PROCEDIMIENTO EXPERIMENTAL

1. Con dos CI de las puertas lgicas elegidas comprobar si

estn bien utilizando DIP Switch y resistencias
2. Realizar las conexiones de la fuente al sensor capacitivo
para obtener un voltaje y corriente en su salida
compatible con los requerimientos tcnicos de las entradas
de la familia TTL; realizar medidas para comprobar
comparando valores de voltaje y corriente.
3. Armar el circuito sealizador (con el transistor, el led y
dos resistencias) diseadas antes del laboratorio.
4. Utilizando el circuito sealizador con Led se comprobara
la tabla de verdad de dos compuertas de 2 o ms entradas
considerando los efectos lgicos del sensor en una entrada
y de los valores lgicos en la(s) otra(s) entrada(s) de la
puerta correspondiente.
5. Representar los valores de voltaje y corriente en una
tabla previamente construida identificando los puntos del
circuito que considere ms importante.

INFORME

1. En una compuerta Y de dos entradas; en una de sus entradas

recibe 0 y en la otra entrada 1 Cul es su salida?

Tabla de verdad
Puerta Y
A B AB
0 0 0
0 1 0
1 0 0
1 1 1

La salida es 0 comprobada en la tabla de verdad de la

puerta Y (AND)

2. Si una compuerta NO-Y recibe las mismas seales de entrada

de la pregunta anterior Cul es su salida?
 Tabla de verdad
Puerta NO-Y
A B ~AB
0 0 1
0 1 1
1 0 1
1 1 0

La salida es 1 comprobada en la tabla de verdad de la

puerta NO-Y (NAND)

3. Si a una compuerta O llega a sus entradas 1 Cul es su

salida?

Tabla de verdad
Puerta O
A B AB
0 0 0
0 1 1
1 0 1
1 1 1

La salida es 1 comprobada en la tabla de verdad de la

puerta O

4. Si en el circuito de la practica son desconectadas las

entradas 1[A] y 2[B] del DIP y del sensor Qu es lo que
pasa en el(los) LED(s)?

Si la compuerta CI 74XXX est alimentada