1. Del manual de C.I.

defina lo siguiente:

a) Niveles lgicos TTL.

Circuitos con compuertas lgicas son diseados para la entrada y salida solamente de dos tipos de
seales Alto (1) y Bajo (0), representados por un voltaje variable: Mayor voltaje de alimentacin
para un estado alto y voltaje cero para un estado bajo. Sin embargo, en la realidad, los niveles de
voltaje de seal lgica raramente alcanzan tales lmites perfectos.

TTL(Transistor transistor Logic):

Esta tecnologa, hace uso de resistencias, diodos y transistores bipolares para obtener funciones
lgicas estndar. En una compuerta TTL idealmente, una seal alta seria 5V exactamente, y una
seal baja 0V. Sin embargo, circuitos de compuertas TTL no pueden dar como salida niveles de
voltaje tan perfectos, y son diseados para aceptar seales altas y bajas diferentes de estos valores
ideales. Voltajes de seal de entrada aceptables varan de 0V-0.8V para un estado lgico bajo, y de
2V-5V para un estado lgico alto. Voltajes de seal de salida aceptables varan de 0V-0.5V para un
estado lgico bajo, y de 2.7V-5V para un estado lgico alto.

Fig. 1. Niveles Lgicos TTL

b) Niveles lgicos CMOS.

En la tecnologa CMOS (Complementary MOS):
Esta tecnologa, hace uso bsicamente de transistores de efecto de campo NMOS Y PMOS. Los
circuitos de com-puertas CMOS tienen especificaciones de seal de entrada y salida son algo diferentes
de TTL. Para una compuerta CMOS operando a una fuente de voltaje de 5V, los voltajes de seal de
entrada aceptables varan de 0v-1.5V para un estado lgico bajo, y de 3.5V-5V para un estado lgico
alto. Voltajes de seal de salida aceptables varan de 0V-0.05V para un estado lgico bajo, y de
4.95V-5V para un estado lgico alto.

Fig. 2. Niveles Lgicos CMOS

 c) Inmunidad al ruido.
El ruido es la tensin no deseada que es inducida en los circuitos elctricos y puede presentar una
amenaza para el pobre funcionamiento del circuito. Alambres y otros conductores dentro de un sistema
puede recoger radiacin electromagntica de alta frecuencia parasita de los conductores adyacentes en
el que las corrientes cambian rpidamente o de muchas otras fuentes externas al sistema. A fin de no ser
afectada de manera adversa por el ruido, un circuito lgico debe tener una cierta cantidad de inmunidad
al ruido. Esta es la capacidad de tolerar una cierta cantidad de fluctuacin de la tensin no deseada en
sus entradas sin cambiar su estado de la salida.

d) Margen de ruido.
Una medida de la inmunidad al ruido de un circuito se llama margen de ruido que se expresa en
voltios. Hay dos valores de margen de ruido especificado para un circuito logico dado: el de alto (
VNH ), y el de bajo ( VNL ).

Fig. 3. Margen de ruido TTL

e) Disipacin de potencia
Es una medida de la cantidad de energa consumida por una compuerta mientras sus entradas estn
estables. A medida que la disipacin de potencia en un sistema aumenta, ms calor debe disiparse desde
el sistema y de mayor tamao, se requieren fuentes de alimentacin ms costosas.

f) Retardo de propagacin
Se define como el tiempo requerido para la salida de responder a un cambio en una entrada. En todas
las puertas prcticas existe un lapso de tiempo entre un cambio en la entrada y la respuesta de salida
correspondiente. El intervalo de tiempo entre los instantes en los estados de cambio de entrada y salida
no es una medida satisfactoria del tiempo de retardo de un dispositivo lgico por dos razones. En primer
lugar, las seales de entrada a las puertas y las seales de salida producidas por las puertas no son los
pulsos idealizadas estudiados en teora. La Fig. 4 ilustra las seales de entrada y de salida no ideales a
una puerta NAND. Las transiciones entre los altos niveles de baja Tensin y tienen tiempos de subida y
bajada no nulos. El tiempo requerido para que una seal a la altura del 10% al 90 % de su valor final se
llama el tiempo de subida, tr. El tiempo de cada, tf, es el tiempo requerido para la seal a caer de 90 %
a 10 % de su valor inicial. En segundo lugar, la tensin de entrada a una puerta solo tiene que alcanzar
el nivel de tensin de umbral antes de que el dispositivo comienza a cambiar de estado. Por estas
razones, el tiempo de retardo se mide con respecto a un nivel de tensin de referencia Vref, o la tensin
de umbral.
 Fig. 4. Tiempos de retardo de propagacin

g) Producto velocidad-potencia
Las familias lgicas de circuitos se han venido caracterizado por su velocidad y por la potencia que
consumen. As se pueden encontrar series denominadas de bajo consumo y otras de alta velocidad. En
general, siempre se busca el menor retardo de propagacin y la menor disipacin de potencia, pero
obtener ambas cosas a la vez no es posible, as que para medir y comparar el comportamiento global de
los circuitos lgicos respecto a estos dos parmetros se utiliza el producto velocidad-potencia, que se
obtiene multiplicando el retardo de propagacin de la puerta por su disipacin de potencia. La unidad
del producto velocidad-potencia es el pico julio (pJ). As, si se tiene una familia de circuitos integrados
que tiene un tiempo de retardo de propagacin de promedio de 5 ns y una disipacin de potencia de 7mW
el producto velocidad potencia es:
5ns:7mW = 35pJ
Lo mejor es un producto velocidad-potencia bajo. En general, los circuitos CMOS, tienen disipaciones de
potencia ms bajas, tienen productos velocidad-potencia menores que los TTL. Los diseadores se
esfuerzan continuamente en reducir el producto velocidad-potencia de los circuitos, para lo que suelen
emplear uno de estas dos opciones: reducir la disipacin de potencia o reducir el retardo de
propagacin. Conseguir ambas cosas a la vez es difcil, ya que debido a la forma de trabajar de los
transistores que forman los circuitos lgicos cuando un parmetro mejora el otro suele seguir la
tendencia opuesta.

h) Fan in y Fan out

Fan-in es el nmero mximo de entradas a una puerta. Los factores ms pragmticos como
limitaciones en el numero de pines disponible en paquetes de circuitos integrados y su normalizacin
predominan. TTL puertas NAND proporcionan tpicamente 1,2,4 u 8 entradas. Si se requieren ms de
ocho entradas, a continuacin se debe emplear una red de puertas NAND.
Fan out especifica el numero de cargas estndar que la salida de una puerta puede manejar sin
deteriorar su funcionamiento normal. Una carga estndar se define como la cantidad de corriente
requerida para impulsar una entrada de otra puerta en la misma familia lgica. Debido a la naturaleza
de las puertas TTL, se dan dos valores cargabilidad de salida diferentes, uno para salidas de alta y otro
para las salidas de bajo.