corrientes Armnicas de Equipos
6 0.5 0.5 0.5 individuales
8 0.5 0.4 0.4
10 0.5 0.4 0.4 La marca CE que es obligatoria en la Unin Europea incluye
12 0.2 0.2 0.2 entre otros, la homologacin del equipo con las normas de
>12 0.2 0.2 0.2 EMC. Las normas IEC 61000-3-2 [7] e IEC 61000-3-4 [8]
Distorsin establecen lmites de emisin para equipos con corriente de
Armnica entrada de hasta 16 A y 75 A, respectivamente. Ambas normas
Total establecen las condiciones de prueba en laboratorio. Los
(THD) 8.0 6.5 3.0 equipos se clasifican en clases. Por ejemplo, para los equipos
clase D en la referencia [7], los lmites de emisin son los
En EN50160 se adoptan los niveles de compatibilidad IEC mostrados en la tabla III.
1000-3-6 para el 95% de 1 semana (mediciones promediadas
cada 10 minutos). Los lmites SIGET corresponden a niveles Los niveles de emisin de corrientes armnicas para baja
de compatibilidad. tensin, adoptados en Amrica Latina por varios entes
reguladores [1]-[2], son una aplicacin a escala de los niveles
Los Niveles de planificacin son usados para propsitos de de emisin para equipos clase D [7].
planificacin en la evaluacin del impacto de las cargas de
todos los consumidores sobre el sistema de suministro. Los TABLA III. LMITES DE EMISIN (IEC 61000-3-2) PARA
EQUIPOS CLASE D.
niveles de planificacin son especificados por las
Orden armnico Corriente armnica Corriente armnica
distribuidoras para todos los niveles de tensin del sistema y N mxima permisible mxima permisible
pueden ser considerados como objetivos de calidad internos de (mA/W) (A)
la distribuidora. 3 3.4 2.30
5 1.9 1.14
En la tabla II se muestran los lmites IEEE 519 para 7 1.0 0.77
componentes de tensin armnica de orden impar. Los lmites 9 0.5 0.40
para componentes de tensin armnica de orden par son el 11 0.35 0.33
13<n<39 3.85/n Ver tabla 1 de [7]
25% de los mostrados. Al comparar las tablas I y II se observa
Nota: Los lmites son aplicables a equipos conectados a 220/380 V,
que en general- en la categora de Baja y Media Tensin IEC, 230/400 V y 240/415 V (50 o 60 Hz).
los lmites IEEE 519 son ms estrictos que los niveles de
compatibilidad IEC 61000-3-6, cuyo alcance est restringido a Lmites de Emisin de Instalaciones en MV-HV-EHV.
estas dos categoras de tensin

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 CONCAPAN XXXI
En la edicin actual de [4], los principios generales para
establecer niveles de emisin constan de 3 etapas:
Etapa 1: Evaluacin simplificada de emisin de
perturbaciones en MV. [4]
Si se cumple la condicin siguiente:
Si
0.2% (1)
S sc
(Si = potencia contratada del consumidor i; Ssc = potencia de
corto circuito en el punto de evaluacin), entonces cualquier
instalacin que causa distorsin puede ser conectada al sistema
de suministro sin mayor evaluacin. Una opcin de anlisis es
aplicar el criterio de potencia de distorsin ponderada (SDWi),
en todo caso SDWi/Ssc < 0.2%.
Etapa 2: Lmites de emisin relativos a las caractersticas
reales del sistema en MV. [4]
Corrientes armnicas relativas como lmites de emisin.
La tabla IV da un ejemplo de lmites apropiados. Se aplica a
un cliente con una potencia contratada Si < 1MVA y con rsc >
100.
TABLA IV. VALORES INDICATIVOS PARA ALGUNOS
LMITES DE EMISIN DE CORRIENTE ARMNICA DE
ORDEN IMPAR RELATIVOS AL TAMAO DE UNA
INSTALACIN. (Si < 1MVA y rsc > 100.)
Orden armnico n 5 7 11 13 >13
Lmites de Emisin de 5 5 3 3 500/h2
corriente armnica
EIhi = Ihi/Ii (%)
En donde:
EIhi es el lmite de emisin de corriente armnica de orden n para el
cliente i,
Ihi es la corriente armnica de orden h causada por la instalacin
perturbadora del cliente i,
Ii es la corriente rms correspondiente a su potencia contratada
(frecuencia fundamental)
La tabla IV representa el nico caso de lmites especficos de
emisin de corrientes armnicas que aparece en IEC/TR
61000-3-6 [4].
Mtodo general basado en la ley de suma.
Para sistemas de potencia en Media Tensin y Alta Tensin,
en [4] solamente se establece que los niveles de emisin de
corrientes armnicas de los consumidores deben ser
compatibles con los niveles de compatibilidad y/o
planificacin. A excepcin del ejemplo ilustrado en la tabla
IV, IEC/TR 1000-3-6 no establece niveles especficos de
corriente.
A cada cliente se le permitir una fraccin de los lmites de
emisin globales GHMV+LV. Un mtodo razonable es tomar la
relacin entre la potencia contratada Si y la capacidad de
suministro St del sistema MV.
IEEE, Seccin El Salvador
3
Si
EUhi = GhMV + LV (2)
St
En donde:
es el exponente de la ley de suma
Puede ser preferible especificar lmites de corriente armnica
de la instalacin perturbadora, an si el objetivo es limitar los
voltajes armnicos en el sistema. Debera ser responsabilidad
del operador o propietario del sistema, suministrar los datos
relativos a la respuesta en frecuencia de la impedancia del
sistema, con el propsito de permitir expresar esos lmites en
trminos de las corrientes armnicas:
EUhi
E Ihi = (3)
Z hi
Etapa 3: Aceptacin condicional de niveles de emisin
mayores. [4].
En esta etapa se describen las circunstancias bajo las cuales el
operador de sistema puede aceptar que una instalacin
perturbadora emita perturbaciones ms all de los lmites
permitidos en la etapa 2.
Gmez San Romin, et al [2] hacen una interpretacin de la
etapa 2 de IEC/TR 1000-3-6 en MV y HV, y establecen
niveles de emisin especficos. La tabla V muestra estos
niveles, tal como han sido adoptados por ENRE [9]. De
acuerdo a los diseadores, el objetivo de los lmites de emisin
es cumplir con los niveles de compatibilidad para media
tensin y con los niveles de planificacin para alta y extra alta
tensin de IEC/TR 1000-3-6 mostrados en la tabla I. Los
valores aplicados en [2] para la relacin de corto circuito son:
rsc = 10 para V< 66 kV, y rsc = 15 para V> 66kV.
La evaluacin de la tabla V es ms que pertinente en nuestro
caso, ya que los lmites para V < 66 kV, han sido adoptados en
[1] en los rangos definidos localmente como baja tensin (V <
600 V) y media tensin (600 < V < 115 kV. Los lmites
resultantes para los armnicos impares mltiplos de 3 y los
armnicos pares revelan inconsistencias resultantes de aplicar
indiscriminadamente el procedimiento de clculo desarrollado
en [2], sin tomar en cuenta las caractersticas reales del
sistema en MV-HV-EHV (Etapa 2 de [4]). Esta inconsistencia
se evidencia an ms por el resultado mostrado en la tabla V
para los lmites de emisin de los componentes armnicos de
segundo, tercer y cuarto orden. Los lmites de emisin de
corriente armnica de los componentes impares mltiplos de 3
y de orden par (excepto para n=8), son mayores o iguales en
HV-EHV que en MV. Desde los inicios del proyecto de norma
IEEE 519 [6], se reconoce la importancia de establecer lmites
ms estrictos en las categoras mayores de tensin.
TABLA V. LMITES DE EMISIN DE CORRIENTE ARMNICA
PARA USUARIOS T-2 Y T-3 EN LA NORMA ENRE.
Orden armnico (n) Corriente armnica en % de la corriente
nominal de la carga del usuario
V < 66 kV 66 kV < V < 220 kV
El Salvador, Noviembre 2011
 CONCAPAN XXXI 4

5 12 6 Los niveles de compatibilidad para flicker en sistemas de

7 8.5 5.1 potencia en LV y MV estn dados en la tabla VII.
11 4.3 2.9
13 3 2.2 TABLA VII. NIVELES DE COMPATIBILIDAD PARA Pst Y Plt
17 2.7 1.8 EN SISTEMAS DE POTENCIA EN LV Y MV (IEC 1000-3-7)
19 1.9 1.7 Niveles de compatibilidad
23 1.6 1.1 Pst 1.0
25 1.6 1.1 Plt 0.8
>25 0.2+ 0.8(25/n) 0.4
Niveles de planificacin
3 16.6 7.5 Solamente valores indicativos pueden ser dados debido a que
9 2.2 2.2 los niveles de planificacin van a diferir de caso a caso. Como
15 0.6 0.8
un ejemplo vase los niveles de planificacin para Pst y Plt
21 0.4 0.4
>21 0.3 0.4 presentados en la tabla VIII

2 10.0 10.0 TABLA VIII. VALORES INDICATIVOS DE NIVELES DE

4 2.5 3.8 PLANIFICACIN PARA Pst Y Plt EN SISTEMAS DE POTENCIA
6 1 1.5 EN MV, HV y EHV.
8 0.8 0.5 Niveles de Planificacin
10 0.8 0.5 MV HV-EHV
12 0.4 0.5 Pst 0.9 0.8
>12 0.3 0.5 Plt 0.7 0.6
NOTAS:
Distorsin de 20 12 1- Esos valores fueron escogidos asumiendo que el coeficiente
corriente Armnica de transferencia entre sistemas MV o HV y LV es unitario.
Total (%) 2- En la prctica los coeficientes de transferencia de HV a LV
(TpstHL) a menudo son significativamente menores que la
TABLA VI. LMITES IEEE-519 DE EMISIN DE CORRIENTE unidad. Un valor tpico para TpstHL es 0.8, en tal caso el
ARMNICA EN % DE LA CORRIENTE DE DEMANDA valor de planificacin indicativo para HV se vuelve LpstHV =
MXIMA (ARMNICAS DE ORDEN IMPAR). 0.8/0.8 = 1.0.

Las mediciones deberan ser realizadas de acuerdo a IEC

61000-4-15 [10] con una duracin mnima de 1 semana. De
los valores de Pst medidos durante la semana de observacin,
se debera obtener la funcin de probabilidad acumulada
(CPF) de Pst y Plt y los percentiles Pst95%, Pst99%, Plt95%, y Plt99%
deberan ser derivados:

- Pst99% no debera exceder los niveles de planificacin

- Plt99% no debera exceder los niveles de planificacin

En IEEE 1453 [11] se adopta IEC1000-4-15, y los niveles de

compatibilidad y planificacin de IEC 1000-3-7.

B. Niveles de Emisin

El nivel de emisin de una carga fluctuante es el nivel de

NOTA: Los lmites de las corrientes armnicas de orden par son un
25% de los valores mostrados en la tabla V.
La norma IEEE-519, establece lmites de emisin de corrientes
armnicas (ver tabla VI), que superan satisfactoriamente las
inconsistencias de los lmites mostrados en la tabla V.
flicker que sera producido en el sistema de potencia si
ninguna otra carga fluctuante se encuentra presente. Para
comparar la emisin de flicker total de la carga del consumidor
con los lmites de emisin, el perodo mnimo de medicin
debera ser una semana. De los valores de Pst medidos durante
el perodo de observacin
- Pst99% no debera exceder el lmite de emisin EPsti
- Plt99% no debera exceder el lmite de emisin EPlti

IV. LMITES DE FLICKER. En la prctica esos niveles de emisin son evaluados

generalmente a partir de los datos disponibles concernientes a
A. Niveles de Compatibilidad y Niveles de Planificacin la carga y el sistema; sin embargo su medicin directa es
posible. En el caso de un bajo nivel de fondo de flicker (Pst <
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 CONCAPAN XXXI 5

0.5), el nivel de flicker en el PCC debera ser medido para las

siguientes dos condiciones: Etapa 1: evaluacin simplificada de emisin de
- Con la carga fluctuante conectada perturbaciones.
- Con la carga fluctuante y cualquier equipo de
compensacin desconectado. Para sistemas HV y EHV se justifica relacionar la demanda de
potencia aparente (Smax) de la carga fluctuante con la
El segundo valor debera ser restado del primero usando la ley capacidad de corto circuito de la red en el PCC. Por ejemplo,
de suma cbica. Este mtodo da la emisin de flicker
convencional del consumidor. Cuando el nivel de Pst existente Smax / Scc < 0.1 % (4)
en el PCC es mayor que 0.5, se debe usar un mtodo ms
exacto. se podra proponer como lmite de la etapa 1. El mtodo
SCVD (Short Circuit Voltage Depression) aceptado como
Principios generales estndar de facto en la industria [12] establece lmites ms
El mtodo propuesto para evaluar la aceptabilidad de cargas flexibles (Smax/Scc < 1.5%).
fluctuantes depende de la potencia convenida con el
consumidor, la potencia del equipo que provoca flicker y las Etapa 2: Lmites de emisin proporcionales a la potencia
caractersticas del sistema. El objetivo es limitar la inyeccin convenida con el consumidor.
de la carga total de consumidores individuales a niveles que no
darn como resultado niveles de flicker que exceden los El lmite individual de emisin se puede estimar tomando en
niveles de planificacin. Tres etapas de evaluacin son cuenta la ley de suma, entonces los lmites de emisin
definidas, las cuales pueden ser usadas en secuencia o individual son:
independientemente. Si
Etapa 1: Evaluacin simplificada de emisin de E Psti = LPstiHV 3 (5)
StHV
perturbaciones.
Etapa 2: Lmites de emisin proporcionales a la Si
potencia convenida con el consumidor. E Plti = LPltiHV 3 (6)
Etapa 3: Aceptacin de niveles de emisin mayores
StHV
sobre una base excepcional y precaria. donde:
EPsti es el lmite de emisin para el usuario i;
LPstHV es el nivel de planificacin en HV;
Lineamientos generales para la evaluacin de niveles de
Si es la potencia convenida con el usuario i;
emisin StHV es la parte de la capacidad total de suministro que
est dedicada a los usuarios en HV
El lmite prctico para Epsti = LPstHV = 1.0

Etapa 3: Aceptacin de niveles de emisin mayores sobre una

base excepcional y Precaria.

La etapa 3 es importante a efectos de permitir que se

pospongan inversiones. Significa que un estudio cuidadoso de
la conexin debera ser conducido, tomando en cuenta [en
general] el nivel de fondo de flicker, en comparacin al nivel
de flicker producido por la carga bajo estudio. La etapa 3, se
justifica asumiendo que el usuario realizar las inversiones
Cambios de voltaje rectangulares por minuto requeridas para cumplir con los niveles de compatibilidad.
Figura 1. Curva Pst = 1 para cambios rectangulares de voltaje. Tcnicamente, los niveles de flicker que se deben tener en
mente como objetivos del estudio son los que se muestran en
La prediccin de niveles de flicker debera estar relacionada al las tablas VII y VIII, los cuales provienen de la referencia [5],
peor caso bajo condiciones normales de operacin. Algunos y que se resumen en la tabla IX, despus de aplicar la nota 2
mtodos simplificados de prediccin para severidad de flicker que acompaa la tabla 2 en [5].
son dados en la referencia [5]. Ellos estn basados en la curva
Pst = 1, la cual es vlida para cambios rectangulares de voltaje TABLA IX. RESUMEN DE NIVELES DE COMPATIBILIDAD Y
(ver figura 1) PLANIFICACIN DE FLICKER
Niveles de Niveles indicativos de
Efectos de suma compatibilidad en planificacin
Si el flicker causado por otras cargas es despreciable en LV y MV MV HV
comparacin a los niveles causados por la carga bajo estudio, Pst 1.0 0.9 1.0
no es necesario discutir relaciones de combinaciones.
Plt 0.8 0.7 0.75

Lmites de emisin para cargas fluctuantes en sistemas HV

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 CONCAPAN XXXI
V. CONCLUSIONES
A. Los niveles de Compatibilidad y Planificacin de
Flicker para Pst establecidos en IEC 1000-3-7 [5] han
sido adoptados directamente por varios entes
reguladores en Amrica Latina.
B. Los niveles de Compatibilidad y Planificacin de
IEC 1000-3-6 [4] para voltajes armnicos, han sido
adoptados por diferentes entes reguladores en
Amrica Latina a partir de la propuesta de Gmez
Romin [2].
C. En general, en IEC 1000-3-6 e IEC 1000-3-7 no se
proponen niveles especficos de emisin de
corrientes armnicas ni de flicker.
D. Las Categoras Media Tensin (1 kV < Vn < 35 kV)
y Alta Tensin (35 kV < Vn < 230 kV), definidas en
[4] y [5] son incompatibles con la categora Media
Tensin (600 V < Vn < 115 kV) empleada en [1].
E. Los niveles de emisin de Corrientes armnicas
propuestos por Gmez Romin [2], y adoptados por
varios entes reguladores en Amrica Latina,
presentan inconsistencias significativas. Por una
parte, los lmites para pequeos consumidores
representan una aplicacin cuestionable de lmites de
emisin establecidos para equipos [individuales]
clase D definidos en [7]. En el caso de instalaciones
en MV-HV-EHV, el objetivo de clculo de los
niveles de emisin en [2], es cumplir con los niveles
de compatibilidad y planificacin establecidos en [4].
Los resultados ni siquiera son compatibles con el
nico ejemplo de lmites de emisin especficos que
aparece en [4], mostrados en la tabla IV. Los
resultados de aplicacin de la formula desarrollada
en [2] para evaluacin de la etapa 2 en la referencia
[4] son cuestionables. Tampoco se toma en cuenta la
experiencia IEEE-519 en el establecimiento de
niveles de emisin especficos (armnicos mltiplos
de 3, armnicos pares, relacin de corto circuito y
nivel de voltaje) [6].
F. En el caso salvadoreo, existen problemas de
armonizacin entre la norma SIGET, y la norma de
facto aplicada en el sistema de transmisin para
voltajes y corrientes armnicas, en este caso la IEEE-
519. Para resolver este vaco se requiere el diseo de
normas nacionales obligatorias que incluyan todas las
categoras de voltaje (LV, MV, HV, y EHV).
VI. REFERENCIAS
[1] SIGET. Norma de Calidad del Servicio de los Sistemas de
Distribucin. Superintendencia General de Electricidad y
Telecomunicaciones, Acuerdo 192-E-2004.
[2] T. Gmez San Romin, J. Romin Ubeda. Power Quality Regulation in
Argentina: Flicker and Harmonics. IEEE Transactions on Power
Delivery, Vol. 13, No. 3, July 1998
[3] CENELEC. European Standard EN50160, 1994. Voltage
Characteristic of Electricity supplied by public distribution systems,
CENELEC, Brussels, Belgium, 1994.
IEEE, Seccin El Salvador
6
[4] IEC/TR 61000-3-6. Second Edition. Technical Report.
Electromagnetic Compatibility (EMC). Part 3-6: Limits assessment
of emission limits of the connection of distorting installations to MV,
HV and EHV. International Electrotechnical Commission, 2008.
[5] IEC/TR 61000-3-7. Second Edition. Technical Report.
Electromagnetic Compatibility (EMC). Part 3-7: Limits assessment
of emission limits of the connection of fluctuacting installations to
MV, HV and EHV. International Electrotechnical Commission, 2008
[6] IEEE 519-1992. Recommended Practices and Requirements for
Harmonic Control in Electrical Power Systems. The Institute of
Electrical and Electronics Engineers.
[7] IEC 61000-3-2. Compatibilidad Electromagntica (CEM). Parte 3-2:
Lmites. Lmites para las emisiones de corriente armnica (equipos
con corriente de entrada < 16 A por fase). International
Electrotechnical Commission, 2005.
[8] IEC/TR 61000-3-4. First Edition. Technical Report. Electromagnetic
Compatibility (EMC). Limits. Limitation of Emission of harmonic
currents in low voltage power supply systems for equipment qith rated
current greater than 16 A. International Electrotechnical Commission,
1998.
[9] Ente Nacional Regulador de la Electricidad, Argentina. Resolucin
ENRE 0099/1997. Boletn Oficial n 28.583, martes 11 de febrero de
1997, p. 77.
[10] IEC Standard 61000-4-15 Electromagnetic compatibility (EMC) -
Part 4-30: Testing and measurement techniques Flickermeter-
functional and design specifications. International Electrotechnical
Commission, 2003
[11] IEEE 1453. IEEE Recommended Practice for Measurement and
Limits of Voltage Fluctuations and Associated Light Flicker on AC
Power Systems. The Institute of Electrical and Electronics Engineers,
2004.
[12] Miller. Reactive Power Control in Power Systems. Wiley, 1982.
[13] IEC 61000-3-3. Second Edition. Electromagnetic compatibility
(EMC) Part 3-3 Limits _ Limitation of Voltage Changes, Voltage
Fluctuations and flicker in public low voltage supply systems, for
equipment with rated current < 16 A. International Electrotechnical
Commission, 2008.
Jos Ramos Lpez (IEEE Senior Member), naci en 1955 en Santa Ana,
El Salvador. En 1984 recibi el ttulo de Ingeniero Electricista en la
Universidad de El Salvador. Entre 1990 y 1993 ejerci profesionalmente en
Elcontrol spa en Sasso Marconi, Italia. Desde 1993 es profesor de la
Escuela de Ingeniera Elctrica en la Universidad de El Salvador. Entre sus
campos de inters est la calidad de la energa y las mediciones elctricas.
Desde 1994 inici la aplicacin de Instrumentos Virtuales y ATP en la
UES. En 1996-1997 fue Miembro de IEEE Standards Board. Incluido en
los programas DLP (Distinguished Lecturer Program) de IEEE PES e IEEE
IAS en la regin 9 desde mediados de los aos 90.
El Salvador, Noviembre 2011