Documente Academic
Documente Profesional
Documente Cultură
Figuras
Tablas
T-710 ALCANCE
T-720 GENERAL
Al principio, este mtodo trae consigo magnetizar un rea para ser examinada, y
aplicar las partculas ferromagnticas (el medio de examinacin) a la superficie. Los
patrones de partculas se forman sobre la superficie donde el campo magntico es
forzado a salir de la pieza y sobre las discontinuidades para causar una fuga de
campo magntico que atrae a las partculas. Los patrones de partculas son por lo
general caractersticos del tipo de discontinuidad que es detectada.
Cualquiera que sea la tcnica usada para producir el flujo magntico en la pieza, la
sensibilidad mxima ser para las discontinuidades lineales orientadas perpendicular
a las lneas de flujo. Para la efectividad optima en la deteccin de todos los tipos de
discontinuidades, cada rea a ser examinada se debe magnetizar al menos dos
veces, con las lneas de flujo durante una examinacin siendo aproximadamente
perpendicular a las lneas de flujo durante la otra.
T-730 EQUIPOS
(a) Tipos de partculas. Las partculas debern ser tratadas para impartir color
(pigmentos fluorescentes, pigmentos no fluorescentes, o ambos) a fin de
hacerlas altamente visibles (contraste) contra el fondo de la superficie a ser
examinada.
(b) Las partculas. Las partculas secas y hmedas y vehculos en suspensin
deberan estar en concordancia con SE- 709.
(c) Limitaciones de temperatura. Las partculas debern ser usadas dentro de las
limitaciones de los rangos de temperaturas establecidas por el fabricante de
las partculas. Por otra parte, las partculas pueden ser usadas fuera de las
recomendaciones del fabricante de las partculas siempre que el
procedimiento este calificado en concordancia con el Artculo 1, T-150 a la
temperatura propuesta.
T-741.1 Preparacin.
NOTA: Referirse a T-150 (a) para guiarse para la demostracin requerida en T-741.1 (d) y T-741.2.
T-750 TCNICA
T-751 TCNICAS
(c) Piezas con la relacin L/D menor que 2. No se puede usar la tcnica de
magnetizacin con bobina.
(d) Si el rea que va ser magnetizada se extiende mas all de 9 (225 mm)
en cualquier lado del centro de la bobina, se deber demostrar la
adecuacin del campo usando un indicador de campo magntico o
Shims de fallas artificiales. Segn T-764.
(e) Para grandes piezas debido a su forma y tamao, la corriente
magnetizante deber ser de 1200 amperios-vuelta hasta 4500 amperios-
vueltas. La adecuacin del campo deber ser demostrada usando Shims
de falla artificial o un indicador de campo magntico en forma de torta
en concordancia con T-764. Un Gausmetro de prueba de Efecto Hall no
deber ser usado con las tcnicas de magnetizacin de bobina
envolvente.
(1) La corriente deber ser de 300 amper/pulgs. (12 Amps/mm) para 800
amp/pulg. (31 Amps/mm) de dimetro exterior.
(2) Las piezas con formas geomtricas diferentes a las redondas con la
diagonal de seccional transversal ms grande en un plano en un ngulo
Para esta tcnica, se debern usar los yugos electromagnticos de corriente alterna o
directa, o yugos de imanes permanentes
T-760 CALIBRACIN
T-761 FREQUENCIA DE CALIBRACIN
T-761.1 Equipos de Magnetizacin
T-761.2 Medidores de luz. Los medidores de luz debern ser calibrados al menos una
vez al ao o todas las veces que el medidor haya sido reparado. Si los medidores no
han estado en uso por un ao o ms, la calibracin deber ser hecha antes de su uso.
T-763 GAUSMETROS
Los Gausmetros de prueba de efecto Hall usados para verificar la densidad del
campo magnetizante en concordancia con T-754 debern estar calibrado al menos
una vez al ao o todas las veces que el equipo hay sido sometido a una reparacin
mayor, revisin peridica, o dao. Si el equipo no ha sido usado por un ao o ms, la
calibracin deber ser realizada antes de su primer uso.
NOTA: Los Shims circulares mostrados en la Figura T-764.2 (b) (2) ilustracin (b) tambin tienen
profundidad de fallas menores y mayores del 30%.
La muestra de anillo Ketos (Betz) (Ver la figura. T-766.1) deber ser usada en la
evaluacin y comparacin de la ejecucion y sensibilidad total tanto para las tcnicas
por partculas magnticas no fluorescentes y fluorescentes, secas y hmedas usando
una tcnica de magnetizacin de conductor central.
(a) El Material del Anillo del Ensayo Ketos (Betz). El anillo de acero de
herramientas (Ketos) debera ser maquinado del material AISI 01 en
concordancia con la Figura T-766.1. Cualquier anillo maquinado o modelo de
acero deber ser revenido a 1650F (900C), enfriado a 50F (28C) por hora a
1000 (540C) y luego enfriado al aire a temperatura ambiente para dar
resultados comparables que usan anillos similares que hayan tenido el mismo
tratamiento. El material y el tratamiento trmico son variables importantes.
La experiencia indica que solo es insuficiente el control del ablandamiento
del anillo mediante la dureza (90 a 95 HRB).
Prohibida la reproduccin de este material por cualquier va,wmendozaws@gmail.com,04163332202
Pgina 18
(b) Uso del Anillo de Ensayo. El anillo de ensayo (Ver la Figura T-766.1), es
magnetizado circularmente con corriente CA de media onda rectificada
pasndolo a travs de un conductor central con un hueco de 1 pulgada hasta
11/4 (25mm a 32mm) de dimetro ubicado en el centro del anillo. El
conductor debera tener una longitud mayor de 16 (400 mm). Las corrientes
usadas debern ser de 1400, 2500 y 3400 amperios. El nmero mnimo de
huecos mostrados debern ser tres, cinco y seis, respectivamente. El borde
del anillo deber ser examinado con cualquier luz negra o luz visible,
dependiendo del tipo de partcula involucrada. Este ensayo deber ser
pasado por tres intensidades de corrientes si se debe usar la unidad en estos
tipos de amperajes o mayores. Los valores del amperaje establecidos no
debern excederse en el ensayo. Si el ensayo no revela el nmero requeridos
de huecos, el equipo deber ser sacado de servicio y la causa de la prdida de
sensibilidad determinada y corregida. Este ensayo deber ser realizado al
menos una vez por semana.
T-770 EXAMINACIN
T-771 EXAMINACIN PRELIMINAR
Al menos dos examinaciones separadas debern ser ejecutadas sobre cada rea.
Durante la segunda examinacin, las lneas del flujo magntico debern ser
aproximadamente perpendiculares a aquellas usadas durante la primera
examinacin. Una tecnica diferente para la magnetizacin deber ser usada para la
segunda examinacin.
Hueco 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
(mm)
Dimetro 0.07 0.07 0.07 0.07 0.07 0.07 0.07 0.07 0.07 0.07 0.07 0.07
[Nota(1)] (1.8) (1.8) (1.8) (1.8) (1.8) (1.8) (1.8) (1.8) (1.8) (1.8) (1.8) (1.8)
D 0.07 0.14 0.21 0.28 0.35 0.42 0.49 0.56 0.63 0.70 0.77 0.84
[Nota(2)] (1.8) (3.6) (5.3) (7.1) (9.0) (10.8) (12.6) (14.4) (16.2) (18.0) (19.8) (21.6)
NOTAS GENERALES:
(a) Todas las dimensiones son 0.03 ( 0.8 mm) o como se nota en (1) y (2).
(b) En la tabla en el texto, todas las dimensiones estn en pulgadas, a excepcin para los valores en
parntesis, los cuales son en milmetros.
(c) El material es acero de herramienta ANSI 01 de annealed round stock.
(d) El anillo puede ser tratado trmicamente como sigue: Calentar a 1400F hasta 1500F (760C hasta
790C). Mantener a esta temperatura por una hora. Enfriar a la velocidad mnima de 40 F/h (22C/h)
hasta bajarla a 1000F (540C). Enfriar en horno o al aire a temperatura ambiente. Terminar el anillo a
RMS 25 y protegerlo de la corrosin.
NOTAS:
(1) Todos los dimetros de los huecos son 0.005 ( 0.1 mm). Los nmeros de los huecos del 8
hasta el 12 son opcionales.
(2) La tolerancia en la distancia D es 0.005 (0.1 mm).
Todas las examinaciones debern ser dirigidas con suficiente solape del campo para
asegurar el 100% de cobertura a la sensibilidad requerida (T-764).
Las acumulaciones del exceso de partculas secas en las examinaciones debern ser
removidas con un chorro de aire ligero desde un bulbo o jeringa u otras fuentes de
flujo de aire seco a presin. La corriente o energa de examinacin deber ser
mantenida mientras se remueve el exceso de partculas.
T-777 INTERPRETACIN
T-778 DESMAGNETIZACIN
(a) Todas las indicaciones debern ser evaluadas en trminos de los estndares
de aceptacin de la Seccin del Cdigo de referencia.
(b) Las discontinuidades sobre o prximas a la superficie son indicadas mediante
la retencin del medio de examinacion. Sin embargo, las irregularidades
superficiales localizadas debido a marcas de maquinado u otras condiciones
superficiales pueden producir indicaciones falsas.
(c) reas amplias de acumulaciones de partculas, las cuales podran enmascarar
las indicaciones de las discontinuidades, estan prohibidas, y tales reas
debern ser limpias y reexaminadas.
T-790 DOCUMENTACIN
T-791 TECNICA DEL CROQUIS DE MAGNETIZACIN MULTIDIRECCIONAL
Deber prepararse una tcnica de croquis para cada geometra diferente examinada,
mostrando la geometra de la pieza, arreglos del cable y conexiones, corriente
magnetizante para cada circuito, y las reas de examinacion donde se obtienen las
densidades del campo magntico adecuado. Las partes con geometras repetidas,
pero de dimensiones diferentes, pueden ser examinadas usando un croquis simple
siempre que la densidad de campo magntico sea adecuada cuando se demuestre en
concordancia con T-756.2.
I-710 ALCANCE
I - 720 GENERAL
Los requerimientos del Artculo 7 aplican a menos que sean modificados por este
Apndice.
I 730 EQUIPOS
I 730.1 El equipo de magnetizacin deber estar en concordancia con el Articulo 7.
I 730.2 Cuando se usa la tcnica del polvo seco, deber ser utilizado un soplador de
polvo de aire comprimido para la aplicacin del polvo en cualquier posicin. Pueden
ser usados otros aplicadores si estn calificados como en la examinacin de la
superficie de la pieza. Los aplicadores calificados para la posicin sobre cabeza
pueden ser usados en cualquier otra posicin. Los aplicadores calificados para la
posicin vertical pueden ser usados en las posiciones horizontales y plana.
I-730.3 Las partculas magnticas debern contrastar con el fondo de la pieza.
I 730.4 Los materiales No conductores tales como un shim plstico disponible
puede ser usado para simular revestimientos no ferromagnticos no conductores
para calificacin de procedimiento y personal.
I-750 TCNICA
I-751 CALIFICACIN DE LA TCNICA
I-760 CALIBRACIN
I-761 FUERZA MXIMA DE LEVANTE DEL YUGO
I-762.1 Luz blanca. La intensidad de luz blanca deber ser medida en la superficie de
inspeccin. La intensidad de luz blanca para la examinacin no deber ser menor que
la que fue usada en la calificacin.
I-762.2 Luz Negra. La intensidad de luz negra deber ser medida en la distancia de la
luz negra en la calificacin del procedimiento y en la misma distancia de la muestra
de la examinacin. La intensidad de la luz negra no deber ser menor que la usada
para calificar el procedimiento. Adems, la mxima intensidad de la luz blanca
deber ser medida como luz de fondo en la superficie de inspeccin. La luz blanca de
fondo para la examinacin deber ser no mayor que la usada en la calificacin.
I-770 EXAMINACIN
(a) Las superficies a ser examinadas, y todas las reas adyacentes dentro de al
menos 1 (25 mm), debern estar libres de todo sucio, grasas, pelusas,
cascarillas, fundentes y salpicaduras de soldaduras, aceites, y descascarillados
sueltos y soplados, hojuelas, o revestimiento desconchado.
(b) Examinar el pieza revestida en concordancia con el procedimiento calificado.
Si una indicacin mayor que el 50% del tamao mximo de falla permisible es
detectada, el recubrimiento en el rea de la indicacin deber ser removido y
repetida la examinacin.
I-790 DOCUMENTACIN
I-791 REGISTRO DE LA EXAMINACIN
III-720 GENERAL
Los requerimientos del Artculo 7 aplican a menos que sea modificado por este
Apndice.
III-721 REQUERIMIENTOS DE PROCEDIMIENTO ESCRITO
III-750 TCNICA
III-751 ESTNDAR DE CALIFICACIN
III-760 CALIBRACIN
TABLA III-721
REQUERIMIENTOS PARA LA TECNICA DEL YUGO CON HWDC O AC CON PARTCULAS
FLUORESCENTES EN UN REA NO OSCURA
REQUERIMIENTOS VARIABLES ESENCIAL VARIABLE NO ESENCIAL
Identificacin de las Configuraciones de la X -------------------------
superficie a ser examinadas y Forma de Productos
(ejemplo., material base o superficie soldada).
Requerimientos de la Condicin Superficial y X -------------------------
Mtodos de Preparacin,
Fabricante del Yugo y Modelo. X -------------------------
Fabricante de Partculas y Designacin X -------------------------
Separacin del Polo Mximo y Mnimo X -------------------------
Identificacin de los Pasos en la Ejecucin de la X -------------------------
Examinacin
Intensidad de la Luz Blanca Mxima X -------------------------
Intensidad de la Luz Negra Mnima X -------------------------
Requerimientos de la Calificacin del Personal . X
Referencia a los Registros de Calificacin de . X
Procedimientos
III-777 INTERPRETACIN
Para la interpretacin, tanto para la intensidad de luz negra y blanca debern ser
medida con medidores de luz.
III-790 DOCUMENTACIN
IV-710 ALCANCE
IV-720 GENERAL
Los requerimientos del Artculo 7 aplican a menos que sea modificado por este
Apndice.
IV-750 TCNICA
Los Shims ranurados de 0.002 (0.05 mm) de espesor que tengan el 30% de
profundidad de material removido descrito as en T-764.2(b) debern ser usados
para calificar la fuente de luz de longitud de onda alterna y partculas especficas. Los
Shims debern estar sellados con cinta a una superficie de objetos ferromagnticos
y usados como se describe en 7-764.2 (b) con la muesca contra la superficie del
objeto.
Si la fuente de luz de longitud de onda alternativa emite luz en una porcin visible
del espectro (Longitud de onda de 400 nm o mayor), el examinador deber llevar
puestos lentes de filtros que hayan sido suministrado por el fabricante de la fuente
de luz para bloquear la luz de excitacin visible reflejada mientras se transmite la
fluorescencia de las partculas.
Tabla IV-721
Requerimientos para la Calificacin de Fuentes de Luz de Longitud de Onda Alterna para la
Excitacin de Partculas Fluorescentes Especficas
Requerimientos Variables Esenciales Variables No Esenciales
Fabricante y Designacin de Partculas X .
Agente transportador (agua, o aceite); si X .
es aceite fabricante y tipo de designacin.
Fuente de luz de longitud de onda alterna X ....
fabricante y modelo
Medidor de Fuente de luz de longitud de
onda alterna, fabricante, y modelo X .
Filtros de vidrio(si se requieren) X
Intensidad de luz de longitud de onda X .
alternativa mnima .
Registros de calificacin X
IV-772.2 Examinacin con Luz de Longitud de Onda Alterna. Usando las mismas
indicaciones de partculas examinadas en IV.772.1, encender la fuente de luz de
longitud de onda alterna y ajustar la intensidad de luz mediante la variacin de la
distancia o energa, para establecer las indicaciones de partculas esencialmente
iguales a aquella (aquellas) obtenidas con la luz negra segn como se realiz antes.
La intensidad de la luz deber ser medida con un medidor de luz de longitud de onda
alternativa. La indicacion(s) de partculas resultantes deber ser fotografiada usando
las tcnicas fotogrficas idnticas como la usada para la luz negra. Sin embargo, para
IV-790 DOCUMENTACIN
V-710
V-710 ALCANCE
Este apndice suministra la metologa y requerimientos aplicables de los equipos
para ejecutar las examinaciones de partculas magnticas usando tcnicas de goma
magntica en lugar de partculas magnticas secas o hmedas. Las aplicaciones
principales para esta tcnica son:
(a) Accesibilidad mecnica o visual limitada, tales como huecos de pernos.
(b) Superficies revestidas.
(c) Formas complejas o condiciones superficiales pobres.
(d) Discontinuidades que requieren magnificacin para la deteccin e
interpretacin.
(e) Registro permanente de la inspeccin normal.
V-730 EQUIPOS
V-731 APARATOS MEGNETIZANTES
V-734 MAGNIFICACIN
La reproduccin de la visualizacin puede se ayudada mediante el uso de
magnificacin.
V-740 REQUERIMIENTOS DIVERSOS
V-741 PREPARACION DE LA SUPERFICIE
(a) Antes de la Examinacin por partculas magnticas, las superficies a ser
examinadas y reas adyacentes dentro de al menos (13 mm.) del rea de
inters debern estar secas y libre de sucio, aceites, grasas, pinturas, pelusas,
cascarillas y fundentes de soldaduras, y otros materiales extraos que
pudieran restringir el movimientos de las partculas e interferir con la
examinacin por la cura de prevencin o extensin del tiempo de curado. Los
revestimientos superficiales no magnticos no requieren ser eliminados para
las tcnicas que usan yugo electromagntico de corriente alterna.
(b) Cuando los revestimientos no magnticos son dejados en la pieza en el rea
que esta siendo examinada, deber demostrarse con un yugo
electromagntico de corriente alterna que las indicaciones pueden ser
detectadas a travs del espesor del revestimiento mximo existente segn el
Artculo 7, Apndice Obligatorio I.
A-730 EQUIPOS
El gausmetro que tiene la capacidad de ser ajustado para leer los valores picos de la
intensidad de campo. La respuesta de la frecuencia del gausmetro deber ser de al
menos de O Hz hasta 300 Hz.
La sonda de campo tangencial del Efecto Hall debera ser no mayor de 0.2 (5mm) X
0.2 (5 mm) y debera tener una ubicacin del centro mximo de 0.2 (5 mm) de la
superficie de la pieza. Los cables de la sonda debern ser protegido o enrollados para
evitar errores en la lectura debido al voltaje inducido durante los grandes cambios de
campos encontrados durante las examinaciones por partculas magnticas.
A-750 PROCEDIMIENTO
Se deber tener precaucin cuando de mida las densidades del campo tangencial
aplicado en T-764.2(c). El plano de la sonda puede ser perpendicular a la superficie
de la pieza en la ubicacin de la medicin dentro de 5. Esto puede ser difcil de
llevar a cabo mediante la orientacin manual. Puede ser usado una matrz o
accesorio para asegurar que esta orientacin sea alcanzada y mantenida. La direccin
y magnitud del campo tangencial sobre la superficie de la pieza puede ser
determinada mediante la ubicacin de la sonda de campo tangencial de Efecto Hall
sobre la superficie de la parte en el rea de inters. La direccin del campo puede
ser determinada durante la aplicacin del campo magnetizante por la rotacion de la
sonda de campo tangencial mientras esta en contacto con la pieza hasta que se
obtenga la mayor lectura del campo en el Gausmetro. La orientacin de la sonda,
cuando se obtiene el mayor campo, indicar la direccin del campo en ese punto.
Los Gausmetros no se pueden usar para determinar la adecuacin de los campos
magnticos para las tcnicas de magnetizacin de bobina y multidireccionales.
Una vez que la densidad del campo suficiente ha sido demostrada con los Shims de
falla artificial, la lectura de los Gausmetros puede ser usada para el aclope del Shim