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ARTCULO 7

EXAMINACIN POR PARTCULAS


MAGNTICAS CDIGO ASME
SECCION V 2017

Preparado por: Ing. William Jos Mendoza


C.I.V: 202734, CAWI/AWS N 98080574

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CONTENIDO Pag.

Artculo 7 Examinacin por Partculas Magnticas4


T-710 ALCANCE.4
T-720 GENERAL..4
T-721 Requerimientos de los procedimientos escritos4
T-721.1 Requerimientos4
T-721.2 Calificacin de procedimientos.5
T-730 EQUIPOS..5
T-731 Medio de examinacin5
T-740 REQUERIMIENTOS DIVERSOS.5
T-741 REQUERIMIENTOS SUPERFICIALES.5
T-741.1 Preparacin..5
T-741.2 Aumento de contraste superficial No magntico7
T-750 TCNICA7
T-751 Tcnicas7
T-752 Tcnicas de las pinzas (Prods)7
T-752.1 Procedimiento de magnetizacin7
T-752.2 Corriente magnetizante.7
T-752.3 Separacin de las pinzas8
T-753 Tecnica de magnetizacin longitudinal8
T-753.1 Procedimiento de magnetizacin..8
T-753.2 Densidad de campo magntico8
T-753.3 Corriente magnetizante9
T-754 Tecnicas de magnetizacin circular..9
T-754.1 Tcnicas de contacto directo9
T-754.2 Tcnica del conductor central..10
T-755 Tcnica del Yugo.11
T-756 Tcnica de magnetizacin multidireccional.11
T-756.1 Procedimiento de magnetizacin..11
T-756.2 Densidad del campo magntico. 11
T-760 CALIBRACIN12
T-761 Frecuencia de la calibracin..12
T-761.1 Equipos de magnetizacin.12
T-761.2 Medidores de luz.12
T-762 Energa de levante de los Yugos..12
T-763 Gausmetros..13
T-764 Adecuacin y direccin del campo magntico13
T-764.1 Aplicacin13
T-764.2 Campo magntico adecuado..14
T-764.3 Direccin del Campo Magntico..16
T-765 Contaminacin y concentracin de las partculas magnticas.16
T-765.1 Concentracin..16
T-765.2 Volmenes de la sedimentacin..17
T-765.3 Contaminacin.17
T-766 Ejecucin de sistemas de unidades horizontales..18
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T-770 EXAMINACIN..19
T-771 Examinacin preliminar..19
T-772 Direccin de la magnetizacin.19
T-773 Mtodo de examinacin.19
T-774 Cobertura de la examinacin20
T-775 Corriente rectificada..20
T-776 Remocin del exceso de partculas.21
T-777 Interpretacin21
T-777.1 Partculas magnticas visibles (contraste de color)..21
T-777.2 Partculas magnticas fluorescentes con luz negra..21
T-777.3 Partculas magnticas fluorescentes con otras longitudes de ondas de
excitacin fluorescentes22
T-778 Desmagnetizacin22
T-779 Limpieza posterior a la examinacin..23
T-780 EVALUACIN23
T-790 DOCUMENTACIN..23
T-791 Magnetizacin Multidireccional23
T-792 Registro de las indicaciones.23
T-792.1 Indicaciones No rechazables..23
T-792.2 Indicaciones rechazables..23
T-793 Registros de la examinacin.23

Figuras

T-754.2.2 La Examinacin de la Regin Efectiva Cuando se Usa un Conductor Central


Desalineado...11
T-754.2.1 Tcnica de Conductor Central de Paso Simple y Doble10
T-764.1.1 Indicador de Campo de Forma de Torta de Partculas Magnticas.13
T-764.1.2.1 Shims de Falla Artificial..14
T-764.1.2.2 Shims de Falla Artificial..16
T-766.1 Anillo de Ensayo Ketos (Betz).20

Tablas

T-721 Requerimientos de un Procedimiento por Partculas Magnticas6

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ARTCULO 7 EXAMINACIN POR PARTCULAS MAGNTICAS

T-710 ALCANCE

Cuando se especifica mediante la seccin del Cdigo de referencia, las tcnicas de


examinacin por partculas magnticas descritas en este artculo debern ser usadas.
En general, este artculo esta en conformidad con SE-709, Guia estndar Para la
Examinacin Por Partculas Magnticas. Este documento suministra detalles a ser
considerados en el procedimiento usado. Cuando este Artculo est especificado
mediante una seccin del Cdigo de referencia, el mtodo por partculas magnticas
descrito en este Artculo deber ser usado junto con el Artculo I, Los requerimientos
generales. La definicin de trminos usados en este artculo esta en el Articulo 1,
Apndice Obligatorio I, I-121.4, MT Partculas Magnticas.

T-720 GENERAL

El mtodo de examinacin por partculas magnticas es aplicado para detectar


grietas y otras discontinuidades en las superficies de materiales ferromagnticos. La
sensibilidad es mayor para discontinuidades superficiales y disminuye rapidamente
con el aumento de la profundidad de las discontinuidades por debajo de la
superficie. Los tipos tpicos de discontinuidades que pueden ser detectados por este
mtodo son grietas, solapes, costuras, pliegues fros (colds Shuts), y laminaciones.

Al principio, este mtodo trae consigo magnetizar un rea para ser examinada, y
aplicar las partculas ferromagnticas (el medio de examinacin) a la superficie. Los
patrones de partculas se forman sobre la superficie donde el campo magntico es
forzado a salir de la pieza y sobre las discontinuidades para causar una fuga de
campo magntico que atrae a las partculas. Los patrones de partculas son por lo
general caractersticos del tipo de discontinuidad que es detectada.

Cualquiera que sea la tcnica usada para producir el flujo magntico en la pieza, la
sensibilidad mxima ser para las discontinuidades lineales orientadas perpendicular
a las lneas de flujo. Para la efectividad optima en la deteccin de todos los tipos de
discontinuidades, cada rea a ser examinada se debe magnetizar al menos dos
veces, con las lneas de flujo durante una examinacin siendo aproximadamente
perpendicular a las lneas de flujo durante la otra.

T-721 REQUERIMIENTOS DE LOS PROCEDIMIENTOS ESCRITOS

T-721.1 Requerimientos. La examinacin por partculas magnticas deber ser


ejecutada en concordancia con un procedimiento escrito, el cual contendr, como
mnimo, los requerimientos listados en la tabla T-721. El procedimiento escrito
establecer un solo valor, o rango de valores, para cada requerimiento.

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T-721.2 Calificacin de Procedimientos. Cuando la calificacin de procedimiento es
especificada por la Seccin del Cdigo de referencia, un cambio de un requerimiento
en la tabla T-721.2 identificado como una variable esencial deber requerir
recalificacin del procedimiento escrito mediante demostracin. Un cambio de un
requerimiento identificado como una variable no esencial no requiere recalificacin
del procedimiento escrito. Todos los cambios de las variables esenciales o no
esenciales de aquellas especificadas dentro del procedimiento escrito deber
requerir revisin de, o una adenda para, el procedimiento escrito.

T-730 EQUIPOS

Deber emplearse medios disponibles y apropiados para producir el flujo magntico


necesario en la pieza, usando una o ms de las tcnicas listadas y descritas en T-750.

T-731 MEDIO DE EXAMINACIN

Las partculas ferromagnticas divididas en forma menuda usadas para la


examinacin debern presentar los siguientes requerimientos.

(a) Tipos de partculas. Las partculas debern ser tratadas para impartir color
(pigmentos fluorescentes, pigmentos no fluorescentes, o ambos) a fin de
hacerlas altamente visibles (contraste) contra el fondo de la superficie a ser
examinada.
(b) Las partculas. Las partculas secas y hmedas y vehculos en suspensin
deberan estar en concordancia con SE- 709.
(c) Limitaciones de temperatura. Las partculas debern ser usadas dentro de las
limitaciones de los rangos de temperaturas establecidas por el fabricante de
las partculas. Por otra parte, las partculas pueden ser usadas fuera de las
recomendaciones del fabricante de las partculas siempre que el
procedimiento este calificado en concordancia con el Artculo 1, T-150 a la
temperatura propuesta.

T-740 REQUERIMIENTOS DIVERSOS

T-741 CONDICIONAMIENTO SUPERFICIAL

T-741.1 Preparacin.

(a) Se obtiene por lo general resultados satisfactorios cuando las superficies


estan en las condiciones soldadas, laminadas, fundidas o forjadas. Sin
embargo, la preparacin superficial mediante esmerilado o maquinado puede
ser necesaria donde las irregularidades superficiales pudieran enmascarar las
indicaciones debido a las discontinuidades.

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TABLA T-721
REQUERIMIENTOS DE UN PROCEDIMIENTO DE EXAMINACIN POR PARTCULAS
MAGNTICAS

Requerimientos Variable Esencial Variable No Esencial


Tecnica Magnetizante X
Tipo de corriente magnetizante o amperaje fuera del rango X
especificado por este artculo o como se especific
previamente
Preparacion de la superficie X
Partculas magnticas (Fluorescente/visible, color, tamao X
de partcula, hmedo / seco)
Mtodo de aplicacin de las partculas X
Mtodo de la remocin del exceso de partcula X
Intensidad mnima de luz X
Revestimientos existente, mayores que el espesor X
demostrado
Aumento del contraste superficial No magntico, cuando X
es utilizado
Demostracin de ejecucin, cuando sea requerido X
Temperatura superficial de la pieza de examinacin fuera X
del rango de temperatura recomendado por el fabricante
de las partculas o como se calific previamente.
Forma y tamao del objeto sometido a ensayo X
Equipo del mismo tipo X
Temperatura (dentro de aquellas especificadas por el X
fabricante o como se calific previamente)
Tcnica de desmagnetizacin X
Tcnica de limpieza post ensayo X
Requerimientos de calificacin del personal X

(b) Antes de la examinacin por partculas magnticas, la superficie a ser


examinada y todas las reas adyacentes dentro de al menos de 1 (25 mm)
debern estar secas y libres de todo sucio, grasa, pelusas, cascarillas de
fundicin, fundentes de soldadura, salpicaduras, aceites y otras materias
extraas que pudieran interferir con la examinacin.
(c) La limpieza puede llevarse a cabo usando detergentes, solventes orgnicos,
soluciones de decapado, removedores de pintura, desengrase al vapor,
chorro de arena o granalla o mtodos de limpieza por ultrasonido.
(d) Si se dejan revestimientos no magnticos sobre la pieza en el rea que esta
siendo examinada, se deber demostrar que las indicaciones pueden ser
detectadas a travs del espesor mximo del revestimiento aplicado. Cuando

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se usa la tecnica de magnetizacin con Yugo de CA, la demostracin deber
estar en concordancia con el Apndice I obligatorio de este Artculo.

T- 741.2 Aumento del Contraste Superficial No Magntico.

Los contrastes superficiales no magnticos pueden ser aplicados por el examinador


para superficies no revestidas, solo en cantidades suficientes para incrementar el
contraste de las partculas. Cuando se usa el aumento del contraste superficial no
magntico, deber demostrarse que las indicaciones pueden ser detectadas a travs
del incremento. No es requerida la medicin del espesor de este incremento de
contraste superficial no magntico.

NOTA: Referirse a T-150 (a) para guiarse para la demostracin requerida en T-741.1 (d) y T-741.2.

T-750 TCNICA
T-751 TCNICAS

Una o ms de las siguientes cinco tcnicas de magnetizacin debern ser usadas:

(a) Tcnica de Pinzas (Prods)


(b) Tcnica de magnetizacin longitudinal
(c) Tcnica de magnetizacin circular
(d) Tcnica del Yugo (Yoke)
(e) Tcnica de magnetizacin Multidireccional.

T- 752 TCNICA DE PINZAS (PRODS).

T- 752.1 Procedimiento de magnetizacin. Para la tcnica de pinzas, la magnetizacin


se lleva a cabo mediante contactos elctricos tipo pinzas porttiles presionadas
contra la superficie del rea a ser examinada. Para evitar arcos, se debe suministrar
un interruptor de control remoto, el cual puede ser incorporado en los mangos de
las pinzas, para permitir que la corriente sea aplicada despus que las pinzas hayan
sido posicionadas de manera apropiada.

T- 752.2 Corriente Magnetizante. Se deber usar corriente magnetizante directa o


rectificada. La corriente deber ser de 100 amperios/pulgs. (mnimo) (4
amperios/mm) hasta 125 amperios /pulgs. (mximo) (5 amperios/mm) de
separacin de las pinzas para secciones de . (19 mm) de espesor o mayores. Para
secciones menores de (19 mm) de espesor, la corriente deber ser de 90 amperios
/pulgs. (3.6 amperios /mm) hasta 110 amperios /pulgs. (4.4 amperios/mm) de
separacin de las pinzas.

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T-752.3 Separacin de las Pinzas. La separacin de las pinzas no deber exceder de 8
(200 mm). Se pueden usar separaciones mas cortas para adaptarse a las limitaciones
geomtricas del rea que esta siendo examinada o para incrementar la sensibilidad,
pero las separaciones de las pinzas menores de 3 (75 mm) son por lo general poco
prctico debido a la acumulacin de partculas alrededor de las pinzas. Las puntas de
las pinzas debern conservarse limpias y ahusadas. Si el voltaje de circuito abierto
de la fuente de la corriente magnetizante es mayor que 25 voltios, se recomienda
pinzas con extremos de plomo, acero, o aluminio (diferente de cobre) para evitar
depsitos de cobre sobre la pieza a ser examinada.

T-753 TCNICA DE MAGNETIZACIN LONGITUDINAL

T-753.1 Procedimiento de magnetizacin. Para esta tcnica, la magnetizacin se lleva


a cabo mediante el paso de corriente a travs de una bobina fija de mltiples vueltas
(o cables) que se enrollan alrededor de la pieza o seccin de la pieza que va a ser
examinada. Esto produce un campo magntico longitudinal paralelo al eje de la
bobina. Si se usa una bobina pre- devanada fija, la pieza deber estar ubicada cerca
del lado de la bobina durante la inspeccion. Esto es de vital importancia cuando la
abertura de la bobina es ms de 10 veces el rea de la seccin transversal de la pieza.

T- 753.2 Densidad de Campo Magntico. La corriente directa o rectificada deber ser


usada para magnetizar las partes examinadas por esta tcnica. La densidad de campo
requerida deber ser calculada basada en la longitud L y el dimetro D de la pieza en
concordancia con (a) y (b), o como se establece en (d) y (e), ms adelante. Las piezas
largas debern ser examinadas en secciones que no excedan 18 (450 mm), y
debern usarse para la parte L para calcular la densidad de campo requerida. Para
las partes no cilndricas, el dimetro D deber ser la mxima diagonal de la seccin
transversal.

(a) Piezas con la relacin L/D igual o mayor que 4. La corriente


magnetizante deber estar dentro del 10% del valor vuelta-amperios
determinada como sigue:

Amperios - Vuelta = 35.000 / [(L/D)+2], por ejemplo una pieza de 10


(250 mm) de largo X 2 (50 mm) de dimetro tiene una relacin L/D de 5. Por lo
tanto,

Amperios Vueltas= 35.000/[(10/2) +2]=5000


(b) Piezas con la relacin L/D menor que 4 pero no menor de 2. La corriente
magnetizante amperios- vueltas deber estar dentro del 10% del valor
amperios - vuelta determinado como sigue:

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Amperios Vueltas = 45.000/ (L/D)

(c) Piezas con la relacin L/D menor que 2. No se puede usar la tcnica de
magnetizacin con bobina.
(d) Si el rea que va ser magnetizada se extiende mas all de 9 (225 mm)
en cualquier lado del centro de la bobina, se deber demostrar la
adecuacin del campo usando un indicador de campo magntico o
Shims de fallas artificiales. Segn T-764.
(e) Para grandes piezas debido a su forma y tamao, la corriente
magnetizante deber ser de 1200 amperios-vuelta hasta 4500 amperios-
vueltas. La adecuacin del campo deber ser demostrada usando Shims
de falla artificial o un indicador de campo magntico en forma de torta
en concordancia con T-764. Un Gausmetro de prueba de Efecto Hall no
deber ser usado con las tcnicas de magnetizacin de bobina
envolvente.

T-753.3 Corriente Magnetizante. La corriente requerida para obtener la densidad de


campo necesario deber ser determinada por dividir las vueltas-amperios obtenidas
en los pasos T-753.2 (2) (b) entre el nmero de vueltas en la bobina como sigue:

Amperios (lectura en metros)= (vueltas amperios) /vueltas


Por ejemplo, si se usa una bobina de 5 vueltas y las vueltas- amperios requeridas
son 5000, usar

5000/5= 1000 ( 10)

T-754 TCNICAS DE MAGNETIZACIN CIRCULAR

T-754.1 Tcnica de Contacto Directo

(a) Procedimiento de magnetizacin. Para esta tcnica, la magnetizacin se lleva


a cabo mediante el paso de corriente a travs de la pieza a ser examinada.
Esto produce un campo magntico circular que es aproximadamente
perpendicular a la direccin del flujo de corriente en la pieza.
(b) Corriente magnetizante. Deber usarse corriente magnetizante directa o
rectificada (media onda rectificada onda completa rectificada).

(1) La corriente deber ser de 300 amper/pulgs. (12 Amps/mm) para 800
amp/pulg. (31 Amps/mm) de dimetro exterior.
(2) Las piezas con formas geomtricas diferentes a las redondas con la
diagonal de seccional transversal ms grande en un plano en un ngulo

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recto al flujo de corriente debern ser usadas es vez del dimetro
exterior segn (1) antes mencionado.
(3) Si los niveles de corriente requeridos en (1) no pueden ser obtenidos, se
deber usar la mxima corriente asequible y la suficiencia del campo
deber ser demostrada en concordancia con T-764.

T-754.2 Tcnica del Conductor Central

(a) Procedimiento de magnetizacin. Para esta tcnica, se usa un conductor


central para examinar las superficies internas de las piezas de forma de anillo
o cilndricas. La tcnica del conductor central tambin puede ser usada para
examinar las superficies externas de estos tipos de formas. Donde los
cilindros de gran dimetro van a ser examinados, el conductor deber ser
posicionado cerca de la superficie interna del cilindro. Cuando en conductor
no est centrado, la circunferencia del cilindro deber ser examinado en
pequeas porciones. Se deber usar las mediciones de la densidad de campo
en concordancia con T-764, para determinar la extensin del arco que puede
ser examinado para cada posicion del conductor o las reglas en (c) antes
mencionado puede ser aplicado. Las barras o cables, que pasan a travs del
hueco de un cilindro, pueden ser usadas para inducir la magnetizacin
circular.
(b) Corriente Magnetizante. La densidad de campo requerida deber ser igual a
la determinada en T-754.1 (b) para un conductor central de una sola vuelta. El
campo magntico aumentar en proporcin al nmero de veces que el cable
del conductor central pasa a travs de la parte hueca. Por ejemplo, si se
requieren 6000 amperios para examinar una pieza usando un conductor
central de pase simple, entonces son requeridos 3000 amperios cuando se
use un conductor de 2 pases, y 1200 amperios son requeridos si se usan 5
pases (Ver Figura T-754.2.1). Cuando se use la tcnica del conductor central,
la adecuacin del campo magntico deber ser verificada usando un
indicador de campo de partculas magnticas en concordancia con T-764.
(c) Conductor Central Desalineado. Cuando el conductor pasa a travs del
interior de la pieza es ubicado contra la pared interior de la pieza, los niveles
de corriente, as dados en T-754.1 (b) (1) aplicarn, excepto que l dimetro
usado para el clculo de la corriente deber ser la suma del dimetro del
conductor central y dos veces el espesor de la pared. La distancia a lo largo de
la circunferencia de la pieza (exterior) que es efectivamente magnetizada
deber ser tomada como cuatro veces el dimetro del conductor central,
como se ilustra en la figura T-754.2.2. La circunferencia completa deber ser
inspeccionada mediante la rotacin de la parte en el conductor, dejando
aproximadamente un solape de campo magntico del 10%.

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T-755 TCNICA DE YUGO

Para esta tcnica, se debern usar los yugos electromagnticos de corriente alterna o
directa, o yugos de imanes permanentes

FIG. T-754.2.1 TECNICA DE CONDUCTOR CENTRAL DE PASO SIMPLE Y DOBLE

FIG. T-754.2.2 LA EXAMINACIN DE LA REGIN EFECTIVA CUANDO SE USA UN


CONDUCTOR CENTRAL DESALINEADO

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T-756 TCNICA DE MAGNETIZACIN MULTIDIRECCIONAL

T-756.1 Procedimiento de Magnetizacin. Para esta tcnica, la magnetizacin se lleva


a cabo mediante paquetes de energa de alto amperaje que operan tanto como tres
circuitos que son energizados uno a la vez en rpida sucesin.

El efecto de estas corrientes magnetizante alternas rpidas es producir una


magnetizacin total de la pieza en mltiples direcciones. Los campos magnticos
circular o longitudinal pueden ser generados en cualquier combinacin usando las
tecnicas diversas descritas en T-753 y T-754.

T-756.2 Densidad del Campo Magntico. Solamente corriente rectificada de onda


completa, de tres fases deber ser usada para magnetizar la pieza. Los
requerimientos de la corriente magnetizante inicial para cada circuito deber ser
establecido usando las guas descritas previamente (ver T-753 y T-754). La
adecuacin del campo magntico deber ser demostrada usando Shims de fallas
artificiales o un indicador de campo de partculas magnticas de forma de torta en
concordancia con T-764. Un Gaussmetro explorador del efecto Hall no deber ser
usado para medir la adecuacin del campo para la tcnica de magnetizacin
multidireccional. Un campo adecuado deber obtenerse en al menos dos direcciones
perpendiculares aproximadamente, y las intensidades del campo deberan estar
balanceadas a fin de que un campo fuerte en una direccin no domine el campo en la
otra direccin. Para las reas donde las densidades del campo adecuado no pueden
ser demostradas, debern ser usadas tecnicas de partculas magnticas adicionales
para obtener la cobertura requerida en dos direcciones.

T-760 CALIBRACIN
T-761 FREQUENCIA DE CALIBRACIN
T-761.1 Equipos de Magnetizacin

(a) Frecuencia. El equipo de magnetizacin deber ser calibrado con un


ampermetro al menos una vez al ao, o todas las veces que el equipo haya
estado sometido a una reparacin elctrica mayor, revisin peridica, o
daos. Si el equipo no ha estado en uso por un ao o ms, debe hacerse la
calibracin antes del primer uso.
(b) Procedimiento. La precisin del medidor de la unidad deber ser verificado
anualmente mediante la trazabilidad del equipo a un estndar nacional.
Debern ser tomadas lecturas comparativas por lo menos a tres diferentes
niveles de salida de corriente que abarca el rango usual.
(c) Tolerancia. La lectura del medidor de la unidad no deber desviarse por ms
del 10% de la escala completa, relativo al valor de la corriente actual como
se muestra por el medidor de ensayo.

T-761.2 Medidores de luz. Los medidores de luz debern ser calibrados al menos una
vez al ao o todas las veces que el medidor haya sido reparado. Si los medidores no
han estado en uso por un ao o ms, la calibracin deber ser hecha antes de su uso.

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T- 762 ENERGA DE LEVANTE DE LOS YUGOS

(a) La energa magnetizante de los yugos electromagnticos deber ser


verificada cada da antes de ser usados. La energa magnetizante de los yugos
deber ser revisada todas las veces que el yugo haya sido daado o reparado.
(b) Cada yugo electromagntico de corriente alterna deber tener una energa de
levante de al menos 10 libras (4.5 Kgs.) en la separacin mxima del polo que
ser usada.
(c) Cada yugo magntico permanente o de corriente directa deber tener una
energa de levante de al menos 40 libras (18 Kgs) en la separacin mxima del
polo que ser usado.
(d) Cada peso deber ser pesado con una balanza de un fabricante respetable y
calibrado con un peso nominal aplicable antes de su primer uso. Un peso solo
requiere ser verificado de nuevo si se daa de una manera que pudiera haber
causado perdida potencial de material.

FIG. T-764.2(a) INDICADOR DE CAMPO DE PARTCULAS MAGNTICAS DE FORMA DE


TORTA.

T-763 GAUSMETROS

Los Gausmetros de prueba de efecto Hall usados para verificar la densidad del
campo magnetizante en concordancia con T-754 debern estar calibrado al menos
una vez al ao o todas las veces que el equipo hay sido sometido a una reparacin
mayor, revisin peridica, o dao. Si el equipo no ha sido usado por un ao o ms, la
calibracin deber ser realizada antes de su primer uso.

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T-764 ADECUACIN Y DIRECCIN DEL CAMPO MAGNTICO

T-764.1 Aplicacin. El uso de indicadores del campo magntico, shims artificiales, o


medidores de campos tangenciales de efecto Hall son solo permitidos cuando
especficamente sean referenciados mediante las tcnicas siguientes de
magnetizacin.

(a) Longitudinal (T-753)


(b) Circular (T-754)
(c) Multidireccional (T-756)

FIG. T-764.2 (b)(1) SHIMS DE FALLA ARTIFICIAL

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NOTA GENERAL: Lo anterior son ejemplos de Shims de falla artificial usados en la verificacin del
sistema de inspeccin por partculas magnticas (el dibujo no esta a escala). Los Shims son
construidos de acero de bajo contenido de carbono (Hoja de Acero 1005). La falla artificial es atacada
o maquinada en un lado de la hoja a una profundidad del 30% del espesor de la hoja.

T-764.2 Campo Magntico Adecuado. El campo magntico aplicado deber tener la


suficiente densidad para producir indicaciones satisfactorias, pero no deber ser tan
fuerte que cause enmascaramiento de las indicaciones relevantes mediante las
acumulaciones no relevantes de partculas magnticas. Los factores que influencian
la densidad de campo requerido incluyen el tamao, forma, y permeabilidad del
material de la pieza; la tcnica de magnetizacin; revestimiento; el mtodo de
aplicacin de la partcula; y el tipo y ubicacin de las discontinuidades a ser
detectada. Cuando es necesario verificar la adecuacin de la densidad del campo
magntico, deber ser verificado mediante el uso de uno o mas de los tres mtodos
siguientes.

(a) Indicador de Campo de Partculas Magnticas Tipo Torta. El indicador,


mostrado en la figura T-764.2(a), deber ser posicionado en la superficie a ser
examinada, tal que el lado cobrizado quede lejos de la superficie
inspeccionada. Una densidad de campo apropiada es indicada cuando una
lnea claramente definida (o lneas) de partculas magnticas se forman
atravesando el lado de cobre del indicador cuando las partculas magnticas
son aplicadas simultneamente con la fuerza magnetizante. Cuando no se
forma una lnea de partculas claramente definida, la tcnica magnetizante
deber ser cambiada cuando se requiera. Los indicadores tipo torta se usan
mejor con procedimientos de partculas secas.
(b) Shims de fallas Artificiales. Deber ser usado uno de los Shims mostrados en
la Figura T-764.2 (b) (1) o la Figura T-764.2 (b) (2) cuya orientacin es tal que
puede tener un componente perpendicular al campo magntico aplicado. Los
Shims con muescas lineales debern ser orientados de manera tal que al
menos una de las muescas est perpendicular al campo magntico aplicado.
Los Shim con solamente muescas circulares pueden ser usados en cualquier
orientacin. Los Shims debern estar sujetos a la superficie a ser examinada,
de tal forma que el lado de la falla artificial del Shim quede hacia la superficie
inspeccionada. Una densidad de campo apropiada es indicada cuando una
lnea claramente definida (o lneas) de partculas magnticas, que
representan el 30% de la profundidad de la falla, aparecen en la cara del Shim
cuando las partculas magnticas son aplicadas simultneamente con la
fuerza magnetizante. Cuando no se forma una lnea de partculas claramente
definida, la tcnica de magnetizacin deber ser cambiada cuando se
requiera. Los indicadores tipo Shims se usan mejor con procedimientos de
partculas hmedas.

NOTA: Los Shims circulares mostrados en la Figura T-764.2 (b) (2) ilustracin (b) tambin tienen
profundidad de fallas menores y mayores del 30%.

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(c) Prueba (sonda) de campo tangencial de Efecto Hall. Un Gausmetro y una
sonda de campo tangencial de Efecto Hall debern ser usado para medir el
valor pico del campo tangencial. La sonda deber ser posicionada sobre la
superficie a ser examinada, de tal manera que sea determinada la densidad
del campo mximo. Una densidad de campo apropiada es indicada cuando el
campo es medido dentro del rango de 30G a 60 G (2.4 kAm-1 hasta 4.8 kAm-1
mientras la fuerza magnetizante es aplicada. Ver Artculo 7, Apndice A No
obligatorio.

T- 764.3 Direccin del Campo Magntico. Las direccin(s) de la magnetizacin deber


ser determinada mediante indicaciones de partculas obtenidas usando un indicador
o Shims como se muestra el la Figura T-764.2(a), Figura T-764.2 (b)(1), o Figura T-
764.2(b)(2). Cuando no se forma una lnea claramente definida de partculas:
(a) En la direccin deseada,
(b) En al menos dos direcciones aproximadamente perpendiculares para la
tcnica multidireccional la tcnica de magnetizacin deber ser cambiada
cuando se requiera.

T-765 CONCENTRACIN Y CONTAMINACIN DE PARTCULAS HMEDAS.

Las unidades hmedas horizontales debern tener la concentracin y contaminacin


del bao determinados mediante la medicin de su volumen de ajuste. Esto se lleva
a cabo a travs del uso de un tubo centrfugo de forma de pera con un vstago de
1.mL (divisiones 0.05-mL) para suspensiones de partculas fluorescentes un vstago
de 1.5-mL (divisiones 0.1-mL) para suspensiones no fluorescentes (ver SE-709,
Apndice X5). Antes del muestreo, la suspensin debera pasar a travs de un
sistema recirculatorio por al menos 30 minutos para asegurar la mezcla completa de
todas las partculas que pudieran haberse sedimentados en la pantalla del sumidero,
a lo largo de los lados y el fondo del tanque.

T-765.1 Concentracin. Tomar una porcin de 100-mL de la suspensin de la


manguera o boquilla, desmagnetizar y permitir que se sedimente por
aproximadamente 60 minutos con suspensiones de petrleo destilado 30 minutos,
con suspensiones a base de agua antes de la interpretacin. El volumen sedimentado
en la base del tubo es indicativo de la concentracin de las partculas en el bao.

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FIG. T-764.2 (b) (2) SHIMS DE FALLA ARTIFICIAL

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T-765.2 Volmenes de la Sedimentacin. Para partculas fluorescentes, el volmen
de sedimentacin requerido es de 0.1 hasta 0.4 mL en una muestra de bao de 100-
mL y de 1.2 hasta 2.4 mL por 100 mL de vehculo para partculas no fluorescentes a
menos que se especifique lo contrario por el fabricante. La inspeccion de la
concentracion deber hacerse al menos cada ocho horas.

T-765.3 Contaminacin. Tanto las suspensiones fluorescente y no fluorescentes


debern ser inspeccionadas peridicamente por si tienen contaminantes tales como
sucio, cascarillas de fundicin, aceite, pelusas, prdida de pigmentos fluorescentes,
agua (en el caso de las suspensiones a base de aceite), y aglomerado de partculas las
cuales pueden afectar adversamente la ejecucin del proceso de examinacion por
partculas magnticas. El ensayo para detectar la contaminacin deber ejecutarse al
menos una vez a la semana.

(a) Contaminacin Portadora. Para baos fluorescentes, el lquido


directamente sobre el precipitado deber ser examinado con luz de
excitacin fluorescente. El lquido tendr poca fluorescencia. Su color
puede ser comparado con una muestra recin hecha usando los mismos
materiales o con una muestra sin usar del bao original que fue retenida
para este propsito. Si la muestra usada es evidentemente ms
fluorescente que el estndar de comparacin, el bao deber ser
reemplazado.
(b) Contaminacin de Partculas. La porcin graduada del tubo deber ser
examinada bajo luz de excitacin fluorescente si el bao es fluorescente y
bajo la luz visible (tanto para partculas fluorescentes y no fluorescentes)
para las estras o bandas, se diferencia en el color o apariencia. Las
bandas o estras pueden indicar la contaminacin. Si el volumen total de
los contaminantes, incluyendo las bandas o estras que exceden el 30%
del volumen de las partculas magnticas, o si el lquido es evidentemente
fluorescente, el bao deber ser reemplazado.

T-766 EJECUCION DE SISTEMAS DE UNIDADES HORIZONTALES.

La muestra de anillo Ketos (Betz) (Ver la figura. T-766.1) deber ser usada en la
evaluacin y comparacin de la ejecucion y sensibilidad total tanto para las tcnicas
por partculas magnticas no fluorescentes y fluorescentes, secas y hmedas usando
una tcnica de magnetizacin de conductor central.

(a) El Material del Anillo del Ensayo Ketos (Betz). El anillo de acero de
herramientas (Ketos) debera ser maquinado del material AISI 01 en
concordancia con la Figura T-766.1. Cualquier anillo maquinado o modelo de
acero deber ser revenido a 1650F (900C), enfriado a 50F (28C) por hora a
1000 (540C) y luego enfriado al aire a temperatura ambiente para dar
resultados comparables que usan anillos similares que hayan tenido el mismo
tratamiento. El material y el tratamiento trmico son variables importantes.
La experiencia indica que solo es insuficiente el control del ablandamiento
del anillo mediante la dureza (90 a 95 HRB).
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(b) Uso del Anillo de Ensayo. El anillo de ensayo (Ver la Figura T-766.1), es
magnetizado circularmente con corriente CA de media onda rectificada
pasndolo a travs de un conductor central con un hueco de 1 pulgada hasta
11/4 (25mm a 32mm) de dimetro ubicado en el centro del anillo. El
conductor debera tener una longitud mayor de 16 (400 mm). Las corrientes
usadas debern ser de 1400, 2500 y 3400 amperios. El nmero mnimo de
huecos mostrados debern ser tres, cinco y seis, respectivamente. El borde
del anillo deber ser examinado con cualquier luz negra o luz visible,
dependiendo del tipo de partcula involucrada. Este ensayo deber ser
pasado por tres intensidades de corrientes si se debe usar la unidad en estos
tipos de amperajes o mayores. Los valores del amperaje establecidos no
debern excederse en el ensayo. Si el ensayo no revela el nmero requeridos
de huecos, el equipo deber ser sacado de servicio y la causa de la prdida de
sensibilidad determinada y corregida. Este ensayo deber ser realizado al
menos una vez por semana.

T-770 EXAMINACIN
T-771 EXAMINACIN PRELIMINAR

Antes de que la examinacin por partculas magnticas sea conducida, se deber


realizar una revisin de la superficie sometida a examinacin para localizar cualquier
discontinuidad abierta a la superficie en la cual las partculas magnticas no pueden
ser atradas y sostenidas debido a su ancho.

T-772 DIRECCIN DE LA MAGNETIZACIN

Al menos dos examinaciones separadas debern ser ejecutadas sobre cada rea.
Durante la segunda examinacin, las lneas del flujo magntico debern ser
aproximadamente perpendiculares a aquellas usadas durante la primera
examinacin. Una tecnica diferente para la magnetizacin deber ser usada para la
segunda examinacin.

T-773 MTODO DE EXAMINACIN.

Las partculas ferromagnticas usadas en un vehculo de examinacin pueden ser de


cualquier tipo secas o hmedas, y pueden ser fluorescentes o no fluorescentes. Las
examinaciones debern ser hechas mediante el mtodo continuo.

(a) Partculas secas. La corriente magnetizante deber permanecer mientras el


medio de examinacin est siendo aplicado y mientras cualquier exceso del
medio de examinacin sea eliminado.
(b) Partculas hmedas. La corriente magnetizante deber ser activada despus
que las partculas hayan sido aplicadas. El flujo de partculas deber
detenerse con la aplicacin de la corriente. Las partculas hmedas aplicadas
desde envases presurizados o rociador por bombeo pueden ser aplicadas
antes y/o despus que la corriente magnetizante sea aplicada. Las partculas
hmedas pueden ser aplicadas durante la aplicacin de la corriente
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magnetizante si no son aplicadas directamente al rea de examinacin y se
permite que fluyan sobre el rea de examinacin o son aplicadas
directamente al rea de examinacin con velocidades insuficientemente
bajas para remover las partculas acumuladas.

FIG. T-766.1 ANILLO DE ENSAYO KETOS (BETZ)

Hueco 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
(mm)
Dimetro 0.07 0.07 0.07 0.07 0.07 0.07 0.07 0.07 0.07 0.07 0.07 0.07
[Nota(1)] (1.8) (1.8) (1.8) (1.8) (1.8) (1.8) (1.8) (1.8) (1.8) (1.8) (1.8) (1.8)
D 0.07 0.14 0.21 0.28 0.35 0.42 0.49 0.56 0.63 0.70 0.77 0.84
[Nota(2)] (1.8) (3.6) (5.3) (7.1) (9.0) (10.8) (12.6) (14.4) (16.2) (18.0) (19.8) (21.6)

NOTAS GENERALES:
(a) Todas las dimensiones son 0.03 ( 0.8 mm) o como se nota en (1) y (2).
(b) En la tabla en el texto, todas las dimensiones estn en pulgadas, a excepcin para los valores en
parntesis, los cuales son en milmetros.
(c) El material es acero de herramienta ANSI 01 de annealed round stock.
(d) El anillo puede ser tratado trmicamente como sigue: Calentar a 1400F hasta 1500F (760C hasta
790C). Mantener a esta temperatura por una hora. Enfriar a la velocidad mnima de 40 F/h (22C/h)
hasta bajarla a 1000F (540C). Enfriar en horno o al aire a temperatura ambiente. Terminar el anillo a
RMS 25 y protegerlo de la corrosin.
NOTAS:
(1) Todos los dimetros de los huecos son 0.005 ( 0.1 mm). Los nmeros de los huecos del 8
hasta el 12 son opcionales.
(2) La tolerancia en la distancia D es 0.005 (0.1 mm).

T-774 COBERTURA DE LA EXAMINACIN

Todas las examinaciones debern ser dirigidas con suficiente solape del campo para
asegurar el 100% de cobertura a la sensibilidad requerida (T-764).

T-775 CORRIENTE RECTIFICADA

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(a) Donde quiera que la corriente directa sea requerida la corriente rectificada
puede ser usada. La corriente rectificada para la magnetizacin deber ser
cualquier corriente trifsica (rectificada de onda completa), o corriente de
fase simple (rectificada de media onda).
(b) El amperaje requerido con corriente de trifsica, rectificada de onda completa
deber ser verificada mediante la medicin de la corriente promedio.
(c) El amperaje requerido con corriente de fase simple (rectificada de media
onda) deber ser verificada mediante la medicin de la salida de corriente
promedio durante la conduccin solamente del medio ciclo.
(d) Cuando se mide la corriente rectificada de media onda con un medidor de
ensayo de corriente directa las lecturas debern ser multiplicada por dos.

T-776 REMOCIN DEL EXCESO DE PARTCULAS

Las acumulaciones del exceso de partculas secas en las examinaciones debern ser
removidas con un chorro de aire ligero desde un bulbo o jeringa u otras fuentes de
flujo de aire seco a presin. La corriente o energa de examinacin deber ser
mantenida mientras se remueve el exceso de partculas.

T-777 INTERPRETACIN

La interpretacin deber identificar si una indicacin es falsa, no relevante, o


relevante. Las indicaciones falsas y no relevantes debern ser comprobadas como
falsas o no relevantes. La interpretacin deber ser llevada a cabo para identificar
las ubicaciones de las Indicaciones y la caracterstica de la indicacin.

T-777.1 Partculas Magnticas Visibles (Contraste de color). Las discontinuidades


superficiales son indicadas mediante las acumulaciones de partculas magnticas las
cuales deberan contrastar con la superficie de examinacin. El color de las partculas
magnticas deber ser diferente que el color de la superficie de examinacin. Se
requiere una iluminacin (natural o suplementaria de luz blanca) de la superficie a
ser examinada para la evaluacin de las indicaciones. La intensidad de luz mnima
deber ser de 100 fc (1000lx). La intensidad de luz, natural o fuente de luz blanca
suplementaria, deber ser medida con un medidor de luz blanca antes de la
evaluacin de las indicaciones. O deber ser usada una fuente de luz verificada. La
verificacin de las fuentes de luz es requerida para demostrar solo una vez,
documentada, y mantenido en archivo.

T-777.2 Partculas Magnticas Fluorescentes Con Luz Negra. Con partculas


magnticas fluorescentes, el proceso es esencialmente el mismo como en T-777.1,
con la excepcin que la examinacin se ejecuta usando una luz ultravioleta (es decir.,
365nm nominal), llamada luz negra. La examinacin deber ejecutarse como sigue:

(a) Deber ser ejecutado en un rea oscura.


(b) Los examinadores debern estar en un rea oscura por al manos 5 min.
Antes de ejecutar las examinaciones para permitir que sus ojos se adapten
a la inspeccin en ambiente oscuro. Las gafas o lentes usados por los
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examinadores no debern ser fotocromticos o mostrar cualquier
fluorescencia.
(c) Las luces negras debern alcanzar un mnimo de 1000 W/cm 2 sobre la
superficie de la pieza a ser examinada en toda la examinacion.
(d) Los reflectores, filtros, gafas, y lentes debern ser inspeccionados y, si es
necesario, limpios antes de ser usados. Reflectores, filtros, gafas, o lentes
agrietados o rotos debern ser reemplazados inmediatamente.
(e) La intensidad de la luz negra deber ser medida con un medidor de luz
negra antes de usarla, todas las veces que la fuente de luz negra sea
interrumpida o cambiada, y al culminar la examinacin o series de
examinaciones.

T-777.3 Partculas Magnticas Fluorescentes Con Otras Longitudes de Ondas de


Exitacin Fluorescentes.
Por otra parte los requerimientos en T-777.2, las examinaciones pueden ser
ejecutadas usando fuentes de luz de longitud de ondas alternas las cuales causan
fluorescencias en revestimientos de partculas especficos. Cualquier designacin de
partculas especficas y fuentes de luz de longitud de onda de luz alterna usadas
debern estar calificadas30 en concordancia con el Apendice Obligatorio IV. La
examinacin deber ser ejecutada como sigue:

(a) Deber ejecutarse en un rea oscura.


(b) Los examinadores debern estar en un rea oscura por al manos 5 min. Antes
de ejecutar las examinaciones para permitir que sus ojos se adapten a la
visin oscura. Las gafas o lentes usados por los examinadores no debern ser
fotocromticos o mostrar cualquier fluorescencia.
(c) Si la fuente de luz de excitacin fluorescente emite intensidades de luz
mayores que 2 fc (20 Lx), el examinador deber llevar lentes filtros que
aumentan-la fluorescencia aprobado por el fabricante de fuentes de luz para
usarse con aquella fuente de luz.
(d) La fuente de luz de excitacin fluorescente deber alcanzar al menos mnimo
la intensidad de luz mnima sobre la superficie de la pieza en toda la
examinacin as calificada en los ensayos del Apndice Obligatorio IV.
(e) Los reflectores, filtros, gafas, y lentes debern ser inspeccionados y, si es
necesario, limpios antes de usarse. Reflectores, filtros, gafas, o lentes
agrietados o rotos debern ser reemplazados inmediatamente.
(f) La intensidad de la luz de excitacin fluorescente deber ser medida con un
medidor de luz de excitacin fluorescente apropiado antes de usarla, todas
las veces que la fuente de energa de luz sea interrumpida o cambiada, y al
culminar la examinacin o series de examinaciones.

T-778 DESMAGNETIZACIN

Cuando el magnetismo residual en la pieza pudiera interferir con el procesamiento


subsecuente o uso, la parte deber ser desmagnetizada alguna vez despus de
culminar la examinacin.

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T-779 LIMPIEZA POSTERIOR A LA EXAMINACIN.

Cuando se requiere la limpieza posterior a la examinacin, debera ser dirigida tan


pronto como prctico sea usando un proceso que no afecte adversamente la pieza.
T-780 EVALUACIN

(a) Todas las indicaciones debern ser evaluadas en trminos de los estndares
de aceptacin de la Seccin del Cdigo de referencia.
(b) Las discontinuidades sobre o prximas a la superficie son indicadas mediante
la retencin del medio de examinacion. Sin embargo, las irregularidades
superficiales localizadas debido a marcas de maquinado u otras condiciones
superficiales pueden producir indicaciones falsas.
(c) reas amplias de acumulaciones de partculas, las cuales podran enmascarar
las indicaciones de las discontinuidades, estan prohibidas, y tales reas
debern ser limpias y reexaminadas.

T-790 DOCUMENTACIN
T-791 TECNICA DEL CROQUIS DE MAGNETIZACIN MULTIDIRECCIONAL

Deber prepararse una tcnica de croquis para cada geometra diferente examinada,
mostrando la geometra de la pieza, arreglos del cable y conexiones, corriente
magnetizante para cada circuito, y las reas de examinacion donde se obtienen las
densidades del campo magntico adecuado. Las partes con geometras repetidas,
pero de dimensiones diferentes, pueden ser examinadas usando un croquis simple
siempre que la densidad de campo magntico sea adecuada cuando se demuestre en
concordancia con T-756.2.

T-792 REGISTRO DE INDICACIONES


T-792.1 Indicaciones No Rechazables. Las indicaciones no rechazables debern ser
registradas como se especifica por la Seccin del Cdigo de referencia.

T-792.2 Indicaciones Rechazables. Las indicaciones rechazables debern ser


registradas. Como mnimo, el tipo de indicaciones (lineal o redondeadas), la
ubicacin y extensin (longitud, dimetro o alineada) debern ser registradas

T-793 REGISTROS DE LA EXAMINACIN

Para cada examinacin, la informacin siguiente deber ser registrada:


(a) Los requerimientos del Artculo 1, T-190(a)
(b) Equipos y tipo de corriente de partculas magnticas
(c) Partculas magnticas (visibles o fluorescentes, hmedas o secas)
(d) Mapa o registros de identificacin para T-792.
(e) Material y espesor
(f) Equipo de iluminacin

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APNDICE I OBLIGATORIO- EXAMINACIN POR PARTCULAS
MAGNTICAS QUE USA LA TCNICA DEL YUGO CON CA EN
MATERIALES REVESTIDOS FERROMAGNTICOS CON
RECUBRIMIENTOS NO FERROMAGNTICOS

I-710 ALCANCE

Este apndice suministra la metodologa de la examinacin de Partculas Magnticas


y los requerimientos de los equipos aplicables para ejecutar la examinacin por
Partculas Magnticas en materiales ferromagnticos con revestimientos no
ferromagnticos.

I - 720 GENERAL

Los requerimientos del Artculo 7 aplican a menos que sean modificados por este
Apndice.

I 721 REQUERIMIENTOS DE PROCEDIMIENTOS ESCRITOS


I 721.1 Requerimientos. La examinacin por Partculas Magnticas deber ser
desarrollada en concordancia con un procedimiento escrito el cual deber, como
mnimo, contener los requerimientos listados en las tablas T- 721 y I 721. El
procedimiento escrito deber establecer un solo valor, o rango de valores, para cada
requerimiento.

I 721.2 Calificacin de Procedimiento/Validacin de la Tcnica.


Cuando se especifica la calificacin de procedimiento, un cambio de un
requerimiento en la tabla T- 721 I 721 identificado como una variable esencial del
valor especificado, o rango de valores, debern requerir recalificacin del
procedimiento escrito y la validacin de la tcnica. Un cambio de un requerimiento
identificado como una variable no esencial del valor especificado, o rango de valores,
no requiere recalificacin del procedimiento escrito. Todos los cambios de variables
esenciales o no esenciales del valor, o rango de valores, especificado mediante el
procedimiento escrito deber requerir revisin de, o una adenda para, el
procedimiento escrito.

I 722 CALIFICACIN DEL PERSONAL

Los requerimientos de calificacin del personal debern estar en concordancia con la


Seccin del Cdigo en referencia.

I 723 PROCEDIMIENTO/DEMOSTRACIN DE LA TECNICA.

El procedimiento/Tecnica deber ser demostrado para la satisfaccin del inspector


en concordancia con los requerimientos de la Seccin del Cdigo en referencia.

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TABLA I-721
REQUERIMIENTOS DE LA TCNICA DEL YUGO CON CA EN COMPONENTES
REVESTIDOS FERROMAGNTICOS
Requerimientos Variable Esencial Variable No Esencial
Identificacin de las configuraciones de la superficie a ser
examinada, incluyendo los materiales del revestimiento, el X ---------------------
mximo espesor de revestimiento calificado, y las formas del
producto (ejemplo., material base o superficie soldada)
Requerimientos de la condicin superficial y mtodos de X ---------------------
preparacin.
Fabricante y Modelo de Yugo CA X ---------------------
Fabricante y tipo de las partculas magnticas X ---------------------
Separacin mnima y mxima de los polos X ---------------------
Identificacin de los pasos en la ejecucin de la examinacin X ---------------------
Intensidad mnima de la iluminacin y los requerimientos de
energa de levante [como se midi en concordancia con la X ---------------------
Tcnica de Calificacin (I-721.2)]
Mtodos de identificacin de fallas y distinguir entre las
indicaciones producidas por discontinuidades e indicaciones X ---------------------
falsas o no relevantes (ejemplo., registro magntico, o
partculas retenidas por irregularidades superficiales).
Instrucciones para la identificacin y confirmacin de X ---------------------
indicaciones de fallas bajo sospechas.
Aplicador del dispensador polvo de otra manera X
Mtodo de medicin de espesores de revestimientos --------------------- X
Criterio de registro --------------------- X
Requerimientos nico de calificacin de personal para esta --------------------- X
tcnica
Referencia a los registros de calificacin de procedimiento --------------------- X

I 730 EQUIPOS
I 730.1 El equipo de magnetizacin deber estar en concordancia con el Articulo 7.
I 730.2 Cuando se usa la tcnica del polvo seco, deber ser utilizado un soplador de
polvo de aire comprimido para la aplicacin del polvo en cualquier posicin. Pueden
ser usados otros aplicadores si estn calificados como en la examinacin de la
superficie de la pieza. Los aplicadores calificados para la posicin sobre cabeza
pueden ser usados en cualquier otra posicin. Los aplicadores calificados para la
posicin vertical pueden ser usados en las posiciones horizontales y plana.
I-730.3 Las partculas magnticas debern contrastar con el fondo de la pieza.
I 730.4 Los materiales No conductores tales como un shim plstico disponible
puede ser usado para simular revestimientos no ferromagnticos no conductores
para calificacin de procedimiento y personal.

I 740 REQUERIMIENTOS DIVERSOS


I 741 MEDICIN DEL ESPESOR DEL REVESTIMIENTO
La demostracin y ejecucin del procedimiento de las examinaciones debern ser
precedidas por la medicin del espesor del revestimiento en las reas a ser
examinadas. Si el revestimiento es no conductor, puede ser usada una tcnica de
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corriente de Eddy o tcnica magntica para medir el espesor del revestimiento. La
tecnica magntica deber estar en concordancia con SD-1186, Mtodos de Ensayos
Estndar para la Medicin No Destructiva de Espesores Delgados Secos de
Revestimientos No Magnticos Aplicados a una Base Ferrosa. Cuando los
revestimientos son conductores y no ferromagnticos, deber ser usada una tcnica
de espesor de revestimiento en concordancia con SD-1186. Se deber usar el equipo
de medicion de revestimiento en concordancia con las instrucciones del fabricante
del equipo. Debern ser tomadas las mediciones del espesor del revestimiento en las
intersecciones de un patrn cuadrcula maximo de 2 (50 mm) sobre el rea de
examinacin y al menos una mitad de la mxima separacin de los apoyos del yugo
ms all del rea de examinacin. El espesor deber ser la media de las tres lecturas
separadas dentro de (6 mm) de cada interseccin.

I-750 TCNICA
I-751 CALIFICACIN DE LA TCNICA

(a) Se requiere una muestra de calificacin. La muestra deber ser de


geometra similar o perfil de soldadura y que contenga al menos una
indicacin lineal superficial no mayor de 1/16(1.5 mm) de longitud. El
material usado para la muestra deber ser de la misma especificacin y
tratamiento trmico como el material ferromagntico revestido a ser
examinado. Como una alternativa al requerimiento del material, otros
materiales y tratamientos trmicos pueden ser calificados con tal que:
(1) La mxima fuerza de levante del yugo medida en el material a ser examinado
sea igual o mayor que la fuerza mxima de levante en la calificacin del
material de la muestra. Ambos valores debern ser determinados con el
mismo o equipo comparable y deber ser documentado como se requiera en
(c).
(2) Todos los requerimientos de (b) hasta (g) sean cumplidos para el material
alterno.
(b) Examinar la muestra no revestida en la mayora de la orientacin
desfavorable esperada durante la ejecucin de la examinacin de
produccin.
(c) Documentar la mxima energa de levante del yugo medido, niveles de
iluminacin, y los resultados.
(d) Medir el espesor mximo de revestimiento en la pieza a ser examinado
en concordancia con los requerimientos de I-741.
(e) Cubrir la muestra con el mismo tipo de recubrimiento, conductor o no
conductor, para el mximo espesor medido en la pieza de produccin a
ser examinada. Por otra parte, se pueden usar shim disponible no
conductor para simular revestimientos no conductores.
(f) Examinar la muestra revestida en la orientacin ms desfavorable
esperada durante la ejecucin de la examinacion de produccin.
Documentar la mxima energa medida de levante del yugo, nivel de
iluminacin, y los resultados de examinacion.
(g) Comparar la longitud de la indicacion resultante de la falla mas larga no
mayor que el tamao de falla mximo permitido por el criterio de
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aceptacin aplicable, antes y despus del revestimiento. Se califica el
espesor del revestimiento cuando la longitud de la indicacin en la
superficie revestida es de al menos del 50% de la longitud de la indicacin
correspondiente antes del revestimiento.
(h) Se requiere la recalificacin del revestimiento para una disminucin de
cualquier energia de levante del yugo CA o el nivel de examinacion, o
para un aumento en el espesor de recubrimiento.

I-760 CALIBRACIN
I-761 FUERZA MXIMA DE LEVANTE DEL YUGO

La mxima fuerza de levante del yugo CA deber ser determinada en la separacin


normal de los apoyos del yugo a ser usada en la examinacion. Esto puede llevarse a
cabo manteniendo el yugo con un peso ferromagntico de 10 libras (4.5Kgs) entre los
apoyos (piernas) del yugo y agregando pesos adicionales, calibrados en un franqueo
u otra escala, hasta que el peso ferromagntico sea liberado. La energa de levante
del yugo deber ser el peso combinado del material ferromagntico y los pesos
agregados, antes de que el peso ferromagntico haya sido liberado. Pueden ser
usados otros mtodos tales como indicadores de presiones.

I-762 MEDICIN DE LA INTENSIDAD DE LUZ

La intensidad de la luz negra o blanca (as apropiada) sobre la superficie del


componente no deber ser menor que el usado en el ensayo de calificacin. Un
medidor de luz blanca y/o luz negra calibrado de manera apropiada deber ser usado
para los ensayos. Las intensidades de luz blanca o luz negra mnima debern
cumplir con los requerimientos de T-777.1 o T-777.2 cuando sea aplicable.

I-762.1 Luz blanca. La intensidad de luz blanca deber ser medida en la superficie de
inspeccin. La intensidad de luz blanca para la examinacin no deber ser menor que
la que fue usada en la calificacin.

I-762.2 Luz Negra. La intensidad de luz negra deber ser medida en la distancia de la
luz negra en la calificacin del procedimiento y en la misma distancia de la muestra
de la examinacin. La intensidad de la luz negra no deber ser menor que la usada
para calificar el procedimiento. Adems, la mxima intensidad de la luz blanca
deber ser medida como luz de fondo en la superficie de inspeccin. La luz blanca de
fondo para la examinacin deber ser no mayor que la usada en la calificacin.

I-770 EXAMINACIN

(a) Las superficies a ser examinadas, y todas las reas adyacentes dentro de al
menos 1 (25 mm), debern estar libres de todo sucio, grasas, pelusas,
cascarillas, fundentes y salpicaduras de soldaduras, aceites, y descascarillados
sueltos y soplados, hojuelas, o revestimiento desconchado.
(b) Examinar el pieza revestida en concordancia con el procedimiento calificado.

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I-780 EVALUACIN

Si una indicacin mayor que el 50% del tamao mximo de falla permisible es
detectada, el recubrimiento en el rea de la indicacin deber ser removido y
repetida la examinacin.

I-790 DOCUMENTACIN
I-791 REGISTRO DE LA EXAMINACIN

Para cada examinacin, la informacion requerida en la seccin de registros de T-793


y la siguiente informacin deber ser registrada:
(a) La identificacin del procedimiento/tcnica
(b) La descripcin y dibujos o esquemas de la muestra de calificacin, incluyendo
las mediciones del espesor del revestimiento y dimensiones de la falla.
(c) Equipos y materiales usados
(d) Nivel de iluminacin y energa de levante del yugo
(e) Resultados de la calificacin, incluyendo el espesor de revestimiento mximo
y fallas detectadas.

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APENDICE II OBLIGATORIO GLOSARIO DE TRMINOS PARA LA
EXAMINACIN POR PARTCULAS MAGNTICAS
Eliminado; los trminos y definiciones en este Apndice han sido incorporado en el
Artculo 1, Apndice Obligatorio I, I-121.4.

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APENDICE III OBLIGATORIO EXAMINACIN POR PARTCULAS
MAGNTICAS QUE USA LA TCNICA DEL YUGO CON
PARTCULAS FLUORESCENTES EN UN REA NO OSCURA

III- 710 ALCANCE

Este Apndice suministra la metodologa y requerimientos de equipos para


examinacin por Partculas Magnticas aplicables para ejecutar las examinaciones
por partculas magnticas que usan un yugo con partculas fluorescentes en un rea
no oscura.

III-720 GENERAL

Los requerimientos del Artculo 7 aplican a menos que sea modificado por este
Apndice.
III-721 REQUERIMIENTOS DE PROCEDIMIENTO ESCRITO

III-721.1 Requerimientos. Los requerimientos de las tablas T-721 y III-721 aplican.

III-721.2 Calificacin de Procedimiento. Los requerimientos de la tabla T-721 y III-721


aplican.

III-723 DEMOSTRACIN DE PROCEDIMIENTO

El procedimiento deber ser demostrado para la satisfaccin del inspector en


concordancia con los requerimientos de la Seccin del Cdigo en referencia.

III-750 TCNICA
III-751 ESTNDAR DE CALIFICACIN

Un Shim(s) ranurado estndar como se describe en T-764.2(b) deber ser usado


como el estndar de calificacin.

III-760 CALIBRACIN

III-761 MEDICIN DE LA INTENSIDAD DE LUZ NEGRA.

La intensidad de la luz negra sobre la superficie del componente deber ser no


menor que el usado en el ensayo de calificacin.

III-762 MEDICIN DE LA INTENSIDAD DE LA LUZ BLANCA

La intensidad de la luz blanca sobre la superficie del componente deber ser no


mayor que el usado en el ensayo de calificacin
III-770 EXAMINACIN

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El estndar de calificacin deber ser ubicado sobre una plancha de acero al carbono
y examinado en concordancia con el procedimiento a ser calificado y un
procedimiento que haya sido previamente demostrado como apropiado para el uso.
El procedimiento estndar puede utilizar una tecnica fluorescente o visible. Las
indicaciones de falla debern ser comparadas; si la indicacin obtenida bajo las
condiciones propuestas aparece la misma o mejor que la obtenida bajo las
condiciones estndar, el procedimiento propuesto deber ser considerado calificado
para su uso.

TABLA III-721
REQUERIMIENTOS PARA LA TECNICA DEL YUGO CON HWDC O AC CON PARTCULAS
FLUORESCENTES EN UN REA NO OSCURA
REQUERIMIENTOS VARIABLES ESENCIAL VARIABLE NO ESENCIAL
Identificacin de las Configuraciones de la X -------------------------
superficie a ser examinadas y Forma de Productos
(ejemplo., material base o superficie soldada).
Requerimientos de la Condicin Superficial y X -------------------------
Mtodos de Preparacin,
Fabricante del Yugo y Modelo. X -------------------------
Fabricante de Partculas y Designacin X -------------------------
Separacin del Polo Mximo y Mnimo X -------------------------
Identificacin de los Pasos en la Ejecucin de la X -------------------------
Examinacin
Intensidad de la Luz Blanca Mxima X -------------------------
Intensidad de la Luz Negra Mnima X -------------------------
Requerimientos de la Calificacin del Personal . X
Referencia a los Registros de Calificacin de . X
Procedimientos

III-777 INTERPRETACIN

Para la interpretacin, tanto para la intensidad de luz negra y blanca debern ser
medida con medidores de luz.

III-790 DOCUMENTACIN

III-791 REGISTRO DE LA EXAMINACIN

Para cada examinacin, la informacin requerida en T-793 y la siguiente informacin


deber ser registrada:

(a) Identificacin del estndar de Calificacin.


(b) Identificacin del personal que ejecuta y testigo de la calificacin.
(c) Equipos y materiales usados.
(d) Niveles de iluminacin (luz negra y blanca).
(e) Resultados de la calificacin.

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APNDICE IV CALIFICACIN DE FUENTES DE LUZ DE
LONGITUD DE ONDA ALTERNA PARA LA EXCITACIN DE
PARTCULAS FLUORESCENTES.

IV-710 ALCANCE

Este Apndice suministra la metodologa para calificar la ejecucin de las


examinaciones de partculas fluorescentes que usan fuentes de longitud de ondas
alternas.

IV-720 GENERAL

Los requerimientos del Artculo 7 aplican a menos que sea modificado por este
Apndice.

IV-721 REQUERIMIENTOS DE PROCEDIMIENTOS ESCRITOS.

IV-721.1 Requerimientos. Los requerimientos de la tabla IV-721 aplican a los


requerimientos de los procedimientos escritos (T-721.1) y cuando se especifican
mediante la Seccin del Cdigo de referencia para la calificacin (T-721.2).

IV-723 DEMOSTRACIN DEL PROCEDIMIENTO

El procedimiento deber ser demostrado para la satisfaccin del inspector en


concordancia con los requerimientos de la Seccin del Cdigo en referencia.

IV-750 TCNICA

IV-751 ESTNDAR DE CALIFICACIN

Los Shims ranurados de 0.002 (0.05 mm) de espesor que tengan el 30% de
profundidad de material removido descrito as en T-764.2(b) debern ser usados
para calificar la fuente de luz de longitud de onda alterna y partculas especficas. Los
Shims debern estar sellados con cinta a una superficie de objetos ferromagnticos
y usados como se describe en 7-764.2 (b) con la muesca contra la superficie del
objeto.

IV-752 FILTRO DE CRISTALES

Si la fuente de luz de longitud de onda alternativa emite luz en una porcin visible
del espectro (Longitud de onda de 400 nm o mayor), el examinador deber llevar
puestos lentes de filtros que hayan sido suministrado por el fabricante de la fuente
de luz para bloquear la luz de excitacin visible reflejada mientras se transmite la
fluorescencia de las partculas.

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IV-770 EXAMINACIONES DE LAS CALIFICACIONES

IV-771 INTENSIDAD DE LA LUZ NEGRA.

La intensidad de luz negra sobre la superficie de examinacin deber ser ajustada


mediante la variacin de la distancia o energa a fin de que tenga una intensidad
mnima de 1.000 W /cm2 y un mximo de intensidad de 1.100 W /cm2.

IV-772 REQUERIMIENTOS DE LA EXAMINACIN

Los parmetros de la examinacin para el objeto seleccionado debern ser


determinados por las reglas de T-750 aplicable al objeto seleccionado y al mtodo de
magnetizacin. Cualquier tcnica de magnetizacin listada en T-751 puede ser usada.
Las mismas indicaciones de las discontinuidades del Shim debern ser usadas tanto
para la luz negra y para las examinaciones de luz de longitud de onda alterna

Tabla IV-721
Requerimientos para la Calificacin de Fuentes de Luz de Longitud de Onda Alterna para la
Excitacin de Partculas Fluorescentes Especficas
Requerimientos Variables Esenciales Variables No Esenciales
Fabricante y Designacin de Partculas X .
Agente transportador (agua, o aceite); si X .
es aceite fabricante y tipo de designacin.
Fuente de luz de longitud de onda alterna X ....
fabricante y modelo
Medidor de Fuente de luz de longitud de
onda alterna, fabricante, y modelo X .
Filtros de vidrio(si se requieren) X
Intensidad de luz de longitud de onda X .
alternativa mnima .
Registros de calificacin X

IV-772.1 Examinaciones con Luz Negra. El estndar de calificacin con el shim(s)


sujetado deber ser examinado con los parmetros establecidos y partculas
especficas en un rea oscura con iluminacin de luz negra. Las indicaciones de
partculas resultantes debern ser fotografiadas.

IV-772.2 Examinacin con Luz de Longitud de Onda Alterna. Usando las mismas
indicaciones de partculas examinadas en IV.772.1, encender la fuente de luz de
longitud de onda alterna y ajustar la intensidad de luz mediante la variacin de la
distancia o energa, para establecer las indicaciones de partculas esencialmente
iguales a aquella (aquellas) obtenidas con la luz negra segn como se realiz antes.
La intensidad de la luz deber ser medida con un medidor de luz de longitud de onda
alternativa. La indicacion(s) de partculas resultantes deber ser fotografiada usando
las tcnicas fotogrficas idnticas como la usada para la luz negra. Sin embargo, para

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usar filtros de lentes de camara apropiados con la fuente de luz de longitud de onda
alterna debera ser usado para registrar la indicacion(s), cuando sea requerida.

IV-773 CALIFICACIN DE LA FUENTE DE LUZ DE LONGITUD DE ONDA ALTERNA Y


PARTCULAS ESPECFICAS.

Cuando la misma indicacin(s) de partculas as logradas con de luz negra pueden


obtenerse con la fuente de luz de longitud de onda alterna, la fuente de luz de
longitud onda alterna puede ser usada para las examinaciones por partculas
magnticas. La fuente de luz de longitud de onda alterna con al menos la mnima
intensidad de luz calificada deber ser usada con la designacin de partculas
especificas empleadas en la calificacin.

IV-790 DOCUMENTACIN

IV-791 REGISTRO DE LA EXAMINACIN.


Para cada examinacin, la informacin requerida en T-793 y la siguiente informacin
deber ser registrada:

(a) La fuente de luz de longitud de onda alterna, fabricante y modelo.


(b) El medidor de fuente de luz de longitud de onda alternativa, fabricante y
modelo.
(c) Cristales filtro, cuando sea necesario
(d) Fabricante y designacin de las partculas fluorescentes.
(e) Calificacin de la Identificacin estndar.
(f) Detalles de la tcnica.
(g) Identificacin del personal que ejecuta la calificacin y testigos de la misma.
(h) Equipos y materiales usados.
(i) Intensidad de luz de longitud de onda alterna mnima.
(j) Luz negra y fotos de la calificacin de luz de longitud de onda alternativa,
calibraciones de la exposicin, y filtros, si son usados.

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APNDICE V OBLIGATORIO- REQUERIMIENTOS PARA EL USO DE
TECNICAS DE GOMAS MAGNTICAS

V-710
V-710 ALCANCE
Este apndice suministra la metologa y requerimientos aplicables de los equipos
para ejecutar las examinaciones de partculas magnticas usando tcnicas de goma
magntica en lugar de partculas magnticas secas o hmedas. Las aplicaciones
principales para esta tcnica son:
(a) Accesibilidad mecnica o visual limitada, tales como huecos de pernos.
(b) Superficies revestidas.
(c) Formas complejas o condiciones superficiales pobres.
(d) Discontinuidades que requieren magnificacin para la deteccin e
interpretacin.
(e) Registro permanente de la inspeccin normal.

V-720 REQUERIMIENTOS GENERALES


V-720.1 Requerimientos. Los requerimientos del Artculo 7 aplican a menos que sea
modificado por este Apndice.
V-720.2 Aplicacin. Para ajustar la examinacin de una variedad de superficies, un
polmero lquido que contenga partculas ferromagnticas es aplicado a la superficie
en vez de las partculas hmedas suspendidas o secas convencionales. Durante el
tiempo de cura, la aplicacin de los campos magnticos causa que las partculas
migren y formen patrones en las discontinuidades. El polmero cura la formacin en
un slido elstico (ejemplo., una replica de goma) con indicaciones permanentes fijas
en la superficie.

V-721 REQUERIMIENTOS DE PROCEDIMEINTO ESCRITO


V-721.1 Requerimientos. Las tcnicas de goma magnticas debern ser ejecutadas en
concordancia con un procedimiento escrito que, como mnimo contendr los
requerimientos listados en la tabla V-721. El procedimiento escrito deber establecer
un valor simple, o rango de valores, para cada requerimiento.

V-721.2 Calificacin de Procedimiento. Cuando la calificacin de procedimiento es


especificado por la Seccin del Cdigo de referencia, un cambio de un requerimiento
en la tabla V-721 identificado como variable esencial deber requerir recalificacin
del procedimiento escrito mediante demostracin. Un cambio de un requerimiento
identificado como una variable no esencial no requiere recalificacin del
procedimiento escrito. Todos los cambios de variables esenciales o no esenciales de
aquellas especificadas dentro del procedimiento escrito deber requerir revisin de,
o una adenda para, el procedimiento escrito.

V-730 EQUIPOS
V-731 APARATOS MEGNETIZANTES

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Medios apropiados para producir la orientacin y densidad del campo magntico en
la pieza debern ser empleados, usando corriente directa o rectificada excepto
donde los revestimientos estn involucrados. Los campos generados por los yugos
magnticos de corriente alterna no debern ser usados excepto donde los
revestimientos no magnticos sean usados en superficies externas. Los Gausmetros
o Shims artificiales debern ser usados para la determinacin de la densidad y
direccin del campo.

V-732 MATERIALES DE GOMA MAGNTICA


El material deber ser en la forma de un polmero vulcanizado (goma) lquido o
semilquido. Que contenga partculas ferromagnticas. El material deber ser
utilizado en un rango de temperatura como lo recomienda el fabricante. Cuando se
requiera demostracin, la temperatura deber ser registrada.

V-733 DENSIDAD DE CAMPO MAGNTICO


Un Gausmetro calibrado o Shim artificial deber ser usado para determinar la
densidad y direccin del campo magntico sobre la superficie a ser examinada. El
dispositivo Gausmetro deber estar equipado tanto con sondas de campo axial y
transversal. Se debern usar medidores calibrados tipo dial o similar de rango
apropiado, con tal que sean capaces de realizar mediciones axiales y transversales.
Los valores para G (kAm-1) o el uso de Shims artificiales debern estar en
concordancia con T-764.

V-734 MAGNIFICACIN
La reproduccin de la visualizacin puede se ayudada mediante el uso de
magnificacin.
V-740 REQUERIMIENTOS DIVERSOS
V-741 PREPARACION DE LA SUPERFICIE
(a) Antes de la Examinacin por partculas magnticas, las superficies a ser
examinadas y reas adyacentes dentro de al menos (13 mm.) del rea de
inters debern estar secas y libre de sucio, aceites, grasas, pinturas, pelusas,
cascarillas y fundentes de soldaduras, y otros materiales extraos que
pudieran restringir el movimientos de las partculas e interferir con la
examinacin por la cura de prevencin o extensin del tiempo de curado. Los
revestimientos superficiales no magnticos no requieren ser eliminados para
las tcnicas que usan yugo electromagntico de corriente alterna.
(b) Cuando los revestimientos no magnticos son dejados en la pieza en el rea
que esta siendo examinada, deber demostrarse con un yugo
electromagntico de corriente alterna que las indicaciones pueden ser
detectadas a travs del espesor del revestimiento mximo existente segn el
Artculo 7, Apndice Obligatorio I.

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APNDICE A NO OBLIGATORIO - MEDICIN DE LA DENSIDAD
DEL CAMPO MAGNTICO TANGENCIAL CON GAUSIMETROS
CONTENIDOPag.

APNDICE A MEDICIN DE LA DENSIDAD DEL CAMPO TANGENCIAL CON


GAUSMETROS.40
A-710 ALCANCE40
A-720 REQUERIMIENTOS GENERALES..40
A-730 EQUIPOS40
A-750 PROCEDIMIENTOS..40
A-790 DOCUMENTOS/REGISTROS..41

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A-710 ALCANCE

Este Apndice No obligatorio es usado con el propsito de establecer procedimientos


y especificaciones de los equipos para medir la densidad de campo magntico
tangencial aplicado.

A-720 REQUERIMIENTOS GENERALES

Los requerimientos de calificacin del personal debern estar en concordancia con el


Artculo 1.
Los gausmetros y equipos relacionados debern estar calibrados en concordancia
con T-763.

La definicin de trminos usados en este Apndice estn en el Artculo 1, Apndice


Obligatorio I, I 121.4 Partculas Magnticas.

A-730 EQUIPOS

El gausmetro que tiene la capacidad de ser ajustado para leer los valores picos de la
intensidad de campo. La respuesta de la frecuencia del gausmetro deber ser de al
menos de O Hz hasta 300 Hz.

La sonda de campo tangencial del Efecto Hall debera ser no mayor de 0.2 (5mm) X
0.2 (5 mm) y debera tener una ubicacin del centro mximo de 0.2 (5 mm) de la
superficie de la pieza. Los cables de la sonda debern ser protegido o enrollados para
evitar errores en la lectura debido al voltaje inducido durante los grandes cambios de
campos encontrados durante las examinaciones por partculas magnticas.

A-750 PROCEDIMIENTO

Se deber tener precaucin cuando de mida las densidades del campo tangencial
aplicado en T-764.2(c). El plano de la sonda puede ser perpendicular a la superficie
de la pieza en la ubicacin de la medicin dentro de 5. Esto puede ser difcil de
llevar a cabo mediante la orientacin manual. Puede ser usado una matrz o
accesorio para asegurar que esta orientacin sea alcanzada y mantenida. La direccin
y magnitud del campo tangencial sobre la superficie de la pieza puede ser
determinada mediante la ubicacin de la sonda de campo tangencial de Efecto Hall
sobre la superficie de la parte en el rea de inters. La direccin del campo puede
ser determinada durante la aplicacin del campo magnetizante por la rotacion de la
sonda de campo tangencial mientras esta en contacto con la pieza hasta que se
obtenga la mayor lectura del campo en el Gausmetro. La orientacin de la sonda,
cuando se obtiene el mayor campo, indicar la direccin del campo en ese punto.
Los Gausmetros no se pueden usar para determinar la adecuacin de los campos
magnticos para las tcnicas de magnetizacin de bobina y multidireccionales.
Una vez que la densidad del campo suficiente ha sido demostrada con los Shims de
falla artificial, la lectura de los Gausmetros puede ser usada para el aclope del Shim

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en piezas idnticas o configuraciones similares para verificar la intensidad y direccin
del campo.

A-790 DOCUMENTACIN /REGISTROS

(a) Modelo del equipo y descripciion de la sonda.


(b) Esquemas o dibujos mostrando donde son realizadas las mediciones
(c) Intensidad y direccin de la medicion del campo .

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