Hernandez Antunez Mara Fernanda

2PV41

Aumento de los microscopios

MICROSCOPIOS PTICOS
El microscopio ms simple es una lupa, donde el objeto que queremos observar
se coloca a una distancia del foco de visin y la lente, de manera que moviendo la
misma se consigue que su imagen se haga ntida. Con ello se permite ver solamente
caracteres superficiales y normalmente el nmero de aumentos es pequeo pero
suficiente como para ver detalles que a simple vista no son posibles de detectar.

Lupa tradicional y la lupa de miclogo

Con mayor capacidad de aumento existen diferentes tipos de microscopios cada

uno de ellos con distintas caractersticas que hacen posible la visin aumentada de
los objetos microscpicos.
Microscopio de campo claro, permite ver imgenes oscuras al ser puestas frente
a un haz de luz. Se pueden ver estructuras internas de la muestra, aunque es
necesario que la muestra est en forma de una fina capa para que pueda ser
atravesada por la luz.
Microscopio de campo oscuro, en los que sobre un fondo oscuro pueden verse
los objetos intensamente iluminados. Requiere condensadores especiales que
mandan la luz de manera especial de tal forma que reflejan las zonas que desean
ser vistas a travs del objetivo.
Microscopio de contraste de fases, producen variaciones de luz de manera que
hacen que sean visibles distintas partes de una muestra. Incorporan un dispositivo
especial, situado dentro del condensador, que produce diferencias de longitud de
onda en los distintos rayos y debido a este principio establece formas caractersticas
de visin de la muestra.
Microscopio de luz ultravioleta, por medio de una lmpara especial emite luz a
una determinada longitud de onda comprendida entre 180 400 nm, de tal forma
que proporciona aspectos diferenciadores sealados al visualizar la muestra.
Microscopio de fluorescencia, que se basan en el principio de fluorescencia que
tiene determinadas sustancias que al ser iluminadas por una radiacin determinada
experimentan una concentracin de luz de manera especial denominada
fluorescencia que permite ver estas zonas con una mayor nitidez e intensidad de
luz.

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MICROSCOPIOS ELECTRNICOS
La luz es un haz de electrones, estos electrones son propagados a travs de un
tubo e inciden sobre el objeto y posteriormente son refractados y recogidos en una
pantalla. Debido a su alto poder de resolucin permiten ver tamaos, formas,
estructura y morfologa de elementos microscpicos con ms detalle que en los
microscopios pticos.
Fundamentalmente existen dos tipos:
Microscopio electrnico de barrido (SEM), se utiliza para la observacin superficial
de objetos o estructuras microscpicas sin necesidad de realizar cortes en las
mismas. De esta forma es posible analizar toda la superficie de la imagen a analizar
y su funcionamiento se basa en recorrer la muestra con un haz muy concentrado de
electrones como consecuencia del barrido electrnico se genera una imagen con
apariencia tridimensional, que permite estimar parmetros tales como tamao y
forma, que no pueden ser obtenidas por TEM. Sin embargo, tiene menor capacidad
de aumento ya que slo puede aumentar unas 100000 veces y tambin tiene una
resolucin 1000 veces menor que el TEM, adems de que no permite ver partes
internas del objeto.
Microscopio electrnico de transmisin (TEM), utiliza un haz de electrones que se
dirige hacia el objeto que se desea aumentar; una parte de los electrones rebotan o
son absorbidos por el objeto y otros lo atraviesan formando una imagen aumentada
de la muestra. Fundamentalmente permite ver secciones o cortes de las muestras
a analizar con espesores comprendidos entre 50- 200 nanmetros, aunque
previamente estas han de cortarse en capas muy finas mediante un micrtomo.

Microscopio electrnico de barrido (SEM) y de transmisin (TEM)

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Imagen de electrones retro dispersados y espectros de difraccin de rayos X para

muestras analizadas con el microscopio electrnico de barrido.
(a) Muestra del sitio P12 mostrando cristal anhedral de ilmenita con inclusin de
zircn.
(b) Muestra del sitio P2 mostrando de un cristal de titanomagnetita euhedral y
relativamente homogneo.
(c) Muestra del sitio P35 donde se observa un cristal de ilmenita con
sobrecrecimiento de magnetita con bajo Ti con texturas de exsolucin.
(d) Muestra del sitio P4 donde se observa un cristal de magnetita baja en Ti con
textura trellis de exsolucin (lamelas de ilmenita).
(e) y (f) Cristales de magnetita intensamente oxidados, mostrando hematita en
fracturas y en halos rodeando regiones de magnetita (sitios P4 y P10).

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