Sunteți pe pagina 1din 11

Universitatea Tehnic Gheorghe Asachi din Iai

Facultatea de Inginerie Chimic i Protecia Mediului


Specializarea Biomateriale Polimerice i Bioresurse

Microscopie de For Atomic

ndrumtor: Profesor dr. Ing. Constana


Ibnescu

Absolvent: Sandu Alexandra Ioana


AFM permite vizualizarea imaginilor cu un contrast
topografic foarte bun si masurarea precisa a suprafetelor.
Imaginile tridimensionale in AFM sunt obtinute fara o
preparare costisitoare a probelor ce urmeaza a fi studiate si
ofera informatii mult mai complete decat cele bidimensionale
obtinute din probele taiate transversal.

Tehnica AFM:
Moderna

Precisa

Simpla

Eficienta

Spectaculoasa

Rezolutie spatiala pana la nivel de atom

Investigarea morfologiei suprafetelor

Proprietati locale: magnetice


electrice termice mecanice
Monitorizarea fortelor si interactiunea varf-proba. Masoara fortele
dintre un varf ascutit si suprafata probei la distante foarte mici.
Rezolutia atomica in cazul AFM este obtinuta prin
monitorizarea unor forte mici aplicate pe suprafata cu ajutorul
unui varf subtire montat pe un cantilever flexibil care
actioneaza ca un arc.
AFM a fost aplicat pe probe biologice in mediu apos (varf
flexibil) la scurt timp dupa introducerea sa ca si tehnica
multifunctionala si a gasit numeroase aplicatii precum structura
si functia biomoleculelor.

AFM:
Reda morfologia suprafetei probelor
Ofera informatii despre forta de frecare, aderenta
Masoara proprietatile elastice (rigiditatea) ale probei
Masoara proprietatilor electrice si magnetice
Poate sa opereze in diferite medii precum aerul, vid ultra
inalt sau lichide

COMPONENTE DE BAZ
Cantilever flexibil care contine un varf ascutit
Detector fotodioda
Laser
Scanner piezoelectric
Sistem de feedback

Cand primul microscop a fost inventat (Binning, Quate si


Gerber, 1986) un mic diamant lipit la unul din capetele unei
foite de aur, atingea usor suprafata i se curba ca raspuns la
micile variaii ale fortei.
Astazi, exista o gama larga de materiale din care sunt
facute cantileverele, cele mai des folosite sunt cele din
siliciu si nitrura de siliciu. Alta component importanta a
microscopului este scanerul piezoelectric. Functia lui este
aceea de a misca varful sau proba in directiile x, y, z cu o
rezolutie atomica.
Sonda microscopului cu forta atomica este alcatuita dintr-o
lamela sub forma de cruce, alungita si elastica, numita
cantilever, cu dimensiuni de ordinul zecilor de microni, in
capatul careia este plasat un ac ascutit, perpendicular pe
cantilever.
Cantileverul este miscat in plan xy si vertical de un sistem de
pozitionare piezoelectric, cu precizia in jur de 5 nm orizontal si
pana la 10 pm vertical. In timp ce acul baleiaza suprafata,
miscandu-se in sus si in jos odata cu conturul acesteia, o raza
laser cade oblic pe partea superioara (puternic reflectatoare) a
cantileverului si se reflecta catre un senzor alcatuit din doua
fotodiode alaturate. Diferenta dintre semnalele celor doua
diode indica pozitia spotului laser pe senzor si deci pozitia pe
verticala a cantileverului. Deoarece distanta intre cantilever si
detector este de obicei de mii de ori mai mare decit lungimea
cantileverului, sistemul realizeaza o marire a deplasarii cu un
factor de peste 2000, usor de masurat.
AFM ofera un profil 3D a suprafetelor la scara nanometrica
prin masurarea fortelor dintre un varf ascutit (<10 nm) si
suprafata probei la distante foarte mici (0.2-10 nm).
Varful este plasat la capatul cantileverului sub forma unui
arc. Fortele dintre sonda si proba sunt dependente de
rigiditatea cantileverului si de distanta dintre sonda si
suprafata.
Daca constanta arcului cantileverului (0.1-1 N/m) este mai
mica decat suprafata, miscarile si deviatia cantileverului sunt
monitorizate iar fortele care rezulta variaza intre nN si N in
aer.
Sondele sunt facute in mod normal din Si3N4 sau Si.
Miscarea sondei pe suprafata este controlata cu ajutorul
scanerulul piezoelectronic, deviatia sondei este masurata de un
fascicule laser care se reflecta. Deviatia cantileverului este
folosita pentru a genera o harta cu topografia suprafetei.
Principalele forte de interactiune la distante mici sonda-
proba sunt interactiunile Van der Waals.
In timpul contactului cu proba, sonda resimte fortele de
respingere Van der Waals (modul contact) ducand la
deviatia varfului.

TIPURI DE VRFURI
Moduri de operare

1. Mod contact (<0.5 nm sonda-proba)

Cand constanta arcului cantileverului este mai mica


decat suprafata , cantileverul se indoaie deoarece fortele
(de pe supafata) sunt repulsive. Prin mentinerea constanta
a deviatiei cantileverului, fortele dintre proba si sonda
raman constante.

Mod contact-Interactiunea dintre atomii individuali ai varfului


cantileverului si cei ai suprafetei unde apar forte repulsive.
Avantaje:
scanare rapida, folosit pentru probele dure.
Dezavantaje:
fortele pot deteriora sau deforma proba dar proba
poate sa stea in lichid si impedimentul este
rezolvat.
2. Modul non-contact

Mod non-contact - Interactiunea dintre atomii individuali


ai varfului cantileverului (tip) si cei ai suprafetei, unde apar
forte de atractie.
Varful este oscilat la frecventa de rezonanta si
amplitudinea oscilatiei este mentinuta constanta.
In modul non-contact fortele ce apar sunt de atractie,
distanta intre varf si proba fiind ceva mai mare comparativ cu
modul contact.

3. Mod intermitent (0.5-2 nm)


Modul de analiza este similar cu cel de la modul contact,
totusi in acest mod cantileverul oscileaza la o frecventa de
rezonanta. Sonda atinge usor suprafata probei in timpul
scanarii.
Prin mentinerea unei amplitudini constante de oscilatie sunt
mentinute interactiunile varf-proba.
Avantaje:
Permite rezolutii ridicate ale probelor care pot fi usor
deteriorate in modul contact.
Folosita pentru probele biologice.

Dezavantaje:
Mai greu de realizat pentru probele in lichid
Viteza de scanare mai mica.

Informaii obinute prin tehnica AFM

1. Masurarea rigiditatii probei. Proprietatile elastice ale probei


2. Evaluarea rugozitatii probei analizate
3. Masurarea proprietatilor electrice si conductivitatii
distributia de sarcini electrice de pe suprafata probei

Aplicatiile tehnicii AFM


1. Domeniul biologiei
Tehnica este viabila pentru studierea moleculelor biologice
individuale.
Pentru studierea probelor biologice precum celulele,
membranele, proteinele, virusii etc. este oportun sa se
lucreze intr-un mediu lichid pentru pastrarea functionalitatii
biomoleculelor.
Folosirea tehnicii AFM in cerceterea biologica (celule,
membrane, proteine, virusi, bacterii et.) permite examinarea
morfologiei si proprietatilor mecanice a probelor biologice in
mediul lor natural, deoarece mediul lichid permite probelor sa
ramana vii in timpul scanarii.

2 . Domeniul metalelor
BIBLIOGRAFIE
1. Allison M. Whited, Paul S. Park, Atomic force microscopy:
A multifaceted tools to study membrane proteins and
their interactions with ligands, Biochimica et Biophysica
Acta, 1838, 2014, 56-68.

2. Robert A. Wilson and Heather A. Bullen, Basic Theory


Atomic Force Microscopy (AFM),

Department of Chemistry, Northern Kentucky University,


Highland Heights, KY 41099.

3. Frdric Eghiaian, Felix Rico, Adai Colom, Ignacio


Casuso, Simon Scheuring, High-speed atomic force
microscopy: Imaging and force spectroscopy, FEBS
Letters, 2014.

4. M. Habibnejad Korayem, H. Jiryaei Sharahi, A.


Habibnejad Korayem, Comparison of frequency response of
atomic force microscopy cantilevers under tip-sample
interaction in air and liquids, Scientia Iranica B (2012) 19 (1),
106112
5. Rohrer H. (1986) Nobel Lecture. Nobelprize.org. 17 Jun
2010 http:// nobelprize.org / nobel_prizes / physics/laureates /
1986/ rohrer- lecture. html.