Construção e Caracterização de Sensores SPR: Influência Da Camada Metálica e Do Substrato Dielétrico

Construo e caracterizao de sensores SPR:
inuncia da camada metlica e do substrato dieltrico
Leiva Casemiro Oliveira
Tese de Doutorado apresentada Coordenadoria do Programa de

Ps-Graduao em Engenharia Eltrica da Universidade Federal de
Campina Grande - Campus de Campina Grande como parte dos
requisitos necessrios para obteno do grau de Doutor em Cincias
no Domnio da Engenharia Eltrica.
rea de Concentrao: Processamento da Informao
Antonio Marcus Nogueira Lima, Dr.

Helmut Franz Ne, Dr.
Orientador (es)
Campina Grande, Paraba, Brasil

c Leiva Casemiro Oliveira, Abril de 2016

FICHA CATALOGRFICA ELABORADA PELA BIBLIOTECA CENTRAL DA UFCG
O48c Oliveira, Leiva Casemiro.

Construo e caracterizao de sensores SPR : influncia da camada
metlica e do substrato dieltrico / Leiva Casemiro Oliveira. Campina
Grande, 2016.
127 f. : il. color.
Tese (Doutorado em Engenharia Eltrica) - Universidade Federal de

Campina Grande, Centro de Engenharia Eltrica e Informtica, 2016.
"Orientao: Prof. Dr. Antonio Marcus Nogueira Lima, Prof. Dr.
Helmut Franz Neff".
Referncias.
1. Ressonncia de Plasmon de Superfcie Engenharia Eltrica.

2. Sensores pticos. 3. Biossensores. 4. Biochip. 5. Sensor SPR.
I. Lima, Antonio Marcus Nogueira. II. Neff, Helmut Franz. III. Ttulo.
CDU 621.3:533.951(043)
via Skype
Agradecimentos
Primeiro de tudo, gostaria de agradecer ao meu orientador professor Dr. Franz Helmut Ne,
pela orientao, participao e pelos encaminhamentos efetivos ao trmino e apresenta-
o nal deste trabalho. Quando comecei a trabalhar no laboratrio de biossenores no
imaginava a quanto de experincia e conhecimento poderia adquirir. Com a orientao de
Helmut, comecei a aprender sobre o mundo da SPR e rapidamente quei fascinado. Serei
sempre grato pelo entusiasmo e perspectiva positiva que Helmut dava ao trabalho mesmo
diante de contratempos ocorridos durante o desenvolvimento do sensor.
Um agradecimento especial ao tambm orientador professor Dr. Antonio Marcus No-
gueira Lima, pela orientao, participao e sustentao acadmica ao longo deste perodo.
O prof. Antonio Marcus contribui e guiou os trabalhos para o desenvolvimento do sensor,
sempre buscando qualidade e excelncia nos resultados. Antonio Marcus ajudou bastante
para que eu melhorasse a redao e a apresentao de trabalhos cientcos.
A construo do sensor no seria possvel sem a colaborao do colega Dr. Cleumar
Moreira da Silva. Obrigado pelas inndveis discusses e pela elaborao conjunta dos
prismas polimricos aqui tratados.
Talvez eu no tivesse conhecido o mundo da SPR se no fosse a professora Dra. Fer-
nanda Ceclia. Fernanda obrigado pela conana em ter me convidado para trabalhar no
laboratrio de biossensores.
Aos colegas do Laboratrio de Biossensores (eBIO), particularmente me dirijo ao Dr.
Arlindo Garcia, Luis Hermano, Tiago de Sousa e Eduardo Gomes Pereira pelas conversas,
pelas contribuies imprescindveis quando do processo de construo e caracterizao dos
prismas e das tcnicas para extrao dos parmentros da curva SPR.
Agradeo aos meus pais Wilma Casemiro Oliveira e Manoel Vieira de Oliveira por sempre
estarem presentes, acreditando no meu potencial e investindo nos meus estudos... um beijo.
Um agradecimento especial a minha noiva Nvia Bit Saraiva por estar sempre presente
mesmo na distncia. Por seu apoio incondicional sempre serei grato.
Enm a todos aqueles que direta ou indiretamente contriburam para consecuo deste
trabalho. Serei sempre grato.
i
Resumo
Sensores baseados na ressonncia de plasmons de superfcie (SPR) foram construdos, ex-
plorando diferentes materiais para compor o arranjo multicamadas do tipo substrato/me-
tal/amostra. A denio do arranjo multicamadas de um sensor SPR fundamental pois
determina as condies para a construo do sensor, denindo os blocos funcionais que
o compem alm de ser responsvel pela transduo da interao molecular. O arranjo
multicamadas determina o ngulo de incidncia e o comprimento de onda da luz utilizada
para excitao dos plasmons na interface entre o metal e substncia em anlise (amostra).
Averiguou-se a qualidade da excitao dos plasmons de superfcie em lmes nos metlicos,
variando os materiais dos pares substrato/metal do arranjo multicamadas com estrutra de
Kretschmann. A caracterizao da resposta do sensor foi realizada usando o prisma p-
tico PPBIO, por sua estrutura trapezoidal que facilita a instrumentao ao evitar o uso de
partes mveis e/ou rotacionais. Prismas com os polmeros PC, PMMA, TOPAS e com o
vidro BK7 foram manufaturados. Os metais ouro (Au), prata (Ag), cobre (Cu) e alumnio
(Al) foram depositados nas superfcies de cada um dos prismas. Aspectos sobre a confec-
o dos prismas, deposio da camada metlica, montagem dos componentes e do software
para processamento da resposta do sensor foram apresentados. Experimentos com ligaes
reversveis e irreversveis no modo de interrogao angular e no modo de interrogao de
comprimento de onda foram realizados. Os resultados mostram que o arranjo composto do
par PC/Al no exibe boa resposta. Os arranjos com Ag e Cu formam facilmente camadas
de oxidao. A adsoro de protena mais acentuada em lmes de Au, moderada em lmes
de Ag e fraca/inexistente em lmes de Cu e Al. Os resultados obtidos atestam a viabilidade
da excitao dos plasmons de superfcie em sensores SPR a base do PPBIO, com limite de
deteco de ndice de refrao na ordem de 1106 RIU.
ii
Abstract
A sensor based on surface plasmon resonance (SPR) was developed, exploring dierent
materials to built the substrate/metal/sample multilayer arrangement type. The multilayer
arrangement denition of a SPR sensor is crucial because it determines the conditions
for sensor construction by setting its functional blocks, besides being responsible for the
molecular interaction transduction to be detected, and denes the incidence angle and
wavelength of the light used for plasmons excitation at the metal and analyte interface.
The quality of surface plasmons exitation in thin metal lms was investigated by changing
the materials of substrate/metal pairs of the multilayer arrangement with Kretschmann
structure. The sensor response characterization was performed using the optical prism
PPBIO due it's trapezoid structure that facilitates instrumentation, avoiding mobile and/or
rotational parts. Prisms with PC, PMMA and TOPAS polymers and glass BK7 were
manufactured. The metals gold (Au), silver (Ag), copper (Cu) and aluminum (Al) were
deposited on the top surfaces of the prisms. The prisms manufacture aspects, the metal
layer deposition, the assembly of components in the experimental set-up and details about
the software which processes the sensor response are presented. Experiments with reversible
and irreversible linkage in both angular and wavelength interrogation mode were performed.
The results show that the arrangement composed of PC/Al pair does not possess good
response. Arrangements with Ag and Cu easily form oxide layers. Protein adsorption is
more pronounced in Au lms, moderate in Ag lms and weak/absent in Cu and Al lm.
Moreover the results attest the feasibility of the surface plasmons excitation in PPBIO based
SPR sensors, with 1106 RIU on the order of refractive index limit of detection.
iii
Sumrio
1 Introduo 1
1.1 Objetivos e metodologia . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 5
1.2 Estrutura do documento . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 7
2 Fundamentao Terica para sensores SPR 8

2.1 Condies para excitao dos plasmons de superfcie . . . . . . . . . . . . . . 9
2.1.1 Disperso dos plamons de superfcie . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 13
2.2 Anlise de Fresnel . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 14
2.2.1 Sensor SPR como refratmetro . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 15
2.3 Resumo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 17
3 Projeto do transdutor SPR 18

3.1 Metodologia do PPBIO: ramo ptico . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 18
3.2 Resposta SPR . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 29
3.2.1 Filmes nos de Alumnio . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 35
3.2.2 Filmes nos de Ouro . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 40
3.2.3 Filmes nos de Cobre . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 44
3.2.4 Filmes nos de Prata . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 48
3.3 Detectividade . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 53
3.4 Resumo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 55
4 Construo do sensor SPR 57

4.1 Fabricao do PBBIO . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 57
4.1.1 Moldagem por injeo do PBBIO . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 57
4.1.2 Recozimento do PPBIO . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 59
4.1.3 Polimento do PPBIO . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 65
4.2 Deposio do metal . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 65
4.3 Montagem experimental . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 68
4.4 Resumo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 72
5 Caracterizao do sensor SPR 73

5.1 Protocolo experimental . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 77
5.2 Resultados experimentais: curvas SPRs . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 78
5.3 Resultados experimentais: sensorgramas . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 82
5.4 Resumo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 103
6 Concluso e trabalhos futuros 104

6.1 Trabalhos futuros . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 107
A Fabricao do PPBIO 110
B Deposio de lmes nos 115
C Caracterizao de lmes nos 118
Referncias Bibliogrcas 121
v
Lista de Smbolos e Abreviaturas
ABS Acrilonitrila Butadieno Estireno (impressora 3D)
D.A. Aproximao de Drude
DF Distncia focal
DP Densidade de pixel
AF Anlise de Fresnel
AF M Microscpio de fora-atmica
AIM Modo de Interrogao Angular
AT R Attenuated Total Reection
BSA Bovine Serum Albumin (protena)
CCD Charge-Coupled Device
CDF Funo Dieltrica Complexa
CI Caminho Inclinado
CM OS Complementary Metal-Oxide Semiconductor
COC Cyclic-Olen Copolymer (polmero TOPAS)
CV D deposio de vapor qumico
DN A cido desoxirribonucleico
EBR Abertura do Feixe de Luz
ECS Equal Coupling Strength
F oV Campo de Viso do PPBIO (Field Of View)
F W HM Largura da curva SPR (Full Width at Half Maximum)
LED Diodo emissor de luz (Light Emitting Diode)
LSP R Localized Surface Plasmon Resonance
LRSP P Long-Range Surface Plasmon Polariton
N P Nano-Partcula
OP Ponto de Operao
P BS Phosphate Buered Saline (analito)
P C Policarbonato (polmero)
P M M A Polimetil-metacrilato (polmero)
P P BIO Prisma Polimrico para aplicaes BIOlgicas
P V D Deposio de vapor fsico
RIT Reexo Interna Total
RIU Refractive Index Unit
RIV Regio do Infra-Vermelho
RP P Regio dos plasmons radiativos
SEM Microscpio eletrnico de varredura
SP Surface Plasmon
SP P Surface Plasmon Polariton
vii
SP R Surface Plasmon Resonance
T OP AS Thermoplastic Olen-polymer of Amorphous Structure
T M Transverso-Magntico
U ACP E Unidade de Aquisio, Controle, Processamento e Exibio
W IM Modo de Interrogao Espectral
kp Vetor de onda da luz incidente
kpx Componente horizontal do vetor de onda da luz incidente
ksp Vetor de onda dos plamons de superfcie
ke Vetor de onda dos eltrons-livres
di Espessura do meio i do arranjo multicamadas
r() Coeciente de reetividade de Fresnel - WIM
r() Coeciente de reetividade de Fresnel - AIM
res ou R ngulo plasmnico ou ngulo de ressonncia
res ou R Comprimento de onda plasmnico ou comprimento de onda de ressonncia
ni ndice de Refrao do meio i do arranjo multicamadas
i Permissividade (ou CDF) do meio i do arranjo multicamadas
S Sensibilidade do sensor SPR operando no modo AIM
S Sensibilidade do sensor SPR operando no modo WIM
D Detectividade do sensor SPR operando no modo AIM
D Detectividade do sensor SPR operando no modo WIM
viii
Lista de Tabelas
Tabela 3.1: Magnitude de h i para h i=0.1 nm. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 54

Tabela 3.2: Resumos dos valores de R e R indicando o OP de cada par subs-
trato/metal. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 56
Tabela 5.1: Valores de R , R , n3 , S , S , D , D e Resoluo Instrumental para

o par BK7/Ag nos modos WIM e AIM. . . . . . . . . . . . . . . . . . . 84
o par TOPAS/Ag nos modos WIM e AIM. . . . . . . . . . . . . . . . . 86
o par PMMA/Ag nos modos WIM e AIM. . . . . . . . . . . . . . . . . 87
o par PC/Ag nos modos WIM e AIM. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 88
o par BK7/Au nos modos WIM e AIM. . . . . . . . . . . . . . . . . . . 90
o par TOPAS/Au nos modos WIM e AIM. . . . . . . . . . . . . . . . . 91
o par PMMA/Au nos modos WIM e AIM. . . . . . . . . . . . . . . . . 92
o par PC/Au nos modos WIM e AIM. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 93
o par BK7/Cu nos modos WIM e AIM. . . . . . . . . . . . . . . . . . . 95
o par TOPAS/Cu nos modos WIM e AIM. . . . . . . . . . . . . . . . . 96
o par PMMA/Cu nos modos WIM e AIM. . . . . . . . . . . . . . . . . 97
o par PC/Cu nos modos WIM e AIM. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 98
o par BK7/Al nos modos WIM e AIM. . . . . . . . . . . . . . . . . . . 100
o par TOPAS/Al nos modos WIM e AIM. . . . . . . . . . . . . . . . . 101
o par PMMA/Al nos modos WIM e AIM. . . . . . . . . . . . . . . . . . 102
Tabela 5.16: Valores de R , n3 , S , D e Resoluo Instrumental para o par PC/Al
no modo WIM. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 103
Tabela A.1: Propriedades de injeo dos polmeros utilizados. . . . . . . . . . . . . . 111

Tabela A.2: Quadro comparativo de propriedades dos polmeros utilizados . . . . . . 111
x
Lista de Figuras
Figura 1.1: Esquema indicando os elementos necessrios para um sensor SPR com
congurao ATR-Kretschmann. No exemplo, emprega-se um prisma
semi-cilndrico sobre o qual um substrato ptico no com uma na ca-
mada de metal depositada acoplado com o uso de um gel. A luz
incidente, aps interagir com os vrios materiais, capturada por um
componente fotossensvel (sensor de imagem). Esto indicados na gura
o campo evanescente (Eev. ) e os vetores de onda da luz incidente (kpx )
e dos SPs (kSP ). . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 5
Figura 2.1: Sistema multicamadas na congurao de Kretschmann com 4 camadas

em que (1) o substrato ptico-prisma, (2) metal, (3) e (4) representam
o analito e a amostra que o contm. A clula de uxo conduz a amostra
por sobre a superfcie do metal. Espessuras, vetores, permissividades
dieltricas, ngulos e plano de incidncia indicados na gura. . . . . . . 10
Figura 2.2: Disperso dos SP (E(kSP )) em uma interface metal-H2 O, com indicao
das regies SPP, QB e RPP. Disperso dos ftons (E(kpx )) com ngulo
de incidncia de 75 , no vcuo e em substrato de sara. A interseo
das curvas (acoplamento ptico) representa a situao em que ocorre a
ressonncia. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 13
Figura 2.3: Exemplo de curva para a SPR obtida atravs da Anlise de Fresnel. A
variao de R1 para R2 no modo WIM, ou de R1 para R2 no modo
AIM, indica uma alterao no ndice de refrao da amostra. . . . . . . 16
Figura 3.1: Etapas da metodologia para construo do sensor SPR utilizando o PP-
BIO. Aps a manufatura do prisma as escolhas feitas em cada etapa so
avaliadas e a anlise de sensibilidade verica a qualidade nal do sensor. 19
Figura 3.2: Prisma polimrico desenvolvido por Moreira. Os valores utilizados no
projeto foram: h =3 mm, L =26,72 mm, l =17,84 mm, =34 , =68
com foco ocorrendo no ponto A(10,2,9) mm. Fonte [20]. . . . . . . . . . 20
Figura 3.3: Condicionantes operacionais para a lente cilndrica utilizada para fo-
calizar os feixes luminosos. Os valores utilizados no projeto foram:
T=5 mm, R=11,2 mm, J=3,9 mm e EBR=0,5 mm. A distncia fo-
cal (f) da lente utilizada de 20 mm para =587,6 nm. . . . . . . . . . 21
Figura 3.4: Caminho ptico detalhado percorrido pelos feixes luminosos. Detalhe
(em azul) para a distncia percorrida (D) da base inferior at atingir
o ponto focal (X4). Os valores dos parmetros representados na ima-
gem so: F=5,36 mm, DX2_min =9,66 mm, DX2_max =12,62 mm, h0 =0,5-
2,5 mm. Para L, l, e os valores so os mesmos apresentados na Figura
3.2. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 22
Figura 3.5: a) Representao grca da disperso da luz dentro do PPBIO. Tra-
ado de raios obitdos com o software OSLO Premiun para visualizao
geomtrica do caminho da luz dentro do PPBIO e gerado com os pa-
rmetros pticos apresentados na Figura 3.3, os quais focalizam a luz
no centro da superfcie superior do prisma. Fonte [20]. b) Grco da
variao da disperso em funo da posio de entrada para diferentes
temperaturas. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 23
Figura 3.6: Grcos da variao do ngulo de ressonncia em funo da posio de
entrada para diferentes temperaturas. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 23
Figura 3.7: a) Variao da espessura do foco em funo da posio de entrada para
diferentes temperaturas b) Ilustrao do comportamento do foco nos
modos AIM e WIM com o aumento da temperatura (vista superior do
prisma). . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 24
xii
Figura 3.8: ndice de refrao em funo do comprimento de onda para diferen-
tes materiais usados como substrato dieltrico (TOPAS, PC, PMMA e
BK7s). nP C > nT OP AS > nBK7 > nP M M A . . . . . . . . . . . . . . . . . . 26
Figura 3.9: Grco para o Fator Q expresso em termos relao da 2r ()2 /2i ().
Prata, ouro, cobre e alumnio exibem regimes de baixas perdas no es-
pectro da luz visvel. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 27
Figura 3.10: Dependncia da funo dieltrica do metal para o comprimento de onda.
Observa-se diferena entre a CDF do Alumnio obtida por intermdio
da D.A. (linhas tracejadas) e da CDF determinada experimentalmente
(linhas slidas). . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 28
Figura 3.11: Curva SPR para diferentes valores de comprimento de onda e de ngulo.
Interfaces a) Al/gua e b) Cu/gua. Acoplamento ptico para ngulos
maiores que 60 . Vistas: Reetividade x (esquerda), Reetividade x
x ngulo (direita) e ngulo x (subgrco) . . . . . . . . . . . . . . 30
Interfaces a) Au/gua e b) Ag/gua. Acoplamento ptico para ngulos
maiores que 60 . Vistas: Reetividade x (esquerda), Reetividade x
x ngulo (direita) e ngulo x (subgrco) . . . . . . . . . . . . . . 31
Figura 3.13: Sensibilidade espectral em funo do ngulo de incidncia. Subgrco
para a sensibilidade espectral em funo do ndice de refrao para os
diversos ngulos. Os valores foram calculados para o par BK7/Ag. . . . 32
Figura 3.14: Funo dieltrica complexa do Al. Parte real e imaginria para dife-
rentes representaes. Ver-se que CDF experimental no aproximada
pela D.A. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 35
Figura 3.15: Variao da resposta SPR para diferentes representaes da funo di-
eltrica 2 () do alumnio. Curvas com e sem camada de oxidao. A
resposta experimental mais semelhante curva representada por Rakic
na presena de oxidao. Detalhe (subgrco em verde) para o perl
espectral da fonte de luz. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 36
xiii
Figura 3.16: Curvas SPR no modo WIM para os substratos de BK7, TOPAS, PMMA
e PC. ngulos de incidncia xados em 58 ,63 ,68 ,71 e 75 para faixa
de comprimentos de onda de 400 nm < < 1400 nm. Resposta WIM
para lmes de alumnio com espessura de 20 nm em contato com gua
deionizada e desgaseicada. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 37
Figura 3.17: Curvas SPR no modo AIM para os substratos de BK7, TOPAS, PMMA
e PC. Grcos para diferentes comprimentos de onda, indicados na -
gura, para faixa de ngulo de 50 < < 80 . Resposta AIM para lmes
de alumnio com 20 nm em contato com a gua deionizada e desgaseicada. 37
Figura 3.18: Curvas SPR no modo WIM para diferentes analitos no intervalo de
1,33 < n3 < 1,39. Substratos de BK7, TOPAS, PMMA e PC com
lmes de alumnnio de 20 nm de espessura. ngulo de incidncia xado
em 68 para faixa de comprimentos de onda de 400 nm < < 1400 nm. 38
Figura 3.19: Parmetros extrados das curvas SPR no modo WIM para lmes de Al.
a) Sensibilidade, b) Comprimento de onda de ressonncia e c) largura
da curva associada ao valor FWHM. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 38
Figura 3.20: Curvas SPR no modo AIM para diferentes analitos no intervalo de
1,33 < n3 < 1,39. Curvas com os comprimentos de onda xos nos
valores encontrados na simulao WIM (Sw em cores e Lw em tons de
cinza). Substratos de BK7, TOPAS, PMMA e PC com lmes de alum-
nio com espessura de 20 nm. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 39
Figura 3.21: Parmetros extrados das curvas SPR no modo AIM para lmes de Al.
a) Sensibilidade, b) ngulo de ressonncia e c) largura da curva associ-
ada ao valor FWHM. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 39
Figura 3.22: Reetividade-WIM (grcos superiores) e AIM (grcos inferiores) para
diferentes espessuras do lme de alumnio. Curvas SPRs para a multica-
mada composta por BK7/Al/analito, com as espessuras para os lmes
metlicos de 1, 10, 20, 30 e 40 nm. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 40
Figura 3.23: Parte real e imaginria para diferentes representaes da CDF do ouro.
Nota-se que a CDF experimental parcialmente aproximada pela D.A. 41
xiv
para lmes de ouro com espessura de 50 nm, em contato com gua
de ouro com 50 nm em contato com a gua deionizada e desgaseicada. 42
1,33 < n3 < 1,39. Substratos de BK7, TOPAS, PMMA e PC. ngulo
de incidncia xado em 68 para faixa de comprimentos de onda de
400 nm < < 1400 nm. O lme de ouro com espessura de 50 nm. . . . 42
Figura 3.27: Parmetros extrados das curvas SPR no modo WIM para lmes de Au.
lmes de ouro de 50 nm de espessura. Curvas com os comprimentos de
onda xos nos valores encontrados na simulao WIM. . . . . . . . . . . 43
Figura 3.29: Parmetros extrados das curvas SPR no modo AIM para lmes de Au.
ada ao valor FWHM. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 44
diferentes espessuras do lme de ouro. Curvas SPR para multicamada
composta por BK7/Au/analito, com as espessuras para os lmes met-
licos de 10, 30, 50, 70 e 90 nm. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 44
Figura 3.31: Funo dieltrica complexa do Cu. Parte real e imaginria para diferen-
tes representaes. Observa-se que a CDF experimental parcialmente
aproximada pela D.A. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 45
xv
para lmes de cobre com espessura de 40 nm em contato com gua
de cobre com 40 nm em contato com a gua deionizada e desgaseicada. 46
lmes de cobre de 40 nm de espessura. ngulo de incidncia xado em
68 para faixa de comprimentos de onda de 400 nm < < 1400 nm. . . 46
Figura 3.35: Parmetros extrados das curvas SPR no modo WIM para lmes de Cu.
1,33 < n3 < 1,39. Curvas com os comprimentos de onda xos nos
valores encontrados na simulao WIM. Substratos de BK7, TOPAS,
PMMA e PC com lmes de cobre de 40 nm de espessura. . . . . . . . . 47
Figura 3.37: Parmetros extrados das curvas SPR no modo AIM para lmes de Cu.
ada ao valor FWHM. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 48
diferentes espessuras do lme de cobre. Curvas SPRs para a multi-
camada composta por BK7/Cu/analito, com as espessuras dos lmes
metlicos de 10, 30, 40, 50 e 70 nm. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 48
Figura 3.39: Funo dieltrica complexa do Ag. Parte real e imaginria para dife-
rentes representaes. Ver-se que a CDF experimental parcialmente
aproximada pela D.A. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 49
xvi
para lmes de prata com 50 nm em contato com gua deionizada e
desgaseicada. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 49
de prata com 50 nm em contato com a gua deionizada e desgaseicada. 50
lmes de prata de 50 nm de espessura. ngulo de incidncia xado em
68 para faixa de comprimentos de onda de 400 nm < < 1400 nm.
Curvas para lmes de prata com espessuras de 50 nm. . . . . . . . . . . 51
Figura 3.43: Parmetros extrados das curvas SPR no modo WIM para lmes de Ag.
1,33 < n3 < 1,39. Curvas para os comprimentos de onda xos em
658 nm(BK7), 620 nm(TOPAS), 779 nm(PMMA) e 519 nm(PC) en-
contrados na simulao WIM, para lmes de prata com espessuras de
50 nm. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 52
Figura 3.45: Parmetros extrados das curvas SPR no modo AIM para lmes de Ag.
ada ao valor FWHM. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 52
diferentes espessuras do lme de prata. Curvas SPRs para a multi-
camada composta por BK7/Ag/analito, com as espessuras dos lmes
metlicos de 10, 30, 40, 50 e 70 nm. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 52
Figura 3.47: Detectividade no modo WIM para diferentes interfaces substrato/metal.
OP com ngulo xo em = 68 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 53
xvii
Figura 3.48: Diagrama de ptica geomtrica usado para o clculo do Campo de Viso
(FoV) do PPBIO. Esquema indicando distncias, ngulos e elementos
presentes no set-up AIM. Para o sensor SPR desenvolvido o valor de
FoV de 22,6 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 55
Figura 4.1: Moldes produzidos para fabricao do PPBIO. a) Molde com 3 cavidades
e b) Molde com 4 cavidades. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 58
Figura 4.2: Percentual de transmitncia (transparncia) para os prismas fabricados
com PC, PMMA, TOPAS e BK7. Dados obtidos com o espectrofot-
metro FENTO 800 XI. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 59
Figura 4.3: Esquema ilustrativo de uma luz polarizada atravessando um meio bir-
refringente e outro no birrefringente. As componentes extraordinria,
mais lenta (raioE ), e ordinria, mais rpida (raioO ), esto indicadas. . . 60
Figura 4.4: Esquema de um polariscpio. Atrs do prisma sob anlise h uma luz
no polarizada seguido de um polarizador e um plano de 1/4 de onda.
frente do prisma, outro polarizador (analisador) utilizado para analisar
a polarizao e um sensor de imagem captura o valor da intensidade. . . 62
Figura 4.5: a) Fotograa para prismas com [1]-[2]-[3] e sem [4]-[5]-[6] annealing, po-
lidos [3]-[4] e no polidos [1]-[2]-[5]-[6], todos fabricados com TOPAS e
usando o molde de 3 cavidades. b) Fotograa para prismas polimricos
fabricados com o molde de 4 cavidades e prisma de vidro BK7. Prismas
que passam pelo processo de injeo [PC]-[PMMA]-[TOPAS] possuem
stress enquanto o prisma vidro [BK7], fabricado de forma diferente,
ausente de stress. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 63
Figura 4.6: Curvas SPR para lme de prata depositado no substratos BK7, TOPAS,
PMMA e PC. Curvas tericas (linha tracejada) e experimentais (linha
slida). . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 64
Figura 4.7: Curva SPR para prisma com (linha slida preta) e sem (linha slida
vermelha) anneling, e curva SPR terica (curva tracejada). A excitao
dos SP para prisma sem annealing ineciente. Exemplo da excitao
SP melhorada com o uso de annealing. . . . . . . . . . . . . . . . . . . 64
xviii
Figura 4.8: a) Perl espectral para a fonte de luz usada no modo WIM. A linha
tracejada a resposta obtida antes do polimento. b) Perl da fonte
de luz usada no modo AIM. A linha tracejada a resposta obtida com
prismas no polidos. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 65
Figura 4.9: Exemplos de prisma de PC aps a deposio do metais a) Al, b) Ag, c)
Cu e d) Au. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 66
Figura 4.10: Anlise da superfcie metlica de ouro, depositada em um prisma manu-
faturado com TOPAS. Imagens (2D e 3D) obtidas com um AFM para
superfcie de Au. Grcos para distribuio de altura nos intervalos A-
B e C-D. Resumo dos parmetros e grcos relativos rugossidade da
superfcie extrados com o software Gwyddion. . . . . . . . . . . . . . 67
Figura 4.11: a) Diagrama de blocos de biossensor baseado na ressonncia de plasmons
de superfcie o qual compreende 4 subsistemas diferentes: Microudico,
ptico, Estrutura Multicamadas e UACPE. Disposio dos elementos
que excitam o fenmeno SPR usando o PPBIO. Montagem para o b)
modo de interrogao espectral e c) para o modo de interrogao angu-
lar. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 68
Figura 4.12: Fotograa da montagem experimental para os componentes do diagrama
ilustrado na Fig.4.11, apresentando a disposio dos elementos que ex-
citam o fenmeno SPR usando o PPBIO. a) Montagem para o modo de
interrogao espectral, em que uma luz branca atravessa uma lente co-
limadora e um polarizador at atingir o prisma; a luz reetida na outra
extremidade do prisma passa por uma bra ptica at ser captura por
um espectrmetro. b) Montagem para o modo de interrogao angular,
com utilizao de lente cilndrica para focalizao do espectro da fonte
de luz quase monocromtica; a luz reetida pelo PBBIO atingi um es-
pelho antes de ser capturada por uma cmera empregada como detector
ptico. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 71
Figura 4.13: Imagem de pea impressa em impressora 3D para encaixe do prisma e
da bra ptica na montagem para o modo de interrogao espectral.
Pea de polmero ABS (Acrilonitrila Butadieno Estireno). . . . . . . . 72
xix
Figura 5.1: Curvas SPRs tericas e experimentais para lmes de prata com 50 nm
de espessura, depositado nos substratos BK7, TOPAS, PMMA e PC nos
modos WIM (os quatro grcos superirores) e AIM (os quatro grcos
inferiores). . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 79
Figura 5.2: Curvas SPRs tericas e experimentais para lmes de ouro com 50 nm
modos WIM (superior) e AIM (inferior). . . . . . . . . . . . . . . . . . 79
Figura 5.3: Curvas SPRs tericas e experimentais para lmes de cobre com 40 nm
modos WIM (superior) e AIM (inferior). . . . . . . . . . . . . . . . . . 81
Figura 5.4: Curvas SPRs tericas e experimentais para lmes de alumnio com 20
nm de espessura, depositado nos substratos BK7, TOPAS, PMMA e PC
nos modos WIM (superior) e AIM (inferior). . . . . . . . . . . . . . . . 81
Figura 5.5: Exemplo de um sensorgrama para o ciclo H2 O BSA H2 O
Hypo. H2 O. Destaque para as fases de um sensorgrama: linha base,
adsoro, monolayer, dissociao, lavagem e regenerao. . . . . . . . . 83
Figura 5.6: Sensorgramas obtidos nos modos AIM (verde) e WIM (azul) para R
(verde superior), n3 (R ) (verde inferior), R (azul superior) e n3 (R )
(azul inferior) para lme de prata depositado no substrato BK7. Al-
goritmos de deteco do valor mnimo, multicamada, comprimento de
onda, ngulo e substncias indicados na gura. Experimento reali-
zado primeiro no modo WIM, em seguida, o mesmo prisma utilizado
no modo AIM. Ciclo experimental iniciando com H2 O, depois Etanol
de alta-concentrao, retorno para H2 O, em seguida Etanol de baixa-
concentrao e retorno para H2 O; por m soluo de BSA, remoo de
excesso com H2 O, limpeza com Etanol e retorno para H2 O. . . . . . . . 84
(azul inferior) para lme de prata depositado no substrato TOPAS. . 86
xx
(azul inferior) para lme de prata depositado no substrato PMMA.
Algoritmos de deteco do valor mnimo, multicamada, comprimento
de onda, ngulo e substncias indicados na gura. Experimento reali-
(azul inferior) para lme de prata depositado no substrato PC. Al-
excesso com H2 O, limpeza com Etanol e retorno para H2 O. . . . . . . 88
(azul inferior) para lme de ouro depositado no substratos BK7. Al-
onda, ngulo e substncias indicados na gura. Experimento realizado
primeiro no modo WIM, em seguida, o mesmo prisma utilizado no
modo AIM. Ciclo experimental iniciando com H2 O, depois Hypo., re-
torno para H2 O; em seguida P BS e retorno para H2 O; por m soluo
de BSA, remoo de excesso com H2 O, limpeza com Hypo e retorno
para H2 O. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 90
xxi
(azul inferior) para lme de ouro depositado no substrato TOPAS. Al-
para H2 O. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 91
(azul inferior) para lme de ouro depositado no substrato PMMA. Al-
para H2 O. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 92
(azul inferior) para lme de ouro depositado no substrato PC. Algorit-
mos de deteco do valor mnimo, multicamada, comprimento de onda,
ngulo e substncias indicados na gura. Experimento realizado pri-
meiro no modo WIM, em seguida, o mesmo prisma utilizado no modo
AIM. Ciclo experimental iniciando com H2 O, depois Hypo., retorno para
H2 O; em seguida P BS e retorno para H2 O; por m soluo de BSA,
remoo de excesso com H2 O, limpeza com Hypo e retorno para H2 O. . 93
xxii
(azul inferior) para lme de cobre depositado no substratos BK7. Al-
(azul inferior) para lme de cobre depositado no substrato TOPAS.
(azul inferior) para lme de cobre depositado no substrato PMMA.
excesso com H2 O, limpeza com Etanol e retorno para H2 O. . . . . . . 97
xxiii
(azul inferior) para lme de cobre depositado no substrato PC. Al-
(azul inferior) para lme de alumnio depositado no substrato BK7.
(azul inferior) para lme de alumnio depositado no substrato TOPAS.
xxiv
(azul inferior) para lme de alumnio depositado no substrato PMMA.
Figura 5.21: Sensorgrama no modo WIM (azul) para R (azul superior) e n3 (R )
(azul inferior) para lme de alumnio depositado no substrato PC.
de onda, ngulo e substncias indicados na gura. . . . . . . . . . . . . 103
Figura 6.1: Classicao dos trs modos de excitao (LSPR, SPR e LSPP) dos
plasmons de superfcie em funo do valor de S e do comprimento de
propagao dos SP. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 105
Figura 6.2: Geometria alternativa para PPBIO. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 108
Figura 6.3: Ilustrao que exemplica a alterao no padro de deposio da camada
metlica na superfcie do PPBIO. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 108
Figura A.1: Estrutura de uma mquina de moldagem por injeo. Os valores re-
presentados na imagem para o TOPAS 5013 so: TF = 100 C, T1 =
230 260 C, T2 = 240 260 C, T3 = 250 280 C, T4 = 260 290 C e
TN = TM = 240 300 C. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 110
Figura A.2: Imagem tridimensional ilustrando todas as partes (placas, postio e de-
mais itens) que compem o molde. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 112
Figura A.3: Exemplo de curvas SPRs com (BK7-Ag-Etanol, BK7-Au e TOPAS-Au)
e sem (BK7-Ag-H2 O e TOPAS-Ag) excitao simultnea dos plasmons
de superfcie e dos plasmons-radiativos. Detalhe para as superfcies de
prisma de BK7 (mais arranhes) e de TOPAS (menos arranhes). . . . 113
xxv
Figura A.4: Resumo dos valores de sensibilidade e detectividade tericos e experi-
mentais para os modos AIM e WIM. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 114
Figura B.1: Esquema para um sistema de deposio por magnetron sputtering. . . . 116
Figura B.2: Curva de calibrao da espessura do lme no depositado no PPBIO
usando os magnetrons AC e DC. O modo DC mais eciente do que o
modo AC por depositar mais material em menos tempo. . . . . . . . . . 116
Figura B.3: Esquema para um sistema de deposio atravs da evaporao por feixe
de eltrons (e-beam ). . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 117
Figura C.1: Congurao tpica de um elipsmetro que utiliza a luz reetida da

superfcie do material e a mudana de polarizao. Fonte [91] . . . . . . 119
Figura C.2: Esquema simplicado de um microscpio eletrnica de varredura (SEM).
Comparao com o esquema de um microscpio ptico convencional.
Componentes principais indicados na gura. Fonte [92]. . . . . . . . . . 120
Figura C.3: Esquema de um microscpio de fora atmica (AFM). Os principais
componentes esto indicados na gura. Fonte [93]. . . . . . . . . . . . . 120
xxvi
Captulo 1
Introduo
Sensores pticos baseados na ressonncia de plasmons de superfcie (SPR - Surface Plas-

mon Resonance) - fenmeno ptico resultante da interao entre luz e eltrons - exploram
as caractersticas de arranjos multicamadas de diferentes materiais para detectar interaes
moleculares, a exemplo da reao antgeno-anticorpo. No projeto de um sensor SPR fun-
damental a especicao da estrutura e congurao da multicamada pois esta responsvel
pela transduo da interao a ser detectada.
A especicao da multicamada determina as condies para a construo do sensor,
denindo os blocos funcionais que compem um sensor SPR tais como elementos pticos,
eletrnicos, mecnicos e udicos.
O arranjo multicamadas usualmente construdo a partir de nas camadas de materiais
em escala nanomtrica (lmes nos), formando uma interface metal/dieltrico. O lme
metlico depositado sobre um material opticamente transmissivo e o dieltrico pode ser
soluo gasosa, aquosa ou lme no (substncia ou amostra) nos qual a interao molecular
a ser detectada ocorre. A estrutura do arranjo pode ser de uma nica camada metlica ou
com mltiplas interfaces metal/dieltrico, em superfcies com geometria peridica (grades
de difrao), em bras-pticas ou mesmo em nano-partculas.
A escolha dos materiais que iro compor a multicamada fundamental para obteno
de uma boa resposta SPR. O tipo de metal e do material opticamente transmissivo utili-
zados deniro as condies de ressonncia para uma determinada substncia, e por isso,
a caracterizao da resposta do sensor SPR com os materiais escolhidos deve ser realizada
Captulo 1. Introduo 2
para averiguar previamente a qualidade do sensor a ser desenvolvido e em que condies

este deve operar. Alm disso, especicaes tcnicas relacionadas ao espectro de excitao,
tipo de fonte de luz, tipo de detector ptico, dimenses, ngulos e geometria do caminho
ptico tambm determinam a viabilidade ou no do uso de determinados materiais para
compor a multicamada. Os modos de operao de um sensor SPR, a saber: modo angular e
modo espectral, constituem outro fator impactante no desenvolvimento, processamento de
dados e ajustes operacionais de um sensor SPR.
Nas literaturas especializadas cujo o tema central o estudo do arranjo multicamadas
de sensores SPR, encontram-se discusses sobre diferentes estruturas [13] ou diferentes
conguraes de uma mesma estrutura [4, 5], mas para um mesmo arranjo de materiais.
Quando h discusses sobre diferentes arranjos de materiais de uma mesma estrutura e/ou
congurao da multicamada, tais estudos tratam-se apenas aos metais ouro e prata [6],
sem apresentar aspectos relacionados aos diferentes modos de operao. Mesmo que ou-
tros metais sejam discutidos [7, 8], um estudo sistemtico no apresentado. Em alguns
estudos os resultados so obtido em congurao complexa, exigindo maior diculdade de
instrumentao e construo do sensor [6, 8].
Nesse sentido, um estudo sistemtico sobre os arranjos multicamadas de sensores SPR
em uma congurao de implementao relativamente simples, para contribuir com o de-
sign, construo e otimizao deste tipo de sensor importante. O estudo deve apresentar
as limitaes, sensibilidades, condies de operao e comparaes entre os arranjos de di-
ferentes materiais, englobando aspectos sobre os diferentes modos de operao, limites de
deteco e qualidade da resposta para uma variedade de materiais.
No tocante aos plasmons, estes constituem as oscilaes dos eltrons de valncia de
um metal. A plasmnica estuda a interao luz-matria entre campos eletromagnticos e
eltrons livres de um metal. Os sensores SPR baseiam-se na interao plasmnica, que
pode levar a um acoplamento ptico entre o vetor de onda de uma fonte de luz e o vetor de
onda dos plasmons de superfcie (SPW - Surface Plasmon Wave). Nesse sentido, a estrutura
multicamadas de um sensor SPR necessita de um material metlico para a existncia dos
plasmons.
O meio opticamente transmissivo do arranjo multicamadas, denominado de substrato
ptico, o caminho ptico percorrido pela onda eletromagntica incidente (a luz) e no qual
o material metlico depositado. Assim, os diferentes arranjos de materiais para o par

substrato/metal dene o ngulo de incidncia e o comprimento de onda para o acoplamento
da luz incidente com os plasmons.
As oscilaes dos eltrons de valncia de um metal, os plasmons, possuem frequncia
e vetor de onda bem denidos. Para lmes metlicos nos essas oscilaes so ondas que
viajam ao longo da superfcie metlica (as SPW), fato pelo qual so denominados de plas-
mons de superfcie (SP - Surface Plasmons). Na existncia dos plasmons de superfcie, uma
situao de ressonncia (excitao dos SP) pode acontecer quando a superfcie metlica
iluminada com uma onda eletromagntica sob polarizao e ngulo de incidncia bem de-
feinidos. Essa excitao eletromagntica, tambm conhecida como polariton dos plasmons
de superfcie (SPP - Surface Plasmons Polariton), propaga-se paralelamente interface
metal/substncia e constituem ondas evanescentes na direo perpendicular fronteira do
metal e da substncia em anlise (amostra), sendo muito sensvel a qualquer alterao nessa
interface tal como a adsoro de molculas na superfcie do metal. Os sensores SPR so
capazes de medir o ndice de refrao e a espessura do analito contido na amostra.
Assim, uma forma possvel de observar a SPP atravs do monitoramento da absoro
da onda luminosa com comprimento de onda xo para diferentes ngulos de incidncia.
Desse modo, ajustando o ngulo de incidncia possvel sintonizar o acoplamento entre a
componente paralela superfcie do vetor de onda da luz incidente (kpx ) e o vetor de onda
dos plasmons de superfcie (kSP ). No obstante, uma vez determiniado o ngulo da SPP
possvel obter o espectro da SPP fazendo variar o comprimento de onda da luz incidente, e
consequentemente, o acoplamento ptico. As duas formas descritas de observar a excitao
dos SPs, descrevem os modos angular ou AIM (Angular Interrogation Mode) e espectral ou
WIM (Wavelength Interrogation Mode) nos quais um sensor SPR pode operar.
A excitao ptica dos SPs exige a correta escolha da polarizao da luz, da cor da
luz (comprimento de onda), do tipo de metal, da espessura do metal, da estrutura que d
suporte aos plasmons, do ngulo e da geometria utilizada. Alguns fatores so relevantes
para indicar o comportamento da excitao dos SPs como: a energia da onda evanescente
gerada na SPP, a qual depende principalmente das espessuras e propriedades ptica dos
materiais; a profundidade de penetrao, relacionada a componente perpendicular de kSP ,
que limita a variao de ndice de refrao detectvel pela resposta SPR; e o comprimento de
propagao, relacionada a parte imaginria de kSP , que representa as atenuaes sofridas

pela SPP devido a absoro do metal e perdas por radiao [9], tornando-se a primeira
condio limitante para construo de sensores com mltiplas reas sensveis.
A estrutura da multicamada que dene o acoplamento entre os SPs e a luz incidente pode
ser uma nica camada metlica (denominada SPR tradicional), estruturas com mltiplas in-
terfaces metlicas ou mesmo nano-partculas (chamada de SPR localizada). Histricamente,
a SPR tradicional a estrutura mais utilizada e existem duas conguraes principais para
o desenvolvimento de sensores SPR - a partir da reexo interna total atenuada (ATR -
Attenuated Total Reection) atravs de prismas-acoplados [4] ou atravs de bras-pticas
[3] e a partir da difrao em grades de difrao [4]. Em particular, a congurao ATR em
prismas proposta por Kretschmann apresentou resultado ecaz passando a ser a abordagem
mais utilizada em sensores SPR [10]. Em sntese, a congurao de Kretschmann compre-
ende um lme no de metal posicionado entre dois meios dieltricos, iguais ou diferentes,
colocados sobre um material opticamente transmissivo, o prisma.
A Figura 1.1 ilustra a estrutura multicamada da congurao de Kretschmann, indi-
cando os principais elementos que a compem e os materiais que do suporte aos plasmons,
formando um sistema multicamadas (substrato ptico-prisma/ metal/ substncia ou amos-
tra).
As aplicaes plasmnicas de sensores SPR so usadas como tecnologia para detec-
o/medio de eventos qumicos e biolgicos devido a ressonncia de plasmons de super-
fcie permitir o clculo das cinticas de interaes biomoleculares [11] em tempo real com
um alto grau de sensibilidade [12]. Interaes plasmnicas ensejam mtodos no destru-
tivos de anlise de substncias, produzindo informaes espaciais e temporais detalhadas,
dessa forma, possibilita o desenvolvimento de transdutores pticos portteis, baratos e r-
pidos se comparada a outras tecnologias [13, 14]. Aplicaes para identicao de iteraes
antgeno-anticorpo [15], protemica [16], aplicaes forenses e triagem de drogas [17], rea-
es enzimticas [18] e na busca por novos marcadores [19], so exemplos em que sensores
SPR so empregados. A possibilidade de desenvolver biossensores SPR, que consistem de
um sensor SPR no qual uma camada de biorreconhecimento incorporada para interao
com o analito de interesse presente na amostra, ampliam ainda mais a atuao da tecnologia
SPR. Alm disso, a SPR permite uma medio direta por evitar o uso de indicadores de
Figura 1.1: Esquema indicando os elementos necessrios para um sensor SPR com congu-
rao ATR-Kretschmann. No exemplo, emprega-se um prisma semi-cilndrico sobre o qual
um substrato ptico no com uma na camada de metal depositada acoplado com o uso
de um gel. A luz incidente, aps interagir com os vrios materiais, capturada por um com-
ponente fotossensvel (sensor de imagem). Esto indicados na gura o campo evanescente
(Eev. ) e os vetores de onda da luz incidente (kpx ) e dos SPs (kSP ).
cor, uorescncia ou molcula rdio-ativa como marcador para obteno da resposta, que
podem interferir no evento sob anlise.
1.1 Ob jetivos e metodologia
O objetivo principal do trabalho investigar os diferentes arranjos da estrutura multicama-

das do tipo substrato/metal/dieltrico na congurao de Kretschmann para a construo
de sensores SPR operando com solues aquosas.
Com foco na congurao ATR-prisma, um sensor SPR que pode ser operado nos modos
AIM e WIM foi desenvolvido para coleta, processamento e anlise das respostas SPR. A
Anlise de Fresnel (AF) empregada para determinar o Ponto de Operao (OP) de cada
arranjo substrato/metal utilizado. A AF fornece a resposta espectral da SPP, com a qual
foi possvel determinar a fonte de luz necessria para excitao dos plasmons de superfcie.
Todavia, a determinao das propriedades pticas dos metais e substratos, as quais so
dependentes do comprimento de onda, deve ser realizado para corretude da AF, e assim,
determinar quais arranjos e em que condies possuem boa resposta SPR.
A caracterizao da resposta SPR para cada combinao substrato/metal presente na
estrutura multicamadas foi realizada de acordo com os seguintes parmetros: faixa de ngulo
de incidncia, faixa de comprimento de onda, espessura do metal, substrato ptico, faixa de
resposta dinmica, sensibilidade, detectividade, pofundidade/contraste e largura da curva
SPR. Tais informaes so essenciais para a construo de um sensor SPR e posterior uso
em aplicaes baseadas na ressonncia de plasmons de superfcie.
Devido a facilidades de instrumentao e possibilidade de operar em ambos os modos,
o PPBIO (Prisma Polimrico para aplicao BIOlgicas) [20] foi utilizado. Novos prismas
foram manufaturados com os substratos escolhidos para caracterizao da resposta SPR.
As principais tarefas que envolvem a confeco do PPBIO so a construo do molde, a
deposio do metal e os processos de polimento e recozimento. Para os pontos de operao
determinados pela AF, a excitao dos SPs nos modos angular e espectral exigem ins-
trumentaes diferentes, com hardwares especcos. Dessa forma, cdigos computacionais
diferentes (um para cada modo) tiveram que ser desenvolvidos para a correta comunicao
com os sensores de imagem e os respectivos componentes de hardware utilizados.
Os sensores SPR desenvolvidos foram testados em diferentes tipos de aplicaes. Os
resultados experimentais dos parmetros para caracterizao so apresentados. A sensibili-
dade instrumental calculada para diferentes tipos de substncias em ensaios com ligaes
reversveis e irreversveis. Os resultados dos diferentes experimentos foram comparados com
modelo utilizado na AF.
Os resultados experimentais e interpretaes so discutidos em termos de trabalhos
futuros e potenciais melhorias. A caracterizao da resposta nos modos AIM e WIM tambm
explorada para otimizao do design do PPBIO.
1.2 Estrutura do documento
O contedo desta tese est subdividido em captulos. Na introduo foram apresentados a

contextualizao e o objetivo do presente trabalho.
Captulo 2 - Fundamentao terica para sensores SPR: Neste captulo, apresenta-
se a base conceitual usada em todo o trabalho, trazendo uma abordagem sobre a excitao
dos SP e indicando os mecanismos elementares. No que diz respeito interao luz-matria,
so apresentadas as formulaes fsicas e matemticas para a luz atravessando uma interface
metal/dieltrico para uma camada metlica homognea.
Captulo 3 - Caracterizao do transdutor SPR: Nesse captulo so descritos
os procedimentos utilizados para caracterizao do transdutor SPR. Os diferentes arranjos
substrato/metal que iro compor a estrutura multicamada do trasndutor SPR so analisados
e as guras de mrito empregadas so apresentadas. Aps o estudo de cada arranjo, deni-
se o ponto de operao para o par substrato/metal e os resultados so sumarizados em
tabelas. Por m, apresentam-se os impactos de um determinado arranjo na qualidade do
sensor de imagem utilizado no sistema e como a qualidade do processamento pode compensar
a resposta do sensor SPR.
Captulo 4 - Construo do transdutor SPR: Nesse captulo, so descritos os
detalhes relativos ao desenvolvimento do sensor SPR que utiliza a soluo baseada no prisma
ptico polimrico PPBIO. As etapas para construo de um instrumento de medio baseado
na SPR so apresentadas, enfatizando os impactos das decises tomadas em cada uma das
etapas para construo do sensor.
Captulo 5 - Resultados: Nesse captulo, so apresentados e discutidos os resultados
experimentais obtidos com o sensor desenvolvido. Os resultados so apresentados paras as
diferentes estruturas multicamadas. Para cada combinao substrato/metal so apresenta-
dos as curvas SPR e os sensorgramas nos modos AIM e WIM.
Captulo 6 - Concluses: Nesse captulo, so apresentados aspectos de natureza
conclusiva e relativos s etapas anteriormente referenciadas. Os resultados e interpretaes
sero discutidos em termos de trabalhos futuros e potenciais melhorias.
Captulo 2
Fundamentao Terica para sensores

SPR
A excitao ptica dos plasmons de superfcie em lmes nos metlicos um fenmeno fsico
cienticamente e tecnologicamente til para o design e confeco de sensores pticos para
uma variedade de aplicaes bio-fsico-qumicas.
Da constatao da existncia dos plasmons de superfcie, apresentados na Roma antiga
atravs do copo de Licurgo [21], at o surgimento dos imunosensores SPR [22] - biossensores
SPR em que um anticorpo usado como elemento de biorreconhecimento, muito trabalho
foi desenvolvido.
A primeira observao dos SPs ocorreu em 1902 quando R.W. Wood percebeu linhas
escuras no espectro de difrao ao incidir uma luz policromtica em grades de difrao me-
tlica [23], fenmeno que posteriormente seria explicado por Ritchie em termos da SPR [24].
Nos anos 60, Kretschmann e Raether [25] e Andreas Otto [26] demonstraram a existncia
do efeito SPR pelo processo da atenuao da reexo interna total da luz (ATR), ao incidir
um feixe luminoso em um prisma acoplado a uma superfcie metlica. Otto props uma
congurao na qual o lme metlico separado do prisma por uma distncia da ordem do
comprimento de onda da luz incidente. Kretschmann utilizou uma congurao em que o
metal depositado diretamente sobre o prisma, tornando menos complexa a instrumenta-
o do sensor e a troca da amostra sob anlise. Mais tarde, foram apresentados o uso da
ressonncia de plasmon de superfcie em aplicaes com os moldes de um biossensor [27, 28].
Captulo 2. Fundamentao Terica para sensores SPR 9
Atualmente, o desenvolvimento de novas conguraes para deteco da SPR, bem como

aplicaes que empregam dispositivos SPR para medio de caractersticas fsicas, qumicas
e biolgicas tm sido descritas.
2.1 Condies para excitao dos plasmons de superfcie
As propriedades pticas dos metais so descritas pela denominada funo dieltrica com-
plexa (CDF), da forma 2 () = 2r () + i2i (), a qual pode ser explicada pelo modelo do
gs de eltrons livres proposto por Paul Drude [29]:
c 2
2 () = 1 (2.1)
2p (c + j)
em que p = 2c/p representa o comprimento de onda dos plasmons (com p representando

a frequncia de oscilao dos plasmons) e c = 2c/c refere-se ao comprimento de onda de
coliso (c representando a frequncia de coliso), obtidos por [30]:
s
1 Qe2
= (2.2)
p 4 2 c2 m0
1 vf
= (2.3)
c 2cRbulk
em que Q representa a concentrao dos eltrons livres, m e e representam a massa e a
carga do eltron, 0 a permissividade eltrica no vcuo, c expressa a velocidade da luz,
Rbulk representa o caminho livre mdio dos eltrons de conduo e vf a velocidade dos
eltrons na energia de Fermi.
A quantizao da oscilao dos eltrons livres denominada de plasmons. Quando estes
ocorrem ao longo da superfcie de um metal so ento chamados de plasmons de superfcie
(SP). Como mencionado anteriormente, os plasmons de superfcie so sensveis radiao
de entrada e a injeo de eltrons ou ftons utilizada para a excitao dos SPs. Para o caso
da injeo de feixes luminosos, mtodo utilizado neste trabalho, um Sistema Multicamadas
(arranjo multimacadas) para a estrutura ATR-Kretschmann ilustrado em detalhes na
Figura 2.1.
Figura 2.1: Sistema multicamadas na congurao de Kretschmann com 4 camadas em que

(1) o substrato ptico-prisma, (2) metal, (3) e (4) representam o analito e a amostra que
o contm. A clula de uxo conduz a amostra por sobre a superfcie do metal. Espessuras,
vetores, permissividades dieltricas, ngulos e plano de incidncia indicados na gura.
Nessa estrutura, a excitao dos SP se dar com a incidncia de luz p-polarizada na

multicamada, sob a condio de reexo interna total (RIT). A luz com polarizao tipo
p possui campo eltrico paralelo e campo magntico perpendicular ao plano de incidncia.
Na gura, o plano de incidncia o plano-XZ e a SPW se propaga na direo paralela a
interface, denida como eixo x. A direo perpendicular interface denida como o eixo
z. Para uma onda transverso-magntica (p-polarizada), a componente tangencial do campo
magntico H, Hy , a nica existente, ou seja, Hx = Hz = 0. Para o campo eltrico E,
existem apenas as componentes normal Ez e paralela Ex interface. Assim, pode-se escrever
os campos eltricos e magnticos no meio metlico (z<0) e na amostra (z>0) como [31]:
z > 0 : E3 = (Ex3 ,0,Ez3 )ei(kx3 x+kz3 zt)

(2.4)
H3 = (0,Hy3 ,0)ei(kx3 x+kz3 zt)
z < 0 : E2 = (Ex2 ,0,Ez2 )ei(kx2 x+kz2 z t)

(2.5)
H2 = (0,Hy2 ,0)ei(kx2 x+kz2 z t)
com k2 referindo-se ao vetor da onda no meio 2 (metal) e k3 ao vetor da onda no meio

3 (amostra), sendo kxq e kzq para q = 2,3 os valores posicionais nas direes x e z desses
vetores; 1 e t so os ngulos de incidncia e transmisso respectivamente e a frequncia
da onda.
Aplicando a equao de Maxwell E = 0 (Lei de Gauss), encontram-se as expresses
para o campo eltrico nos meios 2 e 3 [31]:
kx
Ez2 = Ex2 (2.6)
kz2
kx
Ez3 = Ex3 . (2.7)
kz3
A relao entre Hy e Ex pode ser obtida com a equao de Maxwell E = tH (Lei
de Faraday), que para o caso de = 0 obtm-se [31]:
Hy3 = Ex3 3 0 /kz3 (2.8)
Hy2 = Ex2 2 0 /kz2 , (2.9)
em que 0 e 0 so a permeabilidade e a permissividade no vcuo respectivamente. Por

m, aplicando as condies de fronteira em z = 0, possvel determinar a condio de
ocorrncia dos plasmons de superfcie. As condies de fronteira para a polarizao tipo-p
ou TM, consistem na continuidade das componentes tangenciais do campo eltrico e da
continuidade do campo magntico, ou seja, Hy2 = Hy3 e Ex2 = Ex3 levando a relao de
existncia dos SPs [32]
2 3
= (2.10)
k2 k3
e tambm as relaes abaixo:
kz3 = i(kx2 3 k02 )1/2 kz2 = i(kx2 2 k02 )1/2 (2.11)
com k0 = /c = 2/. Substituindo (2.10) em (2.11), possvel obter as relaes de

disperso (entre o vetor de onda e ) paralela e tangente superfcie de propagao [33]:
1/2
2 3
kx = k0 (2.12)
2 + 3
1/2
2j

kjz = k0 (2.13)
2 + 3
em que (2.13) orientada ao meio, com j referindo-se a permissividade do metal (j = 2)
ou da amostra (j = 3).
Levando em considerao a permissividade complexa do metal, chega-se aps alguns
rearranjos matemticos a expresso complexa para o vetor dos plasmons de superfcie (kSP =
0
kSP 00
ikSP ):
1/2
2r 3
0
kSP k0 (2.14)
2r + 3
2i 3
00
kSP 0
kSP (2.15)
22r (2r + 3 )
O acoplamento ptico que d origem a SPP ocorre quando a componente horizontal da

luz p-polarizada incidente (kpx ), expressa por kpx = k0 1 sen(1 ), e o vetor dos plasmons
de superfcie (kSP ) oscilam na mesma frequncia e amplitude. Em geral, kSP
00
negligen-
ciado pelo fato de 2i apresentar magnitude numrica muito pequena (kSP
00
0) na faixa
de comprimento de onda utilizado em aplicaes SPR (tipicamente: 400< <1000 nm).
Assim, a SPP pode ser aproximada por:

r
2 3
k0 = k0 1 sen (i ) . (2.16)
2 + 3 | {z }
| {z } kpx
kSP
Vale salientar que a ressonncia obtida variando as condies de acoplamento entre a

luz p-polarizada e os SP, proporcionando dois modos bsicos de operao, a saber [34]:
Modo de Interrogao Espectral (Modo-WIM): o ngulo de incidncia do feixe de luz

que atinge o arranjo multicamadas mantido constante. As condies de acoplamento
dependem do comprimento de onda e um espectrmetro pode ser utilizado para medir
a reetividade em funo do comprimento de onda;
Modo de Interrogao Angular (Modo-AIM): o comprimento de onda dos feixes de

luz que atinge o arranjo multicamadas xo. As condies de acoplamento, neste

caso, dependem dos ngulos dos feixes de luz e uma cmera pode ser utilizada para
determinar a reetividade em funo do ngulo de incidncia.
2.1.1 Disperso dos plamons de superfcie

A Figura 2.2 ilustra a interao entre os ftons e os SPs, em termos da conservao de
energia e momento. A disperso dos plasmons de superfcie E(kSP ), lado esquerda da eq.
2.16, tem a regio para ocorrncia da SPP limitada em 6.6 eV, para uma superfcie de
Alumnio descrita pelo modelo de Drude. Acima desse limite, est a regio QB (quase-
bound), imaginria e com sentido contrrio, sendo denominada como o nvel de transio
entre a SPP e a regio dos plasmons radiativos (RPP)[35].
Gracamente a interseo entre a dispserso dos ftons E(kpx ), lado direito da eq. (2.16),
e a disperso dos plasmons de superfcie E(kSP ) caracteriza o acoplamento ptico expresso
em (2.16). Idealmente, E(kpx ) possui um perl retilneo e no vcuo posiciona-se fora da
regio de disperso dos plasmons (SPP). Todavia, ao incidir na interface atravs do substrato
ptico, E(kpx ) intercepta a regio SPP em um ngulo e energia (comprimento de onda) bem
denidos.
Figura 2.2: Disperso dos SP (E(kSP )) em uma interface metal-H2 O, com indicao das
regies SPP, QB e RPP. Disperso dos ftons (E(kpx )) com ngulo de incidncia de 75 , no
vcuo e em substrato de sara. A interseo das curvas (acoplamento ptico) representa a
situao em que ocorre a ressonncia.
2.2 Anlise de Fresnel
A aproximao expressa em (2.14), e consequentemente por (2.16), pode ser aprimorada

para o caso de mltiplas camadas, e assim, conseguir uma aproximao mais precisa da
interao luz-matria para as condies de acoplamento entre kSP e kpx . No sistema mul-
ticamadas apresentado na Figura 2.1, as interfaces substrato ptico/metal (1/2) e me-
tal/analito,amostra (2/3,4) do suporte a SPP. Nessa estrutura, as duas interfaces acoplam-
se opticamente com a onda evanescente da SPP propagando-se pelo lme metlico impres-
sado entre os dois meios dieltricos [32]. Uma forma conveniente de analisar o comporta-
mento da luz ao atravessar as vrias camadas (4 camadas no esquema da Fig.2.1) atravs
da representao matricial dos coecientes de Fresnel [36].
Na estrutura de Kretschmann, a condio de ressonncia monitorada por meio da luz
reetida ao atravessar o sistema multicamadas. As amplitudes dos campos magnticos e
eltricos da entrada da camada at uma distncia z dentro da mesma, so expressas pelas
matrizes de Abels [36, 37]:
0
Hyj H (z)
= Mj yj (2.17)
0
Exj Exj (z)
em que Hyj
0
e Exj
0
so as amplitudes de Hyj e Exj , respectivamente, calculados no limite z
da camada j . Mj a matriz de transferncia que descreve a transferncia de propagao do
meio j para o meio j + 1, denida por:

cosj qij senj
Mj = (2.18)
iqj senj cosj
q
a qual depende das propriedades pticas de absorbncia j = k0 dj n2j (n1 sen(1 ))2 e
q
admitncia qj = n2j (n1 sen(1 ))2 /n2j de cada meio, alm da espessura (dj ) e ndice de
refrao (nj ), ou permissividade (j ), do mesmo.
As amplitudes dos campos da primeira at a N-sima camada so expressas pela matriz
de transferncia total, Mtot , calculada em funo da matriz de transferncia individual Mj
para cada meio:

0 0 j=N 1
Hy1 HyN Y
= Mtot , Mtot = Mj (2.19)
0 0
Ex1 ExN j=1
Assim, o coeciente de reexo total r() e r(), denominado coeciente de reetividade

de Fresnel, do sistema multicamadas composto por N camadas pode ser obtido a partir de
(2.19) e expresso por:
(M11 + M12 qN )q1 (M21 + M22 qN )

r(, ) , (2.20)
(M11 + M12 qN )q1 + (M21 + M22 qN )
em que M11 , M12 , M21 e M22 so os elementos da matriz Mtot .

Dessa forma, o detector ptico captura a luz reetida r, que usualmente denominada
de curva SPR. Uma curva SPR tpica apresentada na Figura 2.2. Quando ocorre a
ressonncia, um valor mnimo de reetividade observado e ento os valores de R e R , a
depender do modo de interrogao, so determinados. Com o valor mnimo da curva SPR,
pode-se determinar o parmetro FWHM (full width at half maximum), tambm chamado de
ponto mdio entre o valor mximo e mnimo da curva SPR, local onde os valores CR e CL so
estimados. Os parmetros CR e CL representam a distncia em graus (modo AIM) ou em
nanmetros (modo WIM) entre o mnimo da curva e as bordas direita e esquerda da curva,
respectivamente. Os parmetros largura (F W HM = CR + CL ) e assimetria ( = CR /CL )
da curva SPR so expressos em funo destes dois valores [38].
2.2.1 Sensor SPR como refratmetro

A Figura 2.3 tambm mostra que estes valores (R , R , F W HM e ) sofrem deslocamento
quando a camada bioespecca interage com analito presente na amostra, alterando o valor
de ndice de refrao. Usando a condio de acoplamento (2.16) possvel determinar o valor

do ndice de refrao do analito (n3 ). Para o modo AIM, a expresso para n3 (n3 3 )
em funo de R enquanto xo, da forma:
s
3 () [n1 () sen (R )]2
n3 (R ) = (2.21)
2r () [n () sen (R )]2
1
Similarmente, no modo WIM o ndice de refrao do analito em funo de R para um

Figura 2.3: Exemplo de curva para a SPR obtida atravs da Anlise de Fresnel. A variao
de R1 para R2 no modo WIM, ou de R1 para R2 no modo AIM, indica uma alterao no
ndice de refrao da amostra.
ngulo de incidncia xo 1 , pode ser expresso por [34]:

rq
23r (R )
n3 (R ) = 23r (R ) + 3i (R )2 + . (2.22)
2
com 3 = 3r + i3i da forma:

" #
2r n21 sen (1 )2 + 2r n21 sen (1 )2 + 22i n21 sen (1 )2
3 =
(2r n21 sen (1 )2 )2 + 22i
| {z }
3r
" #
2i n41 sen (1 )4
i , (2.23)
(2r n21 sen (1 )2 )2 + 22i
| {z }
3i
As expresses acima ilustram que o funcionamento fsico de um sensor de SPR, essenci-

almente, assemelha-se ao de um refratmetro ptico.
Outros aspectos relativos ao desenvolvimento de um sensor SPR

Os demais conceitos necessrios realizao do presente trabalho, sero logicamente distri-
budos ao longo do texto para uma melhor apresentao. Assim, conceitos relativos a ptica
geomtrica do sensor SPR usando o PPBIO sero discutidos no Captulo 3. Conceitos rela-
tivos a confeco de materiais plsticos atravs do processo de injeo sero discutidos no
Captulo 4, bem como conceitos relativos a deposio de lmes nos; e aspectos relativos
ao processamento de sinal e de imagem sero discutidos no Captulo 5.
2.3 Resumo
Neste captulo apresentou-se as formulaes matemticas para a excitao dos SPs. Partindo
das expresses para os campos e eltricos e magnticos de uma onda eletromagntica do tipo-
p, apresentou-se as condies para existncia dos plasmons de superfcie. Posteriormente,
as equaes de disperso para o vetor dos SPs, suas componentes normal e tangencial e
suas partes real e imaginria foram apresentados. Para o caso de uma nica interface, a
condio para ocorrncia da SPP pode ser aproximada com a igualdade entre os vetores kSP
e kpx . Para o sistema com mltiplas interfaces, a ocorrncia da SPP melhor representada
computando a inuncia de cada meio na interao-luz matria atravs das equaes de
Fresnel. A curva SPR foi apresentada, bem como alguns parmetros que podem ser extrados
da curva. Para maiores detalhes, indicam-se as referncias [14, 32, 34]. Para o fenmeno da
SPP de longo-alcance (LRSPP) indicamos ao leitor consultar as referncias [32, 33, 39, 40].
Sobre a ressonncia de plasmons localizada em nano-partculas (LSPR), ver [2, 4144].
Captulo 3
Projeto do transdutor SPR
Os sensores SPR foram desenvolvidos com base no PPBIO [20]. Devido principalmente
a sua geometria trapezoidal, o PPBIO torna menos dispendiosa a instrumentao de um
dispositivo SPR por evitar partes mveis e/ou rotacionais. Suas superfcies laterais so
espelhadas para que haja a reexo da luz incidente. Esse prisma possui uma na camada
metlica depositada na base superior, evitando o uso de leo/gel para acoplamento da
superfcie metlica.
A Figura 3.1 apresenta as etapas da metodologia para construo do sensor SPR uti-
lizando o PPBIO. A metodologia pode ser dividida em duas etapas: uma composta pelo
estudo computacional sobre os efeitos da multicamada na resposta e geometria do prisma e
outra com o objetivo de manufaturar o sensor. A caracterizao do transdutor SPR consiste
no Ramo ptico da metodologia e a construo do transdutor engloba o Ramo Mecnico.
Em ambas as etapas, as decises de projeto dependem da escolha do material para a fa-
bricao da geometria do prisma - primeira camada do Sistema Multicamadas (ver Figura
2.1) e do metal a ser depositado sobre a superfcie do prisma, segunda camada da estrutura
multicamadas.
3.1 Metodologia do PPBIO: ramo ptico
O design do prisma parte das informaes sobre o tamanho e focalizao dos feixes luminosos
descritas na patente de Thirstrup et al. [45]. A partir da patente possvel obter as
Captulo 3. Projeto do transdutor SPR 19
Figura 3.1: Etapas da metodologia para construo do sensor SPR utilizando o PPBIO.
Aps a manufatura do prisma as escolhas feitas em cada etapa so avaliadas e a anlise de
sensibilidade verica a qualidade nal do sensor.
especicaes do prisma tais como descrio, dimenso e condicionantes operacionais, para

ento fornecer a geometria detalhada do mesmo - altura, largura e espessura.
A patente idealiza uma nica unidade (prisma) que possibilita a excitao do fenmeno
SPR. Com isso, tenta envolver reas parciais do prisma para focalizar os raios de luz.
Isso se d ou por meio de superfcies laterais inclinadas com curvatura convexa ou por
prismas implementados de modo que lentes cilndricas possam ser integradas s reas da
superfcie base do prisma para guiar os feixes de luz at atingirem uma das superfcies
laterais. A patente tambm menciona a utilizao dessas lentes cilndricas de forma no
integrada ao prisma, isto , as lentes de focalizao cam externas. Esse design mais
facilmente confeccionado se comparado incorporao das lentes no prprio prisma. Em
Figura 3.2: Prisma polimrico desenvolvido por Moreira. Os valores utilizados no projeto
foram: h =3 mm, L =26,72 mm, l =17,84 mm, =34 , =68 com foco ocorrendo no
ponto A(10,2,9) mm. Fonte [20].
contrapartida, tal estrutura propicia ao feixe luminoso sofrer um desvio maior do que soferia
com as lentes integradas. Assim, dependendo do comprimento focal e das caractersticas
da lente a ser utilizada, a ocorrncia de RIT e a incidncia dos feixes luminosos na regio
sensvel pode ser comprometida.
O design com lentes externas foi estudado e implementado por Moreira [20]. De incio,
vericou-se o dimensionamento do prisma (Figura 3.2). Este deve assumir uma forma
trapezoidal devido necessidade de se ter duas superfcies paralelas que permitissem um
caminho ptico dos raios luminosos, raios estes que chegam e saem perpendicular base
inferior do prisma, garantindo assim, uma maior facilidade de instrumentao. A distncia
entre essas supercies paralelas, a altura do prisma (h), no deve exceder 3 mm. Com esse
dado em mos, h =3 mm, e do fato de que o ngulo de inclinao das paredes laterais ()
metade do ngulo de incidncia na superfcie de medio (), = /2, possvel formalizar
as dimenses do prisma segundo as equaes abaixo:

h 1 h 1
l=2 + + htan(2) (3.1)
2 tan() 2 tan(90 )

3
L= 1 (3.2)
tan()
No projeto implementado por Moreira [20] apenas uma lente foi utilizada, sendo esta
colocada junto aos feixes de entrada no prisma. Investigou-se o caminho ptico percorrido
pela luz, com origem na fonte luminosa e trmino ao atingir o sensor de imagem, usado
no conjunto nal que compe a instrumentao do sensor SPR baseado no prisma. A
distncia em que a lente se encontra da base inferior do prisma (T), o raio de curvatura
Figura 3.3: Condicionantes operacionais para a lente cilndrica utilizada para focalizar os
feixes luminosos. Os valores utilizados no projeto foram: T=5 mm, R=11,2 mm, J=3,9 mm
e EBR=0,5 mm. A distncia focal (f) da lente utilizada de 20 mm para =587,6 nm.
(R), sua espessura (J) e sua distncia focal (f), ilustradas Figura 3.3, foram investigados.
Para o modo AIM os valores ideais encontrados foram: T=5 mm, R=11,2 mm, J=3,9 mm
e f=15 mm. No modo WIM investigou-se apenas a abertura do feixe de luz (EBR), onde
se concluiu que quanto maior o valor de EBR maior ser o foco no centro da superfcie de
medio.
Comportamento geomtrico e trmico do prisma

Analisando com mais detalhes a geometria do prisma, surge a necessidade de caracterizar
como a temperatura inuenciar o caminho ptico percorrido pelos feixes luminosos ao
atravessarem o prisma. Para isso, no estudo computacional investigou-se o comportamento
dos prismas nas temperaturas de 25 C, 30 C e 35 C, que so prximas temperatura
ambiente, e em 50 C e 70 C que so temperaturas nas quais h aplicaes em que o prisma
pode ser empregado [46].
Os feixes luminosos atingem a parede lateral do prisma (ponto X2 de acordo com a Figura
3.4) e estaro sujeitos a uma disperso at atingirem a regio central da base superior (X4),
aqui chamada de posio focal. Como ilustrado no esquema da Figura 3.4, se essa posio
mudar o ngulo de incidncia () tambm mudar e, consequentemente, a resposta SPR
[47]. A variao de temperatura sofrida pelo prisma afeta a distncia percorrida pela luz
at atingir a posio X4, tambm afetando a resposta SPR. Assumindo que os feixes Xi e X2
so perfeitamente colimados, a disperso (ver Figura 3.4) ocorre de acordo com a seguinte
Figura 3.4: Caminho ptico detalhado percorrido pelos feixes luminosos. Detalhe (em
azul) para a distncia percorrida (D) da base inferior at atingir o ponto focal (X4). Os
valores dos parmetros representados na imagem so: F=5,36 mm, DX2_min =9,66 mm,
DX2_max =12,62 mm, h0 =0,5-2,5 mm. Para L, l, e os valores so os mesmos apresentados
na Figura 3.2.
equao [34]: s 2
D(1 + T )
a(X2) = (1 + T ) 1 + , (3.3)
n X2
em que representa o coeciente trmico de expanso do prisma, T a variao de
temperatura e D a altura do prisma adicionado altura do ponto X2 (h0 ) (distncia
percorrida dentro do prisma) e DX2_min e DX2_max representam as distncias da entrada
no prisma, do primeiro e do ltimo feixe de luz, at o ponto X4.
O efeito da temperatura no caminho ptico ideal dos feixes de luz pode ser computado
calculando a posio focal [34]
D(1 + T )
X4 = X2 s 2 , (3.4)
n1 (1+T )
1
a(X2)
sendo a variao do ndice de refrao em funo da temperatura. O ponto de sada dos

Figura 3.5: a) Representao grca da disperso da luz dentro do PPBIO. Traado de

raios obitdos com o software OSLO Premiun para visualizao geomtrica do caminho da
luz dentro do PPBIO e gerado com os parmetros pticos apresentados na Figura 3.3, os
quais focalizam a luz no centro da superfcie superior do prisma. Fonte [20]. b) Grco da
variao da disperso em funo da posio de entrada para diferentes temperaturas.
Figura 3.6: Grcos da variao do ngulo de ressonncia em funo da posio de entrada

para diferentes temperaturas.
feixes na outra superfcie inclinada do prisma (X6) dado por:
2D(1 + T )
X6 = X2 s 2 . (3.5)
n1 (1+T )
1
a(X2)
Figura 3.7: a) Variao da espessura do foco em funo da posio de entrada para dife-
rentes temperaturas b) Ilustrao do comportamento do foco nos modos AIM e WIM com
o aumento da temperatura (vista superior do prisma).
Considerando que o prisma ptico expande/comprime do centro para as extremidades,

as mudanas na posio X4 produziro focos borrados, conforme Figura 3.7, enquanto as
mudanas em X6 (assumindo a perfeita colimao e perpendicularidade dos feixes de sada
X6 e a posio em que atingem o sensor de imagem X8) afetam o valor do ngulo de
ressonncia medido pelo detector ptico (ver Figura 3.6).
As Figuras 3.5, 3.6 e 3.7 mostram como a temperatura afeta o comportamento da luz
no prisma fornecendo diretrizes para o seu projeto e otimizaes, a exemplo do alinhamento
ptico preciso entre o prisma e as demais partes. Para esses grcos, o valor do coeciente
trmico de expanso utilizado foi de = 8 105 mm/ C, a taxa de variao do ndice

de refrao foi = 1,3 104 / C para o prisma manufaturado com um polmero COC
(Cyclic-Olen Copolymer).
Para feixes perfeitamente colimados, a faixa de ngulo do caminho ptico da luz dentro
do prisma vai de 62 a 73 , calculadas pelas expresses:

DX2 min
_ DX2 max
_
min = arctan , max = arctan (3.6)
h0max + h h0min + h
Essa faixa angular utilizada na denio do ponto de operao para o par substrato/metal,
orientando o alinhamento geomtrico da montagem do sensor e na relao pixel vs. ngulo.
Seleo dos substratos

No estudo computacional tambm so levados em considerao as propriedades pticas
dos substratos para confeco dos prismas. A relao de disperso de Sellmeier fornece a
variao do ndice de refrao (parmetro ptico) de um determinado vidro ou polmero em
funo do comprimento de onda e pode ser expressa da forma [48]:
B1 2 B2 2 B3 2

2
n () = 1 + + + , (3.7)
2 C 1 2 C 2 2 C3
em que os coecientes Bi e Ci , com i=1,2 e 3, variam com o tipo de material. A Figura 3.8
apresenta a relao de Sellmeier para alguns substratos pticos, todos possveis de serem
utilizados para fabricao do prisma.
O ndice de refrao dos vidros/polmeros no somente dependente do comprimento de
onda, mas tambm depende da temperatura. A relao entre a variao do ndice de refrao
para a variao de temperatura, denotado por coeciente de temperatura de variao do
ndice de refrao (ou a taxa de variao do ndice de refrao, ) expresso por [49]:
n2 (,T0 ) 1

dn(,T ) E0 + 2E1 T
= 2
D0 + eD1 T + 3D2 T + , (3.8)
dT 2n(,T0 ) 2 2T K
sendo T0 a temperatura de referncia (temperatura ambiente), T a diferena de tem-

peratura entre T e T0 e os valores D0 , D1 , D2 , E0 , E1 e T K so constantes que dependem
do material.
Figura 3.8: ndice de refrao em funo do comprimento de onda para diferentes materiais
usados como substrato dieltrico (TOPAS, PC, PMMA e BK7s). nP C > nT OP AS > nBK7 >
nP M M A .
Para o caso dos polmeros, tambm so considerados seus parmetros mecnicos tendo
em vista que estes sero submetido a um processo de fabricao que pode causar birrefrin-
gncia (ver Captulo 4) e afetar sua utilizao na excitao do fenmeno SPR.
A escolha do substrato se dar por convenincias de facilidade de manufatura, disponi-
bilidade do material no mercado e preo mas, necessariamente, o substrato deve ser o mais
transparente possvel (transmitncia100%) na faixa de comprimento de onda desejada.
Para confeco dos prisma quatro materiais foram utilizados, sendo trs polmeros (PC,
PMMA e TOPAS) e um vidro (BK7).
Seleo dos metais

A escolha do material para manufatura do PPBIO restringe a faixa de comprimento de onda
da fonte de luz que poder ser utilizada para excitao do fenmeno SPR. Dessa forma, a
funo dieltrica complexa (CDF) dos metais usada no estudo computacional para a faixa
de operao do respectivo substrato.
Majoritariamente usados na transduo de interaes biomoleculares em solues aquo-
sas, os sensores SPR so desenvolvidos com metais de baixa reatividade a oxirreduo, sendo
o ouro o metal mais empregado. No obstante, uma vez que os plasmons originam-se das
oscilaes dos eltrons livres do material iluminado com a luz, metais com baixas perdas -
resultantes da transio eletrnica dos nveis de energia - tambm so utilizados. O regime
Figura 3.9: Grco para o Fator Q expresso em termos relao da 2r ()2 /2i (). Prata,
ouro, cobre e alumnio exibem regimes de baixas perdas no espectro da luz visvel.
de baixa perda pode ser caracterizado pela relao abaixo [50], denominada de Fator Q:
|2i |3
1. (3.9)
22r (2r + 3 )
O Fator Q tambm pode ser expresso em termos da funo dieltrica do metal, atravs
do quociente 2r ()2 /2i (). Como apresentado na Figura 3.9, na regio do espectro visvel,
o ouro, a prata, o cobre e o alumnio possuem altos valores para o Fator Q, caracterstica
do regime de baixa perda [51]. Nota-se pelos grcos da Fig.3.9 que para <500 nm o
alumnio possui a menor perda (maior valor do Fator Q). Na regio 500 nm> <1000 nm,
a prata o metal com menores perdas associadas absoro intrnseca do material.
No obstante, as propriedades ptico-eltricas dos metais nas frequncias compreendi-
das entre o ultravioleta e o infravermelho so imprecisamente descritas pelas expresses
da Aproximao de Drude (D.A.). Imprecises devido dinmica dos nveis de energia,
especialmente a atenuao oriunda da parte imaginria da funo dieltrica do metal (2i ),
varia consideravelmente com a frequncia ou comprimento de onda e, eventualmente, es-
tes so os comprimentos de ondas que modulam a condio de ressonncia bem como as
propriedades pticas prximas a ressonncia dos plasmons de superfcie. A Figura 3.10
apresenta, como exemplo dessa impreciso, uma comparao entre CDF do alumnio obtida
experimentalmente e a atravs da aproximao de Drude.
Tentativas de formular expresses mais aproximadas para as propriedades ptico-eltricas
Figura 3.10: Dependncia da funo dieltrica do metal para o comprimento de onda.

Observa-se diferena entre a CDF do Alumnio obtida por intermdio da D.A. (linhas tra-
cejadas) e da CDF determinada experimentalmente (linhas slidas).
dos metais podem ser encontradas na literatura a exemplo destas citaes [52, 53]. As im-
precises da CDF so compensadas nesse trabalho por meio da Anlise de Fresnel (AF)
em um sistema multicamadas, conforme descrito nas eqs. (2.17) a (2.20), de modo que
a condio de ressonncia analisada para a funo dieltrica do metal atravs de dados
experimentais.
A variao de temperatura afeta o comportamento dos SPs no metal, uma vez que
provoca uma mudana na funo dieltrica. Com relao a frequncia dos plasmons, p ,
seu comportamento em funo da temperatura pode ser expressa por [54]:
p (T ) = p (T0 )[1 + 3(T T0 )]1/2 (3.10)
em que representa o coeciente linear de expanso trmica. Com relao a frequncia de

coliso dos plasmons, c , esta composta pelas interaes eltron-eltron (ce ) e eltron-
fton (cf ), ambas dependentes da temperatura e de modo que c = ce + cf . O modelo
de Lawrence [54, 55] prev a dependncia temperatura da interao eltron-eltron, e
dado por:
3
2
ce (T ) = 2
(kB T ) + (3.11)
12~Ef 2
com representando a constante de probabilidade para o espalhamento das partculas sobre
a superfcie de Fermi, o espalhamento fracionado, ~ a constante de Fermi, EF a
energia de Fermi, kB a constante de Boltzmam e a frequncia da luz incidente.

A dependncia temperatura da interao eltron-fton pode ser calculada pelo modelo
de Holstein [54, 55] da forma:
" #
D /T
2 eT 5 z4
Z
cp (T ) = 0 + dz (3.12)
5 D 0 ez 1
em que p uma contante e D a temperatura Debye. O aprofundamento desse tpico pode

ser realizado com a leitura de [5457]. Alm dos valores da funo dieltrica, detalhes como
a continuidade da camada metlica, espessura [58, 59] e rugossidade [60] afetam diretamente
a qualidade da resposta SPR.
3.2 Resposta SPR
A caracterizao do transdutor SPR com estrutura multicamadas realizada primeiramente

para o modo WIM devido a inuncia do comprimento de onda nas propriedades pticas
dos materiais. A anlise de Fresnel para o modo espectral realizada e as frequncias
plasmnicas, i.e. os comprimentos de ondas de ressonncia (res ou R ), so calculadas.
Com os valores de R encontrados na simulao WIM, procede-se com a AF no modo
angular. Para os pares substrato/metal calcula-se o ngulo plasmnico, i.e. o ngulo de
ressonncia (res ou R ), o qual espera-se que seja igual ao ngulo em que se obteve o
comprimento de onda utilizado. Em ambas as situaes a gua deionizada e desgaseicada
[61] utilizada como a substncia em anlise.
Aps as anlises quando apenas gua o analito em contato com a superfcie metlica,
para um nico par do arranjo substrato/metal, simula-se a situao de mudana do
analito. Para tanto, utiliza-se variaes no ndice de refrao do analito (n3 ) que na prtica
simulam a adeso de molculas na superfcie metlica ou uma mudana de concentrao da
substncia em anlise, ou mesmo uma interao de um antgeno a um anticorpo imobili-
zado na superfcie metlica. Tais variaes cam entre 1,33 n3 1,39, com incrementos de
5103 RIU (Refractive Index Unit ) e espessura d3 =300 nm, para os dois modos de interro-
gao. Esta variao suciente para a maioria das aplicaes SPR listadas na Introduo
do presente trabalho.
a) Multicamada formada por: BK7/Alumnio/H2 O
b) Multicamada formada por: BK7/Cobre/H2 O
Interfaces a) Al/gua e b) Cu/gua. Acoplamento ptico para ngulos maiores que 60 .
Vistas: Reetividade x (esquerda), Reetividade x x ngulo (direita) e ngulo x
(subgrco)
Para denio dos ngulos de incidncia, vericou-se o acoplamento ptico para um

substrato de vidro e as interfaces entre os metais (Au, Ag, Cu e Al) e a gua. Nota-se
pelos grcos das Figuras 3.11 e 3.12 que para uma soluo aquosa a excitao dos SPs
ocorre apenas para ngulos >60 . Dessa forma, a anlise da resposta SPR para os pares
substrato/metal foram realizadas para os seguintes ngulos de incidncia: 58 , 63 , 68 , 71
e 75 . Os ngulos 63 , 68 e 71 enquadram-se na faixa angular da geometria do PPBIO,
conforme eq. (3.6) e so sucientes para averiguar a resposta do PPBIO. Os ngulos 58 e
75 foram escolhidos para completar a anlise, sendo um ngulo que est fora da excitao
dos SP e outro por estar acima da faixa geomtrica do prisma, respectivamente.
a) Multicamada formada por: BK7/Ouro/H2 O
b) Multicamada formada por: BK7/Prata/H2 O
Interfaces a) Au/gua e b) Ag/gua. Acoplamento ptico para ngulos maiores que 60 .
Vistas: Reetividade x (esquerda), Reetividade x x ngulo (direita) e ngulo x
(subgrco)
Para cada par substrato/metal escolhido para a anlise de variao do analito, calcula-
se a gura de mrito sensibilidade e a inuncia da espessura o metal na resposta SPR. A
relao entre a sensibilidade e o ngulo de incidncia apresentada na Figura 3.13. Para
um comprometimento entre faixa de operao geomtrica e faixa de variao de ndice de
refrao detectvel (i.e. a faixa de resposta dinmica do sensor SPR), o ngulo de 68 foi
escolhido para caracterizao da resposta SPR, ver seo Ponto de Operao.
Para os metais Au, Ag, Cu e Al calcula-se a detectividade, verica-se a inuncia destes
na resposta do sensor SPR e investiga-se a qualidade dos detectores pticos necessrios para
cada arranjo, ver seo Sensibilidade e Detectividade.
Figura 3.13: Sensibilidade espectral em funo do ngulo de incidncia. Subgrco para a

sensibilidade espectral em funo do ndice de refrao para os diversos ngulos. Os valores
foram calculados para o par BK7/Ag.
Ponto de operao
Todos os condicionantes que fornecem o par em que ocorre a SPR denominado
de Ponto de Operao (OP) [62]. O design do prisma apresentado na Figura 3.2 prev
que o ngulo de incidncia do feixe luminoso que atinge a superfcie sensvel seja de 68 .
Neste caso, a condio de ressonncia ocorre em 6775 nm quando apenas gua deionizada
e desgaseicada ui sobre a camada metlica, proporcionando assim, n3 =1,331 RIU a
temperatura ambiente. Essa condio descreve o ponto de operao quando o polmero
TOPAS empregado como substrato ptico e a camada metlica uma pelcula na de
ouro com 50 nm de espessura. O OP para os demais pares sero obtidos atravs da AF.
Sensibilidade e Detectividade
A sensibilidade (ou responsividade) e a detectividade so guras de mrito importantes para
qualquer dispositivo de deteco e so utilizadas para vericar a qualidade da multicamada
para um determinado OP. Em sensores baseados na SPR a sensibilidade tambm depende
da anidade da interao molecular e da massa do analito, mas na prtica, a sensibilidade
expressa a capacidade do sistema SPR detectar variaes de ndice de refrao (ou densidade
de massa) na superfcie do metal. Dessa forma, tem-se:
A sensibilidade no modo AIM (S ): a razo entre a variao do ngulo de ressonncia

R com a variao do ndice de refrao do analito n3 , da forma: S = R /n3 .
Se a parte imaginria da funo dieltrica do metal sucientemente pequena, uma

expresso analtica para S pode ser derivada a partir de (2.18):

2r 2r
S = p (3.13)
(2r + n23 ) 2r (n23 n21 ) n23 n21
S tipicamente uma funo no linear sobre todas as variveis. Essa expresso

sucientemente precisa para os metais nobres Au, Ag e Cu, entretanto, o negligenci-
amento da parte imaginria da funo dieltrica inapropriado para a maioria dos
outros metais e a aproximao (3.13) no aplicvel.
A sensibilidade no modo WIM (S ): a razo entre a variao do comprimento de

onda de ressonncia R com a variao do ndice de refrao do analito n3 , da
forma: S = R /n3 .
Como no modo WIM h a variao de e que os parmetros pticos dependem

do comprimento de onda, S deve ser calculado para o comprimento de onda de
ressonncia (S = (/n3 ())|=R ) levando em considerao a inuncia do metal
e do substrato na resposta SPR:
n3 2 n3 1
= + (3.14)
n3 2 1
Com relao a detectividade, esta permite quanticar a qualidade da resposta do instru-

mento de medio SPR, independente do modo de operao. Esse parmetro quantica a
qualidade dos materiais empregados por meio da sensibilidade e a qualidade da resposta do
detectores ptico-eltrico (h i e/ou h i) usados no (bio)sensor SPR. matematicamente
expressa para o modo WIM e AIM, respectivamente, por:
D = S / h i , D = S / h i (3.15)
em que h i a resoluo associado ao detector utilizado no modo WIM (espectrmetro) e

h i ao detector do modo AIM (cmera CCD ou CMOS).
Critrios de classicao
Tendo em visto o efeito da temperatura nos aspectos relacionados ao desenvolvimento de
sensores SPR, a AF realizada para temperatura xa. A temperatura para a qual a CDF
dos metais e a Disperso dos substratos (slidos e lquidos) foram obtidas de 22 2 C.
Os resultados obtidos permitem estabelecer a fonte de luz, o tipo do detector ptico e
a qualidade dos algoritmos, para assim, classicar a excitao dos SP para cada metal. A
interpretao da resposta SPR possibilita tal classicao. Situaes em que a condio de
ressonncia, visualmente expressa pela curva SPR, ocorre em comprimentos de onda entre
330 nm at 880 nm, para ngulos menores que 71 , com boa profundidade (r'0) e largura
pequena (F W HM () 8 2 ou F W HM () 120 30 nm) caracterizam uma boa
resposta SPR. Multicamada cuja resposta possua apenas bons resultados para R ou R ,
tendo a profundidade e largura resultados ruins, normalmente apresentam baixa sensibili-
dade. Desse modo, exige que os algoritmos de processamento e extrao dos parmetros de
interesse sejam capazes de compensar a baixa variao de R e/ou R em funo da variao
de n3 .
Para a condio de ressonncia ocorrendo em comprimentos de onda abaixo de 330 nm
ou acima de 880 nm faz-se necessrio fonte de luz fora do espectro visvel para excitao
do fenmeno e detector ptico apropriado para capturar a luz reetida. Mesmo que o
ngulo de incidncia, profundidade e largura possuam os valores desejados, classicam-se tais
multicamadas como de moderada resposta SPR devido ao tipo de fonte luz e de detector
ptico necessrio. As mesma classicao dada para a multicamada em que a condio
de ressonncia ocorre para ngulos maiores que 71 , pois dicultam o posicionamento dos
elementos que compem a instrumentao ptica. Para multicamadas cuja condio de
ressonncia ocorre em posies de e de difcil instrumentao e ainda possuem baixa
qualidade nos demais parmetros, estas caracterizam-se por uma resposta SPR ruim. Vale
salientar que os modos AIM e WIM so independentes, podendo uma multicamada ter bom
resultado em um modo e um resultado ruim ou moderado no outro.
A seguir, apresentado o estudo computacional para as interfaces subtrato/metal/ana-

lito,amostra investigadas. O software Matlab foi utilizado para o clculo das respostas
SPR.
3.2.1 Filmes nos de Alumnio

A funo dieltrica complexa 2 () = 2r () + j2i () do metal fracamente paramagntico
est ilustrada na Figura 3.14. Os valores experimentais foram obtidas de [6365]. A aproxi-
mao de Drude, eq. (3.9), calculada para os valores p =1,0657107 m e c =2,4511105 m
[30], tambm apresentada na gura. A CDF pode ser parcialmente aproximada pelo mo-
delo de Drude. O valor de 2 () decresce de forma constante at prximo de =800 nm,
regio na qual 2R () e 2I () revelam uma caracterstica proeminente. Tal caracterstica
originada devido a transio inter-banda, a qual no considerada pelo modelo de Drude.
A funo dieltrica do metal desempenha um papel importante na qualidade do sensor
SPR uma vez que a parte real descreve a fora da SPP, induzida pelo campo eltrico da
luz incidente, e a parte imaginria descreve as perdas inerentes ao material. No entanto,
quando a espessura de um lme metlico comparvel ao comprimento de onda de eltrons
na energia de Fermi, tem-se uma discretizao dos estados eletrnicos de energia, levando
as propriedades dos lmes serem fortemente dependentes da espessura [66].
Para lmes de alumnio, camada de xido de alumnio formada espontaneamente a
presses e temperaturas ambientes e tambm determina as propriedades do alumnio [67].
A Figura 3.15 apresenta a resposta SPR para diferentes representaes da CDK, com e sem
Figura 3.14: Funo dieltrica complexa do Al. Parte real e imaginria para diferentes
representaes. Ver-se que CDF experimental no aproximada pela D.A.
Figura 3.15: Variao da resposta SPR para diferentes representaes da funo dieltrica
2 () do alumnio. Curvas com e sem camada de oxidao. A resposta experimental mais
semelhante curva representada por Rakic na presena de oxidao. Detalhe (subgrco
em verde) para o perl espectral da fonte de luz.
camada de oxidao. A curva SPR experimental assemelha-se em valores de R , F W HM

e profundidade/contraste curva SPR para a CDF experimental na presena de oxidao.
Vale salientar que devido ao espectro de emisso da fonte de luz utilizada no foi observado
o segundo valor de mnimo na curva SPR experimental. Como as CDFs experimentais
revelam poucas diferenas entre si, escolheu-se os dados de Rakic acrescido da camada de
oxidao para representar a propriedade ptica do lme de alumnio.
As distribuies espectral da reetividade r() no modo WIM so apresentadas na Fi-
gura 3.16. Para a maioria dos substratos r() exibe o SPR splitting. SPR splitting consiste
na dupla excitao dos SPs em baixos (Sw) e longos (Lw) comprimentos de onda, ambas
pertencentes ao ramo de distribuio simtrico da disperso de kSP [32]. A caracterstica
da existncia da SPR mais evidente para o substrato de BK7. J o substrato PC, aparen-
temente no adequado para excitao dos plasmons de superfcie.
O comportamento do sensor SPR com lmes de alumnio torna-se mais evidente quando
se observa a distribuio angular da reetividade r() no modo AIM. Como apresentada na
Figura 3.17, a multicamada PC/Al/H2 O possui baixa profundidade/contraste da curva SPR
caracterizando um fraco acoplamento ptico. Os demais substratos possuem boas respostas,
sendo ento aplicveis no desenvolvimento do sensor SPR.
A caracterstica de deteco das estruturas multicamadas no modo WIM apresentada
Figura 3.16: Curvas SPR no modo WIM para os substratos de BK7, TOPAS, PMMA e
PC. ngulos de incidncia xados em 58 ,63 ,68 ,71 e 75 para faixa de comprimentos de
onda de 400 nm < < 1400 nm. Resposta WIM para lmes de alumnio com espessura de
20 nm em contato com gua deionizada e desgaseicada.
Figura 3.17: Curvas SPR no modo AIM para os substratos de BK7, TOPAS, PMMA e PC.
Grcos para diferentes comprimentos de onda, indicados na gura, para faixa de ngulo
de 50 < < 80 . Resposta AIM para lmes de alumnio com 20 nm em contato com a
gua deionizada e desgaseicada.
na Figura 3.18 para o ngulo de incidncia xo em 68 . Duas ressonncias, ou seja, o efeito
de splitting SPR em curtos (Sw) e longos (Lw) comprimentos de onda so resolvidos. Para
o substrato de BK7, a posio de ressonncia no Sw inicia-se em 500 nm para 1,33 RIU e
no Lw em 886 nm. PMMA possui valores de Sw para ndices de refrao abaixo de 1,35. A
pofundidade/contraste de penetrao para ambas as ressonncias varia de modo oposto ao
incremento do valor de RIU do analito.
Os parmetros comprimentos de onda de ressonncia (R ), largura da curva (F W HM )
Figura 3.18: Curvas SPR no modo WIM para diferentes analitos no intervalo de 1,33 <
n3 < 1,39. Substratos de BK7, TOPAS, PMMA e PC com lmes de alumnnio de 20 nm
de espessura. ngulo de incidncia xado em 68 para faixa de comprimentos de onda de
400 nm < < 1400 nm.
Figura 3.19: Parmetros extrados das curvas SPR no modo WIM para lmes de Al. a)
Sensibilidade, b) Comprimento de onda de ressonncia e c) largura da curva associada ao
valor FWHM.
e sensibilidade (S = R /n3 ), extrados das curvas SPR, so apresentados em funo dos

ndice de refrao na Figura 3.19. A ressonncia-Sw supera substancialmente a Lw para
BK7 e TOPAS. Todavia, para ndices de refrao moderados a ressonncia-Lw supera a
Sw em substratos de PMMA. As duas sensibilidades (S -Lw e S -Sw) aumentam de forma
quase linear com a variao de n3 no substrato de vidro (BK7). A variao da largura da
curva SPR, calculada no ponto FWHM, indica que a excitao-Sw, em geral, possui valores
menores.
A caracterstica de deteco das estruturas BK7/Al, TOPAS/Al, PMMA/Al e PC/Al
no modo AIM so apresentadas na Figura 3.20 para os comprimentos de onda excitao
Figura 3.20: Curvas SPR no modo AIM para diferentes analitos no intervalo de 1,33 < n3 <
1,39. Curvas com os comprimentos de onda xos nos valores encontrados na simulao WIM
(Sw em cores e Lw em tons de cinza). Substratos de BK7, TOPAS, PMMA e PC com lmes
de alumnio com espessura de 20 nm.
Figura 3.21: Parmetros extrados das curvas SPR no modo AIM para lmes de Al. a)
Sensibilidade, b) ngulo de ressonncia e c) largura da curva associada ao valor FWHM.
obtidos na resposta WIM para o ngulo de 68 . A profundidade da curva SPR aumenta

moderadamente com da variao de n3 , em contraste ao modo WIM, e as curvas para a
excitao Lw possuem maior valor de FWHM.
Os parmetros extrados das curvas SPR encontram-se na Figura 3.21. O ngulo de res-
sonncia (R ), a sensibilidade (S ) e a largura da curva (F W HM ) possuem comportamento
linear em funo do n3 . Os maiores valores de S , em torno de 130 /RIU, foram alcanados
nas conguraes BK7-Sw e PMMA-Sw. Assim como no modo WIM, o substrato de PC
alcanam os menores valores de desempenho se comparados aos outros arranjos.
Por ltimo, a inuncia da espessura da camada metlica para os modos WIM e AIM
Figura 3.22: Reetividade-WIM (grcos superiores) e AIM (grcos inferiores) para di-
ferentes espessuras do lme de alumnio. Curvas SPRs para a multicamada composta por
BK7/Al/analito, com as espessuras para os lmes metlicos de 1, 10, 20, 30 e 40 nm.
(Sw) so apresentadas na Figura 3.22. Para a congurao BK7-Al, os resultados claramente

demonstram que espessuras prximas de 20 nm so ideais para lmes nos de Al.
3.2.2 Filmes nos de Ouro

A funo dieltrica complexa para o ouro encontra-se na Figura 3.23. Os valores experi-
mentais foram obtidas de [63, 68] e a aproximao de Drude foi calculada para os valores
p =1,6826107 m e c =8,9342106 m [30], a qual descreve sucientemente a CDF. 2R ()
inicialmente muito pequeno, mas a partir de >500 nm decresce continuamente para
valores negativos. 2I () positivo e mantm um baixo valor para toda faixa espectral de
interesse. Ambos, 2R () e 2I (), revelam uma oscilao distinta prximo a 500 nm que
se origina da transio inter-bandas. Escolheu-se os dados de Johnson para representar a
propriedade ptica do lme de ouro.
A distribuio espectral da reetividade no modo WIM r() apresentado na Figura
3.24. Todos os substratos so adequados para uso em aplicaes baseadas na SPR. Para
o BK7 e TOPAS a ressonncia est localizada em comprimentos de onda longos (fora do
espectro de luz visvel) para o ngulo de 63 .
Atravs da distribuio angular da reetividade r() presente na Figura 3.25, possvel
perceber que os valores de F W HM () diminuem substancialmente para os pontos de ope-
Figura 3.23: Parte real e imaginria para diferentes representaes da CDF do ouro. Nota-se
que a CDF experimental parcialmente aproximada pela D.A.
Figura 3.24: Curvas SPR no modo WIM para os substratos de BK7, TOPAS, PMMA e PC.
ngulos de incidncia xados em 58 ,63 ,68 ,71 e 75 para faixa de comprimentos de onda
de 400 nm < < 1400 nm. Resposta WIM para lmes de ouro com espessura de 50 nm,
em contato com gua deionizada e desgaseicada.
rao (OP) de longos comprimentos de onda (> 800 nm) e ngulos pequenos. Todavia, a
multicamada BK7/Au/H2 O com =63 possui baixa profundidade/contraste.
A Figura 3.26 ilustra a caracterstica de deteco no modo WIM para o ngulo de
incidncia xo em 68 . Os conjunto de valores de ndice de refrao esto na faixa 1,33 <
n3 < 1,39 RIU. Os substratos TOPAS e PMMA possuem profundiade/contraste crescente
e descrescente, respectivamente, com o incremento de n3 . Para ndices de refrao abaixo
1,36 a profundiade/contraste das curvas para BK7 e PC aumentam e acima desse valor o
contraste diminui. Com exceo de PC, o incremento de n3 faz o valor do mnimo deslocar-se
para longos comprimentos de onda.
Os parmetros R , F W HM e S , so apresentados em funo dos ndice de refrao na
de 40 < < 80 . Resposta AIM para lmes de ouro com 50 nm em contato com a gua
deionizada e desgaseicada.
n3 < 1,39. Substratos de BK7, TOPAS, PMMA e PC. ngulo de incidncia xado em 68
para faixa de comprimentos de onda de 400 nm < < 1400 nm. O lme de ouro com
espessura de 50 nm.
Figura 3.27. A sensibilidade possui faixa dinmica de operao para toda faixa de ndice de
refrao utilizada (62 RIU ) e PMMA apresenta o melhor valor de sensibilidade, possuindo
magnitude de 92002000 nm/RIU; todavia revela os maiores valores de F W HM . Os valores
de R aumentam de forma linear com a variao de n3 para todos os substratos.
A caracterstica de deteco do modo AIM apresentada na Figura 3.28. As curvas
SPRs so calculadas para os valores de R obtidos na resposta WIM para o ngulo de 68 .
A profundidade da curva SPR permanece invarivel para BK7 e PMMA. Assim como nos
Figura 3.27: Parmetros extrados das curvas SPR no modo WIM para lmes de Au. a)
valor FWHM.
1,39. Substratos de BK7, TOPAS, PMMA e PC com lmes de ouro de 50 nm de espessura.
Curvas com os comprimentos de onda xos nos valores encontrados na simulao WIM.
lmes de alumnio, o substrato de PC revela curvas com maior valor de F W HM .

Os parmetros extrados das curvas SPR encontram-se na Figura 3.29. O ngulo de res-
sonncia (R ), a sensibilidade (S ) e a largura da curva (F W HM ) possuem comportamento
linear crescente em funo do n3 . A sensibilidade calculada para =607 nm para a interface
PC/Au alcanaram os maiores valores, em torno de 140 /RIU.
so apresentadas na Figura 3.30 para a congurao BK7/Au. Os resultados claramente
demonstram que espessuras prximas de 50 nm so ideais para lmes nos de Au.
Figura 3.29: Parmetros extrados das curvas SPR no modo AIM para lmes de Au. a)

diferentes espessuras do lme de ouro. Curvas SPR para multicamada composta por
BK7/Au/analito, com as espessuras para os lmes metlicos de 10, 30, 50, 70 e 90 nm.
3.2.3 Filmes nos de Cobre

A CDF do metal diamagntico e a aproximao pelo modelo de Drude encontram-se na
Figura 3.31. Os valores experimentais foram obtidas de [63, 68] e a D.A. foi calculada para
os valores p =1,3617107 m e c =4,0852105 m [30], a qual descreve parcialemnte a CDF.
2R () decresce constantemente para valores negativos para >520 nm, enquanto 2I ()
positivo e relativamente pequeno para a faixa espectral de interesse, contudo no so bem
retratados pelo modelo de Drude. Ambos 2R () e 2I () revelam uma oscilao prximo a
600 nm, devido a estrutura de transio inter-banda, e tambm no est presente na D.A.
Os dados experimentais de Johnson foram escolhidos para representar a propriedade ptica
do lme de cobre.
3.32. Assim como nos lmes de ouro, todos os substratos so adequados para excitao dos
Figura 3.31: Funo dieltrica complexa do Cu. Parte real e imaginria para diferentes
representaes. Observa-se que a CDF experimental parcialmente aproximada pela D.A.
Figura 3.32: Curvas SPR no modo WIM para os substratos de BK7, TOPAS, PMMA e
PC. ngulos de incidncia xados em 58 ,63 ,68 ,71 e 75 para faixa de comprimentos de
onda de 400 nm < < 1400 nm. Resposta WIM para lmes de cobre com espessura de
40 nm em contato com gua deionizada e desgaseicada.
SPs em lmes de cobre. O OP (par ) para 63 no substrato de PMMA est posicionado

fora da faixa espectral de interesse.
Sob o modo AIM (r()), apresentado na Figura 3.33, todos os OPs possuem profun-
didade/contraste maiores que 0.35 e assim como nos lmes de ouro, os OPs de longos
comprimentos de onda e ngulos pequenos possuem baixos valores de F W HM ().
A caracterstica de deteco no modo WIM para ndices de refrao na faixa 1,33 < n3 <
1,39 RIU e ngulo de incidncia xo em 68 , encontra-se na Figura 3.34. Os substratos BK7,
TOPAS e PMMA possuem profundiade/contraste crescem ligeiramente com o incremento
de n3 . Para a multicamada PC/Cu, o valor do mnimo ca concentrado em uma pequena
faixa de comprimentos de onda a medida que o valor de n3 incrementado.
de 40 < < 80 . Resposta AIM para lmes de cobre com 40 nm em contato com a gua
n3 < 1,39. Substratos de BK7, TOPAS, PMMA e PC com lmes de cobre de 40 nm de
espessura. ngulo de incidncia xado em 68 para faixa de comprimentos de onda de
400 nm < < 1400 nm.
Os parmetros extrados das curvas SPR-WIM, so apresentados em funo dos ndice

de refrao na Figura 3.35. Os valores de R e S aumentam de forma linear com a variao
de n3 . PMMA apresenta os maiores valores de sensibilidade mas revela os maiores valores
de F W HM . Os valores de S para PMMA excedem em 4 vezes os valores alcanveis por
PC.
A caracterstica de deteco do modo AIM apresentada na Figura 3.36. Em oposio
Figura 3.35: Parmetros extrados das curvas SPR no modo WIM para lmes de Cu. a)
valor FWHM.
1,39. Curvas com os comprimentos de onda xos nos valores encontrados na simulao WIM.
Substratos de BK7, TOPAS, PMMA e PC com lmes de cobre de 40 nm de espessura.
ao modo WIM, o substrato de PC possui os melhores valores de profundidade/contraste da

curva SPR. As curvas SPRs so calculadas para 708 nm (BK7), 672 nm (TOPAS), 826 nm
(PMMA) e 610 nm (PC) obtidos na resposta WIM para o ngulo de 68 . A profundidade da
curva SPR permanece praticamente invarivel para os polmeros BK7, TOPAS e PMMA.
Os parmetros extrados das curvas SPR encontram-se na Figura 3.37. A faixa dinmica
de 3 102 alcanada pelo estrutura PC/Cu, com valores de S prximos a 127 /RIU. Os
ngulos de ressonncias aumentam com o incremento de n3 e todos os substratos apresentam
variaes de semelhantes de R . PMMA e BK7 fornecem curvas com os mesmos valores de
largura, e PC demonstra deter as curvas SPR com maior valor de F W HM .
Figura 3.37: Parmetros extrados das curvas SPR no modo AIM para lmes de Cu. a)
ferentes espessuras do lme de cobre. Curvas SPRs para a multicamada composta por
BK7/Cu/analito, com as espessuras dos lmes metlicos de 10, 30, 40, 50 e 70 nm.
so apresentadas na Figura 3.38 para a congurao BK7/Cu. Os resultados claramente

demonstram que espessuras entre 40 e 50 nm so ideais para lmes nos de Cu.
3.2.4 Filmes nos de Prata

A CDF da prata e a aproximao pelo modelo de Drude encontram-se na Figura 3.39.
Os valores experimentais foram obtidas de [63, 68]. A D.A. calculada para os valores
p =1,4541107 m e c =1,7614105 m [30], tambm apresentada na gura. A CDF
do metal diamagntico sucientemente descrita pela D.A. No espectro de interesse, 2R ()
decresce a partir de >300 nm para valores negativos; 2I () positivo em toda faixa
espectral de interesse. Ambos, 2R () e 2I (), revelam uma oscilao distinta prximo a
300 nm, no apresentada na gura, que se origina da transio inter-bandas. Escolheu-se
os dados de Palik para representar a propriedade ptica do lme de prata.
Figura 3.39: Funo dieltrica complexa do Ag. Parte real e imaginria para diferentes
representaes. Ver-se que a CDF experimental parcialmente aproximada pela D.A.

3.40. Assim como nos lmes de ouro e cobre, todos os substratos so adequados para
excitao dos SPs em lmes de prata. O OP (par ) para 63 e substrato de PMMA
est posicionado fora da faixa espectral de interesse.
Figura 3.40: Curvas SPR no modo WIM para os substratos de BK7, TOPAS, PMMA e PC.
ngulos de incidncia xados em 58 ,63 ,68 ,71 e 75 para faixa de comprimentos de onda
de 400 nm < < 1400 nm. Resposta WIM para lmes de prata com 50 nm em contato
com gua deionizada e desgaseicada.
O comportamento do sensor SPR com lmes de prata torna-se mais evidente quando se
observa a distribuio angular da reetividade r() no modo AIM. Como apresentada na
Figura 3.41, a profundidade/contraste da curva SPR diminui para OPs com altos valores de
e baixos valores de ; a exceo para desse comportamento o OP = 1187 = 63
de 40 < < 80 . Resposta AIM para lmes de prata com 50 nm em contato com a gua
em substratos de BK7. No obstante, h uma correlao entre os modos WIM e AIM, i.e.,
curvas com baixos contrastes em um modo permanecem com baixos valores no outro modo.
Ademais, todos os substratos possuem boa resposta SPR.
A caracterstica de deteco no modo WIM para ndices de refrao na faixa 1,33 <
n3 < 1,39 RIU e ngulo de incidncia xo em 68 , encontra-se na Figura 3.42. A profun-
didade/contraste das curvas SPR sofrem pequenas alteraes com o incremento de n3 e o
valor do mnimo desloca-se para longos comprimentos de onda, especialmente para PMMA.
Os parmetros extrados das curvas SPR-WIM, so apresentados em funo dos ndice de
refrao na Figura 3.43. Os valores de F W HM assume magnitude de 404 nm, e ligeira
oscilao com o aumento de n3 , para BK7, TOPAS e PC. Os valores de R e SW IM aumen-
tam de forma linear com a variao de n3 , com PMMA apresentando os maiores valores de
sensibilidade, SW IM 9.000 nm/RIU.
No modo AIM, a caracterstica de deteco (ver Figura 3.44) mostra que a profundidade
da curva SPR permanece independente da variao de n3 para BK7, TOPAS e PMMA. De
forma semelhante ao ouro e ao cobre, todos os substratos so aplicveis excitao dos SP
no modo AIM.
Os parmetros extrados das curvas SPR-AIM encontram-se na Figura 3.45. O ngulo
de ressonncia (R ), a sensibilidade (S ) e a largura da curva (F W HM ) possuem compor-
n3 < 1,39. Substratos de BK7, TOPAS, PMMA e PC com lmes de prata de 50 nm de
espessura. ngulo de incidncia xado em 68 para faixa de comprimentos de onda de
400 nm < < 1400 nm. Curvas para lmes de prata com espessuras de 50 nm.
Figura 3.43: Parmetros extrados das curvas SPR no modo WIM para lmes de Ag. a)
valor FWHM.
tamento linear em funo do n3 . Os maiores valores de S , em torno de 150 /RIU, foram

alcanados nas conguraes PC/Ag. Em oposio ao modo WIM, o substrato de PMMA
alcanam os menores valores de S . Todavia, baixos valores de F W HM so apresentados
pelas curvas da congurao PMMA/Ag.
so apresentadas na Figura 3.44. Para a congurao BK7/Ag, os resultados claramente
demonstram que espessuras prximas de 50 nm so ideais para lmes nos de prata.
Figura 3.44: Curvas SPR no modo AIM para diferentes analitos no intervalo de 1,33 <
n3 < 1,39. Curvas para os comprimentos de onda xos em 658 nm(BK7), 620 nm(TOPAS),
779 nm(PMMA) e 519 nm(PC) encontrados na simulao WIM, para lmes de prata com
espessuras de 50 nm.
Figura 3.45: Parmetros extrados das curvas SPR no modo AIM para lmes de Ag. a)
ferentes espessuras do lme de prata. Curvas SPRs para a multicamada composta por
BK7/Ag/analito, com as espessuras dos lmes metlicos de 10, 30, 40, 50 e 70 nm.
3.3 Detectividade
Alm da sensibilidade, a detectividade tambm foi utilizada como gura de mrito para
caracterizao da resposta SPR. Por permitir quanticar a qualidade da resposta da instru-
mentao ptica-eletrnica do sensor, a detectividade utilizada para comparar diretamente
as respostas do sensor nos modos AIM e WIM. A resoluo instrumental para o modo WIM
foi ajustada para h i=0,1 nm, baseado nas especicaes do espectrmetro e nos estu-
dos experimentais realizados [34, 62]. A Figura 3.47 apresenta os valores de detectividade
alcanveis no modo WIM, assumindo 0.1 nm como resoluo instrumental.
Figura 3.47: Detectividade no modo WIM para diferentes interfaces substrato/metal. OP

com ngulo xo em = 68 .
Tendo como base os valores alcanveis de D possvel determinar qual deve ser a
resoluo instrumental do sensor de imagem (cmera CCD ou CMOS) usado no modo AIM,
de maneira que ambos os modos forneam o mesmo valor de detectividade (D = D ). Os
valores requeridos de h i so obtidos pela expresso:
h i = (S /S ) h i , (3.16)
e a Tabela 3.1 apresenta os valores de D para os 16 pares substrato/metal considerados

no presente trabalho. importante mencionar que esta tabela pode ser utilizada para
selecionar a resoluo instrumental do modo AIM. Dessa forma, quanto maior o valor de
h i melhor a qualidade do sensor de imagem que deve ser utilizado.
A anlise geomtrica do set-up experimental apresentado na Figura 3.48, fornece o
"Campo de Viso do Prisma" (Field Of View - FoV) que representa a abertura angular
Tabela 3.1: Magnitude de h i para h i=0.1 nm.

h i
BK7 TOPAS PMMA PC
(103 graus)
Ag 2,2730 3,3535 1,1840 5,6961
Au 2,4264 3,5787 1,2133 6,3072
Cu 2,2699 3,2372 1,1087 6,3577
Al-Sw 2,5492 1,2917 1,8232 -
Al-Lw 8,1240 18,382 2,1310 38.440
do feixe luminoso que atinge o sensor de imagem do transdutor SPR operando no modo
AIM. Com o valor de FoV, possvel calcular a resoluo angular do sensor SPR, expressa
por:
h i = F oV /DP (3.17)

CI
F oV = 2arctan , (3.18)
DF
em que DP (densidade de pixels) representam a quantidade de pixels por unidade de rea do
sensor de imagem utilizado; CI (caminho inclinado) indica o tamanho na parede lateral do
prisma que utilizado para reetir a luz e DF (distncia focal) a distncia focal da lente
utilizada no set-up AIM. Possveis diferenas entre os valores de h i e h i so compensados
por software atravs de algoritmos de pr-processamento, gerao da curva SPR e extrao
dos parmetros de interesse [69].
Outra forma de calibrar a detectividade do sensor SPR alterando o ponto de operao,
tendo em vista o conhecimento dos valores das resolues instrumentais h i e h i. No modo
WIM a detectividade aumenta com o aumento do comprimento de onda [70], dessa forma,
mesmo um detector com altos valores de resoluo instrumental em h i pode fornecer uma
resposta adequada para D quando um comprimento de onda adequado utilizado, i.e.,
com valores elevados. J a detectividade AIM possui comportamento oposto, ou seja,
decresce com o aumento do comprimento de onda [70]. Assim, para compensar a eventual
baixa qualidade do sensor de imagem empregado, comprimentos de ondas curtos podem ser
utilizados. A calibrao do sensor em ambos os modos pode ser feita escolhendo OPs de
modo que o parmetro , expresso pela equao abaixo, seja mantido prximo de 1.
= D /D = (S /S ) (h i / h i). (3.19)
Figura 3.48: Diagrama de ptica geomtrica usado para o clculo do Campo de Viso (FoV)
do PPBIO. Esquema indicando distncias, ngulos e elementos presentes no set-up AIM.
Para o sensor SPR desenvolvido o valor de FoV de 22,6 .
3.4 Resumo
Neste captulo apresentou-se os resultados do estudo computacional realizado para as es-

trutura multicamada investigadas. Os pontos de operao para cada sensor SPR composto
pelas camadas substrato/metal/analito,amostra foram obtidos. A Tabela 3.2 apresenta um
resumo dos valores dos comprimentos de onda e dos ngulos de ressonncia obtidos no es-
tudo terico para amostra de gua. Os valores de comprimento de onda so usados para
escolher a fonte de luz utilizada na excitao dos SPs. Os ngulos reetem a posio em
que a ressonncia deve ocorrer. A utilizao de fonte luminosa com comprimentos de onda
diferentes podem causar alterao no OP, e assim, causar alteraes na posio angular da
curva SPR no modo AIM. Nessas situaes, a relao pixel vs. ngulo pode ser utilizada
para ajustar o espectro angular da curva SPR. Aspectos sobre a obteno da relao pixel
vs. ngulo/comprimento de onda esto apresentados no Captulo 5. Primeiramente, a per-
Tabela 3.2: Resumos dos valores de R e R indicando o OP de cada par substrato/metal.

Modo WIM - R
BK7 TOPAS PMMA PC
Ag 658 nm 619,2 nm 779,4 nm 519,1 nm
Al 508,1 nm 455,3 nm 621,5 nm -
Au 715,6 nm 677,1 nm 825,7 nm 606,4 nm
Cu 708,1 nm 671,6 nm 825,1 nm 610,7 nm
Modo AIM - R
Ag 68,04
67,96 67,96 68,04
Al 68,12
68,12
68,44
-
Au 67,96 67,96 67,96 67,89
Cu 67,89 67,96 67,96 68,12
formance do alumnio foi apresentada. Com lmes de Al, o sensor apresenta o efeito do split
SPR - a separao da excitao simtrica dos SPs em comprimentos de ondas curtos (Sw)
e longos (Lw). A excitao Sw, em geral, supera a excitao Lw. Em seguida, as respostas
para lmes de ouro, prata e cobre foram apresentadas. A dinmica de sensoriamento para
substncias com ndices de refrao na faixa de 1,33 < n3 < 1,39 RIU permite caracterizar
os sensores SPR.
Os parmetros de desempenho foram apresentados para cada multicamada e os resul-
tados para a sensibilidade e detectividade encontram-se sumarizados no Apndice A -
Fabricao do PPBIO . Em sntese, na comparao metal a metal o valor de S maior
para a prata, com exceo no substrato de TOPAS em que a ressonncia ocorre apenas
em altos valores de ndice de refrao (>1,365). Na comparao substrato a substrato, o
comportamento de S superior em prismas de PMMA, com exceo no lme de alumnio
em que o substrato TOPAS superior por haver apenas ressonncia em altos valores de
ndice de refrao. Por ltimo, a anlise da ptica geomtrica foi discutida. Para ver a
resposta SPR de outros materiais consultar [40].
Comportamento da sensibilidade metal-a-metal, BK7: AlAg>Cu>Au (WIM) e Al>Ag>Au>Cu
(AIM); TOPAS: Al>Ag>Cu>Au (WIM) e Ag>Au>Cu>Al (AIM); PMMA: Ag>Cu>Au>Al (WIM) e
Al>Ag>Au>Cu (AIM); PC: Ag>Au>Cu>Al (WIM) e Ag>Au>Cu>Al (AIM).
Comportamento da sensibilidade substrato-a-substrato, WIM: Au,Ag,Cu: PMMA>BK7>TOPAS>PC
e Al: TOPAS>PMMA>BK7>PC. AIM: Au,Ag: PC>TOPAS>BK7>PMMA, Cu: PC>BK7>TOPAS>PMMA
e Al: BK7>PMMA>TOPAS>PC.
Captulo 4
Construo do sensor SPR
Aps o entendimento da interao luz-matria no sensor SPR com PPBIO, iniciou-se o

processo de desenvolvimento do sensor (Ramo Mecnico da metodologia) com a confeco
dos prismas. A fabricao de objetos baseados em polmeros e vidros pode ser realizada de
diferentes formas, tais como prensagem quente, moldagem por injeo e ablao a laser
[71]. No caso dos polmeros escolhidos, PC (policarbonato), PMMA (polimetil-metacrilato)
e TOPAS, a moldagem por injeo o mtodo mais utilizado.
4.1 Fabricao do PBBIO
A seguir, apresenta-se os principais aspectos relativos a moldagem por injeo, recozimento

e polimento que ocorrem durante a fabricao do PPBIO.
4.1.1 Moldagem por injeo do PBBIO

Denida as especicaes geomtricas do PPBIO, fabrica-se o molde. A Figura 4.1 apresenta
dois moldes usados para a confeco de prismas com os polmeros supracitados. Aps
fabricados, a inspeo mecnica dos prismas visa pr-selecionar amostras ausentes de bolhas
e ssuras. Detalhes sobre o processo de fabricao dos prisma podem ser vistos no Apndice
A - Fabricao do PPBIO .
Utilizando o molde de quatro cavidades, foram manufaturas os prismas polimricos.
Os polmeros utilizados foram o TOPAS 5013 da empresa TOPAS Advanced Polymers, o
Captulo 4. Construo do sensor SPR 58
Figura 4.1: Moldes produzidos para fabricao do PPBIO. a) Molde com 3 cavidades e b)
Molde com 4 cavidades.
Policarbonato Lexan HFD1830 da empresa Sabid e o PMMA Acrigel LEP100 da empresa

Unigel Plsticos. Prismas de vidro foram confeccionados junto a empresa Edmund Optics
usando o N-BK7 da prpria Edmund. A transmitncia obtida por cada prisma, ver Figura
4.2, conrma a faixa de comprimento de onda utilizada no estudo computacional, atestando
a correta escolha dos produtos comercializados pelas empresas citadas.
Ao considerar a moldagem do prisma pelo processo de injeo, deve-se levar em conta
a grande quantidade de fatores que podem afetar os resultados nais em termos de perfor-
mance (qualidade da resposta SPR), tais como: tempo e temperatura de injeo, tempe-
ratura do molde e do material injetado, presso de injeo, tempo de pr-aquecimento do
polmero e tempo de resfriamento; alm de cuidados com a manipulao e armazenamento
Figura 4.2: Percentual de transmitncia (transparncia) para os prismas fabricados com

PC, PMMA, TOPAS e BK7. Dados obtidos com o espectrofotmetro FENTO 800 XI.
do material. Vale salientar que as variaes nas condies de moldagem tm um efeito direto
sobre as propriedades nais do produto.
4.1.2 Recozimento do PPBIO

Na moldagem por injeo, as cavidades do molde se enchem injetando-se material (uido
polimrico) atravs de pequenos canais a elevada velocidade e sob alta presso. As paredes
internas das cavidades esto a temperaturas muito inferiores ao material e, logicamente,
esfriam rapidamente a camada do material que entra em contato com elas, que se solidica
de forma instantnea. Por "cima" segue passando mais material que vai se esfriando em
sucessivos nveis ou camadas para completar o ciclo de preenchimento. Estas condies ge-
ram tenses "resultantes da frico entre as camadas, que serve para 'orientar' as molculas
na direo do uxo e que se estabelecem na massa moldada antes que as macromolculas
possam se acomodar novamente e se livrarem dessas tenses ou deformaes do seu estado
natural" [71]. Sendo assim, pode-se dizer que as Tenses Residuais (residual stress ) se ori-
ginam basicamente quando uma massa quente entra em contato com uma superfcie muito
mais fria, devido a um processo de solidicao e resfriamento, chamado de stress trmico.
Geralmente, a tenso residual provoca uma dupla refrao da luz ao atravessar um
material transparente, fenmeno denominado de birrefringncia (ver Figura 4.3). A birre-
fringncia degrada o desempenho do instrumento ptico que requer manuteno ptica do
Figura 4.3: Esquema ilustrativo de uma luz polarizada atravessando um meio birrefringente
e outro no birrefringente. As componentes extraordinria, mais lenta (raioE ), e ordinria,
mais rpida (raioO ), esto indicadas.
estado da polarizao da luz incidente ou da focalizao da luz incidente por meio de lentes
[72]. Em um material birrefringente, o campo eltrico da luz incidente pode ser decom-
posto em duas componentes conhecidas como raio extraordinrio (paralelo direo do eixo
ptico do material) e raio ordinrio (perpendicular direo do eixo ptico do material),
os quais viajam com velocidades de propagao diferentes. Isso signica que existem dois
ndices de refrao distintos: ne e no relacionados com os raios extraordinrio e ordinrio,
respectivamente.
Essa dupla refrao no ocorre se as molculas que formam o prisma forem completa-
mente livres de tenso residual. No entanto, quando o polmero (PC, PMMA ou TOPAS)
submetido ao processo de injeo acaba por submeter-se a irregularidades e altos nveis de
tenso (devido variao trmica, ao uxo e ao empacotamento [71]). Com o uso de um
polarmetro (ou polariscpio) possvel mensurar o stress residual do prisma. Composto
por uma fonte de luz, dois polarizadores, uma placa de quarto-de-onda e um sensor de
imagem (ver Figura 4.4), esse equipamento possibilita calcular a defasagem entre os raios
extraordinrios e ordinrios do meio birrefringente. Com a rotao do segundo polarizador
(denominado analisador) a intensidade da luz transmitida varia, alcanando intensidade
mxima quando o eixo de polarizao do analisador coincidir com o eixo do raio ordinrio
e intensidade mnima quando o eixo de polarizao do analisador coincidir com o eixo do
raio extraordinrio. Essa intensidade representada por [73]:
I = a2 [1 + sen2( )sen], (4.1)
sendo a a amplitude da luz transmitida, o ngulo de rotao do analizador, a

orientao do eixo ordinrio e o retardamento da fase produzido entre os raios E e

O devido birrefrigncia do material induzida pelo stress. Se o prisma no possui stress
residual, ento sen zero, caso contrrio, sen tem um valor nito com expresso por:
2Cd
= (1 2 ). (4.2)

O retardamento de fase diretamente proporcional a diferena entre os raios E e O (1 2 ),

devido ao stress, a constante de stress ptica (C) do material e espessura (d) do prisma.
Reescrevendo (4.1) em termos de seno e cosseno, tem-se [74]:
I = Ia + Ic cos2 + Is sen2 (4.3)
com Ic = (s)sen2 , Is = (s)cos2 , s = a2 sen e Ia a mdia de intensidade da imagem

coletada. Assim, para calcular o retardamento de fase captura-se quatro imagens com fases
deslocadas para quatro posies do analisador: 0 , 45 , 90 e 135 denotadas por I1 , I2 , I3
e I4 e denidas como: I1 = Ia + Ic , I2 = Ia + Is , I3 = Ia Ic e I4 = Ia Is .
Essas imagens so ento processadas da forma:
[(I3 I1 )2 + (I4 I2 )2 ]1/2

s= (4.4)
2(I1 + I2 + I3 + I4 )
para obteno dos parmetros e
= sen1 (s) (4.5)

1 I3 I1
= tan1 (4.6)
2 I4 I2
e assim quanticar o stress proporcional a .
Para minimizar o efeito da birrefrigncia os prismas so submetidos ao processo de
recozimento ou annealing. O recozimento um processo em que o calor aplicado em um
material a m de mudar sua estrutura interna, de tal forma que o material ter menos
tenses residuais internas devido relaxao das molculas sob recozimento [75]. Usado na
fabricao de vidro e na indstria metalrgica, o recozimento o aquecimento e o posterior
Figura 4.4: Esquema de um polariscpio. Atrs do prisma sob anlise h uma luz no
polarizada seguido de um polarizador e um plano de 1/4 de onda. frente do prisma, outro
polarizador (analisador) utilizado para analisar a polarizao e um sensor de imagem
captura o valor da intensidade.
esfriamento lento e homogneo do material [75]. Assim, os prismas foram aquecidos at

a temperatura de relaxao das tenses a uma taxa aproximada de 7 C/h, mantidos a
esta temperatura pelo tempo necessrio ao relaxamento e resfriados controladamente at a
temperatura ambiente, diminuindo o stress do material.
A Figura 4.5 mostra diferentes prismas sob iluminao com polarizao TM, condio
necessria para excitao dos SPs. Com essa polarizao a luz deve ser bloqueada. O
processo de recozimento consistiu no aquecimento a 75% da temperatura de fundio de
cada polmero por 18 horas. Nos prisma que no possuem recozimento a luz atravessa-
o, no obtendo-se a polarizao necessria. A gura tambm traz imagens de prismas
polidos e no polidos mostrando que esse processo tambm importante para um bom
resultado. Ademais, mostra-se na gura prismas manufaturados com diferentes polmeros
(gura inferior), bem como imagem do prisma de vidro que ausente de stress.
O recozimento tambm afeta o ndice de refrao do prisma (n), tendo em vista a
modicao estrutural do material provocada pelo tratamento trmico. O valor do ndice
de refrao aps uma determinada taxa de recozimento (Temperatura/Tempo) dado por
[74]:
hx
n(hx ) = n(h0 ) + md log , (4.7)
h0
Figura 4.5: a) Fotograa para prismas com [1]-[2]-[3] e sem [4]-[5]-[6] annealing, polidos
[3]-[4] e no polidos [1]-[2]-[5]-[6], todos fabricados com TOPAS e usando o molde de 3
cavidades. b) Fotograa para prismas polimricos fabricados com o molde de 4 cavidades e
prisma de vidro BK7. Prismas que passam pelo processo de injeo [PC]-[PMMA]-[TOPAS]
possuem stress enquanto o prisma vidro [BK7], fabricado de forma diferente, ausente de
stress.
em que hx a taxa de annealing utilizada, h0 representa a taxa de annealing de referncia

e md o coeciente que relaciona a dependncia do annealing com o ndice de refrao do
material.
Como pode ser visto nas curvas SPRs para lmes de prata apresentadas na Figura 4.6, a
curva experimental de BK7 muito semelhante a curva terica - tanto no contraste quanto
na posio de mnimo - uma vez que o BK7 ausente de birrefrigncia, com variao na
posio de R de 8,7 nm. O TOPAS possui menos stress mecnico, ver Fig. 4.5b), e tambm
fornece curva SPR semelhante a curva terica. A curva para PC possui baixo contraste mas
posio de mnimo prxima, com diferena de 12 nm em relao a curva terica. Prismas
de PMMA revelaram as maiores diferenas entre as curvas SPRs tericas e experimentais.
Figura 4.6: Curvas SPR para lme de prata depositado no substratos BK7, TOPAS, PMMA
e PC. Curvas tericas (linha tracejada) e experimentais (linha slida).
A Figura 4.7 apresenta um exemplo em que a excitao existente potencializada aps

o tratamento trmico. Tambm retratada a situao em que h o incremento no ndice
de refrao do prisma aps o recozimento, fazendo com que o valor de mnimo desloque,
aumentando a diferena em relao ao mnimo terico. Por m, a variao no ndice de
refrao dos prismas aps o processo de annealing foi pequena, em torno de <106 RIU
para o substrato de TOPAS, sendo negligenciada na caracterizao da resposta SPR.
Figura 4.7: Curva SPR para prisma com (linha slida preta) e sem (linha slida vermelha)
anneling, e curva SPR terica (curva tracejada). A excitao dos SP para prisma sem
annealing ineciente. Exemplo da excitao SP melhorada com o uso de annealing.
4.1.3 Polimento do PPBIO

Outro aspecto importante o polimento dos prismas. O polimento melhora o desempenho
do sensor SPR, enfatizando a pofundidade/contraste da curva de ressonncia reduzindo
as perdas de transmitncia. Como exemplo desse procedimento, a Figura 4.8 apresenta o
perl espectral das fontes luminosas utilizadas na montagem experimental. Para o modo de
interrogao espectral um LED de luz branca usado como fonte luminosa e no modo de
interrogao angular utiliza-se um diodo laser ou LED quase monocromtica com largura
espectral pequena, centrada em um valor xo de comprimento de onda necessrio a excitao
dos SPs. Antes do polimento, a absorbncia em 655 nm foi de aproximadamente 0.126 o que
representa uma reduo de 18.19% na luz transmitida atravs do prisma em comparao
com o ar. Aps o polimento, o valor de absorbncia foi de 0.035, reduzindo para 8.5% a
perda na transmitncia.
Figura 4.8: a) Perl espectral para a fonte de luz usada no modo WIM. A linha tracejada
a resposta obtida antes do polimento. b) Perl da fonte de luz usada no modo AIM. A
linha tracejada a resposta obtida com prismas no polidos.
4.2 Deposio do metal
Com o trmino do processo de injeo, dar-se inicio ao processo de deposio do metal na

superfcie do prisma. Dentre as tcnicas para deposio de lmes nos pode-se citar os
Figura 4.9: Exemplos de prisma de PC aps a deposio do metais a) Al, b) Ag, c) Cu e

d) Au.
grupos baseados em i) deposio de vapor fsico (PVD): como nas tcnicas de sputtering e
da evaporao por feixe de eltrons (e-beam ); e ii) deposio de vapor qumico (CVD): a
exemplo do crescimento de lme (epitaxia) e da oxidao trmica [76]. Os lmes nos dos
metais Ag, Au e Cu foram depositados utilizando a tcnica de sputtering e os lmes nos
de Al atravs de e-beam. Prismas cobertos com os metais analisados, so apresentados na
Figura 4.9. Para deposio do metal utilizou-se o sistema de alto vcuo para a gerao de
pelculas nas Cryofox Explorer 600LT, comercializado pela empresa Polyteknik. Detalhes
sobre o processo de metalizao dos prismas podem ser vistos no Apndice B - Deposio
de lmes nos .
A qualidade da deposio inspecionada atravs da continuidade da camada metlica,
da espessura e da rugossidade. Todas essas medidas esto relacionadas com ajustes no
tempo e na corrente de deposio, alm da qualidade do polimento da superfcie do prisma.
Como exemplo, a Figura 4.11 mostra um resumo da investigao da qualidade do lme
metlico atravs de micro-grcos obtidos com um microscpio de fora-atmica (AFM).
Imagens em duas e trs dimenses da superfcie do prisma e os clculos da rugossidade para
diferentes reas da superfcie so apresentados na gura. Os valores de rudossidade foram
de 523 nm na faixa A-B, de 1,08 m na faixa C-D, com um total de 0,034 m em uma rea
de 5050 m. Detalhes sobre as tecnologias utilizadas na caracterizao podem ser vistos
no Apndice C - Caracterizao de lmes nos .
Figura 4.10: Anlise da superfcie metlica de ouro, depositada em um prisma manufaturado

com TOPAS. Imagens (2D e 3D) obtidas com um AFM para superfcie de Au. Grcos
para distribuio de altura nos intervalos A-B e C-D. Resumo dos parmetros e grcos
relativos rugossidade da superfcie extrados com o software Gwyddion.
4.3 Montagem experimental
A instrumentao utilizada em (bio)sensores SPR varia de acordo com o modo de interro-

gao, dimenso, quantidade de elementos biolgicos analisados simultaneamente, portabi-
lidade e os demais aspectos mencionadas anteriormente (polarizao da luz, comprimento
de onda, tipo de metal, ngulo etc). De modo geral, o diagrama de blocos da Figura 4.11 a)
apresenta os sistemas presentes nos (bio)sensores SPR.
Figura 4.11: a) Diagrama de blocos de biossensor baseado na ressonncia de plasmons de

superfcie o qual compreende 4 subsistemas diferentes: Microudico, ptico, Estrutura
Multicamadas e UACPE. Disposio dos elementos que excitam o fenmeno SPR usando o
PPBIO. Montagem para o b) modo de interrogao espectral e c) para o modo de interro-
gao angular.
Para excitao do fenmeno fsico, o Sistema ptico ajusta a fonte luminosa s condies
pticas necessrias de polarizao, foco e posio de incidncia para a qual se atingi a
reexo interna total (RIT). O Sistema Microudico do sensor SPR responsvel pela
entrega (sistema propulsor, i.e., bomba peristltica) e connamento (clula de uxo) da

amostra, que pode ou no conter o analito (substncia sob anlise), superfcie sensvel do
sensor. Neste local, o analito entra em contato com o biorreceptor (no caso de um biossensor
SPR) imobilizado na superfcie metlica, produzindo uma mudana fsico-qumica (variao
de ndice de refrao) que pode ser identicada pelo transdutor ptico.
O Sistema (arranjo) Multicamadas compreende os materiais usados para a confeco
do sensor, incluindo o par substrato/metal e uma camada bioespecca (biorreceptor) que
interage com as substncias contidas no analito. Os biorreceptores podem ser: enzimas,
micrbios, organelas, clulas de animais ou plantas, tecidos de plantas ou animais, anticor-
pos, receptores, cidos nuclicos e DNA, entre outras substncias. Por m, uma Unidade
de Aquisio, Controle, Processamento e Exibio (UACPE) utilizada para aquisio dos
sinais e exibio da resposta. O sistema de aquisio, processamento e visualizao dos da-
dos, informa ao usurio se o analito foi ou no detectado e tambm a quantidade de analito
na substncia, alm de informaes sobre especicidade, fora e rapidez com que ocorreu a
reao analito-biorreceptor.
De posse de prismas funcionais, i.e., livres de ssuras e bolhas, polidos, recozidos e
metalizados, a montagem do set-up experimental realizada e o protocolo experimental -
procedimentos totalmente dependente do que se pretende analisar - aplicado. A depender
da estrutura que d suporte a excitao dos SPs e da multicamada, diferentes componentes
so necessrios. A Figura 4.11 b) apresenta os principais elementos envolvidos na exci-
tao SPR no modo WIM e AIM, utilizando o PPBIO em um sensor na congurao de
Kretschmann.
A descrio completa de cada elemento da estrutura pode ser encontrada na referncia
[77]. Em sntese, no modo WIM o LED White Lambertian da empresa Luxeon Star [78]
foi utilizado como fonte de luz; esse LED propicia uma facilidade de instrumentao por
ser montato em uma base de metal, produz 45 lm de brilho com uma corrente mxima de
350 mA, alm de possuir um longo tempo de vida, cerca de 50.000 horas. Sua resposta
espectral encontra-se na Figura 4.8a).
Para colimao dos feixes de luz, a lente esfrica plano-convexa LA1951 da Thorlabs foi
utilizada e o polarizador TECHSPEC Linear Glass Polarizer da Edmmund Optics foi usado
para polarizar a luz no modo TM. Os demais elementos constituem de um obturador para
connar a luz na parade lateral do PPBIO, uma clula de uxo com volume aproximado de
75 mm3 e o espectrmetro USB4000 da Ocean Optics [79], que cobre a faixa de comprimento
de onda entre 350 nm a 1050 nm, conversor AD integrado de 16 bits, resoluo de 0.3 nm,
pixels de tamanho 8 m200 m e relao sinal-rudo em torno de 300:1.
No modo AIM, utiliza-se uma fonte de luz quase monocromtica com largura espectral
pequena, centrada em um valor xo de comprimento de onda a depender da multicamada.
Utiliza-se duas lentes cilndricas plano-convexas LJ1960L1 da Throlabs e um espelho para
auxiliar na instrumentao do caminho ptico. Como sensor de imagem, a cmera CMOS
DCC1645C [80] comercializada pela empresa Thorlabs com resoluo 12801024 e 10 bits
por pixel, estes com tamanho de 3,6 m2 , foi utilizada. Clula de uxo, lente colimadora e
polarizador (quando a fonte de luz no for polarizada) tambm so empregados.
Fotograa do sensor SPR composto por componentes udicos (clula de uxo), compo-
nentes pticos (lentes, prisma e polarizador), componentes eletrnicos (sensor de imagem) e
por componentes mecnicos que acoplam todos os componentes, formando o instrumento p-
tico, apresentado na Figura 4.12. Vale salientar que apesar de algumas peas (as metlicas)
terem sido adquiridas da Thorlabs, parte dos components mecnicos foram desenvolvidas
e impressos em impressora 3D no laboratrio de biossenores da UFCG, como ilustrado na
Figura 4.13.
Por m, os softwares da UACPE so desenvolvidos para cara modo de operao uma
vez que o driver de cada dispositivo nico e escrito em linguagem de programao di-
ferente. Desenvolvidos em linguagem Java (modo WIM) e C# (modo AIM), os softwares
so majoritariamente composto por grcos que expressam o comportamento temporal dos
parmetros envolvidos no processo de anlise de substncias. Em sntese, o uxograma de
aes dos softwares inicia com a deteco do sensor de imagem (espectrmetro USB4000
ou cmera DCC1645C), e congurao dos parmetros de aquisio: a exemplo do tempo
de integrao e de aplicao de tcnicas de pr-processamento. Em seguida, tem incio o
processo de aquisio dos dados. O sensor calibrado com um sinal de referncia, e da em
diante, a curva SPR calculada e apresentada. Com a curva SPR calculada, h a possibi-
lidade de congurar os parmetros de realce e suavizao da curva para posterior extrao
dos parmetros de interesse.
Figura 4.12: Fotograa da montagem experimental para os componentes do diagrama ilus-

trado na Fig.4.11, apresentando a disposio dos elementos que excitam o fenmeno SPR
usando o PPBIO. a) Montagem para o modo de interrogao espectral, em que uma luz
branca atravessa uma lente colimadora e um polarizador at atingir o prisma; a luz ree-
tida na outra extremidade do prisma passa por uma bra ptica at ser captura por um
espectrmetro. b) Montagem para o modo de interrogao angular, com utilizao de lente
cilndrica para focalizao do espectro da fonte de luz quase monocromtica; a luz reetida
pelo PBBIO atingi um espelho antes de ser capturada por uma cmera empregada como
detector ptico.
Figura 4.13: Imagem de pea impressa em impressora 3D para encaixe do prisma e da

bra ptica na montagem para o modo de interrogao espectral. Pea de polmero ABS
(Acrilonitrila Butadieno Estireno).
4.4 Resumo
Neste captulo apresentou-se as tarefas envolvidas no desenvolvimento do sensor SPR. As-

pectos sobre a manufatura do prisma, a deposio da camada metlica e montagem dos
componentes foram apresentados. Fotograas do molde, dos prismas manufaturados, dos
prismas metalizados, da montagem mecnica do sensor, alm de diagramas explicando e
ilustrando conceitos foram apresentados.
Captulo 5
Caracterizao do sensor SPR
Finalizada a montagem mecnica, dar-se incio aos testes experimentais do sensor SPR
construdo com diferentes multicamadas. A caracterizao dos lmes metlicos atravs de
elipsometria e espectroscopia demonstram a continuidade e homogeneidade dos lmes. Os
ensaios experimentais e a obteno da resposta do sensor apresentada aps uma srie
de processamentos. A seguir, sero descritas as etapas para o processamento do sinal de
imagem capturada por um sensor de imagem de duas dimenses (2D) - procedimentos
anlogos so realizados quando utiliza-se sensores de imagem de uma dimenso (1D) - e em
seguida apresentam-se os resultados obtidos.
Pr-processamento do sinal
A intensidade da luz capturada pelo i-simo pixel do sensor de imagem representada por
xij (t), i = 1, , M e j = 1, , P de modo que a imagem bruta expressa por:

x11 (t) x12 (t) x1P (t)

x21 (t) x22 (t)

x2P (t)
IRAW (t) =
..
(5.1)
.

xM 1 (t) xM 2 (t) xM P (t)
As fontes de rudos que inuenciam a resposta do sensor de imagem podem ser clas-
sicadas em rudos espaciais e temporais. O rudo independente da posio do pixel e da
relao pixel vs. ngulo, mas surge entre imagens subsequentes de uma mesma substncia,
Captulo 5. Caracterizao do sensor SPR 74
caracterizam os rudos temporais (RT). A primeira etapa do processamento consiste em

remover o RT e obter o valor de x
ij (t):
Lt
1 X
xij (t) = xij (t + l) , (5.2)
Lt l=1
em que Lt representam o tamanho da janela temporal utilizada no processamento.

A segunda etapa do processamento consiste na remoo do rudo espacial, i.e., o rudo
varivel de pixel para pixel devido a no-uniformidade da iluminao que chega em cada
pixel, juntamente com as diferenas fsicas e eltricas ocorridas no processo de fabricao
do sensor de imagem:

j+l = 0,

+Ls
1 X j + l < 1,j + l > P
xij (t) = j+l xij+l (t), (5.3)
2Ls + 1 l=L
j+l = 1,
s

1j+l P

em que Ls o tamanho da janela espacial. Estudo sobre os valores tpicos de Ls e Lt podem

ser encontrados na literatura [69].
Gerao da curva SPR e multispot

Aps a remoo dos rudos temporais e espaciais, a imagem suavizada ISU AV IZADA , expressa
em termos de x
ij , obtida. A resposta do sensor SPR na presena do ar, ISU
Ar
AV IZADA ,
tomada como referncia e a partir da injeo do analito realizado o clculo da curva SPR,
da forma:
Ana
ISU AV IZADA (t,,)
SP R(t,,) = Ar
(5.4)
ISU AV IZADA (t,,)
em que ISU
Ana
AV IZADA a resposta do sensor na presena do analito. Esse procedimento de
normalizao elimina no-uniformidades espaciais e espectrais oriundas da fonte de luz e/ou

do sensor de imagem.
Para um sensor de imagem com duas dimenses (2D), possvel utilizar um conjunto de
linhas para gerar a curva SPR, em uma tcnica denominada de multispot. Como apresentado
em (5.5), o processamento multispot composto por diferentes reas sensveis (Ai ) cada uma
correspondendo a uma regio fsica na superfcie sensvel do sensor SPR.

x (t) x12 (t) x1P (t) A (t)
11 1
x21 (t) x22 (t) x2P (t)

x31 (t) x32 (t) x3P (t) A2 (t)

x41 (t) x42 (t) x4P (t)

ISU AV IZADA (t) = x51 (t) (5.5)

x52 (t) x5P (t) A3 (t)

x61 (t) x62 (t) x6P (t)
.. .. .. ..

. . . .

xM 11 (t) xM 12 (t) xM 1P (t)

xM 1 (t) xM 2 (t) xM P (t) AS (t)
O conjunto de reas sensveis formam os chamados spots sensveis (spots = [A1 (t), A2 (t),
, AS (t)]), os quais indicam a quantidade de substncias que podem ser monitorados
simultaneamente pelo sensor SPR, de modo que SP Ri (t,,) = AAna
i i (t,,). A
(t,,)/AAr
forma de agrupar as linhas que compem uma Ai pode ser expressa pela imagem mdia do
intervalo de linhas utilizados:

xa1 (t) xa2 (t) xaP (t)
1 X .. ..

Ai (t) = . . (5.6)
N
xb1 (t) xb2 (t) xbP (t)
em que N o total de pixels no intervalo [a b]. O uso de multispots mesmo que haja uma
nica regio fsica sensvel no sensor SPR, melhora a relao sinal-rudo [81] e a resposta
dinmica [82] do instrumento SPR.
Relao pixel vs. ngulo e pixel vs. comprimento de onda

A obteno da resposta angular e/ou espectral do sensor SPR exige a correspondncia entre
os pixels do sensor de imagem e os valores de ngulo e/ou comprimento de onda. Para obter
o espectro angular (modo AIM), primeiro anota-se o valor do pixel que detm o mnimo de
reetividade na condio de clula molhada. Em seguida, sabendo que o intervalo angular
do PPBIO de 62 a 73 , utilizando o OP em que o ngulo de ressonncia ocorre em 68 a
relao pixel vs. ngulo para o valor mnimo ocorrendo no pixel 730 pode ser expressa pela
seguinte equao:
(p) = 2 106 p2 + 0,0119p + 57,893. (5.7)
Para o modo WIM, a relao pixel vs. comprimento de onda fornecida pelo espectrmetro
segue a expresso:
(p) = I + C1 p + C2 p2 + C3 p3 , (5.8)
em que I o comprimento de onda do pixel zero e C1 , C2 e C3 so os coecientes do

polinmio obtidos no processo de calibrao do espectrmetro e disponibilizados no manual
do equipamento [79].
A relao pixel vs. ngulo/comprimento de onda empregada para compensar desali-
nhamentos mecnicos no hardware do sensor. Na situao em que a fonte de luz, ou sensor
de imagem, ou mesmo o prprio prisma, no estejam corretamente alinhados os feixes de
entrada (Xi) e/ou sada (X8), ver Figura 3.4, no sero perpendiculares a base do prisma,
alterando os valores dos ngulos/comprimentos de onda de sada capturados pelo sensor de
imagem, e consequentemente, as posies de R e R .
Deteco do valor mnimo e sensorgrama

Para a extrao do valor mnimo da curva SPR que representa o ngulo/comprimento de
onda de ressonncia, podem ser utilizadas diferentes tcnicas de processamento. Dentre
as tcnicas mais empregadas encontram-se o ajuste polinmial e o clculo do centride
[69, 83, 84]. O ajuste polinomial consiste em aproximar a curva SPR, ou a regio prxima
ao mnimo da curva, a um polinmio de grau n. O valor mnimo do polinmio ento
calculado atravs da primeira derivada, tal que:
d d
P ()=R = 0 ou P ()=R = 0. (5.9)
d d
O valor mnimo tambm pode ser considerado como sendo o centro geomtrico (ou
centride) da curva SPR. A tcnica aplicada a valores que esto abaixo de um limiar pr-
estabelecido, conhecido como linha base (LT ). Assim, para uma curva SPR com N pontos,
o valor do centride calculado para os pontos com valores de intensidade abaixo da linha
base da forma: PN
(pi (t) LT )i
C(t) = Pi=1
N
, (5.10)
i=1 (pi (t) LT )
em que pi representa o valor do ponto i da curva SPR.
A apresentao do valor de magnitude dos parmetros R , R , n3 e F W HM , apresen-
tada em um grco versus o tempo, grco este denominado de sensorgrama. O sensorgrama
um grco que mostra a evoluo temporal de um determinado parmetro de interesse.
5.1 Protocolo experimental
Para vericar a variao nos valores de ressonncia (sensibilidade, largura, comprimento de

onda e ngulo plasmnico), testes com ligaes reversveis e irreversveis foram realizados
em uma srie de experimentos com camadas metlicas de ouro, prata, cobre e alumnio
depositada nos polmeros TOPAS, PMMA, PC e no vidro BK7.
As substncias em anlise diferem de acordo com a camada metlica testada. Para os
lmes de prata, cobre e alumnio as substncias em anlise so gua deionizada e degaseica
(H2 O), solues de alta e baixa concentrao de etanol e soluo da protena BSA (Albumina
Srica Bovina) diluda em gua, a concentrao de 0,1 mg/ml. Para os lmes de ouro,
gua deionizada e degaseica, solues de PBS (Phosphate Buered Saline) e hipoclorito
(Hypo.) e soluo da protena BSA diluda em PBS foram multiplexadas na entrada do
sistema microudico.
O protocolo experimental consiste em inicialmente capturar a clula seca, ou seja, cap-
turar a resposta do sensor quando o ar est em contato com a superfcie sensvel, obtendo
uma curva SPR quase estacionrio no valor 1, uma vez que o sinal atual referente ao ar,
isto , ISU
Ana
AV IZADA = ISU AV IZADA . No momento em que a gua (H2 O) atinge a superfcie
Ar
sensvel do prisma, instante denominado de clula molhada (resposta do sensor quando se

tem gua por sobre a camada metlica), excita-se os SPs e com isso presencia-se uma queda
acentuada na curva SPR. Nesse momento, inicia-se o monitoramento do valor mnimo da
curva, e atravs dele, calcula-se os demais parmetros de interesse. Ao trocar de substncia,
saindo da condio de clula molhada para a prxima soluo, o valor do ndice de refra-
o aumenta. Em seguida, retorna-se clula molhada e troca-se para a segunda soluo.
Novamente retorna-se para a situao de clula molhada. Repete-se esse processo at que
todas as substncias sejam analisadas. Os procedimentos descritos compem o chamado
ciclo de teste, ou ensaio de teste, e so utilizados para a quanticao das variaes de R ,
R , n3 e F W HM (largura). Repetiram-se os experimentos por vrios ciclos (5 vezes) e
os resultados foram equivalentes, o que atesta a consistncia das respostas e garante uma
reprodutibilidade de experimentos. Os procedimentos descritos so aplicados nos modos
AIM e WIM. Em sntese, o protocolo experimental possui as seguintes etapas:
Inicialmente, calibra-se o dispositivo com um sinal de referncia: resposta do disposi-

tivo quando o Ar est em contato com a superfcie sensvel do prisma (clula seca );
Em seguida, captura-se a resposta do dispositivo quando se tem gua por sobre a

camada metlica do prisma (clula molhada );
Monitora-se a reetividade para a mudana de substncia que est presente na clula

de uxo (sinal atual), calculando a resposta SPR;
Apresenta-se os sensorgramas (evoluo temporal) dos parmetros de interesse, ex-

trados a partir da curva SPR;
Calcula-se a sensibilidade para ambos os modos de operao.
Controle de temperatura
A temperatura ambiente para realizao dos experimentos foi ajustada para 231 C de
forma a minimizar os efeitos trmicos nas amostras e nos componentes do sensor. O acesso
ao ambiente foi controlado para evitar utuaes trmicas no momento dos experimentos.
5.2 Resultados experimentais: curvas SPRs
Nessa sesso so apresentadas as curvas SPR, terica e experimental, da gua para as

diferentes multicamadas.
A Figura 5.1 apresenta as curvas SPRs para lmes de prata. No modo WIM, todos os
substratos apresentam curvas com valores de R prximos aos das curvas tericas. PMMA
Figura 5.1: Curvas SPRs tericas e experimentais para lmes de prata com 50 nm de
espessura, depositado nos substratos BK7, TOPAS, PMMA e PC nos modos WIM (os
quatro grcos superirores) e AIM (os quatro grcos inferiores).
Figura 5.2: Curvas SPRs tericas e experimentais para lmes de ouro com 50 nm de
espessura, depositado nos substratos BK7, TOPAS, PMMA e PC nos modos WIM (superior)
e AIM (inferior).
e PC apresentaram baixos valores contraste/profundidade. No modo AIM, BK7 e PMMA

apresentaram curvas com maior contraste/profundidade. TOPAS apresentou a pior curva
SPR. Vale ressaltar que o valor de R experimental para o par TOPAS/Ag foi de 565,8 nm e
o diodo laser mais prximo a esse valor, disponvel para utilizao, era de =637 nm. Desse
modo, o Ponto de Operao ideal no foi obtido e a excitao dos SP foi comprometida.
A Figura 5.2 apresenta as curvas SPRs da gua para lmes de ouro. No modo WIM,
as curvas SPR apresentaram contraste/profundidades de BK7-55%, TOPAS-40%, PMMA-
35% e PC-37,5% em relao aos valores tericos. BK7 e PC apresentam valores de R mais
prximos aos valores previstos com modelo de Fresnel do que TOPAS e PMMA. As curvas
para BK7 e PMMA apresentam picos prximo a 510 nm, devido s imperfeies do lme
metlicos (arranhes), as quais fornecerem momento fsico aos ftons incidentes sucente
para que haja o acoplamento com a SPP. Para maiores detalhes consultar [33, 85, 86]. No
modo AIM, as curvas apresentam bom contraste/profundidade para BK7, aproximadamente
78%, moderado para PMMA (44%) e baixo para o TOPAS e PC (27%). Os valores de
FWHM para BK7 e PMMA so semelhantes aos valores tericos.
As curvas SPRs da gua para lmes de cobre encontram-se na Figura 5.3. As curvas do
modo WIM assemelham-se as curvas tericas em termos de FWHM e R . As curvas AIM
foram obtidos com os diodos lasers cujos comprimentos de onda mais se aproximavam aos
valores de R obtidos no modo WIM. BK7 possui valor de contraste/profundidade bastante
acentuado, enquanto os prismas polimricos apresentaram valores moderados/baixos.
Por m, a Figura 5.4 apresenta as curvas SPRs da gua para lmes de alumnio. O
efeito do SPR splitting no foi obtido devido ao perl espectral da fonte luz utilizada, como
mencionado no Captulo 3. BK7 e PMMA apresenta bons valores de contraste e TOPAS
valor moderado. Como esperado, PC possui baixa profundidade/contraste da curva SPR
caracterizando uma fraca excitao dos plasmas de superfcie. No modo AIM, BK7 apresenta
curva SPR com boa profundidade.
Consideraes: teoria experimento

As distores de profundidade, largura e posio do mnimo entre as curvas experimentais
e tericas se devem a caractersticas inerentes ao processo de fabricao dos prismas a
Figura 5.3: Curvas SPRs tericas e experimentais para lmes de cobre com 40 nm de
e AIM (inferior).
Figura 5.4: Curvas SPRs tericas e experimentais para lmes de alumnio com 20 nm de
e AIM (inferior).
exemplo da rugosidade e da birrefringncia, das perdas de qualidade da imagem devido

as reexes nos espelhos das superfcies laterais inclinadas e a arranhes na superfcie de
metal. Alm disso, a diferena entre a faixa espectral da fonte de luz usada na obteno das
curvas tericas e a utilizada nos experimentos tambm contribuem para essas distores.
Desvios do ngulo de ressonncia do OP no modo AIM devido a essa diferena espectral,
so corrigidos na relao pixel vs. ngulo. Ademais, fatores como absoro, espalhamento,
radiao e transferncia de calor, no computados no modelo terico, afetam a resposta
dos sensores SPR. De todo modo, as previses tericas so imprescindveis para a correta
construo do sensor, revelando o ponto de operao de cada arranjo multicamada.
Para contemplar estes fatores na modelagem a m de melhorar a aderncia entre teoria e
experimentos, pode-se expandir o modelo de Fresnel de modo que tais fatores complementem
a AF como termos aditivos, a exemplo da rugosidade [60], e/ou que o efeito de cada fator
seja acrescentado na AF em termos de sobreposies, a exemplo da convoluo da resposta
SPR para os comprimentos de onda presentes no espectro da fonte de luz.
5.3 Resultados experimentais: sensorgramas
Nessa sesso so apresentados os sensorgramas da aplicao do protocolo experimental para

as diferentes multicamadas.
Um exemplo de sensorgrama apresentado na Figura 5.5. Na gura ilustrado o ciclo ex-
perimental para as substncias na seguinte ordem H2 O BSA H2 O Hypo. H2 O.
A mudana da substncia em contato com a superfcie sensvel do PPBIO, provoca uma
alterao no parmetro de interesse. A anlise de Fresnel fornece os valores do parmetro
investigado apenas nas regies de regime permanente, no contemplando os aspectos envol-
vidos durante a transio entre as substncias, situao em que fraes de duas amostras
encontram-se simultaneamente em contato com o sensor.
Em experimentos com ligaes irreversveis, tipicamente as fases de um sensorgrama
compreendem a linha base: calibrao do sensor para uma substncia conhecida; adsor-
o: monolayer: regime permanente, saturao
incio da injeo da soluo de protena;
no valor do parmetro de interesse; dissociao: remoo das molculas em suspenso que
no aderiram superfcie metlica; lavagem: injeo de substncia para limpar a superfcie
Figura 5.5: Exemplo de um sensorgrama para o ciclo H2 O BSA H2 O Hypo.

H2 O. Destaque para as fases de um sensorgrama: linha base, adsoro, monolayer, dissoci-
ao, lavagem e regenerao.
e remover as molculas xadas na fase de adsoro e regenerao: retorno para a condio

inicial de calibrao.
O uso sequencial do transdutor por vrios ciclos experimentais de adsoro, dissociao,
limpeza e regenerao provoca alteraes e desgastes na superfcie metlica. Assim, os tem-
pos necessrios para que se atinja o regime permanente para uma determinada substncia
pode ser diferente a medida em que se vai utilizando o sensor.
Por m, menciona-se que a resoluo instrumental do sensor SPR medida atravs
do desvio padro de uma regio do sensorgrama que esteja no regime permanente. Dessa
forma, o valor da resoluo instrumental quantica a qualidade da resposta de toda a
instrumentao utilizada na construo do sensor.
Sensorgramas para lmes de prata

Os primeiros experimentos foram realizados em prismas metalizados com lmes de prata e
os sensorgramas encontram-se nas Figuras 5.6, 5.7, 5.8 e 5.9.
Os experimentos foram realizados no mesmo dia da deposio do metal para minimizar
o efeito da oxidao da camada metlica. Os valores experimentais da variao do ndice de
refrao, do ngulo de ressonncia no modo AIM e do comprimento de onda de ressonncia
no modo WIM para cada soluo, usando o substrato BK7, esto apresentados nos sensor-
gramas da Figura 5.6. Um resumo dos resultados experimentais encontram-se na Tabela 5.1.
O ciclo experimental seguiu a sequncia H2 O Etanol25% H2 O Etanol12,5%

H2 O BSA H2 O Etanol25% H2 O para o modo AIM e H2 O Etanol25%
H2 O Etanol12,5% H2 O BSA H2 O Etanol12,5% H2 O no modo WIM.
Figura 5.6: Sensorgramas obtidos nos modos AIM (verde) e WIM (azul) para R (verde
superior), n3 (R ) (verde inferior), R (azul superior) e n3 (R ) (azul inferior) para lme
de prata depositado no substrato BK7. Algoritmos de deteco do valor mnimo, mul-
ticamada, comprimento de onda, ngulo e substncias indicados na gura. Experimento
realizado primeiro no modo WIM, em seguida, o mesmo prisma utilizado no modo AIM.
Ciclo experimental iniciando com H2 O, depois Etanol de alta-concentrao, retorno para
H2 O, em seguida Etanol de baixa-concentrao e retorno para H2 O; por m soluo de
BSA, remoo de excesso com H2 O, limpeza com Etanol e retorno para H2 O.
Tabela 5.1: Valores de R , R , n3 , S , S , D , D e Resoluo Instrumental para o par

BK7/Ag nos modos WIM e AIM.
Ag - BK7
Substncia WIM AIM
R (nm) n3 (RIU) R ( ) n3 (RIU)
H2 O 660,0 - 67,99 -
Etanol 25% 731,3 1,20102 69,04 1,144102
Etanol 12,5% 678,20 3,593103 68,41 4,514103
BSA 669,30 1,863103 68,3 3,373103
Desempenho
Sensibilidade S =5.333,01 nm/RIU S =91,26 /RIU
Resoluo WIM: R =0,1499 nm AIM: R = 0,0031
Instrumental com n=3,0739105 RIU com n=2,3123105 RIU
Detectividade D =3,555104 RIU 1 D =2,943104 RIU 1
A mudana H2 O Etanol25% signica uma variao no valor de n3 de 1,2102 RIU,

o que acarreta uma variao no comprimento de onda de R =71,3 nm. Para uma variao
no ndice de refrao de n3 = 1,5 102 RIU, a AF indica uma variao de 71,3 nm em
R (ver seo 3.2.4), muito prxima ao valor obtido experimentalmente. No modo AIM, a
mudana H2 O Etanol25% implica em n3 = 1,14 102 RIU, com R =1,05 . Para
uma variao de 1,0 102 RIU no ndice de refrao, a AF no modo AIM fornece uma
variao de 1,03
no valor de R .
A injeo de protena na superfcie sensvel do PPBIO resulta em um aumento contnuo
da variao do ndice de refrao, at que se atinja a saturao. Esse momento denominado
de monolayer ou monocamada irreversvel. A transio BSA H2 O remove apenas as
molculas que no xaram superfcie metlica, resultando em o valor de n3 maior que o
da gua. Caso no ocorra a xao de nenhuma molcula, devido a oxidao da superfcie
metlica por exemplo, a mudana BSA H2 O no resulta em alterao de n3 e com isso,
retorna-se a situao de clula molhada.
Os valores de sensibilidade ptica alcanveis foram de S =5.333,01 nm/RIU e S =91,26
/RIU. Se comparados aos valores tericos apresentados nas Figuras 3.43 (WIM) e 3.45
(AIM) os valores experimentais representam 91,94% e 69,22% destes valores respectiva-
mente. A detectividade mostra que o sensor composto pelo par BK7/Ag, possui melhor
desempenho operando no modo WIM do que no modo AIM nas condies investigadas.
Os resultados para lmes de prata depositados nos substratos TOPAS, PMMA e PC
esto sumarizados nas Tabelas 5.2, 5.3 e 5.4. Assim como nos resultados com BK7, o modo
WIM apresentou desempenho superior ao modo AIM para os polmeros TOPAS e PC. O
sensor com PPBIO de PMMA foi o nico a apresentar melhor desempenho no AIM do
que no modo espectral. A congurao PMMA/Ag no modo AIM, tambm apresentou os
menores valores na variao de R para uma determinada substncia. Tais resultados foram
obtidos com o algoritmo que combina o mtodo do centride e do polinmio, exigindo maior
complexidade na extrao do valor mnimo. Vale salientar que as Figuras 5.6, 5.7, 5.8 e
5.9 apresentam os sensorgramas para o mtodo de extrao do mnimo que apresentou os
melhores resultados para o respectivo par substrato/metal.
A resoluo instrumental foi medida no regime permanente da soluo Etanol12,5% para
os dois modos de operao. As utuaes nos valores de R no regime permanente foram
de aproximadamente 0,15 nm, semelhante ao valor de h i=0,1 nm presente na Tabela

3.1. Para o modo AIM, a resoluo instrumental no regime permanente foi de 0,0031 ,
um valor de 15% a menos na qualidade da resposta do sensor de BK7/Ag em relao ao
comportamento esperado da instrumentao. Assim, no modo angular o limite de deteco
para variaes de ndice de refrao foi na ordem de 2,3105 RIU, resultado semelhante
aos encontrados na literatura [1, 4, 6, 8, 14, 83, 87].
de prata depositado no substrato TOPAS.

TOPAS/Ag nos modos WIM e AIM.
Ag - TOPAS
Substncia WIM AIM
R (nm) n3 (RIU)
R ( ) n3 (RIU)
H2 O 565,8 - 67,99 -
Etanol 25% 609,9 1,320102 69,07 1,032102
Etanol 12,5% - - 68,61 5,804103
Etanol 6,25% 571 1,852103 - -
BSA 571,6 2,064103 68,14 1,483103
Desempenho
de prata depositado no substrato PMMA. Algoritmos de deteco do valor mnimo, mul-

PMMA/Ag nos modos WIM e AIM.
Ag - PMMA
Substncia WIM AIM
R (nm) n3 (RIU)
R ( ) n3 (RIU)
H2 O 658,7 - 68,02 -
Etanol 6,25% 666,1 1,504103 68,25 2,401103
Etanol 1,5% 661,5 5,576104 68,07 4,931104
BSA 665,8 1,475103 68,14 1,289103
Desempenho
superior), n3 (R ) (verde inferior), R (azul superior) e n3 (R ) (azul inferior) para lme de
prata depositado no substrato PC. Algoritmos de deteco do valor mnimo, multicamada,
comprimento de onda, ngulo e substncias indicados na gura. Experimento realizado
primeiro no modo WIM, em seguida, o mesmo prisma utilizado no modo AIM. Ciclo
experimental iniciando com H2 O, depois Etanol de alta-concentrao, retorno para H2 O,
em seguida Etanol de baixa-concentrao e retorno para H2 O; por m soluo de BSA,
remoo de excesso com H2 O, limpeza com Etanol e retorno para H2 O.

PC/Ag nos modos WIM e AIM.
Ag - PC
Substncia WIM AIM
R (nm) n3 (RIU)
R ( ) n3 (RIU)
H2 O 505,4 - 68,19 -
Etanol 25% 528,2 1,277102 68,46 3,002103
Etanol 12,5% 510,5 3,320103 68,32 1,397103
BSA 508,1 1,781103 68,26 7,278104
Desempenho
Sensorgramas para lmes de ouro

A resposta do sensor SPR para lmes de ouro, encontram-se nas Figuras 5.10, 5.11, 5.12 e
5.13. Os valores experimentais de n3 , R (AIM) e R (WIM) para cada soluo, usando o
substrato BK7, esto apresentados nos sensorgramas da Figura 5.10. O ciclo experimental
para ambos os modos seguiu a sequncia:
AIM e WIM: H2 O Hypo. H2 O P BS H2 O BSA H2 O Hypo.
H2 O.
A transio H2 O Hypo. ocasionou um valor de R igual a 20,4 nm, acarretando
uma variao de ndice de refrao de n3 = 6,047 103 RIU. No modo AIM, observou-
se R =0,78 com n3 = 6,416 103 RIU. Um resumo dos resultados experimentais
encontram-se na Tabela 5.5.
A formao da monocamada irreversvel com a injeo da protena BSA e posterior
lavagem, bastante perceptvel em lmes de ouro. A variao de n3 para a monolayer de
BSA foi maior para o sensor operando no modo WIM. Esse comportamento pode ter sido
ocasionado pela deteriorao da camada metlica, uma vez que os primeiros experimentos
foram realizados no modo espectral e s ento no modo AIM.
Os valores de sensibilidade ptica alcanveis foram de S =3.293,49 nm/RIU, no modo
WIM e S =119,69 /RIU, no modo AIM. O desempenho no modo espectral moderada-
mente inferior se comparado aos valores tericos (5.323,33 nm/RIU) representando 61,86%.
J o modo angular apresentou desempenho de 92,66% em comparao ao desempenho pre-
visto (129,17 /RIU). A detectividade mostra que o sensor composto pelo par BK7/Au,
possui melhor desempenho operando no modo AIM do que no modo WIM nas condies
investigadas, mesmo o desempenho para ligaes irreversveis(BSA) tendo sido superior no
modo espectral.
Os resultados para lmes de ouro depositados nos substratos TOPAS, PMMA e PC
esto sumarizados nas Tabelas 5.6, 5.7 e 5.8. Assim como nos resultados com BK7, o
TOPAS tambm apresenta desempenho superior no modo AIM. Filmes de ouro depositado
no PMMA apresentou os melhores resultados no modo WIM. Os resultados conrmam
a boa adeso de BSA em superfcies de ouro. A multicamada PMMA/Ouro apresentou
praticamente o mesmo desempenho para ambos os modos de operao.
de ouro depositado no substratos BK7. Algoritmos de deteco do valor mnimo, mul-
Ciclo experimental iniciando com H2 O, depois Hypo., retorno para H2 O; em seguida P BS
e retorno para H2 O; por m soluo de BSA, remoo de excesso com H2 O, limpeza com
Hypo e retorno para H2 O.

BK7/Au nos modos WIM e AIM.
Au - BK7
Substncia WIM AIM
R (nm) n3 (RIU)
R ( ) n3 (RIU)
H2 O 683,6 - 68,14 -
Hypo. 704 6,047103 68,92 6,416103
PBS 687,4 1,337103 68,35 1,767103
BSA 697,3 4,157103 68,5 3,034103
Desempenho
de ouro depositado no substrato TOPAS. Algoritmos de deteco do valor mnimo, mul-

TOPAS/Au nos modos WIM e AIM.
Au - TOPAS
Substncia WIM AIM
R (nm) n3 (RIU)
R ( ) n3 (RIU)
H2 O 651,1 - 68,69 -
Hypo. 663,4 5,662103 69,12 3,342103
PBS 654 1,750103 68,77 5,998104
BSA 662,2 5,100103 68,94 1,915103
Desempenho
de ouro depositado no substrato PMMA. Algoritmos de deteco do valor mnimo, mul-

PMMA/Au nos modos WIM e AIM.
Au - PMMA
Substncia WIM AIM
R (nm) n3 (RIU)
R ( ) n3 (RIU)
H2 O 712,8 - 68,68 -
Hypo. 734,3 4,921103 69,35 5,468103
PBS 717,6 9,721104 68,76 6,348104
BSA 728,6 3,229103 68,82 1,153103
Desempenho
ouro depositado no substrato PC. Algoritmos de deteco do valor mnimo, multicamada,
experimental iniciando com H2 O, depois Hypo., retorno para H2 O; em seguida P BS e
retorno para H2 O; por m soluo de BSA, remoo de excesso com H2 O, limpeza com

PC/Au nos modos WIM e AIM.
Au - PC
Substncia WIM AIM
R (nm) n3 (RIU)
R ( ) n3 (RIU)
H2 O 596,1 - 67,99 -
Hypo. 607,3 8,840103 68,72 5,311103
PBS 598,9 2,222103 68,06 5,500104
BSA 606,2 8,062103 68,17 1,3692103
Desempenho
Sensorgramas para lmes de cobre

As Figuras 5.14, 5.15, 5.16 e 5.17 apresentam os sensorgramas do sensor SPR para lmes
de cobre. Os lmes de cobre mostraram-se muito suscetveis oxidao, impossibilitando a
obteno do sensorgrama. Desse modo, uma na camada de ouro (5 nm) foi depositada
para evitar a formao de uma camada de oxidao. Tal espessura no altera a resposta
dos lmes de cobre e a comparao com os valores tericos continua vlida.
Para o PPBIO de BK7, as variaes nos valores de R , R e n3 encontram-se na
Figura 5.14, com um resumo dos resultados na Tabela 5.9. O ciclo experimental seguiu as
sequncias, AIM e WIM: H2 O Etanol25% H2 O Etanol12,5% H2 O BSA
H2 O Etanol25% H2 O
As transies H2 O Etanol25% e H2 O Etanol12,5% ocasionaram valores de R
igual a 34,6 nm e 13,9 nm, acarretando uma variao de ndice de refrao de n3 =
8,014 103 RIU e n3 = 3,498 103 RIU, respectivamente. No modo AIM, para
essas transies observou-se R =0,79 e R =0,37 com n3 = 6,064 103 RIU e
n3 = 2,685 103 RIU, respectivamente.
Os lmes de cobre no apresentam formao da monocamada irreversvel com a injeo
da protena BSA e posterior lavagem. A variao de n3 para a injeo da soluo de BSA
foi de n3 = 2,674 105 RIU no modo WIM e n3 = 7,106 104 RIU no modo AIM.
O valor de sensibilidade ptica no modo espectral S foi de 4.056,88 nm/RIU, o que
representa 72,03% do valor terico mdio (5.631,67 nm/RIU). No modo angular, o valor
S =130,69 /RIU maior do que o S terico (127,83 /RIU) pelo fato do comprimento de
onda do diodo laser utilizado no ser o mesmo do OP terico. Os valores de detectividade
apontam para um melhor desempenho do sensor operando no modo WIM.
Um resumo dos resultados para lmes de cobre depositados nos substratos TOPAS,
PMMA e PC esto sumarizados nas Tabelas 5.10, 5.11 e 5.12. TOPAS e PMMA apresentam
desempenho superior no modo WIM, com o par TOPAS/Cu apresentando limite de deteco
de n3 na ordem de 106 RIU. Filmes de cobre depositados no polmero PC apresentaram
formao de camada de oxidao, caracterizada pela linha base crescente no sensorgrama do
modo WIM. A excitao dos SP no modo AIM para o par PC/Cu foi realizada utilizando
um LED como fonte de luz ao invs de um diodo laser.
de cobre depositado no substratos BK7. Algoritmos de deteco do valor mnimo, mul-

BK7/Cu nos modos WIM e AIM.
Cu - BK7
Substncia WIM AIM
R (nm) n3 (RIU)
R ( ) n3 (RIU)
H2 O 709,2 - 67,75 -
Etanol 25% 743,8 8,014103 68,54 6,064103
Etanol 12,5% 723,1 3,498103 68,12 2,685103
BSA 710,9 4,382104 67,8 3,244104
Desempenho
de cobre depositado no substrato TOPAS. Algoritmos de deteco do valor mnimo, mul-

TOPAS/Cu nos modos WIM e AIM.
Cu - TOPAS
Substncia WIM AIM
R (nm) n3 (RIU)
R ( ) n3 (RIU)
H2 O 675,0 - 68,23 -
Etanol 25% 694,6 2,191104 68,71 3,840103
Etanol 12,5% 685,4 1,262104 68,57 2,716103
BSA 677,0 2,674105 68,33 7,106104
Desempenho
de cobre depositado no substrato PMMA. Algoritmos de deteco do valor mnimo, mul-

PMMA/Cu nos modos WIM e AIM.
Cu - PMMA
Substncia WIM AIM
R (nm) n3 (RIU)
R ( ) n3 (RIU)
H2 O 728,5 - 68,35 -
Etanol 25% 761,6 6,242103 69,25 7,377103
Etanol 12,5% 747,9 3,892103 68,72 3,091103
BSA 731,7 7,066104 68,42 9,866104
Desempenho
cobre depositado no substrato PC. Algoritmos de deteco do valor mnimo, multicamada,
experimental iniciando com H2 O, depois Etanol de alta-concentrao, retorno para H2 O,
em seguida Etanol de baixa-concentrao e retorno para H2 O; por m soluo de BSA,
remoo de excesso com H2 O, limpeza com Etanol e retorno para H2 O.

PC/Cu nos modos WIM e AIM.
Cu - PC
Substncia WIM AIM
R (nm) n3 (RIU)
R ( ) n3 (RIU)
H2 O 604,7 - 67,59 -
Etanol 25% 619,9 7,943104 67,81 1,883103
Etanol 12,5% 613,0 4,626104 67,81 3,665104
BSA 609,3 2,779104 67,61 2,383104
Desempenho
Sensorgramas para lmes de alumno

Por ltimo, os sensorgramas com lmes de alumnio foram obtidos e esto apresentados nas
Figuras 5.18, 5.19, 5.20 e 5.21 e sumarizados nas tabelas 5.13, 5.14, 5.15 e 5.16. O ciclo
experimental seguiu a sequncia:
WIM e AIM: H2 O Etanol25% H2 O Etanol12,5% H2 O BSA H2 O
Etanol12,5% H2 O
Para o substrato de BK7, a mudana H2 O Etanol25% signica uma variao de
n3 =1,036103 RIU, o que acarreta uma variao no comprimento de onda de R =20,9 nm.
Para uma variao no ndice de refrao de n3 = 1,0 103 RIU, a AF indica uma va-
riao de 39,6 nm em R . No modo AIM, a mudana H2 O Etanol25% implica em
n3 = 1,772 103 RIU, com R =0,2 . Para uma variao de 1,5 103 RIU no ndice
de refrao, a AF no modo AIM fornece uma variao de 1,58 no valor de R .
A injeo de protena na superfcie alumnio no acarreta em formao de monocamada
irreversvel. Em particular, a interao entre BSA e o lme de Al apresentou um compor-
tamento diferente dos demais metais no qual observa-se uma diminuio no valor da linha
base (clula molhada) aps a remoo da soluo de BSA com H2 O.
A formao da camada de oxidao no caracterizou empecilhos para obteno do sensor-
grama. Dado o comportamento no linear de S , o valor de sensibilidade ptica alcanvel
para pequenas variaes de n3 (3 < 104 RIU) foi de 1.638,83 nm/RIU.
No modo AIM, o valor de S foi de 118,60 /RIU, aproximadamente 79% do valor terico
(148,83 /RIU). A detectividade mostra que o sensor composto pelo par BK7/Al, possui
melhor desempenho operando no modo WIM nas condies investigadas.
Os resultados para lmes de alumnio depositados nos substratos PMMA tambm apre-
sentaram uma alterao no valor da linha base aps a interao com BSA. Em substrato de
TOPAS tal comportamento no foi observado e nota-se uma pequena adeso de protena
aps a lavagem. As diferenas observadas no comportamento da adeso de BSA podem
ser originadas devido a uma maior/menor intensidade na formao e Al2 O3 . O par PC/Al
no apresentou resultados satisfatrios, como previsto pela AF, revelando baixo valor de
resoluo instrumental, impossibilitando a distino das amostras a partir de R . Assim
como nos resultados com BK7, o modo WIM apresentou desempenho superior ao modo
AIM para os polmeros TOPAS e PMMA.
de alumnio depositado no substrato BK7. Algoritmos de deteco do valor mnimo,
multicamada, comprimento de onda, ngulo e substncias indicados na gura. Experimento

BK7/Al nos modos WIM e AIM.
Al - BK7
Substncia WIM AIM
R (nm) n3 (RIU)
R ( ) n3 (RIU)
H2 O 582,8 - 67,81 -
Etanol 25% 603,7 1,036103 68,01 1,772103
Etanol 12,5% 591,7 4,571104 67,9 7,239104
BSA 584,1 7,030105 67,83 6,591105
Desempenho
de alumnio depositado no substrato TOPAS. Algoritmos de deteco do valor mnimo,

TOPAS/Al nos modos WIM e AIM.
Al - TOPAS
Substncia WIM AIM
R (nm) n3 (RIU)
R ( ) n3 (RIU)
H2 O 537,7 - 67,95 -
Etanol 25% 545,8 5,217104 68,13 1,596103
Etanol 12,5% 541,1 2,231104 68,01 5,018104
BSA 538,1 4,112105 67,96 2,195105
Desempenho
Sensibilidade S =444,85 nm/RIU S =11,54 /RIU
de alumnio depositado no substrato PMMA. Algoritmos de deteco do valor mnimo,

PMMA/Al nos modos WIM e AIM.
Al - PMMA
Substncia WIM AIM
R (nm) n3 (RIU)
R ( ) n3 (RIU)
H2 O 614,8 - 68,17 -
Etanol 25% 663 1,167103 68,45 2,555103
Etanol 12,5% 629,4 3,855104 68,31 1,282103
BSA 617 5,895105 68,22 3,853104
Desempenho
Figura 5.21: Sensorgrama no modo WIM (azul) para R (azul superior) e n3 (R ) (azul
inferior) para lme de alumnio depositado no substrato PC. Algoritmos de deteco do
valor mnimo, multicamada, comprimento de onda, ngulo e substncias indicados na gura.
Tabela 5.16: Valores de R , n3 , S , D e Resoluo Instrumental para o par PC/Al no

modo WIM.
Al - PC
Substncia WIM AIM
R (nm) n3 (RIU) R ( ) n3 (RIU)

H2 O 568,5 - -
Etanol 6,5-25% 570 2,341104
Etanol 3,1-12,5% 569,6 5,458106
BSA
Desempenho
Sensibilidade S = - nm/RIU S = - /RIU
Resoluo WIM: R =8,6257 nm AIM: R =-
Instrumental com n = - RIU com n = - RIU
Detectividade D =- RIU 1 D =- RIU 1
5.4 Resumo
Neste captulo apresentou-se os resultados experimentais obtidos com os diferentes pares

substrato/metal. Ao todo, 16 combinaes de materiais foram investigadas nos modos
AIM e WIM, totalizando 32 experimentos. Aspectos sobre as etapas de processamento dos
dados foram apresentados. Descreveu-se o protocolo experimental utilizado. Em seguida,
as curvas SPRs para a gua deionizada e desgaseicada, os sensorgramas e as tabelas de
sumarizao foram apresentadas. Os resultados para a sensibilidade e detectividade dos
diferentes arranjos multicamadas encontram-se sumarizados no Apndice A.
Captulo 6
Concluso e trabalhos futuros
A tese apresenta um estudo sobre os principais aspectos no desenvolvimento do sistema

multicamadas de um sensor SPR e destaca os efeitos dos materiais na excitao dos plasmons
de superfcie. Dessa forma, possvel prever as condies necessrias para excitao dos
SPs, e assim, determinar os componentes ptico-eletrnicos necessrios construo de um
sensor SPR, bem como a qualidade do processamento para extrao dos parmetros de
interesse.
Investigou-se arranjos multicamadas com base no prisma polimrico (PPBIO) por este
propiciar a instrumentao de sensores SPR menos complexa e com menor custo. A inun-
cia da temperatura em cada etapa da metodologia do PPBIO foi discutida. Seu efeito no
comportamento do prisma indica que o controle da temperatura pode melhorar a qualidade
da resposta SPR, tendo em vista as consequentes mudanas na posio de entrada, no foco
e no ngulo detectado. Ademais, variaes de temperatura afetam a funo dieltrica dos
materiais que compem o dispositivo alterando os seus respectivos pontos de operao.
O Ponto de Operao (OP) um importante fator a ser considerado para nortear a cons-
truo do sensor. Primeiro porque alterando os materiais usados na excitao do fenmeno,
um novo ponto de operao deve ser escolhido para se atingir a condio de ressonncia.
O segundo aspecto est relacionado com a geometria do prisma, para um OP pr-denido
sero necessrias alteraes na geomtrica do prisma para manter o mesmo OP usando ma-
teriais diferentes. O novo parmetro apresentado para ajustes no OP e para calibrao
entre os modos AIM e WIM.
Captulo 6. Concluso e trabalhos futuros 105
Com o estudo computacional possvel identicar os pares substrato/metal que possuem

relativa signicncia e contribuio ao sensoriamento baseado na SPR. Existem diferenas
considerveis entre os diferentes modos de operao: um grande inconveniente para o WIM
em comparao com o AIM o fato de quase todos os metais apresentarem variao no-
linear de S para alteraes de n3 . Como consequncia, o sensor SPR ter uma resposta
linear apenas em um intervalo limitado, e portanto, uma anlise quantitativa e a determi-
nao precisa de n3 torna-se uma tarefa difcil.
A tese objetiva a construo de sensores baseado na SPR tradicional, isto , com a excita-
o dos SP em nos lmes-metlicos. Todavia, vale salientar que as diferentes conguraes
para excitao da SPR tambm diferem em relao a magnitude dos valores de sensibilidade
ptica S . Em uma ltima comparao, a Figura 6.1 apresenta o grco da faixa de variao
S para a LSPR, a SPR tradicional e a LRSPP em funo do comprimento de propagao
dos SPs. O grco ilustra que a LSPR possui os menores valores de sensibilidade, com
faixa de 50 nm/RIU< S >200 nm/RIU, com comprimento de propagao proprocional ao
tamanho das partculas. A SPR tradicional exibe uma boa performance, com valores entre
3000 nm/RIU< S >5000 nm/RIU, especialmente para o metais nobres. A LRSPP possui
excelente sensibilidade especialmente para lmes nos de Cu, com S 12000 nm/RIU [40].
Figura 6.1: Classicao dos trs modos de excitao (LSPR, SPR e LSPP) dos plasmons
de superfcie em funo do valor de S e do comprimento de propagao dos SP.
Em particular, na SPR tradicional a interface entre lmes nanomtricos de alumnio e

gua possuem propriedades pticas bastante incomuns. Em contraste com pelculas nas
de ouro, a disperso simtrica dos SP pode dividir-se em duas ou mais ressonncias coexis-
tentes, a depender do substrato dieltrico escolhido. Assim, com o uso de uma fonte de luz
apropriada e um algoritmo concebido adequadamente, este fenmeno permite determinar
de forma simultnea e independente o ndice de refrao e a espessura de uma camada imo-
bilizada na superfcie metlica, alm de suprimir a sensibilidade-cruzada. A formao da
camada de oxidao pode alterar o OP dos lmes de Al [88], todavia a formao de manchas
ou alterao de cor no foi perceptvel.
Finas camadas de ouro so indicadas para mediao de eventos biolgicos em solues
aquosas por serem inertes a formao de camada de oxidao. A excitao dos SP ocorrem
em comprimentos de onda no espectro visvel e em ngulos de fcil instrumentao. A
excitao dos SP em lmes de Au mostrou-se satisfatria em todos os substratos utilizados.
A prata fornece uma curva SPR ntida, isto , com boa profundidade/contraste de
penetrao e possuindo um baixo valor de FWHM. Passado alguns dias aps a deposio,
notou-se a formao de manchas e alterao na cor dos lmes de Ag, caracterizando uma
rpida formao de camada de oxidao. Solues a base de hipoclorito no so indicadas
para deteco com lmes de prata.
Os lmes de cobre apresentaram a maior fragilidade em relao a oxidao, com a forma-
o imediata de camada de oxidao quando em contato com soluo aquosa. Dessa forma,
a aplicao do protocolo experimental para construo do sensorgrama no foi possvel com
uma camada pura de cobre. Para obteno do sensorgrama uma na camada de ouro foi
depositada acima do lme de Cu para previnir a oxidao da camada metlica.
Testes de ligaes reversveis e irreversveis com solues de BSA foram realizados a m
de computar experimentalmente a sensibilidade e detectividade do prisma ptico operando
nos dois modos de interrogao. Em lmes de Au, as solues de BSA apresentaram maior
adeso em ambos os modos de interrogao. No houve adeso em lmes de Cu e Al.
Nos lmes de Ag, em geral, houve baixa adeso de BSA. O primeiro contato entre BSA
e a prata afeta a camada metlica interferindo na qualidade da adeso no segundo contato.
Desse modo, como os primeiros experimentos foram no modo WIM, a adeso da protena
no modo AIM cou prejudicada. No par PMMA/Ag operando no modo espectral, BSA
apresentou uma forte adeso.
Foram analisados as respostas de 16 pares substrato/metal nos modos AIM e WIM,
totalizando 32 possibilidades de sensores SPR. Dentre essas diversas combinaes, as res-
posta com BK7 oferecem bons resultados de sensibilidade, limite de detecco e valores de
profundidade/contraste da curva SPR. O uso de polmeros requer o tratamento trmico,
o qual foi mais efetivo em prismas de PMMA. E como previsto no estudo computacional,
o par PC/alumnio no indicado para o desenvolvimento de sensores SPR. No Apn-
dice A - Fabricao do PPBIO encontram-se sumarizados os valores de sensibilidade e
detectividades obtidos com as 32 possibilidades.
Com os resultados obtidos, o objetivo de construir e averiguar experimentalmente a
qualidade da excitao dos plasmons de superfcie em sensores SPR a base do PPBIO foi
alcanado. Todos os aspectos envolvidos no desenvolvimento de um sensor SPR foram
contemplados no trabalho, aspectos que vo da manufatura dos prismas at a programao
dos softwares para extrao dos parmetros.
6.1 Trabalhos futuros
Os resultados da tese perspectivam a continuidade do trabalho com o intuito de melhorar

a performance dos sensores desenvolvidos. Em um primeiro momento, as respostas dos
prismas polimricos necessitam de ajustes. Como observado atravs das curvas SPRs, a
baixa profundidade indica que a remoo do stress residual afetou a excitao dos SP.
Assim, um estudo mais aprofundado sobre o impacto da birrefringncia na qualidade da
resposta do sensor SPR pode ser realizado.
Em seguida, aspectos relativos a estrutura mecnica merecem ateno. O estudo, dese-
nho e impresso de peas para criar um dispositivo compacto, barato, de fcil manuteno e
com ajuste ideal (alinhamento mecnico) para excitao dos SP se enquadram nos trabalhos
futuros.
Nesse sentido, investigar alteraes na geometria do prisma tambm podem levar a
novos rearranjos na estrutura do sensor SPR. Como exemplo de estrutura alternativa, a
Figura 6.2 apresenta o PPBIO com a vantagem de a imagem SPR ser obtida a partir da
base superior, permitindo o posicionamento do detector de forma estratgica, facilitando
em alguns aspectos a instrumentao.
Como o uso da camada de ouro para proteo do lme de cobre no interferiu de forma
signicativa nos valores de R e R previstos na Anlise de Fresnel, estudos com camadas
Figura 6.2: Geometria alternativa para PPBIO.
bi-metlicas passam a ser mais um tpico de interesse. A qualidade da resposta de lmes

de ouro combinado com prata, cobre ou alumnio j foi iniciado, conforme trabalho apre-
sentado em congresso cientco [70]. Todavia, resultados experimentais e a anlise de mais
combinaes precisam ser realizadas.
O padro de desposio dos lmes metlicos pode ser investigado a m de estudar novas
formas de excitao, novos pontos de operao e novas tcnicas de processamento e extrao
dos parmetros de interesse. Um exemplo de padro de deposio est ilustrado na Figura
6.3. Depositando diferentes metais em diferentes partes da superfcie superior do PPBIO,
possvel a excitao em diferentes pontos de operao, podendo ser utilizado na calibrao
do sensor, na compensao do efeito da temperatura e eliminao da sensibilidade-cruzada.
Figura 6.3: Ilustrao que exemplica a alterao no padro de deposio da camada me-
tlica na superfcie do PPBIO.
Com o uso de um padro de deposio, outro aspecto que caracteriza um trabalho futuro
a investigao de multispot. Trabalhos j iniciados [82] apontam para uma melhora na
qualidade da resposta de um sensor SPR quando o processamento multispot empregado,

evitando a dependncia das substncias na transio entre os analitos por compensar os
defeitos no alinhamento mecnico entre os componentes pticos do sensor.
Outro trabalho imediato a investigao sobre o efeito do SPR splitting em lmes de
alumnio. O duplo valor mnimo obtido com o splitting SPR viabiliza a obteno dos valores
de ndices de refrao e espessura ao mesmo tempo.
Usar outros metais e substratos para excitao dos SPs ser uma outra possibilidade
de continuidade do presente trabalho. Conforme trabalho j iniciado [40] h uma srie de
pares substrato/metal que so viveis para o desenvolvimento de sensores SPR.
Entre outras possibilidades, naliza-se destacando que o desenvolvimento de sensores
com as formas de excitao localizada (LSPR) e de longo-alcance (LRSPP), o estudo sobre
os plasmons radiativos e sobre a adeso de protenas (BSA e Avidina por exemplo) em
diferentes camadas metlicas, alm do clculo dos parmetros cinticos de reaes qumicas
e o renamento do modelo terico tambm ensejam novos trabalhos.
Apndice A
Fabricao do PPBIO
Injeo
Os prismas foram manufaturados utilizando a mquina de injeo SEMERARO PPIS
50/30T. Como indicado na Figura A.1, a mquina de injeo possui ajustes de opera-
o os quais so regulados para cada polmero utilizado. Em seu funcionamento, os gros
do polmero so inseridos no funil e conduzidos ao cilindro de injeo. Uma rosca conduz
o polmero por este cilindro, que dotado de resistncias eltricas capazes de aquecer o
polmero tornando-o moldvel (uido), at o molde de injeo. O uido polimrico entra
na cavidade do molde e, instantaneamente, a parte extratora deslocada pressionando o
material.
Figura A.1: Estrutura de uma mquina de moldagem por injeo. Os valores representados
na imagem para o TOPAS 5013 so: TF = 100 C, T1 = 230 260 C, T2 = 240 260 C,
T3 = 250 280 C, T4 = 260 290 C e TN = TM = 240 300 C.
Apndice A. Fabricao do PPBIO 111
Para o TOPAS 5013, os valores de temperatura esto apresentados na Fig. A.1. A

presso de injeo para moldar o polmero TOPAS exercida pela frente da rosca deve ser de
500 a 1.100 bar (50 - 110 MPa), dependendo do tipo e capacidade da mquina, temperatura
do material, dimetro de abertura do bico de injeo, desenho do molde e lubricao. O
tempo de injeo, intervalo entre o instante em que a rosca comea seu avano at a presso
parar de agir, deve ser em torno de 10s. Tudo isso com uma velocidade de injeo em torno
de 50-150 mm/s.
Um resumo das caractersticas de injeo para os polmeros utilizados encontram-se na
Tabela A.1. Para cada polmero a mquina deve ser reajustada com os parmetros exigidos
por cada material. Como apresentado na tabela, todos os polmeros trabalham como molde
aquecido.
Tabela A.1: Propriedades de injeo dos polmeros utilizados.

Caractersticas de Injeo
ACRIGEL LEP100 PC HFD 1830 TOPAS 5013

temperatura de secagem = 85 C temperatura de secagem = 104 a 110 C temperatura de secagem = 100 C
tempo de secagem = 4hr tempo de secagem = 3 a 4hr (max.<24hr) tempo de secagem = 6hrs
temperatura traseira (rear) = 235 Temp. traseira (rear) = 238 a 282 C Temp. de alimentao(funil-TF) = 100 C
temperatura do meio = 245 C Temp. do meio = 249 a 293 C Zona 1 (T1) = 230 a 260 C
temperatura da frente = 240 C Temp. da frente = 260 a 304 C Zona 2 (T2) = 240 a 270 C
Zona 3 (T3) = 250 a 280 C
Zona 4 (T4) = 260 a 290 C
temperatura do bico(nozzle) = 235 C Temp. do bico(nozzle)= 254 a 299 C Temp. do bico(nozzle-TN) = 240 a 300 C
Temp. de derretimento(melt) = 110 C T. de derretimento(melt) = 260 a 304 C Temp. de derretimento(melt) = 137 C
temperatura do molde = 60 C temperatura do molde = 48.9 a 82.2 C Temp. do molde (TD) = 95 a 125 C
velocidade da rosca = - velocidade da rosca = 35 - 75 rpm velocidade da rosca = 50 - 200 rpm
Um comparativo entre os polmeros utilizados encontram-se na Tabela A.2. Os polmeros

escolhidos possuem altos valores de transmitncia e o PC possui o maior valor para a
constante de stress ptico, acarretando em altos ndices de birrefringncia.
Tabela A.2: Quadro comparativo de propriedades dos polmeros utilizados

TOPAS COC Policarbonato Acrlico
Propriedade Unidade
5013 (PC) (PMMA)
Transmisso da luz % 91,4 87-89 91-92
Absoro de gua % 0,01 0,2 0,3
Birrefringncia nm <20 <65 <20
Cte. stress ptico 10 /Pa -2 a -7
12
66 a 77 -4,5 a -4,8
ndice de refrao (670nm) 1,53 1,579 1,49
Coef. de expanso linear C
1
6105 710 5
6105
Molde
Para manufatura do PPBIO os polmeros foram injetados no molde usinado na CNC Har-
dinge XR600 5AX comercializada pela empresa Ergomat. O desenho do molde completo
encontra-se na Figura A.3. As etapas para construo do molde so:
Confeco do postio: Usinagem CNC das cavidades (prismas) e usinagem de eletro-

dos; Erudir as cavidades.
Porta molde: Usinagem do alojamento do postio e dos furos para refrigerao na

Placa Superior (placa P2); Usinagem do alojamento do anel de centragem e do bico
de injeo na Placa Inferior (placa P1); Usinagem do alojamento da bucha e canal de
injeo; Placa Suporte e placas extratoras, alm dos furos para os pinos extratores.
Usinagem dos itens complementares: Anel de centragem; Bucha de injeo; Bucha

do pino extrator (Torno e Fresa) e os Bicos de entrada e sada de gua para aqueci-
mento/resfriamento do molde.
Figura A.2: Imagem tridimensional ilustrando todas as partes (placas, postio e demais
itens) que compem o molde.
Polimento
O polimento melhora a excitao dos plasmons de superfcie, enfatizando a profundiade/contraste
da curva SPR, reduzindo as perdas de transmitncia. Alm disso, o uso de superfcies po-
lidas minimiza o aparecimento dos plasmons radiativos [33, 85, 86], os quais surgem na
exitao dos SPs em superfcies com elevados valores de rugossidade (>10 ).
Como apresentado na Figura A.3, exemplos de prismas de BK7 com superfcies contendo
muitos arranhes foram utilizados para excitao dos SPs e os resultados foram comparados
com prismas de TOPAS com superfcies contendo menos arranhes, i.e., mais polidas. Nota-
se a excitao simultnea dos SPs-radiativos e no-radiativos mais evidentes nas superfcies
no-polidas, devido principalmente ao ganho de momento dos ftons incidentes devido a
rugossidade da superfcie.
O processo de polimento dos prismas ocorreu em estgios de polimento na ordem de 5m,
3m, 1m e 0,3m, usando lixas de xido de alumnio e carboneto de silcio comercializadas
pela Thorlabs.
Figura A.3: Exemplo de curvas SPRs com (BK7-Ag-Etanol, BK7-Au e TOPAS-Au) e

sem (BK7-Ag-H2 O e TOPAS-Ag) excitao simultnea dos plasmons de superfcie e dos
plasmons-radiativos. Detalhe para as superfcies de prisma de BK7 (mais arranhes) e de
TOPAS (menos arranhes).
Annealing
A etapa nal da fabricao do PPBIO antes da deposio do lme metlico o tratamento
trmico, o annealing. Utilizou-se uma estufa para realizar o recozimento dos prisma. Deta-
lhes dos procedimentos e exemplos de prisma com e sem annealing encontram-se no Captulo
4 desse trabalho.
Os resultados da sensibilidade e detectividade obtidos com os prismas manufaturas e utili-

zados na construo do sensor SPR operando nos modos AIM e WIM encontram-se suma-
rizados na Figura A.4.
Figura A.4: Resumo dos valores de sensibilidade e detectividade tericos e experimentais

para os modos AIM e WIM.
Apndice B
Deposio de lmes nos
Os lmes metlicos foram depositados com o sistema de alto vcuo para a gerao de pelcu-
las nas Cryofox Explorer 600LT, comercializado pela empresa Polyteknik. Para deposio
do lme metlico, faz-se necessrio a limpeza da superfcie do prisma. O equipamento possi-
bilita o processo de deposio de lmes nos por meio das tcnicas de magnetron sputtering
e/ou por meio de e-beam.
Magnetron sputtering
A deposio catdica atravs da tcnica de Sputering um processo no qual tomos de um
material slido (alvo) so extrados bombardeando a superfcie desse material com partculas
de alta energia, que em geral so ons de um gs inerte ionizado [89]. O material alvo serve
como catodo aplicando-lhe uma tenso negativa, enquanto as parades da cmara funcionam
como anodo. Evacua-se a cmara com o uso de bombas de vcuo. Em seguida, o gs inerte
(usualmente Argnio) injetado e atravs de descargas eltricas o plasma gerado. Os ons
oriundos do plasma bombardeiam a superfcie do alvo, e por transferncia de momento,
pulveriza o PPBIO com tomos do material alvo [89]. Os tomos pulverizados atravessam
o plasma e atingem a superfcie do PPBIO, onde podem se condensar e formar o lme
metlico.
Aumentar a taxa de ionizao dos ons do gs inerte durante o processo de sputtering,
para atingir melhores condies de pulverizao, com o uso de campos magnticos dene
o magnetron sputtering [89]. Para isso, ms so colocados por trs do catodo (material
Apndice B. Deposio de lmes nos 116
Figura B.1: Esquema para um sistema de deposio por magnetron sputtering.
alvo) com o objetivo de connar os eltrons prximos a superfcie do alvo devido ao campo
magntico. Um esquema para o magnetron sputtering apresentado na Figura B.1.
A taxa de sputtering, e consequentemente da espessura do lme formado na superfcie do
prisma, dependente do tempo e da corrente utilizada na pulverizao. As curvas de ajuste
espessura vs. corrente obtidas para os magnetrons AC e DC operando a uma potncia de
200 W encontram-se na Figura B.2.
Figura B.2: Curva de calibrao da espessura do lme no depositado no PPBIO usando os
magnetrons AC e DC. O modo DC mais eciente do que o modo AC por depositar mais
material em menos tempo.
Apndice B. Deposio de lmes nos 117
E-beam
A evaporao por feixe de eltrons (e-beam ) uma tcnica na qual um intenso feixe de
eltrons gerado a partir de um lamento de tungstnio conduzido por campos magnticos
bombardear um material alvo (exemplo: cadinhos cheios de Al ou Si). Esse bombardeamento
acontece em ambiente de vcuo (cmara). Em um determinado momento, a superfcie do
material alvo ir aquecer (spot ) e os tomos da superfcie tero energia suciente para deix-
la [90]. Assim, esses tomos atravessam a cmara de vcuo e atingem a superfcie do PPBIO
onde podem se condensar e formar o lme metlico.
Um esquema para o e-beam apresentado na Figura B.3. O equipamento Cryofox possui
uma micro-balana de cristal de quartz (QCM, sigla em ingls) responsvel por medir a
espessura da camada depositada. Existe uma relao entre o que depositado na QCM e o
que efetivamente depositado no prisma, originando um erro mximo de 5 nm no valor da
espessura da camada formada na superfcie do PPBIO.
Figura B.3: Esquema para um sistema de deposio atravs da evaporao por feixe de
eltrons (e-beam ).
Apndice C
Caracterizao de lmes nos
Os lmes nos foram analisados utilizando o elipsometro SENPRO e SENadv 400 da em-
presa Sentech e atravs de um microscpio de fora atmica (AFM, sigla em ingls) e de
varredura eletrnica (SEM, sigla em ingls).
Elipsometria
A elipsometria mede a mudana na polarizao da luz reetida ou transmitida de um ma-
terial. Em especial, est interessada como as componentes de polarizao p e s mudam
uma em relao a outra aps a reexo ou transmisso. Assim, uma das componentes
reetida/transmitida a partir do material e a polarizao de sada medida.
A mudana de polarizao representada em termos da razo de amplitude () e da
diferena de fase () entre as componentes s e p. A mudana de polarizao () comumente
expressa por [91]:
= tan()ei (C.1)
A Figura C.1 ilustra um exemplo de medio de elipsometria. A luz incidente line-

armente polarizada e composta das componentes p e s. A luz reetida possui alteraes
de amplitude e fase para ambas as componentes da luz em relao a luz incidente, e o
elipsmetro mede tais mudanas. Para ser capaz de medir a mudana de polarizao, um
elipsmetro possui, entre outros componentes, uma fonte de luz, um gerador de polarizao,
um analizador de polarizao e um detector ptico (cmera CCD/CMOS ou espectrmetro).
O gerador e o analizador de polarizao so compostos de polarizadores, compensadores e
Apndice C. Caracterizao de lmes nos 119
Figura C.1: Congurao tpica de um elipsmetro que utiliza a luz reetida da superfcie
do material e a mudana de polarizao. Fonte [91]
moduladores de fase. Nos elipsmetros utilizados tais componentes so automatizados,

incluindo analizadores rotacionais, polarizadores rotacionais, compensadores rotacionais e
moduladores de fase.
A resposta do elipsmetro depende das propriedades pticas e da espessura do material.
A elipsometria empregada principalmente para determinar espessura de lmes nos e os
valores da funo dieltrica.
Microscopia
Alm da elipsometria, imagens obtidas com microscpios SEM e AFM completam a carac-
terizao dos lmes metlicos depositados no PPBIO.
Como apresentado na Figura C.3, diferente de um microscpio ptico convencional que
ilumina o material, tipicamente com uma luz branca, um microscpio eletrnico de varredura
utiliza um feixe de eltrons para varrer a superfcie da amostra, gerando eltrons secundrios
que so captados por um sensor. O sinal capturado convertido em valores de pixel gerando
uma imagem topogrca da superfcie do material.
Um microscpio de fora atmica, por sua vez, no possui lentes que focalizam a luz
ou feixe de eltrons como nos microscpios pticos e eletrnicos, respectivamente. O AFM
constri a imagem topogrca atravs de uma sonda, colocada em contato com a amostra,
que percorre varrendo toda a superfcie do material.
A tecnologia por varredura de sonda usada pelo AFM permite analisar amostras biolgi-
Apndice C. Caracterizao de lmes nos 120
Figura C.2: Esquema simplicado de um microscpio eletrnica de varredura (SEM). Com-

parao com o esquema de um microscpio ptico convencional. Componentes principais
indicados na gura. Fonte [92].
Figura C.3: Esquema de um microscpio de fora atmica (AFM). Os principais compo-

nentes esto indicados na gura. Fonte [93].
cas, amostras em meio lquido ou em ar, possibilidade de caracterizar propriedades eltricas,

magnticas, pticas, adesivas e com resoluo que podem chegar at a escala atmica.
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Construção e Caracterização de Sensores SPR: Influência Da Camada Metálica e Do Substrato Dielétrico

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Construção e Caracterização de Sensores SPR: Influência Da Camada Metálica e Do Substrato Dielétrico

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Construo e caracterizao de sensores SPR:

inuncia da camada metlica e do substrato dieltrico

Leiva Casemiro Oliveira

Tese de Doutorado apresentada Coordenadoria do Programa de

rea de Concentrao: Processamento da Informao

Antonio Marcus Nogueira Lima, Dr.

Campina Grande, Paraba, Brasil

O48c Oliveira, Leiva Casemiro.

Tese (Doutorado em Engenharia Eltrica) - Universidade Federal de

1. Ressonncia de Plasmon de Superfcie Engenharia Eltrica.

2 Fundamentao Terica para sensores SPR 8

3 Projeto do transdutor SPR 18

4 Construo do sensor SPR 57

5 Caracterizao do sensor SPR 73

6 Concluso e trabalhos futuros 104

A Fabricao do PPBIO 110

B Deposio de lmes nos 115

C Caracterizao de lmes nos 118

Referncias Bibliogrcas 121

ABS Acrilonitrila Butadieno Estireno (impressora 3D)

D.A. Aproximao de Drude

AIM Modo de Interrogao Angular

AT R Attenuated Total Reection

BSA Bovine Serum Albumin (protena)

CCD Charge-Coupled Device

CDF Funo Dieltrica Complexa

CM OS Complementary Metal-Oxide Semiconductor

COC Cyclic-Olen Copolymer (polmero TOPAS)

CV D deposio de vapor qumico

ECS Equal Coupling Strength

F oV Campo de Viso do PPBIO (Field Of View)

F W HM Largura da curva SPR (Full Width at Half Maximum)

LED Diodo emissor de luz (Light Emitting Diode)

LSP R Localized Surface Plasmon Resonance

LRSP P Long-Range Surface Plasmon Polariton

P BS Phosphate Buered Saline (analito)

P P BIO Prisma Polimrico para aplicaes BIOlgicas

P V D Deposio de vapor fsico

RIT Reexo Interna Total

RIU Refractive Index Unit

RIV Regio do Infra-Vermelho

RP P Regio dos plasmons radiativos

SEM Microscpio eletrnico de varredura

SP P Surface Plasmon Polariton

T OP AS Thermoplastic Olen-polymer of Amorphous Structure

U ACP E Unidade de Aquisio, Controle, Processamento e Exibio

W IM Modo de Interrogao Espectral

kp Vetor de onda da luz incidente

kpx Componente horizontal do vetor de onda da luz incidente

ksp Vetor de onda dos plamons de superfcie

ke Vetor de onda dos eltrons-livres

di Espessura do meio i do arranjo multicamadas

r() Coeciente de reetividade de Fresnel - WIM

r() Coeciente de reetividade de Fresnel - AIM

res ou R ngulo plasmnico ou ngulo de ressonncia

res ou R Comprimento de onda plasmnico ou comprimento de onda de ressonncia

ni ndice de Refrao do meio i do arranjo multicamadas

i Permissividade (ou CDF) do meio i do arranjo multicamadas

S Sensibilidade do sensor SPR operando no modo AIM

S Sensibilidade do sensor SPR operando no modo WIM

D Detectividade do sensor SPR operando no modo AIM

D Detectividade do sensor SPR operando no modo WIM

Tabela 3.1: Magnitude de h i para h i=0.1 nm. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 54

inuncia da camada metlica e do substrato dieltrico

B Deposio de lmes nos 115

C Caracterizao de lmes nos 118

Referncias Bibliogrcas 121

AT R Attenuated Total Reection

COC Cyclic-Olen Copolymer (polmero TOPAS)

P BS Phosphate Buered Saline (analito)

RIT Reexo Interna Total

T OP AS Thermoplastic Olen-polymer of Amorphous Structure

r() Coeciente de reetividade de Fresnel - WIM

r() Coeciente de reetividade de Fresnel - AIM

i Permissividade (ou CDF) do meio i do arranjo multicamadas

Figura 2.1: Sistema multicamadas na congurao de Kretschmann com 4 camadas

Figura C.1: Congurao tpica de um elipsmetro que utiliza a luz reetida da

Atualmente, o desenvolvimento de novas conguraes para deteco da SPR, bem como

Figura 2.1: Sistema multicamadas na congurao de Kretschmann com 4 camadas em que

Hy3 = Ex3 3 0 /kz3 (2.8)

Hy2 = Ex2 2 0 /kz2 , (2.9)

em que 0 e 0 so a permeabilidade e a permissividade no vcuo respectivamente. Por

kz3 = i(kx2 3 k02 )1/2 kz2 = i(kx2 2 k02 )1/2 (2.11)

luz que atinge o arranjo multicamadas xo. As condies de acoplamento, neste

Assim, o coeciente de reexo total r() e r(), denominado coeciente de reetividade

ngulo de incidncia xo 1 , pode ser expresso por [34]:

com 3 = 3r + i3i da forma:

especicaes do prisma tais como descrio, dimenso e condicionantes operacionais, para

Figura 3.5: a) Representao grca da disperso da luz dentro do PPBIO. Traado de

Figura 3.6: Grcos da variao do ngulo de ressonncia em funo da posio de entrada

em que representa o coeciente linear de expanso trmica. Com relao a frequncia de

Para denio dos ngulos de incidncia, vericou-se o acoplamento ptico para um

Figura 3.13: Sensibilidade espectral em funo do ngulo de incidncia. Subgrco para a