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DEPARTAMENTO DE CIENCIAS BASICAS
FACULTAD DE INGENIERIA

FACULTAD / PROGRAMA: PUNTOS:

Ingeniera Industrial
Ingenieria Civil
Ingenieria de Sistemas y computacin
Ingenieria de Electronica y Telecomunicaciones

ASIGNATURA: NOMBRE DE LA PRCTICA: PRCTICA VERSION:

ptica y ondas Ley de Snell No: 7 001
GRUPO: JORNADA: Diurna FECHA: DD / MM / AAAA
Nocturna

1. INTRODUCCIN:
Se estudia el fenmeno de refraccin de la luz en una interface aireacrlico y aire-vidrio utilizando un puntero
lser. En la prctica, el estudiante debe identificar y relacionar las variables pticas (ngulo de incidencia,
ngulo de refraccin, ngulo de reflexin e ndice de refraccin) a travs de la observacin de la desviacin de
los rayos de luz en la interface.

2. OBJETIVOS:

2.1 OBJETIVOS DE APRENDIZAJE

1. Potenciar el trabajo en equipo y las competencias comunicativas orales o escritas

2. Manejar adecuadamente los instrumentos y material de laboratorio, para el registro de datos de
magnitudes directas o indirectas con sus respectivas incertidumbres.
3. Tabulacin, organizacin, anlisis e interpretacin de resultados con el apoyo de relaciones matemticas,
de graficas e indicadores estadsticos.
4. Identificar cundo un fenmeno fsico debe ser ajustado a su forma lineal para aplicar el mtodo de
regresin lineal.
5. Comprobar experimentalmente las propiedades de los rayos de luz al incidir en una interface.
6. Establecer la relacin entre el ngulo de incidencia y el ngulo de refraccin.
7. Obtener el ndice de refraccin de un material por ajuste lineal de mnimos cuadrados y por el promedio
calculado a partir del modelo terico
8. Determinar experimentalmente el ndice de refraccin de diferentes tipos de lquidos dentro de una cubeta
de acrlico.

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2.2 OBJETIVOS DE ENSEANZA

1. Hacer una breve introduccin en la cual se plantea la experiencia a realizar y el objetivo de la misma.
2. Hacer una breve introduccin sobre la refraccin de la luz y establecer el objetivo de la experiencia a
realizar.
3. Acompaar al estudiante resolviendo dudas de carcter conceptual, metodolgico y procedimental.
4. Fomentar la tica y la responsabilidad en el trabajo acadmico y en el mbito profesional.
5. Fomentar la auto-reflexin crtica en el estudiante que permita la formacin de ingenieros
comprometidos con la sociedad y su proyecto de vida.
6. Corregir y retroalimentar los informes de laboratorio.

2.3. COMPETENCIAS

1. Capacidad para trabajar en equipo y comunicarse con sus compaeros de grupo

2. Capacidad para leer e interpretar textos de carcter cientfico en su lengua nativa o en una segunda
lengua.
3. Capacidad para elaborar e interpretar graficas a partir de datos obtenidos en el experimento
4. Capacidad para analizar, sintetizar, generalizar y aplicar a partir de situaciones problema
5. Capacidad para organizar datos, resultados sintetizar conclusiones contrastables con modelos tericos.
6. Capacidad para construccin, anlisis e interpretacin de grficas.
7. Capacidad para manejar el lenguaje cientfico a un nivel de introduccin a las ciencias (prefijos, notacin
cientfico).
8. Capacidad para buscar, organizar y clasificar informacin relacionada en el contexto de las ciencias.
9. Capacidad para utilizar los equipos y material de laboratorio, de forma responsable, minimizando cualquier
impacto ambiental.

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3. MARCO DE TEORICO:
En los medios elsticos y homogneos, las ondas se propagan en lnea recta. Ahora bien, la direccin de
desplazamiento de los movimientos ondulatorios se modifica cuando la onda llega a la frontera de separacin
entre dos medios diferentes. En estos casos se producen los conocidos efectos de reflexin, refraccin y
dispersin de ondas.

La refraccin es la desviacin que sufre un haz de luz cuando pasa por la interface que separa dos medios
pticos. La refraccin es producida por el cambio en la rapidez experimentada por la onda de luz cuando
cambia de medio de propagacin. Este cambio est relacionado con una propiedad ptica del medio conocida
como ndice de refraccin n, el cual se define como el cociente entre la rapidez de la luz en el vaco (C= 3x108
m/s) y la rapidez de la luz en un medio material transparente V:

= (1)

Los ngulos incidente1 , reflejado1 y refractado2 se miden respecto a la lnea normal a la superficie de la
interface.

La relacin entre los ngulos 1 y2 y los ndices de refraccin n1 y n2, est dada por la ley de Snell:

1 1 = 2 2 (2)
.

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4. RECURSOS UTILIZADOS:

1. Puntero laser rojo (630-650) nm.

2. Plantilla de ngulos
3. Material acrlico
4. Agua y Sacarosa

5. PROCEDIMIENTO EXPERIMENTAL:
1. Ubique la cubeta de acrlico sobre la plantilla de ngulos (anexo), de tal manera que coincida la superficie
(interface) con la lnea horizontal (=0). Como se muestra en la figura 1.
2. Apunte la lnea de luz roja del lser hacia la interseccin de la lnea normal y la interface (centro de la
plantilla), este es el haz incidente. Se deben observar dos lneas rojas adicionales. Una haz que se refleja
en la interface y un haz que ingresa en el material. Estos corresponden al haz reflejado y haz refractado
respectivamente.
3. Mida el ngulo de incidencia como se muestra en la figura 1. Reprtelo en la tabla 1.
4. Mida el correspondiente ngulo de refraccin. Reprtelo en la tabla 1.
5. Repita el procedimiento anterior hasta completar la tabla 1.
6. Realice los pasos anteriores para los diferentes lquidos. Registre sus datos en la tabla 2.

Figura 1. Vista superior mostrando la cubeta sobre la plantilla.

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Tabla 1. Resumen resultados agua.

1 (grados) 1 2 (grados) 2 2
15
25
35
45
55
65
2 promedio

Tabla 2. Resumen de resultados por promedio.

Valor experimental n2 por promedio Error porcentual por promedio ( % )
para agua
( )

Tabla 3. Resumen de resultados por ajuste lineal.

Valor experimental n2 por promedio Error porcentual por ajuste lineal ( % )
para agua
( )

Tabla 4. Resumen resultados utilizando sacarosa.

1 (grados) 1 2 (grados) 2 2
15
25
35
45
55
65
2 promedio

Tabla 5. Resumen de resultados por promedio.

Valor experimental n2 por promedio Error porcentual por promedio ( % )
para sacarosa
( )

Tabla 6. Resumen de resultados por ajuste lineal.

Valor experimental n2 por promedio Error porcentual por ajuste lineal ( % )
para sacarosa
( )

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5.1 RESULTADOS

1. A partir de la ecuacin (1) y tomando n1 = 1, calcule el n2 promedio para cada par de datos en las tablas 1
y 4, con su respectiva incertidumbre por error cuadrtico.
2. Reporte los valores experimentales obtenidos por promedio en las tablas 2 y 5.
3. Realice una grfica de sin(2 )en funcin de sin(1 ) para ambas sustancias.
4. Linealice la ecuacin (2) y realice un ajuste lineal por mnimos cuadrados.
5. Calcule el ndice de refraccin n2 a partir de la informacin obtenida en el ajuste lineal. Reporte el valor de
n2 en las tablas 3 y 6, con sus respectivas incertidumbres por ajuste lineal.
6. Determine el error porcentual de los valores obtenidos con respecto al valor reportado (n2 =1.33 para el
agua [1,4] y n2 =1.38 para la sacarosa [4]).

| |
= 100 (3)

5.2 PREGUNTAS
1. Cul de los dos mtodos de clculo en este laboratorio es ms exacto para calcular el ndice de
refraccin, Promedio o ajuste lineal? Explique su respuesta.
2. Cul es la tendencia de los datos en la grfica de sin(2 ) en funcin de sin(1 ), est esto de acuerdo con
el modelo terico?
3. Cul es la interpretacin fsica de la pendiente?
4. De acuerdo a sus resultados, en qu medio es mayor la rapidez de la luz?
5. Es posible que los ngulos 1 y 2 sean iguales? Puede demostrarlo experimentalmente?
6. Por qu los valores obtenidos de ndice de refraccin son mayores a la unidad?

5.3 ACTIVIDADES COMPLEMENTARIAS

En caso de dudas en relacin al ajuste lineal, errores, manejo de instrumentos consulte los siguientes
documentos:

Mecnica Laboratorio 1 Medidas Directas

Mecnica Laboratorio 2 Medidas Indirectas
Mecnica Laboratorio 3 Ajuste Lineal

Ejemplo de ajuste lineal en AVA2.

Lectura 5: Taller de Ley de Snell en AVA2

Consultar videos sobre utilizacin y cuidados del lser.
Consultar videos sobre aplicaciones tecnolgicas de los conceptos y procedimientos relacionados con la gua..

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6. INFORME TCNICO:
Preinforme que incluye el marco terico de los conceptos fundamentales de la gua, objetivos de la prctica,
revisin del montaje instrumental.

1. Registro de datos en la bitcora con sus respectivas unidades e incertidumbres.

2. Tratamiento adecuado de datos teniendo en cuenta propagacin de errores, ajuste lineal.
3. Elaboracin de grficas en hoja de papel milimetrado en las que se especifique: tabla de datos, ttulo de la
grfica, ubicacin de variables en los ejes con unidades, escala adecuada y la relacin funcional entre las
variables.
4. Anlisis e interpretacin fsica de los resultados obtenidos en relacin con el modelo terico.
5. Manejo adecuado de los instrumentos de medicin y equipos de laboratorio.
6. Conclusiones con redaccin coherente que muestre el anlisis de los resultados, grficas y respuestas de
la gua.
7. Buscar aplicaciones relacionadas con su profesin.
8. Referenciar la bibliografa revisada.

7. BIBLIOGRAFA RECOMENDADA:
LIBROS
[1] SERWAY, Raymond A. y JEWETT, Jhon W. (2005) Fsica I Texto basado en clculo, 6a Ed. Editorial
Thomson.
[2] Sears F. W., Zemansky M. W., Young H. D., Freddman R. A., Fsica Universitaria, Vol. I, Pearson Addison
Wesley, Mxico, 2005. 11 Edicin TEXTO GUIA
[3] ngel Franco Garca, Fsica con ordenador, (2011),
www.sc.ehu.es/sbweb/fisica/
[4] ndice de Refraccin
http://hyperphysics.phy-astr.gsu.edu/hbasees/tables/indrf.html

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