ENSEANZA

REVISTA MEXICANA DE FtSICA 4S (1) )15-121

JUNIO 1999

Superficies asfricas aplicadas a la ptica

Alma A. Camacho P. y Cristina Solano

Centro de Investigaciones en ptica, A. C.
Apartado postal 1-948, 37000 Len, Gto. Mexico

Recibido el 16 de octubre de 1998; aceptado el 21 de enero de 1999

Ene~letra~ajo presentam~s una discusin sobre las superficies asfricas. desde un punto de vista cuantitativo y cualitativo. Indicamos algunas
consideracIOnespara su diseo y se detallan algunos mtodos de fabricacin y algunos campos de aplicacin.
Descriptores: Diseo ptico: fabricacin ptica

An analysis 00 aspherical surfaces is presented. Several considerntions for their use aod fabricalion methods as weJl as {he applications are
discussed.

Keywords: 0plica! design: aplical fabrication

PAes: 42.87; 42.79; 42.15

y
1. Introduccin

Se conocen como superficies asfricas aquellas que no son

esfricas ni planas. Estas superficies son importantes en sis- z(p)
temas pticos y han sido estudiadas y descritas por varios _ _ SUP'''''''
""r1c.
autores [1-S]. Las superficies asfricas se han utilizado desde
sistemas buscadores de alta calidad hasta espejos primarios y
y
]
-- l Earer.
secundarios en sistemas multimillonarios de reconocimien- o I
to [2]. La importancia de este tipo de superficies es debido a Eje Opllco
que mediante su uso es posible evitar los defectos presentes
co las imgenes (aberraciones) tales como: coma, astigmatis-
mo y distorsin tipo barril, que son consecuencias inevitables
de las soperficies esfricas [3]. La capacidad de as superfi-
cies asfricas para producir imgenes eficientes bien corre-
gidas (o sin aberraciones) permite que los sistemas pticos
incrementen su campo de vista reduciendo el nmero de ele- FIGURA l. Descripcin de una superficie de revolucin. La distan-

mentos pticos [2]. Consecuentemente, los sistemas con ele-
mentos asfricos tienen ventajas como: reduccin de peso y
tamao, adems, como es posible reducir el nmero de su-
perficies pticas, se reducen tambin as prdidas causadas
por reflexiones en cada una de las superficies. Hoy en da
es comn el diseo de lentes asfricas de plstico debido a
que proporcionan beneficios a los sistemas pticos. tales co-
mo compensar las aberraciones de imagen y adems pueden
fabricarse fcilmente.
Las superficies asfricas han ganado una amplia acepta-
cin en la micro-ptica. como ejemplo se puede citar los tres
elementos en los sistemas de digitalizacin en los reproduc-
tores de discos compactos. los cuales han sido reemplazados
por una lente asfrica. Una lente objetivo asfrica se utiliza
en sistemas computacionales que tienen los discos magneto-
6pticos de almacenamiento de datos. Las superficies asfricas
se utilizan tambin para reducir las prdidas de acoplamiento
de lseres semiconductores a fibras pticas [2.4-6].
cia desde el eje a un punto de la superficie es P, y la sagita z(p) es
la distancia desde el plano tangente a la superficie.
2. Fundamentos tericos
La palabra asfrica (no esfera) se utiliza para designar super-
ficies pticas en las que la forma de su perfil no pertenece a
un crculo. Una superficie asfrica se define por la distancia
paralela al eje z, (Fig. 1). entre un punto de sta y una esfe-
ra de referencia tangente al origen. Esta distancia se define
como la sagita (i].
En el caso de las superficies esfricas es posible definir
un parmetro de forma, el radio de curvatura R (R tiende a
infinito. es plano). Sin embargo para las asfricas existen en
principio un gran nlmero de parmetros de forma. Por ejem-
plo es posible representar matemticamente una asfrica por
la rotacin de una curva simtrica en eje [8]. Una superficie
316 ALMA A. CAMAClIO P y CRISTINA SOLANO

[ SECCIONES CNICAS I .......

,

Si con un plano le cortl un (ono, dt' acuerdo

tilO ti bRUlo dr eorle M' puC'dc oblener las
,1;:ult'lIln H'Cdonn cnlcu.

supt.rlC .
"mo!1rlC
1 lldo
'WlCfOdo:
pol.bo.

I Al CiRCULO I I R) PARBOLA I Sl'PERFtClfS

Ql'E TI[!'Ii[N
F.JE DE
UN

SI~Ir.TRH
.
!-.~~1C1 ln

I C) ELIPSE I I DI HIPRBOLA I
E) PARABOLOIDi: f.) ELIPSOIDE DE
DE REVOLUCI~ REVOLUCiN

GllIIPERBOLomE
DE REVOU.:cIO:'li

FIGURA 2. Superficies cnicas [91. Sl:PERFtCIES

QUE T1E:"EN
S<.ptllC .-...du
po< ro<a< <Ir
CI,"" p 1mloOOI
OOSPLANOS
do: "" "JO pn1m<a'
DE SIMETRIA. .I
pi&no
asfrica de revolucin se genera al rotar una curva represen-
lada por una ecuacin general dc segundo grado alrededor dc
su eje generatriz.

2.1. Diferentes tipos de superficies asfricas y su repre- FIGURA 3. Clasificacin de supcrlicies asfricas [10].
senlacin matemtica
ta por la siguiente ccuacin (Fig. 4):
Las superfkies asfricas se dividen en dos grandes grupos: i) .,
cr
superficies de revolucin con un eje de simetra; ii) superfi- Z = -:----;"==;'7==;'7=.=O + dI' 4 + fl'"
cies dc revolucin con dos planos de simetra. 1 + JI - (k + 1),,2,'
Las superficies asfricas m<lsutilizadas en 6ptica. perte- + 1]18 + YIJICl + <I;IPI2 + <11.')1'14 + dl7]}lfi (1)
necen al primer grupo y entre ellas se encuentran parholas,
elipses e hiprbolas. stas son las asfricas ms simples y donde: 1/ = ;z;2 + y2, e = curvatura, [\" = constante de co-
son generadas por la revolucin de una seccin cnica [7} nicidad y los parmetros d, e, J, y, d13, dlS, y d17; son los
(Fig.2). coeficientes de deformacin de asfcricidad del cuarto. sex-
P.lra rcsolvcr un problcma ptico quc no tiene simetra to. octavo, dcimo. dcimo segundo. dcimo cuarto y dcimo
rotacional sc utilizan las superficies tic revolucin con dos sexto orden respectivamente de la ecuacin del perfil genera-
planos de simetra, catalogadas en el segundo grupo de clasi- Jo [11, 12J.
Ikaci6n de las superficies asfricas (Fig. 3). No ohstante en Si d,e,j,y,d'3,dI5 y d17 son cero. la superfkie resul-
este caso las superfkies por s mismas deberan tener un eje tante es una seccin cnica de revolucin, (Tahla 1), definida
dc rotacin, pero ~ste no es sicmpre el eje ptico o un ejc a por la ecuacin
travs del centro de la superlicic. Un ejcmplo de estas super/i- d,l) + (k+ l)z2
,ies son las lentes oftlmicas con una trayectoria continua de z= (2)
2
la potencia reractiva dc IJ distancia del ojo al rea de lectura.
2. J.2. Anlisis matemrico de /lna lente asjrica que com-
En este caso la simctra rotacional de la superficie facilita su
fabricacin. pensa la ahermli" esfrica

En la siguiente seccin se desarrolla un diseo particular de

2./. J. Superficies de reW)lllcin alrededor del eje ptico una lente que tiene una superficie que transforma una on-
Ja plana en una onda cilndrica, ambas centradas en el eje
La cOlldicin para obtencr una supcrfkic asfrica cs que la ptico. Si se traza un rayo desde infinito y por lo tanto para-
distancia del cje ptico a cualquier punto dc ella se represell- lelo al eje z [4, 13), e igualando el camino ptico entre el vr-

R('I: Mt'x. F . .t5 (3) (1999) J 15-321

 SUPERFICIES ASFRICAS APLICADAS A LA I'rICA 317
y

........ -
"'-'"

.... -.- ..

0,

FIGURA -l. Asfrica de revolucin liJ.

TAULA 1. Vnlorcs de k con respecto a la forma del pcrlil generado FIGURA 5. Interfaz dielctrica que desva un haz de rayos colima-
de la superficie dos al punto f. El camino ptico para el rayo principal a lo largo
Intervalo o valor tic k Forma de la superficie del eje es igual al camino ptico pnra un rayo paralelo con altura
"y" (lnea punteada).
k < -1 Hipcrholoidc
k = 1 Paraboloide
La excentricidad tic la seccin cnica est dada por
-1 < k < O Elipsoide de revolucin

k=O
cerca del eje mayor
Esfera (' = JI :: ,~
02
= ~,
1t2
(8)

k>O Elipsoide de revolucin

cerca del eje menor donde el signo inferior en las Ecs. (6) y (8) corresponden al
caso cuando /l > 112.
Existen dos categoras de superficies libres de aherracin
esfrica: superficie elptica e hiperblica en los dos puntos
(ice dc la interfaz dielctrica al foco y de algn otro camino aplanticos. Los puntos aplanticos son posiciones para la
ptico al foco. como se muestra en la Fig. 5. se ohtiene imagen y el ohjeto, en la conliguracin descubierta por Ahhe
donde las aberraciones esfrica y coma estn completamente
(3)
compensadas 112]. Estas superficies son importantes ya que
como se indic en este tipo de lentes se utiliza la regin en el
donde 111 Y 1L2 son los ndices de rcfracci6n del medio a la
izquierda y derecha dc la interfal., respectivamente y f es la cje.
distancia focal. En esta ecuacin el lado derecho representa 2.1.2.1. Superficies elptica e hiperhlica
el camino ptico a una altura del rayo (y) refractado por la
interfaz a una distancia z denominada la sagita. La ccuaci6n Si se considera que el medio a la derecha de la superficie tie-
2
puede reescribirse en la forma convencional para una elipsc ne un ndice de refraccin mayor (ni < H:d. el factor l/b
con el vrtice cn el origen: en la Ec. (..O es positivo y la curva de la !o.uperlicierepresenta
a una elipse como se muestra en la Fig. 6a. Como el punto
(=_,,)2 y2
~-,~- + -/., = 1, (4 ) focal est3 situado dentro del medio de ndice de refraccin
a- J'"
mayor, esta forma tiene las propiedades de una lente de in-
donde mersin [,ti.
Una lente de inmersin es una componente de un sistema
,,2 = ( 1112 )2 (5) ptico que incrementa la ahcrtura numrica por un factor pro-
112 + 1l
porcional al ndice de refraccin V', l cual acta sin modi-
y ficar las caractersticas del sistema. Este ndice de refraccin
es el resultado de tratar de igualar los ndices de refraccin
,2 = 12 ( :101:'>" )2 (6) del medio a los dos lados de la superfkie de la lente 711 y U2
1l'}.+11
respectivamente. Para lograr una diferencia mnima entre este
Los parmetros (f y lJ representan los cuadrados dc los semie- ndice de refraccin al ndice de refraccin dc la lente se apli-
jes mayor y menor, respectivamente, y ca aceite (l alguna otra sustancia al medio menor ni (Fig.6a).
En la Fig. M) se considera los parmetros que intervienen en
(7) la lente de inmersin. los cuales son: N' ndice de refraccin

Re,', Mex, FI.<, 45 (3) (1999) 315-321

 318 ALMA A. CA MACHO P. y CRISTINA SOLANO

"
"

(a) FIGURA 7. Lente libre de aberracin esfrica tiene una segunda su-
perficie hiperblica si 111 > 112. La luz colimada incidente (lneas
LENTE DE
OBJETIVO INMERSiN
punteadas) no se modifica por el plano de la primera superficie y es
enfocada fuera de la lente por la segunda superficie hiperblica.

focal es
A
f ;:::a (_"_2_+_"_1) ;::: a + ea. (10)
112

La canlidad a es la distancia a lo largo del eje z desde el

vrtice de la seccin cnica a su centro, y ea es la distancia
INDICE N
desde el centro al foco,
La abertura numrica de una lente se define como
(b)
A = "senB, (11 )
FIGURA 6. a) Lente lihrc de ahcrracin esfrica compuesta por una
primera supcrflcic elptica si 111 < 11;2. La luz incidente colimada donde 8 es la semi-abertura angular de las lentes y n el ndice.
(lneas punteadas) se enfoca en la lente dentro de la segunda su. de refraccin del medio en el cual se enfoca la luz. Para len-
pCftkic. h) Lente de inmersin hemisfrica donde el foco de esta tes de inmersin elptica con ancho 2b, la abertura numrica
lente se encuentra en el foco del sistema ptico. reduciendo el tu- es [4J
mnilo oc.t! de la imagen por un factor proporcional a su ndice de
refracci6n [14].
A,ll = "2 (~) = Jn~ - nI. (12)

de la lente de inmersi6n, /t' altura de la imagen, R radio de Como es usual si las lentes elpticas estn en aire, la aber-
la lenle de inmersin, o scmingulo del campo de vista del tura numrica es
sislema, D dimetro del detector y A dimetro de la lente.
aIra forma de considerar la lente de inmersin es suponer
At'11 ;::: Jn~- 1: (13)

que es un amplificador que agranda el tamao aparente del esta ecuacin aproxima 112 al ndice de refraccin mayor.
detector; cslc conceplo se utiliza en sistemas radiomrricos La semi abertura angular de las lentes hiperblicas en el
o detectores plicos. La siguiente ecuacin es vlida para di- lmite del ancho de las lentes puede encontrarse fcilmente
sear toda clase de sistemas pticos, incluyendo objetivos re- igualando el ngulo de la asntota de la hiprbola al eje z
fraclores y retleclores con o sin len les de campo, lentes de (Fig. 7):
inmersin, cte. [14J:
b
Bhyp = arcsen -. (14)
Aa I ::::
ea
I N'D 1. (9) De aqu la abertura numrica es

En general se considera un valor menor que la unidad Ahyp ;::: HZ -

( ea
b ) v"t -
= nz ----. n~ (15)
nI
Ec. (9), de hecho algunas veces se dificulta exceder un va-
lor de 0.5 cuando se requiere de obtener una buena imagen. Para el caso usual de lentes en el aire. la abertura numrica es

Continuando con la exposicin inicial, si el medio de ma.

Ahyp
Jf=1
= ----, (16)
yor ndice de refraccin es el izquierdo, el factor l/b2 del
111
trmino !p,Ec. (4) es negativo y la curva representa a una
hiprhola como se muestra en la Fig. 7. la cual se aproxima 111 al ndice de refraccin mayor [4].

2. /.3. Superficies de revolucin con dos planos de simerrfa

2.1.2.2. O\lculo de los parmetros pticos distancia focal y
abcnura numrica para las superfkies elptica e hiperblica
Para amhas curvas que pueden describir las superficies de la
lente, el punto focal de la lente coincide con un foco de la
seccin cnica, de aqu y de las Ecs. (5) y (8), la distancia
ESlas superficies pueden tener formas muy complicadas. Una
de las formas ms simples de este tipo de superficies son las
superficies tricas, las cuales son generadas por la rotacin de
un crculo o un arco circular aproximadamente en el eje que
ocupa en el plano del crculo, pero no a travs de su centro.

R,,'. Mex. Fs. 45 (3) (1999) 315-321

 SUPERFICIES ASFRICAS APLICADAS A LA PTICA
y
FIGURA 8. Superficie trica generada por la rotacin de un crculo
(radio Rl) alrededor del eje A . .4, colocado en el mismo plano
del crculo. R) y R'J son los parmetros de forma de la superfi-
cie t6rica. En el caso mostrado de RI < R2 por lo que se obtiene,
este tipo particular de toroide [8].
Una superficie trica tiene dos parmetros de forma. En
ptica generalmente se utiliza una pequea parte de la su-
perficie (en el caso de una superficie de una lente. por ejem-
plo. la vecindad del origen coordenado O. Fig. 8). El caso
lmite ms simple de una superficie trica es un cilindro. Los
espejos tricos son utilizados particularmente cuando el haz
luminoso incide casi paralelo a la superficie 10 que se conoce
como incidencia rasante.
Una superlicie trica en la vecindad del punto (en la
Fig. 8) es un caso especial de una superlicie de la forma ms
general
Z = L aijx
2i
y2]
ij
Generalmente una superficie descrita por la Ec. (17) no tie-
ne un eje de rotacin pero si dos planos de simetra (x. y)
y (y, z). La forma de la Ec. (17) se utiliza para comparar el
diseo con respecto a la curva terica generada en los progra-
mas de optimizacin.
Los parmetros de forma a ij de una superficie asfrica
son de caracter glohal,
Los parmetros locales no se usan para superficies no
simtricas sino para superficies con simetra rotacional. En
particular. las superficies pticas se pueden describir ma-
temlicamente utilizando las lcnicas de ajuste por SPLI-
NE [8]. es decir el ajuste de polinomios o curvas al diseo.
Las superficies tricas se han aplicado en lentes
oftlmicas para la correccin de astigmatismo. Para cada ca~
so particular la representacin matemtica apropiada depende
del prohlema ptico a resolver (8).
3. Diseo de asfricas
En ptka se utilizan las superficies asfricas cuando se desea
m~.iorar Ia~ propiedadc", de la imagen o en el caso que se dc~
Rev. Mex. F. ~5 (3) (1999) 315-.121
319
see guiar y conservar adecuadamente la forma de los haces
luminosos o flujos de potencia.
En el primer caso es necesario minimizar las aberraciones
en los casos que se desea corregir la aberracin esfrica en los
sistemas de iluminacin. Para disear lentes asfricas con el
propsit~ d~ guiar y conservar la forma del haz existen pro-
blemas sllmlares a los anteriores an cuando no es de inters
que corresponda un punto P al plano imagen. En este caso el
principal inters es mantener la uniformidad de la densidad
de energa. como por ejemplo en un condensador ptico. De-
htdo al enfocaminto y forma de los haces de un lser han sur-
gido un nmero de nuevas aplicaciones. Para tales propsitos
l~s s~perfkies asfricas han sid~ tiles e indispensables. y su
diseno se ha desarrollado a parllr oc mtodos especiales [8].
4. Mtodos de fahricacin y pruehas
Unn superficie esfrica tiene una misma curvatura 1/ R en
todas direcciones, por lo que es posible trabajar todos sus
puntos de la misma manera. La herramienta utilizada tie-
ne la misma curvatura que la superficie a generar. La pieza
de trahajo y la superficie estn en contacto continuo giran~
do entre ellas alrededor del centro de curvatura comn. Es-
tos movimientos cubren todas las partes de la superficie es-
tadsticamente en la misma manera. La fabricacin de super~
ficies asfricas es un proceso ms complicado que el de las
superlicies esfricas dehido a la falta de simetra [7J.
Existen varias clases de mtodos de fabricacin, entre
stos los que utilizan deformaciones elsticas: pieza fundida,
fundicin, moldeo y tcnicas relacionadas usando una pieza
( 17) patrn negativa.
Entre los mtodos de fahricacin ms importantes se des-
crihen los siguientes [7,8):
_ Generado de superHcies por presin y moldeo de
plsticos. Las lentes asfricas fabricadas con este proceso no
tienen una huena calidad ptica pero estn presentes en siste-
mas pticos comerciales.
_ Generado de superficies por presin y calor en vidrio.
Este proceso se utiliza en la fabricacin de lentes conden~
( 18) sadoras asfricas para sistemas de iluminacin (spots, lentes
para seales y alerta) y proyeccin (como en los proyecto-
res de transparencias), presentan las caractersticas de gran
durabilidad y an cuando no son elementos de gran calidad
ptica.
_ Evaporacin al vado o recubrimiento plstico. La ma-
yor dificultad en este proceso consiste en la preparacin y
fabricacin precisa de la matril. contraria de la pieza a copiar.
Es decir si se desea una superficie asfrica convexa se nece~
sita una matriz cncava que es necesaria fabricarla por otros
mtodos.
_ Remocin de capas por medio de tlujo dc iones (ion be-
Este mtodo asegura una pran precisin. sin
(1m HUlChill;).
emhargo requiere de una gran in!"racslnu.:tura lo que inae-
menta el coslO dc las pielas.
 320 ALMA A. CAMACHO P. y CRISTINA SOLANO
- Generado por remocin del material superficial por tor-
neado, pulido o esmerilado. Estos mtodos son los de mayor
inters en la produccin de componentes pticas. Oc acuerdo
con la naluralcz<l del contacto entre la herramienta de corte
y la superficie a maquinar stos se clasifican dentro de tres
tcnicas generales: Mtodo de contacto a lo largo de la su-
perficie, mtodo del punto de contacto y mtodo de contaclo
lineal.
En el caso del mtodo de contacto a lo largo de la super-
fkie la herramienta, sta cuhrc una gran parle de la superfi-
cie a pulir. Este proceso se empIca fundamentalmente para
el esmerilado y el pulido de esferas y planos. Su aplicacin
a superficies asfricas se limita a ciertos casos especiales en
los cuales las superficies asfricas son maquinadas con una
herramicnta que tiene una conflguracin definida mediante
un clculo previo oe desgastes. Este proceso se le conoce co-
mo "loclll.figurillg" (figurndo local) y se utiliza para la as-
ferizacin de superficies que originalmente fueron planas o
esfricas corno son los espejos parahlicos cn algunos teles-
copios. Para el proceso de esmerilar y pulir asfricas, este
mtodo de maquinado emplea una herramienta flexible las
cuales efectan su movimiento a lo largo de la superfkie de
trabajo permaneciendo siempre en contacto con ella. Se les
denominan herramientas Ilexibles debido que tienen la pro-
piedad de alterar su forma original para adaptarse a la forma
de la pieza. Estc mlOdo se utiliza principalmente en el pulido
de superficies asfricas convexas.
Con el mtodo del "punto de contacto" es posihle ohte-
ner superfkies de cualquier forma requerida. La desventaja
de esta tcnica es que no posee la propiedad de la correccin
mutua entre la herramienta y la superficie a maquinar y esto
hace posihle que la precisin de las supcrficies resultantes no
sea la adecuada.
Finalmente el mtodo de cont<tcto lineal, es emtodo por
el que la herramienta y la pieza dc trabajo esl{n en contacto
sohre una lnea o halllla estrecha, el ancho de la herramienta
ser insignificante en comparacin con su largo. Este mtodo
de contacto asegura una precisin considerahle comparado
con el mtodo del "punto de contacto", ya que permite el ma-
quinado satisfactorio de distintas formas dc asfricas como:
paraholoides, toroides, conicoides y superficies hiperholoi-
des de una hoja. Este mtodo permite adems la correccin
simult:nea de la herramienta y la superficie a maquinar.
Con respecto a las pruebas que se realizan a las lel1-
tes asfricas, las ms utilizndas son las pruebas interfe-
romtricas. stas pueden emplear hologramas gener:utos por
computadora [15]. Adems, es posible revisar las pruebas no
irllerferomtricas en superficies asfricas flG,8], por ejemplo
las pruebas con pantalla. El concepto h:isico dc las pruehas
con p:ullalla es que el frente de onda puede ser muestreado en
un mmero de puntos de la superficie a travs de una moda-
lidad predeterminada. y que el frente de onda puede recons-
truirse clIando los puntos analizados se relncionan con los
otros. Estos mtodos se hasan en aproximaciones de ptica
geomtrica 11 G].
Rl'I'. Ml'X. F,\".
Los mtodos de prueba para asfricas puede encontrarse
en referencias de pruebas pticas 117-191. Entre los mtodos
interferomtricos para probar superficies asfricas est el
interfermetro de desplazamiento y el de placa dispersora
(sClItler-l'/ale) [201.
s. Campos de aplicacin
Con frecuencia, para algunos sistemas pticos de proyeccin
en los que la calidad del haz de iluminacin es muy impor-
t:\Iltc, se emplean varias lentes comunes (esfricas) para con-
seguir la calidad del haz de iluminacin ptima, sin embargo
lo m:s comn es emplear una sola lente asfrica de buena
calidad.
El empleo de lentes asfricas es til no slo por sus ca-
ractersticas correctoras de aherraciones y distorsiones, sino
que adem:s significa un ahorro en peso y espacio al hacer
innecesario el empleo de otras muchas componentes pticas
y mecnicas en la gran mayora de los sistemas pticos de
proyeccin.
El intervalo de aplicacin dc las asferas en ptica es muy
amplio y algunas de sus aplicaciones ms comunes son:
a) Correccin de aberracin esfrica en los sistemas con-
densadores de iluminacin para proyectores, microsco-
pios, cte.
h) Correccin del astigmatismo en oculares y lentes de
aumento.
e) Correcci6n de aherraciollcs esfricas de la pupila en
ciertos sistemas visuales.
Este tipo de lentes son muy utilizadas en el diseo de len-
tes I.oom y telefotos dehido a que le permiten al diseador
ptico ohtener ventajas adicionales como:
- Ampliacill del ngulo de campo en ohjetivos con la
completa eliminacin de distorsiones.
- Ampliacin del ngulo de campo en oculares de campo
plano.
- Rcduccin del nmero de componentes, con mejora-
miento de calidad de imagen y perfeccionamiento del fun-
cionamiento del sistema ptico.
6. Conclusiones
El conocimiento de superficies asfricas proporciona herra-
mientas para fahricar superficies pticas de mayor calidad
que con los mtodos tradicionales de fahricacin.
Las ventajas al utilizar superficies asfricas en los siSlc-
lilas pticos es la reduccin de las prdidas de luz y posibles
reflexiones de las superficies pticas, disminucin de peso y
ahorro de espacio en los sistemas pticos as corno mayor
funcionalidad.
La fahricacin de superficies asfricas es mucho ms
complicada que las superfkies csfricas, dehido a que las
45 (]) (I<J<J<J)315-321
 SUPERFICIES ASFRICAS APLICADAS A LA PTICA
tcnicas que se utilizan actualmente se encuentran en su esta-
do inicial de desarrollo, lo que incrementa el costo de stas.
Existen ciertos problemas que no pueden ser resucltos sin
superficies asfricas. por ejemplo la obtencin de una ima-
gen real apian,tica para telescopios, la forma de las lentes
oftlmicas con una transicin continua de la distancia de la
lente al rea de lectura, sistemas de imagen en onda corta
para espejos de incidencia rasante y prohlemas de concentra-
cin y distribucin uniforme de la radiacin luminosa emitida
por un lser.
1. G. Sehull., in Pmgress ill Opties, Ediled hy E. Wolf, (Elsevier
Sciencc Publisher. New York, 1988) Vol. 2, p. 351.
2. D. Golini, OPN Opties (IIul PllOtollics News R (1997) 41.
3. V. Fishcr t't al . Lasa Foclts World 3J (5) (1995) 167.
4. J.J. Snydcr. P. Reicherl, and M. Thomas Baer. Applit,tJ Optics
30 (1991) 2743.
;jo L. Zcnteno A . Al'plied 0l'tics 33 (1994)
G. A. Nicia, Appl. Opto 20 (1981) 3 I 36.
i. V.B. Rodriguez, Tesis de Licenciatura en Diseo Induslrial.
Universidad del Bajo. Len, Gto., Mxico, 1997.
8. E. Wolf, Progn'ss ill Optics XXV (191\8) 351.
9. D. Malacara y J.M. Malacara, Telescopios y Hstrdlas (1992)
69.
lO. K.J. Kumain. Generatioll 010ptical SlIrJaees (Thc Focal Li-
hrary, Mosc. 1968) p. 246.
11. Bass Michael. edilor in chieL lIa"dbook 010l'tics, 2nd Edition,
(Sponsored by lhe Optical Society of Amcrica. 1(95) Vol. 1, p.
1.37.
12. D. Malacnra and Z. ~1alaeara, in "Optical Surfaces, Ray Tra-
eing amI Wavcfront Shape calculation", f{alldbook oJ Ll'Ils D('-
.\.ig~,(Mareel Dekker lne, USA, 1994) p. 45.
R('\~ Mex. Frs, 45 (3) (1999) 315-321
321
Es necesario sealar, sin embargo, que en general las su-
perficies asfric.:as se utilizan para compensar aberraciones de
imugen. pero depende de la aplicacin de) sistema ptico para
el cual ha sido diseado.
A~radccimientos
Esle trnhajo se realiz con el apoyo del CONACyT proyecto
4196P-A.
13. R. Kingslake. U'IlS [)esillg Fwltlamclltals, (Academie, New
York. 1978) p. 112.
14. J.W. Smilh, Modem Optical ElIgitleering, Tlle Design oJOp';'
("(11 ~~\'s/(,lIls.
(Mc.Graw Hill, USA. 19(6).
15. G. Schull. and J. Sehwider. "Interferometric Testing of Smoolh
surfaces". in: Pmgress in Opt;CJ. Vol. XIII, edited by E. Wolf
(Norlh-lIolland. Amslerdam, 1976) Ch. IV.
IG. D. Malacara. Optical Shop Te.~till':,second edition (A Wiley.
lnlerscienee Publieatioll, USA, 1992) p. 743.
17. D. ~1alacara. A. Cornejo, and M.V.R.K. Murty, Appl. Opto 14
(1975) IO5.
18. II.J. Caullicld, and W. Friday, MM& T: lJibliography Ofl Opti-
ca/ Tstillg. Teehnical Reporl RH-CR-81-5 (US Army Missilc
Com1ll<lnd. Redstone Arsenal (1980).
19. A.e. Rodrigucz, H.J. Caufield. and W. Friday, Bibliography (m
,ht' 7'('.\"/;"1:: oJOpti("{ll SurjceJ, Tcchnica1 Repon RH.CR-82-5
(US Army Missilc Command. Redstone Arsenal) (1982).
20. M.VR.K. Murty. and R.P Shukla, bul J.Pure & Appl.Phys. 21
(1')83)3~.