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OMICRON Electronics GmbH

CPC 100 & CP TD1


Sistema Multifuncin de Prueba y Diagnstico de
Aislamiento

OMICRON

CONTENIDO

A CP TD1
Tangente Delta / Factor de Potencia (Concepto)
Descripcin del Mdulo CP TD1
Tarjeta de Prueba CP TanDelta
Proceso de Prueba

OMICRON

Sistema de Pruebas Primarias CPC 100 & CP TD1


OMICRON Electronics GmbH

MDULO CP TD1
PARA DIAGNSTICO DEL ESTADO DEL AISLAMIENTO
(MEDICIN DE CAPACITANCIA Y TANGENTE DELTA)

OMICRON

Aislamiento VS Dielctrico
Aislamiento:
Material o combinacin de materiales no conductivos
que proveen aislacin entre dos partes a diferente
potencial. Es un ineficiente conductor de electricidad.

Dielctrico:
Material utilizado para aislar dos partes a diferente
potencial que tiene propiedades medibles como:
Rigidez, Absorcin, Prdidas dielctricas, Factor de
Potencia.

OMICRON

Sistema de Pruebas Primarias CPC 100 & CP TD1


OMICRON Electronics GmbH

Aislamiento VS Dielctrico
Entonces, el aislamiento puede ser representado por
dos placas separadas por uno o ms materiales
dielctricos, donde una placa es sometida a un alto
voltaje y la otra a un bajo voltaje o a tierra.

Alto Voltaje Calor /potencia

OMICRON

Prdidas en Materiales Dielctrico

Transporte de electrones e iones


Perdidas por efecto de la polarizacin
Las prdidas en el dielctrico dependen de:
Envejecimiento
Contenido de agua
Descargas parciales
Prdidas en partculas conductivas

OMICRON

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Aislamiento perfecto

I(capacitiva)

ITOTAL

IR = 0
V(aplicada)

OMICRON

Aislamiento REAL
En Un sistema de aislamiento REAL Existe tambin
una corriente de prdidas en fase con la tensin

ICAPACITIVA

IC ITOTAL
IR
ITOTAL

IC

IR VAPLICADA

OMICRON

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Aislamiento REAL
En la practica ningn aislante es perfecto
Siempre existen perdidas resistivas
La ITOTAL adelanta a la VAPLICADA en un ngulo de fase y
esta retrasada respecto a la IC un determinado ngulo
ICAPACITIVA

IC ITOTAL



IR
VAPLICADA
OMICRON

Que es la Tangente Delta?


El Tangente Delta es la relacin entre la corriente de
fase (resistiva) y la corriente en 90 (capacitiva).
El lo mismo que el Factor de disipacin
ICp IRp

ITOTAL

U
I Rp 1
tan = =
I Cp Rp C p

OMICRON

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Que es el Factor de Potencia?


El Factor de potencia es la relacin entre la corriente
resistiva y la corriente total

ICp
ITOTAL


U
IRp
I Rp
FactordePotencia = cos =
I TOTAL

OMICRON

Que nos dice la Tangente Delta


Factor de disipacin:
Bornes:
Envejecimiento y descomposicin del aislamiento
Contenido de agua
Aislamiento resquebrajado (grietas)
Descargas parciales
Transformadores:
Envejecimiento
Contenido de agua en el aceite y en el papel
Contaminacin por partculas

OMICRON

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Que nos dice la Tangente Delta


Capacitancia:
Bornes:
Ruptura parcial del aislamiento entre capas
Penetracin de aceite en fisuras del aislamiento
slido (RBP hard paper)
Agua
Devanado de los Transformadores:
Variacin de la geometra del transformador
(deformacin y desplazamiento de devanados
debido a sobre corrientes)

OMICRON

CP TD1
Mdulo de Diagnstico del Estado del Aislamiento

OMICRON

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CPC100 + CP TD1

OMICRON

CPC100 + CP TD1

OMICRON

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CP TD1 - Componentes
Capacitor de Referencia
Transformador elevador
Matriz de contactos

OMICRON

CPC100 + CP TD1
Tan - measurement with CP DF12
Diagrama de Bloques Monday, 01. July 2002
High voltage output
(0..12kV)

CN
select channel primary
EUT (Cx)

Ix_in
B_1 In A
tertiary
sec.
B_PE ADC
In B
B_2
guard
booster-Interface

safety
voltage-booster
DSP calib

RS232 &
supply
CP TD1
serial-Interface

CPC100 FUNCTIONAL EARTH


mains

OMICRON

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CPC100 + CP TD1
Datos Tcnicos
Tensin: 12kV @ 15 400Hz (1)

Corriente: 100mA 1h, transitorio hasta 300mA

Incertidumbre en la medida:

Tan : 0.05% de la lectura 4x10-5 (2)

C: 0.05% de la lectura 0.1pF for I<=8mA

0.2% de la lectura 10pF for I>8mA

1) Frecuencias< 45Hz con amplitud reducida

2) Incertidumbre para 45-65Hz

OMICRON

Tarjeta de Prueba CP TanDelta


Ventana Principal
Seleccione para realizar la evaluacin
Tensin y Frecuencia automtica de la prueba tomando
de Prueba como referencia los valores Cref y
Dfref configurados

Seleccione para
Medicin Automtica
con rampas de V y f
Deseleccione para
Medicin Manual

Seleccione el Modo de
Medida. La matriz de
contactos cambia la
conexin de acuerdo
al modo seleccionado

Pantalla de Resultados
Va a la pgina
de Ajustes

OMICRON

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Tarjeta de Prueba CP TanDelta


Ventana Principal
Modos de Conexin

OMICRON

Tarjeta de Prueba CP TanDelta


Ventana Principal
Ajuste de los parmetros
medidos a ser mostrados en la
pantalla de resultados

Factor de Medida es el
nmero de medidas a
realizar para presentar
el valor promedio en la
pantalla de resultados

Ancho de Banda del


Filtro de Medida

Va a la pgina
de Ajustes

OMICRON

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Tarjeta de Prueba CP TanDelta


Ventana Principal
Parmetros Medidos

OMICRON

Tarjeta de Prueba CP TanDelta


Ventana de Ajustes
Ajuste de Tolerancias respecto
a los valores nominales para la
C (en %) y el DF (en veces)

Ajustes de la
Calibracin,
incluyendo nombre
del tcnico y la fecha
del ajuste

Selecciones para
que el CP TD1
mantenga un
anunciador acustico
durante la prueba

Selecciones para que el Retorna a la


CPC100 compruebe si el pgina Principal
apantallamiento del
cable de alta
tensin est conectado

OMICRON

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Tarjeta de Prueba CP TanDelta


Ventana Principal
Seleccione para que los valores de Utiliza la Norma
FD o FP medidos sean corregidos ANSI C57.12 para
por temperatura respecto a la compensar las
temperatura de referencia (25C) mediciones de DF
del aceite

Compensa las
mediciones para
diferentes tipos de
aisladores (RBP, RIP,
OIP)

Retorna a la
pgina Principal

OMICRON

CPC100 + CP TD1
Puesta en Funcionamiento
1. Desconecte la unidad CPC100 con el interruptor de alimentacin
principal.
2. Conecte el Sistema de Prueba a Tierra:
Con carro:
Conecte correctamente los terminales de puesta a tierra de la
CPC100 y el CPTD1 a la barra de tierra del carro. Conecte la barra
de tierra a tierra. Todos los cables de 6mm mnimo.
Sin carro:
Conecte correctamente a tierra los terminales de puesta a tierra de
la unidad CPC100 y el CPTD1. Ambos cables 6mm mnimo.
3. Conecte "BOOSTER IN" (Entrada de amplificador) del CPTD1 a
"EXT. BOOSTER (Amplificador externo) de la unidad CPC100 con
el cable de amplificador suministrado por OMICRON.

OMICRON

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CPC100 + CP TD1
Puesta en Funcionamiento
4. Conecte "SERIAL" (Serie) del CPTD1 a "SERIAL" (Serie) de la
unidad CPC100 con el cable de datos suministrado por OMICRON.
Este cable tambin suministra la alimentacin elctrica al CPTD1.
5. Extraiga los cables de medicin de la bobina y conecte el equipo en
prueba a las entradas de medicin INA e INB del CPTD1.
6. Extraiga los cables de alta tensin de la bobina y conecte el equipo
en prueba a la salida de alta tensin del CPTD1.
7. Encienda la unidad CPC100.
8. Al seleccionar la tarjeta de prueba TanDelta en cualquiera de los
grupos de tarjetas de prueba TC, TT, Transformador y Otros de la
unidad CPC100 se activa automticamente el sistema CPTD1. Si
no se ha conectado un sistema CPTD1 a la unidad CPC100,
aparece un mensaje de error.
9. Configure la medida en la tarjeta de prueba TanDelta
10. Pulse el botn I/O (iniciar/parar prueba).

OMICRON

Procedimiento de Prueba
Transformador de 2 devanados
a. Condensador de
Placas como un b. Modelo para el
modelo del comportamiento de
aislamiento un dielctrico con
dieltrico caractersticas de
polarizacin y
c. Parte de la seccin conductividad
transversal del
sistema de d. Modelo simplificado
aislamiento entre de la geometra de
los devanados de los principales
HV y LV de un componentes de un
transformador de transformador:
potencia Aceite, barriers,
separadores.

e: Modelo Dielctrico
para el sistema de
aislamiento de un
Transformador de
Potencia

OMICRON

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Procedimiento de Prueba
Transformador de 2 devanados

OMICRON

Procedimiento de Prueba
Transformador de 2 devanados
Preparacin del equipo En prueba
1. El transformador se debe poner fuera de servicio y aislar
totalmente del sistema elctrico.
2. Se debe verificar que el tanque del transformador est
correctamente puesto a tierra.
3. Todos los terminales del
aislante de un grupo de
devanados, se tienen que
conectar por medio de un hilo
de cobre.
4. Los terminales de neutro de
los devanados conectados en
estrella se tienen que
desconectar de tierra (tanque).

OMICRON

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Procedimiento de Prueba
Transformador de 2 devanados
Preparacin del equipo En prueba
5. Conecte el terminal de tierra de CPC100 + CPTD1 a la tierra (de
la subestacin) del transformador.
6. Cortocircuite todos los TCs tipo bushing.
7. No haga pruebas de alta tensin en transformadores al vaco.
8. La tensin de prueba se debe elegir en funcin de la tensin
nominal del devanado.
9. Todas las pruebas se deben hacer con el aceite a temperaturas
prximas a los 20C. Las correcciones de temperatura se
pueden calcular mediante curvas de correccin, pero tiene una
exactitud limitada.

OMICRON

Procedimiento de Prueba
Transformador de 2 devanados
Preparacin del equipo En prueba
11. Conecte la salida de alta tensin del CPTD1, al devanado de
alta tensin.
12. Conecte IN A, al devanado de baja tensin

AT

Prueba N 1:
Modo GST: Mide CH + CHL

OMICRON

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Procedimiento de Prueba
Transformador de 2 devanados
Preparacin del equipo En prueba
11. Conecte la salida de alta tensin del CPTD1, al devanado de
alta tensin.
12. Conecte IN A, al devanado de baja tensin

AT

Prueba N 2:
Modo GSTg-A: Mide CH

OMICRON

Procedimiento de Prueba
Transformador de 2 devanados
Preparacin del equipo En prueba
11. Conecte la salida de alta tensin del CPTD1, al devanado de
alta tensin.
12. Conecte IN A, al devanado de baja tensin

AT

Prueba N 3:
Modo UST-A: Mide CHL

OMICRON

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Procedimiento de Prueba
Transformador de 2 devanados
Preparacin del equipo En prueba
13. Conecte la salida de alta tensin del CPTD1, al devanado de
baja tensin.
14. Conecte IN A, al devanado de alta tensin

AT

Prueba N 4:
Modo GSTg-A: Mide CL

OMICRON

Procedimiento de Prueba
Transformador de 2 devanados

OMICRON

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Procedimiento de Prueba
Transformador de 2 devanados

Interpretacin de Resultados

Condiciones de aislamiento
Transformador Podra ser Necesita ser
Bueno
aceptable investigado

Nuevo DF < 0.5% - -

En servicio DF < 0.5% 0.5% < DF < 1% DF > 1%

Todos los Valores medidos a 20 C

OMICRON

Procedimiento de Prueba
Transformador de 2 devanados

Interpretacin de Resultados

OMICRON

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Procedimiento de Prueba
Casos de Estudio - Transformadores

Tan Delta (f) con aceite tratado (secado)


DF (f) H, HL, L
0.45 %

0.4 %

0.35 %

0.3 %
H(f)
0.25 %
HL(f)
0.2 %
L(f)
0.15 %

0.1 %

0.05 %

0.0 %
0.0 Hz

50.0 Hz

100.0 Hz

150.0 Hz

200.0 Hz

250.0 Hz

300.0 Hz

350.0 Hz

400.0 Hz

450.0 Hz
OMICRON

Procedimiento de Prueba
Casos de Estudio - Transformadores

Tan Delta (f) con aceite envejecido


DF (f) H, HL, L
0.6 %

0.5 %

0.4 %
H(f)
0.3 % HL(f)
L(f)
0.2 %

0.1 %

0.0 %
0.0 Hz

50.0 Hz

100.0 Hz

150.0 Hz

200.0 Hz

250.0 Hz

300.0 Hz

350.0 Hz

400.0 Hz

450.0 Hz

OMICRON

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Procedimiento de Prueba
Casos de Estudio - Transformadores

Tan Delta (f) de Trafo de 110 KV con alto contenido de agua


DF (f) H, HL

1.8 %

1.6 %

1.4 %

1.2 %

1.0 % H(f)
0.8 % HL(f)
0.6 %

0.4 %

0.2 %

0.0 %
0.0 Hz

50.0 Hz

100.0 Hz

150.0 Hz

200.0 Hz

250.0 Hz

300.0 Hz

350.0 Hz

400.0 Hz

450.0 Hz
OMICRON

Procedimiento de Prueba
Casos de Estudio - Transformadores

Tan Delta (f) para verificar conexin del corto circuito


DF (f) DF (f)
0.7 % 0.8 %

0.5 % 0.7 %
0.3 %
0.6 %
0.1 %
0.5 %
-0.1 %
0.0 Hz

50.0 Hz

100.0 Hz

150.0 Hz

200.0 Hz

250.0 Hz

300.0 Hz

350.0 Hz

400.0 Hz

450.0 Hz

0.4 %
-0.3 %

-0.5 % 0.3 %

-0.7 % 0.2 %

-0.9 % 0.1 %
-1.1 %
0.0 %
0.0 Hz

50.0 Hz

100.0 Hz

150.0 Hz

200.0 Hz

250.0 Hz

300.0 Hz

350.0 Hz

400.0 Hz

450.0 Hz

-1.3 %

-1.5 %

Pobre contacto en el Cortocircuito Buen contacto en el Cortocircuito

OMICRON

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Procedimiento de Prueba
Bushings de AT

Los bushings de alta tensin


son elementos fundamentales
de transformadores de
potencia, interruptores de
potencia y otros dispositivos
elctricos.
Son responsables de ms del
10% de todas las averas de
transformadores por lo que se
recomienda una medida
peridica de la capacitancia y
el DF.

OMICRON

Procedimiento de Prueba
Bushings de AT

Falla de un Bushing

OMICRON

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Procedimiento de Prueba
Bushings de AT

Bushing Tipo Condensador 69 KV Bushing Tipo Condensador 115 KV

OMICRON

Procedimiento de Prueba
Bushings de AT

OMICRON

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Procedimiento de Prueba
Bushings de AT

NOTAS:
El electrodo de la toma en activo normalmente est puesto a tierra, salvo en el caso de ciertos diseos y
aislantes que se utilizan con dispositivo de potencial.
En aislantes con tomas de potencial, la capacitancia C2 es mucho mayor que C1. En aislantes con toma
de factor de potencia, las capacitancias C1 y C2 pueden encuadrarse en el mismo orden de magnitud.

OMICRON

Procedimiento de Prueba
Bushings de AT
Pruebas a realizar:
1. Prueba del Aislamiento principal
Conductor central Tap: C1
2. Prueba de Aislamiento del Tap
Tap (toma) de Prueba - Brida: C2
3. Prueba de collar caliente (Hot Collar Test)
Cubierta externa del aislamiento Conductor central
4. Prueba completa
Conductor central - Brida

OMICRON

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Procedimiento de Prueba
Bushings de AT
Preparacin de la prueba:
1. Corto circuite los devanados (para bushing de transformadores)
2. Limpie los bushings a fin de minimizar las fugas por la superficie
3. Ponga a tierra el devanado opuesto al que se ha de realizar la
medicin.
4. Retirar la cubierta del Tap de prueba del bushing a probar.
5. Realizar la medicin de C1 (Conductor central Tap) en el modo
UST-A
6. Realizar la medicin de C2 (Tap de Prueba - Brida) en el modo
GSTg-A
7. Reinstale la cubierta del Tap de Prueba.

OMICRON

Procedimiento de Prueba
Bushings de AT
Medicin de C1: Conductor central Tap
AT

Modo UST-A: Mide C1

OMICRON

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CP TanDelta Procedimiento de Prueba


Bushings de AT
Medicin de C1: Conductor central Tap

Mide C1

OMICRON

CP TanDelta Procedimiento de Prueba


Bushings de AT
Medicin de C2: Conductor central Tap
Se debe verificar la tensin de prueba de acuerdo al fabricante del bushing

Mide C2

OMICRON

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Procedimiento de Prueba
Bushings de AT
Prueba de Collar caliente

OMICRON

Procedimiento de Prueba
Bushings de AT

Interpretacin de Resultados (guas generales)


Condiciones de aislamiento
Necesita ser
Bornas Acceptable Crtico
investigado
DF medido DF medido DF medido
< 2 x DF ref < 3 x DF ref > 3 x DF ref
Con DF ref = Valor nominal en placa o Valor inicial

Se debe verificar los lmites de DF para cada tipo de Bushing y de acuerdo


al fabricante del mismo.

OMICRON

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Procedimiento de Prueba
Bushings de AT

Interpretacin de Resultados (guas generales)


Condiciones de aislamiento

Bornas Should be
Acceptable Critico
investigated

C < 5% 5% < C < 10% C > 10%

C = C medido C ref*

* con C ref = Valor nominal en placa o Valor inicial

Se debe verificar los lmites de DF para cada tipo de Bushing y de acuerdo


al fabricante del mismo.

OMICRON

Procedimiento de Prueba
Casos de Estudio - Bushings de AT

Progresin de la C y TanDelta de un Bushing


C Tan-Delta Progression of a 220 kV RBP (Hard Paper) Bushing
Year of Manufacturimg 1961, horizontal mounted, oil filled
Tan Delta Change of Capacitance

30

25

20
Change of Capacitance %
-3
Tan Delta x 10

15

10

0
75 77 79 81 83 85 87 89

-5
Date of Measurement

OMICRON

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Procedimiento de Prueba
Casos de Estudio - Bushings de AT

FD de un Bushing RIP de 145 KV Nuevo (Micafil)

OMICRON

Procedimiento de Prueba
Casos de Estudio - Bushings de AT

Bushing RIP de 220 KV dejado a la intemperie

OMICRON

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Procedimiento de Prueba
Casos de Estudio - Bushings de AT

Bushing RIP de 220 KV dejado a la intemperie


0.85 %
31.03.2004
0.75 % 15.07.2004
08.10.2004
0.65 %
Tan Delta

0.55 %

0.45 %

0.35 %

0.25 %
0.0 Hz 100.0 Hz 200.0 Hz 300.0 Hz 400.0 Hz 500.0 Hz

OMICRON

Procedimiento de Prueba
Casos de Estudio - Bushings de AT

Bushing OIP de 69 KV de un Oil Circuit Breaker

OMICRON

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Procedimiento de Prueba
Casos de Estudio - Bushings de AT

Bushing OIP de 69 KV de un Oil Circuit Breaker


0.6 %
Circuit Breaker Bushing C-PF Test
0.5 %
V TEST* [V] C meas. PF meas.[%] 1
0.4 % 2
10032.20 2.836E-10 0.457
10031.81 2.815E-10 0.491 0.3 % 3
4
10031.55 2.853E-10 0.493
0.2 % 5
10031.20 2.837E-10 0.486
6
10028.73 2.855E-10 0.504 0.1 %
10030.49 2.853E-10 0.449
0.0 %
*0.0 Hz *100.0 Hz *200.0 Hz *300.0 Hz *400.0 Hz *500.0 Hz

DF (f) 69 kV OIP Bushings 60Hz

OMICRON

Procedimiento de Prueba
Casos de Estudio - Bushings de AT

Bushing OIP de 69 KV de un Oil Circuit Breaker

DF (f) 69 kV OIP Bushings 17-400Hz


OMICRON

Sistema de Pruebas Primarias CPC 100 & CP TD1


OMICRON Electronics GmbH

Procedimiento de Prueba
Casos de Estudio - Bushings de AT

Bushing OIP de 420 KV


Tan Delta C

0.5 415
0.45 410

0.4 405
400
0.35
0.3 U 395 + 10% U
V 390 V

pF
0.25
%

W 385 W
0.2
380
0.15
375
0.1 370
0.05 365
0 360
0 100 200 300 400 0 100 200 300 400
Hz Hz

OMICRON

Procedimiento de Prueba
Casos de Estudio - Bushings de AT

Bushing RPB de 110 KV defectuoso


Tan Delta C

1.5 340

335
1.3
330
2U 2U
1.1
2V 325 2V
2W 2W
pF

0.9 320
%

2N 2N
1N 315 1N
0.7
310
0.5
305

0.3 300
0 100 200 300 400 0 100 200 300 400
Hz Hz

Tan Delta (f) C (f)

OMICRON

Sistema de Pruebas Primarias CPC 100 & CP TD1


OMICRON Electronics GmbH

Procedimiento de Prueba
Transformador de Corriente
Preparacin del equipo En prueba
1. Cortocircuitar el lado primario (alto voltaje)
2. Si es posible, desconecte y aisle los secundarios (marque todos los
terminales para facilitar reconexin)
3. Aterrice al menos un terminal en cada secundario
4. Energice el primario y mida en GST
AT
H1 H2

X1 X3 Y1 Y3

OMICRON

Procedimiento de Prueba
Transformador de Corriente con Tap
Preparacin del equipo En prueba
N Mide Energice Guarda UST
01 General H1-H2 ------ ------
02 C1 H1-H2 ------ Tap
03 C2 Tap H1-H2 ------

OMICRON

Sistema de Pruebas Primarias CPC 100 & CP TD1


OMICRON Electronics GmbH

Procedimiento de Prueba
Transformador de Corriente con Tap
Preparacin del equipo En prueba
1. Cortocircuitar el lado primario (alto voltaje)
2. Si es posible, desconecte y aisle los
secundarios (marque todos los terminales
para facilitar reconexin)
3. Aterrice al menos un terminal en cada
secundario
4. Realice las siguientes mediciones:

N Mide Energice Guarda UST


01 General H1-H2 ------ ------
02 C1 H1-H2 ------ Tap
03 C2 Tap H1-H2 ------

OMICRON

Procedimiento de Prueba
Transformador de Tensin Inductivos
Transformador de Tensin Inductivo sin Acceso al Neutro
Preparacin del equipo En prueba
N Modo Energice Tierra Guarda UST Mide
01 UST-A H1 H0 - X1 CHX
02 UST-A H1 H0 - Y1 CHY
03 GSTg-A H1 H0 X1, Y1 - Iexitacin
X1
X2
X3
Y1
Y2
Y3

OMICRON

Sistema de Pruebas Primarias CPC 100 & CP TD1


OMICRON Electronics GmbH

Procedimiento de Prueba
Transformador de Tensin Inductivos
Transformador de Tensin Inductivo con acceso al Neutro
Interpretacin de resultados
1. Compare I, W, C y %FP con datos de placa o resultados anteriores
2. Compare %FP con resultados de unidades similares
3. Compare las pruebas Cross-Check (2 y 3) similares para la
mayora de PTs.

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Procedimiento de Prueba
Transformador de Tensin Capacitivos
Preparacin del equipo En prueba
1. Desenergice el capacitor
2. Aterrice el terminal de lnea
(slo para prueba con lnea Terminal de Lnea

aterrada)
Capacitor C1
3. Cierre los switches de tierra
S1 & S2
4. Remueva las conexiones de A
Transformador
los terminales B2 (CAR) & de Potencial

B3 (POT)
5. Proceda con las pruebas

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Procedimiento de Prueba
Transformador de Tensin Capacitivos
Preparacin del equipo En prueba -
1. Prueba con Lnea Aterrizada

N Modo Energice Tierra Guarda UST Mide

01 GST B2 B1 - - C1+C2

02 GSTg-A B3 B1 B2 - C1

03 UST-A B3 B1 - B2 C2

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Procedimiento de Prueba
Transformador de Tensin Capacitivos
Preparacin del equipo En prueba -
1. Prueba con Lnea Aterrizada
Prueba N 1: Modo GST - Mide C1+C2

AT

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Procedimiento de Prueba
Transformador de Tensin Capacitivos
Preparacin del equipo En prueba -
1. Prueba con Lnea Aterrizada
Prueba N 2: Modo GSTg-A - Mide C1

AT

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Procedimiento de Prueba
Transformador de Tensin Capacitivos
Preparacin del equipo En prueba -
1. Prueba con Lnea Aterrizada
Prueba N 3: Modo UST-A - Mide C2

AT

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Procedimiento de Prueba
Transformador de Tensin Capacitivos
Preparacin del equipo En prueba -
1. Prueba sin Lnea Aterrizada

N Modo Energice Tierra Guarda UST Mide

01 UST-A B1 - - B2 C1+C2

02 UST-A B1 - - B3 C1

03 UST-A B3 - - B2 C2

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Procedimiento de Prueba
Transformador de Tensin Capacitivos
Preparacin del equipo En prueba -
1. Prueba sin Lnea Aterrizada
Prueba N 1: Modo USTg-A - Mide C1+C2

AT

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Sistema de Pruebas Primarias CPC 100 & CP TD1


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Procedimiento de Prueba
Transformador de Tensin Capacitivos
Preparacin del equipo En prueba -
1. Prueba sin Lnea Aterrizada
Prueba N 2: Modo USTg-A - Mide C1

AT

OMICRON

Procedimiento de Prueba
Transformador de Tensin Capacitivos
Preparacin del equipo En prueba -
1. Prueba sin Lnea Aterrizada
Prueba N 2: Modo USTg-A Mide C2

AT

NOTA: El voltaje de prueba no debe exceder el voltaje del carrier

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Procedimiento de Prueba
Transformador de Tensin Capacitivos
Interpretacin de resultados
1. Compare C y %FP con datos de placa (Capacitancia medida debe
estar dentro de un 1% de placa).
2. Compare con otras unidades del mismo tipo.
Guas Generales
1. Un CCVT nuevo debe tener un FP de ~0.25% & cuando el FP
medido es doblado (0.50%) deben ser removido de servicio.
2. Cambios drsticos en capacitancia indican capas de capacitores
cortocircuitadas.
3. Algunos CCVTs GE 46 kV tipo C y C3 presentan un factor de
potencia normal de 2 - 3.5%.
4. Si se sospecha un problema, realice pruebas suplementarias.

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Procedimiento de Prueba
Interruptores de Tanque Muerto
Pruebas con Interruptor abierto
Bushing Bushing Modo de
N Fase
Energizado Flotante Prueba
1 R 1 2 GST
2 R 2 1 GST AT
3 S 3 4 GST
4 S 4 3 GST
5 T 5 6 GST
6 T 6 5 GST

Pruebas con Interruptor cerrado


Bushing Bushing Modo de
N Fase
Energizado Flotante Prueba
7 R 1&2 - GST
8 S 3&4 - GST
9 T 5&6 - GST

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GRACIAS POR SU ATENCIN!!!!

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