MT774 - Caracterizacin de los Materiales
Fsica
Problema 1: Efecto tnel
Una forma simple de aproximarse al
concepto tras el microscopio de efecto tnel
(STM) es por medio del anlisis de una
partcula atravesando una barrera de
potencial. En este problema se analizar en
el caso unidimensional
(a) Escriba la ecuacin de Schrodinger
en todo el espacio para la barrera de
potencial presentada en la figura.
(b) Determine la funcin de onda de la
partcula en cada regin,
identificando claramente el valor de
los vectores de onda
(c) Calcule la transmitancia de las
partculas a travs de la barrera,
suponiendo que las partculas
inciden por la izquierda de la
barrera, con una funcin de onda de
amplitud 1 y energa E.
(d) Demuestre que, para el caso en que
L 1 (con vector de onda en la
barrera), la transmitancia se reduce
a flujo a temperatura T=0.
E E 2L
T ( E ) 16 1 exp 2m(V E )
V V
Problema 2: Formula de Simmons
Una forma alternativa de estudiar la
corriente tunel es considerar punta y
muestra como dos electrodos separados por
un aislador. Si los electrodos estn al
mismo potencial, el sistema esta
Marcos Flores Carrasco
Primavera 2017
entrega 02 de noviembre
termodinmicamente en equilibrio y los
niveles de Fermi coinciden. Pero al aplicar
una diferencia de potencial V entre ellos se
establece un flujo de electrones, como se
indica en la figura.
(a) Demostrar que dicho flujo puede
expresarse por:
EM
T (Ez )dEz f (E) f (E eV )dEr
mee
J Ne ( N L R N R L )e
2 23 0 0
, donde f denota la distribucin de fermi y
los subndices L->R (R->L) indican de
izquierda a derecha (de derecha a
izquierda). Para una funcin voltaje U(z),
entre los electrodos, de forma cualquiera.
(b) Utilizando la expresin promedio del
voltaje entre dos puntos z1 y z2 que definen
la posicin de los electrodos:
__ z2
1
z 2 z1 z1
U U ( z )dz ,
determinar la expresin analtica para el
Problema 3: Teora de Tersoff y
Hamann.
Describa en trminos formales los
fundamentos de la teora de Tersoff y
Hamann basada en el formalismo de
Bardeen.
Referencias: Phys. Rev. B 31, 805 (1985), Phys.
Rev. Lett. 50, 1998 (1983)