Universidad de Oriente

Ncleo de Anzotegui
Escuela de Ingeniera y Ciencias Aplicadas
Departamento de Sistemas Industriales
Catedra: Control de Cali

Bachiller:
Docente:
Anderson Jaramillo
Rosa Olivero.
C.I: 24.229.962
 INDICE.

INTRODUCCIN.............................................................................................................................. 3
Planes para aceptacin. ............................................................................................................... 4
Clases de planes de muestreo. .............................................................................................. 5
Simple o sencillo ................................................................................................................ 5
Doble ...................................................................................................................................... 5
Mltiple .................................................................................................................................. 6
Curva Operativa (OC). ................................................................................................................... 6
Riesgo del Consumidor. () ......................................................................................................... 8
Riesgo del productor. () ............................................................................................................. 9
Porcentaje defectuoso tolerable en el lote. (LTPD o PDTL)................................................ 9
Nivel de calidad aceptable. (NCA o AQL) ................................................................................ 9
Limite promedio de calidad de salida. (AOQL)....................................................................... 9
Sistema Dodge Romig. ............................................................................................................ 10
Sistema MIL-STD-105D. .............................................................................................................. 12
CONCLUSIN. ............................................................................................................................... 15
BIBLIOGRAFA .............................................................................................................................. 16
REFERENCIAS. ............................................................................................................................. 16
 INTRODUCCIN.

Un plan de muestreo para aceptacin consiste en una tcnica en la que se

toman unidades de un conjunto mayor (a esta porcin de unidades se le denomina
muestra), las cuales pueden tomarse de un lote de materia prima, un lote de
productos terminados o piezas de un sistema continuo de produccin; las cuales
posteriormente sern evaluadas o juzgadas de acuerdo a caractersticas de calidad
que se establezcan; para determinar si todas las unidades se aceptan o rechazan,
es decir, es una tcnica empleada para en algunos casos facilitar el trabajo de
inspeccin en donde s se detectan suficientes unidades no conformes el total de
estas es rechazada para su distribucin o utilizacin.

Los planes de aceptacin pueden determinarse para variables o atributos, y

se establecen tomando en cuenta parmetros fundamentales con respecto al lote y
a la muestra (sus tamaos) as como un criterio de aceptacin y rechazo que permite
tomar decisiones respecto al total de unidades, tambin se apoya en una grfica
denominada curva caracterstica de operacin (OC), la cual refleja la probabilidad
de aceptacin de un lote cundo hay una determinada cantidad de piezas no
conformes o no conformidades por pieza. Para construir esta grafica es necesario
emplear distribuciones de probabilidad, as como en ciertos casos conocer ciertos
lmites de calidad que sirven para desarrollar un plan de muestreo de acuerdo a
diversos sistemas ya establecidos.

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 Planes para aceptacin.

Los planes de muestreo para aceptacin tienen su aplicacin en el control de

calidad para permitir hacer una inspeccin a una cantidad determinada de unidades
(muestra) de cada lote, de esta manera si las no conformidades en la muestra son
menores o iguales que el mnimo permisible se acepta el lote completo, estos planes
pueden ser utilizados para unidades no conformes o para no conformidades por
unidad.

Segn (Besterfield, 2009, pg. 362) Un solo plan de muestreo se define

por el tamao (N) del lote, el tamao (n) de la muestra y el nmero (C) de
aceptacin, de esta forma para dar un ejemplo si se tiene:

N= 1000, n= 120 y C= 2

Se identifica como un plan de muestreo sencillo para un lote de 1000

unidades, donde se inspecciona una muestra de 120 unidades y si son encontradas
dos o menos unidades no conformes se acepta el lote completo o de lo contrario si
hay ms de dos no conformidades se rechaza.

Los planes que son ms comnmente utilizados son los planes de aceptacin
lote por lote para atributos, sin embargo tambin pueden realizarse planes para
inspeccin de variables en las unidades. Mientras que para una evaluacin de
atributos se hace una inspeccin pasa no pasa para inspeccionar variables estas
son medidas y comparadas con un estadstico el cual normalmente est en funcin
de la media o la desviacin estndar, as se compara el valor obtenido de acuerdo
al criterio establecido y se toman decisiones.

Cabe destacar que la importancia de realizar muestreos o el uso frecuente

de estos ha disminuido debido a que el control estadstico de procesos ha asumido
un papel ms importante; sin embargo se pueden mencionar situaciones en las que
es utilizado el muestreo para aceptacin:

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 Cuando la prueba a realizar es destructiva.
Cuando el costo de una inspeccin al 100% es alto en relacin al costo
de pasar una unidad no conforme.
Cuando hay muchas unidades iguales por inspeccionar y se pueden
obtener buenos resultados con un muestreo.
Cuando no se dispone de informacin sobre la calidad del productor
Cuando no se dispone de inspeccin automtica.

Clases de planes de muestreo.

Se pueden realizar diversos tipos de planes de muestreo, segn los criterios

que se tengan los planes de muestreo que se pueden desarrollar son:

Simple o sencillo: Consiste en un plan de muestreo definido por un

tamao N de lote, un tamao n de muestra y un nmero C de
aceptacin (en caso de atributos) o una medida estadstica (para
variables), en donde se inspeccionan las unidades de la muestra y se
compara el nmero de unidades no conformes que se encuentran con
el nmero de aceptacin, si se encuentran unidades no conformes
menores o iguales al nmero de aceptacin se acepta el lote; de lo
contrario se rechaza. (tambin puede ser usado para no
conformidades por unidad)
Doble: Es un poco ms complicado que el plan de muestreo sencillo,
ya que se toma una muestra inicial de un lote y se fija un numero c de
aceptacin as como un numero de rechazo (r), si se inspecciona la
muestra y la calidad es buena (menor o igual que el nmero C de
aceptacin) se acepta el lote; si la calidad es mala (mayor o igual que
el nmero de rechazo r) se rechaza la muestra. Si no se consigue un
nmero determinante en la muestra para decidir si aceptar o rechazar
se toma una segunda muestra. Tomando un ejemplo
N= 5000, n1= 60, C1= 1, r1= 5
n2=150, C2= 6 r2= 7

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 Lo que define a un plan de muestreo doble en el que se toma una
muestra inicial la cual se inspecciona y si se obtienen 1 o menos no
conformes se acepta el lote, si hay 5 o mas no conformes se rechaza,
y si hay 2, 3 o 4 unidades no conformes se toma otra muestra de 150
unidades, si se obtienen entre las dos muestras inspeccionadas 6 o
menos unidades no conformes se acepta el lote, y si hay 7 o ms
unidades no conformes es rechazado el lote en su totalidad.
Mltiple: Este plan de muestreo se conforma de la misma manera que
un plan de muestreo doble, solo que si no se obtiene suficiente
informacin como para decidir aceptar o rechazar se siguen tomando
muestras hasta que se pueda tomar una decisin, por lo general se
toman hasta 7 muestras.

Curva Operativa (OC).

La curva caracterstica de operacin o curva operativa de un plan de

muestreo es una grfica donde se coloca la proporcin de defectos o el porcentaje
de defectuosos o no conformes contra la probabilidad de aceptacin de un lote.
Estas probabilidades de aceptacin son obtenidas utilizando distribuciones de
probabilidad, en el caso de lotes finitos se debera utilizar una distribucin
hipergeomtrica, y para lotes infinitos o tomados de una corriente continua de
produccin se utiliza la distribucin binomial, aunque la distribucin Poisson es
ampliamente utilizada ya que permite obtener una buena aproximacin de los
valores. Segn (Gryna & DeFeo, 2007, pg. 499) La distribucin Poisson arroja
una buena aproximacin de la muestra de aceptacin cuando el tamao de la
muestra es de al menos 16, el del lote de por lo menos 10 veces el tamao de
la muestra y p es menor a 0.1.

Para trazar la curva operativa de un determinado plan de muestreo es

necesario conocer principalmente el tamao de muestra y el nmero de aceptacin,

6
ya que estos valores permiten el clculo de probabilidades con las distribuciones
antes mencionadas; se inicia tomando valores supuestos de porcentajes no
conformes (P0) para obtener las probabilidades de aceptacin del lote a ese valor
(Pa), es decir, se toman esos valores para determinar cul sera la probabilidad de
aceptar un lote cuando se tiene un determinado porcentaje de no conformes. Y se
toman valores de no conformes hasta que la probabilidad de aceptacin tienda a un
nmero cercano a 0,05, por lo general es posible tomar 7 valores.

Figura I: Curva operativa para un plan de muestreo sencillo.

Fuente: Control de Calidad 8va edicin; Dale H. Besterfield.

En la imagen anterior se puede observar la curva operativa para un plan de

muestreo sencillo, en donde se determinan las probabilidades de aceptacin (Pa) a
un cierto porcentaje de no conformes (P0). As mismo se puede ver por
determinacin grafica que a un P0 de 2,3%hay una probabilidad de aceptacin del
lote de 66%.

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 Para un plan de muestreo doble se trazan dos curvas en una sola grfica, es
decir, se realiza una primera curva operativa de la primera muestra, y una segunda
curva con los datos de ambas muestras. Para la segunda curva la probabilidad de
aceptacin ser calculada como la sumatoria de las probabilidades de aceptacin
de la primera y la segunda muestra.

Figura II: Curva operativa para un plan de muestreo doble. Fuente:

Control de Calidad 8va edicin; Dale H. Besterfield.

Riesgo del Consumidor. ()

El riesgo del consumidor es la probabilidad de aceptar un lote no conforme,

este con frecuencia es utilizado con un valor de 0,10 (10%) y se expresa en trminos
de probabilidad de aceptacin, es decir, se puede sealar directamente en el eje
que contiene la probabilidad de aceptacin de la grfica de la curva OC. Este riesgo
tambin es llamado el riesgo de cometer un error tipo II; y normalmente es denotado
utilizando .

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 Riesgo del productor. ()

El riesgo del productor es la probabilidad de no aceptar un lote conforme,

tambin llamado error tipo I este riesgo frecuentemente es establecido en 0,05 pero
puede ir de 0,01 hasta 0,10. Este riesgo no puede sealarse directamente sobre la
grfica de la curva operativa ya que es una probabilidad de no aceptacin, as que
el valor de la probabilidad de aceptacin se obtiene restando (1-).

Porcentaje defectuoso tolerable en el lote. (LTPD o PDTL)

Este es el porcentaje de no conformes que representa un nivel de calidad no

satisfactorio en una muestra inspeccionada, a este porcentaje la probabilidad de
aceptacin es baja y est asociado con el riesgo del consumidor, este valor es
ubicado en el eje horizontal de la grfica de la curva operativa, es decir, representa
el lmite de unidades no conformes que se est dispuesto a aceptar.

Nivel de calidad aceptable. (NCA o AQL)

Este es el nivel que representa el porcentaje mximo de unidades no

conformes que puede contener un lote para que su calidad siga siendo considerada
satisfactoria, est asociado con el riesgo del productor, en donde el productor
especifica este nivel de calidad (principalmente en contratos) y su meta es cumplir
con esta especificacin, a este porcentaje de no conformes an sigue habiendo una
alta probabilidad de aceptacin.

Limite promedio de calidad de salida. (AOQL)

Es el valor mximo o lmite de calidad que se obtiene a la salida de una

inspeccin, es el punto en el cual el porcentaje de defectos en el material saliente
alcanzar su nivel mximo este lmite promedio de calidad de salida se obtiene a
cierta calidad de entrada.

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 Figura III: Curva operativa para un plan de muestreo sencillo donde se
aprecian el AQL Y LQ (PDTL). Fuente: Control de Calidad 8va edicin; Dale H.
Besterfield.

Sistema Dodge Romig.

Es un sistema creado por H. F. Dodge y H. G. Romig, sonde desarrollaron

tablas para aceptacin para muestreo por atributos, estos se basan en el porcentaje
defectuoso tolerable en el lote y en el lmite promedio de calidad a la salida; y dan
la ventaja de que la cantidad de inspeccin es mnima.

Estas tablas se basan en la probabilidad de que determinado lote, que tenga

un porcentaje de no conformes igual a PDTL sea aceptado. Los planes basados en
esto aseguran que raramente sean aceptados lotes individuales de mala calidad.
Las tablas contienen valores de PDTL (LQ) de 0,5, 1,0, 2,0, 3,0, 4,0, 5,0, 7,0 y
10,0%; y para utilizarlas es necesario tomar una decisin acerca de si se necesita
muestreo sencillo o doble muestreo. Al conocer el tamao del lote y el promedio del
proceso se puede obtener el plan de muestreo.

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 Tabla I: Tabla Dodge-Romig para muestreo sencillo de inspeccin
basado en PDTL: 1,0%. Fuente: Control de Calidad 8va edicin; Dale H.
Besterfield.

Tambin se desarrollaron planes de muestreo para el concepto de AOQL,

estos planes limitan la cantidad de mala calidad a la salida en promedio; se
desarrollaron tablas con valores de AOQL de 0,1, 0,25 0,5, 0,75 1,0, 1,5 2,0, 2,5
3,0, 4,0, 5,0, 7,0 y 10,0%, conociendo el tamao de lote y el AOQL es posible
determinar el plan de muestreo.

Al identificar el tamao de lote en la tabla se obtiene los valores

correspondientes al tamao de la muestra, numero de aceptacin as como tambin
el PDTL (LQ) del plan de muestreo.

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 Tabla II: Tabla Dodge-Romig para muestreo sencillo de inspeccin
basado en AOQL: 3,0%. Fuente: Control de Calidad 8va edicin; Dale H.
Besterfield.

Sistema MIL-STD-105D.

Este sistema es diseado para planes de aceptacin lote por lote para
atributos, fue adoptado por la organizacin internacional de normalizacin (ISO) y
la norma prev 3 tipos de muestreo, sencillo, doble y mltiple; y para cada tipo se
consideran inspecciones normal, estrecha o reducida.

Esta norma establece que se deben conocer el lmite de calidad aceptable

AQL y el tamao de lote de unidades, ya que son la clave para poder usar tablas
donde se encuentran valores estandarizados para diferentes planes de muestreo.
Este sistema establece niveles de inspeccin especiales los cuales pueden ser
utilizados cuando se necesita tener tamaos pequeos de muestra, o se deben
tolerar grandes riesgos del muestreo, as como tambin se cuenta con niveles

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generales; lo m as comn es usar los niveles generales de inspeccin los cuales
son llamados nivel I, II o III; el nivel de inspeccin a utilizar es indicado por la
autoridad responsable, y la decisin de cual utilizar puede estar en funcin de la
clase de producto, para productos poco costosos o cuando se deben realizar
pruebas destructivas o peligrosas se debe considerar el nivel II, por otra parte si los
productos son costosos y complejos se considera un nivel III, generalmente se inicia
con una inspeccin normal a cierto nivel tomando las consideraciones necesarias.

Para desarrollar el plan de muestreo primero se selecciona una letra clave

dependiendo del tamao de lote y el nivel de inspeccin en la siguiente tabla del
sistema:

Tabla III: Letras clave de tamao de muestra Sistema MIL-STD-105D.

Fuente: Control de Calidad 8va edicin; Dale H. Besterfield.

Una vez identificada la letra clave se procede a buscar en las tablas para
planes de muestreo los correspondientes tamaos de muestra y criterios de
aceptacin y rechazo, la manera en la que se utilizan las tablas es conociendo el
tipo de inspeccin (normal, estrecha o reducida) y el nivel de calidad aceptable AQL.

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 Tabla IV: Planes de muestreo sencillo para inspeccin normal. Sistema
MIL-STD-105D. Fuente: Control de Calidad 8va edicin; Dale H. Besterfield.

El mismo formato de tablas es utilizado en los otros tipos de inspeccin, para

emplear su uso se identifica la letra clave en la primera columna izquierda, se
procede a determinar el tamao de muestra, y con el AQL se encuentran en el
interior de la tabla los nmeros de aceptacin y rechazo que corresponden al plan
de muestreo.

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 CONCLUSIN.

Los planes de muestreo son tcnicas diseadas especficamente para

facilitar la labor de inspeccin de unidades que conforman un lote de produccin o
elementos de un sistema continuo de produccin; la importancia de estos ha
decado un poco a medida que se centra ms la atencin en lo que es en si el control
de un proceso ms que en la revisin del producto final de ese proceso.

Un plan de muestreo se puede desarrollar o disear de distintas formas;

algunas de estas formas responden a normas o sistemas ya desarrollados de forma
especial para ciertos tipos de productos o tamaos de lote; sin embargo cuando no
se cuenta con datos precisos acerca de la calidad (como niveles de calidad
aceptable o lmites de calidad) puede recurrirse a un diseo de plan suponiendo
algunos valores o usando algn tipo de herramientas para tcnicas de muestreo.

El muestreo para aceptacin va de la mano con tcnicas estadsticas,

principalmente con el empleo de probabilidades para obtener un poco de
certidumbre acerca de bajo qu circunstancias sern aceptados los lotes, el trazado
de una curva OC es fundamental para respaldar el diseo de un plan de muestreo.
Sin embargo siempre es importante tener en consideracin el tipo de plan de
muestreo que se deber realizar, debe cuidarse que esta inspeccin no resulte
contraproducente al realizarse ya que no ofrece un 100% de certidumbre para tomar
una decisin correcta respecto a un lote completo, por lo que debe evaluarse si
resulta ms conveniente realiza una inspeccin completa o 100%.

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 BIBLIOGRAFA

Besterfield, D. H. (2009). control de calidad. PEARSN EDUCACIN.

Gryna, F. M., & DeFeo, J. A. (2007). Mtodo Juran Anlisis y planeacin de la
calidad. McGraw-Hill.

REFERENCIAS.

Besterfield, D. H. (2009). control de calidad. PEARSN EDUCACIN.

Gryna, F. M., & DeFeo, J. A. (2007). Mtodo Juran Anlisis y planeacin de la
calidad. McGraw-Hill.

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