Sunteți pe pagina 1din 16

UNIVERSITATEA “ŞTEFAN CEL MARE”,SUCEAVA

FACULTATEA DE INGINERIE ELECTRICĂ ŞI ŞTIINŢA


CALCULATOARELOR

PROIECT
FIABILITATE ŞI DIAGNOZĂ

Student: Andrei Traciu


Specializarea: Automatica si
informatica aplicata
I.TEMA PROIECTULUI

Se dă urmatoarul circuit electronic:

RPM
10K 0,1 μF/25 V RPM
100K

+15V
RCG
100K
-

LM
741 V0
+
-15V
10 μF/25 V
+

Vi=5sin10000πt

Se cere să se determine pentru circuitul de mai sus următoarele:

a) Funcţia îndeplinită;
b) MTBF(media timpului de bună funcţionare),cunoscând rata de defectare( λ) pentru
următoarele dispozitive electronice:
 rezistenţă carbon(P>0,25W), λ=0,245
 rezistenţă carbon(P=0,25W), λ=0,125
 rezistenţă peliculă metalică(P>0,25W), λ=0,225
 rezistenţă peliculă metalică(P=0,25W), λ=0,115
 condensator tantal, λ=0,362
 condensator ceramic, λ=0,243
 condensator electrolitic, λ=0,354
1
 diodă Zener, λ=0,376
 A.O , λ=0,048
 tranzistor npn tip BC, λ=0,125
 tranzistor pnp tip BC, λ=0,167
 tranzistor npn tip BD, λ=0,138
 tranzistor pnp tip BD, λ=0,277
 o lipitură manuală, λ=0,013
 o lipitură automată, λ=0,010
 bobină, λ=0,004

iar factorul de sarcină ρ pentru dispositivele R,D,L,tranzistoare şi circuite A.O este de forma:
𝑃𝑒𝑓𝑒𝑐𝑡𝑖𝑣 𝑈𝑢𝑡𝑖𝑙𝑖𝑧𝑎𝑡
ρ=𝑃𝑛𝑜𝑚𝑖𝑛𝑎𝑙 iar pentru condensatoare : ρ=𝑈𝑛𝑜𝑚𝑖𝑛𝑎𝑙.

c)Construiţi schema echivalentă de fiabilitate pentru circuitul electronic din figura de mai sus.

d)Propuneţi o schemă cu un MTBF superior schemei date.

2
II.GENERALITĂŢI

Elemente de teoria fiabilităţii sistemelor electronice

Fiabilitatea reprezintă însuşirea unui produs de a funcţiona fără a se defecta.

Propietăţile fiablităţii:

 este o caracteristică a unui bun care poate fi determinată şi caracterizată de o


valoare numerică;
 fiabilitatea poate fi reprezentată printr-o probabilitate matematică şi se poate
determina pe baza teoriei probabilităţilor;
 fiabilitatea impune îndeplinirea unei functii sau a unei cerinţe funcţionale;
 fiabilitatea presupune o durată de bună funcţionare care se exprimă diferit de la un
produs la altul.

Dintre indicatorii de fiabilitate, pentru dispozitivele ce se pot repara, putem enumera:

 Funcţia de fiabilitate;
 Funcţia de nonfiabilitate;
 Rata de defectare;
 Media timpului de bună funcţionare;
 Mentenabilitatea;
 Disponibilitatea.

În cazul dispozitivelor ce nu se pot repara vom avea următorii indicatori:

 Funcţia de fiabilitate;
 Funcţia de nonfiabilitate;
 Rata defectării;
 Timpul mediu de bună funcţionare.

Fiabilitatea prezintă două aspecte.Din punct de vedere calitativ fiabilitatea reprezintă


aptitudinea unui bun de a îndeplini o cerinţă funcţională în condiţii date de-a lungul unui
interval de timp fixat.Din punct de vedere cantitativ fiabilitatea reprezintă caracteristica unui
bun exprimată prin posibilitatea îndeplinirii funcţiei specificate pe o durată dată şi în condiţii
de funcţionare specificate.

3
Funcţia de fiabilitate se notează cu R(t) şi reprezintă probabilitatea matematică ca
un echipament să-şi îndeplinească funcţia în condiţiile date de-a lungul unui interval de

timp dat.

R(t)=P(T>t)

T- timpul de bună funcţionare

t – limită dată duratei de bună funcţionare

Funcţia de nonfiabilitate se notează cu F(t) şi este probabilitatea matematică ca

echipamentul să se defecteze la momentul t.

F(t)=P(T<t)

Funcţia de fiabilitate şi funcţia de non-fiabilitate reprezintă probabilităţile unor


evenimente complementare,deci avem relatia R(t) +F(t)=1.

Rata de defectare(λ) se exprimă cu ajutorul unei probabiltăţi condiţionate şi reprezintă


probabilitatea ca un echipament care a funcţionat fără defectare până la momentul t să se
defecteze în intervalul t+Δt.

𝐵
1−𝑃( ) 𝑅 ′ (𝑡)
Δλ=lim 𝐴
=- 𝑅(𝑡)
𝛥𝑡⃗0 𝛥𝑡

unde:

A- Evenimentul reprezentând funcţionarea fără defectare în intervalul [0,t0];

B- Evenimentul reprezentând funcţionarea fără defectare în intervalul [t,t+Δt];

P(B/A) – probabilitatea realizării evenimentului B condiţionat de evenimentul A.

Media timpului de bună funcţionare(MTBF) este acea valoare a variabilei aleatoare


timp de bună funcţionare care este egală cu suma produselor dintre valorile pe care le ia
variabila aleatoare şi probabilităţile ei de apariţie.

m=∫0 𝑅(𝑡)𝑑𝑡.

Media timpului de bună funcţionare se exprimă prin raportul dintre intervalul total de
funcţionare faţă de numărul total al defectelor.

4
1
MTBF=𝜆.

Media timpului de reparare(MTR) este un indicator de fiabilitate care se foloseşte


pentru produsele reparabile şi reprezintă raportul dintre suma timpilor de reparaţie între două
cicluri de funcţionare, tri şi numărul defectelor, r:

∑𝑛
𝑖=1 𝑡𝑟𝑖
mr=MTR= 𝑟

unde:

tri-timpul de reparaţie între doua cicluri de funcţionare;

r-numărul de reparaţii.

Mentenanţa este definită ca fiind ansamblul tuturor acţiunilor tehnice şi organizatorice


care sunt efectuate în scopul menţinerii sau restabilirii în stare de bună funcţionare a unui bun
sau produs.

Mentenabilitatea este probabilitatea ca un produs defect să fie restabilit şi repus în


stare de funcţioanare într-un anumit interval de timp.

Disponibilitatea notată A(t), este aptitudinea unui dispozitiv de a-şi îndeplini


funcţia specifică la un moment dat sau într-un interval de timp dat:

𝑀𝑇𝐵𝐹
A=𝑀𝑇𝐵𝐹+𝑀𝑇𝑅.

5
III.FUNCŢIA ÎNDEPLINITĂ

Am folosit pentru simularea circuitului electronic programul ISPICE şi am obţinut


următoarele:

Am folosit o sursă de intrare sinusoidală cu amplitudinea vârf-la-vârf de 5 V şi am


calculat frecvenţa cu ajutorul relaţiei:
𝜔
f=2𝜋 şi am obţinut o frecvenţă de 5000 Hz.

Am aplicat la intrare o analiză de tip tranzitorie de forma : .TRAN 600N 600U.

6
Conform circuitului realizat am obţinut următoarele forme de undă,la intrare(VIN)
respectiv la ieşire(V5):

Semnalul de la intrare,VIN :

7
Semnalul de la iesire :

8
Ambele semnale,de la intrare şi ieşire în paralel :

9
Având în vedere că forma de undă de la ieşire este uşor distorsionată,am procedat la a
scădea valoarea tensiunii de alimenatare de la 5 V vârf-la-vârf la 1 V vârf-la-vârf şi am
obţinut următoarele:

10
Unde cu albastru este reprezentată forma de undă la ieşire şi cea cu negru forma de
undă de la intrare,care are 1V vârf-la-vârf.

Conform formelor de undă obţinute observăm ca circuitul din cerinţă este un circuit
bootstrapping amplificator.

Rezistenţa RPM de 100 KΩ din bucla de reacţie negativă are rolul de a controla
amplificarea,aşadar amplitudinea semnalului de la ieşire(V4 în figură~10 V iar semnalul de la
ieşire este defazat faţă de semnalul de la intrare).În lipsa acestei rezistenţe,amplitudinea
semnalului de la ieşire ar fi egală cu amplitudinea semnalului de la intrare(2,5 V) iar semnalul
de la ieşire ar fi egal cu semnalul de la intrare.

Aceasta metodă face referire la utilizarea unui feedback pentru a avea la intrare o
impedanţă foarte mare prin setarea curentului iin=0.Acest circuit este prevăzut cu o
condensator de cuplare(C2).Dacă o parte a semnalului de curent alternativ poate trece prin
condesatorul de cuplare atunci acesta poate trece şi prin condensatorul de la intrarea
inversoare a amplificatorului.

11
IV.CALCULUL MTBF(Media timpului de bună
funcţionare)

Ratele de defectare(λ) pentru componentele din schemă sunt:

 AO-amplificator operaţional,λ1=0,048;
 RCG-rezistenţă carbon,λ2=0,245;
 RPM1-rezistenţă peliculă metalică,λ3=0,225;
 C1-condensator tantal,λ4=0,362
 RPM2-rezistenţă peliculă metalică,λ5=0,225= λ3;
 C2- condensator ceramic,λ6=0,362= λ4;
 L-blocul lipiturilor(manuale),λ7=0,013;

Rata de defectare totală a circuitului electronic este:

λ=0,225(RPM)*2+0,245(RCG)+0,362(CAP)*2+0,048(AO)+0,013*17=1,688*10-6 h-1;

1 1 106
MTBF=λ=1,688∗10−6 =1,668=592417,06 ore.

12
V.SCHEMA ECHIVALENTĂ DE FIABILITATE A
CIRCUITULUI ELECTRONIC

AO C2 RCG RPM1 C1 RPM2 L

Unde:

 AO-amplificator operaţional,λ1=0,048;
 RCG-rezistenţă carbon,λ2=0,245;
 RPM1-rezistenţă peliculă metalică,λ3=0,225;
 C1-condensator ceramic,λ4=0,243
 RPM2-rezistenţă peliculă metalică,λ5=0,225= λ3;
 C2- condensator ceramic,λ6=0,243= λ4;
 L-blocul lipiturilor(manuale).

13
VI.SCHEMĂ CU MTBF SUPERIOR

În schema de mai sus am făcut următoarele modificări pentru a mări fiabilitatea:

 Am schimbat rezistenţele cu peliculă metalică RPM cu λ=0,225 în favoarea


rezistenţelor cu peliculă metalică de aceeaşi valoare dar cu o rată de defectare mai
mică (λ=0,115);
 Am înlocuit rezistnţa de carbon(RCG) cu λ=0,245 cu o rezistenţă cu peliculă
metalică(RPM),de aceeaşi valoare dar cu o rată de defectare mai mică(λ=0,115);
 Am preferat condensatoarele ceramice cu o rată de defectare mai mică(λ=0,243) în
locul condensatoarelor cu tantal cu λ=0,362;
 Am înlocuit lipiturile realizate manual cu o rată de defectare mai mare(λ=0,013) cu
lipituri automate cu o rată de defectare mai mică,λ=0,010.

Astfel avem umătoarea rată de defectare a circuitului:

λ=0,115(RPM)*2+0,115(RCG)+0,243 (CAP)*2+0,048(AO)+0,010*17=1,049*10-6 ore-1

Iar media timpului de bună funcţionare:

1 1 106
MTBF=λ=1,049∗10−6 =1,049=953288,84 ore.

14
VII.CONCLUZII

În urma modificărilor aduse,media timpului de bună funcţionare a crescut


semnificativ,de la valoarea 592417,06 de ore la valoarea 953288,84 ore,deci MTBF a crescut
mai exact cu un număr de 360871,78 ore.

Astfel,dacă alegem de la început componentele cu o rată de defectare mai


mica,vom avea o medie a timpului de bună funcţionare mai mare,ceea ce se şi doreşte.

15