Microscopie cu forte atomice (atomic force microscopy: AFM)

1.Principiul de functionare

Sonda microscopului cu forta atomica este alcatuita dintr-o lamela sub forma de cruce,
alungita si elastica, numita cantilever, cu dimensiuni de ordinul zecilor de microni, în capatul
careia este plasat un ac ascutit, perpendicular pe cantilever. Cantileverul este miscat în plan xy si
vertical de un sistem de pozitionare piezoelectric, cu precizia în jur de 5 nm orizontal si pâna la
10 pm vertical. În timp ce acul baleiaza suprafata, miscându-se în sus si în jos odata cu conturul
acesteia, o raza laser cade oblic pe partea superioara (puternic reflectatoare) a cantileverului si se
reflecta catre un senzor alcatuit din doua fotodiode alaturate. Diferenta dintre semnalele celor
doua diode indica pozitia spotului laser pe senzor si deci pozitia pe verticala a cantileverului.
Deoarece distanta între cantilever si detector este de obicei de mii de ori mai mare decât lungimea
cantileverului, sistemul realizeaza o marire a deplasarii cu un factor de peste 2000, usor de
masurat.
Acul cu un varf foarte ascutit (in varf se afla cativa atomi), montat pe cantilever se
deplasează pe suprafaţa probei după un rastru de baleiaj. Vârful acului face ca latura cantilverului
care îl conţine sa se deformeze in funcţie de forţele care actioneaza asupra sa . Aceste forte sunt
intr-o stricta relaţie cu harta topografica a probei studiate. Vârful este apropiat de proba pana când
intre acesta si molecule din proba se stabileşte o forta din categoria fortelor van der Waals, bazate
in primul rand pe fortele electrostatice dintre particulele incarcate ale acului si probei. Aceasta
forta, in funcţie de “denivelările” de la suprafaţa probei , respinge sau atrage vârful . Cantileverul
sesizează aceste deplasări pe axa z , si in baza lor , alături de ofsetul (x,y) căruia ii este asociata
forta care actioneaza asupra vârfului pe axa z , unitatea de calcul asociata microscopului cu forte
atomice poate alcătui a harta topografica a probei.
In timp ce cantileverul de deformează , lumina provenita de la un laser este reflectata pe o
fotodioda splitata . Măsurând diferenţa de semnal (A-B) , deformările cantilverului pe axa z pot
fi observate si măsurate foarte precis.
Din moment ce cantileverul respecta legea lui Hooke pentru mici deplasamente , se
regaseste o forta de interactie intre vârf si proba .
 Deplasarea vârfului sau a probei este realizata cu ajutorul unui dispozitiv de poziţionare
deosebit de precis realizat din ceramici piezo-electrice, cel mai adesea sub forma unui scanner
tub . Scanner-ul este capabil de rezoluţii sub nivelul unui Angstrom pe direcţiile axelor x,y si z. In
mod convenţional , axa z , este perpendiculara pe proba.
Mecanismul de detectie a semnalului sondei, actioneaza asupra circuitului de reactie, care
la randul sau actioneaza asupra traductorului piezoelectric ce actioneaza intr-un mod foarte fin
asupra suportului probei, in functie de modul de lucru dorit.

2.Componentele unui microscop cu forte atomice

(1) un cantilver prevăzut cu un vârf ascuţit
(2) un scanner care controlează poziţionarea pe axele x-y-z
(3) un laser cu semiconductor
(4) un fotodetector
(5) circuit de control al reacţiei .

Interactia vârf - proba

Interactia dintre vârf si proba are la baza forţele van der Waals, datorate, in special, forţelor
electice dintre particulele încărcate de pe suprafeţele probei si respectiv sondei de explorare
(varful acului). In figura 17 este prezentata evolutia fortele van der Waals cu distanta.
Pe masura ce atomii sunt in mod apropiati in mod gradat, acestia se atrag slab intre ei .
Atractia creste pana cand atomii sunt atat de apropiati incat norul de electronii de pe orbita incep
sa se respinga . Aceasta respingere electrostatica slabeste din ce in ce mai mult forta de atractie pe
Fig. 17 Evolutia fortelor van der Waals cu distanta dintre varf si suprafata probei.
masura ce distanta interatomica continua sa se micsoreze. Forta devine zero cand distanta atinge
cativa Angstromi
Modul in care contrastul unei imagini este realizat , poate fi obţinut in mai multe
modalitati. In microscopia cu forte atomice avem trei tipuri de interactie intre vârful cantilverului
si proba :
1) modul contact continuu
2) modul contact intermitent
3) modul non-contact

Modul contact :

Este cel mai comun mod de operare al microscopului cu forte atomice . Precum este
sugerat si de numele acestui mod , vârful si proba raman in contact strâns din momentul începerii
scanării pana la sfarsitul acesteia. Prin “contact” se intelege un regim de “respingere” al curbei
aferente forţei inter-moleculare, precum este prezentat in figura 18.
Regiunea de respingere din cadrul curbei este situate deasupra axei x. Unul din
dezavatajele rămânerii in contact cu proba este faptul ca exista un număr mare de forte laterale
care isi exercita cuplul asupra cantilverului in timp ce acesta este deplasat pe suprafaţa probei.
Iată câteva caracteristici importante ale modului contact :
 Face posibila vizualizarea informaţiei 3d despre suprafaţa unei probe in mod nedistructiv
– 1.5 nm rezoluţie laterala
– 0.05 nm rezoluţie verticala
 Forte puternice de respingere actioneaza intre vârf si proba
 Necesita un procedeu de pregătire a probei foarte simplu
 In cadrul acestui mod se pot analiza dielectrici si conductoare cu usurinta
– Microscopul cu forte atomice nu se bazează pe conductivitate .
– Nu necesita procedee precum pătarea sau umbrirea , necesare pentru studiul acestui
tip de materiale in cadrul unor altor tipuri de investigaţii asupra lor.
 Operează atât in mediu gazos , cat si in mediu fluid .
– Fluid = mediu controlat de natura lichida si specimene hidratate
 Pune la dispozitie informaţiei despre proprietatile fizice
– Elasticitate , Adeziune , Duritate , Frecare etc.

Modul contact intermitent :

Este cel mai folosit mod după modul contact. Când operează in aer sau in alte medii
gazoase , cantileverul oscileaza la frecventa sa de rezonanta (mărime de ordinul sutelor de de
KHz) si este poziţionat deasupra suprafeţei astfel încât va intra in contact cu aceasta doar o mica
fracţie de timp din perioada sa de oscilaţie . Acesta este tot un mod contact , precum si cel
descrise mai devreme , dar perioada scurta de timp in care contactul propriuzis are loc înseamnă
ca forţele laterale sunt reduse considerabil pe parcursul deplasării vârfului pe suprafaţa probei.
Când se investighează probe care nu pot fi fixate cu stricteţe (slab imobilizate) sau probe de o
consistenta nu foarte dura , modul contact intermitent poate fi o alegere mult mai buna decât
modul contact pentru a vizualiza harta topografica a probei. Deasemnea in modul contactului
intermitent sunt posibile si metode (mai interesante) de obţinere a contrastului . In modul forţei
constante , reacţia este ajustata astfel încât oscilaţia cantilverului sa ramana constanta . O imagine
poate fi formata din acest semnal de amplitudine , dat fiind faptul ca vor exista mici variaţii in
amplitudinea oscilatiilor datorita circuitelor electronice care nu reactioneaza instantaneu fata de
schimbările apărute la suprafaţa probei . Recent , o atenţie deosebita a fost acordata imagisticii
fazei . Acest procedeu functioneaza măsurând diferenţa de faza dintre oscilaţiile dispozitivului
piezo care controlează cantilverulul si oscilaţiile detectate . Se considera ca acest constrast al
imaginii obţinut este derivat din proprietati precum rigiditatea sau vâscoelasticitatea . Iată câteva
caracteristici importante ale modului contact intermitent :
– Decalajul fazelor poate măsura proprietatile ce ţin de compoziţie, adeziune, fricţiune,
elasticitate
– Se pot identifica structurile amestecurilor de polimeri
– Este mai puţin dăunătore probelor de consistenta nu foarte dura decât modul contact

Modul non-contact :
 Acest mod este o alta metoda care poate fi aleasa in investigaţia unei probe cu ajutorul
microscopului cu forte atomice.

Fig. 18 AFM in modul de lucru contact

 Fig. 19 AFM in modul de lucru non-contact
Cantileverul trebuie baleiat deasupra suprafeţei probei , la o distanta la care nu mai
suntem in regim de respingere. Acest mod este un mod in care se operează destul de dificil in
condiţiile ambiente. In modul ambient , pe suprafaţa probelor se formează un strat mic de apa
care va încerca in permanenta sa formeze o punte capilara intre vârf si proba cauzând ca vraful sa
fie in permanenta “tentat” de a sari in modul contact. Chiar si in lichide sau in vid , faptul ca
vârful este posibil sa sară din când in când in contact cu proba este destul de probabil , iar
imaginea obţinuta sa nu fie la urma urmei decât o imagine obţinuta intr-o forma derivata a
contactului intermitent. Reuşita acestui mod tine foarte mult de consistenta probei , si mediul in
care se desfasoara investigaţia .
Avantaje prezentate de microscopia cu forte atomice
Fata de alte sisteme de microscopie, microscopul cu forte atomice mai prezintă
următoarele avantaje esenţiale :
– Microscopul cu forte atomice face posibila vizualizarea imaginilor cu un contrast
topografic extraordinar , pot fi făcute măsurători precise de nivel pe suprafaţa probelor
investigate (nu este necesara tratarea probelor).
– Imaginile tridimensionale sunt obţinute fara o preparare costisitoare a probelor cu
urmează a fi studiate si oferă informaţii mult mai complete , decât pofilele
bidiminesionale obţinute din probele tăiate transversal .
– Microscopul cu forte atomice permite măsurarea precisa a pragurilor de inaltime de pe
suprafaţa unei probe, măsurare absolute independenta de reflectivitatea materialelor
studiate
Aplicatii:
-Vizualizarea materiilor care nu sunt bune conducatoare de electricitate
-Vizualizarea imaginilor cu un contrast topograpfic foarte bun si masurarea precisa a suprafetelor
-Folosit in dezvoltarea nanotehnologiei
-Obtinerea de imagini tridimensionale ale suprafetelor

Bibiliografie
www.wikipedia.org

Istrate Marian Cosmin

Grupa 201