Sunteți pe pagina 1din 12

Lucrerea de laborator Nr.5

Tema: Dispersia materială (cromatică) în ghidurile de undă

  • 5.1. Scopul lucrării: De a studia relaţiile de bază ce determină indicele de refracţie

în ghidurile de undă cu cuarţ, de a învăţa să ridice dependenţele spectrale a

indicelui de refracţie.

  • 5.2. Undele electromagnetice şi constantele optice

Propagarea undelor electromagnetice în zona de conducţie este descrisă de sistemul de ecuaţii a lui Maxwell, care pentru cazul, cînd lipsesc cîmpuri externe şi sarcini majore poate fi scris astfel:

rot H



0

E

t

E ,

H

 

 

rot E  

divE 4





0

t

,

0,

 

0

  divH 0.

(1)

unde: ρ- densitatea sarcinii electronului; σ- conductibilitatea optică a materialului la anumită frecvenţă optică; ε, ε 0 - permiabilitatea dielectrică şi constanta dielectrică; , 0 - permiabilitatea magnetică şi constanta magnetică; E , H - intensitatea cîmpului electric şi magnetic respectiv.

  • i ; unde: E 0 - amplitudinea undei electromagnetice, k - vectorul de undă (direcţia fascicolului de lumină), r - radiusul coordonatei determinate, - frecvenţa de oscilaţie a fascicolului de lumină. Dacă exprimăm intensitatea cîmpului electric şi magnetic Fourie:

E E e

0

t

(

k r

)

(2)

E si H prin seria

 

1

~

 

(

E r t

,

)

1

(

E r

,

)

e

j t

d

 

 

1

~

 
 

(

H r t

,

)

1

(

H r

,

)

e

j t

d

 

 

atunci ecuaţiile de undă vor avea forma:

2

~

2

n

2

(

)

 

~

   
 

E

2

E

0

2

~

c

2

n

2

(

)

~

H

2

H

 

0

 

c

unde 2 - operatorul Laplace.

(3)

(4)

82

Ghidul de undă poate fi considerat cilindru ideal cu axa longitudională z şi axele x, y în plan transversal (xy) formează planul orizontal (xz) şi vertical (xz). În acest sistem există 4 clase de unde (ortogonale E şi H):

transversale T: E z =H z =0; E=E y ; H=H x ; electrice E: E z =0, H z =0; E=(E y ,E z )- se propagă în planul (yz); H=H x ; magnetice H: H z =0, E z =0; H=(H x ,H z )- se propagă în planul (xz), E=E z ; combinate EH sau HE: E z =0, H z =0; E=(E y ,E z ), H=(H x ,H z )- se propagă în planul (xz) şi (yz).

Ghidul de undă poate fi considerat cilindru ideal cu axa longitudională z şi axele x, y

Fig. 1. Structura undei electromagnetice

5.3. Indicele de refracţie

Indicele de refracţie determină propagarea luminii în material. Utilizînd relaţia (1) a lui Maxwell putem scrie:

rot rot E rot



0

H

t

 



0

t

rot H 



0

E

t



0

2

E

t

2

.

Luînd în consideraţie, că în ecuaţia (1) Maxwell

div E 0

rot rot E    E

(

)

 

E

 

2

E

grad div E

 

2

E

avem:

 

2

E

.

Respectiv,

2

E

 

0

E

t

 

0

0

2

E

t

2

0.

Luînd în consideraţie ecuaţia 2-a scriem:

k E e

0

2

   

0

0

2

E e

0

 

0

0

i

E e

Împărţim relaţia (5) la -E 0 e, obţinem:

k

2

  

0

0

2

i

 

0

Utilizînd notaţia

k

 

0

0

1

2

   

 

i



 

0

0

1

  

2

c

 

0

0

2 1

, atunci relaţia (6) devine:

1

  2 k    i c       

2
k 

 i
c

   
   
0

(5)

(6)

(7)

83

Considerînd că =1, σ=0, ε=1 relaţia (7) poate fi scrisă:

 k 
k

c

 k   c  
k
c

N

(8)

(9)

unde: N- indicele de refracţie a materialului, respectiv

Considerînd că  =1, σ =0, ε =1 relaţia (7) poate fi scrisă:  k 

k

N

c

c

unde: N- mărime complexă;

N n ik ;

N



i





0

1

  

2

unde, n- partea reală a coieficientului de refracţie k- coieficient de extincţie (determină coieficientul de absorbţie);

4 k k  
4
k
k

,

unde: k - vectorul de undă

1

i

2

 

1

2

n

2

k

2



2 nk





0

(10)

Pierderile de energie în materiale sunt condiţionate atît de partea reală cît şi de minimală (astfel încît actual în fascicolele de lumină partea minimală pătrunde în înveliş). Energia absorbită (2nk) este dependentă de pierderile de energie odată cu modificarea conductibilităţii (σ).

5.4 Metode de determinare a indicelui de refracţie

Indicele de refracţie poate fi analizat din măsurările constantelor optice de reflexie şi dependenţele spectrale. În fig. 2 este prezentat cazul clasic de reflexie, refracţie a luminii unde: P - polarizarea paralelă şi perpendiculară a suprafeţei fascicolului de lumină. Pentru explicarea proceselor utilizăm relaţiile lui Snelius:

 

r

s

r





sin(

)

sin(

)

tg (

)

(11)

 

p

tg (

)

84

n

1

sin

n

2

sin

(12)

I S r I P 0 · + P S   n 2 1 n
I
S
r
I
P
0
·
+
P
S
n
2
1
n
2
1
S
+
I
P
t

Fig. 2. Modelul clasic de reflexie şi refracţie a undei

 

R

  R

 

r

s

r

p

R,%

0.2

R s R p   Брюстера
R
s
R
p
Брюстера

(13)

Fig. 3. Coieficientul de reflexie pentru polarizarea s şi p

unde: R, r- coieficientul de reflexie; φ Briuster - unghiul lui Briuister;

n tg

Б

(14)

85

Din relaţia (14) putem determina indicele de refracţie dacă se măsoară dependenţa unghiulară a indicelui de reflexie (metoda elipsometriei).

5.5. Metode de determinare a dispersiei cromatice

Esenţa metodei: întîrzierea corespunzătoare este determinată prin metoda fazală. Această metodă constă în compararea fazei semnalului ghidului măsurat ce a traversat cu faza semnalului de referinţă. Defazajul obţinut φ(λ) este în corelaţie cu reţinerile de grup:

Din relaţia (14) putem determina indicele de refracţie dacă se măsoară dependenţa unghiulară a indicelui de

() (2f )

(15)

unde f- frecvenţa de modulaţie a semnalului. Măsurările întîrzierilor trebuie efectuate la cîteva lungimi de undă.

Realizarea lor poate fi în următoarele moduri:

  • - utilizînd cîteva surse de iluminare cu lungimi de undă fixate şi fotoreceptor de bandă largă;

  • - utilizînd o sursă cu lungime de undă ajustabilă (lazer ajustabil sau sursă de bandă largă cu selector a lungimilor de undă) şi fotoreceptor de bandă largă;

  • - utilizînd sursă de bandă largă şi fotoreceptor cu selector a lungimilor de undă. În cazul cînd se utilizează măsurător al dispersiei cromatice cu lungime de undă ajustabilă e necesar de fixat graniţele diapazonului spectral şi pasul de măsură al lungimilor de undă.

Din relaţia (14) putem determina indicele de refracţie dacă se măsoară dependenţa unghiulară a indicelui de

Fig. 4. Schema pentru măsurarea dispersiei cromatice (CD) prin metoda fazală utilizînd o sursă de iluminare de bandă largă şi fotoreceptor cu selector a lungimilor de undă Schema de structură pentru măsurarea a dispersiei cromatice (CD) prin metoda fazală utilizînd o sursă de iluminare de bandă largă şi foto receptor cu selector a lungimilor de undă este prezentată în figura 4. Semnalul de la generator modulează puterea de iluminare a sursei. Fluxul de lumină modulat, ce traversează ghidul testat, se utilizează în calitate de semnal măsurat, aplicat la fazmetru. Acelaşi semnal de la generatorul de referinţă, aplicat la fazmetru pe alt canal, serveşte ca semnal de referinţă. Fazmetrul măsoară defazajul semnalului de referinţă şi cel măsurat. Măsurările se repetă la fiecare lungimi de undă selectate. Din valorile obţinute conform relaţiei (15) se calculează mărimile reţinerilor respective pentru toate λ, la care s-au efectuat măsurări.

86

O dezvoltare a metodei fazale este metoda fazală diferenţială, cînd sunt măsurate defazajele şi reţinerile respective τ 1 şi τ 2 a două semnale cu lungimi de undă apropiate λ 1 şi λ 2 . Valoarea dispersiei pentru lungimea de undă λ 1/2 , este determinată de următoarea releţie:

D (

1/ 2

)

1

(

1

2

)

L

(

1

2

)

După cum a fost menţionat o metodă alternativă este metoda interferenţială. Schema pentru măsurarea CD (pe baza interferometrului Maxa-Cendera), este prezentată în fig. 5. Iluminarea de la sursă după selectorul lungimilor de undă ajunge la interferometrul Maxa-Cendera. Metoda determinării spectrelor de interferenţă se utilizează pentru măsurarea spectrelor fibrelor pe porţiuni de o lungime de cîţiva metri şi în principiu se utilizează pentru verificarea procesului de fabricare a fibrelor şi componentelor sistemelor de transmisiune.

O dezvoltare a metodei fazale este metoda fazală diferenţială, cînd sunt măsurate defazajele şi reţinerile respective

Fig. 5 Schema determinării spectrului de interferenţă şi a indicelui de refracţie La trecerea fascicolului de lumină prin structura fibrei cu suprafeţele paralele S 1 şi S 2 rezultă interferenţa razelor reflectate de la suprafaţa S 1 şi a razelor reflectate de la suprafaţa S 2 (fig.6). Razele reflectate de la a doua suprafaţă au obţinut o diferenţă de intrare, în rezultat se obţine interferenţa spectrul căreia este prezentat în fig.6.

I R I 0 S 1 d S 2
I R
I 0
S 1
d
S 2

I t

maxN 1 N 2 m 1 min   1 2 0
maxN 1
N 2
m 1
min
1
2
0

Fig. 6 Determinarea indicelui de refracţie, spectrul de interferenţă Dacă se măsoară spectrele de interferenţă în spectrele de reflexie şi se determină min – max benzii, atunci pentru fiecare lungime de undă λ, poate fi

87

determinat indicele de refracţie n. Poziţia minimelor şi maximelor în intreferenţa spectrelor de reflexie se determină conform relaţiei:

 

2

nd

  • 2 nd

max

m

;

m

2,4,6...

min

m

;

m

1,3,5...

(16)

unde m- numărul benzii de interferenţă. În spectrele de interferenţă poziţia minimelor şi maximelor este prevăzută de condiţiile,

sin0

şi sin1 .

2

m

,

unde m=0,1,2, ...

În această metodă este dificil de determinat ordinea benzilor de interferenţă. De regulă, ordinul benzii de interferenţă se determină, dacă este evidentă banda nulă, ce are culoarea albă. În experimente, nu întotdeauna este evidentă banda nulă, respectiv se utilizează o altă metodă. Pentru două maximum (minimum) condiţia de interferenţă este următoarea:

nd

2

1

2

M

  • 1

nd

2

2

2

M

  • 2

diferenţa acestor relaţii pentru λ 1 › λ 2 este:

nd

2

   

1

2

1

1

  

M

2

M

1

Considerînd M 2 -M 1 =M, obţinem relaţia coieficientului de refracţie n:

n

M

2

d

2

1

unde 2 =1/2 , 1 =1/1

unde M- diferenţa picurilor de interferenţă, pentru care se determină n, 1 şi 2 - frecvenţele corespunzătoare picurilor maximum (minimum).

5.6 Instalaţia de măsură a spectrelor optice

Pentru măsurarea interferenţei spectrelor de reflexie în laboratoru de optoelectronică a Catedrei Telecomunicaţii este utilizat spectrometrul, construit pe baza monocromatoarelor МДР-2 şi СДЛ-1. Spectrele de reflexie se măsoară la unghiuri (0-3 o ) cu utilizarea sistemului de focusare de lungime. Instalaţia de măsură este prezentată în fig.7,8.

88

Fig.7 Schema instalaţiei de măsură a spectrelor optice Fig. 8 Instalaţia de măsură 5.7 Spectrele de

Fig.7 Schema instalaţiei de măsură a spectrelor optice

Fig.7 Schema instalaţiei de măsură a spectrelor optice Fig. 8 Instalaţia de măsură 5.7 Spectrele de

Fig. 8 Instalaţia de măsură

5.7 Spectrele de interferenţă

În fig. 9 este prezentat spectrul sticlei de quartz de grosimea 12 m măsurat fără polarizare. În spectru se observă oscilaţiile periodice a intensităţii semnalului.

Benzile de interferenţă sunt numerotate 1,2,

...

n.

n figură se observă banda a unde

are loc scăderea interferenţei. Pentru aceste lungimi de undă este mărită valoarea pierderilor optice.

89

Fig.9 Spectrele de interferenta Sarcina-Partea practica Varianta 4, Book 4 1.Transformam din nanometrii in eV. 1.1

Fig.9 Spectrele de interferenta

Sarcina-Partea practica

Varianta 4, Book 4

Fig.9 Spectrele de interferenta Sarcina-Partea practica Varianta 4, Book 4 1.Transformam din nanometrii in eV. 1.1

1.Transformam din nanometrii in eV.

1.1 Cu ajutorul functiei: Column Set Column Valuie 1.24/Col(A)
1.1 Cu ajutorul functiei: Column
Set Column Valuie
1.24/Col(A)

2. Construim graficu dependentei transmitantei

Analysis

Fig.9 Spectrele de interferenta Sarcina-Partea practica Varianta 4, Book 4 1.Transformam din nanometrii in eV. 1.1

Spectrocscopy

Baseline and Peaks

90

2.1 OK►OK►OK►OK►►►FINIS 2.1a Aflam pikurile 2.2 Selectem PeakInfo de unde alegem varianta A(L) si o trecem
2.1 OK►OK►OK►OK►►►FINIS 2.1a Aflam pikurile 2.2 Selectem PeakInfo de unde alegem varianta A(L) si o trecem

2.1

OK►OK►OK►OK►►►FINIS

2.1a Aflam pikurile

2.1 OK►OK►OK►OK►►►FINIS 2.1a Aflam pikurile 2.2 Selectem PeakInfo de unde alegem varianta A(L) si o trecem

2.2 Selectem PeakInfo de unde alegem varianta A(L) si o trecem in Excel shi

calculam cu formula 1.24/(1000*(C5-C1)) in exel a marimilor A(L) din Origin)

(C5 si C1 sun valorile ce corespund aranjarii

2.1 OK►OK►OK►OK►►►FINIS 2.1a Aflam pikurile 2.2 Selectem PeakInfo de unde alegem varianta A(L) si o trecem

3. Dupa calcularea indicilui de refractive in Excel,le copiem in Origin

91

Selectam ambele variante A(x) si B(y) Plot Line Line Construim graficu 92

Selectam ambele variante A(x) si B(y)

Plot Line Line
Plot
Line
Line

Construim graficu

Selectam ambele variante A(x) si B(y) Plot Line Line Construim graficu 92

92

5.7 Întrebări de control

  • 1. Ecuaţiile lui Maxwell. Legea lui Snelius.

  • 2. Arătaţi că indicele de refracţie este volumul complex.

  • 3. Care sunt equaţiile de dispersie?

  • 4. Explicaţi noţiunea „reflexie totală internă”.

  • 5. Ce numim apertură numerică a fibrei optice?

  • 6. Metoda de determinare a indicelui de refracţie?

  • 7. Cu ce compuşi trebuie de dopat quartzul pentru a mări coeficientul de refracţie?

  • 8. Cu ce compuşi trebuie de dopat quartzul pentru a micşora coeficientul de refracţie?

  • 9. Care sunt principiile fizice ale transmisiunii semnalelor prin fibrele optice?

10. Ce materiale sunt utilizate pentru confecţionarea fibrelor optice?

Sarcina:

  • 1. De a studia metoda de măsură a dependenţei spectrale a indicelui de refracţie.

  • 2. De a studia metoda de calcul a indicelui de refracţie.

  • 3. Utilizînd programul „origin” din datele „data” failurilor de trasat dependenţa spectrelor de interferenţă (datele sunt prezentate în mapă separat, numărul variantei va coincide cu ultima cifră din carnetul de note).

  • 4. Din spectrele de interferenţă de calculat indicele de refracţie.

Bibliografie

  • 1. Гауэр Дж. Оптические системы связи. – М.: Радио и связь, 1989.

  • 2. Фриман Р. Волоконно-оптические системы связи. М. Техносфера., 2003.

  • 3. Р.Р.Убайдулаев, Волоконно – оптические сетибЭКО-ТРЕНДИЗбМосква
    2001

  • 4. D. Mihalache and D. Mazilu. Ghiduri de undă optice neliniare planare. Editura Academiei Române, Bucureşti, 1990.

  • 5. Чео П.К. Волоконная оптика. – М.: Энергоатомиздат, 1988.

93