Cap. 4.

Echipamente tolerante la defectri 81

CAPITOLUL 4

ECHIPAMENTE TOLERANTE LA DEFECTRI

4.3. Structuri redundante pentru implementarea

toleranei la defectri
Teoria redundanei folosete cteva teoreme-limit care ghideaz
proiectarea echipamentelor cu structur redundant [2].
Redundana este o metod comod de cretere a fiabilitii
echipamentelor dac defectrile elementelor din componena
echipamentului sunt evenimente independente.
Probabilitatea de defectare a unui echipament cu structur
redundant, scade exponenial cu creterea costului alocat
echipamentului.
Implementarea redundanei se poate face prin tehnici de tip static, numite
i tehnici de mascare a defectrilor i prin tehnici de tip dinamic sau de
comutaie.
Realizarea echipamentele tolerante la defectri utiliznd tehnicile de tip
static prezint urmtoarele avantaje:
corecia defectrii se face instantaneu;
nu este necesar diagnosticarea defectrilor;
trecerea pe la proiectarea unui echipament fr redundane la
proiectarea unui echipament cu redundane este relativ simpl.

Redundana de tip dinamic implic existena n componena

echipamentului a mai multor module identice, din care doar o parte sunt
operaionale, celelalte fiind n ateptare pentru a fi comutate n momentul
diagnosticrii unui defect. Acest tip de redundan este utilizat pentru a
realiza echipamente autoreparabile, cnd comutarea rezervelor se face n
mod automat, sau n realizarea echipamentelor reconfigurabile.

Redundana de tip dinamic presupune ndeplinirea condiiilor urmtoare

(uneori considerate dezavantaje):
82 Cap. 4. Echipamente tolerante la defectri

echipamentul trebuie s tolereze ntreruperile i s poat executa o

reluare a operaiilor pentru a corecta erorile;
se presupune existena unui comutator sigur care s conecteze
rezervele sau s execute reconfigurarea n caz de defectare a unui
element;
diagnoza se desfoar n timpul funcionrii normale a
echipamentului, ceea ce presupune utilizarea unor metode i tehnici
de diagnosticare mai complicate.

Avantajele utilizrii redundanei de tip dinamic sunt urmtoarele:

se alimenteaz electric numai o rezerv a echipamentului;
comutatorul realizeaz o izolare a defectului;
numrul de rezerve poate fi ajustat fr a fi nevoie de modificarea
proiectrii echipamentului;
nu apar probleme de cuplare intrare / ieire a modulelor
redundante.

Implementarea redundanei, n scopul alegerii schemei convenabile,

presupune precizarea aprioric a nivelului la care aceasta trebuie aplicat:
component, modul funcional sau la nivelul ntregului echipament.

n continuare sunt prezentate exemple de structuri redundante statice de

tip individual i global rezultate prin multiplicare (figura 4.1):

a). Echipament cu structur neredundant

b). Echipament cu redundan la nivel individual

c). Echipament cu redundan la nivel global

 Cap. 4. Echipamente tolerante la defectri 83

Fig. 4.1. Structuri redundante statice realizate prin multiplicare

Modul de conectare fizic a elementelor de rezerv poate s coincid sau

nu cu modelul logic de fiabilitate. Un exemplu de aplicare a redundanei
la nivel global este prezentat n figura 4.2.

Fig. 4.2. Echipament cu redundan la nivel global

Echipamentul iniial format din unitile A, B, a fost dublat, ambele

echipamente lucrnd on-line i executnd sarcini identice pentru a putea
compara ieirile. Echipamentul va fi n bun stare de funcionare chiar
dac unul dintre module se va defecta, identificarea i izolarea
elementului defect urmnd a fi fcut de un modul suplimentar de
verificare a funcionrii corecte.

Dac se consider ipotezele urmtoare:

modulele funcionale sunt nereparabile;
circuitele care asigur conectarea modulelor sunt perfecte;
defectrile elementelor funcionale sunt independente i staionare,
atunci se pot scrie n continuare expresiile funciilor de fiabilitate pentru
structurile redundante de tip individual i global (figura 4.1). Pentru prima
structur avem:
n

RSI t 1 1 Ri t ki (4.1)
i 1

iar pentru structura redundant la nivel global:

K
n
RSG t 1 1 Ri ( t ) (4.2)
i 1

unde Ri t este funcia de fiabilitate a elementului i, iar ki - 1 , numrul de

rezerve utilizate pentru elementul i.
84 Cap. 4. Echipamente tolerante la defectri

Pentru acelai numr de rezerve, funcia de fiabilitate a structurii

redundante individuale are o valoare mai mare dect funcia de fiabilitate
a structurii redundante globale, ceea ce rezult uor din analiza calitativ a
celor dou structuri. n cazul structurii redundante la nivel global,
defectarea unui element oarecare scoate din funciune i celelalte n-1
elemente aflate n serie cu el, ceea ce nu se constat la structura
redundant individual, ansele de bun funcionare fiind mai mari pentru
structura redundant de tip individual.

Aplicarea redundanei individuale sau globale se poate face relativ simplu

n cazul echipamentelor de tip analogic.

n cazul echipamentelor digitale aplicarea de redundane trebuie fcut

lund msuri speciale, n caz contrar putndu-se observa o nrutire a
performanelor de fiabilitate.

Exemplu: Se consider un circuit basculant monostabil (CBM) cruia i se

aplic redundana prin multiplicare, obinnd schema din figura 4.3.

Dac unul dintre circuite se defecteaz astfel nct nu va da impuls de

ieire, schema funcioneaz n continuare n mod normal, iar dac
circuitul defect va genera impulsuri cu durat incorect (mai mare dect
constanta de timp a CBM) sau va funciona ca astabil, funcionarea
echipamentului va fi eronat. Rezult de aici c este necesar s se
cunoasc toate modurile posibile de defectare ale echipamentului i s se
ia msuri speciale de protecie, specifice fiecrui caz n parte.

Fig. 4.3. Circuit basculant monostabil cu structur redundant static

Trebuie precizat faptul c dublarea componentelor unui echipament nu

conduce ntotdeauna la o cretere a fiabilitii acestuia. Se poate
exemplifica acest lucru cu ajutorul echipamentelor autotestabile realizate
prin dublare (figura 4.4).
 Cap. 4. Echipamente tolerante la defectri 85

Fig.4.4. Echipament cu structur autotestabil

Comparatorul evideniaz defectarea unuia din cele dou module identice

prin formarea semnalului de STOP. Prezena unui defect n echipament este
sesizat numai dac cele dou module nu sunt afectate simultan de aceleai
erori (defecte).

4.3.1. Structuri redundante statice de tip individual i global

rezultate prin multiplicare

Pentru realizarea unei structuri tolerante la defectri, pornind de la

echipamentul autotestabil din figura 4.4 se poate utiliza structura din
figura 4.5. Defectarea unui modul M nu va mai produce apariia
semnalului de "STOP", informaia eronat fiind blocat spre ieire de una
din porile G1 . Semnalul de ieire va fi dat doar de grupul de module
aflate n bun stare de funcionare.