Informe N 3

DETERMINACION DEL TAMAO DE GRANO

1. Objetivos
Determinar el tamao del grano del compuesto ZnO mediante caracterizacin
de rayos x.
2. Fundamento terico

xido de zinc (ZnO)

El xido de zinc es un compuesto inorgnico con la formula ZnO. El ZnO es un polvo

blanco insoluble en agua, y es comnmente usado como aditivo en diversos materiales
y productos, como, por ejemplo: caucho, plsticos, cermicas, vidrio, cemento,
lubricantes, pinturas, ungentos, adhesivos, selladores, pigmentos, comida, bateras,
ferritas, retardadores de fuego y cintas de primeros auxilios. Aunque se encuentra de
forma natural en el mineral cincita, la mayora de xido de zinc es producido
sintticamente.
Densidad = 5606 Kg/m3; masa molar = 81.41 g/mol; punto de fusin = 1701 K; ndice
de refraccin = 2.015

Figura 1: Difraccion de rayos x en el ZnO

Fuente: http://www.sciencedirect.com.sci-
hub.cc/science/article/pii/S1293255817302376

El mtodo del polvo cristalino

El mtodo del polvo cristalino presenta caractersticas muy interesantes para su

utilizacin; es el nico procedimiento de DRX que permite abordar el estudio
cristalogrfico de las especies que no se presentan, o no es posible obtener, en forma
de monocristales. La desorientacin relativa existente entre los numerosos cristalitos
que componen la muestra hace que en los diagramas de difraccin quede reflejada,
tanto cualitativa como cuantitativamente, la identificacin de las fases cristalinas de la
muestra.
En este mtodo la muestra se pulveriza lo ms finamente posible de forma que est
constituida idealmente por partculas cristalinas en cualquier orientacin. Para
asegurar la orientacin totalmente al azar de estas pequeas partculas con respecto al
haz incidente la muestra localizada en la cmara de polvo generalmente se hace girar
en el haz de rayos X durante la exposicin.

En la cmara de polvo

Figura 2. Cmara de polvo del difractometro de rayos X

Un haz monocromtico de rayos X pasa a travs de un colimador dentro de un cilindro
de metal en el centro del cual se encuentra la muestra de polvo. Los haces difractados
al incidir sobre la muestra se registran en una delgada pelcula fotogrfica localizada
en el interior de la pared del cilindro. Cuando el haz monocromtico incide sobre la
muestra se producen al mismo tiempo todas las difracciones posibles. Para cada
conjunto de planos atmicos (hkl) con su caracterstico espaciado dhkl existen
numerosas partculas con una orientacin tal que forman el ngulo apropiado con
respecto al rayo incidente capaz de satisfacer la ley de Bragg.

Los mximos de difraccin de un conjunto de planos determinados forman 2 conos

simtricos cuyo eje coincide con el haz incidente. El angulo entre el haz no difractado y
los haces difractados que constituyen los conos y valores enteros n, dando lugar a
conjuntos diferentes de conos de haces difractados. La insterseccion de cada cono de
haces difractados con la pelcula fotogrfica produce dos arcos simtricos con respecto
a dos centros que representan el lugar de entrada y salida del haz de rayos X de la
cmara.
 Figura 3. Formacin de conos de difraccin producto de los haces difractados y no
difractados.

Cuando la pelcula se despliega se observa una serie de arcos concntricos y simtricos

con respecto a los dos orificios.

Figura 4. Pelicula fotogrfica donde se muestran los arcos concntricos y simtricos.

Con la cmara de polvo es posible registrar reflexiones de ngulos de hasta 180. Los
conos de ngulos pequeos coinciden con el centro del orificio de salida y representan
los ndices hkl ms sencillos y los mayores espaciados. Los arcos aumentan de radio
conforme el ngulo del cono es mayor, hasta que es 90 momento en el que el arco se
convierte en una lnea recta. ngulos mayores de 90 quedan representados como
arcos concntricos en el orificio de entrada de los rayos X.

Figura 5. Pelicua fotogrfica donde se muestra los orificios de entrada y de salida de

los rayos X.
Aunque la mayora de los cristales de la muestra no producen difraccin normalmente
hay los suficientes cristales orientados correctamente como para que la intensidad de
la difraccin sea lo bastante importante como para quedar registrada en la pelcula. De
esta forma habr siempre una lnea representante de cada familia de planos de la red
cristalina. Una vez obtenida la fotografa de polvo es necesario determinar el valor del
angulo de cada una de las lneas presentes teniendo en cuenta que el radio de la pelcula
fotogrfica es R y la distancia entre 2 arcos simtricos es D mediante la relacin

4
=
2 360

Una vez calculados todos los valores de para los que se ha producido la difraccin y
mediante la ecuacin de Bragg se determinan los espaciados correspondientes a cada
familia de planos. Para ello se toma n como 1 y d se considera que es una reflexin de
primer orden dada la dificultad de establecer el orden de una determinada reflexin.
Cuando se ha indexado el diagrama de polvo es decir se han asignado los ndices hkl
para cada par de lneas de difraccin pueden determinarse los parmetros de la celda a
partir de los espaciados

La mayor aplicacin del mtodo del polvo es la identificacin mineral, para la cual no es
necesario conocer la estructura o simetra del mineral. Cada sustancia mineral tiene su
propio diagrama de polvo caracterstico diferente del de cualquier otra. Para una mas
rpida identificacin se comparan los espaciados calculados asi como sus intensidades
con los recogidos en fichas preparads por el Joint Committee on Powder Diffraction
Standars (JCPDS). Adems, es posible determinar las proporciones relativas de dos o
ms minerales presentes en una misma muestra comparando las intensidades de las
mismas lneas con aquellas de muestras de composicin conocida.

El difractometro de polvo de rayos X utiliza radiacin monocromtica y una muestra de

polvo y registra la informacin de las reflexiones mediante una traza de tinta sobre una
cinta de papel o mediante recuento electrnico que puede ser almacenado en un
ordenador. La muestra finamente pulverizada se extiende sobre una porta vidrio y se
aglomera. La porta gira segn la trayectoria del haz de rayos X al mismo tiempo que el
detector gira a su alrededor para captar las seales de los haces difractados. El detector
no registra todas las reflexiones a la vez en una pelcula sino se mantiene un orden para
recibir por separado cada mximo de difraccin.
 Difraccion del ZnO por el metodo del polvo
50000

Intensidad(cuentas/segundo)
45000
40000
35000
30000
25000
20000
15000
10000
5000
0
0 10 20 30 40 50 60 70 80
2()

Figura 6. Diagrama de picos registrados en un papel en el que se puede leer el ngulo

2

3. Clculos y resultados

A partir del clculo del tamao de cristalito (D) se hizo la conocida ecuacin de Debye-
Scherrer

Donde k es el factor de forma que suele tomar un valor de aproximadamente 0.9

pues consideramos que las nanopartculas son esfricas, es la longitud de onda de la
fuente de rayos X incidente de valor 1.78901 Angstrom, B es la anchura a media altura
de la lnea reflejada observada en su mxima intensidad (FWHM) y es el ngulo de
bragg de los picos de difraccin

Difraccion del ZnO por el metodo del polvo

50000
Intensidad(cuentas/segundo)

45000
40000
35000
30000
25000
20000
15000
10000
5000
0
0 10 20 30 40 50 60 70 80
2()

Pico ms alto
 Haciendo zoom:

Calculamos el valor del FWHM del pico ms alto:

= 18.1943

B = 0.4596

Entonces el tamao de grano es:

(0.9)(1.78901 1010 ) 180

=
(0.4596)cos(18.1943)

D = 211.24 Angstrom
4. Conclusiones
Los resultados son conformes con la referencia bibliogrfica que trabajo a 500
C sin dopante Ag.
D experimental D bibliografico
21.12 22.06
 Fuente: Tabla 1 pagina 31: http://www.sciencedirect.com.sci-
hub.cc/science/article/pii/S1293255817302376

5. Bibliografa
http://www.sciencedirect.com.sci-
hub.cc/science/article/pii/S1293255817302376