CONTROLE GEOMTRICO ATRAVS DA METROLOGIA PTICA: CHEGANDO

ONDE NENHUM OUTRO MEIO DE MEDIO CONSEGUE CHEGAR

Albertazzi, A. 1 .; Sousa, A. 2 ; Pezzota, C. 3

Mtodos pticos de medio esto se tornando solues cada mais atrativas para o controle geomtrico
de peas e componentes mecnicos. A elevada velocidade de medio, os excelentes nveis de incerteza,
a grande riqueza de detalhes, a flexibilidade e o nvel de automao so fatores positivos que tm
aproximado estas tcnicas da indstria. Ao contrrio do que possa parecer, esta tecnologia futurista j
est disponvel no Brasil.

1. METROLOGIA PTICA
Ainda pouco difundida no Brasil, a Metrologia ptica ocupa um espao cada vez maior nos pases mais
desenvolvidos. Princpios pticos j so usados h muito tempo na construo de diversos sensores
destinados a medir as principais grandezas qumicas e fsicas. Talvez os recentes avanos da Metrologia
ptica estejam sendo mais fortemente percebidos dentro das indstrias, principalmente na medio de
grandezas no processo de fabricao, ampliando as possibilidades de inspeo e controle de qualidade.
A luz como meio de medio proporciona uma srie de vantagens. A total ausncia de contato entre o
mensurando e o sistema de medio resulta em uma tcnica de medio no invasiva, em que no
ocorrem perturbaes no mensurando provocadas pela presena do sistema de medio. Outro aspecto
positivo a velocidade de medio que, literalmente, ocorre na velocidade da luz, tornando possvel
medies extremamente rpidas e, inclusive, a medio de peas em movimento. A elevada velocidade
de medio viabiliza a aquisio de um grande volume de dados em intervalos de tempo muito curtos.
Os excelentes nveis de incerteza presentes, principalmente nos mtodos interferomtricos, produzem
resultados excepcionais do ponto de vista metrolgico.
Na medio de geometria, os mtodos pticos de medio se prestam para vrias escalas: de
macroscpica a microscpica. Os astrnomos freqentemente determinam distncias e dimenses de
galxias, estrelas e planetas atravs de sinais pticos. A distncia terra-lua pde ser medida com uma
incerteza menor que um palmo a partir do tempo de vo da luz de um laser emitido da terra e refletido
por um espelho deixado na lua pelos astronautas da misso Apolo. Esta mesma tecnologia torna hoje
possvel medir a forma 3D de relevos a partir de sistemas laser embarcados em aeronaves equipadas com
GPS (Global Positionig System), o que tem permitido, por exemplo, levantar, com riqueza de detalhes, o
relevo de bacias hidrogrficas. A determinao da forma geomtrica de navios, aeronaves e automveis
freqentemente realizada com tcnicas pticas de medio. So vrias as aplicaes de medio da
geometria de componentes mecnicos de preciso por mtodos pticos, inclusive a calibrao de padres
geomtricos como os blocos-padro. Na escala microscpica a Metrologia ptica fundamental para
caracterizar componentes de dispositivos miniaturizados e elementos da nanotecnologia.

2. CONTROLE GEOMTRICO
O Controle Geomtrico uma das operaes mais intensivamente realizadas no ambiente da produo
industrial. Dimenses e formas geomtricas de peas so comparadas com suas respectivas tolerncias e
especificaes tcnicas. Alm de serem usadas para aceitar ou refugar peas que atendam as
especificaes, as informaes contidas nas medies de formas e dimenses so muito importantes para

1
Laboratrio de Metrologia e Automatizao do Departamento de Eng. Mecnica da Universidade Federal de Santa Catarina
2
Centro Federal de Educao Tecnolgica de Santa Catarina.
3
Photonical Instruments for Technical Applications LTDA - Photonita - www.photonita.com.br
detectar a estabilidade do processo de produo. Atravs do controle estatstico de processo, possvel
utilizar os resultados das medies para detectar tendncias de um processo e agir antes de que peas
fora das especificaes venham a ser produzidas.
Na esmagadora maioria dos casos o controle geomtrico realizado na indstria brasileira por meios
mecnicos. Processos de medio mecnicos com contato so muito difundidos pelo seu baixo custo, por
apresentarem incertezas de medio compatveis com as necessidades bsicas das indstrias e pela longa
tradio.
Entretanto, esses processos de medio mecnicos no conseguem medir todas as dimenses
geomtricas das peas e, ainda, a sua velocidade de medio no permite ao processo de controle de
qualidade acompanhar a velocidade da produo. O projeto e uso de dispositivos de medio dedicados,
com comparadores, permite aos sistemas mecnicos uma operao de controle geomtrico bem mais
rpida, mas a diversidade de formas e flexibilidade da produo atual no motiva ao desenvolvimento de
sistemas dedicados.
Nesse sentido a medio por coordenadas trouxe uma revoluo para o controle geomtrico. So
sistemas de medio flexveis, capazes de efetuar uma imensa variedade de tipos de medies com o
mesmo aparato fsico. O corao desta tecnologia o programa de medio: embutindo algoritmos de
tratamento de dados 3D permitem programar mquinas de medir por coordenadas para estabelecer
relaes entre entidades geomtricas e calcular distncias, ngulos, posies de centros, erros de forma,
etc. Para medir outras peas com geometria completamente distinta suficiente a troca do programa de
medio. Incertezas da ordem de 0,01 mm ou melhores so atingidas facilmente.
No entanto, apesar dessas qualidades, o uso da mquina de medir por coordenadas no to massificado
na indstria mecnica pelo seu elevado custo. So sistemas de medio de grande porte, envolvem
elementos de preciso e agregam em seu software de medio uma parcela considervel do custo da
mquina. Devem ser mantidas em ambiente climatizado e requerem manuteno e calibraes
especializadas. Pela sua portabilidade, os braos de medio tm sido vistos como alternativas atrativas
para a medio por coordenadas ao custo de incertezas de medio entre dez e vinte vezes piores que as
incertezas obtidas por mquinas de medir por coordenadas tradicionais.
Do ponto de vista tcnico, mesmo a medio por coordenadas com apalpao mecnica no uma
soluo satisfatria para o controle geomtrico de algumas classes de peas. Peas pequenas, com
formas complexas, ou com grande quantidade de detalhes so de difcil acesso para apalpao mecnica
e/ou podem resultar em um tempo de medio proibitivo. Em certos casos a dificuldade de medio
tamanha que certos parmetros geomtricos nem so medidos. Por falta de opo, so simplesmente
desconsiderados do plano de controle, com conseqncias nem sempre muito agradveis para o produto.

3. METROLOGIA PTICA E CONTROLE GEOMTRICO

A insero do processamento digital de imagens nas tcnicas pticas de medio provocou uma
revoluo na Metrologia ptica. A percepo de que para medir usando uma tcnica ptica necessrio
confiar nos aspectos subjetivos da avaliao de um operador treinado, freqentemente submetido
fadiga visual por fixar-se muito tempo na imagem de uma ocular, faz parte do passado. Hoje, a ao de
um operador de um sistema ptico de medio freqentemente limita-se a apertar um boto e aguardar
alguns segundos para receber um relatrio de medio que aponta quais parmetros esto dentro das
especificaes e oferece grficos tridimensionais que revelam, com grande riqueza de detalhes,
caractersticas da pea medida. [1, 2].
A flexibilidade e o elevado grau de automao, caractersticas tpicas da medio por coordenadas com
apalpao mecnica, tambm esto presentes nos mtodos pticos de medio. Algumas tcnicas pticas
usadas no controle geomtrico so, na sua essncia, tcnicas de medio por coordenadas. As
coordenadas tridimensionais de centenas de milhares de pontos so adquiridas em poucos segundos,
constituindo as denominadas nuvens de pontos. A ausncia de contato, o grande volume de dados
medidos e a elevada velocidade de medio permitem acessar, com riqueza de detalhes, caractersticas
da pea medida que seriam difceis, proibitivas ou mesmo impossveis com a apalpao mecnica. Por
exemplo, a existncia de curvatura ou um defeito em uma regio que deveria ser idealmente plana de
uma pea medida detectada com grande naturalidade pelo grande volume de dados obtido de uma
medio ptica.
O processamento apropriado da nuvem de pontos pode revelar uma srie de caractersticas de grande
interesse para o controle geomtrico da pea medida. possvel associar a regies da nuvem de pontos
entidades geomtricas, como planos, superfcies cilndricas, cnicas, esfricas ou superfcies livres, e
estabelecer relaes geomtricas entre estas, o que permite medir distncias, ngulos, erros de forma,
relaes de posio como paralelismo, etc. possvel descrever a tarefa de medio a partir da nuvem de
pontos atravs de uma linguagem de programao, preservando a mesma flexibilidade e clareza presente
na medio por coordenadas com apalpao mecnica.[3, 4]
A seguir so descritas algumas das tcnicas pticas mais usadas no controle geomtrico:
a) Medio por imagens bidimensionais
Inspirados nos antigos projetores de perfis existem hoje vrios sistemas disponveis no mercado capazes
de medir caractersticas geomtricas 2D de peas a partir do processamento da imagem do seu contorno.
So muito usados para o controle 2D de pequenas peas e peas planas em geral. Atualmente, a medio
de imagens possui grandes recursos para a sua automatizao e melhoria de exatido. Essa evoluo
pode ser percebida ao se verificar a presena de Mquina de Medir pticas de vrios fabricantes como
Mitutoyo (www.mitutoyo.com), OGP (www.ogp.com), Werth (www.werth.com) dentre outros. Em
todos eles um sensor de imagem de alta resoluo, e uma ptica bastante evoluda, permitem a medio
com grande velocidade e confiabilidade metrolgica. Contornos da pea so detectados
automaticamente, preservando a flexibilidade e elevado grau de automao.
b) Medio 3D por fotogrametria digital
Duas imagens digitais, obtidas de ngulos ligeiramente distintos, contm pequenas diferenas que podem
ser convertidas em informaes tridimensionais da geometria da pea medida. Inspirado na capacidade
dos animais de perceber noes de profundidade a partir da interpretao de imagens de cada olho, este
princpio a base da fotogrametria. Algoritmos especiais identificam as posies de pontos homlogos
em cada imagem e usam as informaes da posio e orientao de cada cmera para calcular as
coordenadas 3D de um grande conjunto de pontos sobre a pea a medir. A figura 1 ilustra este princpio.
Uma variante desta tcnica, denominada de topogrametria, envolve a projeo de padres pticos sobre a
superfcie da pea a medir para melhorar a incerteza da deteco de pontos homlogos, tornando
possvel medir com incertezas da ordem de 0,02% do volume medido. [5, 6].

Figura 1 - Diferenas entre as imagens so a base da fotogrametria (Leica)

c) Medio 3D por moire
A figura 2 ilustra o princpio de medio de formas 3D por moire. Uma grade, formada por uma srie de
linhas finas, retas e paralelas impressas em uma placa de vidro, obliquamente iluminada e projeta sua
sombra sobre a superfcie a medir. Uma cmera digital observa frontalmente a superfcie a medir atravs
da grade. O "batimento" entre as sombras e as prprias linhas da grade d origem a regies claras e
escuras denominadas de franjas de moire. O processamento digital da imagem das franjas permite medir
a forma da superfcie com grande riqueza de detalhes. A incerteza e a faixa de medio dependem da
grade. Incertezas de 5 m e faixa de medio de 1,5 mm so exemplos de valores encontrados em
sistemas comerciais. At 300 mil pontos so medidos em 15 s. A figura 3 mostra um exemplo de
medio de uma pea de plstico supostamente plana (Photonita). [1, 2].

Cmera de alta resoluo

Iluminao

Aquisio e Processamento
das imagens

Grade de Moir

Pea

Figura 2 - Princpio de medio de formas por moir

Figura 3 - Erros de forma de uma superfcie de uma pea de plstico injetada. (Photonita)

A figura 4 mostra a tela de resultados da medio de uma pea e as vrias possibilidades de controlar
parmetros extrados da medio. A flexibilidade preservada graas possibilidade de programar a
tarefa de medio a partir da nuvem de pontos.
 Figura 4 - Tela de resultados da medio da forma de uma pea por um mtodo ptico (Photonita)

d) Medio 3D por interferometria

Na medio por interferncia a forma determina a partir da diferena entre os caminhos percorridos
pela luz ao atingir uma superfcie de referncia e a pea a medir. O comprimento de onda da luz usado
como escala. Incertezas de poucos nanometros so atingidas em ambiente de laboratrio na medio de
superfcies de preciso.
Uma variante da interferometria ilustrada na figura 5. Envolve a utilizao de luz branca. A luz branca
colimada dividida em duas componentes: uma atinge a superfcie a medir e outra um plano de
referncia. Estas componentes so posteriormente recombinadas. Nos pontos em que estas distncias so
iguais uma figura de interferncia visvel pela cmera. A movimentao controlada do plano de
referncia gera curvas de nvel correspondendo a diferentes alturas. Por este processo possvel medir
peas com profundidade de at 35 mm com incertezas da ordem de 1 m. A figura 6 mostra um exemplo
de medio da forma de uma moeda de R$ 0,50. [1, 2, 7].

Plano de
Referncia

Pea

Plano de
Deslocamentos do plano interferncia
de interferncia em
passos nanomtricos

Figura 5 - Princpio de medio da interferometria de luz branca

 Figura 6 - Exemplo de medio da forma geomtrica de uma moeda de R$ 0,50 (Photonita)

4. CONCLUSES
Diversas tcnicas pticas de medio tm sido usadas com sucesso em pases mais desenvolvidos para
efetuar o controle geomtrico de peas em geral. Os excelentes nveis de incerteza, o grande volume de
dados medidos e a riqueza de detalhes tm permitido que mltiplos parmetros sejam verificados com
grande velocidade. A flexibilidade e o elevado nvel de automao proporcionados pela especificao da
tarefa de medio atravs de linguagens de medio concebidas para medir a partir de nuvens de pontos
tornam estas tcnicas extremamente atrativas para uso em ambientes de laboratrio e junto linha de
produo. Ao contrrio do que possa parecer, no Brasil h empresas que desenvolvem tecnologia prpria
para a Metrologia ptica, dentre estas a Optoeletrnica S.A. (www.opto.com.br) em So Carlos (SP), a
Pollux (www.pollux.com.br) em Joinville (SC) e a Photonita (www.photonita.com.br) em Florianpolis
(SC), e esto em condies de atender a principais demandas da indstria nacional.

REFERNCIAS BIBLIOGRFICAS

1. Huntley, J. M., Optical shape measurement technology: past, present, and future - Proc. SPIE
Vol. 4076, p. 162-173, Optical Diagnostics for Industrial Applications; Neil A. Halliwell; Ed., Aug
2000.
2. Chen, F., Brown, G. M., Song, M. Overview of 3-D shape measurement using optical methods,
Optical Engineering 39(01), p. 10-22, Roger A. Lessard; Ed., Jan 2000.
3. Kujawinska, M., Sitnik, R., Quality assessment of reverse engineering process based on full-field
true-3D optical measurements - Proc. SPIE Vol. 4076, p. 201-209, Optical Diagnostics for
Industrial Applications; Neil A. Halliwell; Ed., Aug 2000.
4. Albertazzi, A. e Pezzotta, C. A. "Desenvolvimento de uma linguagem para extrao de
caractersticas geomtricas de nuvem de pontos" - Anais do III Congresso Brasileiro de Metrologia,
Recife, Setembro de 2003.
5. Sitnik, R., Kujawinska, M., Woznicki, J. M., Digital fringe projection system for large-volume 360-
deg shape measurement - Optical Engineering 41(02), p. 443-449, Donald C. O'Shea; Ed., Feb
2002.
6. Reich, C., Ritter, R., Thesing, J. 3-D shape measurement of complex objects by combining
photogrammetry and fringe projection - Optical Engineering 39(01), p. 224-231, Roger A. Lessard;
Ed., Jan 2000.
7. Osten, W., Application of optical shape measurement for the nondestructive evaluation of complex
objects - Optical Engineering 39(01), p. 232-243, Roger A. Lessard; Ed., Jan 2000.