Sunteți pe pagina 1din 14

METROLOGIA RUGOZITĂŢII

Dragut Mihaita ; Tanasie Adrian ; grupa 632CB ; Facultatea IMST

Rugozitatea suprafeței (de obicei denumită pe scurt rugozitate) este o componentă a texturii suprafeței.
Acesta este cuantificată prin abaterile în direcția vectorului normal a unei suprafețe reale de la forma sa
ideală. Dacă aceste abateri sunt mari, suprafața este aspră; dacă abaterile sunt mici, suprafața este netedă.
Rugozitatea în general este considerată a fi o componentă de frecvență înaltă pe lungimi scurte de undă a
suprafeței de măsurat (vezi și metrologia suprafeței). Cu toate acestea, în practică, este necesar adesea să
se cunoască atât amplitudinea și cât și frecvența pentru a se asigura că o suprafață este potrivită unui scop
anume.

Rugozitatea reprezintă măsurarea la o scală mică, a variațiilor în înălțime a unei suprafețe fizice (conform
metrologiei suprafețelor). Această măsurare este opusă variațiilor la o scală mare care fac parte din
geometria suprafeței sau denivelărilor nedorite. Rugozitatea poate fi o suprafață nedorită deoarece
cauzează fricțiune și uzură, dar poate fi și benefică, deoarece permite prinderea lubrifianților și
preîntâmpină sudarea acestora.

Profilul real al suprafeței unei piese poate fi măsurat și vizualizat prin diferite metode: cu palpatoare
mecanice, metode optice sau optic tridimensionale.

Neregularitățile apar datorită frecării tăișului piesei pe suprafața piesei, a mișcărilor oscilatorii a vârfului
sculei sau ca urmare a vibrațiilor de frecvență înaltă a mașinii-unelte sau a sculei.

Parametri

Valoarea rugozității se determină prin calcularea unor parametri definiți prin standardul ISO 4287.

Valoarea rugozității poate fi calculată fie pe un profil (linie) sau pe o suprafață (arie, zonă). Parametrii
pentru rugozitatea profilului (Ra, Rq, ...) sunt cei mai frecvenți. Cu toate acestea, parametrii de suprafață
(Sa, Sq, ...) dau valori mai semnificative.

Sunt mai mulți parametri ai rugozității în uz,dar este cel mai folosit din motive istorice și nu pentru că
ar caracteriza mai bine rugozitatea: primele măsurători puteau determina doar acest parametru. Alți
parametri utilizați mai des sunt , și . Unii parametri sunt folosiți numai în anumite industrii
sau în anumite țări. De exemplu, clasa de parametru este folosită în principal pentru căptușeala
alezajului cilindrului, iar parametrii Motif sunt folosiți în primul rând în Franța.

Fiecare dintre formulele enumerate presupune că profilul rugozității a fost filtrat din datele de profil brute
și a fost calculată linia medie. Profilul rugozității conține puncte echidistante și este distanța verticală
de la linia medie la punctul . Înălțimea se presupune a fi pozitivă în direcția sus. este lungimea de
referință a profilului filtrat al rugozității.

este abaterea medie aritmetică a profilului și reprezintă valoarea medie a modulului profilului măsurat
față de linia medie.
este înălțimea maximă a profilului și reprezintă distanță dintre cel mai mare vârf și linia medie în
limitele lungimii de referință.

este adâncimea maximă a profilului și reprezintă distanță dintre cel mai adânc gol și linia medie în
limitele lungimii de referință.

este lățimea maximă a profilului, fiind distanța dintre cel mai mare vârf și cel mai adânc gol.

= +

este rugozitatea medie pătratică și reprezintă abaterea standard a distribuției înălțimilor profilului.

este înălțimea în puncte a profilului și anume media valorilor absolute ale înălțimilor celor de

mai sus proeminențe și a celor mai adânci goluri în limitele lungimii de referință .

Standardul Industrial Japonez JIS folosește zece puncte pentru determinarea : cinci puncte pentru cele
mai de sus proeminențe și cinci puncte pentru cele mai adânci goluri în limitele lungimii de referință .
Rugozitatea este o proprietate a stării suprafețelor alături de ondulație și de formă. Pentru a determina
interacțiunea dintre suprafețe, rugozitatea trebuie să fie separată de celelalte forme cu ajutorul unor filtre.

După o măsurătoare, pentru a procesa datele obținute, instrumentele informatizate folosesc metoda celor
mai mici pătrate (cu un arc de cerc sau o linie aplicată datelor este îndepărtată forma). În continuare,
suprafața căreia i s-a îndepărtat forma este trecută printr-un filtru cu o anume valoare a cut-off-ului,fiind
îndepărtate ondulațiile.

Instrumentele folosesc trei filtre convenționale analogice (sau digitale care le simulează pe cele
analogice): ISO 2CR, 2CR PC și un filtru matematic denumit Gaussian.Primele două pot fi considerate
ca filtrul 2CR.

Filtrul electronic 2CR este format din doi condensatori și doi rezistori (de aici și denumirea sa). Este unul
dintre primele filtre utilizate la măsurătoarea rugozității. Amplitudinile ondulatorii pe lungimea cut-off-
ului este redusă cu 75%. ISO 2CR înlătură primele două cut-off-uri ale suprafeței, în timp ce 2CR PC
îndepărtează primul și ultimul cut-off din profilul/suprafața analizat(-ă).

La filtrul matematic Gaussian valoarea cut-off-ului este dată de lățimea distribuției Gauss. Filtrul
îndepărtează jumătate din primul cut-off și jumătate din ultimul cut-off.

Indexul Internațional de Rugozitate

Indexul Internațional de Rugozitate (International Roughness Index - IRI) este un parametru folosit pentru
determinarea comparativă a rugozității.
Clasificare

Există 14 clase de rugozitate, notate de la N0 la N13, în care variază de la 0,0125 la 100 μm.

Reprezentare pe desene tehnice

Conform SR ISO 1302: 1996 pentru înscrierea stării suprafețelor în desenele tehnice se folosesc 4
simboluri:

Un simbol de bază:
Trei simboluri derivate:
- suprafețe la care se cere o îndepărtare de material prin prelucrare:

- suprafețe la care este strict interzisă îndepărtarea de material prin prelucrare:

- toate piesele au aceeași stare a suprafeței:

Pe desenele tehnice se trece rugozitatea folosind un semn specific în formă de V împreună cu informațiile
dorite (standardul ISO 1302: 1996): parametrul de profil, valoarea numerică a rugozității.

a reprezintă valoarea maximă a rugozității Ra sau Rz. Toți parametrii numerici sunt în microni.
b reprezintă valoarea numerică a adaosului de prelucrare, în milimetri

c - simbolul orientării neregularităților (vezi figura de mai jos și explicațiile aferente) (Exemplu: =)

d - procedura de prelucrare sau alte condiții legate de fabricație (cum ar fi rectificarea)

e - simbolul parametrului ondulației și valoarea acestuia sau lungimea de bază (în milimetri) pentru unul
dintre parametrii prescriși Ra sau Rz

f - valoarea altor parametri de rugozitate, cum ar fi Rz Semnul pentru rugozitate este plasat în colțul din
dreapta jos al desenului tehnic și se aplică tuturor elementelor de suprafață. Dacă există suprafețe cu
rugozități (dorite) diferite se notează separat pe fiecare suprafață cu vârful simbolului orientat spre
suprafața respectivă. Indicațiile din interiorul simbol trebuie să poată fi citite din dreapta sau de jos.
Simbolurile se trasează direct pe linia de contur a suprafaței sau pe o linie ajutătoare.

În figura de mai jos este simbolizată direcția urmelor de așchiere conform SR ISO 1302:95. Primul
simbol (stânga sus V =) înseamnă că direcția striaților (a urmelor de așchiere) este paralelă cu planul de
proiecție a suprafeței simbolizate. Al doilea simbol înseamnă că direcția striaților este perpendiculară cu
planul de proiecție a suprafeței simbolizate. Al treilea simbol înseamnă că direcția striaților este
încrucișată, înclinată față de planul de proiecție a suprafeței simbolizate. Al patrulea simbol (dreapta sus)
înseamnă că direcția striaților este în mai multe direcții. Simbolul C (precedat de simbolul rugozității)
înseamnă că direcția striaților este aproximativ circulară și concentrică față de centrul suprafeței
simbolizate. Simbolul R din dreapta jos (precedat de simbolul rugozității) înseamnă că direcția striaților
este aproximativ radială față de centrul suprafeței simbolizate.
INSTRUMENTE PENTRU MĂSURAREA RUGOZITĂŢII

Instrumentele cu palpare sunt întâlnite oriunde se măsoară starea suprafeţelor: ateliere, zone de inspecţie,
laboratoare de cercetare şi de control al calităţii, aşadar construcţia lor va fi analizată în detaliu.

Componentele de bază ale acestor instrumente sunt reprezentate schematic în figura de mai sus.
Palpatorul a fost deplasat de-a lungul suprafeţei, iar un traductor a preluat mişcările verticale,
convertindu-le într-un semnal electric amplificat, ce acţionează un dispozitiv de înregistrare. Din acest
semnal a fost derivată o valoare Ra a rugozităţii, afişată pe un aparat de măsură analogic. Instrumentele
noi beneficiază de facilităţi suplimentare, cum ar fi analizarea computerizată a datelor şi posibilitatea
măsurărilor automate, dar, în principiu, metoda rămâne aceeaşi.
Rolul instrumentelor este de a converti mişcările verticale ale palpatorului în variaţii proporţionale ale
unui semnal electric. Sensibilitatea necesară a traductorului trebuie să corespundă unei deplasări a
palpatorului mai mică de 0,01 µm. Deşi mărimea de ieşire este foarte mică, sistemele de înaltă rezoluţie
pot evalua abaterile cu exactitate. Pentru ca deplasările să poată fi vizualizate de către operator, acestea
sunt amplificate cu un factor de până la x2,000 000.

a) Traductoarele analogice

Pentru studiul stării suprafeţelor, aceste traductoare pot fi împărţite în două grupe, în funcţie de principiul
lor de funcţionare:

 De poziţie: Acestea oferă un semnal proporţional cu deplasarea generată de abatere, chiar şi atunci
când palpatorul este staţionar. Mărimea de ieşire depinde de distanţa la care palpatorul este deplasat
şi se referă doar la poziţia palpatorului în intervalul cursei verticale. Avantajul acestor tipuri de
traductoare este că permit o înregistrare reală a ondulaţiei şi a formei.
 De mişcare: Acestea produc un semnal de ieşire doar atunci când palpatorul este în mişcare, semnal
dependent de viteza cu care palpatorul este deplasat şi scade la valoarea zero atunci când acesta este
staţionar.

b) Traductoare digitale

În timp ce palpatorul este deplasat, impulsurile corespunzătoare, amplificate cu multiplul


rezoluţiei traductorului, sunt transmise unui contor electronic de poziţie verticală, ce afişează variaţiile
traductorului. Intervalul este definit de cursa fizică a traductorului.Valoarea abaterii indicate este relativă
la poziţia palpatorului la care contorului i se atribuie valoarea zero.

Sistemele de măsurare cu traductoare analogice de poziţie

Sistemele de măsurare ce au în componenţă un traductor cu inductanţă variabilă, sunt de acest


tip:
Sistem de măsurare cu inductanță variabilă

Schema sistemului modulat de transmitere


Palpatorul este deplasat la un capăt al traversei, la punctul de sprijin de pe marginile profilului ascuţit.
La capătul îndepărtat, armătura se deplasează între două bobine ce îşi schimbă inductanţa relativă.
Bobinele sunt legate la un circuit de curent alternativ, astfel încât, atunci când poziţia armăturii este
centrală, nu generează semnal de ieşire. Schimbarea poziţiei armăturii generează un semnal de ieşire
proporţional cu deplasarea, faza semnalului depinzând de sensul de deplasare. Semnalul este amplificat
şi comparat cu cel al unui oscilator, pentru a determina în ce sens a fost deplasată armătura faţă de
poziţia centrală zero. Palpatorul este menţinut în contact cu suprafaţa de măsurat şi cu profilul ascuţit,
prin intermediul unui arc care acţionează asupra traversei. Legăturile împiedică deplasarea traversei în
plan orizontal, obligând palpatorul să oscileze doar vertical

Sistemele de măsurare cu traductoare de deplasare

Acest tip de sistem include un cristal piezoelectric ce are proprietatea de a se polariza electric sub
acţiunea unui efort mecanic. Acest tip este rar întâlnit, fiind utilizat la sistemele din gama de preţuri mici.

Sistemele de măsurare cu traductoare digitale

Acestea pot fi utilizate la instrumentele bazate pe interferometrie. Interferometria utilizează principiul de


numărare a franjelor alternativ luminoase şi întunecate obţinute prin fenomenul interferenţei luminii.
Deseori, semnalul este interpolat pentru a oferi o rezoluţie mai bună.

a) Sistemul de măsurare ce utilizează interferometria cu laser

La capătului braţului palpatorului este poziţionat un reflector care acţionează ca un sistem miniaturizat de
interferometrie cu laser Michelson. Lungimea de undă a laserului (632,8 nm) reprezintă referinţa de
măsurare. Modelul interferenţei este detectat de patru fotodiode, permiţând interpolarea semnalului de
ieşire, ce oferă o rezoluţie standard de 10 nm. Domeniul de măsurare de 6 mm este stabilit de
dimensiunea reflectorului.
b) Sistemul de măsurare PGI

Sistemul de măsurare PGI a fost dezvoltat pentru a permite un interval de măsurare mai mare decât al
sistemului de interferometrie cu laser, având şi dimensiuni reduse datorită utilizării unei diode laser în
locul laserului HeNe. Sistemul PGI utilizează un dispozitiv optic de separare a fasciculelor, ce este
poziţionat la capătul braţului pivotant, reprezentând elementul mobil al interferometrului. Lungimea de
undă oferă referinţa de măsurare, reprezentând diferenţa majoră, măsurarea fiind acum independentă de
lungimea de undă a laserului, ce poate varia semnificativ în funcţie de condiţiile de mediu. Modelul
franjelor de interferenţă este detectat cu ajutorul a patru fotodiode, permiţând interpolarea semnalului de
ieşire la o rezoluţie de 0,8 nm şi un domeniu de 12,5 mm.

Schema funcțională a sistemului de măsurare PGI

După înţelegerea mecanismului de funcţionare, trebuie evidenţiat cum este folosit instrumentul pentru
măsurarea neregularităţilor suprafeţelor. Semnalul electric de ieşire reprezintă asocierea deplasării
palpatorului şi braţului, faţă de nivelul nominal al suprafeţei. Sistemul trebuie să se deplaseze de-a lungul
unei linii precis paralele la suprafaţa de măsurat pentru a obţine un semnal electric de ieşire corect
pentru profilul analizat.

Triangulaţia laser

Triangulaţia laser este una dintre cele mai simple metode de măsurare fără contact. Este rapidă şi mai
puţin costisitoare, dar oferă o rezoluţie verticală şi laterală slabă.

Triangulația laser (metoda reflexiei)


Un fascicul laser focalizat este proiectat pe o suprafaţă. Punctul luminat este captat de un detector de
poziţie ce este calibrat pe lungimea axei Z faţă de suprafaţa de măsurat. Rezoluţia verticală este limitată la
aproximativ 1 µm. Rezoluţia orizontală este, de obicei, cuprinsă între 10 – 20 µm şi poate varia în funcţie
de intervalul de măsurare vertical.

Microscopul cu forţă atomică

Microscoapele cu forţă atomică sunt sisteme de măsurare cu contact, dar datorită forţei foarte mici a
palpatorului, pentru scopuri practice, sunt, de obicei, considerate fără contact. Acestea oferă o capacitate
de măsurare 3D la rezoluţii înalte. Deşi au performanţe de măsurare deosebite, trebuie remarcat faptul că
ele pot măsura doar suprafeţe mici (cca 100 µm x 100 µm), pe înălţimi mici (cca 5 µm) şi produc seturi
de date limitate. Sunt dificil de calibrat şi sunt utilizate, de preferat, pentru rezultate calitative.

Microscop cu forță atomică


Un alt factor-cheie, ce nu trebuie ignorat, este faptul că prima măsurare este bazată pe forţă şi nu pe
abaterea profilului. Este, aşadar, posibil să se producă denaturări ale profilului nominal, ca urmare a
interacţiunii dintre suprafaţă şi palpator.

Palpatorul microscopului este realizat din siliciu utilizând tehnologia de gravare MEMS (Microsisteme
Electromecanice). Traversa are o lungime de aproximativ 50 µm, iar vârful palpatorului are diametrul de
1nm. Traversa este deplasată vertical, iar abaterea este măsurată prin observarea deviaţiei fasciculului de
lumină reflectat din vecinătatea palpatorului. Actuatoarele orizontale permit detectarea deplasării
palpatorului.