UASLP

Facultad de ingeniera

rea de metalurgia y materiales

Resumen de espectometria de
fluorescencia RX

Alumna: Bentez Guzmn Dulce Job

Fecha de entrega 17. Octubre. 2017

Principios de la tecnica
La espectrometra de fluorescencia de rayos X es una tcnica de espectroscopia atmica. Esta se basa en
las transiciones de electrones de los tomos que se producen cuando una radiacin electromagntica de
cierta energa incide con el material en estudio, produciendo una excitacin del tomo, el cual pasa de un
estado basal (estable) a otro de mayor energa (inestable) de lo que resultan transiciones en diferentes
estados energticos en el tomo, los cuales son nicos para cada tomo en particular. Esta caracterstica se
utiliza para la identificacin de los compuestos que queremos analizar, por lo que es de gran utilidad en el
anlisis cualitativo
Radiacin caracterstica
Cada elemento posee orbitales electrnicos de energas caractersticas. Al producirse la remocin de un
electrn de una capa interior por un fotn energtico proveniente de una fuente primaria de radiacin, un
electrn de una capa exterior se desplaza y ocupa el hueco que se haba formado.
Existe una cantidad finita de variantes de esta transicin. A las transiciones principales se les han
asignado nombres:

Transicin LK: K
Transicin MK: K
Transicin ML: L, y as sucesivamente.
Cada una de estas transiciones produce un fotn fluorescente dotado de una energa caracterstica que es
igual a la diferencia de energa entre los orbitales inicial y final. La longitud de onda de esta radiacin
fluorescente se puede calcular a partir del postulado de Planck:

La radiacin fluorescente se puede clasificar mediante anlisis de las energas de los fotones (anlisis
dispersivo de energa) o por separacin de las longitudes de onda de la radiacin (anlisis dispersivo de
longitud de onda).
Una vez ordenadas, la intensidad de cada radiacin caracterstica se relaciona directamente con la cantidad
de cada elemento qumico del material de la muestra. Esto aporta la base de una poderosa tcnica utilizada
en qumica analtica. En la figura 1 se muestra la forma tpica de las agudas lneas espectrales fluorescentes
obtenidas mediante el mtodo dispersivo de energa.

Fig.1 Espectro FRX

Fundamentos de la tcnica
Excitacin: el choque de un electrn o fotn X incidente con un electrn de las capas internas del tomo,
produce la expulsin de dicho electrn quedando el tomo en estado de excitado.
Emisin: este tomo en estado excitado tiende a volver inmediatamente a su estado fundamental, para lo
cual se producen saltos de electrones de niveles ms externos para cubrir el hueco producido. En este
proceso hay un desprendimiento de energa, igual a la diferencia de energa de los niveles entre los que se
produce el salto electrnico, en forma de radiacin electromagntica correspondiente a la regin de rayos
X.

fig.2 explicacin esquemtica de la tcnica.

Absorcin fotoelctrica: sucede cuando un fotn altamente energtico proveniente de una radiacin de
rayos X interacta con la materia. Cuando los tomos de la muestra a analizar absorben esta alta energa,
un electrn de los ms cercanos al ncleo de las capas internas K o L es expulsado del tomo.
En este proceso de absorcin, parte de la energa del fotn incidente de rayos X es utilizada para romper
la energa de enlace del electrn interno del elemento y la energa restante acelera el electrn expulsado.
Despus de que el electrn es expulsado, el tomo queda en un estado altamente excitado y por lo tanto
muy inestable. Para que se reestablezca la estabilidad, los electrones de las capas adyacentes llenaran el
espacio vacante, al pasar un electrn de otra capa y con una energa diferente al del electrn saliente hay
una diferencia de energa, la cual se emite en forma de radiacin de rayos X. Precisamente, este proceso de
emitir rayos X es conocido como fluorescencia de rayos X. El fotn de rayos X emitido tendr una energa
especfica igual a la diferencia entre las dos energas de enlace de un electrn de las capas interna y
adyacente, y esta energa es nica para cada elemento.
Usos
Es una de las mejores tcnicas analticas para realizar anlisis elementales en cualquier tipo de muestras,
independientemente de que se deban analizar lquidos, slidos o polvos sueltos.
FRX combina una exactitud y una precisin superiores con una preparacin de muestras rpida y sencilla
para el anlisis de elementos, que incluyen desde el berilio (Be) hasta el uranio (U) y en una gama de
concentracin desde el 100% hasta el subnivel de ppm.
Los anlisis demandan una excitacin inicial para el elemento de inters y la energa mnima de los rayos
X es de 100 eV. Esta energa es de 4 a 25 veces ms grande que la requerida para la disociacin de un
enlace covalente tpico y la energa de ionizacin del electrn de valencia de un tomo, respectivamente.
Tipos de fluormetros de rayos X
(EDXRF) fluorescencia de rayos X de dispersin de energa: se refiere a cuando la energa es detectada, es la mejor
opcin para aplicaciones especializadas en control de calidad y procesos con requisitos de facilidad de uso y tamao
compacto.
(WDXRF) fluorescencia de rayos X de dispersin por longitud de onda: se refiere a Cuando las longitudes
de onda son detectadas; se conoce por su exactitud, precisin y fiabilidad incomparables. Esta tecnologa
analtica slida se ha implementado en toda clase de aplicaciones industriales, tales como el cemento, los
polmeros, las refineras, la minera y los minerales industriales.
Aplicaciones
Dentro de las reas en las que ha tenido ms aplicacin la fluorescencia de rayos X tenemos: arqueologa,
ciencias forenses, medicina, geologa, recubrimientos, materiales, electrnica, farmacutica y medio
ambiente, entre otros. A continuacin se hace un breve detalle de estas aplicaciones.
Caractersticas de las muestras para anlisis

Para slidos y aleaciones metlicas debern presentar una superficie plana y pulida, de dimensiones
entre 45-35 mm de dimetro.
Para muestras en polvo es imprescindible 10g con un tamao homogneo de partcula, entre 10-20
micras

Conclusin
La fluorescencia de rayos X nos brinda algunas ventajas: el anlisis no es destructivo (es decir la muestra
no sufre daos al analizarla); bajo costo; determinacin rpida; interpretacin de resultados simple; permite
determinaciones de varios elementos simultneamente; preparacin de la muestra mnima o bien no la hay;
se pueden analizar muestras en estado gaseoso, lquido y slido; abarca determinaciones elementales desde
el berilio hasta uranio; posee un amplio rango dinmico de trabajo, es decir que se pueden medir
concentraciones desde mg/g hasta 100%; el equipo puede ser porttil y dispuesto para analizar muestras de
grandes dimensiones. Todas estas ventajas hacen de XRF una tcnica de aplicacin en mltiples disciplinas.
XRF se utiliza en anlisis elemental cualitativo y cuantitativo y el uso de estndares de calibracin
apropiados es fundamental.
 Bibliografa:
MARTNEZ, B.D; O.D. GILNOVOAL y A.J. BARN GONZLEZ, Revista colombiana de
fsica, 2006, pp. 790-793.
MELQUIADES, F.L. y C.R. APPOLONI, Journal of Radioanalytical and Nuclear Chemistry,
2004, pp. 533-541.
HOU, X.; Y. HE, y B.T. JONES, Applied Spectroscopy Reviews, 2004, pp. 1-25.

Pginas de internet:
https://sstti.ua.es/es/instrumentacion-cientifica/unidad-de-rayos-x/espectroscopia-de-fluorescencia-de-
rayos-x.html
https://es.wikipedia.org/wiki/Fluorescencia_de_rayos_X
http://www.usc.es/export9/sites/webinstitucional/gl/investigacion/riaidt/raiosx/descargas/UNED_Curso_F
luorescencia.pdf