Documente Academic
Documente Profesional
Documente Cultură
Figura 2. las características corriente-tensión del un MOSFET canal n del tipo de agotamiento para el cual
Vt = -4V; y k´n W/L = 2 mA/V2: (a) transistor con polaridades de corriente y voltaje indicados; (b) las
características iD–vDS; (c) la característica iD–vGS en saturación
1 W K
k´n vGS Vt vGS Vt
2 2
iD (1)
2 L 2
2
vGS
iD I DSS 1 (2)
V
GS ( OFF )
Tarea de Prelaboratorio
1. Investigar técnicas para medir IDSS y VGS(OFF) en JFETs.
2. Analizar el circuito de la referencia [3], en el modo de prueba de JFETs canal N.
Indicar las condiciones de prueba (ajustes del circuito), y los resultados posibles
para el NTE 312 [valor mínimo y máximo de IDSS y VGS(OFF)].
3. Diseñar Un experimento para medir IDSS y VGS(OFF)
Trabajo de Laboratorio.
Tarea 1: IDSS
En el caso del transistor hipotético de la figura 5, VGS(OFF) = -2V. en nuestro caso será
necesario probar con diferentes valores de VGS, hasta conseguir ID = 0 mA. El fabricante
solamente garantiza que -6V < VGS(OFF) < -1V.
Tareas Post-Laboratorio
REFERENCIAS
1. Sedra & Smity. Circuitos Microelectrónicos, 5a edición. McGraw Hill
Interamericana, 2006.
2. Cambridge University. Interactive Explanations for Semiconductor
Devices.
3. Fattaruso, John. Simple Circuit lets you characterize JFETs. EDN, April
06, 2012. https://www.edn.com/design/test-and-
measurement/4370552/Simple-circuit-lets-you-characterize-JFETs
4. FET Matcher. STM.
http://www.diystompboxes.com/smfforum/index.php?topic=29513.0.