Características de Los Instrumentos Electrónicos de Medida

1 Caractersticas de los Instrumentos Electrnicos de Medida
1.1 Introduccin
Este primer captulo se disea con el fin de formar en la caracterizacin de los
instrumentos electrnicos de medida. En primer lugar se define la
Instrumentacin Electrnica planteando a la vez el problema de seleccionar un
instrumento electrnico en funcin del balance coste/prestaciones. A
continuacin, se analizan las caractersticas estticas y dinmicas de los
instrumentos, tomando como punto de partida los lmites operativos de los
equipos de adquisicin de datos actuales e incluyendo ejemplos de tarjetas de
adquisicin de seales y de multmetros digitales. Conocidos estos lmites
operativos de los instrumentos, se describe el error interno asociado a la
medida, y se aprende a cuantificar la precisin de un instrumento y a
distinguirla de la repetibilidad y la resolucin. Finalmente, se tratan las fuentes
externas de error entre las que se incluyen varios tipos de interferencias. Esto
permite retomar el hilo de las interferencias en un tema posterior, con ms
facilidad y dando una visin de conjunto de la materia.
1.2 Caractersticas Estticas y Dinmicas de los Instrumentos Electrnicos
La Instrumentacin Electrnica es la disciplina que estudia los medios y los
mtodos de procesado de datos relativos a magnitudes fsicas; empleando
principios electrnicos para llevar a cabo su propsito. Los instrumentos
electrnicos emplean sensores y transductores con el fin de convertir la seal
de un dominio fsico concreto al dominio elctrico, procesable por los
instrumentos de medida. Las exigencias de las variables objeto de medida, en
cuanto a su dominio de aplicacin, determinan el diseo y la seleccin del
instrumento empleado. Por ejemplo , si hemos instalado un termmetro en
nuestro hogar y su lectura indica 23 C, realmente es intrascendente que la
temperatura real oscile medio grado en torno a este valor, ya que tales
variaciones son demasiado pequeas como para modificar nuestro sentimiento
de fro o calor. Nuestro cuerpo no puede discriminar estas pequeas
variaciones de temperatura. Por tanto, un termmetro con una precisin de
0,5 C se adapta perfectamente a las exigencias de la situacin de medida.
Instrumentacin Electrnica. Juan Jos Gonzlez de la Rosa
2 JJGDR-UCA
Sin embargo, al medir la temperatura de un proceso qumico, cualquier
variacin de medio grado en torno a la temperatura exigida por el proceso
puede afectar al rendimiento de la reaccin qumica que se produzca en el
reactor; e incluso modificar el producto obtenido por el proceso. Este producto
puede quedar fuera del estrecho margen exigido por el cliente. En
consecuencia, la precisin de una medida determina la eleccin del
instrumento para una aplicacin concreta. En efecto, la eleccin de un
instrumento consiste en conseguir el equilibrio entre el coste y sus
prestaciones. Por ejemplo , una aplicacin que involucra bajos niveles de
tensiones y corrientes requiere mayor resolucin en la conversin a digital de
las magnitudes analgicas que la medida de tensiones elevadas; el error
cometido en stas no es tan relevante, y se emplean multmetros digitales de
menos dgitos con fiabilidad. Sirva como segundo ejemplo que un contador de
alta frecuencia no es necesario para manejar frecuencias de algunos
kilohercios. Caractersticas como la exactitud, resolucin, sensibilidad, ancho
de banda, y otras como la reaccin ante los cambios de temperatura ambiente
constituyen el conjunto conocido como caractersticas estticas y dinmicas de
los instrumentos; y se consideran como los elementos bsicos de una medida.
Estos elementos se incorporan con el fin de caracterizar los instrumentos
electrnicos y, en consecuencia, seleccionar el ms adecuado a nuestra
aplicacin.
1.3 Rango o Campo de Medida
Es el conjunto de los valores correspondientes a la variable que es objeto de la
medida, y que estn comprendidos dentro de los lmites superior e inferior de
la capacidad de medida del instrumento; se expresa mediante los valores
extremos. Por ejemplo , un equipo para la medida de temperatura puede tener
un rango de 0 a 100 C. Los instrumentos suelen incorporar distintos rangos. La
seleccin del rango determina el valor de otras caractersticas estticas. El
rango puede ser unipolar o bipolar. La diferencia entre los lmites del rango
suele denominarse alcance (span).
1.4 Resolucin
Cuando un instrumento muestra una determinada lectura de salida, existe un
lmite inferior dado por el mnimo cambio en la entrada o medida que produce
un cambio observable en la salida o lectura del instrumento. Por tanto, la
resolucin es la menor porcin de seal que puede ser observada. En equipos
analgicos suele expresarse como un valor absoluto (algunas veces como
porcentaje del fondo de escala) [Creus, 1995] , y viene dada tambin por la
"fineza" con que la escala indicadora de salida se subdivide. Por ejemplo , en el
indicador de velocidad de un coche, podemos encontrar subdivisiones de 20
km/h. Entre cada subdivisin encontramos tambin marcas de 5 km/h. Estos
espacios menores determinan la resolucin del instrumento, ya que entre cada
dos marcas separadas 20 km/h no podemos medir la velocidad apreciando
variaciones menores que 5 km/h. La mayora de los instrumentos
electrnicos de medida actuales incorpora un convertidor analgico/digital
(CAD) que determina su resolucin. Existen varias formas de caracterizarla:
bits, dgitos y cuentas. La denominacin "1/2 dgito" significa que el dgito ms
significativo del indicador numrico del instrumento (formado por circuitos
convertidores del cdigo BCD al de 7 segmentos) slo puede ser 0 1 para
rangos unipolares, y 2 para rangos bipolares.
JJGDR-UCA 3
Ejemplo 1. Convertidor A/D de 12 bits. Resolucin de 1 parte en 2 12 = 4096.
Un estado representa una fraccin de 1/4096 del total de posibles estados a
codificar con 12 bits (4096).
Multmetro digital de 3 1/2 dgitos. Con cada dgito se pueden representar 10
nmeros (del 0 al 9). Por tanto, los tres dgitos menos significativos permiten
representar 1000 valores, del 000 al 999. Tomando el ms significativo, el
rango en cuentas, lo que aparece en la pantalla, abarca desde el 0000 al 1999
(obsrvese que el dgito ms significativo slo puede ser 0 1). En
consecuencia, su resolucin es de una parte en 2000 cuentas, 1/2000.
Por cada dgito de aumento en el multmetro se multiplica por 10 el nmero
de cuentas. Por ejemplo, para 6 1/2 dgitos el rango abarca desde 0000000 al
1999999 y la resolucin es de una parte en 2000000.
1.5 Sensibilidad
Representa el cambio producido en la variable de salida o resultado de lectura
del instrumento para un determinado cambio en la entrada. Es decir, es la
razn entre el incremento de la lectura y el incremento de la variable que lo
ocasiona, despus de haberse alcanzado el estado de reposo. Para
instrumentos analgicos, la sensibilidad se define como el cociente entre la
deflexin observada en la escala y el valor medido que ocasiona la deflexin
[Creus, 1995]. De esto se deduce que la sensibilidad viene dada por la
pendiente de la caracterstica de transferencia de un instrumento,
representada como la recta de ajuste de mnimos cuadrados. Si, por ejemplo,
una presin de 2 bar produce una deflexin de 10 grados en el indicador de un
transductor de presin, la sensibilidad del instrumento es 10 grados/2 bar = 5
grados/bar. En unidades analgicas se expresa como tanto por ciento del
alcance de medida. Por ejemplo , si la sensibilidad del instrumento de medida
de temperatura es 0,05 %, su valor ser 0,05 100/100 = 0,05 C. La
definicin ms frecuente involucra de nuevo al convertidor A/D de la unidad
electrnica de medida. En este caso, la sensibilidad se define como el cociente
entre el menor rango y la resolucin en cuentas, y se especifica en las
unidades del parmetro medido. El ejemplo 2 muestra tres clculos tpicos de
equipos electrnicos de medida de precisin: un voltmetro tradicional de 3
dgitos, un microhmetro y un nanovoltmetro.
4 JJGDR-UCA
Ejemplo 2. Multmetro de 3 1/2 dgitos sobre un rango de 2 V.
mV
cuentas V S 1 2000 2 ==
Convertidor A/D de 16 bits sobre rango de 2 .
=

=
= 7578125 30,5 0,00003051 cuentascuentas
S
65536 2
2
2 16
Un instrumento de estas caractersticas se denomina microhmetro.
Nanovoltmetro de 7 1/2 dgitos sobre rango de 20 mV.
nV
cuentas V S 1 20000000 20 10 3 = =
Ejemplo 3. Para medir una tensin con 1 mV de sensibilidad en un rango de 10
V, cules son las caractersticas del equipo de medida requerido?
Aplicando la definicin de sensibilidad obtenemos el mnimo nmero de
cuentas (o capacidad de representacin de estados) que debera realizar el
instrumento para obtener la sensibilidad deseada:
10000
10 1 = == N N cuentas V S mV
Esto significa que necesitamos al menos un multmetro de 4 dgitos, ya que con
4 dgitos podemos realizar hasta 20000 cuentas. En la prctica se emplea un
instrumento de 4 1/2 dgitos.
Si se atiende al nmero de bits del convertidor A/D del instrumento, se obtiene:
,313
2
10 1 = == n estados V S mV n
En la prctica se requiere un convertidor A/D de 16 bits, ya que el de 12 es
insuficiente (se pueden codificar 4096 estados con 12 bits).
1.6 Velocidad: Frecuencia de muestreo
A menudo las medidas se realizan sobre seales variables en el tiempo. Por
ejemplo, una tarjeta de adquisicin de datos que toma muestras de una seal
sinusoidal. El nmero de muestras por segundo (frecuencia de muestreo) no
puede tomar un valor arbitrario. Intuitivamente, al muestrear una seal de
frecuencia elevada con una frecuencia de muestreo baja, no conseguiremos
recuperar la seal original [Rosado et al. , 2001l; se
JJGDR-UCA 5
obtiene otra de frecuencia menor. La figura 1 muestra el efecto de un muestreo
lento comparado con la frecuencia de la seal. Cada punto de la grfica de la
izquierda corresponde al valor real de la muestra en un instante de tiempo
dado. Al reconstruir la seal a partir de los valores digitalizados de la grfica de
la derecha no se recupera la seal original, sino otra de menor frecuencia.
Fig. 1. Reconstruccin de una seal de alta frecuencia muestreada a baja
frecuencia.
La figura 2 muestra un muestreo ms rpido, realizado a mayor frecuencia. La
seal digitalizada refleja una onda similar a la original.
Fig. 2. Reconstruccin de una seal de alta frecuencia muestreada a alta
frecuencia.
De lo anterior se deduce que la frecuencia de muestreo debe superar con
suficiencia la correspondiente al armnico de mayor frecuencia. La teora del
muestreo de Nyquist establece el mnimo terico para la frecuencia de
muestreo en el doble de la mxima componente armnica. En la prctica, las
frecuencias de muestreo son usualmente del orden de 10 veces la frecuencia
ms alta. Cuando se viola la teora de Nyquist tienen lugar los errores de
solapamiento o aliasing1. Los filtros antialiasing (paso-bajas) se utilizan para
eliminar las componentes de alta frecuencia de una seal. Tambin se pueden
solucionar los errores de solapamiento empleando una frecuencia de muestreo
mayor. Sin embargo, es mayor el volumen de datos generados o el ancho de
banda requerido para el procesamiento de los datos. En cualquiera de los
casos, debemos adoptar una solucin de compromiso. A continuacin se
plantea el enfoque cuantitativo del solapamiento mediante el empleo de
seales compuestas por tonos puros. Las seales en tiempo continuo se
transforman en seales de tiempo discreto haciendo uso del periodo de
muestreo. Cuando se poseen seales discretas es ms sencillo comprender el
fenmeno de alias, ya que dos seales de tiempo continuo con frecuencias
distintas, pueden ser indistinguibles en tiempo discreto. Este es el fin del
ejemplo 4.
1 El trmino aliasing proviene del espaol
alias, con el fin de indicar que algunas frecuencias ocupan el lugar de otras en
el espectro.
6 JJGDR-UCA
Ejemplo 4. Sean dos seales sinusoidales de frecuencias 1 y 6 kHz
respectivamente:
sentyt sentyt 6000)2(() 1000)2(() 2 1 = =
Supongamos que son muestreadas a una velocidad de 5000 Hz (5 kHz).
Entonces, haciendo t=nT S=n/f S=n/5000 se obtienen las seales o secuencias
en tiempo discreto:
sennsennyn
sennsennyn
5 12
5000 6000
)2(
52
5000 1000
)2(
2
1
=
=
=
=
Desarrollando la segunda seal muestreada, se observa que es idntica a la
primera:
=
+= = senn nnn senn seny 5 2 5 2 2 5 12 ()2
En consecuencia, las dos seales son indistinguibles, ya que a partir de los
valores de sus muestras, no podemos determinar de qu seal proceden, si de
la de 1 kHz o de la de 6 kHz. Esto sucede porque y1(t) produce exactamente
los mismos valores de muestras que y2(t) cuando son muestreadas a una tasa
de f S=5 kHz (5000 muestras por segundo). Se dice entonces que la frecuencia
de 6 kHz es un alias de la frecuencia de 1 kHz a la frecuencia de muestreo de 5
kHz:
(frecuencia alias = frecuencia de la que es alias + k velocidad de muestreo)
6 kHz = 1 kHz + 1 5 kHz
La frecuencia de 6 kHz no es el nico alias de la frecuencia de 1 kHz a esa
velocidad de muestreo. Tambin lo son las frecuencias de 1+2 5 kHz = 11
kHz, 1+3 5 kHz = 16 kHz, 1+4 5 kHz = 21 kHz, etc. Es decir, a una
velocidad de muestreo determinada f s, y para una frecuencia f 1, todas las
frecuencias f k=f 1+k fS, con k entero, son alias de f 1.
Por otra parte, para k=-1 se obtiene que -4 kHz es un alias de 1 kHz ya que
-4=1+(- 1) 5. Tambin podemos decir que 4 kHz es un alias de 1 kHz.
En resumen: La frecuencia fk es un alias de f 1 a la velocidad de muestreo f S si
existe al menos un entero k tal que f k=f 1+k fS.
JJGDR-UCA 7
Ejemplo 5. La frecuencia 442 kHz es un alias de -58 kHz a la velocidad de
muestreo de 500 kHz, ya que para k=1, 442 = -58+1 500. En este caso, una
frecuencia negativa se representa en el analizador de espectros como si fuera
positiva ya que sen (-x)=- sen(x), y la inversin de fase no la representa el
analizador de espectros.
La frecuencia de plegado (f S/2) es la mxima componente espectral que
puede ser representada inequvocamente (sin ambigedad) con una velocidad
de muestreo f S. Cuando un instrumento (analizador de espectros) adquiere
una seal que contiene componentes en frecuencia mayores que la mitad de la
frecuencia de Nyquist (frecuencia de solapamiento o plegado, folding
frequency) , las componentes en frecuencia que la superan experimentan el
solapamiento hacia atrs o fold back , dando lugar a alias de frecuencias
menores. En el ejemplo anterior, como 442 kHz 250 kHz = 192 kHz es menor
que 250 kHz el plegado es inmediato, segn ilustra el siguiente diagrama de la
figura 3.
Fig. 3. Regla prctica para evaluar el solapamiento. Frecuencias en Hz.
Sin embargo, para la frecuencia de 6 kHz, como 6-2,5=3,5 se va del rango de
2,5, al plegar se obtiene 1, que es la frecuencia de 1 kHz de la que 6 es alias.
En este caso f 1 y k son positivos. En el caso anterior f 1 es negativa y k
positiva. Si f 1 es positiva y k negativa, como por ejemplo 4 es un alias de -1 a
la velocidad de 5 para k=1, entonces el solapamiento cae tambin dentro del
rango.
1.7 Errores por fuga espectral
Al muestrear una seal, si se obtiene un nmero no entero de ciclos, los puntos
de inicio y fin se producen en amplitudes diferentes. Las transiciones entre
estos puntos provocan discontinuidades en la seal, que introducen transitorios
de alta frecuencia. Estas discontinuidades se suavizan mediante la aplicacin
de funciones ventana. La figura 4.a. muestra el espectro de una seal
monocromtica sin aplicacin de ventana [Tektronix, 2001]. En ella se aprecian
los armnicos parsitos en torno a la frecuencia de inters, pico central. Por el
contrario, el espectro de la figura 4.b. resuelve con nitidez la seal
monocromtica, ya que se ha aplicado con anterioridad una ventana de
Hanning. Esta funcin ventana, suaviza la seal de inters en los lmites
temporales en los que se desarrolla el muestreo. El precio a pagar por una
mayor resolucin en el dominio de la frecuencia es una menor precisin en la
medida de la amplitud.
0 250 442 58 192 192 fs/2
8 JJGDR-UCA
(a) (b) Fig. 4. (a) Clculo de
espectro sin ventana. (b) Evaluacin del espectro con la aplicacin previa de
una ventana de Hanning.
La Fig. 5 muestra un ejemplo experimental correspondiente a la aplicacin de
una ventana de Blackman a una seal sinusoidal de 500 Hz, cuando ha sido
muestreada a 10000 Hz. La figura 6 muestra la situacin anterior pero ahora
correspondiente a una frecuencia de muestreo de 800 Hz. La seal que
aparece en el espectro es la de 300 Hz, que se obtiene como diferencia de
frecuencia la seal de inters, de 500 Hz y la frecuencia de muestreo.
Fig. 5. Espectro de una seal sinusoidal de 500 Hz con y sin la aplicacin de
una ventana de Blackman.
JJGDR-UCA 9
Fig. 6. Efecto alias en la seal del ejemplo anterior al muestrear a 800 Hz .
1.8 Error en Instrumentacin Electrnica
1.8.1 Precisin y Calibracin
El error absoluto, o precisin absoluta, indica la proximidad entre el resultado
de una medida y su valor ideal o verdadero, como resultado de la comparacin
con un patrn establecido y comprobado en laboratorios internacionales. La
precisin relativa es la diferencia entre el valor medido y una referencia
establecida localmente. Una precisin perfecta es imposible. Los principales
factores que contribuyen a una medida imprecisa son el sensor, el
equipamiento y el entorno. Al disear un equipo de medida se deben predecir y
controlar al mximo (dentro de unos lmites establecidos en una especificacin
de diseo) estos factores, con el fin de medir con una precisin predecible y
controlable. Esta verificacin o ajuste del instrumento dentro de un margen o
estndar reconocido recibe el nombre de calibracin. La calibracin establece
las especificaciones de precisin del instrumento. stas pueden variar con el
tiempo y los agentes ambientales, por lo que su ritmo de degradacin debe
quedar explcito en una calibracin exigente. Los instrumentos de medida de
alta calidad no garantizan sus especificaciones de precisin ms all de 24
horas, 90 das, 1 ao, 2 aos, o incluso 5 aos despus de la ltima calibracin.
Con frecuencia se garantizan las especificaciones bsicas durante los 90 das
siguientes a la calibracin [Creus, 1995]. El fabricante, suele aadir los valores
de calibracin en fbrica y de inspeccin. Por ejemplo , un instrumento con una
precisin de calibracin en fbrica del 0,6 %, puede tener en inspeccin un
0,7 %, y suministrarse al usuario el dato de 0,8 %. Con ello se establece un
margen de seguridad con el fin de compensar las diferencias de apreciacin de
las personas que efectan la calibracin, las posibles alteraciones debidas
10 JJGDR-UCA
al desplazamiento del instrumento de un punto a otro, los efectos ambientales
el envejecimiento, etc. En resumen, el proceso de calibracin establece la
desviacin del comportamiento del instrumento respecto de la idealidad; es en
consecuencia un proceso de verificacin . La accin de correccin de esta
desviacin se denomina ajuste .
1.8.2 Error sistemtico. Errores de ganancia y offset
El error absoluto o incertidumbre es la diferencia entre el valor ledo o
transmitido por el instrumento y el valor real de la variable medida. En
condiciones de rgimen permanente recibe el nombre de error esttico o
sistemtico. El error sistemtico puede mantenerse constante o variar de
acuerdo con una ley definida al cambiar las condiciones de medida. Producen
un sesgo constante (bias) en las medidas, que est presente en todo el rango.
Suele detectarse y suprimirse por calibracin (contrastando su lectura con la
que ofrece un instrumento de referencia). Las balanzas de los cuartos de aseo
son ejemplos de instrumentos propensos a adquirir este tipo de errores. Es
comn que la indicacin de la balanza cuando no hay nadie encima sea de 1
kg. As, la medida del peso de una persona es sobrevalorada en esta cantidad.
El proceso de calibracin en este ejemplo consiste en girar una rueda hasta
cuando no hay nada encima, hasta que indique 0 kg. En todo instrumento
suelen existir simultneamente errores sistemticos multiplicativos, es decir,
que dependen del valor de la magnitud medida; y aditivos, es decir, que no
dependen del valor de la magnitud medida [Palls, 1987]. Por esto, se expresan
como un tanto por ciento de la lectura ms un tanto por ciento del valor de
fondo de escala, o tanto por ciento de la lectura ms un umbral, o de alguna
otra forma equivalente. Son los errores que se conocen como errores de
ganancia (multiplicativos) y de offset (aditivos). La presencia de errores
sistemticos en una medida puede ser descubierta si para medir la misma
magnitud se emplean dos instrumentos distintos, o si dan la lectura dos
personas distintas (en instrumentos que no tengan presentacin digital), o
cambiando de forma adecuada las condiciones de medida y viendo su
repercusin en el resultado. La causa de un error sistemtico puede ser
conocida y, en cambio, su eliminacin puede que sea poco prctica o incluso
imposible. Puede tambin que sea desconocida, pero en cambio haya sido
establecida empricamente en funcin de determinadas variables conocidas
[Creus, 1995]. Cuando coexisten varias fuentes de error, conviene saber el
valor mximo debido a cada una de ellas. El error global es el resultado de la
combinacin de estos errores particulares. La suma cuadrtica es el mtodo
ms habitual para evaluar el error global, aunque se est suponiendo que las
fuentes de error son independientes, cosa que no siempre es cierta. En
cualquier caso, la indeterminacin en la medida debe expresarse de forma
coherente con el resultado de sta. No se puede hablar, por ejemplo, de 7,5 V
10 mV, ni de 3,87 V 0,2 V, de 2 V 0,1 %. Tampoco es lgico que la
indeterminacin se d con un nmero elevado de cifras, puesto que no se
conoce con la precisin necesaria. En condiciones dinmicas, el error vara
considerablemente debido a que los instrumentos tienen caractersticas
comunes a los sistemas fsicos: absorben energa del proceso y esta
transferencia requiere cierto tiempo, lo cual da lugar a retardos en las lecturas
del aparato. En este caso, el error dinmico se define como la diferencia entre
el
JJGDR-UCA 11
valor instantneo de la variable y el indicado por el instrumento. Su valor
depende del tipo de fluido del proceso, velocidad, transductores, medios de
proteccin, etc. El error medio del instrumento es la media aritmtica de los
errores en cada punto de la medida, determinados para todos los valores
crecientes y decrecientes de la variable medida.
1.8.3 Repetibilidad, resolucin y precisin
Repetibilidad es la capacidad de medir la misma entrada obteniendo los
mismos valores de salida o lecturas del instrumento sucesivamente, en las
mismas condiciones operativas y en el mismo sentido de variacin. Entre las
formas de evaluar la repetibilidad destacan dos. Para equipos analgicos se
adopta el criterio de un porcentaje del alcance o rango. Una definicin ms
genrica consiste en proporcionar la mitad de la anchura de la distribucin de
probabilidades de los valores medidos. La figura 7 muestra que la resolucin, la
precisin y la repetibilidad no siempre van unidas. Medidas de alta resolucin
pueden o no ser precisas, y aquellas con baja resolucin pueden o no tener
gran repetibilidad. Sin embargo, si la repetibilidad y la resolucin son
elevadas, y las fuentes de error son conocidas y estn cuantificadas, la
medidas son aceptables en muchas aplicaciones. En este caso, las medidas
tienen alta precisin relativa y baja precisin absoluta.
Fig. 7. Relacin entre repetibilidad, resolucin y precisin.
Baja resolucin, baja precisin, baja repetibilidad
Baja resolucin, baja precisin, alta repetibilidad Alta resolucin, alta precisin,
alta repetibilidad
Alta resolucin, alta repetibilidad, baja precisin
12 JJGDR-UCA
1.8.4 Evaluacin del error en los instrumentos electrnicos
Algunos errores asociados a la medida son provocados por el propio
instrumento (errores inherentes). Estos errores sistemticos son facilitados por
el fabricante bajo las condiciones indicadas en las especificaciones.
Comprender el error inherente permite mejorar la tcnica de medida y
comprender mejor el resultado, sin embargo no se asegura la precisin del
equipo de medida, ya que las condiciones del entorno y el conexionado pueden
degradar las especificaciones del mejor instrumento. Tradicionalmente, el error
inherente al instrumento se proporciona de alguna de las siguientes formas:
Como un porcentaje del rango, directamente en unidades de la variable
medida, dando el tanto por ciento de la lectura efectuada, suministrando a
la vez las cantidades anteriores.
En la prctica, la precisin de un instrumento vara en cada punto del rango,
aunque el fabricante indica a veces su valor en algunas zonas del mismo. Por
ejemplo , un manmetro puede tener una precisin de 1 % en toda la escala
y de 0,5 % en la zona central. Cuando se desea obtener la mxima precisin
del instrumento en un punto determinado de la escala, puede calibrarse
nicamente para este punto de trabajo, sin considerar los valores restantes del
campo de medida. Por ejemplo , un termmetro de 0-100 C y de 1% de
precisin situado en un bao de temperatura constante a 80 C, calibrarse a
este valor, de modo que su precisin en este punto de trabajo sea la mxima
que se pueda obtener con un termmetro patrn. Es obvio que para los valores
restantes, en particular los correspondientes a los extremos de la escala, la
precisin se aleja de 1 %. Para cuantificar el error se proporcionan dos
componentes. Una primera asociada al valor medido o lectura que se
denomina error de ganancia , y se expresa como un tanto por ciento de la
lectura. La segunda componente del error total, el error de offset, hace
referencia al rango empleado; se expresa como un porcentaje del rango o
fondo de escala, y es la componente ms crtica cuando se hacen medidas en
la parte baja del rango. En consecuencia, cuantificamos la precisin como
sigue:
Precisin (error absoluto) = (% lectura + % rango)
El ejemplo 6 muestra una aplicacin concreta de la expresin anterior.
Ejemplo 6. Multmetro digital de 2 V de rango, para una entrada de 0,5 V.
( ) VV 0,00015 0,0002Error =+== += 00035 350 0,2,0 100
0,01 0,5 100 0,03 En consecuencia, la lectura del instrumento es: 0,5 V 350
V; y la medida real oscila entre 500000 + 350 = 500350 V = 0,50035 V, y
500000 - 350 = 499650 V = 0,49965 V.
JJGDR-UCA 13
La figura 8 muestra la influencia de los errores de ganancia y offset segn la
zona del rango que se considere. Recordemos que el error de ganancia es un
tanto por ciento de la lectura; por tanto, para seales de bajo nivel,
correspondientes a la zona de comienzo del rango, el error de ganancia es
despreciable frente al error de offset, que es constante en todo el rango. Al
final del rango, para seales de alto nivel, el error de ganancia supera con
creces al de offset, y es el factor ms importante. En resumen, como norma
prctica se considera que el error de offset es el ms significativo en la parte
baja del rango, y el de ganancia en la parte alta.
Fig. 8. Errores de ganancia y de offset en funcin del nivel de la medida
expresado como porcentaje del rango.
Como se observa en la figura 8, el error de ganancia aumenta linealmente con
la lectura. Para especificaciones de medida con poco error de offset y un error
de ganancia considerable, la pendiente es ms acusada (se estrecha la zona
correspondiente al error de offset) y el error de ganancia predomina. Si el error
de offset es relativamente superior al de ganancia en todo el rango, la
pendiente de la curva de error de ganancia se reduce y tiende a un rea
rectangular. En este caso, al no ser considerable el efecto del error de
ganancia, la precisin suele proporcionarse como un porcentaje del rango o
fondo de escala (FS; Full Scale). A partir de la zona media, se considera la suma
de ambos errores. El error de offset puede expresarse tambin en partes por
milln.
Ejemplo 7. Multmetro digital de 6 1/2 dgitos, 2 V de rango, para una entrada
de 0,4 V CC.
Este multmetro puede realizar 2000000 de cuentas. El error puede evaluarse
de distintas formas:
Precisin = (0,003 % lectura + 0,001 % rango)= (0,00003 lectura +
0,00001 rango)= = (0,003 % lectura + 20 cuentas)= (30 ppm lectura +
10 ppm rango)
Para pasar de porcentaje a partes por milln se multiplica por 10 6. Por
ejemplo:
ppm10
10
10
10
100 0010,
001%0,
6 5 ====
Error de offset
Mximo error de ganancia
50% 0% 100%
Medidas de bajo nivel
Medidas de nivel alto
Aumenta el nivel de la medida
14 JJGDR-UCA
La incertidumbre para 0,4 V de entrada resulta:
( ) ( )VVError =+=+= 000020 320,0000120,2,0000010,0,4000030,
En algunos instrumentos, tambin se proporcionan especificaciones de ruido,
definido como el nivel de ruido interno generado para varios rangos. Este nivel
se evala como un porcentaje del rango especificado, y constituye una
componente adicional en el cmputo del error cuando el instrumento trabaja a
velocidades elevadas. En consecuencia, la expresin completa de la
incertidumbre resulta en este caso:
Precisin = (% lectura + % rango) ruido
El nivel de ruido suele expresarse a partir de un porcentaje, fraccin o mltiplo
del bit menos significativo del instrumento (LSB; Least Significant Bit), que
equivale a la resolucin (y a la sensibilidad) del instrumento. Es decir, que
indica la menor porcin de seal que puede medirse con repetibilidad
aceptable. El ruido especificado refleja la tensin pico a pico de la seal de
inters. A menudo, cuando se especifica el ruido (en unidades LSB) suele
expresarse el rango en las mismas unidades.
Ejemplo 8. Evaluacin del error asociado a una entrada analgica de 0,4 V en
una tarjeta de adquisicin de datos de 12 bits y 2 V de rango unipolar.
Reduccin del error de offset.
Precisin = (0,01 % lectura + 1 LSB) 1 LSB
del rangomV 0,024%V 0,4880,00048828125
4096 2 1 == V LSB
( ) ( ) ( ) mV V V ErrorV 0161,0004880,0005280, 0004880,0004880,0000400,
0004880,0004880,0,400010, = =+ =+=
El error de offset (0,000488 V) es 10 veces mayor que el de ganancia
(0,000040). En consecuencia, es ms significativo y predomina en medidas de
bajo nivel.
Realizando promediados de un gran nmero de lecturas, el error producido por
el ruido exterior (0,000488) puede reducirse hasta 0,1 LSB. En estas
condiciones el error total es:
( ) mV ErrorV 5768 0,00004880,0005280, ==
Este ruido, inherente al instrumento y que influye en la degeneracin de las
prestaciones a corto plazo, suele producirse debido a ganancias altas, que
aportan mayor nivel. Otras fuentes de error son las no linealidades y los
incrementos de temperatura. Estos factores suelen ser de poca relevancia
salvo que se realicen medidas muy exigentes o en entornos con condiciones
extremas.
JJGDR-UCA 15
1.8.5 Origen de los errores inherentes de los instrumentos
En este apartado se analiza mediante el ejemplo 9 el origen de los errores de
ganancia y de offset, relacionado con las desviaciones respecto de la idealidad
de los componentes electrnicos.
Ejemplo 9. Evaluar el efecto de la tensin de offset en el amplificador inversor
de la figura Ej.9.
Z1
+
-
Z2
Vo
-
Voff
Vd +
+
-
Terminal inversor real, V
V-+
Vi cortocircuitada
Fig. Ej. 9. Amplificador inversor con entrada conectada a tierra.
En principio, se consideran ideales las impedancias externas. La tensin real en
el terminal inversor es:
VVVVVVVVV d offd offoffd === (1)
Y la salida del operacional:
( ) off d o offdoffdddod V A V VVVAVAAVAVV + ==== (2)
Consideremos infinita la ganancia diferencial del operacional; entonces, segn
(2) V = V off . Como la impedancia de entrada al operacional es infinita, las
corrientes por las dos impedancias son iguales:
+==
1
2
21
1
ZZ
VV
ZV
Z VV
oo (3)
Llevando (2) a (3) resulta el desplazamiento que experimenta la salida como
consecuencia de la tensin de offset de entrada:
+==
1 21 Z Z
VVError offset o off
16 JJGDR-UCA
Como esta salida se presenta en ausencia de entrada, la tensin anterior
representa un error absoluto de offset. Por ejemplo , tomando 1 mV de tensin
de offset y suponiendo que las impedancias son resistencias de Z1=1 k ,
Z2=10 k nominales, respectivamente, el error absoluto en la salida resulta
11 mV.
Si las impedancias resistivas poseen tolerancia
, el error absoluto producido en la
salida es el error de ganancia y resulta:
( ) ( ) iio idealo real V R R V R R VVError ganancia == 1 2 1
2 ,, 1 1
Es inmediato comprobar que en el peor caso, este error absoluto de ganancia
vale:
ii V R R
V
R R Error ganancia + = + = 1 2 1 2 1 2 1 1 1
El error absoluto total es la suma de las dos contribuciones anteriores:
++
+
=
1
2
121
12
RR
VV
R R Error absoluto i off
Se observa que existe un trmino que depende de la lectura o entrada al
instrumento (error de ganancia o de lectura), y un segundo trmino, constante
en todo el rango, error de offset. Se aprecia que cuando la tolerancia de las
resistencias es cero, desparece el error de offset, y cuando la tensin de offset
del operacional es cero desaparece el error de offset.
La salida real viene dada por la salida ideal y los dos trminos de error:
i offoi V R R V R R V R R V + + = 1 2 1 2 1 2 1 1 2
De aqu se deduce la expresin de la ganancia real:
1,
12
1
1
2
1
2
i off
ganancia real
o V R R V R R V + + = 44 4 4 3 4421 m
que es la ecuacin de una recta de pendiente funcin de la tolerancia; adems,
la ordenada en el origen ya no es cero, como suceda en el caso ideal.
1.9 Fuentes de error externas
Hasta ahora hemos visto que los instrumentos introducen errores originados
por las desviaciones de la idealidad de los componentes electrnicos que los
componen; establecidas por las tolerancias de los parmetros, la limitacin del
ancho de banda y la generacin de ruido interno. Tambin se ha cuantificado el
error, con independencia de
JJGDR-UCA 17
su procedencia. En este apartado se revisan las fuentes de error externas al
equipo electrnico y las originadas por la conexin realizada entre el
instrumento y el objeto de la medida. Adems, se revisan las tcnicas
empleadas para reducir de sus efectos.
1.9.1 Interferencias de la red
Las interferencias introducidas por la red de suministro elctrico constituyen la
causa ms comn de ruido externo acoplado a un equipo electrnico de
medida [Wolf et al. , 1995]. Por ello, en los laboratorios de precisin se emplean
dispositivos de aislamiento y blindaje, con el fin de proteger al instrumento de
las seales parsitas provenientes de fluorescentes y otras instalaciones. Estas
seales parsitas introducen componentes que en condiciones desfavorables
suelen alcanzar la frontera entre las aplicaciones de alto y bajo nivel, 100 mV.
En estos casos, el resultado de la medida es inaceptable. El ruido superpuesto
a la seal de inters se denomina ruido en modo serie o normal. Con el fin de
eliminar el ruido, los instrumentos electrnicos incorporan convertidores
analgico-digitales (CAD) de tipo integrador. Estos circuitos eliminan el ruido
realizando promedios o integraciones durante un tiempo o periodo de
integracin mltiplo del periodo de la red. La figura 9 muestra el concepto de
promediado sobre la medida de una seal de CC (110 mV) contaminada por la
seal de red. Si se escoge el perodo de integracin como mltiplo entero del
de la red, el promedio de la seal de ruido es nulo y el resultado de la medida
es la seal de inters.
Fig. 9. Concepto de promediado sobre una seal contaminada por el ruido de
red. El valor medio de la seal de ruido durante un ciclo es nulo, y el valor
medio de la medida son los 110 mV de inters.
La incorporacin de circuitos integradores tiene el inconveniente de reducir la
velocidad de operacin del instrumento; generalmente no se superan las 50
medidas por segundo. La capacidad para rechazar las interferencias en modo
serie se cuantifica por el parmetro relacin de rechazo al modo serie (SMRR;
Series Mode Rejection R atio). El SMRR se expresa generalmente en decibelios
y se define como la magnitud en decibelios del cociente entre el ruido presente
en la entrada del instrumento y el error que introduce en la medida, segn la
siguiente expresin.
=
producido medidaerror instrumentocresta entradaruido cresta SMRR 20 log
Por ejemplo , un SMRR de 60 dB supone una relacin de 1000/1 entre el ruido y
el error producido. Esto significa que si cometemos un error de 1 mV, el valor
pico a pico del ruido presente en la entrada del instrumento es de 1 V.
110 mV
1 ciclo = 20 ms
Red, 50 Hz
Seal de inters
Promediado
0V
18 JJGDR-UCA
La idea intuitiva del elemento integrador como supresor de las interferencias
de red mediante la realizacin de promedios, sugiere la dependencia del SMRR
con la frecuencia; ya que la eleccin del periodo de integracin determina la
magnitud del rechazo a las interferencias. Esta dependencia responde a la
expresin:
( ) sen fT fT
SMRR
=
En ella, T es el periodo de integracin y f la frecuencia de la seal de entrada
(considerada sinusoidal). La figura 10 muestra la representacin grfica de esta
funcin en un diagrama semilogartmico. En ella se aprecian los puntos de
divergencia cuando el producto fT es entero; es decir cuando el periodo de la
entrada es mltiplo del periodo empleado por el integrador. De ah que se
escojan mltiplos enteros de la frecuencia de la interferencia que se desea
eliminar.
Fig. 10. Representacin logartmica del SMRR en funcin de la frecuencia. Se
observan las divergencias de la funcin cuando el producto fT es entero.
En la demostracin 1, se obtiene la expresin que muestra la dependencia del
SMRR con la frecuencia, con el fin de mostrar el principio matemtico del
multmetro integrador.
Demostracin 1: Obtener la expresin de la relacin de rechazo a las
interferencias en modo serie, para un multmetro integrador, en funcin de la
frecuencia.
Se considera como entrada una seal de interferencia sinusoidal de valor
medio nulo, 2V p (V pp ) y frecuencia f, se realiza la integracin a partir de un
instante genrico t*, y hasta el instante t*+T; donde T es el periodo de
integracin:
( ) ( ) [ ]tT t p
tT
t medidap ft fT V ft dtV sen T V + + == * * * * cos2 2 2 1
SMRR de un Multmetro Digital Integrador
0
50
100
150
200
250
300
0,1 1 10
fT
SMRR(dB)
JJGDR-UCA 19
De esto resulta una diferencia de cosenos que se convierte un producto 2:
( )[ ] ( ) [ ] () () 2 2 cos2cos2
2
** senB senA fT V fttTf
fT
V
V
pp medida =+ =
donde los ngulos genricos A y B responden a las expresiones siguientes: ( )
2 2 , 2 2 * fT B tTf A = + =
El valor medio de esta interferencia resulta entonces como producto de dos
trminos; el trmino de argumento A depende del punto de comienzo de la
integracin, t*. En consecuencia, la expresin del valor medio de la
interferencia de CA en el caso ms desfavorable es:
( ) sen fT
fT
V V p medida mx =,
El SMRR(f) es el valor absoluto de la relacin entre el valor medido en CC, Vp, y
el anterior, medido en CA:
( ) sen fT fT
SMRRf =()
Como se aprecia en la figura 11, los puntos de divergencia coinciden con las
integraciones mltiplos de la frecuencia de la interferencia.
Las interferencias en modo serie pueden tambin producirse por seales de
modo comn, como las generadas por lazos de tierra.
1.9.2 Interferencias inductivas y electromagnticas
Los equipos que manejan altos niveles de corriente, como motores y
generadores, originan flujos magnticos que pueden generar, a su vez, errores
debido a las tensiones que inducen, E, segn la ley de Faraday-Lenz:
dt
BSd
dt d
=
=
El voltaje inducido es proporcional al rea encerrada por las conexiones y a la

velocidad de cambio de la densidad de flujo magntico, y puede llegar a ser de
varios cientos de microvoltios. La figura 11 muestra la generacin de una f.e.m
(fuerza electromotriz), como consecuencia de la presencia de un campo
magntico variable.
2 cos(A+B)-cos(A-B)=-2sen(A)sen(B)
20 JJGDR-UCA
Fig. 11. Produccin de interferencia electromagntica en el circuito de entrada
de un multmetro digital (DMM; Digital Multi-Meter).
Por otra parte, cuando una corriente o tensin experimenta una variacin con
el tiempo, da como resultado un campo electromagntico. Una seal sinusoidal
produce un campo electromagntico con slo una componente de frecuencia.
Cualquier deformacin en la misma genera armnicos de esa frecuencia. Estos
armnicos son seales no deseadas que pueden afectar el funcionamiento
correcto de los equipos generando errores. Adems, a mayor frecuencia del
armnico, mayor es la fuerza electromotriz que induce. Las seales con
pendientes acusadas indican la presencia de armnicos de alta frecuencia; lo
mismo ocurre para seales producidas por reguladores de conmutacin,
puentes de diodos rectificadores, circuitos lgicos, etc. Los errores pueden
minimizarse disminuyendo el rea del lazo y manteniendo el flujo constante
evitando vibraciones y movimientos. Esto supone que los conductores deben
unirse o trenzarse, estar sujetos y estar magnticamente aislados.
1.9.3 Resistencia de las conexiones
Un multmetro digital realiza la medida de la resistencia haciendo pasar una
corriente conocida (I ref ) a travs de ella y midiendo a continuacin el voltaje.
Empleando el mtodo de dos hilos, cae tensin en la resistencia de los cables
(R h) y, en consecuencia, se introduce un error en la medida. La figura 12
muestra esta situacin.
Fig. 12. Error introducido por los hilos de conexin al medir R m con el mtodo
de los dos hilos. En realidad se mide Rm= R h+ R h.
La resistencia tpica de los hilos de conexin est comprendida entre 0,01 y 1
. Como consecuencia, medir con precisin por debajo del intervalo 10-1000
, resulta difcil. De ah que se recurra al mtodo de los 4 hilos en medidas de
bajas resistencias y micro-hmetros.
Iref Vm
Rh
Rh
Rm
Fuente de seal
DMM V i
Vs
Rs
B
JJGDR-UCA 21
1.9.4 Fuerzas electromotrices trmicas
Cualquier conexin realizada con metales distintos origina un termopar no
deseado en el circuito de medida (efecto Seebeck ). En consecuencia, al variar
la temperatura, se inducen fuerzas electromotrices trmicas que generan
errores del orden de microvoltios cuando se emplean termopares, termistores y
sensores de deformacin. La figura 13 muestra una configuracin de medida
de temperatura con un termopar cobre-constantan conectado a un multmetro
digital. En ella se aprecia el termopar parsito originado por el constantan y la
conexin de cobre de la entrada del multmetro. Esta unin debe mantenerse a
una temperatura fija, con el fin de que el gradiente trmico no ocasione
tensiones parsitas. En principio se emple un bao de hielo para mantener la
unin a 0 C; en la actualidad se utilizan uniones de referencia electrnicas. La
unin de la parte superior no representa problema, ya que est formada por
dos metales idnticos (cobre).
Fig. 13. Origen del termopar parsito consecuencia de conectar un termopar
Cu/Con a un multmetro.
1.9.5 Carga de la impedancia de entrada
En la prctica, la impedancia de entrada de un instrumento es finita y, en
consecuencia, produce un efecto de carga sobre el dispositivo bajo test, que
introduce un error en la medida realizada. La figura 14 muestra la disposicin
de un multmetro digital con el fin de medir la tensin en una resistencia de
carga, como consecuencia de la inyeccin de una corriente de referencia. En
ella se aprecia que, la tensin (V m) se mide en la resistencia asociacin en
paralelo de la de entrada al multmetro (R i) y de la resistencia de carga (R l).
Fig. 14. Error introducido por una resistencia de entrada finita en un
multmetro digital.
El ejemplo 10 muestra la cuantificacin del error asociado a la carga de la
impedancia de entrada.
DMM
Vm
Cu Cu
CoCu
+
-+-
Termopar
Termopar parsito
Fuente de seal
DMM
Vm R i
Iref
Rl
22 JJGDR-UCA
Ejemplo 10. En el circuito de la figura 11, evaluar el error introducido por una R
i=10 M , al medir V m, cuando I ref=100 A y R l=100 k .
La lectura del DMM es:
9,90099V
)()10(0,1 )()10(0,1 100)( = + = M MM VA m
El valor ideal de la lectura es de 10 V. En consecuencia, el error relativo es:
%%100
10 900999,10 100% 0,9901
Valor ideal Valor realValor ideal e = = =
Este error, cercano al 1%, es intolerable en aplicaciones que manejen bajos
niveles de tensin. A ms alta impedancia de entrada la medida es ms
precisa.
1.9.6 Tiempos de estabilizacin: Capacidades parsitas
Las capacidades parsitas de los equipos electrnicos requieren a menudo
retrasar la realizacin de la medida respecto al estmulo con el fin de obtener
una medida fiable. La figura 15 muestra el retardo producido en un equipo de
medida como consecuencia de la capacidad parsita. En cada flanco de subida
del estmulo se solicita una medida, pero hasta que el equipo no ha alcanzado
el nivel umbral de produccin de respuesta no realiza la medida solicitada. Es
decir, la respuesta real dista de la ideal (reproduccin de la seal cuadrada que
produce el estmulo). Debemos retardar la visualizacin o presentacin de la
medida para dar tiempo a que la seal alcance el umbral de produccin de
respuesta.
Fig. 15. Retardo de un equipo de medida en la produccin de respuesta ante
los estmulos (en cada flanco de subida).
Este error se manifiesta cuando se observan diferencias al medir de forma
manual (paso a paso) respecto del modo de medida automtico. En ste
ltimo, los estmulos se producen en menos de un milisegundo, por lo que
conviene introducir retrasos con el fin de obtener resultados precisos. En los
equipos de instrumentacin virtual, los retardos se introducen mediante lneas
de programa. Se disean funciones productoras de retardos. Estas funciones
estn asociadas a objetos de temporizacin en lenguajes de programacin
orientada a objetos especficos de la Instrumentacin Electrnica.
Estmulos o solicitudes de medidas
Respuesta del equipo
Umbral de produccin de respuesta
Retardo
JJGDR-UCA 23
1.9.7 Interferencias de modo comn. Lazos de tierra
Cuando la fuente de seal involucrada en la medida y el instrumento estn
conectados a la misma toma de tierra pero en distintos puntos, se forma un
circuito cerrado que incluye el conductor de tierra y el plano de tierra. En la
figura 16 se aprecia que el lazo de tierra (tambin llamado bucle de masa)
se origina como consecuencia de que el conductor a tierra del equipo se ha
conectado en puntos diferentes (1,2).
Fig. 16. Formacin de un lazo de tierra y circuito equivalente para
cuantificacin de la interferencia.
El ejemplo 11 cuantifica el efecto de las interferencias de modo comn
producidas por la formacin de un lazo de tierra.
Ejemplo 11. En el circuito de la figura 16, demostrar que en la entrada del
multmetro est presente una componente aproximadamente igual a la tensin
de modo comn. Ri=10 M , R s=1 k , Rh=10 , R 12 =10 .
Sustituyendo los valores de las resistencias en ohmios, la lectura del DMM
resulta:
( ) ( ) mcsmcs
shi
i i vv vv RRRR R v + +++ += +++ = 10 1010 10 10 73 7 12
Se observa en el denominador el dominio de la resistencia de 10 7 . En
consecuencia, esto demuestra que en la entrada del multmetro est presente
la casi totalidad de la tensin de interferencia de modo comn:
mcis vvv +
La tensin de modo comn suele oscilar entre 1 y 10 voltios eficaces. Esto
significa que como en muchos de los sensores las seales oscilan entre 10 y 50
mV, la seal de interferencia enmascara a la seal de inters totalmente.
1.9.8 Errores asociados a seales peridicas: Factores de Cresta
Al medir seales de corriente alterna (CA) en multmetros digitales de
verdadero valor eficaz, el usuario suele aplicar las especificaciones del
instrumento respecto al procesado de seales sinusoidales a todo tipo de
formas de ondas.
Fuente de seal
DMM
Vi V s Rs Ri Impedancia de retorno de seal
Fuente de ruido
Estructura de tierra
V=V mc
Rh
12
24 JJGDR-UCA
En realidad, sucede que la forma de la seal de entrada determina la precisin
de la medida. Los errores cometidos en los multmetros dependen del factor de
cresta de la seal medida. El factor de cresta (CF 3; Crest Factor) de una seal
peridica se define [Agilent Technologies, 2002], como el cociente entre el
valor de pico y el valor eficaz:
ef
p
V
V CF
La siguiente ecuacin muestra cmo se introduce la estimacin de este error
en el error total. ste es suma del error asociado a la medida de seales
sinusoidales (precisin sinusoidal de DMM como suma del error de ganancia y
el error de offset), el error de factor de cresta y el error estimado de ancho de
banda:
BWCFseno Error Errortotal ErrorError ++=
El error de ancho de banda depende tambin del factor de cresta y responde a
la expresin en tanto por uno [Agilent Technologies, 2002]:
( ) BW CFf
Error BW

=
4
2
donde f es la frecuencia fundamental de la seal de entrada, y BW ( B and
W idth) es el ancho de banda del DMM (la frecuencia superior de corte). El
signo negativo es irrelevante y tiene origen emprico. Obsrvese que si el
ancho de banda es infinito, el error asociado a este parmetro es nulo. El
ejemplo 12 muestra cmo evaluar estos errores. Hemos visto que resulta muy
comn cometer el error de pensar que la precisin de un DMM (de verdadero
valor eficaz) se mantiene para cualquier tipo de seal de entrada,
independientemente de su forma o patrn. Sin embargo, en la prctica no es
as, y se comete un error adicional asociado al factor de cresta.
3 CF es Factor de cresta en EE.UU para
diferenciarlo de FC, factor de correccin en Espaol.
JJGDR-UCA 25
Ejemplo 12. El multmetro Agilent 34401 A posee un ancho de banda BW = 1
MHz. Su precisin de 90 das viene dada por (0,05 % + 0,03 %). El fabricante
especifica un error del 0,15% de la lectura para entradas en CA con factor de
cresta comprendido entre 2 y 3. Este instrumento recibe un tren de pulsos de
CF = 3 y frecuencia fundamental 20 kHz. Evaluar el error medio asociado a la
medida.
Se considera:
BWCFseno Error Errortotal ErrorError ++=
El valor absoluto del error de ancho de banda viene dado por:
()()()
%1,4100%01432390,100%
4 1000 3 20
100%
4
22
=
=
kHz kHz
BW CFf Error BW
En consecuencia, la incertidumbre total es:
( ) % 1,63%1,40,150,030,05 =+++=++= BWseno CF Error Errortotal ErrorError
1.10 Convertidores de tensin Alterna a Continua
Con el fin de realizar la medida de tensiones alternas y continuas es necesario
un convertidor alterna-continua. La tensin alterna se caracteriza por su
frecuencia y forma; y tiene como principales parmetros su valor pico a pico y
su valor eficaz. Existen dos tipos bsicos de convertidores, los convertidores de
verdadero valor eficaz ( True RMS converter ), y los convertidores alterna-valor
medio. Los primeros realizan el clculo del valor eficaz mediante circuitos con
amplificadores operacionales. Para ello han de realizar el clculo de la
expresin:
( ) ,1
0 2= T ef t dt v T V
donde v(t) es el valor instantneo de la seal a convertir. Este convertidor es el
ms avanzado y es vlido para cualquier seal peridica, independientemente
de su forma. Los convertidores alterna-valor medio se incorporan en los
multmetros digitales ms econmicos y slo pueden medir seales que posean
una relacin conocida entre el valor medio y el valor eficaz. Esta relacin se
define como el factor de forma de una seal:
m
ef V V FF
donde Vm es el valor medio de la seal rectificada en onda completa.
26 JJGDR-UCA
As, para medir el valor eficaz de una seal el instrumento multiplica su valor
medio por el factor de forma de una seal sinusoidal ( FF=FF sen ). En efecto:
ef
m
ef mmo V V V VFFVV = ==
Por ejemplo , un convertidor CA-CC para una seal sinusoidal puede
sintetizarse mediante un rectificador de doble onda de precisin seguido de un
integrador que multiplique por el factor de forma de una senoide. En el caso de
emplear rectificadores de media onda hay que multiplicar por el doble del
factor de forma. En el caso de medir seales cuadradas o triangulares hay que
considerar el factor de correccin . Este parmetro se define como el cociente
entre el factor de forma de la seal involucrada en la medida entre el factor de
forma de una seal sinusoidal. As por ejemplo, para una seal cuadrada, su
factor de correccin es:
sen
cuad
cuad
FF FF FC =
Al realizar la medida, el multmetro multiplica el valor medio por el factor de
forma de una sinusoidal y por el factor de correccin asociado al tipo de seal
que se mide. Por ejemplo, para una seal triangular se tiene:
ef
trianm
ef
m
sen
trian
m sentrian
V m seno V V V V FF FF V FFFF FCVV lectura = === 42431
A continuacin se calculan y describen los factores de forma y de correccin de
las seales de test ms frecuentes en Instrumentacin Electrnica.
Ejemplo 13. Seal sinusoidal. Sea la seal: ) (2() ft V senvt p = . Rectificada
en onda completa, la seal sinusoidal queda como indica la figura Ej. 13:
Fig. Ej. 13. Seal sinusoidal rectificada en onda completa y parmetros
caractersticos.
T=1/f
t
v(t)
0
Vp
Vm=2V p/
JJGDR-UCA 27
Su valor eficaz en tiempo continuo es:
()
()
2
2
21
21
)(4
4
1
2
21
21
2 4)1 cos(1
)(2
1
1/2
2
1/2
0
2
0
2
2
0
p
p
T
p
T
p
T
efp
V
ftVsen
f
V
dt
ft
V
T
ft dtV sen
T
V
=

=
=

==
El valor medio, despus de rectificarla en onda completa, se evala en un
semiperiodo, para poder integrar la funcin seno que s est definida en ese
semiperodo, y resulta:
[]
[]
[]
+=
=
=

=
=
=
==
p
p
p
T
p
T
p
T
mp
V
Tf
V
T
T
fTT
ftV
Tf
V
ft
Tf
dtVsen ftV
T
V
2
11)(
2
1
/21
0
2
cos
2
2
cos
2
1
/21
2)cos(
2
1
/21
2)cos(
2
1
/21
)(2
/21
/2
0
/2
0
/2
0
El factor de forma resulta pues:
1,1111072071,
4
2
222 2

=
=
=
p
p
m
ef
V
V
V
V FF
Y su factor de correccin resulta la unidad:
1== sen sen sen seal FF FF FF FF FC
La tabla 1 resume las magnitudes factores de forma y correccin, para las tres
seales ms conocidas con valor de pico p V , una vez han sido rectificadas en
onda completa.
Tabla 1. Caractersticas de las seales ms conocidas en la Ingeniera.
Sinusoide Cuadrada Triangular Valor eficaz ( Vef) 2 pV p V 3 pV Valor medio
( Vm) pV2 p V 2 pV
m
ef V V FF
1,11 1 1,15
sen
seal FF FF FC
1 0,9009009 1,039
El siguiente ejemplo se muestra un ejemplo numrico.
28 JJGDR-UCA
Ejemplo 14. Se dispone de un DMM de 3 1/2 dgitos que mide valor medio y
est calibrado en valor eficaz. Se pregunta qu lectura ofrece el multmetro
cuando se le conecta una seal TLL cosn ciclo de trabajo 50 % y niveles de
tensin alto y bajo de 0 y 5 V, respectivamente, con frecuencia comprendida
dentro del ancho de banda del instrumento.
Fig. Ej. 14. Seal cuadrada genrica.
El usuario debe proporcionar la tensin eficaz, una vez se haya corregido la
tensin media medida. Primero el multmetro multiplica por el factor de forma
del seno y presenta en la pantalla un resultado (para obtener la medida de
valor eficaz como si la entrada fuera sinusoidal). Despus el usuario
multiplicar por el factor de correccin asociado al tipo de seal involucrada
(en este caso cuadrada). De esta forma, el valor eficaz presentado es el que
corresponde a una seal cuadrada:
ef V
cuam V ef V
mV
sen FF cua FF
sen FF
mV
cua FC
lectura V sen FF m V
o V = === 42431
En nuestro caso el valor medio de la seal TTL es Vm=2,5 V, y debemos
calcular la lectura:
V
sen FF
mV
lectura V 775 2,1,112,5 ===
Como es un 3 1/2 la lectura ofrecida es 2,77 V.
Como ejemplo de multmetro de verdadero valor eficaz cabe citar el HM8011-3,
3l cual, internamente realiza los productos por los factores de correccin
correspondientes a cada forma de onda de funcin matemtica.
Referencias
[1] Agilent Technologies, Digital multimeter measurement error series, AC
voltage measurement errors in digital multimeters, AN 1389-3, 2002. [2] W.D.
Cooper and A.D. Helfrick, Instrumentacin electrnica moderna y tcnicas de
medicin, Prentice-Hall. Hispanoamericana, 1991. [3] A. Creus, Instrumentacin
industrial, Marcombo, Boixareu editores, 1995. [4] E. Mandado, P. Mario y A.
Lago, Instrumentacin Electrnica. Marcombo. boixareu editores, 1995. [5] R.
Palls, Instrumentacin electrnica bsica, Marcombo, Boixareu editores, 1987.
T
t
v(t)
0 t*=T/ 2
V=5 V
t*/T = ciclo de trabajo (duty cycle)
JJGDR-UCA 29

Características de Los Instrumentos Electrónicos de Medida

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